JP2007165351A - Die bonding method - Google Patents

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Akiyuki Harada
昭如 原田
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Shibuya Corp
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Shibuya Kogyo Co Ltd
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To securely peel individual electronic components in a dicing tape, especially thinned electronic components by efficiently preventing damage of the electronic component to be peeled, and the adjacent electronic component so as to protect it in a die bonding method. <P>SOLUTION: In a conveyance process and a peeling process, a soft part 28 in a peeling promoting member 26 is deformed in a state where an outer periphery of the electronic component 1 to be peeled is depressed by a soft part 22 in a peripheral depression member 21, and a peeling state of the electronic component 1 peeled from the dicing tape 3 is promoted in a conveyance process and a peeling process. Thus, the electronic component 1 to be peeled is set to be adsorbed and held by a first adsorption mechanism 10 (adsorption pad 24). <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、IC等の半導体チップ(電子部品)を搭載した基板における所定位置に、個別にダイシングされた該チップを、ダイシングテープから剥離してダイボンド材を介して装着するダイボンディング方法の改良に関するものである。   The present invention relates to an improvement of a die bonding method in which an individually diced chip is peeled from a dicing tape and mounted via a die bonding material at a predetermined position on a substrate on which a semiconductor chip (electronic component) such as an IC is mounted. Is.

従来のものとして、IC等の半導体チップ(電子部品)の基板に、ダイボンド材、例えば、ダイボンド用粘着テープ(剥離テープ付の両面粘着テープ)を用いて貼付ける貼付装置、並びに、電子部品をダイボンド材を介して基板の所定位置に装着するダイボンド装置を開示している(例えば、特許文献1参照。)。   Conventionally, a pasting device for pasting an electronic component to a substrate of a semiconductor chip (electronic component) such as an IC using a die bond material, for example, a die bonding adhesive tape (double-sided adhesive tape with a release tape), and die bonding an electronic component A die bonding apparatus is disclosed that is mounted on a predetermined position of a substrate via a material (see, for example, Patent Document 1).

この貼付装置では、まず、ダイボンド用粘着テープを所要の大きさに切断して剥離フィルム付の粘着フィルムを係着手段で係着した状態で、基板の所定位置に供給セットする仮圧着工程を行う。
次に、基板に供給セットした粘着フィルムを圧着手段で圧着させるようにして、基板の所定位置に粘着フィルムを貼付ける本圧着工程を行う。
次に、剥離用の接着テープを用いて基板上の剥離フィルムに押圧して接着テープに剥離フィルムを接着させることにより、基板上から剥離フィルムを除去して基板上に粘着フィルムのみを残存させるピール工程を行う。
この後、前述した貼付装置における仮圧着工程、本圧着工程、ピール工程完了後に、ダイボンド装置では、個別にダイシングされたIC等の半導体チップ(電子部品)を、ダイシングテープから剥離してダイボンド材を介して基板の所定位置に装着する従来のダイボンディング方法を連続的に行うことができるものである。
In this sticking apparatus, first, a temporary pressure bonding step is performed in which a die bonding pressure-sensitive adhesive tape is cut to a required size and a pressure-sensitive adhesive film with a release film is fastened by a fastening means, and is supplied and set at a predetermined position on a substrate. .
Next, a main pressure bonding step is performed in which the pressure-sensitive adhesive film supplied and set to the substrate is pressure-bonded by a pressure-bonding means, and the pressure-sensitive adhesive film is attached to a predetermined position of the substrate.
Next, the peel film is removed from the substrate by pressing the release film on the substrate with an adhesive tape for peeling to adhere the release film to the adhesive tape, leaving only the adhesive film on the substrate. Perform the process.
After this, after completion of the temporary press-bonding process, the main press-bonding process, and the peeling process in the above-described bonding apparatus, the die-bonding apparatus peels the individually diced semiconductor chips (electronic components) from the dicing tape to remove the die-bonding material. In this way, the conventional die bonding method of mounting at a predetermined position on the substrate can be continuously performed.

この従来のダイボンディング方法とは、ダイシングテープで貼付された個々のIC等の半導体チップ(電子部品)を該電子部品用の剥離機構にて該電子部品剥離位置から剥離する剥離工程と、剥離される電子部品を吸着機構(吸着パッド)にて吸着した状態で、基板側に搬送する搬送工程と、搬送された電子部品を吸着機構にて基板の所定位置にボンディングするボンディング工程と、を少なくとも行うものである。   This conventional die bonding method includes a peeling process in which a semiconductor chip (electronic component) such as an individual IC attached with a dicing tape is peeled from the electronic component peeling position by a peeling mechanism for the electronic component. At least a transporting process for transporting the electronic component to the substrate side and a bonding process for bonding the transported electronic component to a predetermined position on the substrate by the suction mechanism in a state where the electronic component is sucked by the suction mechanism (suction pad) Is.

近年、基板のコストダウン化の傾向が高まっていることから、一枚の基板上に大量のチップ(電子部品)を装着する、マトリックス型の基板が多くなっている。
そして、このマトリックス型の基板に装着されるチップも薄型化し、更に、チップを鉛直方向に積層させる積層型のチップ構造間にダイボンド材を介在させることがある。
このことから、マトリックス型の基板の所定位置に粘着テープ(粘着フィルム)を介して装着させる薄型化した大量のチップに対応して、該電子部品用の剥離機構にてダイシングテープから効率良く剥離させることが重要になってくる。
In recent years, since the tendency of the cost reduction of a board | substrate is increasing, the matrix-type board | substrate which mounts a lot of chips (electronic components) on one board | substrate has increased.
The chip mounted on the matrix type substrate is also thinned, and a die bond material may be interposed between the stacked chip structures in which the chips are stacked in the vertical direction.
From this, it is possible to efficiently peel from the dicing tape by the peeling mechanism for the electronic component corresponding to a large number of thinned chips that are attached to predetermined positions of the matrix type substrate via the adhesive tape (adhesive film). It becomes important.

従って、この具体的手段として挙げられる該電子部品用の剥離機構には、ダイシングテープから個々の半導体ペレット(電子部品)を効率良く剥離させることができる、前述した剥離工程を行うペレットピックアップ装置を開示する(例えば、特許文献2参照。)。
即ち、このペレットピックアップ装置のバックアップホルダ上部中央にピックアップ対象となる所定の該ペレットより大きいサイズの外形を持ち、ピックアップすべき所定の該ペレットがバックアップホルダに載置されたときに所定の該ペレットの外周端がその上に配置される溝部を所定の該ペレットの外周辺に沿って形成する。この溝部内を真空引きすることにより所定の該ペレットをダイシングテープから剥がす。即ち、該ぺレットをその周端部から剥がし、更に、ピックアップホルダ中央部を可動状態とする可動軸にて該ペレットの剥離を促進させることが行われている。
特開2005−252114号公報 特開2000−353710号公報
Therefore, this electronic component peeling mechanism, which is mentioned as a specific means, discloses a pellet pick-up device that can efficiently separate individual semiconductor pellets (electronic components) from a dicing tape and performs the above-described peeling step. (For example, refer to Patent Document 2).
That is, the pellet pick-up apparatus has an outer shape larger than the predetermined pellet to be picked up in the upper center of the backup holder, and when the predetermined pellet to be picked up is placed on the backup holder, A groove portion having an outer peripheral end disposed thereon is formed along the outer periphery of the predetermined pellet. The predetermined pellets are peeled from the dicing tape by evacuating the inside of the groove. That is, the pellet is peeled off from the peripheral end portion, and further, the peeling of the pellet is promoted by a movable shaft that makes the pickup holder center portion movable.
JP-A-2005-252114 JP 2000-353710 A

しかしながら、従来の剥離機構(ペレットピックアップ装置)によれば、後述するダイボンディング上の諸問題が発生することが考えられる。   However, according to the conventional peeling mechanism (pellet pickup device), it is considered that various problems in die bonding described later occur.

つまり、従来の剥離機構に備えた可動軸を単一部材或は多段部材にてダイシングテープより剥離すると、ピックアップ対象となる所定の該ペレット(電子部品)と隣接する該ペレットもほぼ同時に剥離することがあって、各ペレットの損傷を引き起こすことが考えられる。このような隣接ペレットの剥離現象は、前述した可動軸を用いる方法において、頻繁に発生するものである。
また、従来の可動軸は単一材料で形成されており、例えば、硬質性材料で構成されている場合では、ダイシングテープを介在して該ペレットを剥離させてはいるが、該ペレットにかかる応力集中を増大させることが考えられる。その反面、軟質性材料で構成されている場合では、該ペレットをダイシングテープから剥離させるまでに、可動軸の鉛直方向における制動距離が長くなるので、ピックアップ対象となる該ペレット、並びに、隣接ペレットの剥離現象を増大させて、該ペレットの損傷がより一層発生すると考えられる。
更に、従来の吸着コレットは、該ペレットの平面形状よりも小さいこともあいまって、ピックアップ対象となる該ペレットに吸引作用を施すと、この吸着コレットの吸着部分の該ペレットが窪んだ状態となり、より一層該ペレットを損傷させることが考えられる。
つまり、ダイシングテープに貼付された個々の該ペレット(電子部品)が良製品であったとしても、従来のペレットピックアップ装置であれば、良製品である該ペレットを損傷させて不良製品となることが大いに考えられる。
That is, when the movable shaft provided in the conventional peeling mechanism is peeled off from the dicing tape by a single member or a multistage member, the pellets adjacent to the predetermined pellet (electronic component) to be picked up are peeled off almost simultaneously. It is considered that there is damage to each pellet. Such a peeling phenomenon of adjacent pellets frequently occurs in the method using the movable shaft described above.
In addition, the conventional movable shaft is formed of a single material. For example, in the case of a hard material, the pellet is peeled off with a dicing tape, but the stress applied to the pellet. It is possible to increase concentration. On the other hand, in the case where the pellet is made of a soft material, the braking distance in the vertical direction of the movable shaft becomes long before the pellet is peeled off from the dicing tape. It is considered that the exfoliation phenomenon is increased and the pellet is further damaged.
Furthermore, the conventional adsorption collet is smaller than the planar shape of the pellet, and when the pellet to be picked up is subjected to a suction action, the pellet in the adsorption portion of the adsorption collet becomes depressed, and more It is conceivable to further damage the pellet.
In other words, even if each of the pellets (electronic parts) affixed to the dicing tape is a good product, the conventional pellet pick-up device can damage the pellet, which is a good product, to become a defective product. Considerable.

以上のことから、従来のダイボンディング方法における搬送工程及び剥離工程において、ピックアップ対象となる電子部品(該ペレット)、並びに、隣接する電子部品の損傷を効率良く防止して保護することにより、ダイシングテープにおける個々の電子部品を確実に剥離することを目的とする。   From the above, the dicing tape can efficiently prevent and protect the electronic parts (the pellets) to be picked up and the adjacent electronic parts in the transport process and the peeling process in the conventional die bonding method. The purpose is to surely peel off the individual electronic components.

そこで、前記技術的課題を解決するための本発明の請求項1に係わるダイボンディング方法とは、ダイシングテープ3に貼付された個々の電子部品1を電子部品用剥離機構5にて電子部品剥離位置4から剥離する剥離工程と、剥離される電子部品1を吸着機構10・11にて吸着した状態で基板6側に搬送する搬送工程と、搬送された電子部品1を吸着機構11にて基板6の所定位置7にボンディングするボンディング工程と、を少なくとも行うダイボンディング方法であって、
吸着機構10には、電子部品1の平面形状よりも大きく形成された吸着機構10の電子部品側を軟質部22で形成し且つ軟質部22以外を軟質部22よりも硬い硬質部23で形成する周辺押圧部材21と、周辺押圧部材21の内周囲に形成された吸着パッド24とを備え、剥離機構5には、剥離側を軟質部28で形成し且つ軟質部28以外を軟質部28よりも硬い硬質部29で形成すると共に、硬質部29が軟質部28を囲繞し且つ剥離される電子部品1のほぼ中央部位にて軟質部28が露出状態となるように形成された剥離促進部材26を備え、
更に、搬送工程及び剥離工程において、
剥離される電子部品1の外側方周囲を周辺押圧部材21における軟質部22で押圧した状態で、剥離促進部材26における軟質部28を変形させてダイシングテープ3から剥離させる電子部品1の剥離状態を促進させることにより、剥離される電子部品1を吸着パッド24にて吸着保持するように設定されていることを特徴とする。
Therefore, the die bonding method according to claim 1 of the present invention for solving the technical problem is that each electronic component 1 affixed to the dicing tape 3 is separated by an electronic component peeling mechanism 5. 4, a peeling step for peeling the electronic component 1 to be peeled off by the suction mechanisms 10 and 11, and a transporting step for transporting the conveyed electronic component 1 to the substrate 6 by the suction mechanism 11. A die bonding method for performing at least a bonding step of bonding to a predetermined position 7 of
In the suction mechanism 10, the electronic component side of the suction mechanism 10 formed larger than the planar shape of the electronic component 1 is formed by the soft portion 22, and the portions other than the soft portion 22 are formed by the hard portion 23 that is harder than the soft portion 22. A peripheral pressing member 21 and a suction pad 24 formed on the inner periphery of the peripheral pressing member 21 are provided, and the peeling mechanism 5 is formed with a soft portion 28 on the peeling side and other than the soft portion 28 than the soft portion 28. A peeling promoting member 26 is formed of the hard hard portion 29, and the hard portion 29 surrounds the soft portion 28 and is formed so that the soft portion 28 is exposed at a substantially central portion of the electronic component 1 to be peeled off. Prepared,
Furthermore, in the conveyance process and the peeling process,
In a state where the outer periphery of the electronic component 1 to be peeled is pressed by the soft portion 22 in the peripheral pressing member 21, the peeled state of the electronic component 1 to be peeled from the dicing tape 3 by deforming the soft portion 28 in the peel promoting member 26. The electronic component 1 to be peeled is set to be sucked and held by the suction pad 24 by being promoted.

また、前記技術的課題を解決するための本発明の請求項2に係わるダイボンディング方法とは、搬送工程において、吸着機構34における吸着パッド36には、吸着側を電子部品1の平面形状とほぼ同程度に形成され、且つ、周辺押圧部材35のほぼ中央部位を摺動自在に嵌装すると共に、剥離される電子部品1の外側方周囲を周辺押圧部材35における軟質部22で押圧するのとほぼ同時に、剥離される電子部品1に対して吸着パッド36を摺動させることにより、剥離される電子部品1を吸着パッド36にて吸着保持するように設定されていることを特徴とする。   The die bonding method according to claim 2 of the present invention for solving the technical problem is that the suction side of the suction pad 36 in the suction mechanism 34 is substantially the same as the planar shape of the electronic component 1 in the transport process. It is formed to the same extent, and a substantially central portion of the peripheral pressing member 35 is slidably fitted, and the outer periphery of the electronic component 1 to be peeled is pressed by the soft portion 22 in the peripheral pressing member 35. The electronic component 1 to be peeled is set to be sucked and held by the suction pad 36 by sliding the suction pad 36 with respect to the electronic component 1 to be peeled almost simultaneously.

また、前記技術的課題を解決するための本発明の請求項3に係わるダイボンディング方法とは、剥離工程において、剥離機構5には、剥離促進部材26の外側方周囲におけるダイシングテープ3を吸着することによりダイシングテープ3から剥離させる電子部品1の剥離状態を更に促進させるように設定されていることを特徴とする。   Further, the die bonding method according to claim 3 of the present invention for solving the technical problem is that in the peeling process, the dicing tape 3 around the outer side of the peeling promoting member 26 is attracted to the peeling mechanism 5. This is characterized in that it is set so as to further promote the peeling state of the electronic component 1 to be peeled from the dicing tape 3.

また、前記技術的課題を解決するための本発明の請求項4に係わるダイボンディング方法とは、搬送工程において、電子部品剥離位置4から基板6の所定位置7までにプレアライナ機構9を介在させると共に、まず、吸着機構10・34を第一とし、電子部品剥離位置4からプレアライナ機構9までを第一の吸着機構10(24)・34(36)にて電子部品1を移送し、次に、プレアライナ機構9から基板6の所定位置7までを第二の吸着機構11にて電子部品1を移送し、最終的に、ボンディング工程において、第二の吸着機構11にて移送された電子部品1を基板6の所定位置7にボンディングするように設定されていることを特徴とする。   The die bonding method according to claim 4 of the present invention for solving the technical problem is that a pre-aligner mechanism 9 is interposed between the electronic component peeling position 4 and a predetermined position 7 of the substrate 6 in the transfer process. First, the suction mechanism 10/34 is the first, the electronic component 1 is transferred from the electronic component peeling position 4 to the pre-aligner mechanism 9 by the first suction mechanism 10 (24) / 34 (36), and then The electronic component 1 is transferred from the pre-aligner mechanism 9 to the predetermined position 7 of the substrate 6 by the second suction mechanism 11, and finally the electronic component 1 transferred by the second suction mechanism 11 in the bonding process. It is set so as to bond to a predetermined position 7 of the substrate 6.

また、前記技術的課題を解決するための本発明の請求項5に係わるダイボンディング方法とは、搬送工程において、第二の吸着機構11には、吸着側を電子部品1の平面形状とほぼ同程度に形成された第二の吸着パッド25を備えると共に、プレアライナ機構9に移送された電子部品1を第二の吸着パッド25にて吸着保持するように設定されていることを特徴とする。   The die bonding method according to claim 5 of the present invention for solving the technical problem is that the suction side of the second suction mechanism 11 is substantially the same as the planar shape of the electronic component 1 in the transport process. The second suction pad 25 is formed to the extent that the electronic component 1 transferred to the pre-aligner mechanism 9 is sucked and held by the second suction pad 25.

なお、前記した符号は、説明の便宜上付したものであり、本発明を図面に示される実施の形態に限定するものではない。   In addition, the above-mentioned code | symbol is attached | subjected for convenience of explanation, and this invention is not limited to embodiment shown by drawing.

本発明によれば、剥離させる電子部品、並びに、隣接する電子部品の損傷を効率良く防止して保護することにより、ダイシングテープにおける個々の電子部品、特に、薄型化した電子部品を確実に剥離させるので、電子部品装着サイクルをより一層向上させることができるダイボンディング方法を提供することができると云う優れた効果を奏する。   According to the present invention, the electronic parts to be peeled and the electronic parts on the dicing tape, in particular, the thinned electronic parts can be surely peeled by efficiently preventing and protecting damage to adjacent electronic parts. Therefore, it is possible to provide an excellent effect that a die bonding method capable of further improving the electronic component mounting cycle can be provided.

即ち、本発明に係わるダイボンディング方法について、図例にて説明する。
図1(1)は、本発明に係わるダイホンディング方法を行うダイボンド装置の概略平面図、図1(2)は、図1(1)に対応する前記装置におけるボンディングユニットの概略側面(一部断面)図を示す。
That is, the die bonding method according to the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 (1) is a schematic plan view of a die bonding apparatus for performing a die bonding method according to the present invention, and FIG. 1 (2) is a schematic side view (partial cross section) of a bonding unit in the apparatus corresponding to FIG. ) Show the figure.

図1(1)に示すダイボンド装置100とは、IC等の半導体チップ1(電子部品)をウェーハテーブル2におけるダイシングテープ3の電子部品剥離位置4から個々の該チップ1を各別に剥離させる電子部品用の剥離機構5と、基板6の所定位置7を認識する第一の認識カメラ8と、第一の認識カメラ8にて認識された基板6の所定位置7にダイボンド材を介して、剥離された該チップ1を吸着した状態で、まず、電子部品剥離位置4からプレアライナ機構9までを移送する第一の吸着機構10と、次に、プレアライナ機構9から基板6の所定位置7に移送して供給セットする第二の吸着機構11と、を備えたボンディングユニット50、及び/又は、該チップ1を供給セットされた基板6の所定位置7にダイボンド材を介して該チップ1を圧着させるようにして装着する、或いは、電子部品保護用のフィルム(図示なし)を該チップ1の表面に被覆させた状態で、該チップ1を圧着させるようにしてボンディング(装着)する圧着手段(図示なし)を備えたアフタプレスユニット60、を含む構成となっている。   The die bonding apparatus 100 shown in FIG. 1A is an electronic component that separates each chip 1 from a semiconductor chip 1 (electronic component) such as an IC from an electronic component peeling position 4 of a dicing tape 3 on a wafer table 2. Peeling mechanism 5, first recognition camera 8 that recognizes predetermined position 7 of substrate 6, and predetermined position 7 of substrate 6 recognized by first recognition camera 8 through a die bond material. In the state where the chip 1 is adsorbed, first, the first adsorbing mechanism 10 for transferring from the electronic component peeling position 4 to the pre-aligner mechanism 9 and then the pre-aligner mechanism 9 for transferring to the predetermined position 7 of the substrate 6 are transferred. The bonding unit 50 provided with the second suction mechanism 11 to supply and set, and / or the chip 1 to a predetermined position 7 of the substrate 6 to which the chip 1 is supplied and set via a die bonding material. A pressure-bonding means for mounting (attaching) the chip 1 so as to be pressure-bonded in a state in which the chip 1 is attached in a state where the chip 1 is covered with a film (not shown) for protecting electronic components. And an after-press unit 60 provided with an unillustrated).

例えば、ダイボンド材としては、ダイボンド用粘着テープ(剥離テープ付の両面粘着テープ)における粘着フィルム12を用いる。
即ち、粘着フィルム12を基板6の所定位置7に貼付ける貼付装置とは、特許文献1に開示されているように、剥離フィルム付の粘着フィルム12(個片)をダイボンド用の粘着テープから所要の大きさに切断する切断機構と、基板6の所定位置7を認識する撮像手段と、撮像手段にて認識された基板6の所定位置7に粘着フィルム12を係着させるようにして供給セットする係着手段とを備えた仮圧着ユニット、及び、粘着フィルム12を供給セットされた基板6の所定位置7に粘着フィルム12を圧着させるようにして貼付ける圧着手段を備えた本圧着ユニット、及び/又は、基板6の所定位置7に粘着フィルム12を介して設けられた剥離フィルム(剥離部材)を、剥離フィルム除去用の接着テープに接着させることにより、基板6から剥離フィルムを除去して基板6上に粘着フィルム12のみを残存させる剥離フィルム除去手段を備えたピールユニットを含む構成となる。
なお、本発明に用いられる粘着テープ(粘着フィルム12)は、粘着フィルム12部分と剥離フィルム部分とを総称して個片として示す二層構造を採用しているが、粘着フィルム12部分のみの一層構造、或いは、粘着フィルム12の両面側に剥離フィルムを各別に設ける三層構造を採用してもよい。また、仮圧着ユニットにおける粘着テープ(粘着フィルム12)構造に換えて、図示していないが、ディスペンサーノズルを備えるディスペンサーユニットを配設する構成に変更可能となる。
For example, as the die-bonding material, an adhesive film 12 in a die-bonding adhesive tape (double-sided adhesive tape with a release tape) is used.
That is, the sticking device for sticking the adhesive film 12 to the predetermined position 7 of the substrate 6 requires the adhesive film 12 with a release film (individual pieces) from the adhesive tape for die bonding as disclosed in Patent Document 1. A cutting mechanism that cuts into a predetermined size, an imaging means for recognizing a predetermined position 7 of the substrate 6, and a supply set so that the adhesive film 12 is engaged with the predetermined position 7 of the substrate 6 recognized by the imaging means. A temporary pressure-bonding unit provided with an engaging means, and a main pressure-bonding unit provided with a pressure-bonding means for attaching the pressure-sensitive adhesive film 12 to the predetermined position 7 of the substrate 6 to which the pressure-sensitive adhesive film 12 is supplied and set, and / or Alternatively, by attaching a release film (peeling member) provided at a predetermined position 7 of the substrate 6 via an adhesive film 12 to an adhesive tape for removing the release film, By removing the release film a configuration including a peel unit with release film removing means to leave only the adhesive film 12 on the substrate 6.
In addition, although the adhesive tape (adhesive film 12) used for this invention has employ | adopted the two-layer structure which shows an adhesive film 12 part and a peeling film part generically as a piece, one layer of only an adhesive film 12 part A structure or a three-layer structure in which release films are separately provided on both sides of the adhesive film 12 may be adopted. Although not shown in the drawing, the structure can be changed to a configuration in which a dispenser unit including a dispenser nozzle is provided instead of the adhesive tape (adhesive film 12) structure in the temporary pressure bonding unit.

基板6の搬送手段としては、図1(1)に示すように、図例の左右方向に略直線上に二本の搬送レール13(13a・13b)が取付けられており、搬送レール13の鉛直方向の面形状は、コの字型で形成されている(図1(2)参照。)。
そして、コの字部分の凹みに基板6の厚み部分を嵌入し、搬送レール13に備えた基板チャック機構(図示なし)にて、貼付装置及びダイボンド装置100における各ユニットとし、この場合、仮圧着ユニット・本圧着ユニット・ピールユニット・ボンディングユニット50・アフタプレスユニット60を、一体化して連続的に、基板6を搬送・停止させることができるように構成されている。
また、各ユニットの他に、図示していないが、粘着フィルム12(個片)貼付前の基板6を収納して仮圧着ユニットへ基板6を移送する貼付装置の仮圧着ユニット側に備えたインマガジンユニットと、一方、インマガジンユニットから仮圧着ユニット、本圧着ユニット、ピールユニット、ボンディングユニット50、アフタプレスユニット60へと基板6を順次搬送し、最終的に、粘着フィルム12を介して該チップ1を装着された基板6を、ダイボンド装置100のアフタプレスユニット60側に備えたアウトマガジンユニットへ基板6が搬送されて収納することができるように構成されている。
なお、各ユニットは、貼付装置及びダイボンド装置100内にて適宜に取捨選択して備えることができるように構成されている。
As shown in FIG. 1 (1), as the means for transporting the substrate 6, two transport rails 13 (13 a, 13 b) are mounted on a substantially straight line in the left-right direction in the figure. The surface shape in the direction is formed in a U-shape (see FIG. 1 (2)).
And the thickness part of the board | substrate 6 is inserted in the hollow of a U-shaped part, and it is set as each unit in the sticking apparatus and the die-bonding apparatus 100 with the board | substrate chuck mechanism (not shown) with which the conveyance rail 13 was equipped. The unit, the main pressure bonding unit, the peel unit, the bonding unit 50, and the after press unit 60 are integrated so that the substrate 6 can be conveyed and stopped continuously.
In addition to each unit, although not shown in the figure, an adhesive provided on the temporary crimping unit side of the pasting device that houses the substrate 6 before pasting the adhesive film 12 (piece) and transfers the substrate 6 to the temporary crimping unit. On the other hand, the substrate 6 is sequentially transferred from the in-magazine unit to the temporary pressure-bonding unit, the main pressure-bonding unit, the peel unit, the bonding unit 50, and the after-press unit 60, and finally the chip via the adhesive film 12 1 is configured such that the substrate 6 can be transported and stored in an out magazine unit provided on the after-press unit 60 side of the die bonding apparatus 100.
Each unit is configured to be appropriately selected and provided in the sticking device and the die bonding device 100.

ボンディングユニット50は、図1(1)及び図1(2)に示すように、前述したウェーハテーブル2、剥離機構5、第一の認識カメラ8、プレアライナ機構9、第一及び第二の吸着機構10・11の他に、第一の吸着機構10を上下方向に自在に移動させる昇降機構15付の第一の移動レール14と、第一の認識カメラ8と第二の吸着機構11とを移動させる第二の移動レール16と、該チップ1の剥離機構5における電子部品剥離位置4での剥離状態を認識する第二の認識カメラ17と、プレアライナ機構9に移送される該チップ1の移送状態を認識する第三の認識カメラ18と、該チップ1を供給セットさせる供給セット台19とを備えている。   As shown in FIGS. 1A and 1B, the bonding unit 50 includes the wafer table 2, the peeling mechanism 5, the first recognition camera 8, the pre-aligner mechanism 9, and the first and second suction mechanisms described above. In addition to 10.11, the first moving rail 14 with the lifting mechanism 15 for moving the first suction mechanism 10 freely in the vertical direction, the first recognition camera 8 and the second suction mechanism 11 are moved. The second moving rail 16 to be moved, the second recognition camera 17 for recognizing the peeling state at the electronic component peeling position 4 in the peeling mechanism 5 of the chip 1, and the transfer state of the chip 1 transferred to the pre-aligner mechanism 9 A third recognition camera 18 for recognizing the chip 1 and a supply set base 19 for supplying and setting the chip 1.

ウェーハテーブル2は、図例における上下・左右方向に移動可能に構成されていると共に、ウェーハテーブル2に付設されたエキスパンド上に、ウェーハ(図示なし)を切断分離された所要複数個の該チップ1をダイシングテープ3に粘着固定された状態で収容するウェーハプレート全体を載置するように構成されている。
なお、エキスパンド及びウェーハプレートは、所要複数個の該チップ1を下部からダイシングテープ3を介して剥離機構5にて剥離するように貫通して構成されている。
そして、ウェーハプレート上に該チップ1が無くなると、図例の右方向におけるカセットエレベータ機構20に、空のウェーハプレートを収納し、その後、所要複数個の該チップ1を収容されたウェーハプレートが、左方向におけるエキスパンド上に移動することができるように構成されている。
最終的に、カセットエレベータ機構20にて、ウェーハプレート上に完全に該チップ1が無くなると、ダイボンド装置100外に取出し、新しい所要複数個の該チップ1を収容されたウェーハプレートを所要複数枚、収納することができるように構成されている。
The wafer table 2 is configured to be movable in the vertical and horizontal directions in the example of the figure, and a plurality of required chips 1 obtained by cutting and separating a wafer (not shown) on an expand attached to the wafer table 2. Is mounted on the dicing tape 3 in a state where it is adhesively fixed.
The expand and the wafer plate are configured to penetrate through a plurality of the required chips 1 from below to be peeled by the peeling mechanism 5 via the dicing tape 3.
Then, when the chip 1 disappears on the wafer plate, an empty wafer plate is stored in the cassette elevator mechanism 20 in the right direction in the figure, and then the wafer plate in which the required plurality of chips 1 are stored, It is configured to be able to move on the expand in the left direction.
Finally, when the chip 1 is completely removed from the wafer plate by the cassette elevator mechanism 20, it is taken out of the die bonding apparatus 100, and a plurality of required wafer plates containing a plurality of new chips 1 are stored. It is configured so that it can be stored.

第一の吸着機構10には、図1(2)に示すように、該チップ1の平面形状よりも大きく形成された該吸着機構10の電子部品側を軟質部22で形成し且つ軟質部22以外を軟質部22よりも硬い硬質部23で形成する周辺押圧部材21と、該押圧部材21の内周囲に形成され且つ該チップ1の平面形状とほぼ同程度に形成される該チップ1平面との当接部分に、例えば、単数或は複数の貫通穴を有する弾性材料、若しくは、多孔質材料等を用いる吸着パッド24と、を備えている。
つまり、周辺押圧部材21における軟質部22・硬質部23の二層構造により、剥離させる該チップ1に隣接する該チップ1を押圧することにより、従来のような隣接ペレットの剥離現象を効率良く防止する構成となっている。
In the first suction mechanism 10, as shown in FIG. 1B, the electronic component side of the suction mechanism 10 formed to be larger than the planar shape of the chip 1 is formed with a soft portion 22 and the soft portion 22. A peripheral pressing member 21 formed by a hard portion 23 that is harder than the soft portion 22, and the chip 1 plane formed on the inner periphery of the pressing member 21 and formed to be approximately the same as the planar shape of the chip 1. The abutting portion is provided with a suction pad 24 using, for example, an elastic material having a single or a plurality of through holes, a porous material, or the like.
That is, by pressing the chip 1 adjacent to the chip 1 to be peeled off by the two-layer structure of the soft portion 22 and the hard portion 23 in the peripheral pressing member 21, the conventional peeling phenomenon of the adjacent pellet can be efficiently prevented. It is the composition to do.

第二の吸着機構11には、図1(2)に示すように、該チップ1の平面形状とほぼ同程
度に形成される該チップ1平面との当接部分に、例えば、複数の貫通穴を有する弾性材料或は多孔質材料等を用いる第二の吸着パッド25を備えている。
つまり、該チップ1における平面形状とほぼ同程度に形成される第一及び第二の吸着パッド24・25の構造により、該チップ1の損傷を効率良く防止する構成となっている。
As shown in FIG. 1 (2), the second suction mechanism 11 has, for example, a plurality of through-holes in a contact portion with the chip 1 plane formed approximately the same as the planar shape of the chip 1. A second suction pad 25 using an elastic material or a porous material having the above is provided.
That is, the structure of the first and second suction pads 24 and 25 formed to be approximately the same as the planar shape of the chip 1 is configured to efficiently prevent damage to the chip 1.

従って、第一及び第二の吸着機構10・11では、図1(1)及び図1(2)に示すように、電子部品剥離位置4からプレアライナ機構9までを第一の吸着機構10(吸着パッド24)にて剥離される電子部品(該チップ1)を移送し、次に、プレアライナ機構9から基板6の所定位置7までを第二の吸着機構11(吸着パッド25)にて該チップ1を移送し、最終的に、第二の吸着機構11にて移送された該チップ1を基板6の所定位置7にボンディングすることができるように構成されている。   Accordingly, in the first and second suction mechanisms 10 and 11, as shown in FIGS. 1 (1) and 1 (2), the first suction mechanism 10 (suction) is provided from the electronic component peeling position 4 to the pre-aligner mechanism 9. The electronic component (the chip 1) to be peeled off is transferred by the pad 24), and then the chip 1 is transferred from the pre-aligner mechanism 9 to the predetermined position 7 of the substrate 6 by the second suction mechanism 11 (suction pad 25). And finally the chip 1 transferred by the second suction mechanism 11 can be bonded to a predetermined position 7 of the substrate 6.

剥離機構5には、図1(2)に示すように、ウェーハテーブル2における貫通したエキスパンド上に載置された所要複数個の該チップ1、即ち、ウェーハプレートにダイシングテープ3を介して粘着固定された該チップ1を下部から剥離させる剥離促進部材26と、剥離促進部材26をほぼ中央部分に配置し且つ上下方向に貫通させ、ほぼ水平方向に移動可能にした支持台27とを備えている。
剥離促進部材26は、図1(2)に示すように、該剥離側を軟質部28で形成し且つ軟質部28以外を軟質部28よりも硬い硬質部29で形成すると共に、硬質部29が軟質部28を囲繞し且つ剥離される該チップ1のほぼ中央部位において軟質部28が露出状態となるように形成されている。
支持台27は、剥離される該チップ1をダイシングテープ3を介して電子部品剥離位置4でほぼ水平状態にて支持した状態で、剥離促進部材26と支持台27との開口部分よりダイシングテープ3を吸着する吸着溝30と、剥離させる該チップ1に隣接する該チップ1をダイシングテープ3を介して吸着する吸着孔31とを形成されている。
As shown in FIG. 1 (2), the peeling mechanism 5 is adhesively fixed to the required plurality of chips 1, ie, a wafer plate, placed on the expanded through in the wafer table 2 via a dicing tape 3. A peeling promoting member 26 that peels the chip 1 from the lower part, and a support base 27 that is disposed substantially at the center and penetrates in the vertical direction and is movable in the horizontal direction. .
As shown in FIG. 1 (2), the peeling promoting member 26 is formed of a soft portion 28 on the peeling side and a hard portion 29 harder than the soft portion 28 except for the soft portion 28. The soft portion 28 is formed so as to be exposed at a substantially central portion of the chip 1 that surrounds and peels off the soft portion 28.
The support base 27 supports the dicing tape 3 from the opening portion between the peeling promotion member 26 and the support base 27 in a state where the chip 1 to be peeled is supported in a substantially horizontal state at the electronic component peeling position 4 via the dicing tape 3. An adsorption groove 30 that adsorbs the chip 1 and an adsorption hole 31 that adsorbs the chip 1 adjacent to the chip 1 to be peeled through the dicing tape 3 are formed.

剥離機構5(剥離促進部材26)における軟質部28は、着脱可能に構成されており、硬質部29の移動(下動)状態に応じて自在に変形されると共に、ダイシングテープ3の変形状態が解除されるとほぼ同時に、軟質部28の変形状態も解除されて復元される。
一方、前述した第一の吸着機構10(周辺押圧部材21)における軟質部22においても着脱可能に構成されており、該軟質部28と同様の構成要素を兼ね備えており、剥離させる該チップ1に隣接する該チップ1の押圧状態により軟質部22が変形し、押圧状態が解除されると軟質部22の変形状態も解除されて復元するように構成されている。
このような両軟質部22・28は、例えば、適宜なゴム材料を用いることが望ましい。
つまり、このゴムの変形により、ダイシングテープ3を介して、剥離される該チップ1、並びに、隣接する該チップ1の損傷を効率良く防止して保護することができるように十分に考慮した構成となっている。
The soft portion 28 in the peeling mechanism 5 (peel promoting member 26) is configured to be detachable, and can be freely deformed according to the movement (downward movement) state of the hard portion 29, and the deformation state of the dicing tape 3 can be changed. Almost simultaneously with the release, the deformed state of the soft portion 28 is also released and restored.
On the other hand, the soft portion 22 of the first suction mechanism 10 (peripheral pressing member 21) described above is also detachable and has the same components as the soft portion 28. The soft portion 22 is deformed by the pressed state of the adjacent chip 1, and when the pressed state is released, the deformed state of the soft portion 22 is also released and restored.
For example, it is desirable to use an appropriate rubber material for both the soft portions 22 and 28.
That is, the configuration is sufficiently considered so that the deformation of the rubber can efficiently prevent and protect the chip 1 peeled off through the dicing tape 3 and the adjacent chip 1 from being damaged. It has become.

このことから、第一の吸着機構10によれば、剥離される該チップ1の隣接する該チップ1を周辺押圧部材21の軟質部22にて押圧した状態で、更に、この状態で、剥離機構5によれば、剥離促進部材26における硬質部29を移動(下動)して軟質部28を変形させてダイシングテープ3から剥離させる該チップ1の剥離状態を促進させることにより、剥離させる該チップ1を第一の吸着パッド24に受け渡して吸着保持することができるよう構成されている。
更に、第一吸着機構10によれば、剥離促進部材26の外側方周囲における吸着溝30からダイシングテープ3を吸着することにより、ダイシングテープ3から剥離させる該チップ1の剥離状態を更に促進させることができるように構成されている。
従って、前述した両軟質部22・28及び両硬質部23・29の二層構造を夫々用いることにより、剥離させる電子部品(該チップ1)、並びに、隣接する電子部品の損傷を効率良く防止して保護すると共に、ダイシングテープ3における個々の電子部品、特に、薄型化した電子部品を確実に剥離することができるように構成されている。
From this, according to the first suction mechanism 10, the chip 1 adjacent to the chip 1 to be peeled is pressed by the soft portion 22 of the peripheral pressing member 21. 5, the chip to be peeled by accelerating the peeling state of the chip 1 that moves (downwardly moves) the hard part 29 in the peeling promoting member 26 to deform the soft part 28 and peel it from the dicing tape 3. 1 is delivered to the first suction pad 24 and can be sucked and held.
Furthermore, according to the first suction mechanism 10, the peeling state of the chip 1 to be peeled from the dicing tape 3 is further promoted by sucking the dicing tape 3 from the suction grooves 30 around the outer side of the peeling promoting member 26. It is configured to be able to.
Therefore, by using the two-layer structure of both the soft parts 22 and 28 and the hard parts 23 and 29 described above, it is possible to efficiently prevent the electronic parts to be peeled off (the chip 1) and the adjacent electronic parts from being damaged. And the individual electronic components in the dicing tape 3, in particular, the thinned electronic components can be reliably peeled off.

第一の移動レール14は、第一の吸着機構10(吸着パッド24)に対して、昇降機構15にて図1(2)に示す上下方向に自在に昇降させ、且つ、移動レール14上にて図1(2)に示す左右方向に、少なくとも電子部品剥離位置4からプレアライナ機構9における電子部品待機位置32まで、該チップ1を移送させるように構成されている。
プレアライナ機構9は、前述した第一の吸着機構10(24)にて移送された該チップ1が電子部品待機位置32に到達するとほぼ同時に、該機構9における回動テーブルにて該チップ1を回動テーブルに装着固定した状態で180度回動し、基板6側における電子部品準備位置33に装着保持される。そして、電子部品待機位置32に該チップ1が無くなると、剥離機構5にて剥離される次の該チップ1を第一の吸着機構10(24)に吸着保持させて、昇降機構15付の第一の移動レール14にて移送される構成となっている。
また、第二の移動レール16は、プレアライナ機構9の電子部品準備位置33に該チップ1を装着保持されると、第二の吸着機構11(吸着パッド25)にて、移動レール16上にて図1(2)に示す左右方向に、少なくとも電子部品準備位置33から基板6の所定位置7(7a〜7h)まで、該チップ1を移送させるように構成されている。
このとき、第一及び第二の吸着機構10(24)・11(25)が、第一から第三の認識カメラ8・17・18の相互の認識結果に基づいて、夫々の第一及び第二の移動レール14・16に沿って自在に移動することができるように構成されている。
また、第二の移動レール16は、貼付装置における仮圧着ユニットの部品構造と共有化できる構成となっており、第一の認識カメラ8と第二の吸着機構11(25)とを独立し且つ同軸上に設けており、さらに、図1(1)に示す搬送レール13(13a・13b)とはほぼ直交(上下)方向に該カメラ8・パッド11が衝突しないように移動することができると共に、該カメラ8・パッド11は、各別に且つほぼ同時に、ボンディングユニット50における該チップ1を供給セットすることができるように構成されている。
The first moving rail 14 is moved up and down freely in the vertical direction shown in FIG. 1 (2) by the lifting mechanism 15 with respect to the first suction mechanism 10 (suction pad 24), and on the moving rail 14. 1 (2), the chip 1 is transferred from at least the electronic component peeling position 4 to the electronic component standby position 32 in the pre-aligner mechanism 9.
The pre-aligner mechanism 9 rotates the chip 1 on the rotary table in the mechanism 9 almost simultaneously with the arrival of the chip 1 that has been transferred by the first suction mechanism 10 (24) described above. It is rotated 180 degrees while being mounted and fixed on the moving table, and is mounted and held at the electronic component preparation position 33 on the substrate 6 side. Then, when the chip 1 disappears at the electronic component standby position 32, the next chip 1 peeled off by the peeling mechanism 5 is sucked and held by the first suction mechanism 10 (24), and the first one with the lifting mechanism 15 is attached. It is configured to be transferred by one moving rail 14.
Further, when the chip 1 is mounted and held at the electronic component preparation position 33 of the pre-aligner mechanism 9, the second moving rail 16 is moved on the moving rail 16 by the second suction mechanism 11 (suction pad 25). The chip 1 is configured to be transferred from at least the electronic component preparation position 33 to a predetermined position 7 (7a to 7h) of the substrate 6 in the left-right direction shown in FIG.
At this time, the first and second suction mechanisms 10 (24) and 11 (25) are based on the mutual recognition results of the first to third recognition cameras 8, 17 and 18, respectively. It is configured to be able to move freely along the two moving rails 14 and 16.
In addition, the second moving rail 16 is configured to be shared with the component structure of the temporary pressure bonding unit in the sticking device, and the first recognition camera 8 and the second suction mechanism 11 (25) are independent from each other. Furthermore, the camera 8 and the pad 11 can move so as not to collide with each other in a direction substantially perpendicular (up and down) to the transport rails 13 (13a and 13b) shown in FIG. The camera 8 and the pad 11 are configured so that the chip 1 in the bonding unit 50 can be supplied and set separately and almost simultaneously.

即ち、ダイボンド装置100におけるボンディングユニット50において、図1(2)に示すように、まず、ダイシングテープ3に粘着固定され且つ剥離させる該チップ1の電子部品剥離位置4まで、ウェーハテーブル2におけるウェーハプレートを移動させる。
次に、剥離機構5における支持台27が、剥離させる該チップ1に対して、ダイシングテープ3を介してほぼ水平状態にて支持した状態で、剥離機構5では、隣接する該チップ1をダイシングテープ3を介して吸着孔31から吸着するのとほぼ同時に、第一吸着機構10では、隣接する該チップ1を周辺押圧部材21における軟質部22で押圧し、且つ、剥離される該チップ1に対して該吸着機構10の吸着パッド24における吸引作用を施すことにより、剥離される該チップ1の外周囲(外側方周囲も含む)におけるダイシングテープ3を剥離させる。
次に、剥離促進部材26の硬質部29を移動(下動)させてダイシングテープ3から剥離させる該チップ1の剥離状態を促進させるとほぼ同時に、支持台27の吸着溝30では、剥離促進部材26と支持台27との開口部分からダイシングテープ3を吸着することにより、ダイシングテープ3から剥離させる該チップ1の剥離状態を更に促進させる。
次に、ダイシングテープ3から剥離させる該チップ1を第一の吸着機構10(吸着パッド24)にて吸引作用を施して、剥離させる該チップ1を該吸着機構10(24)にて吸着保持させる。
次に、該チップ1が吸着保持された第一の吸着機構10(24)にて昇降機構15付の第一の移動レール14に沿って移動し、次に、プレアライナ機構9の電子部品待機位置32に該チップ1を装着保持し、次に、プレアライナ機構9の回動テーブルが180度回動して、該チップ1を電子部品準備位置33に回動させて装着保持する。
次に、電子部品準備位置33に装着保持された該チップ1が第二の吸着機構11(25)にて第二の移動レール16に沿って移動し、最終的に、基板6の所定位置7(7a〜7h)の夫々に対して、第二の吸着機構11(吸着パッド25)にて該チップ1を粘着フィルム12を介して供給セットすることができるように構成されている。
That is, in the bonding unit 50 in the die bonding apparatus 100, as shown in FIG. 1 (2), first, the wafer plate on the wafer table 2 up to the electronic component peeling position 4 of the chip 1 that is adhesively fixed to the dicing tape 3 and peeled off. Move.
Next, in a state where the support base 27 in the peeling mechanism 5 supports the chip 1 to be peeled in a substantially horizontal state via the dicing tape 3, the peeling mechanism 5 holds the adjacent chip 1 in the dicing tape. At the same time as the suction from the suction hole 31 via 3, the first suction mechanism 10 presses the adjacent chip 1 with the soft portion 22 in the peripheral pressing member 21, and the chip 1 to be peeled off. By applying a suction action to the suction pad 24 of the suction mechanism 10, the dicing tape 3 is peeled off at the outer periphery (including the outer periphery) of the chip 1 to be peeled off.
Next, when the hard part 29 of the peeling promoting member 26 is moved (moved downward) to promote the peeling state of the chip 1 to be peeled from the dicing tape 3, the peeling promoting member in the suction groove 30 of the support base 27 is almost simultaneously. By adsorbing the dicing tape 3 from the opening between the support 26 and the support base 27, the peeling state of the chip 1 to be peeled from the dicing tape 3 is further promoted.
Next, the chip 1 to be peeled from the dicing tape 3 is sucked by the first suction mechanism 10 (suction pad 24), and the chip 1 to be peeled is sucked and held by the suction mechanism 10 (24). .
Next, the chip 1 is moved along the first moving rail 14 with the lifting mechanism 15 by the first suction mechanism 10 (24) on which the chip 1 is sucked and held, and then the electronic component standby position of the pre-aligner mechanism 9 is moved. The chip 1 is mounted and held at 32, and then the rotary table of the pre-aligner mechanism 9 is rotated 180 degrees to rotate the chip 1 to the electronic component preparation position 33 and hold it.
Next, the chip 1 mounted and held at the electronic component preparation position 33 moves along the second moving rail 16 by the second suction mechanism 11 (25), and finally the predetermined position 7 of the substrate 6 is reached. For each of (7a to 7h), the chip 1 can be supplied and set via the adhesive film 12 by the second suction mechanism 11 (suction pad 25).

ここで、基板6の所定位置7としては、例えば、図1(1)に示すように、八箇所の所定位置7(7a〜7h)に形成する基板6を対象に説明している。
なお、基板6の所定位置7(7g、7h)側から見ている図が、図1(2)である。
この八箇所の所定位置7(7a〜7h)に粘着フィルム12を夫々に貼り付ける貼付装置とは、特許文献1に開示されているように、まず、仮圧着ユニットにおいて、ダイボンド用粘着テープを所要の大きさに切断して剥離フィルム付の粘着フィルム12を係着手段で係着した状態で、基板6の所定位置7に供給セットする仮圧着工程を行い、次に、本圧着ユニットにおいて、基板6に供給セットした粘着フィルム12を圧着手段で圧着させるようにして、基板6の所定位置7に粘着フィルム12を貼付ける本圧着工程を行い、次に、ピールユニットにおいて、剥離用の接着テープを用いて基板6の剥離フィルムに押圧して接着テープに剥離フィルムを接着させることにより、基板6から剥離フィルムを除去して基板6に粘着フィルム12のみを残存させるピール工程を行うように設定されている。
Here, as the predetermined position 7 of the board | substrate 6, as shown to FIG. 1 (1), the board | substrate 6 formed in eight predetermined positions 7 (7a-7h) is demonstrated as object.
1 (2) is a view of the substrate 6 as viewed from the predetermined position 7 (7g, 7h) side.
The sticking device for sticking the adhesive film 12 to each of the eight predetermined positions 7 (7a to 7h), as disclosed in Patent Document 1, first requires an adhesive tape for die bonding in the temporary crimping unit. In a state where the pressure-sensitive adhesive film 12 with the release film is attached to the predetermined position 7 of the substrate 6 in a state in which the adhesive film 12 with the release film is engaged with the engaging means, a temporary bonding step is performed. The pressure-sensitive adhesive film 12 supplied and set in the pressure-bonding means 6 is pressure-bonded by a pressure-bonding means, and the pressure-bonding film 12 is bonded to the predetermined position 7 of the substrate 6. Next, in the peel unit, an adhesive tape for peeling is used. The release film is removed from the substrate 6 by pressing the release film on the substrate 6 and bonding the release film to the adhesive tape. It is set to perform the peel process to leave the.

この貼付装置における仮圧着工程、本圧着工程、ピール工程を順次行った後、ダイボンド装置100では、個別にダイシングされた該チップ1を、ダイシングテープ3から剥離してダイボンド材(粘着フィルム12)を介して基板6の所定位置7に装着する本発明に係わるダイボンディング方法を連続的に行うことができるものである。
このダイボンディング方法とは、図1(1)及び図1(2)に示すように、ダイシングテープ3で貼付された個々の該チップ1を電子部品用の剥離機構5にて電子部品剥離位置4から剥離する剥離工程と、剥離される該チップ1を第一吸着機構10(吸着パッド24)からプレアライナ機構9を介して第二吸着機構11(吸着パッド25)にて吸着した状態で基板6側に搬送する搬送工程と、搬送された該チップ1を第二吸着機構11(25)にて基板6の所定位置7にボンディングするボンディング工程と、を少なくとも行なうように設定されている。
なお、基板6の所定位置7(7h)において、ボンディングされる該チップ1のボンディング状態を示している。
更に、図示していないが、該チップ1を基板6の所定位置7(7a〜7h)の八箇所にボンディングされた基板6が、搬送レール13(13a・13b)に沿って搬送され、次に、アフタプレスユニット60において、該チップ1を供給セットされた基板6の所定位置7(7a〜7h)に圧着手段にてダイボンド材(粘着フィルム12)を介して該チップ1を圧着させるようにして装着する、或いは、電子部品保護用のフィルム(図示なし)を該チップ1の表面に被覆させた状態で、該チップ1を圧着させるようにしてボンディング(装着)するアフタプレス工程を行うように設定されている。
After performing the temporary press-bonding step, the main press-bonding step, and the peeling step in this sticking device in sequence, the die bonding device 100 peels the individually diced chip 1 from the dicing tape 3 to remove the die bond material (adhesive film 12). Thus, the die bonding method according to the present invention can be continuously performed by mounting the substrate 6 on the predetermined position 7.
As shown in FIGS. 1 (1) and 1 (2), this die bonding method means that each chip 1 affixed with a dicing tape 3 is attached to an electronic component peeling position 4 by a peeling mechanism 5 for electronic components. And the chip 1 to be peeled from the first suction mechanism 10 (suction pad 24) through the pre-aligner mechanism 9 and sucked by the second suction mechanism 11 (suction pad 25). And a bonding step of bonding the transferred chip 1 to the predetermined position 7 of the substrate 6 by the second suction mechanism 11 (25).
The bonding state of the chip 1 to be bonded is shown at a predetermined position 7 (7h) of the substrate 6.
Further, although not shown, the substrate 6 in which the chip 1 is bonded to eight positions 7 (7a to 7h) of the substrate 6 is transported along the transport rails 13 (13a and 13b). In the after press unit 60, the chip 1 is pressure-bonded to a predetermined position 7 (7a to 7h) of the substrate 6 on which the chip 1 is supplied and set by a pressure bonding means via a die bond material (adhesive film 12). It is set to perform an after-press process in which the chip 1 is bonded or mounted in a state where the chip 1 is covered with a film (not shown) for protecting the electronic component being coated on the surface of the chip 1 Has been.

ここからは、ボンディングユニット50におけるダイボンディング方法、特に、本発明の特徴部分となる第一及び第二の吸着機構10・11を用いる搬送工程、並びに、剥離機構5を用いる剥離工程に主眼をおき、剥離工程、搬送工程、ボンディング工程を図1(1)及び図1(2)に加えて、図2(1)〜図2(3)、図3(1)〜図3(3)、図4(1)〜図4(3)を用いて詳細に説明する。   From here on, the die bonding method in the bonding unit 50, particularly the transporting process using the first and second suction mechanisms 10 and 11, which are the features of the present invention, and the peeling process using the peeling mechanism 5 will be focused. In addition to FIG. 1 (1) and FIG. 1 (2), the peeling process, the conveyance process, and the bonding process are shown in FIG. 2 (1) to FIG. 2 (3), FIG. 3 (1) to FIG. 4 (1) to 4 (3) will be described in detail.

図2(1)〜図2(3)、図3(1)〜図3(3)における各六段階は、図1(2)に対応する該吸着機構10・11及び剥離機構5における搬送工程及び剥離工程を段階的に示す概略側面(一部断面)図である。   Each of the six steps in FIGS. 2 (1) to 2 (3) and FIGS. 3 (1) to 3 (3) is a conveying process in the suction mechanism 10 and 11 and the peeling mechanism 5 corresponding to FIG. 1 (2). FIG. 4 is a schematic side view (partial cross-sectional view) showing the peeling process step by step.

まず、図2(1)に示すように、搬送工程において、第一の吸着機構10にて剥離させる該チップ1を吸着するために、電子部品剥離位置4の直上部まで昇降機構付15の第一の移動レール14に沿って、該吸着機構10における吸着パッド24部分を剥離する該チップ1の直上部となるように移動(下動)させる。
一方、剥離工程において、ダイシングテープ3に粘着固定され且つ剥離させる該チップ1の電子部品剥離位置4まで、ウェーハテーブル2におけるウェーハプレートを移動させると共に、剥離機構5における支持台27が、剥離させる該チップ1に対して、ダイシングテープ3を介して電子部品剥離位置4で待機する。
このとき、支持台27に収納された剥離促進部材26における軟質部28の該テープ3側は、この場合、支持台27天面とほぼ同一平面位置に待機しているが、支持台27の天面よりも低い位置で待機させることもできる。
First, as shown in FIG. 2 (1), in order to suck the chip 1 to be peeled off by the first suction mechanism 10 in the transporting process, Along the moving rail 14, the suction pad 24 in the suction mechanism 10 is moved (moved downward) so as to be directly above the chip 1 to be peeled off.
On the other hand, in the peeling step, the wafer plate in the wafer table 2 is moved to the electronic component peeling position 4 of the chip 1 that is adhesively fixed to the dicing tape 3 and peeled off, and the support table 27 in the peeling mechanism 5 is peeled off. The chip 1 waits at the electronic component peeling position 4 via the dicing tape 3.
At this time, in this case, the tape 3 side of the soft portion 28 in the peeling promoting member 26 accommodated in the support base 27 stands by at the substantially same plane position as the top surface of the support base 27. It is also possible to wait at a position lower than the surface.

次に、図2(2)に示すように、搬送工程において、第一の吸着機構10を更に移動(下動)して周辺押圧部材21の軟質部22にて剥離させる該チップ1に隣接する該チップ1を押圧すると共に、第一の吸着パッド25にて剥離する該チップ1に対して吸引作用を施す。このとき、第一の吸着パッド25の吸引作用により剥離させる該チップ1は、ダイシングテープ3に貼り付いた状態で若干浮き上がると、ダイシングテープ3による剥離させる該チップ1の剥離状態も若干ではあるが促進させる。
一方、剥離工程において、剥離機構5における支持台27が剥離させる該チップ1並びに隣接する該チップ1に対して、電子部品剥離位置4でほぼ水平状態にて支持した状態で、剥離機構5における吸着孔31から隣接する該チップ1におけるダイシングテープ3を吸着させる。
つまり、この図2(2)に示す状態とは、剥離させる該チップ1の周囲に隣接する該チップ1に対して、周辺押圧部材21における軟質部22を押圧し、更に、この状態で、支持台27の吸着孔31よりダイシングテープ3を吸着するように設定されている。
Next, as shown in FIG. 2 (2), in the transport process, the first suction mechanism 10 is further moved (downward) and adjacent to the chip 1 that is peeled off by the soft portion 22 of the peripheral pressing member 21. While pressing the chip 1, a suction action is applied to the chip 1 that is peeled off by the first suction pad 25. At this time, when the chip 1 to be peeled by the suction action of the first suction pad 25 is slightly lifted in a state of being attached to the dicing tape 3, the chip 1 to be peeled by the dicing tape 3 is also slightly peeled. Promote.
On the other hand, in the peeling process, the chip 1 to be peeled off by the support 27 in the peeling mechanism 5 and the adjacent chip 1 are adsorbed in the peeling mechanism 5 while being supported in a substantially horizontal state at the electronic component peeling position 4. The dicing tape 3 in the chip 1 adjacent from the hole 31 is adsorbed.
That is, the state shown in FIG. 2 (2) is a state in which the soft portion 22 in the peripheral pressing member 21 is pressed against the chip 1 adjacent to the periphery of the chip 1 to be peeled, and in this state, the support is performed. The dicing tape 3 is set to be sucked from the suction hole 31 of the table 27.

次に、図2(3)に示すように、図2(2)に示す搬送工程を保持した状態で、剥離工程において、支持台27に収納された剥離促進部材26の硬質部29が移動(下動)し、剥離される該チップ1のほぼ中央部位にて露出状態となる軟質部28が一層変形することによりダイシングテープ3から剥離させる該チップ1の剥離状態を促進させ、更に、この状態で、剥離機構5では、支持台27の吸着溝30を支持台27と剥離促進部材26との開口部分より吸着することによりダイシングテープ3から剥離させる該チップ1の剥離状態をより一層促進させる。
つまり、この剥離促進部材26の軟質部28・硬質部29の二層構造に加えて、支持台27における吸着溝30からダイシングテープ3を吸着することより、該チップ1のダイシングテープ3による粘着固定状態をより一層効率良く剥離させることができる。
Next, as shown in FIG. 2 (3), the hard part 29 of the peeling promoting member 26 housed in the support base 27 moves (in the peeling step) in a state where the conveying step shown in FIG. 2 (2) is held ( The soft part 28 exposed at the substantially central portion of the chip 1 to be peeled is further deformed to further promote the peeling state of the chip 1 to be peeled from the dicing tape 3, and this state Thus, in the peeling mechanism 5, the peeling state of the chip 1 to be peeled from the dicing tape 3 is further promoted by adsorbing the suction groove 30 of the support base 27 from the opening portion of the support base 27 and the peeling promoting member 26.
That is, in addition to the two-layer structure of the soft portion 28 and the hard portion 29 of the peeling promoting member 26, the dicing tape 3 is sucked from the suction groove 30 in the support base 27, whereby the chip 1 is fixed with the dicing tape 3. The state can be peeled off more efficiently.

次に、図3(1)に示すように、図2(3)に示す搬送工程及び剥離工程を保持した状態で、剥離工程における支持台27における吸着溝30からの吸引作用を停止させると共に、搬送工程において、ダイシングテープ3から剥離させる該チップ1を第一の吸着機構10(吸着パッド24)にて吸引作用を施して、剥離させる該チップ1を該吸着機構10(24)にて吸着保持させる。
このとき、剥離させる該チップ1に対して、ダイシングテープ3が若干貼り付いた状態が図例では示されているが、剥離させる該チップ1に隣接する該チップ1に対して、周辺押圧部材21における軟質部22を押圧し、更に、この状態で、支持台27の吸着孔31よりダイシングテープ3を吸着するように設定されているので、従来のようなピックアップ(吸着)不良による該チップ1の位置ずれや落下すること等による該チップ1の損傷を効率良く防止して、剥離させる該チップ1並びに隣接する該チップ1を確実に保護することができる。
Next, as shown in FIG. 3 (1), while holding the conveying step and the peeling step shown in FIG. 2 (3), the suction action from the suction groove 30 in the support table 27 in the peeling step is stopped, In the conveying step, the chip 1 to be peeled from the dicing tape 3 is sucked by the first suction mechanism 10 (suction pad 24), and the chip 1 to be peeled is sucked and held by the suction mechanism 10 (24). Let
At this time, the state in which the dicing tape 3 is slightly adhered to the chip 1 to be peeled is shown in the example of the drawing, but the peripheral pressing member 21 against the chip 1 adjacent to the chip 1 to be peeled is shown. In this state, the dicing tape 3 is set to be sucked from the suction hole 31 of the support base 27. Therefore, the chip 1 due to defective pickup (sucking) as in the prior art is set. It is possible to efficiently prevent damage to the chip 1 due to misalignment or dropping, and to reliably protect the chip 1 to be peeled off and the adjacent chip 1.

次に、図3(2)に示すように、搬送工程においては、剥離させる該チップ1を、昇降機構付15の第一の移動レール14に沿ってプレアライナ機構9における電子部品待機位置32まで第一吸着機構10(吸着パッド24)にて移送させると共に、剥離工程においては、図3(1)に示す状態を保持して待機させる。   Next, as shown in FIG. 3 (2), in the transporting process, the chip 1 to be peeled is moved to the electronic component standby position 32 in the pre-aligner mechanism 9 along the first moving rail 14 with the lifting mechanism 15. While being transferred by one suction mechanism 10 (suction pad 24), in the peeling step, the state shown in FIG.

次に、図3(3)に示すように、剥離工程において、次に剥離させる該チップ1に対して、剥離機構5における支持台27が、ダイシングテープ3を介して電子部品剥離位置4でほぼ水平状態で待機させ、且つ、支持台27における吸着孔31の吸引作用を停止すると共に、ウェーハテーブル2のウェーハプレートを図例における左方向に移動させる。
このとき、剥離機構5における剥離促進部材26の軟質部28は、硬質部29の移動(下動)状態を解除するのに応じて、軟質部28の変形状態を解除(復元)させる。つまり、この軟質部28の解除状態は、図2(1)及び図2(2)に示す剥離工程と同様の状態に戻ることになる。
一方、搬送工程においては、先の該チップ1を電子部品待機位置32に装着保持する段階にあるので、剥離された該チップ1を吸着保持した第一の吸着機構10(24)を図示していないが、次に剥離させる該チップ1を吸着するために、第一吸着機構10(24)を、電子部品剥離位置4の直上部まで昇降機構付15の第一の移動レール14に沿って移動(下動)させる。つまり、図2(1)に示す搬送工程と同様の状態に戻ることになる。
Next, as shown in FIG. 3 (3), in the peeling step, the support base 27 in the peeling mechanism 5 is substantially at the electronic component peeling position 4 via the dicing tape 3 for the chip 1 to be peeled next. While waiting in a horizontal state, the suction action of the suction hole 31 in the support base 27 is stopped, and the wafer plate of the wafer table 2 is moved to the left in the figure.
At this time, the soft portion 28 of the peeling promoting member 26 in the peeling mechanism 5 releases (restores) the deformed state of the soft portion 28 in response to releasing the movement (downward movement) state of the hard portion 29. That is, the released state of the soft portion 28 returns to the same state as the peeling process shown in FIGS. 2 (1) and 2 (2).
On the other hand, since the chip 1 is mounted and held at the electronic component standby position 32 in the transport process, the first suction mechanism 10 (24) holding the chip 1 that has been peeled off is shown. In order to suck the chip 1 to be peeled next, the first sucking mechanism 10 (24) is moved along the first moving rail 14 of the lifting mechanism 15 to the position directly above the electronic component peeling position 4. (Down). That is, the state returns to the same state as that in the conveying step shown in FIG.

ここでは、図4(1)〜図4(3)における各三段階において、図1(2)に対応する第一吸着機構10(周辺押圧部材21・吸着パッド24)とは別に、周辺押圧部材35・吸着パッド36を備えた第一の吸着機構34における別の搬送工程、並びに、図1(2)に対応する剥離機構5における別の搬送工程を含む段階的に示す概略側面(一部断面)図である。
なお、図1から図3と同様に用いるものについては、同一符号を付すかし、新たに付加するものについては、後述にて詳細に説明する。
Here, in each of the three stages in FIGS. 4 (1) to 4 (3), the peripheral pressing member is separated from the first suction mechanism 10 (peripheral pressing member 21 and suction pad 24) corresponding to FIG. 1 (2). 35. Schematic side surface (partial cross section) shown stepwise including another transport process in the first suction mechanism 34 having the suction pad 36 and another transport process in the peeling mechanism 5 corresponding to FIG. ).
1 to 3 are denoted by the same reference numerals, and newly added ones will be described in detail later.

即ち、図4(1)に示す剥離機構5は、図1(2)に示すものと全く同一構造であるが、図4(1)に示す第一の吸着機構34においては、図1(2)に示す第一吸着機構10における周辺押圧部材21及び吸着パッド24の一体型構造ではなく、各別に且つほぼ同時に動作するように、周辺押圧部材35及び吸着パッド36を備えている。
但し、周辺押圧部材35には、図1(2)に示す軟質部22と硬質部23との同様に二層構造を採用し、並びに、吸着パッド36には、該押圧部材35の内周囲に形成され且つ該チップ1の平面形状とほぼ同程度に形成される該チップ1平面との当接部分に、例えば、単数或は複数の貫通穴を有する弾性材料、若しくは、多孔質材料等を採用している。
また、この第一の吸着パッド36構造は、図1(2)に示す第二の吸着パッド25構造をそのまま採用して、該押圧部材35を外側方周囲に設ける構成にすることもできる。
That is, the peeling mechanism 5 shown in FIG. 4 (1) has the same structure as that shown in FIG. 1 (2). However, in the first adsorption mechanism 34 shown in FIG. ), The peripheral pressing member 35 and the suction pad 36 are provided so as to operate independently and substantially simultaneously.
However, the peripheral pressing member 35 adopts a two-layer structure like the soft portion 22 and the hard portion 23 shown in FIG. 1 (2), and the suction pad 36 has an inner periphery of the pressing member 35. For example, an elastic material having a single or a plurality of through holes, or a porous material is used for the contact portion with the flat surface of the chip 1 that is formed and approximately the same as the planar shape of the chip 1. is doing.
Moreover, this 1st suction pad 36 structure can also be set as the structure which employ | adopts the 2nd suction pad 25 structure shown in FIG.1 (2) as it is, and provides this press member 35 to an outer periphery.

まず、図4(1)に示すように、別の搬送工程において、第一の吸着機構34(36)にて剥離させる該チップ1を吸着するために、電子部品剥離位置4の直上部まで昇降機構付15の第一の移動レール14に沿って、該吸着機構10における吸着パッド24部分を剥離する該チップ1の直上部から更に移動(下動)して周辺押圧部材35の軟質部22にて剥離させる該チップ1に隣接する該チップ1を押圧すると共に、第一の吸着パッド36にて剥離する該チップ1に対して吸着パッド36も各別に更に移動(下動)して剥離させる該チップ1を吸着保持する。
つまり、別の搬送工程によれば、周辺押圧部材35にて隣接する該チップ1の押圧作用を行うのとほぼ同時に、吸着パッド36の剥離させる該チップ1を吸着保持することが可能となるので、図1(2)に示す搬送工程と比較しても電子部品装着サイクルをより一層向上させることができる。
一方、別の剥離工程において、ダイシングテープ3に粘着固定され且つ剥離させる該チップ1の電子部品剥離位置4まで、ウェーハテーブル2におけるウェーハプレートを移動させると共に、剥離機構5における支持台27が、剥離させる該チップ1に対して、ダイシングテープ3を介して電子部品剥離位置4に待機して、剥離させる該チップ1並びに隣接する該チップ1に対して、電子部品剥離位置4でほぼ水平状態にて支持する。そして、剥離機構5における吸着孔31から隣接する該チップ1におけるダイシングテープ3を吸着させると共に、支持台27の吸着溝30もほぼ同時に支持台27と剥離促進部材26との開口部分よりダイシングテープ3への吸引作用を開始させる。
このとき、支持台27に収納された剥離促進部材26における軟質部28の該テープ3側は、この場合、支持台27天面とほぼ同一平面位置にあるが、支持台27の天面よりも低い位置で待機させることもできる。
First, as shown in FIG. 4 (1), in another transporting process, the chip 1 to be peeled off by the first suction mechanism 34 (36) is lifted up and down to just above the electronic component peeling position 4. Along the first moving rail 14 with the mechanism 15, it is further moved (moved downward) from the upper part of the chip 1 that peels the suction pad 24 portion of the suction mechanism 10 to the soft portion 22 of the peripheral pressing member 35. The chip 1 adjacent to the chip 1 to be peeled off is pressed, and the suction pad 36 is further moved (moved downward) separately from the chip 1 to be peeled off by the first suction pad 36. The chip 1 is held by suction.
That is, according to another transport process, the chip 1 to be peeled off from the suction pad 36 can be sucked and held almost simultaneously with the pressing operation of the adjacent chip 1 by the peripheral pressing member 35. Even if compared with the conveying step shown in FIG. 1 (2), the electronic component mounting cycle can be further improved.
On the other hand, in another peeling process, the wafer plate on the wafer table 2 is moved to the electronic component peeling position 4 of the chip 1 that is adhesively fixed to the dicing tape 3 and peeled, and the support base 27 in the peeling mechanism 5 is peeled off. The chip 1 to be waited at the electronic component peeling position 4 via the dicing tape 3, and the chip 1 to be peeled off and the adjacent chip 1 in the electronic component peeling position 4 in a substantially horizontal state. To support. Then, the dicing tape 3 in the adjacent chip 1 is adsorbed from the adsorption hole 31 in the peeling mechanism 5, and the dicing tape 3 of the adsorbing groove 30 of the support base 27 is almost simultaneously opened from the opening portion of the support base 27 and the exfoliation promoting member 26. Start the suction action to the.
At this time, in this case, the tape 3 side of the soft portion 28 in the peeling promoting member 26 housed in the support base 27 is substantially in the same plane position as the top surface of the support base 27, but more than the top surface of the support base 27. It is also possible to wait at a low position.

次に、図4(2)に示すように、図4(1)に示す別の搬送工程を保持した状態で、剥離工程において、支持台27に収納された剥離促進部材26の硬質部29が移動(下動)して、剥離される該チップ1のほぼ中央部位にて露出状態となった軟質部28がより一層変形することにより、ダイシングテープ3から剥離させる該チップ1の剥離状態をより一層促進させる。
つまり、この剥離促進部材26の軟質部28・硬質部29の二層構造に加えて、支持台27における吸着溝30からダイシングテープ3を吸着することより、該チップ1のダイシングテープ3による粘着固定状態をより一層効率良く剥離させることができる。
Next, as shown in FIG. 4 (2), the hard portion 29 of the peeling accelerating member 26 housed in the support base 27 is held in the peeling step in the state of holding the other conveying step shown in FIG. 4 (1). The soft portion 28 that has been moved (moved downward) and is exposed at the substantially central portion of the chip 1 to be peeled is further deformed to further change the peeled state of the chip 1 to be peeled from the dicing tape 3. Promote further.
That is, in addition to the two-layer structure of the soft portion 28 and the hard portion 29 of the peeling promoting member 26, the dicing tape 3 is sucked from the suction groove 30 in the support base 27, whereby the chip 1 is fixed with the dicing tape 3. The state can be peeled off more efficiently.

次に、図4(3)に示すように、図4(2)に示す別の剥離工程を保持した状態で、別の搬送工程において、第一の吸着パッド36にて吸着保持した状態で、第一吸着機構34における周辺押圧部材35とは、各別に且つほぼ同時に、ダイシングテープ3から剥離させる該チップ1を剥離させて、昇降機構付15の第一の移動レール14に沿ってプレアライナ機構9における電子部品待機位置32まで第一吸着機構34(吸着パッド36)にて移送させる。
つまり、別の剥離工程において、剥離させる該チップ1に対して、支持台27の吸着溝30にて該テープ3を吸着した状態で、且つ、剥離促進部材26の軟質部28を変形させることにより、ダイシングテープ3から剥離させる該チップ1をより一層効率良く剥離させることができる。
これに加えて、別の搬送工程において、剥離させる該チップ1の周囲に隣接する該チップ1に対して、周辺押圧部材35における軟質部22を押圧し、更に、この状態で、別の剥離工程において、支持台27の吸着孔31よりダイシングテープ3を吸着するように設定されているので、従来のようなピックアップ(吸着)不良による該チップ1の位置ずれや落下すること等による該チップ1の損傷を効率良く防止して、剥離させる該チップ1並びに隣接する該チップ1を確実に保護することができる。
Next, as shown in FIG. 4 (3), in a state where another peeling step shown in FIG. 4 (2) is held, and in a state where the first suction pad 36 is sucked and held in another transport step, The peripheral pressing member 35 in the first suction mechanism 34 is separated from the dicing tape 3 at almost the same time, and the chip 1 to be peeled off is peeled off along the first moving rail 14 of the lift mechanism 15 with the pre-aligner mechanism 9. The first suction mechanism 34 (suction pad 36) is moved to the electronic component standby position 32 in FIG.
That is, in another peeling step, the chip 1 to be peeled is in a state where the tape 3 is sucked by the suction groove 30 of the support base 27 and the soft portion 28 of the peeling promoting member 26 is deformed. The chip 1 to be peeled off from the dicing tape 3 can be peeled off more efficiently.
In addition to this, in another transport process, the soft portion 22 in the peripheral pressing member 35 is pressed against the chip 1 adjacent to the periphery of the chip 1 to be peeled, and in this state, another peeling process is performed. In FIG. 2, the dicing tape 3 is set to be sucked from the suction hole 31 of the support base 27. Therefore, the chip 1 is displaced or dropped due to a pickup (sucking) defect as in the prior art. The chip 1 to be peeled off and the adjacent chip 1 can be reliably protected by efficiently preventing damage.

次に、図示していないが、別の剥離工程において、次に剥離させる該チップ1に対して、剥離機構5における支持台27が、ダイシングテープ3を介して電子部品剥離位置4で待機させ、且つ、支持台27における吸着溝30及び吸着孔31の吸引作用を停止すると共に、ウェーハテーブル2におけるウェーハプレートを適宜に移動させる。
このとき、剥離機構5における剥離促進部材26の軟質部28は、硬質部29の移動(下動)状態を解除するのに応じて、軟質部28の変形状態を解除(復元)させる。つまり、この軟質部28の解除状態は、図2(1)及び図2(2)に示す剥離工程と同様の状態に戻ることになる。
一方、別の搬送工程においては、先の該チップ1を電子部品待機位置32に装着保持する段階にあるので、剥離された該チップ1を吸着保持した第一の吸着機構34(36)を図示していないが、次に剥離させる該チップ1を吸着するために、第一の吸着機構34(36)を、電子部品剥離位置4の直上部まで昇降機構付15の第一の移動レール14に沿って移動(下動)させる。つまり、図2(1)に示す搬送工程と同様の状態に戻ることになる。
Next, although not shown, in a separate peeling step, the support base 27 in the peeling mechanism 5 waits at the electronic component peeling position 4 via the dicing tape 3 for the chip 1 to be peeled next, In addition, the suction action of the suction grooves 30 and the suction holes 31 in the support table 27 is stopped, and the wafer plate in the wafer table 2 is appropriately moved.
At this time, the soft portion 28 of the peeling promoting member 26 in the peeling mechanism 5 releases (restores) the deformed state of the soft portion 28 in response to releasing the movement (downward movement) state of the hard portion 29. That is, the released state of the soft portion 28 returns to the same state as the peeling process shown in FIGS. 2 (1) and 2 (2).
On the other hand, since the tip 1 is mounted and held at the electronic component standby position 32 in another transport process, the first suction mechanism 34 (36) holding the peeled tip 1 by suction is illustrated. Although not shown, in order to suck the chip 1 to be peeled next, the first suction mechanism 34 (36) is moved to the first moving rail 14 of the lifting mechanism 15 to the top right of the electronic component peeling position 4. Move (down) along. That is, the state returns to the same state as that in the conveying step shown in FIG.

従って、図2(1)〜図2(3)、図3(1)〜図3(3)における各六段階の搬送工程及び剥離工程、又は、図4(1)〜図4(3)における各三段階の別の搬送工程及び剥離工程を、連続的に或は断続的に適宜に実施し、次に、図1(2)に示すように、搬送工程においては、該チップ1を吸着保持された第一吸着機構10(24)・34(36)にて昇降機構15付の第一移動レール14に沿って移送し、次に、プレアライナ機構9の電子部品待機位置32に該チップ1を装着保持し、次に、プレアライナ機構9の回動テーブルが180度回動して、該チップ1を電子部品準備位置33に回動させて装着保持する。
次に、搬送工程において、電子部品準備位置33に装着保持された該チップ1を第二の吸着機構11(25)にて第二の移動レール16に沿って移送し、最終的に、ボンディング工程において、基板6の所定位置7(7a〜7h)の夫々に対して、第二吸着機構11(25)にて該チップ1を粘着フィルム12を介して供給セットすることができる。
Therefore, in each of the six stages of the conveying process and the peeling process in FIGS. 2 (1) to 2 (3) and FIGS. 3 (1) to 3 (3), or in FIGS. Each of the three stages of separate transporting process and peeling process is carried out appropriately continuously or intermittently. Next, as shown in FIG. 1 (2), the chip 1 is held by suction in the transporting process. The first suction mechanism 10 (24), 34 (36) is moved along the first moving rail 14 with the lifting mechanism 15, and then the chip 1 is placed at the electronic component standby position 32 of the pre-aligner mechanism 9. Next, the rotation table of the pre-aligner mechanism 9 is rotated by 180 degrees, and the chip 1 is rotated to the electronic component preparation position 33 to be mounted and held.
Next, in the transport process, the chip 1 mounted and held at the electronic component preparation position 33 is transferred along the second moving rail 16 by the second suction mechanism 11 (25), and finally the bonding process. The chip 1 can be supplied and set via the adhesive film 12 by the second suction mechanism 11 (25) to each of the predetermined positions 7 (7a to 7h) of the substrate 6.

なお、本実施形態において、基板6の所定位置7に貼り付ける粘着テープ(粘着フィルム12)を二層構造で説明してきたが、前述した一層構造の粘着テープであれば、貼付装置におけるピールユニットを設けずに、仮圧着・本圧着ユニットのみ、或いは、仮圧着ユニットと本圧着ユニットとを一つのユニット構成で実施してもよい。
一方、ボンディングユニット50、及び、アフタプレスユニット60においても、アフタプレスユニット60を設けずに、ボンディングユニット50のみの構成でもよく、このボンディングユニット50にアフタプレスユニット60の構成要素を含んだユニット構成で実施してもよい。
また、本実施形態における基板6の所定位置7における粘着フィルム12に該チップ1を装着するフェイスアップ型の基板6(ワイヤボンディング基板)に対応したダイボンド装置100の他にも、例えば、フェイスダウン型の基板6(フリップチップ基板)をバンプ(接続電極)を介して該チップ1を装着するように適宜に実施可能である。
更に、フェイスアップ型、及び/又は、フェイスダウン型の基板6に粘着フィルム12を介して装着された該チップ1上に粘着フィルム12を貼付けて、ダイボンド装置100で二枚目の該チップ1を装着するような該チップ1及び粘着フィルム12が所要複数枚、各別に重なった構造となる積層型の基板6においても適宜に実施可能である。
In addition, in this embodiment, although the adhesive tape (adhesive film 12) stuck on the predetermined position 7 of the board | substrate 6 was demonstrated by the two-layer structure, if it is an adhesive tape of the single layer structure mentioned above, the peel unit in a sticking apparatus will be used. Without provision, only the temporary pressure bonding / main pressure bonding unit or the temporary pressure bonding unit and the main pressure bonding unit may be implemented in one unit configuration.
On the other hand, the bonding unit 50 and the after-press unit 60 may be configured only by the bonding unit 50 without providing the after-press unit 60, and the unit configuration including the components of the after-press unit 60 in the bonding unit 50. May be implemented.
In addition to the die bonding apparatus 100 corresponding to the face-up type substrate 6 (wire bonding substrate) for mounting the chip 1 on the adhesive film 12 at the predetermined position 7 of the substrate 6 in the present embodiment, for example, a face-down type The substrate 1 (flip chip substrate) can be appropriately implemented so that the chip 1 is mounted via bumps (connection electrodes).
Further, the adhesive film 12 is attached to the chip 1 mounted on the face-up type and / or face-down type substrate 6 via the adhesive film 12, and the second chip 1 is attached by the die bonding apparatus 100. The present invention can be appropriately implemented even on a laminated substrate 6 having a structure in which a plurality of the chips 1 and the adhesive films 12 to be mounted are overlapped separately.

図1(1)は、本発明に係わるダイボンディング方法に用いるダイボンド装置の平面図、図1(2)は、図1(1)に対応する前記装置におけるボンディングユニットの概略側面(一部断面)図を示す。FIG. 1 (1) is a plan view of a die bonding apparatus used in the die bonding method according to the present invention, and FIG. 1 (2) is a schematic side view (partial cross section) of a bonding unit in the apparatus corresponding to FIG. 1 (1). The figure is shown. 図2(1)から図2(3)は、図1(2)に対応する吸着機構の搬送工程並びに剥離機構の剥離工程を段階的に示す概略側面(一部断面)図である。2 (1) to 2 (3) are schematic side views (partially cross-sectional views) showing stepwise the conveying process of the suction mechanism and the peeling process of the peeling mechanism corresponding to FIG. 1 (2). 図3(1)から図3(3)は、図1(2)に対応する吸着機構の搬送工程並びに剥離機構の剥離工程を図2(3)に引き続き段階的に示す概略側面(一部断面)図である。3 (1) to FIG. 3 (3) are schematic side views (partial cross-sections) illustrating the conveyance process of the suction mechanism and the peeling process of the peeling mechanism corresponding to FIG. 1 (2) step by step following FIG. 2 (3). ). 図4(1)から図4(3)は、図1(2)とは別の吸着機構の別の搬送工程並びに図1(2)に対応する剥離機構における別の剥離工程を段階的に示す概略側面(一部断面)図である。4 (1) to FIG. 4 (3) show, in stages, another transport process of the suction mechanism different from FIG. 1 (2) and another peel process of the peel mechanism corresponding to FIG. 1 (2). It is a schematic side surface (partial cross section) figure.

符号の説明Explanation of symbols

1 半導体チップ(電子部品)
2 ウェーハテーブル
3 ダイシングテープ
4 電子部品剥離位置
5 剥離機構
6 基板
7(7a〜7h) 所定位置
8・17・18 認識カメラ
9 プレアライナ機構
10・11・34 吸着機構
12 粘着フィルム(ダイボンド材)
13(13a・13b) 搬送レール
14・16 移動レール
15 昇降機構
19 供給セット台
20 カセットエレベータ機構
21・35 周辺押圧部材
22・28 軟質部
23・29 硬質部
24・25・36 吸着パッド
26 剥離促進部材
27 支持台
30 吸着溝
31 吸着孔
32 電子部品待機位置
33 電子部品準備位置
50 ボンディングユニット
60 アフタプレスユニット
100 ダイボンド装置
1 Semiconductor chip (electronic parts)
2 Wafer table 3 Dicing tape 4 Electronic component peeling position 5 Peeling mechanism 6 Substrate 7 (7a-7h) Predetermined position 8, 17, 18 Recognition camera 9 Pre-aligner mechanism 10, 11, 34 Adsorption mechanism 12 Adhesive film (die bonding material)
13 (13a / 13b) Transport rail 14/16 Moving rail 15 Elevating mechanism 19 Supply set stand 20 Cassette elevator mechanism 21/35 Peripheral pressing member 22/28 Soft part 23/29 Hard part 24/25/36 Adsorption pad 26 Separation promotion Member 27 Support stand 30 Suction groove 31 Suction hole 32 Electronic component standby position 33 Electronic component preparation position 50 Bonding unit 60 After press unit 100 Die bonding apparatus

Claims (5)

ダイシングテープに貼付された個々の電子部品を該電子部品用の剥離機構にて該電子部品剥離位置から剥離する剥離工程と、前記した剥離される電子部品を吸着機構にて吸着した状態で基板側に搬送する搬送工程と、前記した搬送された電子部品を前記吸着機構にて前記基板の所定位置にボンディングするボンディング工程と、を少なくとも行うダイボンディング方法であって、
前記吸着機構には、前記電子部品の平面形状よりも大きく形成された前記吸着機構の該電子部品側を軟質部で形成し且つ前記軟質部以外を軟質部よりも硬い硬質部で形成する周辺押圧部材と、前記周辺押圧部材の内周囲に形成された吸着パッドとを備え、前記剥離機構には、該剥離側を軟質部で形成し且つ前記軟質部以外を軟質部よりも硬い硬質部で形成すると共に、前記硬質部が前記軟質部を囲繞し且つ前記した剥離される電子部品のほぼ中央部位にて前記軟質部が露出状態となるように形成された剥離促進部材を備え、
更に、前記した搬送工程及び剥離工程において、
前記した剥離される電子部品の外側方周囲を前記周辺押圧部材における軟質部で押圧した状態で、前記剥離促進部材における軟質部を変形させて前記ダイシングテープから前記した剥離される電子部品の剥離状態を促進させることにより、前記した剥離される電子部品を前記吸着パッドにて吸着保持するように設定されていることを特徴とするダイボンディング方法。
A peeling step of peeling each electronic component affixed to the dicing tape from the electronic component peeling position by the peeling mechanism for the electronic component, and the substrate side in a state where the electronic component to be peeled is sucked by the suction mechanism A die bonding method for performing at least a transporting process for transporting the electronic component and a bonding process for bonding the transported electronic component to a predetermined position of the substrate by the suction mechanism,
The suction mechanism has a peripheral press in which the electronic component side of the suction mechanism formed to be larger than the planar shape of the electronic component is formed with a soft portion and other than the soft portion is formed with a hard portion harder than the soft portion. And a suction pad formed on the inner periphery of the peripheral pressing member, and the peeling mechanism is formed with a soft part on the peeling side and a hard part other than the soft part is formed with a hard part harder than the soft part. And a peeling promoting member formed so that the hard part surrounds the soft part and the soft part is exposed at a substantially central portion of the electronic part to be peeled,
Furthermore, in the aforementioned transporting step and peeling step,
In the state where the outer periphery of the electronic component to be peeled is pressed by the soft portion of the peripheral pressing member, the soft portion of the peeling promoting member is deformed to peel the peeled electronic component from the dicing tape. The die bonding method is set so that the electronic component to be peeled is sucked and held by the suction pad by promoting the above.
前記した搬送工程において、前記吸着機構における吸着パッドには、該吸着側を前記電子部品の平面形状とほぼ同程度に形成され、且つ、該押圧部材のほぼ中央部位を摺動自在に嵌装すると共に、前記した剥離される電子部品の外側方周囲を前記周辺押圧部材における軟質部で押圧するのとほぼ同時に、前記した剥離される電子部品に対して前記吸着パッドを摺動させることにより、前記した剥離される電子部品を前記吸着パッドにて吸着保持するように設定されていることを特徴とする請求項1に記載のダイボンディング方法。   In the transporting process described above, the suction side of the suction mechanism in the suction mechanism is formed so that the suction side is substantially the same as the planar shape of the electronic component, and the substantially central portion of the pressing member is slidably fitted. At the same time as pressing the outer periphery of the electronic component to be peeled with the soft portion of the peripheral pressing member, the suction pad is slid with respect to the electronic component to be peeled. The die bonding method according to claim 1, wherein the peeled electronic component is set to be sucked and held by the suction pad. 前記した剥離工程において、前記剥離機構には、前記剥離促進部材の外側方周囲におけるダイシングテープを吸着することにより前記ダイシングテープから剥離させる電子部品の剥離状態を更に促進させるように設定されていることを特徴とする請求項1、又は、請求項2に記載のダイボンディング方法。   In the above-described peeling step, the peeling mechanism is set to further promote the peeling state of the electronic component to be peeled from the dicing tape by adsorbing the dicing tape around the outside of the peeling promoting member. The die bonding method according to claim 1 or 2, characterized by the above-mentioned. 前記した搬送工程において、前記電子部品剥離位置から基板の所定位置までにプレアライナ機構を介在させると共に、まず、前記吸着機構を第一とし、前記電子部品剥離位置からプレアライナ機構までを前記第一の吸着機構にて前記電子部品を移送し、次に、前記プレアライナ機構から基板の所定位置までを第二の吸着機構にて前記電子部品を移送し、最終的に、前記したボンディング工程において、前記第二の吸着機構にて移送された前記電子部品を前記基板の所定位置にボンディングするように設定されていることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載のダイボンディング方法。   In the transporting process described above, a pre-aligner mechanism is interposed from the electronic component peeling position to a predetermined position on the substrate. First, the suction mechanism is first, and the electronic component peeling position to the pre-aligner mechanism is the first suction. The electronic component is transferred by the mechanism, and then the electronic component is transferred by the second suction mechanism from the pre-aligner mechanism to a predetermined position of the substrate. Finally, in the bonding step, the second 4. The die bonding method according to claim 1, wherein the die bonding method is set so as to bond the electronic component transferred by the suction mechanism to a predetermined position of the substrate. 5. 前記した搬送工程において、前記第二の吸着機構には、該吸着側を前記電子部品の平面形状とほぼ同程度に形成された第二の吸着パッドを備えると共に、前記したプレアライナ機構に移送された電子部品を前記第二の吸着パッドにて吸着保持するように設定されていることを特徴とする請求項4に記載のダイボンディング方法。
In the transporting process described above, the second suction mechanism is provided with a second suction pad having the suction side formed to be approximately the same as the planar shape of the electronic component and transferred to the pre-aligner mechanism. The die bonding method according to claim 4, wherein the electronic component is set to be sucked and held by the second suction pad.
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