JP2007133283A - Pixel circuit and display device - Google Patents

Pixel circuit and display device Download PDF

Info

Publication number
JP2007133283A
JP2007133283A JP2005328335A JP2005328335A JP2007133283A JP 2007133283 A JP2007133283 A JP 2007133283A JP 2005328335 A JP2005328335 A JP 2005328335A JP 2005328335 A JP2005328335 A JP 2005328335A JP 2007133283 A JP2007133283 A JP 2007133283A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
drive transistor
pixel
transistor
gate
capacitor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005328335A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4918983B2 (en
Inventor
Katsuhide Uchino
勝秀 内野
Junichi Yamashita
淳一 山下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2005328335A priority Critical patent/JP4918983B2/en
Publication of JP2007133283A publication Critical patent/JP2007133283A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4918983B2 publication Critical patent/JP4918983B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Control Of El Displays (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pixel circuit that can optimize mobility correction in the whole grayscale and suppress gain reduction of a bootstrap operation in a pixel capacitor carried out upon emitting light. <P>SOLUTION: The pixel circuit 2 has an additional capacitor Cgd and a switching transistor Tr6 connected between the gate G and the drain D of a drive transistor Trd. The switching transistor Tr6 is in an ON state during mobility correction is carried out and inserts the additional capacitor Cgd into between the gate G and the drain D of the drive transistor Trd to optimize the correction operation, and the switching transistor Tr6 is in an OFF state when the drive transistor Trd starts driving a light emitting element EL and separates the additional capacitor Cgd from between the gate G and the drain D of the drive transistor Trd to optimize the bootstrap operation of the pixel capacitor Cs carried out upon starting light emission of the light emitting element EL. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、画素毎に配した発光素子を電流駆動する画素回路に関する。又この画素回路がマトリクス状(行列状)に配列された表示装置であって、特に各画素回路内に設けた絶縁ゲート型電界効果トランジスタによって、有機ELなどの発光素子に通電する電流量を制御する、いわゆるアクティブマトリクス型の表示装置に関する。   The present invention relates to a pixel circuit that current-drives a light emitting element arranged for each pixel. In addition, this pixel circuit is a display device arranged in a matrix (matrix), and the amount of current supplied to a light emitting element such as an organic EL is controlled by an insulated gate field effect transistor provided in each pixel circuit. The present invention relates to a so-called active matrix display device.

画像表示装置、例えば液晶ディスプレイなどでは、多数の液晶画素をマトリクス状に並べ、表示すべき画像情報に応じて画素毎に入射光の透過強度又は反射強度を制御することによって画像を表示する。これは、有機EL素子を画素に用いた有機ELディスプレイなどにおいても同様であるが、液晶画素と異なり有機EL素子は自発光素子である。その為、有機ELディスプレイは液晶ディスプレイに比べて画像の視認性が高く、バックライトが不要であり、応答速度が高いなどの利点を有する。又、各発光素子の輝度レベル(階調)はそれに流れる電流値によって制御可能であり、いわゆる電流制御型であるという点で液晶ディスプレイなどの電圧制御型とは大きく異なる。   In an image display device such as a liquid crystal display, an image is displayed by arranging a large number of liquid crystal pixels in a matrix and controlling the transmission intensity or reflection intensity of incident light for each pixel in accordance with image information to be displayed. This also applies to an organic EL display using an organic EL element as a pixel, but unlike a liquid crystal pixel, the organic EL element is a self-luminous element. Therefore, the organic EL display has advantages such as higher image visibility than the liquid crystal display, no backlight, and high response speed. Further, the luminance level (gradation) of each light emitting element can be controlled by the value of the current flowing therethrough, and is greatly different from a voltage control type such as a liquid crystal display in that it is a so-called current control type.

有機ELディスプレイにおいては、液晶ディスプレイと同様、その駆動方式として単純マトリクス方式とアクティブマトリクス方式とがある。前者は構造が単純であるものの、大型且つ高精細のディスプレイの実現が難しいなどの問題がある為、現在はアクティブマトリクス方式の開発が盛んに行なわれている。この方式は、各画素回路内部の発光素子に流れる電流を、画素回路内部に設けた能動素子(一般には薄膜トランジスタ、TFT)によって制御するものであり、以下の特許文献に記載がある。
特開2003−255856 特開2003−271095 特開2004−133240 特開2004−029791 特開2004−093682
In the organic EL display, similarly to the liquid crystal display, there are a simple matrix method and an active matrix method as driving methods. Although the former has a simple structure, there is a problem that it is difficult to realize a large-sized and high-definition display. Therefore, the active matrix method is actively developed at present. In this method, a current flowing through a light emitting element in each pixel circuit is controlled by an active element (generally a thin film transistor or TFT) provided in the pixel circuit, and is described in the following patent documents.
JP 2003-255856 A JP 2003-271095 A JP 2004-133240 A JP 2004-029791 A JP 2004-093682 A

従来の画素回路は、制御信号を供給する行状の走査線と映像信号を供給する列状の信号線とが交差する部分に配され、少なくともサンプリングトランジスタと容量部とドライブトランジスタと発光素子とを含む。サンプリングトランジスタは、走査線から供給される制御信号に応じ導通して信号線から供給された映像信号をサンプリングする。容量部は、サンプリングされた映像信号に応じた入力電圧を保持する。ドライブトランジスタは、容量部に保持された入力電圧に応じて所定の発光期間に出力電流を供給する。尚一般に、出力電流はドライブトランジスタのチャネル領域のキャリア移動度及び閾電圧に対して依存性を有する。発光素子は、ドライブトランジスタから供給された出力電流により映像信号に応じた輝度で発光する。   A conventional pixel circuit is arranged at a portion where a row scanning line for supplying a control signal and a column signal line for supplying a video signal intersect, and includes at least a sampling transistor, a capacitor, a drive transistor, and a light emitting element. . The sampling transistor conducts in response to the control signal supplied from the scanning line and samples the video signal supplied from the signal line. The capacitor unit holds an input voltage corresponding to the sampled video signal. The drive transistor supplies an output current during a predetermined light emission period in accordance with the input voltage held in the capacitor unit. In general, the output current depends on the carrier mobility and threshold voltage of the channel region of the drive transistor. The light emitting element emits light with luminance according to the video signal by the output current supplied from the drive transistor.

ドライブトランジスタは、容量部に保持された入力電圧をゲートに受けてソース/ドレイン間に出力電流を流し、発光素子に通電する。一般に発光素子の発光輝度は通電量に比例している。更にドライブトランジスタの出力電流供給量はゲート電圧すなわち容量部に書き込まれた入力電圧によって制御される。従来の画素回路は、ドライブトランジスタのゲートに印加される入力電圧を入力映像信号に応じて変化させることで、発光素子に供給する電流量を制御している。   The drive transistor receives the input voltage held in the capacitor portion at the gate, causes an output current to flow between the source and the drain, and energizes the light emitting element. In general, the light emission luminance of a light emitting element is proportional to the amount of current applied. Further, the output current supply amount of the drive transistor is controlled by the gate voltage, that is, the input voltage written in the capacitor. The conventional pixel circuit controls the amount of current supplied to the light emitting element by changing the input voltage applied to the gate of the drive transistor in accordance with the input video signal.

ここでドライブトランジスタの動作特性は以下の式1で表わされる。
Ids=(1/2)μ(W/L)Cox(Vgs−Vth)・・・式1
このトランジスタ特性式1において、Idsはソース/ドレイン間に流れるドレイン電流を表わしており、画素回路では発光素子に供給される出力電流である。Vgsはソースを基準としてゲートに印加されるゲート電圧を表わしており、画素回路では上述した入力電圧である。Vthはトランジスタの閾電圧である。又μはトランジスタのチャネルを構成する半導体薄膜の移動度を表わしている。その他Wはチャネル幅を表わし、Lはチャネル長を表わし、Coxはゲート容量を表わしている。このトランジスタ特性式1から明らかな様に、薄膜トランジスタは飽和領域で動作する時、ゲート電圧Vgsが閾電圧Vthを超えて大きくなると、オン状態となってドレイン電流Idsが流れる。原理的に見ると上記のトランジスタ特性式1が示す様に、ゲート電圧Vgsが一定であれば常に同じ量のドレイン電流Idsが発光素子に供給される。従って、画面を構成する各画素に全て同一のレベルの映像信号を供給すれば、全画素が同一輝度で発光し、画面の一様性(ユニフォーミティ)が得られるはずである。
Here, the operating characteristic of the drive transistor is expressed by the following Equation 1.
Ids = (1/2) μ (W / L) Cox (Vgs−Vth) 2 Formula 1
In the transistor characteristic formula 1, Ids represents a drain current flowing between the source and the drain, and is an output current supplied to the light emitting element in the pixel circuit. Vgs represents a gate voltage applied to the gate with reference to the source, and is the above-described input voltage in the pixel circuit. Vth is the threshold voltage of the transistor. Μ represents the mobility of the semiconductor thin film constituting the channel of the transistor. In addition, W represents the channel width, L represents the channel length, and Cox represents the gate capacitance. As is apparent from the transistor characteristic equation 1, when the thin film transistor operates in the saturation region, if the gate voltage Vgs increases beyond the threshold voltage Vth, the thin film transistor is turned on and the drain current Ids flows. In principle, as shown in the above transistor characteristic equation 1, if the gate voltage Vgs is constant, the same amount of drain current Ids is always supplied to the light emitting element. Therefore, if video signals of the same level are supplied to all the pixels constituting the screen, all the pixels should emit light with the same luminance, and the uniformity of the screen should be obtained.

しかしながら実際には、ポリシリコンなどの半導体薄膜で構成された薄膜トランジスタ(TFT)は、個々のデバイス特性にばらつきがある。特に、閾電圧Vthは一定ではなく、各画素毎にばらつきがある。前述のトランジスタ特性式1から明らかな様に、各ドライブトランジスタの閾電圧Vthがばらつくと、ゲート電圧Vgsが一定であっても、ドレイン電流Idsにばらつきが生じ、画素毎に輝度がばらついてしまう為、画面のユニフォーミティを損なう。従来からドライブトランジスタの閾電圧のばらつきをキャンセルする機能を組み込んだ画素回路が開発されており、例えば前記の特許文献3に開示がある。   However, in reality, thin film transistors (TFTs) composed of semiconductor thin films such as polysilicon have variations in individual device characteristics. In particular, the threshold voltage Vth is not constant and varies from pixel to pixel. As apparent from the transistor characteristic equation 1 described above, if the threshold voltage Vth of each drive transistor varies, even if the gate voltage Vgs is constant, the drain current Ids varies and the luminance varies from pixel to pixel. , Damage the screen uniformity. Conventionally, a pixel circuit incorporating a function for canceling variations in threshold voltages of drive transistors has been developed, and is disclosed in, for example, Patent Document 3 described above.

閾電圧のばらつきをキャンセルする機能を組み込んだ画素回路は、ある程度画面のユニフォーミティを改善することが可能である。しかしながら、ポリシリコン薄膜トランジスタの特性は、閾電圧ばかりでなく移動度μも素子毎にばらつきがある。前述のトランジスタ特性式1から明らかな様に、移動度μがばらつくと、ゲート電圧Vgsが一定であってもドレイン電流Idsにばらつきが出てしまう。この結果発光輝度が画素毎に変化する為、画面のユニフォーミティを損なうという課題がある。   A pixel circuit incorporating a function for canceling variations in threshold voltage can improve screen uniformity to some extent. However, the characteristics of polysilicon thin film transistors vary not only in the threshold voltage but also in the mobility μ from element to element. As apparent from the transistor characteristic equation 1 described above, when the mobility μ varies, the drain current Ids varies even when the gate voltage Vgs is constant. As a result, the emission luminance varies from pixel to pixel, and there is a problem that the uniformity of the screen is impaired.

上述した従来の技術の課題に鑑み、本発明は移動度の影響をキャンセルし、以ってドライブトランジスタが供給するドレイン電流(出力電流)のばらつきを補正可能な画素回路及び表示装置を提供することを目的とする。特に、全ての階調にわたって移動度補正を適正化し、且つ発光時に行われる画素容量のブートストラップ動作のゲイン低下を抑制することが可能な画素回路及び表示装置を提供することを目的とする。かかる目的を達成するために以下の手段を講じた。即ち本発明は、制御信号を供給する行状の走査線と映像信号を供給する列状の信号線とが交差する部分に配され、少なくともサンプリングトランジスタと、これに接続する画素容量と、これに接続するドライブトランジスタと、これに接続する発光素子とを含み、前記サンプリングトランジスタは、所定のサンプリング期間に走査線から供給される制御信号に応じ導通して信号線から供給された映像信号を該画素容量にサンプリングし、前記画素容量は、該サンプリングされた映像信号に応じて該ドライブトランジスタのゲートとソース間に入力電圧を印加し、前記ドライブトランジスタは、所定の発光期間中該入力電圧に応じた出力電流を該発光素子に供給し、該出力電流は該ドライブトランジスタのチャネル領域のキャリア移動度に対して依存性を有し、前記発光素子は、該ドライブトランジスタから供給された出力電流により該映像信号に応じた輝度で発光する画素回路において、該出力電流のキャリア移動度に対する依存性を打ち消すために、該画素容量に保持された該入力電圧を補正する補正手段を備えており、前記補正手段は走査線から供給される制御信号に応じて該サンプリング期間の一部で動作し、該映像信号がサンプリングされている状態で該ドライブトランジスタから出力電流を取り出し、これを該画素容量に負帰還して該入力電圧を補正し、該ドライブトランジスタのゲートとドレインの間に接続された付加容量及びスイッチングトランジスタを備えており、前記スイッチングトランジスタは、該補正手段が動作する時にはオン状態にあり、該付加容量を該ドライブトランジスタのゲートとドレインの間に挿入し、以って該補正手段の動作を適正化する一方、前記スイッチングトランジスタは、該ドライブトランジスタが該発光素子の駆動を開始するときにはオフして該付加容量を該ドライブトランジスタのゲートとドレイン間から切り離し、該発光素子の発光開始に伴って行われる該画素容量のブートストラップ動作を適正化することを特徴とする。   In view of the above-described problems of the related art, the present invention provides a pixel circuit and a display device that can cancel the influence of mobility and thereby correct variations in drain current (output current) supplied by a drive transistor. With the goal. In particular, it is an object of the present invention to provide a pixel circuit and a display device that can optimize mobility correction over all gradations and can suppress a decrease in gain of a bootstrap operation of a pixel capacitor performed during light emission. In order to achieve this purpose, the following measures were taken. That is, according to the present invention, at least a sampling transistor, a pixel capacitor connected to the sampling transistor, and a pixel capacitor connected to the row scanning line that supplies a control signal and a column signal line that supplies a video signal are connected. And a light emitting element connected thereto. The sampling transistor conducts in response to a control signal supplied from the scanning line during a predetermined sampling period, and converts the video signal supplied from the signal line to the pixel capacitor. The pixel capacitor applies an input voltage between the gate and the source of the drive transistor according to the sampled video signal, and the drive transistor outputs an output according to the input voltage during a predetermined light emission period. Current is supplied to the light emitting element, and the output current is relative to the carrier mobility in the channel region of the drive transistor. In order to cancel the dependency of the output current on the carrier mobility in the pixel circuit that emits light with the luminance corresponding to the video signal by the output current supplied from the drive transistor. A correction unit configured to correct the input voltage held in the pixel capacitor; the correction unit operates in a part of the sampling period in accordance with a control signal supplied from a scanning line; In this state, an output current is taken out from the drive transistor, negatively fed back to the pixel capacitor to correct the input voltage, and an additional capacitor and a switching transistor connected between the gate and drain of the drive transistor The switching transistor is in an on state when the correction means operates, and the additional capacitor is connected to the switching transistor. The switching transistor is inserted between the gate and drain of the live transistor, thereby optimizing the operation of the correction means, while the switching transistor is turned off when the drive transistor starts driving the light emitting element. Is separated from the gate and drain of the drive transistor, and the bootstrap operation of the pixel capacitor performed in accordance with the start of light emission of the light emitting element is optimized.

好ましくは前記付加容量は、該映像信号の白レベルから黒レベルの間の各階調レベルで、該発光素子の輝度が適正となるように、その容量値が設定されている。又前記付加容量は、該発光素子の高輝度化に伴って大型化されており、その容量値が該画素容量のブートストラップ動作のゲインの低下が生じる程度に設定されており、前記スイッチングトランジスタは、該付加容量を該ドライブトランジスタのゲートとドレイン間から切り離して、該ブートストラップ動作のゲイン低下を防止する。又前記スイッチングトランジスタは、該サンプリングトランジスタに印加される制御信号と同じ制御信号でオン/オフ制御され、該サンプリング期間には該付加容量を該ドライブトランジスタのドレインとゲート間に挿入し、該発光期間には該付加容量を該ドライブトランジスタのドレインとゲート間から切り離す。又前記ドライブトランジスタは、その出力電流がチャネル領域のキャリア移動度に加え閾電圧に対しても依存性を有し、前記補正手段は、該出力電流の閾電圧に対する依存性を打ち消すために、あらかじめサンプリング期間に先立って該ドライブトランジスタの閾電圧を検出し、且つ該検出された閾電圧を該入力電圧に足し込む様にした。   Preferably, the additional capacitor has a capacitance value set so that the luminance of the light emitting element is appropriate at each gradation level between the white level and the black level of the video signal. The additional capacitor is increased in size with the increase in luminance of the light emitting element, and the capacitance value is set to such an extent that the gain of the bootstrap operation of the pixel capacitor is reduced. The additional capacitor is separated from the gate and drain of the drive transistor to prevent a decrease in gain of the bootstrap operation. The switching transistor is ON / OFF controlled by the same control signal as the control signal applied to the sampling transistor, and the additional capacitor is inserted between the drain and gate of the drive transistor during the sampling period. The additional capacitor is disconnected from the drain and gate of the drive transistor. The drive transistor has an output current dependent on the threshold voltage in addition to the carrier mobility of the channel region, and the correction means cancels the dependency of the output current on the threshold voltage in advance. Prior to the sampling period, the threshold voltage of the drive transistor is detected, and the detected threshold voltage is added to the input voltage.

本発明は又、画素アレイ部とスキャナ部と信号部とを含み、前記画素アレイ部は、行状に配された走査線と列状に配された信号線と両者が交差する部分に配された行列状の画素とからなり、前記信号部は、該信号線に映像信号を供給し、前記スキャナ部は、該走査線に制御信号を供給して順次行ごとに画素を走査し、各画素は、少なくともサンプリングトランジスタと、これに接続する容量部と、これに接続するドライブトランジスタと、これに接続する発光素子とを含み、前記サンプリングトランジスタは、所定のサンプリング期間に走査線から供給される制御信号に応じ導通して信号線から供給された映像信号を該容量部にサンプリングし、前記容量部は、該サンプリングされた映像信号に応じて該ドライブトランジスタのゲートとソース間に入力電圧を印加し、前記ドライブトランジスタは、所定の発光期間中該入力電圧に応じた出力電流を該発光素子に供給し、該出力電流は該ドライブトランジスタのチャネル領域のキャリア移動度に対して依存性を有し、前記発光素子は、該ドライブトランジスタから供給された出力電流により該映像信号に応じた輝度で発光する表示装置において、各画素は、該ドライブトランジスタの出力電流のキャリア移動度に対する依存性を打ち消すために、あらかじめ該発光期間の前又は先頭で該容量部に保持された該入力電圧を補正する補正手段を備えており、前記補正手段は走査線から供給される制御信号に応じて該サンプリング期間の一部で動作し、該映像信号がサンプリングされている状態で該ドライブトランジスタから出力電流を取り出し、これを該容量部に負帰還して該入力電圧を補正し、又各画素は、該ドライブトランジスタのゲートとドレインの間に接続された付加容量及びスイッチングトランジスタを備えており、前記スイッチングトランジスタは、該補正手段が動作する時にはオン状態にあり、該付加容量を該ドライブトランジスタのゲートとドレインに挿入し、以って該補正手段の動作を適正化する一方、前記スイッチングトランジスタは、該ドライブトランジスタが該発光素子の駆動を開始するときにはオフして該付加容量を該ドライブトランジスタのゲートとドレイン間から切り離し、該発光素子の発光開始に伴って行われる該画素容量のブートストラップ動作を適正化する。   The present invention also includes a pixel array section, a scanner section, and a signal section, and the pixel array section is disposed at a portion where the scanning lines arranged in rows and the signal lines arranged in columns intersect with each other. The signal unit supplies a video signal to the signal line, the scanner unit supplies a control signal to the scanning line, and sequentially scans the pixels for each row. A control signal supplied from a scanning line during a predetermined sampling period, including at least a sampling transistor, a capacitor connected to the sampling transistor, a drive transistor connected to the capacitor, and a light emitting element connected to the drive transistor. In accordance with the sampled video signal, the video signal supplied from the signal line is sampled in the capacitor unit, and the capacitor unit receives the gate and source of the drive transistor in accordance with the sampled video signal. An input voltage is applied in between, and the drive transistor supplies an output current corresponding to the input voltage to the light-emitting element during a predetermined light emission period, and the output current corresponds to the carrier mobility in the channel region of the drive transistor. In the display device in which the light emitting element emits light with luminance according to the video signal by the output current supplied from the drive transistor, each pixel has a carrier mobility of the output current of the drive transistor. In order to cancel the dependence on the input voltage, a correction unit that corrects the input voltage held in the capacitor unit before or at the beginning of the light emission period is provided, and the correction unit applies a control signal supplied from the scanning line to the control signal. Accordingly, it operates during a part of the sampling period, and takes an output current from the drive transistor in a state where the video signal is sampled. The input voltage is corrected by negatively feeding it back to the capacitor, and each pixel includes an additional capacitor and a switching transistor connected between the gate and drain of the drive transistor, and the switching transistor Is in an on state when the correction means is operating, and the additional capacitor is inserted into the gate and drain of the drive transistor, thereby optimizing the operation of the correction means, while the switching transistor is When the transistor starts to drive the light emitting element, the transistor is turned off to disconnect the additional capacitor from the gate and drain of the drive transistor, and the bootstrap operation of the pixel capacitor performed when the light emitting element starts to emit light is optimized. To do.

本発明によれば、ドライブトランジスタの出力電流のキャリア移動度に対する依存性を打ち消す為、画素回路は発光期間の前または先頭でドライブトランジスタに対する入力電圧(ゲート電圧)を補正する補正手段を備えている。この補正手段はサンプリング期間の一部で動作し、映像信号の電位(信号電位)がサンプリングされている状態でドライブトランジスタから出力電流(ドレイン電流)を取り出し、これを容量部に負帰還して入力電圧(ゲート電圧)を補正している。前述のトランジスタ特性式1から明らかな様に、出力電流(ドレイン電流)は移動度に比例している。したがって、ある画素のドライブトランジスタの移動度が高いと、出力電流は相対的に大きくなる。これを容量部に負帰還して入力電圧(ゲート電圧)を補正する。移動度が大きいと結果的に負帰還量が大きくなるので、入力電圧(ゲート電圧)はその分大きく下方修正される。ゲート電圧が下がるので、結果的にドレイン電流は抑制される事になる。一方、別の画素のドライブトランジスタの移動度が相対的に小さい場合、ドレイン電流も少なくなる。したがって容量部に対する負帰還量も小さいので、ゲート電圧の下方修正分が小さい。結果的に、ドライブトランジスタの移動度が小さいと出力電流はさほど低く補正されない。この様に、本発明の補正手段は、移動度のばらつきをキャンセルする様に、入力電圧をフィードバック補正するので、画面のユニフォーミティが改善される。特に、信号電位をサンプリングしている状態で移動度補正をかけている。映像信号電位は黒レベルから白レベルまで振幅が変化するが、どのレベルにおいても適切に移動度補正を行う事が可能である。また、入力電圧にかける負帰還量は、出力電流の取り出し時間に依存している。取り出し時間を長く取るほど、負帰還量が大きくなる。本発明では、サンプリング期間中における出力電流の取り出し時間を可変調整して、負帰還量の最適化を測る事ができる。なお本発明では、映像信号電位をサンプリングして発光素子を電流駆動している。映像信号電位をサンプリングする点では、従来の液晶ディスプレイと同じである。したがって、アクティブマトリクス型の液晶ディスプレイで従来から広く用いられている電圧シグナルドライバを本発明の信号部に用いる事ができる。さらには、従来のポリシリコントランジスタを集積形成したアクティブマトリクス型の液晶パネルと同じ様に、本発明の表示装置でも、周辺のスキャナ部や信号部を画素アレイ部と一体的に形成した周辺回路内蔵型のパネルにまとめる事も可能である。   According to the present invention, in order to cancel the dependence of the output current of the drive transistor on the carrier mobility, the pixel circuit is provided with a correcting means for correcting the input voltage (gate voltage) to the drive transistor before or at the beginning of the light emission period. . This correction means operates during a part of the sampling period, takes out the output current (drain current) from the drive transistor while the potential of the video signal (signal potential) is being sampled, and negatively feeds this back to the capacitor and inputs it The voltage (gate voltage) is corrected. As apparent from the transistor characteristic equation 1 described above, the output current (drain current) is proportional to the mobility. Therefore, when the mobility of the drive transistor of a certain pixel is high, the output current becomes relatively large. This is negatively fed back to the capacitor to correct the input voltage (gate voltage). If the mobility is large, the negative feedback amount is increased as a result, so that the input voltage (gate voltage) is greatly corrected downward accordingly. Since the gate voltage is lowered, the drain current is consequently suppressed. On the other hand, when the mobility of the drive transistor of another pixel is relatively small, the drain current is also reduced. Therefore, the amount of negative feedback with respect to the capacitor portion is also small, so the downward correction of the gate voltage is small. As a result, when the mobility of the drive transistor is small, the output current is not corrected so low. In this way, the correction means of the present invention feedback corrects the input voltage so as to cancel the variation in mobility, so that the uniformity of the screen is improved. In particular, mobility correction is performed in a state where the signal potential is being sampled. The amplitude of the video signal potential changes from the black level to the white level, but mobility correction can be appropriately performed at any level. Further, the amount of negative feedback applied to the input voltage depends on the output current extraction time. The longer the extraction time, the larger the negative feedback amount. In the present invention, the negative feedback amount can be optimized by variably adjusting the output current extraction time during the sampling period. In the present invention, the video signal potential is sampled and the light emitting element is driven by current. It is the same as a conventional liquid crystal display in that the video signal potential is sampled. Therefore, a voltage signal driver that has been widely used in an active matrix type liquid crystal display can be used for the signal portion of the present invention. Further, like the active matrix type liquid crystal panel in which conventional polysilicon transistors are integrated, the display device of the present invention also includes a peripheral circuit in which the peripheral scanner unit and signal unit are formed integrally with the pixel array unit. It is also possible to put together a mold panel.

特に本発明の画素回路は、ドライブトランジスタのゲートとドレインの間に付加容量及びスイッチングトランジスタを接続している。このスイッチングトランジスタは、上述した移動度補正手段が動作するときにはオン状態にあり、付加容量をドライブトランジスタのゲートとドレインに挿入し、以って移動度補正手段の動作を適正化している。具体的には、移動度補正期間内にドライブトランジスタのゲートに容量カップリングをいれ、これにより全階調における移動度補正最適期間を均一化している。この結果、パネルの歩留りを改善することが出来る。   Particularly in the pixel circuit of the present invention, an additional capacitor and a switching transistor are connected between the gate and drain of the drive transistor. This switching transistor is in an on state when the above-described mobility correcting means operates, and an additional capacitor is inserted into the gate and drain of the drive transistor, thereby optimizing the operation of the mobility correcting means. Specifically, capacitive coupling is inserted into the gate of the drive transistor within the mobility correction period, thereby uniformizing the mobility correction optimum period for all gradations. As a result, the yield of the panel can be improved.

加えて有機EL表示装置の高画質化の一環として高輝度化が望まれている。この場合、発光素子の高輝度化に伴って必然的に付加容量が大型化しており、その結果付加容量の値が画素容量のブートストラップ動作のゲイン低下を生じる程度までに達している。そこで本発明では、発光の際付加容量をドライブトランジスタのゲートとドレイン間から切り離して、ブートストラップ動作のゲイン低下を防止している。これにより、パネルの歩留りを一層改善することが可能である。   In addition, higher brightness is desired as part of improving the image quality of organic EL display devices. In this case, as the luminance of the light emitting element is increased, the additional capacity is inevitably increased, and as a result, the value of the additional capacity reaches a level where the gain of the bootstrap operation of the pixel capacity is reduced. Therefore, in the present invention, the additional capacitor is separated from the gate and drain of the drive transistor at the time of light emission to prevent the gain reduction of the bootstrap operation. As a result, the yield of the panel can be further improved.

以下図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。図1は本発明にかかる表示装置の全体構成を示すブロック図である。図示する様に、本表示装置はアクティブマトリクス型であり、主要部となる画素アレイ1と周辺の回路部とで構成されている。周辺の回路部は水平セレクタ3、ライトスキャナ4、ドライブスキャナ5、第1補正用スキャナ71、第2補正用スキャナ72などを含んでいる。画素アレイ1は行状の走査線WSと列状の信号線SLと両者の交差する部分にマトリクス状に配列した画素R,G,Bとで構成されている。カラー表示を可能とするため、RGBの3原色画素を用意しているが、本発明はこれに限られるものではない。各画素R,G,Bはそれぞれ画素回路2で構成されている。信号線SLは水平セレクタ3によって駆動される。水平セレクタ3は信号部を構成し、信号線SLに映像信号を供給する。走査線WSはライトスキャナ4によって走査される。なお、走査線WSと並行に別の走査線DS、AZ1及びAZ2も配線されている。走査線DSはドライブスキャナ5によって走査される。走査線AZ1は第1補正用スキャナ71によって走査される。走査線AZ2は第2補正用スキャナ72によって走査される。ライトスキャナ4、ドライブスキャナ5、第1補正用スキャナ71及び第2補正用スキャナ72はスキャナ部を構成しており、1水平期間ごと画素の行を順次走査する。各画素回路2は走査線WSによって選択されたとき信号線SLから映像信号をサンプリングする。さらに走査線DSによって意選択されたとき、サンプリングされた映像信号に応じて画素回路2内に含まれている発光素子を駆動する。加えて画素回路2は走査線AZ1及びAZ2によって走査されたとき、予め決められた補正動作を行う。本実施形態の場合、この補正動作は閾電圧補正動作と移動度補正動作が含まれる。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of a display device according to the present invention. As shown in the figure, this display device is an active matrix type, and is composed of a pixel array 1 as a main part and a peripheral circuit part. The peripheral circuit unit includes a horizontal selector 3, a write scanner 4, a drive scanner 5, a first correction scanner 71, a second correction scanner 72, and the like. The pixel array 1 includes row-like scanning lines WS and column-like signal lines SL, and pixels R, G, and B arranged in a matrix at the intersection of the two. In order to enable color display, RGB three primary color pixels are prepared, but the present invention is not limited to this. Each pixel R, G, B is composed of a pixel circuit 2. The signal line SL is driven by the horizontal selector 3. The horizontal selector 3 forms a signal unit and supplies a video signal to the signal line SL. The scanning line WS is scanned by the write scanner 4. In addition, other scanning lines DS, AZ1, and AZ2 are also wired in parallel with the scanning line WS. The scanning line DS is scanned by the drive scanner 5. The scanning line AZ1 is scanned by the first correction scanner 71. The scanning line AZ2 is scanned by the second correction scanner 72. The write scanner 4, the drive scanner 5, the first correction scanner 71, and the second correction scanner 72 constitute a scanner unit, and sequentially scan the pixel rows every horizontal period. Each pixel circuit 2 samples a video signal from the signal line SL when selected by the scanning line WS. Further, when selected by the scanning line DS, the light emitting element included in the pixel circuit 2 is driven in accordance with the sampled video signal. In addition, the pixel circuit 2 performs a predetermined correction operation when scanned by the scanning lines AZ1 and AZ2. In this embodiment, this correction operation includes a threshold voltage correction operation and a mobility correction operation.

上述した画素アレイ1は通常ガラスなどの絶縁基板上に形成されており、フラットパネルとなっている。各画素回路2はアモルファスシリコン薄膜トランジスタ(TFT)または低温ポリシリコンTFTで形成されている。アモルファスシリコンTFTの場合、スキャナ部はパネルとは別のTABなどで構成され、フレキシュブルケーブルによってフラットパネルに接続される。低温ポリシリコンTFTの場合、信号部及びスキャナ部も同じ低温ポリシリコンTFTで形成できるので、フラットパネル上に画素アレイと信号部とスキャナ部を一体的に形成することが出来る。   The pixel array 1 described above is usually formed on an insulating substrate such as glass and is a flat panel. Each pixel circuit 2 is formed of an amorphous silicon thin film transistor (TFT) or a low temperature polysilicon TFT. In the case of an amorphous silicon TFT, the scanner part is composed of TAB or the like different from the panel, and is connected to the flat panel by a flexible cable. In the case of the low-temperature polysilicon TFT, the signal portion and the scanner portion can be formed of the same low-temperature polysilicon TFT, so that the pixel array, the signal portion, and the scanner portion can be integrally formed on the flat panel.

図2は、図1に示した表示装置に組み込まれる画素回路の先行開発例を示す回路図である。この先行開発例にかかる画素回路は本発明の基になるものである。そこで本発明の説明の一環として、以下この画素回路を詳細に説明する。   FIG. 2 is a circuit diagram showing a prior development example of a pixel circuit incorporated in the display device shown in FIG. The pixel circuit according to this prior development example is the basis of the present invention. Therefore, as a part of the description of the present invention, the pixel circuit will be described in detail below.

画素回路2は、5個の薄膜トランジスタTr1〜Tr4及びTrdと1個の容量素子(画素容量)Csと1個の発光素子ELとで構成されている。トランジスタTr1〜Tr3とTrdはNチャネル型のポリシリコンTFTである。トランジスタTr4のみPチャネル型のポリシリコンTFTである。1個の容量素子Csは本画素回路2の容量部を構成している。発光素子ELは例えばアノード及びカソードを備えたダイオード型の有機EL素子である。但し本発明はこれに限られるものではなく、発光素子は一般的に電流駆動で発光する全てのデバイスを含む。   The pixel circuit 2 includes five thin film transistors Tr1 to Tr4 and Trd, one capacitor element (pixel capacitor) Cs, and one light emitting element EL. The transistors Tr1 to Tr3 and Trd are N channel type polysilicon TFTs. Only the transistor Tr4 is a P-channel type polysilicon TFT. One capacitive element Cs constitutes a capacitive part of the pixel circuit 2. The light emitting element EL is, for example, a diode type organic EL element having an anode and a cathode. However, the present invention is not limited to this, and the light emitting element generally includes all devices that emit light by current drive.

画素回路2の中心となるドライブトランジスタTrdはそのゲートGが画素容量Csの一端に接続され、そのソースSが同じく画素容量Csの他端に接続されている。またドライブトランジスタTrdのゲートGはスイッチングトランジスタTr2を介して別の基準電位Vss1に接続されている。ドライブトランジスタTrdのドレインはスイッチングトランジスタTr4を介して電源Vccに接続されている。このスイッチングトランジスタTr2のゲートは走査線AZ1に接続されている。スイッチングトランジスタTr4のゲートは走査線DSに接続している。発光素子ELのアノードはドライブトランジスタTrdのソースSに接続し、カソードは接地されている。この接地電位はVcathで表される場合がある。また、ドライブトランジスタTrdのソースSと所定の基準電位Vss2との間にスイッチングトランジスタTr3が介在している。このトランジスタTr3のゲートは走査線AZ2に接続している。一方サンプリングトランジスタTr1は信号線SLとドライブトランジスタTrdのゲートGとの間に接続されている。サンプリングトランジスタTr1のゲートは走査線WSに接続している。   The drive transistor Trd which is the center of the pixel circuit 2 has a gate G connected to one end of the pixel capacitor Cs and a source S connected to the other end of the pixel capacitor Cs. The gate G of the drive transistor Trd is connected to another reference potential Vss1 via the switching transistor Tr2. The drain of the drive transistor Trd is connected to the power source Vcc via the switching transistor Tr4. The gate of the switching transistor Tr2 is connected to the scanning line AZ1. The gate of the switching transistor Tr4 is connected to the scanning line DS. The anode of the light emitting element EL is connected to the source S of the drive transistor Trd, and the cathode is grounded. This ground potential may be represented by Vcath. Further, the switching transistor Tr3 is interposed between the source S of the drive transistor Trd and a predetermined reference potential Vss2. The gate of the transistor Tr3 is connected to the scanning line AZ2. On the other hand, the sampling transistor Tr1 is connected between the signal line SL and the gate G of the drive transistor Trd. The gate of the sampling transistor Tr1 is connected to the scanning line WS.

かかる構成において、サンプリングトランジスタTr1は、所定のサンプリング期間に走査線WSから供給される制御信号WSに応じ導通して信号線SLから供給された映像信号Vsigを容量部Csにサンプリングする。容量部Csは、サンプリングされた映像信号Vsigに応じてドライブトランジスタのゲートGとソースS間に入力電圧Vgsを印加する。ドライブトランジスタTrdは、所定の発光期間中入力電圧Vgsに応じた出力電流Idsを発光素子ELに供給する。なおこの出力電流(ドレイン電流)IdsはドライブトランジスタTrdのチャネル領域のキャリア移動度μ及び閾電圧Vthに対して依存性を有する。発光素子ELは、ドライブトランジスタTrdから供給された出力電流Idsにより映像信号Vsigに応じた輝度で発光する。   In such a configuration, the sampling transistor Tr1 conducts in response to the control signal WS supplied from the scanning line WS during a predetermined sampling period, and samples the video signal Vsig supplied from the signal line SL in the capacitor unit Cs. The capacitor Cs applies the input voltage Vgs between the gate G and the source S of the drive transistor in accordance with the sampled video signal Vsig. The drive transistor Trd supplies an output current Ids corresponding to the input voltage Vgs to the light emitting element EL during a predetermined light emission period. The output current (drain current) Ids has dependency on the carrier mobility μ and the threshold voltage Vth in the channel region of the drive transistor Trd. The light emitting element EL emits light with luminance according to the video signal Vsig by the output current Ids supplied from the drive transistor Trd.

本発明の特徴事項として、画素回路2はスイッチングトランジスタTr2〜Tr4で構成される補正手段を備えており、出力電流Idsのキャリア移動度μに対する依存性を打ち消す為に、予め発光期間の先頭で容量部Csに保持された入力電圧Vgsを補正する。具体的には、この補正手段(Tr2〜Tr4)は、走査線WS及びDSから供給される制御信号WS,DSに応じてサンプリング期間の一部で動作し、映像信号Vsigがサンプリングされている状態でドライブトランジスタTrdから出力電流Idsを取り出し、これを容量部Csに負帰還して入力電圧Vgsを補正する。さらにこの補正手段(Tr2〜Tr4)は、出力電流Idsの閾電圧Vthに対する依存性を打ち消すために、予めサンプリング期間に先立ってドライブトランジスタTrdの閾電圧Vthを検出し、且つ検出された閾電圧Vthを入力電圧Vgsに足し込む様にしている。   As a feature of the present invention, the pixel circuit 2 includes correction means including switching transistors Tr2 to Tr4, and in order to cancel the dependency of the output current Ids on the carrier mobility μ, the capacitance is previously set at the head of the light emission period. The input voltage Vgs held in the part Cs is corrected. Specifically, the correction means (Tr2 to Tr4) operate in a part of the sampling period according to the control signals WS and DS supplied from the scanning lines WS and DS, and the video signal Vsig is sampled. Thus, the output current Ids is extracted from the drive transistor Trd and negatively fed back to the capacitor Cs to correct the input voltage Vgs. Further, the correction means (Tr2 to Tr4) detects the threshold voltage Vth of the drive transistor Trd in advance of the sampling period and cancels the dependency of the output current Ids on the threshold voltage Vth. Is added to the input voltage Vgs.

本実施形態の場合、ドライブトランジスタTrdはNチャネル型トランジスタでドレインが電源Vcc側に接続する一方、ソースSが発光素子EL側に接続している。この場合、前述した補正手段は、サンプリング期間の後部分に重なる発光期間の先頭部分でドライブトランジスタTrdから出力電流Idsを取り出して、容量部Cs側に負帰還する。その際本補正手段は、発光期間の先頭部分でドライブトランジスタTrdのソースS側から取り出した出力電流Idsが、発光素子ELの有する容量に流れ込むようにしている。具体的には、発光素子ELはアノード及びカソードを備えたダイオード型の発光素子からなり、アノード側がドライブトランジスタTrdのソースSに接続する一方カソード側が接地されている。この構成で、本補正手段(Tr2〜Tr4)は、予め発光素子ELのアノード/カソード間を逆バイアス状態にセットしておき、ドライブトランジスタTrdのソースS側から取り出した出力電流Idsが発光素子ELに流れ込む時、このダイオード型の発光素子ELを容量性素子として機能させている。なお本補正手段は、サンプリング期間内でドライブトランジスタTrdから出力電流Idsを取り出す時間幅tを調整可能であり、これにより容量部Csに対する出力電流Idsの負帰還量を最適化している。   In the case of this embodiment, the drive transistor Trd is an N-channel transistor, and the drain is connected to the power supply Vcc side, while the source S is connected to the light emitting element EL side. In this case, the correction means described above takes out the output current Ids from the drive transistor Trd at the beginning of the light emission period that overlaps the latter part of the sampling period, and negatively feeds back to the capacitor Cs side. At this time, the present correcting means causes the output current Ids extracted from the source S side of the drive transistor Trd at the head of the light emission period to flow into the capacitance of the light emitting element EL. Specifically, the light emitting element EL is composed of a diode type light emitting element having an anode and a cathode. The anode side is connected to the source S of the drive transistor Trd, and the cathode side is grounded. With this configuration, the correction means (Tr2 to Tr4) sets the anode / cathode of the light emitting element EL in a reverse bias state in advance, and the output current Ids extracted from the source S side of the drive transistor Trd is the light emitting element EL. This diode-type light emitting element EL functions as a capacitive element. The correction means can adjust the time width t for extracting the output current Ids from the drive transistor Trd within the sampling period, and thereby optimizes the negative feedback amount of the output current Ids with respect to the capacitor Cs.

図3は、図2に示した表示装置から画素回路の部分を取り出した模式図である。理解を容易にする為、サンプリングトランジスタTr1によってサンプリングされる映像信号Vsigや、ドライブトランジスタTrdの入力電圧Vgs及び出力電流Ids、さらには発光素子ELが有する容量成分Coledなどを書き加えてある。以下図3に基づいて、本画素回路2の基本的な動作を説明する。   FIG. 3 is a schematic view of the pixel circuit portion extracted from the display device shown in FIG. In order to facilitate understanding, the video signal Vsig sampled by the sampling transistor Tr1, the input voltage Vgs and output current Ids of the drive transistor Trd, and the capacitance component Coled of the light emitting element EL are added. The basic operation of the pixel circuit 2 will be described below with reference to FIG.

図4は、図3に示した画素回路のタイミングチャートである。図4を参照して、図3に示した画素回路の動作をより具体的且つ詳細に説明する。図4は、時間軸Tに沿って各走査線WS,AZ1,AZ2及びDSに印加される制御信号の波形を表してある。表記を簡略化する為、制御信号も対応する走査線の符号と同じ符号で表してある。トランジスタTr1,Tr2,Tr3はNチャネル型なので、走査線WS,AZ1,AZ2がそれぞれハイレベルの時オンし、ローレベルの時オフする。一方トランジスタTr4はPチャネル型なので、走査線DSがハイレベルの時オフし、ローレベルの時オンする。なおこのタイミングチャートは、各制御信号WS,AZ1,AZ2,DSの波形と共に、ドライブトランジスタTrdのゲートGの電位変化及びソースSの電位変化も表してある。   FIG. 4 is a timing chart of the pixel circuit shown in FIG. With reference to FIG. 4, the operation of the pixel circuit shown in FIG. 3 will be described more specifically and in detail. FIG. 4 shows the waveforms of control signals applied to the scanning lines WS, AZ1, AZ2 and DS along the time axis T. In order to simplify the notation, the control signals are also represented by the same reference numerals as the corresponding scanning lines. Since the transistors Tr1, Tr2 and Tr3 are N-channel type, they are turned on when the scanning lines WS, AZ1 and AZ2 are at a high level, and turned off when the scanning lines are at a low level. On the other hand, since the transistor Tr4 is a P-channel type, it is turned off when the scanning line DS is at a high level and turned on when it is at a low level. This timing chart also shows the change in the potential of the gate G and the change in the potential of the source S of the drive transistor Trd, along with the waveforms of the control signals WS, AZ1, AZ2, and DS.

図7のタイミングチャートではタイミングT1〜T8までを1フィールド(1f)としてある。1フィールドの間に画素アレイの各行が一回順次走査される。タイミングチャートは、1行分の画素に印加される各制御信号WS,AZ1,AZ2,DSの波形を表してある。   In the timing chart of FIG. 7, timings T1 to T8 are defined as one field (1f). Each row of the pixel array is sequentially scanned once during one field. The timing chart shows the waveforms of the control signals WS, AZ1, AZ2, DS applied to the pixels for one row.

当該フィールドが始まる前のタイミングT0で、全ての制御線号WS,AZ1,AZ2,DSがローレベルにある。したがってNチャネル型のトランジスタTr1,Tr2,Tr3はオフ状態にある一方、Pチャネル型のトランジスタTr4のみオン状態である。したがってドライブトランジスタTrdはオン状態のトランジスタTr4を介して電源Vccに接続しているので、所定の入力電圧Vgsに応じて出力電流Idsを発光素子ELに供給している。したがってタイミングT0で発光素子ELは発光している。この時ドライブトランジスタTrdに印加される入力電圧Vgsは、ゲート電位(G)とソース電位(S)の差で表される。   At timing T0 before the field starts, all control line numbers WS, AZ1, AZ2, DS are at a low level. Therefore, the N-channel transistors Tr1, Tr2, Tr3 are in the off state, while only the P-channel transistor Tr4 is in the on state. Therefore, since the drive transistor Trd is connected to the power supply Vcc via the transistor Tr4 in the on state, the output current Ids is supplied to the light emitting element EL according to the predetermined input voltage Vgs. Therefore, the light emitting element EL emits light at the timing T0. At this time, the input voltage Vgs applied to the drive transistor Trd is expressed by the difference between the gate potential (G) and the source potential (S).

当該フィールドが始まるタイミングT1で、制御信号DSがローレベルからハイレベルに切り替わる。これによりトランジスタTr4がオフし、ドライブトランジスタTrdは電源Vccから切り離されるので、発光が停止し非発光期間に入る。したがってタイミングT1に入ると、全てのトランジスタTr1〜Tr4がオフ状態になる。   At the timing T1 when the field starts, the control signal DS is switched from the low level to the high level. As a result, the transistor Tr4 is turned off and the drive transistor Trd is disconnected from the power supply Vcc, so that the light emission stops and the non-light emission period starts. Therefore, at the timing T1, all the transistors Tr1 to Tr4 are turned off.

続いてタイミングT2に進むと、制御信号AZ1及びAZ2がハイレベルになるので、スイッチングトランジスタTr2及びTr3がオンする。この結果、ドライブトランジスタTrdのゲートGが基準電位Vss1に接続し、ソースSが基準電位Vss2に接続される。ここでVss1−Vss2>Vthを満たしており、Vss1−Vss2=Vgs>Vthとする事で、その後タイミングT3で行われるVth補正の準備を行う。換言すると期間T2‐T3は、ドライブトランジスタTrdのリセット期間に相当する。また、発光素子ELの閾電圧をVthELとすると、VthEL>Vss2に設定されている。これにより、発光素子ELにはマイナスバイアスが印加され、いわゆる逆バイアス状態となる。この逆バイアス状態は、後で行うVth補正動作及び移動度補正動作を正常に行うために必要である。   Subsequently, at timing T2, since the control signals AZ1 and AZ2 are at a high level, the switching transistors Tr2 and Tr3 are turned on. As a result, the gate G of the drive transistor Trd is connected to the reference potential Vss1, and the source S is connected to the reference potential Vss2. Here, Vss1−Vss2> Vth is satisfied, and by setting Vss1−Vss2 = Vgs> Vth, preparation for Vth correction performed at timing T3 is performed. In other words, the period T2-T3 corresponds to a reset period of the drive transistor Trd. Further, when the threshold voltage of the light emitting element EL is VthEL, VthEL> Vss2 is set. Thereby, a minus bias is applied to the light emitting element EL, and a so-called reverse bias state is obtained. This reverse bias state is necessary for normally performing the Vth correction operation and the mobility correction operation to be performed later.

タイミングT3では制御信号AZ2をローレベルにし且つ直後制御信号DSもローレベルにしている。これによりトランジスタTr3がオフする一方トランジスタTr4がオンする。この結果ドレイン電流Idsが画素容量Csに流れ込み、Vth補正動作を開始する。この時ドライブトランジスタTrdのゲートGはVss1に保持されており、ドライブトランジスタTrdがカットオフするまで電流Idsが流れる。カットオフするとドライブトランジスタTrdのソース電位(S)はVss1−Vthとなる。ドレイン電流がカットオフした後のタイミングT4で制御信号DSを再びハイレベルに戻し、スイッチングトランジスタTr4をオフする。さらに制御信号AZ1もローレベルに戻し、スイッチングトランジスタTr2もオフする。この結果、画素容量CsにVthが保持固定される。この様にタイミングT3‐T4はドライブトランジスタTrdの閾電圧Vthを検出する期間である。ここでは、この検出期間T3‐T4をVth補正期間と呼んでいる。   At timing T3, the control signal AZ2 is set to the low level, and the control signal DS is also set to the low level. As a result, the transistor Tr3 is turned off while the transistor Tr4 is turned on. As a result, the drain current Ids flows into the pixel capacitor Cs, and the Vth correction operation is started. At this time, the gate G of the drive transistor Trd is held at Vss1, and the current Ids flows until the drive transistor Trd is cut off. When cut off, the source potential (S) of the drive transistor Trd becomes Vss1-Vth. At timing T4 after the drain current is cut off, the control signal DS is returned to the high level again, and the switching transistor Tr4 is turned off. Further, the control signal AZ1 is also returned to the low level, and the switching transistor Tr2 is also turned off. As a result, Vth is held and fixed in the pixel capacitor Cs. Thus, the timing T3-T4 is a period for detecting the threshold voltage Vth of the drive transistor Trd. Here, this detection period T3-T4 is called a Vth correction period.

この様にVth補正を行った後タイミングT5で制御信号WSをハイレベルに切り替え、サンプリングトランジスタTr1をオンして映像信号Vsigを画素容量Csに書き込む。発光素子ELの等価容量Coledに比べて画素容量Csは充分に小さい。この結果、映像信号Vsigのほとんど大部分が画素容量Csに書き込まれる。正確には、Vss1に対する。Vsigの差分Vsig−Vss1が画素容量Csに書き込まれる。したがってドライブトランジスタTrdのゲートGとソースS間の電圧Vgsは、先に検出保持されたVthと今回サンプリングされたVsig−Vss1を加えたレベル(Vsig−Vss1+Vth)となる。以降説明簡易化の為Vss1=0Vとすると、ゲート/ソース間電圧Vgsは図7のタイミングチャートに示すようにVsig+Vthとなる。かかる映像信号Vsigのサンプリングは制御信号WSがローレベルに戻るタイミングT7まで行われる。すなわちタイミングT5‐T7がサンプリング期間に相当する。   After performing the Vth correction in this way, the control signal WS is switched to the high level at timing T5, the sampling transistor Tr1 is turned on, and the video signal Vsig is written into the pixel capacitor Cs. The pixel capacitance Cs is sufficiently smaller than the equivalent capacitance Coled of the light emitting element EL. As a result, most of the video signal Vsig is written into the pixel capacitor Cs. To be precise, for Vss1. The difference Vsig−Vss1 of Vsig is written to the pixel capacitor Cs. Therefore, the voltage Vgs between the gate G and the source S of the drive transistor Trd becomes a level (Vsig−Vss1 + Vth) obtained by adding Vth previously detected and held and Vsig−Vss1 sampled this time. Hereinafter, for simplification of description, assuming that Vss1 = 0V, the gate / source voltage Vgs becomes Vsig + Vth as shown in the timing chart of FIG. The sampling of the video signal Vsig is performed until timing T7 when the control signal WS returns to the low level. That is, the timing T5-T7 corresponds to the sampling period.

サンプリング期間の終了するタイミングT7より前のタイミングT6で制御信号DSがローレベルとなりスイッチングトランジスタTr4がオンする。これによりドライブトランジスタTrdが電源Vccに接続されるので、画素回路は非発光期間から発光期間に進む。この様にサンプリングトランジスタTr1がまだオン状態で且つスイッチングトランジスタTr4がオン状態に入った期間T6‐T7で、ドライブトランジスタTrdの移動度補正を行う。即ち本実施形態では、サンプリング期間の後部分と発光期間の先頭部分とが重なる期間T6‐T7で移動度補正を行っている。なお、この移動度補正を行う発光期間の先頭では、発光素子ELは実際には逆バイアス状態にあるので発光する事はない。この移動度補正期間T6‐T7では、ドライブトランジスタTrdのゲートGが映像信号Vsigのレベルに固定された状態で、ドライブトランジスタTrdにドレイン電流Idsが流れる。ここでVss1−Vth<VthELと設定しておく事で、発光素子ELは逆バイアス状態におかれる為、ダイオード特性ではなく単純な容量特性を示すようになる。よってドライブトランジスタTrdに流れる電流Idsは画素容量Csと発光素子ELの等価容量Coledの両者を結合した容量C=Cs+Coledに書き込まれていく。これによりドライブトランジスタTrdのソース電位(S)は上昇していく。図7のタイミングチャートではこの上昇分をΔVで表してある。この上昇分ΔVは結局画素容量Csに保持されたゲート/ソース間電圧Vgsから差し引かれる事になるので、負帰還をかけた事になる。この様にドライブトランジスタTrdの出力電流Idsを同じくドライブトランジスタTrdの入力電圧Vgsに負帰還する事で、移動度μを補正する事が可能である。なお負帰還量ΔVは移動度補正期間T6‐T7の時間幅tを調整する事で最適化可能である。   At timing T6 before the end of the sampling period T7, the control signal DS becomes low level and the switching transistor Tr4 is turned on. As a result, the drive transistor Trd is connected to the power supply Vcc, so that the pixel circuit proceeds from the non-light emitting period to the light emitting period. In this manner, the mobility correction of the drive transistor Trd is performed in the period T6-T7 in which the sampling transistor Tr1 is still on and the switching transistor Tr4 is on. That is, in the present embodiment, the mobility correction is performed in the period T6-T7 in which the latter part of the sampling period and the head part of the light emission period overlap. Note that, at the beginning of the light emission period in which the mobility correction is performed, the light emitting element EL is actually in a reverse bias state, and thus does not emit light. In the mobility correction period T6-T7, the drain current Ids flows through the drive transistor Trd while the gate G of the drive transistor Trd is fixed at the level of the video signal Vsig. Here, by setting Vss1−Vth <VthEL, the light emitting element EL is placed in a reverse bias state, so that it exhibits simple capacitance characteristics instead of diode characteristics. Therefore, the current Ids flowing through the drive transistor Trd is written into a capacitor C = Cs + Coled obtained by combining both the pixel capacitor Cs and the equivalent capacitor Coled of the light emitting element EL. As a result, the source potential (S) of the drive transistor Trd increases. In the timing chart of FIG. 7, this increase is represented by ΔV. Since this increase ΔV is eventually subtracted from the gate / source voltage Vgs held in the pixel capacitor Cs, negative feedback is applied. In this way, the mobility μ can be corrected by negatively feeding back the output current Ids of the drive transistor Trd to the input voltage Vgs of the drive transistor Trd. The negative feedback amount ΔV can be optimized by adjusting the time width t of the mobility correction period T6-T7.

タイミングT7では制御信号WSがローレベルとなりサンプリングトランジスタTr1がオフする。この結果ドライブトランジスタTrdのゲートGは信号線SLから切り離される。映像信号Vsigの印加が解除されるのでドライブトランジスタTrdのゲート電位(G)は上昇可能となり、ソース電位(S)と共に上昇していく。発光期間の開始に伴って行われるこの動作を、ブートストラップ動作と呼ぶ。このブートストラップ動作の間、画素容量Csに保持されたゲート/ソース間電圧Vgsは(Vsig−ΔV+Vth)の値を維持する。換言すると、ゲート電位(G)におけるブートストラップゲインは基本的に100%である。このブートストラップ動作によってソース電位(S)が上昇し、発光素子ELの逆バイアス状態が解消されるので、出力電流Idsの流入により発光素子ELは実際に発光を開始する。   At timing T7, the control signal WS becomes low level and the sampling transistor Tr1 is turned off. As a result, the gate G of the drive transistor Trd is disconnected from the signal line SL. Since the application of the video signal Vsig is cancelled, the gate potential (G) of the drive transistor Trd can be increased and increases with the source potential (S). This operation performed with the start of the light emission period is called a bootstrap operation. During this bootstrap operation, the gate / source voltage Vgs held in the pixel capacitor Cs maintains the value of (Vsig−ΔV + Vth). In other words, the bootstrap gain at the gate potential (G) is basically 100%. By this bootstrap operation, the source potential (S) rises and the reverse bias state of the light emitting element EL is eliminated. Therefore, the light emitting element EL actually starts to emit light by the inflow of the output current Ids.

この時のドレイン電流Ids対ゲート電圧Vgsの関係は、先のトランジスタ特性式1のVgsにVsig−ΔV+Vthを代入する事で、以下の式2のように与えられる。
Ids=kμ(Vgs−Vth)=kμ(Vsig−ΔV)・・・式2
上記式2において、k=(1/2)(W/L)Coxである。この特性式2からVthの項がキャンセルされており、発光素子ELに供給される出力電流IdsはドライブトランジスタTrdの閾電圧Vthに依存しない事が分かる。基本的にドレイン電流Idsは映像信号の信号電圧Vsigによって決まる。換言すると、発光素子ELは映像信号Vsigに応じた輝度で発光する事になる。その際Vsigは帰還量ΔVで補正されている。この補正量ΔVは丁度特性式2の係数部に位置する移動度μの効果を打ち消すように働く。したがって、ドレイン電流Idsは実質的に映像信号Vsigのみに依存する事になる。
The relationship between the drain current Ids and the gate voltage Vgs at this time is given by the following equation 2 by substituting Vsig−ΔV + Vth into Vgs of the previous transistor characteristic equation 1.
Ids = kμ (Vgs−Vth) 2 = kμ (Vsig−ΔV) 2 Equation 2
In the above formula 2, k = (1/2) (W / L) Cox. It can be seen from the characteristic formula 2 that the term Vth is canceled and the output current Ids supplied to the light emitting element EL does not depend on the threshold voltage Vth of the drive transistor Trd. Basically, the drain current Ids is determined by the signal voltage Vsig of the video signal. In other words, the light emitting element EL emits light with a luminance corresponding to the video signal Vsig. At that time, Vsig is corrected by the feedback amount ΔV. This correction amount ΔV acts so as to cancel the effect of the mobility μ located in the coefficient part of the characteristic formula 2 just. Therefore, the drain current Ids substantially depends only on the video signal Vsig.

最後にタイミングT8に至ると制御信号DSがハイレベルとなってスイッチングトランジスタTr4がオフし、発光が終了すると共に当該フィールドが終わる。この後次のフィールドに移って再びVth補正動作、移動度補正動作及び発光動作が繰り返される事になる。   Finally, when the timing T8 is reached, the control signal DS becomes high level, the switching transistor Tr4 is turned off, the light emission ends, and the field ends. Thereafter, the operation proceeds to the next field, and the Vth correction operation, the mobility correction operation, and the light emission operation are repeated again.

図5は、移動度補正期間T6‐T7における画素回路2の状態を示す回路図である。図示するように、移動度補正期間T6‐T7では、サンプリングトランジスタTr1及びスイッチングトランジスタTr4がオンしている一方、残りのスイッチングトランジスタTr2及びTr3がオフしている。この状態でドライブトランジスタTr4のソース電位(S)はVss1−Vthである。このソース電位Sは発光素子ELのアノード電位でもある。前述したようにVss1−Vth<VthELと設定しておく事で、発光素子ELは逆バイアス状態におかれ、ダイオード特性ではなく単純な容量特性を示す事になる。よってドライブトランジスタTrdに流れる電流Idsは画素容量Csと発光素子ELの等価容量Coledとの合成容量C=Cs+Coledに流れ込む事になる。換言すると、ドレイン電流Idsの一部が画素容量Csに負帰還され、移動度の補正が行われる。   FIG. 5 is a circuit diagram showing a state of the pixel circuit 2 in the mobility correction period T6-T7. As shown in the figure, in the mobility correction period T6-T7, the sampling transistor Tr1 and the switching transistor Tr4 are on, while the remaining switching transistors Tr2 and Tr3 are off. In this state, the source potential (S) of the drive transistor Tr4 is Vss1-Vth. This source potential S is also the anode potential of the light emitting element EL. By setting Vss1−Vth <VthEL as described above, the light emitting element EL is placed in a reverse bias state, and exhibits simple capacitance characteristics instead of diode characteristics. Therefore, the current Ids flowing through the drive transistor Trd flows into the combined capacitance C = Cs + Coled of the pixel capacitance Cs and the equivalent capacitance Coled of the light emitting element EL. In other words, a part of the drain current Ids is negatively fed back to the pixel capacitor Cs, and the mobility is corrected.

図6は上述したトランジスタ特性式2をグラフ化したものであり、縦軸にIdsを取り横軸にVsigを取ってある。このグラフの下方に特性式2も合わせて示してある。図6のグラフは、画素1と画素2を比較した状態で特性カーブを描いてある。画素1のドライブトランジスタの移動度μは相対的に大きい。逆に画素2に含まれるドライブトランジスタの移動度μは相対的に小さい。この様にドライブトランジスタをポリシリコン薄膜トランジスタなどで構成した場合、画素間で移動度μがばらつく事は避けられない。例えば両画素1,2に同レベルの映像信号Vsigを書き込んだ場合、何ら移動度の補正を行わないと、移動度μの大きい画素1に流れる出力電流Ids1´は、移動度μの小さい画素2に流れる出力電流Ids2´に比べて大きな差が生じてしまう。この様に移動度μのばらつきに起因して出力電流Idsの間に大きな差が生じるので、画面のユニフォーミティを損なう事になる。   FIG. 6 is a graph of the above-described transistor characteristic formula 2, in which Ids is plotted on the vertical axis and Vsig is plotted on the horizontal axis. The characteristic formula 2 is also shown below the graph. In the graph of FIG. 6, a characteristic curve is drawn in a state where the pixel 1 and the pixel 2 are compared. The mobility μ of the drive transistor of the pixel 1 is relatively large. Conversely, the mobility μ of the drive transistor included in the pixel 2 is relatively small. Thus, when the drive transistor is composed of a polysilicon thin film transistor or the like, it is inevitable that the mobility μ varies between pixels. For example, when the video signal Vsig of the same level is written in both the pixels 1 and 2, the output current Ids 1 ′ flowing in the pixel 1 having the high mobility μ is the pixel 2 having the low mobility μ unless the mobility is corrected. A large difference is generated as compared with the output current Ids2 'flowing through the current. In this way, a large difference occurs between the output currents Ids due to the variation in the mobility μ, so that the uniformity of the screen is impaired.

そこで本発明では出力電流を入力電圧側に負帰還させる事で移動度のばらつきをキャンセルしている。トランジスタ特性式から明らかなように、移動度が大きいとドレイン電流Idsが大きくなる。したがって負帰還量ΔVは移動度が大きいほど大きくなる。図6のグラフに示すように、移動度μの大きな画素1の負帰還量ΔV1は移動度の小さな画素2の負帰還量ΔV2に比べて大きい。したがって、移動度μが大きいほど負帰還が大きくかかる事となって、ばらつきを抑制する事が可能である。図示するように、移動度μの大きな画素1でΔV1の補正をかけると、出力電流はIds1´からIds1まで大きく下降する。一方移動度μの小さな画素2の補正量ΔV2は小さいので、出力電流Ids2´はIds2までそれ程大きく下降しない。結果的に、Ids1とIds2は略等しくなり、移動度のばらつきがキャンセルされる。この移動度のばらつきのキャンセルは黒レベルから白レベルまでVsigの全範囲で行われるので、画面のユニフォーミティは極めて高くなる。以上をまとめると、移動度の異なる画素1と2があった場合、移動度の大きい画素1の補正量ΔV1は移動度の小さい画素2の補正量ΔV2に対して小さくなる。つまり移動度が大きいほどΔVが大きくIdsの減少値は大きくなる。これにより移動度の異なる画素電流値は均一化され、移動度のばらつきを補正する事ができる。   Therefore, in the present invention, the variation in mobility is canceled by negatively feeding back the output current to the input voltage side. As is clear from the transistor characteristic equation, the drain current Ids increases when the mobility is large. Therefore, the negative feedback amount ΔV increases as the mobility increases. As shown in the graph of FIG. 6, the negative feedback amount ΔV1 of the pixel 1 having a high mobility μ is larger than the negative feedback amount ΔV2 of the pixel 2 having a low mobility. Therefore, the larger the mobility μ is, the more negative feedback is applied, and the variation can be suppressed. As shown in the figure, when ΔV1 is corrected in the pixel 1 having a high mobility μ, the output current greatly decreases from Ids1 ′ to Ids1. On the other hand, since the correction amount ΔV2 of the pixel 2 having the low mobility μ is small, the output current Ids2 ′ does not decrease so much to Ids2. As a result, Ids1 and Ids2 are substantially equal, and the variation in mobility is cancelled. Since the cancellation of the variation in mobility is performed in the entire range of Vsig from the black level to the white level, the uniformity of the screen becomes extremely high. In summary, when there are pixels 1 and 2 having different mobility, the correction amount ΔV1 of the pixel 1 having high mobility is smaller than the correction amount ΔV2 of the pixel 2 having low mobility. That is, as the mobility increases, ΔV increases and the decrease value of Ids increases. As a result, pixel current values having different mobilities are made uniform, and variations in mobility can be corrected.

以下参考の為図7を参照して、上述した移動度補正の数値解析を行う。図7に示すように、トランジスタTr1及びTr4がオンした状態で、ドライブトランジスタTrdのソース電位を変数Vに取って解析を行う。ドライブトランジスタTrdのソース電位(S)をVとすると、ドライブトランジスタTrdを流れるドレイン電流Idsは以下の式3に示す通りである。

Figure 2007133283
For reference, a numerical analysis of the mobility correction described above is performed with reference to FIG. As shown in FIG. 7, the analysis is performed by taking the source potential of the drive transistor Trd as a variable V in a state where the transistors Tr1 and Tr4 are turned on. Assuming that the source potential (S) of the drive transistor Trd is V, the drain current Ids flowing through the drive transistor Trd is as shown in Equation 3 below.
Figure 2007133283

またドレイン電流Idsと容量C(=Cs+Coled)の関係により、以下の式4に示す様にIds=dQ/dt=CdV/dtが成り立つ。

Figure 2007133283
Further, Ids = dQ / dt = CdV / dt is established as shown in the following Expression 4 by the relationship between the drain current Ids and the capacitance C (= Cs + Coled).
Figure 2007133283

式4に式3を代入して両辺積分する。ここで、ソース電圧V初期状態は−Vthであり、移動度ばらつき補正時間(T6‐T7)をtとする。この微分方程式を解くと、移動度補正時間tに対する画素電流が以下の数式5のように与えられる。

Figure 2007133283
0050〜0057 Both sides are integrated by substituting Equation 3 into Equation 4. Here, the initial state of the source voltage V is -Vth, and the mobility variation correction time (T6-T7) is t. When this differential equation is solved, the pixel current with respect to the mobility correction time t is given as shown in Equation 5 below.
Figure 2007133283
0050-0057

図8は、式5をグラフ化したものであり、実測データに基づいている。縦軸に出力電流Idsを取り、横軸に映像信号Vsigを取ってある。パラメータとして移動度補正時間t=0us、1.0us及び2.0usの場合を設定している。さらに、移動度μもパラメータとして比較的大きい場合1.2μと比較的小さい場合0.8μをパラメータに取ってある。加えて容量Cは画素容量Csと発光素子容量Coledの和である。t=0usとして実質的に移動度補正をかけない場合に比べ、t=1.0usではVsig−Ids特性カーブの傾きがゆるくなっており、移動度が大きい場合(1.2μ)と移動度が小さい場合(0.8μ)で、出力電流Idsの差が小さくなっている。さらに移動度補正時間t=2.0usにすると、移動度の大小によるドレイン電流Idsの差が一層小さくなっており、ユニフォーミティが改善している。この様に最適な移動度補正時間(図示の例ではt=2.0us)を設定することで、移動度μのばらつきを吸収できることが分かる。   FIG. 8 is a graph of Equation 5, which is based on actual measurement data. The vertical axis represents the output current Ids, and the horizontal axis represents the video signal Vsig. As parameters, mobility correction times t = 0 us, 1.0 us, and 2.0 us are set. Further, when the mobility μ is a relatively large parameter, 1.2 μ is used, and when the mobility μ is relatively small, 0.8 μ is used as a parameter. In addition, the capacitance C is the sum of the pixel capacitance Cs and the light emitting element capacitance Coled. Compared to the case where the mobility correction is not substantially applied at t = 0 us, the slope of the Vsig-Ids characteristic curve becomes gentle at t = 1.0 us, and the mobility is high when the mobility is large (1.2 μm). When it is small (0.8 μ), the difference in the output current Ids is small. Further, when the mobility correction time t is set to 2.0 us, the difference in the drain current Ids due to the mobility is further reduced, and the uniformity is improved. It can be seen that the variation in the mobility μ can be absorbed by setting the optimum mobility correction time (t = 2.0 us in the illustrated example).

以上の動作を行うことで、映像信号電位サンプル方式の画素回路においても移動度ばらつきの補正を行う事ができる事が分かる。既に実用化されている液晶ディスプレイの駆動方式は基本的に映像信号電位をサンプリングする電圧駆動である。よって有機ELパネルにおいても電圧駆動にて移動度ばらつき補正が可能となる事で、従来液晶ディスプレイで用いていた外付けソースドライバや低温ポリシリコンTFTなどを用いたパネル内蔵型ソースドライバなどを利用する事が可能となり、低コストにて有機ELパネルモジュールを作成する事ができる。またこの画素回路ではドライブトランジスタ以外のスイッチングトランジスタはNチャネル型とPチャネル型を混在して用いているが、各トランジスタの特性はNチャネルでもPチャネルでも構わない。   By performing the above operation, it can be seen that the mobility variation can be corrected even in the pixel circuit of the video signal potential sampling method. The driving method of a liquid crystal display that has already been put into practical use is basically voltage driving for sampling a video signal potential. Therefore, even in organic EL panels, it is possible to correct the mobility variation by voltage drive, so that an external source driver or a source driver with a built-in panel using a low-temperature polysilicon TFT, etc., used in a conventional liquid crystal display can be used. This makes it possible to produce an organic EL panel module at a low cost. Further, in this pixel circuit, switching transistors other than the drive transistor are used in a mixture of N-channel type and P-channel type, but the characteristics of each transistor may be N-channel or P-channel.

但し図8のグラフを詳細に見ると、移動度補正時間tを最適に設定しても、ドレイン電流Idsに多少のばらつきがあることが分かる。特に、映像信号Vsigが2Vないし4Vの中間調範囲でIdsの変化が大きくなっていることが分かる。したがって、この先行開発例では移動度補正時間を最適にしてもまだ階調間で出力電流のばらつきに差があり、解決すべき課題となっている。   However, when the graph of FIG. 8 is examined in detail, it can be seen that there is some variation in the drain current Ids even when the mobility correction time t is set optimally. In particular, it can be seen that the change in Ids is large in the halftone range of the video signal Vsig of 2V to 4V. Therefore, in this prior development example, even if the mobility correction time is optimized, there is still a difference in output current variation between gradations, which is a problem to be solved.

図9は、図1に示した表示装置に組み込まれる画素回路の改善例を示す回路図である。理解を容易にするため、図2に示した先行開発例と対応する部分には対応する参照番号を付してある。本改良例は図2に示した先行開発例を改良したものである。具体的には、ドライブトランジスタTrdのゲートGとドレインDとの間に付加容量Cgdを挿入している。この付加容量CgdをドライブトランジスタTrdのゲートGとドレインDとの間に挿入することで、移動度補正期間内にドライブトランジスタTrdのゲートGに容量カップリングを入れ、全階調における移動度の差異をなくして均一化を図っている。これによりパネルの歩留りを改善することが出来る。   FIG. 9 is a circuit diagram showing an improved example of the pixel circuit incorporated in the display device shown in FIG. In order to facilitate understanding, parts corresponding to those of the preceding development example shown in FIG. This improvement example is an improvement of the prior development example shown in FIG. Specifically, an additional capacitor Cgd is inserted between the gate G and the drain D of the drive transistor Trd. By inserting the additional capacitor Cgd between the gate G and the drain D of the drive transistor Trd, a capacitive coupling is inserted into the gate G of the drive transistor Trd within the mobility correction period, and the difference in mobility in all gradations. To achieve uniformization. Thereby, the yield of the panel can be improved.

図10は、図9に示した改善例で得られたVsig−Ids特性カーブを示すグラフである。比較を容易にするため、図8に示した先行開発例のグラフと図10に示した改善例のグラフは、パラメータを同じに設定してある。図10のグラフから明らかなように、この改善例では、付加容量Cgdを挿入し、移動度補正動作中ドライブトランジスタのゲートGにカップリングを入れることで、移動度補正最適時間はほぼt=1.0usになっている。t=1.0usに設定すると、移動度μの大小にかかわらず、出力電流Idsは0V〜6Vの全階調範囲にわたってほとんど差がない。この様に、付加容量Cgdの容量値を最適に設定することで、全階調における移動度のばらつきをほぼ完全に吸収可能である。   FIG. 10 is a graph showing a Vsig-Ids characteristic curve obtained in the improved example shown in FIG. In order to facilitate comparison, the parameters of the graph of the prior development example shown in FIG. 8 and the graph of the improvement example shown in FIG. 10 are set to be the same. As is apparent from the graph of FIG. 10, in this improved example, by inserting the additional capacitor Cgd and coupling the gate G of the drive transistor during the mobility correction operation, the mobility correction optimum time is approximately t = 1. 0us. When t = 1.0 us, the output current Ids has almost no difference over the entire gradation range of 0V to 6V regardless of the mobility μ. In this way, by setting the capacitance value of the additional capacitor Cgd optimally, it is possible to absorb the variation in mobility in all gradations almost completely.

しかしながら図10の改善例は付加容量Cgdを挿入することで、ブートストラップ動作に悪影響を与えており、この副作用が問題となっている。図11は、タイミングT7における画素回路2の状態を示す回路図である。前述したようにタイミングT7ではサンプリングトランジスタTr1がオフするため、画素容量Cs及びドライブトランジスタTrdは信号線SL側から切り離される。この状態でドライブトランジスタTrdは出力電流Idsを発光素子ELに供給し始め、発光期間に入る。まず最初にタイミングT7でブートストラップ動作が生じ、ドライブトランジスタTrdのソースSの電位が上昇し始める。これと連動してゲートGの電位も上昇する。理想的なブートストラップ動作では画素容量Csに保持されたゲートG/ソースS間電圧Vgsが一定に保持されたまま、ソース電位が上昇し、発光素子ELの閾電圧を上回ったところで発光が開始する。仮に付加容量CgdがないとドライブトランジスタTrdのゲート電位はハイインピーダンスとなり、ほぼ100%のゲインでブートストラップ動作が行われる。しかしながら、ゲートGとドレインDとの間に付加容量Cgdが接続されていると、ドライブトランジスタのゲートGがハイインピーダンスとならず、ブートストラップゲインが低下する。これにより発光素子ELの特性劣化が見えてしまうという副作用がある。特に、表示装置の高画質化に伴い発光素子を高輝度化した場合、これに合わせて付加容量Cgdを大型化する必要がある。Cgdを大型化するとその容量値がブートストラップ動作に深刻な悪影響を与え、解決する必要がある。   However, the improved example of FIG. 10 has an adverse effect on the bootstrap operation by inserting the additional capacitor Cgd, and this side effect is a problem. FIG. 11 is a circuit diagram showing the state of the pixel circuit 2 at the timing T7. As described above, since the sampling transistor Tr1 is turned off at the timing T7, the pixel capacitor Cs and the drive transistor Trd are disconnected from the signal line SL side. In this state, the drive transistor Trd starts to supply the output current Ids to the light emitting element EL, and enters the light emission period. First, a bootstrap operation occurs at timing T7, and the potential of the source S of the drive transistor Trd begins to rise. In conjunction with this, the potential of the gate G also rises. In an ideal bootstrap operation, the gate potential Ggs held in the pixel capacitor Cs is kept constant, the source potential rises, and light emission starts when the threshold voltage of the light emitting element EL is exceeded. . If there is no additional capacitor Cgd, the gate potential of the drive transistor Trd becomes high impedance, and the bootstrap operation is performed with a gain of almost 100%. However, if the additional capacitor Cgd is connected between the gate G and the drain D, the gate G of the drive transistor does not become high impedance, and the bootstrap gain is reduced. As a result, there is a side effect that the characteristic deterioration of the light emitting element EL becomes visible. In particular, when the luminance of the light emitting element is increased in accordance with the improvement in the image quality of the display device, it is necessary to increase the size of the additional capacitor Cgd accordingly. When Cgd is increased in size, the capacitance value has a serious adverse effect on the bootstrap operation and needs to be solved.

図12は、本発明にかかる画素回路を示す回路図である。本画素回路は図10に示した改善例の画素回路をさらに改良するものであり、出力の輝度が大きなパネルにおいてもブートストラップゲインを低下させることなく全階調に渡って最適移動度補正期間を均一化可能な画素回路を提供するものである。理解を容易にするため、図10に示した改善例と対応する部分には対応する参照番号を付してある。異なる点は、付加容量CgdとドライブトランジスタTrdのドレインDとの間に追加のスイッチングトランジスタTr6を介在させたことである。このスイッチングトランジスタTr6のゲートは走査線WSに接続されている。したがってこの追加のスイッチングトランジスタTr6はサンプリングトランジスタTr1とまったく同じタイミングで、ライトスキャナ4によりオンオフ制御される。スイッチングトランジスタTr6は、移動度補正手段が動作するときにはオン状態にあり、付加容量CgdをドライブトランジスタTrdのゲートGとドレインDの間に挿入し、以って移動度補正手段の動作を適正化している。このスイッチングトランジスタTr6は、ドライブトランジスタTrdが発光素子ELの駆動を開始するときにはオフして、付加容量CgdをドライブトランジスタTrdのゲートGとドレインD間から切り離し、発光素子ELの発光開始に伴って行われる画素容量Csのブートストラップ動作を適正化している。付加容量Cgdは、映像信号Vsigの白レベルから黒レベルの間の各階調レベルで、発光素子ELの輝度が最適となるように、その容量値が設定されている。付加容量Cgdは、発光素子ELの高輝度化に伴って大型化されており、その容量値が画素容量Csのブートストラップ動作のゲインの低下が生じる程度に設定されている。スイッチングトランジスタTr6は、この大型化された付加容量CgdをドライブトランジスタTrdのゲートGとドレインD間から切り離して、ブートストラップ動作のゲイン低下を防止する。スイッチングトランジスタTr6は、サンプリングトランジスタTr1に印加される制御信号WSと同じ制御信号WSでオン/オフ制御され、サンプリング期間には付加容量CgdをドライブトランジスタTrdのドレインDとゲートG間に挿入し、発光期間には付加容量CgdをドライブトランジスタTrdのドレインDとゲートG間から切り離す。   FIG. 12 is a circuit diagram showing a pixel circuit according to the present invention. This pixel circuit further improves the pixel circuit of the improvement example shown in FIG. 10, and an optimum mobility correction period is set for all gradations without reducing the bootstrap gain even in a panel having a large output luminance. A pixel circuit that can be made uniform is provided. In order to facilitate understanding, portions corresponding to the improved example shown in FIG. 10 are denoted by corresponding reference numerals. The difference is that an additional switching transistor Tr6 is interposed between the additional capacitor Cgd and the drain D of the drive transistor Trd. The gate of the switching transistor Tr6 is connected to the scanning line WS. Therefore, the additional switching transistor Tr6 is ON / OFF controlled by the write scanner 4 at exactly the same timing as the sampling transistor Tr1. The switching transistor Tr6 is in an on state when the mobility correcting unit operates, and an additional capacitor Cgd is inserted between the gate G and the drain D of the drive transistor Trd to optimize the operation of the mobility correcting unit. Yes. The switching transistor Tr6 is turned off when the drive transistor Trd starts to drive the light emitting element EL, disconnects the additional capacitor Cgd from between the gate G and the drain D of the drive transistor Trd, and is activated when the light emitting element EL starts to emit light. The bootstrap operation of the pixel capacitor Cs is optimized. The capacitance of the additional capacitor Cgd is set so that the luminance of the light emitting element EL is optimal at each gradation level between the white level and the black level of the video signal Vsig. The additional capacitance Cgd is increased in size with the increase in luminance of the light emitting element EL, and the capacitance value is set to such an extent that the gain of the bootstrap operation of the pixel capacitance Cs is reduced. The switching transistor Tr6 separates the enlarged additional capacitor Cgd from between the gate G and the drain D of the drive transistor Trd to prevent a gain reduction in the bootstrap operation. The switching transistor Tr6 is ON / OFF controlled by the same control signal WS as the control signal WS applied to the sampling transistor Tr1, and an additional capacitor Cgd is inserted between the drain D and the gate G of the drive transistor Trd during the sampling period to emit light. During the period, the additional capacitor Cgd is disconnected from the drain D and the gate G of the drive transistor Trd.

この様に本発明の画素回路では移動度補正期間中スイッチングトランジスタTr6がオンしており、図10の改善例と同様にドレイン電圧の変化が付加容量Cgdを介してゲート電圧にカップリングされ、全階調にわたって最適移動度補正期間を均一化している。制御信号WSがオフするとサンプリングトランジスタTr1が非導通状態となり、ドライブトランジスタTrdのゲート電位がハイインピーダンスになって、ブートストラップ動作が開始する。このときスイッチングトランジスタTr6は同じ制御信号WSに応答してオフになっている。このため付加容量Cgdはハイインピーダンスとなり、ブートストラップ動作時には付加容量Cgdは見えなくなる。よってブートストラップゲインはCgdを含まなくなり、ゲインが低下することを抑制できる。   As described above, in the pixel circuit of the present invention, the switching transistor Tr6 is turned on during the mobility correction period, and the change of the drain voltage is coupled to the gate voltage via the additional capacitor Cgd as in the improved example of FIG. The optimum mobility correction period is made uniform over the gradation. When the control signal WS is turned off, the sampling transistor Tr1 is turned off, the gate potential of the drive transistor Trd becomes high impedance, and the bootstrap operation is started. At this time, the switching transistor Tr6 is turned off in response to the same control signal WS. For this reason, the additional capacitor Cgd becomes high impedance, and the additional capacitor Cgd becomes invisible during the bootstrap operation. Therefore, the bootstrap gain does not include Cgd, and the gain can be suppressed from decreasing.

図13は、図12に示した本発明にかかる画素回路の動作説明に供するタイミングチャートである。理解を容易にするため、図4に示した先行開発例にかかるタイミングチャートと対応する部分には対応する参照番号を付してある。本画素回路の動作はタイミングT1からT8にわたって基本的に先行開発例の画素回路と同じである。異なる点は、移動度補正期間T6−T7では、付加容量CgdがドライブトランジスタのゲートGとドレインDとの間に挿入されているため、ドライブトランジスタTrdのゲート電位(G)が僅かではあるが変動することである。この移動度補正期間T6−T7では、ドライブトランジスタTrdの移動度μに応じた補正分ΔVが、画素容量Csに書き込まれた映像信号Vsigから差し引かれる。この後タイミングT7になるとブートストラップ動作が開始するが、このときには付加容量CgdがドライブトランジスタTrdのゲートGから切り離されている。したがって、何らゲインの損出なく、ブートストラップ動作を行うことが出来る。   FIG. 13 is a timing chart for explaining the operation of the pixel circuit according to the present invention shown in FIG. For easy understanding, portions corresponding to those in the timing chart according to the preceding development example shown in FIG. 4 are given corresponding reference numbers. The operation of this pixel circuit is basically the same as that of the pixel circuit of the preceding development example from timing T1 to T8. The difference is that in the mobility correction period T6-T7, the additional capacitor Cgd is inserted between the gate G and the drain D of the drive transistor, so that the gate potential (G) of the drive transistor Trd varies slightly. It is to be. In this mobility correction period T6-T7, the correction amount ΔV corresponding to the mobility μ of the drive transistor Trd is subtracted from the video signal Vsig written in the pixel capacitor Cs. Thereafter, the bootstrap operation starts at timing T7. At this time, the additional capacitor Cgd is disconnected from the gate G of the drive transistor Trd. Therefore, the bootstrap operation can be performed without any gain loss.

図14は、移動度補正期間T6−T7における本発明の画素回路2の状態を示す回路図である。図示する様に、サンプリングトランジスタTr1、スイッチングトランジスタTr4及び追加のスイッチングトランジスタTr6が全て導通した状態で、移動度補正が行われる。ドライブトランジスタTrdから供給されたドレイン電流Idsは発光素子ELが逆バイアスとなっているため、発光素子ELには流れ込まない。発光素子容量Coledと画素容量Csを充電することになるが、その量は移動度μに対応している。したがってこの動作によりドライブトランジスタTrdの移動度μを補正できる。その際ドライブトランジスタTrdのゲートにCgdのカップリングを入れることで、移動度補正最適時間を全階調にわたって同一に設定できる。   FIG. 14 is a circuit diagram showing a state of the pixel circuit 2 of the present invention in the mobility correction period T6-T7. As illustrated, mobility correction is performed in a state where the sampling transistor Tr1, the switching transistor Tr4, and the additional switching transistor Tr6 are all conductive. The drain current Ids supplied from the drive transistor Trd does not flow into the light emitting element EL because the light emitting element EL is reverse biased. The light emitting element capacitance Coled and the pixel capacitance Cs are charged, and the amounts correspond to the mobility μ. Therefore, the mobility μ of the drive transistor Trd can be corrected by this operation. At this time, by inserting Cgd coupling into the gate of the drive transistor Trd, the mobility correction optimum time can be set to be the same over all gradations.

図15は、タイミングJ7における本発明の画素回路の状態を示す回路図である。発光期間の開始になるタイミングT7では、スイッチングトランジスタTr6がオンからオフに切換る。これにより付加容量Cgdはハイインピーダンスとなり、ブートストラップ動作時には見えなくなる。よってブートストラップゲインはCgdを含まなくなり、ゲインが低下することが防げる。   FIG. 15 is a circuit diagram showing the state of the pixel circuit of the present invention at the timing J7. At timing T7 when the light emission period starts, the switching transistor Tr6 is switched from on to off. As a result, the additional capacitor Cgd becomes high impedance and is not visible during the bootstrap operation. Therefore, the bootstrap gain does not include Cgd, and the gain can be prevented from decreasing.

図15は、図12に示した本発明にかかる画素回路の変形例を示す回路図である。理解を容易にするため対応する部分には対応する参照番号を付してある。異なる点は、スイッチングトランジスタTr6が付加容量CgdとドライブトランジスタTrdのゲートGとの間に接続されていることである。このスイッチングトランジスタTr6のゲートは走査線WSに接続されている。したがって、図15に示した変形例にかかる画素回路は、図12に示した本発明にかかる画素回路とまったく同様のシーケンスにしたがって動作する。   FIG. 15 is a circuit diagram showing a modification of the pixel circuit according to the present invention shown in FIG. Corresponding parts are given corresponding reference numbers for ease of understanding. The difference is that the switching transistor Tr6 is connected between the additional capacitor Cgd and the gate G of the drive transistor Trd. The gate of the switching transistor Tr6 is connected to the scanning line WS. Therefore, the pixel circuit according to the modification shown in FIG. 15 operates in the same sequence as the pixel circuit according to the present invention shown in FIG.

本発明にかかる表示装置の全体構成を示す模式的なブロック図である。It is a typical block diagram which shows the whole structure of the display apparatus concerning this invention. 図1に示した表示装置に組み込まれる画素回路の先行開発例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the prior development example of the pixel circuit integrated in the display apparatus shown in FIG. 先行開発例の画素回路の動作説明に供する模式図である。It is a schematic diagram with which it uses for operation | movement description of the pixel circuit of a prior development example. 同じく先行開発例の動作説明に供するタイミングチャートである。It is a timing chart similarly provided for operation | movement description of a prior development example. 同じく先行開発例の動作説明に供する回路図である。It is a circuit diagram with which it uses for operation | movement description of a prior development example similarly. 同じく先行開発例の動作説明に供するグラフである。It is a graph similarly provided for operation | movement description of a prior development example. 同じく先行開発例の動作説明に供する回路図である。It is a circuit diagram with which it uses for operation | movement description of a prior development example similarly. 同じく先行開発例の動作説明に供するグラフである。It is a graph similarly provided for operation | movement description of a prior development example. 図1に示した表示装置に組み込まれる画素回路の改善例を示す回路図である。It is a circuit diagram which shows the example of improvement of the pixel circuit integrated in the display apparatus shown in FIG. 改善例にかかる画素回路の動作説明に供するグラフである。It is a graph with which it uses for operation | movement description of the pixel circuit concerning the example of improvement. 同じく改善例の動作説明に供する回路図である。It is a circuit diagram with which it uses for operation | movement description of an improvement example similarly. 図1に示した表示装置に組み込まれる本発明の画素回路の実施形態を示す回路図である。FIG. 2 is a circuit diagram showing an embodiment of a pixel circuit of the present invention incorporated in the display device shown in FIG. 1. 図12に示した実施形態の動作説明に供するタイミングチャートである。It is a timing chart with which it uses for operation | movement description of embodiment shown in FIG. 同じく実施形態の動作説明に供する回路図である。It is a circuit diagram with which it uses for operation | movement description of embodiment similarly. 同じく実施形態の動作説明に供する回路図である。It is a circuit diagram with which it uses for operation | movement description of embodiment similarly. 本発明にかかる画素回路の他の実施形態を示す回路である。It is a circuit which shows other embodiment of the pixel circuit concerning this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・画素アレイ、2・・・画素回路、3・・・水平セレクタ、4・・・ライトスキャナ、5・・・ドライブスキャナ、71・・・第1補正用スキャナ、72・・・第2補正用スキャナ、Tr1・・・サンプリングトランジスタ、Tr2・・・スイッチングトランジスタ、Tr3・・・スイッチングトランジスタ、Tr4・・・スイッチングトランジスタ、Tr6・・・スイッチングトランジスタ、Trd・・・ドライブトランジスタ、Cs・・・画素容量、Cgd・・・付加容量、EL・・・発光素子 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Pixel array, 2 ... Pixel circuit, 3 ... Horizontal selector, 4 ... Write scanner, 5 ... Drive scanner, 71 ... 1st correction scanner, 72 ... 1st 2 correction scanner, Tr1 ... sampling transistor, Tr2 ... switching transistor, Tr3 ... switching transistor, Tr4 ... switching transistor, Tr6 ... switching transistor, Trd ... drive transistor, Cs.・ Pixel capacitance, Cgd ... additional capacitance, EL ... light emitting element

Claims (6)

制御信号を供給する行状の走査線と映像信号を供給する列状の信号線とが交差する部分に配され、少なくともサンプリングトランジスタと、これに接続する画素容量と、これに接続するドライブトランジスタと、これに接続する発光素子とを含み、
前記サンプリングトランジスタは、所定のサンプリング期間に走査線から供給される制御信号に応じ導通して信号線から供給された映像信号を該画素容量にサンプリングし、
前記画素容量は、該サンプリングされた映像信号に応じて該ドライブトランジスタのゲートとソース間に入力電圧を印加し、
前記ドライブトランジスタは、所定の発光期間中該入力電圧に応じた出力電流を該発光素子に供給し、該出力電流は該ドライブトランジスタのチャネル領域のキャリア移動度に対して依存性を有し、
前記発光素子は、該ドライブトランジスタから供給された出力電流により該映像信号に応じた輝度で発光する画素回路において、
該出力電流のキャリア移動度に対する依存性を打ち消すために、該画素容量に保持された該入力電圧を補正する補正手段を備えており、
前記補正手段は走査線から供給される制御信号に応じて該サンプリング期間の一部で動作し、該映像信号がサンプリングされている状態で該ドライブトランジスタから出力電流を取り出し、これを該画素容量に負帰還して該入力電圧を補正し、
該ドライブトランジスタのゲートとドレインの間に接続された付加容量及びスイッチングトランジスタを備えており、
前記スイッチングトランジスタは、該補正手段が動作する時にはオン状態にあり、該付加容量を該ドライブトランジスタのゲートとドレインの間に挿入し、以って該補正手段の動作を適正化する一方、
前記スイッチングトランジスタは、該ドライブトランジスタが該発光素子の駆動を開始するときにはオフして該付加容量を該ドライブトランジスタのゲートとドレイン間から切り離し、該発光素子の発光開始に伴って行われる該画素容量のブートストラップ動作を適正化することを特徴とする画素回路。
A row-shaped scanning line for supplying a control signal and a column-shaped signal line for supplying a video signal are arranged at a crossing portion, at least a sampling transistor, a pixel capacitor connected thereto, a drive transistor connected thereto, Including a light emitting element connected thereto,
The sampling transistor conducts according to a control signal supplied from a scanning line during a predetermined sampling period and samples a video signal supplied from the signal line into the pixel capacitor,
The pixel capacitor applies an input voltage between the gate and the source of the drive transistor according to the sampled video signal,
The drive transistor supplies an output current corresponding to the input voltage to the light emitting element during a predetermined light emission period, and the output current has dependency on carrier mobility in a channel region of the drive transistor,
In the pixel circuit that emits light with luminance according to the video signal by the output current supplied from the drive transistor,
In order to cancel the dependence of the output current on the carrier mobility, a correction means for correcting the input voltage held in the pixel capacitor is provided.
The correction means operates in a part of the sampling period in accordance with a control signal supplied from a scanning line, takes out an output current from the drive transistor in a state where the video signal is sampled, and uses this as a pixel capacitance. Negative feedback to correct the input voltage,
An additional capacitor connected between the gate and drain of the drive transistor and a switching transistor;
The switching transistor is in an on state when the correction means operates, and the additional capacitor is inserted between the gate and drain of the drive transistor, thereby optimizing the operation of the correction means.
The switching transistor is turned off when the drive transistor starts to drive the light emitting element, disconnects the additional capacitance from between the gate and drain of the drive transistor, and the pixel capacitance is performed in accordance with the start of light emission of the light emitting element. A pixel circuit characterized by optimizing the bootstrap operation.
前記付加容量は、該映像信号の白レベルから黒レベルの間の各階調レベルで、該発光素子の輝度が適正となるように、その容量値が設定されていることを特徴とする請求項1記載の画素回路。   The capacitance value of the additional capacitor is set so that the luminance of the light emitting element is appropriate at each gradation level between the white level and the black level of the video signal. The pixel circuit described. 前記付加容量は、該発光素子の高輝度化に伴って大型化されており、その容量値が該画素容量のブートストラップ動作のゲインの低下が生じる程度に設定されており、
前記スイッチングトランジスタは、該付加容量を該ドライブトランジスタのゲートとドレイン間から切り離して、該ブートストラップ動作のゲイン低下を防止することを特徴とする請求項2記載の画素回路。
The additional capacitor is increased in size with the increase in luminance of the light emitting element, and the capacitance value is set to such an extent that the gain of the bootstrap operation of the pixel capacitor is reduced.
3. The pixel circuit according to claim 2, wherein the switching transistor separates the additional capacitor from a gate and a drain of the drive transistor to prevent a gain reduction in the bootstrap operation.
前記スイッチングトランジスタは、該サンプリングトランジスタに印加される制御信号と同じ制御信号でオン/オフ制御され、該サンプリング期間には該付加容量を該ドライブトランジスタのドレインとゲート間に挿入し、該発光期間には該付加容量を該ドライブトランジスタのドレインとゲート間から切り離すことを特徴とする請求項1記載の画素回路。   The switching transistor is ON / OFF controlled by the same control signal as the control signal applied to the sampling transistor, and the additional capacitor is inserted between the drain and gate of the drive transistor during the sampling period. 2. The pixel circuit according to claim 1, wherein the additional capacitor is separated from a drain and a gate of the drive transistor. 前記ドライブトランジスタは、その出力電流がチャネル領域のキャリア移動度に加え閾電圧に対しても依存性を有し、
前記補正手段は、該出力電流の閾電圧に対する依存性を打ち消すために、あらかじめサンプリング期間に先立って該ドライブトランジスタの閾電圧を検出し、且つ該検出された閾電圧を該入力電圧に足し込む様にしたことを特徴とする請求項1記載の画素回路。
The drive transistor has an output current dependent on the threshold voltage in addition to the carrier mobility of the channel region,
In order to cancel the dependence of the output current on the threshold voltage, the correction means detects the threshold voltage of the drive transistor in advance prior to the sampling period, and adds the detected threshold voltage to the input voltage. The pixel circuit according to claim 1, wherein
画素アレイ部とスキャナ部と信号部とを含み、
前記画素アレイ部は、行状に配された走査線と列状に配された信号線と両者が交差する部分に配された行列状の画素とからなり、
前記信号部は、該信号線に映像信号を供給し、
前記スキャナ部は、該走査線に制御信号を供給して順次行ごとに画素を走査し、
各画素は、少なくともサンプリングトランジスタと、これに接続する容量部と、これに接続するドライブトランジスタと、これに接続する発光素子とを含み、
前記サンプリングトランジスタは、所定のサンプリング期間に走査線から供給される制御信号に応じ導通して信号線から供給された映像信号を該容量部にサンプリングし、
前記容量部は、該サンプリングされた映像信号に応じて該ドライブトランジスタのゲートとソース間に入力電圧を印加し、
前記ドライブトランジスタは、所定の発光期間中該入力電圧に応じた出力電流を該発光素子に供給し、該出力電流は該ドライブトランジスタのチャネル領域のキャリア移動度に対して依存性を有し、
前記発光素子は、該ドライブトランジスタから供給された出力電流により該映像信号に応じた輝度で発光する表示装置において、
各画素は、該ドライブトランジスタの出力電流のキャリア移動度に対する依存性を打ち消すために、あらかじめ該発光期間の前又は先頭で該容量部に保持された該入力電圧を補正する補正手段を備えており、
前記補正手段は走査線から供給される制御信号に応じて該サンプリング期間の一部で動作し、該映像信号がサンプリングされている状態で該ドライブトランジスタから出力電流を取り出し、これを該容量部に負帰還して該入力電圧を補正し、
又各画素は、該ドライブトランジスタのゲートとドレインの間に接続された付加容量及びスイッチングトランジスタを備えており、
前記スイッチングトランジスタは、該補正手段が動作する時にはオン状態にあり、該付加容量を該ドライブトランジスタのゲートとドレインに挿入し、以って該補正手段の動作を適正化する一方、
前記スイッチングトランジスタは、該ドライブトランジスタが該発光素子の駆動を開始するときにはオフして該付加容量を該ドライブトランジスタのゲートとドレイン間から切り離し、該発光素子の発光開始に伴って行われる該画素容量のブートストラップ動作を適正化することを特徴とする表示装置。
Including a pixel array unit, a scanner unit, and a signal unit,
The pixel array section includes scanning lines arranged in rows and signal lines arranged in columns, and matrix-like pixels arranged in a portion where both intersect,
The signal unit supplies a video signal to the signal line,
The scanner unit supplies a control signal to the scanning line to sequentially scan pixels for each row,
Each pixel includes at least a sampling transistor, a capacitor connected to the sampling transistor, a drive transistor connected to the capacitor, and a light emitting element connected thereto.
The sampling transistor conducts according to a control signal supplied from a scanning line during a predetermined sampling period and samples a video signal supplied from the signal line into the capacitor unit,
The capacitor unit applies an input voltage between the gate and the source of the drive transistor according to the sampled video signal,
The drive transistor supplies an output current corresponding to the input voltage to the light emitting element during a predetermined light emission period, and the output current has dependency on carrier mobility in a channel region of the drive transistor,
In the display device that emits light with luminance according to the video signal by the output current supplied from the drive transistor,
Each pixel includes correction means for correcting the input voltage held in the capacitor unit in advance before or at the beginning of the light emission period in order to cancel the dependence of the output current of the drive transistor on the carrier mobility. ,
The correction means operates in a part of the sampling period in response to a control signal supplied from a scanning line, takes out an output current from the drive transistor in a state where the video signal is sampled, and supplies the output current to the capacitor unit. Negative feedback to correct the input voltage,
Each pixel includes an additional capacitor and a switching transistor connected between the gate and drain of the drive transistor.
The switching transistor is in an on state when the correction means operates, and the additional capacitor is inserted into the gate and drain of the drive transistor, thereby optimizing the operation of the correction means,
The switching transistor is turned off when the drive transistor starts to drive the light emitting element, disconnects the additional capacitance from between the gate and drain of the drive transistor, and the pixel capacitance is performed in accordance with the start of light emission of the light emitting element. A display device characterized by optimizing the bootstrap operation.
JP2005328335A 2005-11-14 2005-11-14 Pixel circuit and display device Expired - Fee Related JP4918983B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005328335A JP4918983B2 (en) 2005-11-14 2005-11-14 Pixel circuit and display device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005328335A JP4918983B2 (en) 2005-11-14 2005-11-14 Pixel circuit and display device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007133283A true JP2007133283A (en) 2007-05-31
JP4918983B2 JP4918983B2 (en) 2012-04-18

Family

ID=38154981

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005328335A Expired - Fee Related JP4918983B2 (en) 2005-11-14 2005-11-14 Pixel circuit and display device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4918983B2 (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007171827A (en) * 2005-12-26 2007-07-05 Sony Corp Pixel circuit and display apparatus
US20100289788A1 (en) * 2009-05-15 2010-11-18 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus
KR101029502B1 (en) 2008-06-30 2011-04-18 캐논 가부시끼가이샤 Drive circuit
US8242981B2 (en) 2008-03-31 2012-08-14 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Pixel and organic light emitting display using the same
US8289245B2 (en) 2008-07-31 2012-10-16 Sony Corporation Display device, method for driving the same, and electronic device

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003058106A (en) * 2001-08-09 2003-02-28 Nec Corp Driving circuit for display device
JP2003186437A (en) * 2001-12-18 2003-07-04 Sanyo Electric Co Ltd Display device
JP2004341444A (en) * 2003-05-19 2004-12-02 Sony Corp Pixel circuit, display device, and method for driving pixel circuit
JP2005027028A (en) * 2003-07-02 2005-01-27 Yamaha Corp Digital filter
JP2005189643A (en) * 2003-12-26 2005-07-14 Sony Corp Display device and method for driving display device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003058106A (en) * 2001-08-09 2003-02-28 Nec Corp Driving circuit for display device
JP2003186437A (en) * 2001-12-18 2003-07-04 Sanyo Electric Co Ltd Display device
JP2004341444A (en) * 2003-05-19 2004-12-02 Sony Corp Pixel circuit, display device, and method for driving pixel circuit
JP2005027028A (en) * 2003-07-02 2005-01-27 Yamaha Corp Digital filter
JP2005189643A (en) * 2003-12-26 2005-07-14 Sony Corp Display device and method for driving display device

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007171827A (en) * 2005-12-26 2007-07-05 Sony Corp Pixel circuit and display apparatus
US8242981B2 (en) 2008-03-31 2012-08-14 Samsung Mobile Display Co., Ltd. Pixel and organic light emitting display using the same
KR101029502B1 (en) 2008-06-30 2011-04-18 캐논 가부시끼가이샤 Drive circuit
US8289245B2 (en) 2008-07-31 2012-10-16 Sony Corporation Display device, method for driving the same, and electronic device
US9041631B2 (en) 2008-07-31 2015-05-26 Sony Corporation Display device, method for driving the same, and electronic device
US20100289788A1 (en) * 2009-05-15 2010-11-18 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus
US8553023B2 (en) 2009-05-15 2013-10-08 Seiko Epson Corporation Electro-optical device and electronic apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JP4918983B2 (en) 2012-04-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4923410B2 (en) Pixel circuit and display device
JP5245195B2 (en) Pixel circuit
JP4923527B2 (en) Display device and driving method thereof
JP4923505B2 (en) Pixel circuit and display device
JP4168290B2 (en) Display device
JP4240068B2 (en) Display device and driving method thereof
JP4983018B2 (en) Display device and driving method thereof
JP4151714B2 (en) Display device and driving method thereof
JP4203770B2 (en) Image display device
JP5130667B2 (en) Display device
JP4929891B2 (en) Display device
JP2008046427A (en) Image display device
JP2007148128A (en) Pixel circuit
JP2007148129A (en) Display apparatus and driving method thereof
JP2007156460A (en) Display device and driving method thereof
JP4918983B2 (en) Pixel circuit and display device
JP2009163275A (en) Pixel circuit, driving method for pixel circuit, display device, and driving method for display device
JP2007316453A (en) Image display device
JP2008026468A (en) Image display device
JP4967336B2 (en) Pixel circuit and display device
JP4747528B2 (en) Pixel circuit and display device
JP4930547B2 (en) Pixel circuit and driving method of pixel circuit
JP5477359B2 (en) Display device
JP5027755B2 (en) Display device and driving method thereof
JP2012088724A (en) Pixel circuit and display

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081031

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090212

RD05 Notification of revocation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7425

Effective date: 20090226

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110802

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110922

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120105

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120118

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150210

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees