JP2007123872A - リソグラフィ装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】この高さ検出装置は、リソグラフィ装置の放射線ビーム内に置かれる対象物の上面の少なくとも1つの高さマップを作成する高さマップ作成ユニットを含み、対象物は、対象物に印加される保持力によって、対象物を支持するように構成された支持体上に保持される。高さ検出装置は、少なくとも2つの異なる保持圧力レベルに対して対象物の少なくとも1つの高さマップを作成するように高さマップ作成ユニットを制御する制御ユニットも備えている。
【選択図】図1
Description
5 高さマップ作成ユニット
6 高さマップ
7 対象物
8 クランプ
9 支持構造
10 制御ユニット
Claims (19)
- リソグラフィ装置用の高さ検出装置であって、
リソグラフィ装置の放射線ビーム内に置かれる対象物の上面の少なくとも1つの高さマップを作成する高さマップ作成ユニットであって、前記対象物に印加されるクランプ力によって、前記対象物を支持するように構成された支持構造上に前記対象物がクランプされる、マップ作成ユニットと、
少なくとも2つの異なるクランプ圧力レベルに対して前記対象物の少なくとも1つの高さマップを作成するようにマップ作成ユニットを制御する制御ユニットと、
を有する高さ検出装置。 - 前記高さマップ作成ユニットが、第1のクランプ圧力レベルで第1の高さマップを作成し且つ第2のクランプ圧力レベルで第2の高さマップを作成する処理回路を有し、前記第2のクランプ圧力レベルが前記第1のクランプ圧力レベルより小さく、前記高さマップ作成ユニットが前記対象物上の不純物および前記支持構造上の不純物のうちの一方または両方を、前記第2のクランプ圧力レベルで検出する、請求項1に記載の高さ検出装置。
- 前記処理回路が、前記対象物の前記上面の相対的な高さ変動を検出するために前記第1の高さマップと前記第2の高さマップとの差を算出するための減算回路を備えている、請求項2に記載の高さ検出装置。
- 複数のクランプ圧力レベルから得られる複数の高さマップを作成するための処理回路であって、メモリを備え、前記メモリに記憶されている前記複数の高さマップに基づいて差分高さマップおよび差分剛性マップの一方または両方を算出するようになっている処理回路をさらに有する、請求項3に記載の高さ検出装置。
- 前記高さマップ作成ユニットは局所的な高さ変動からウェーハの局所剛性変動を導き出すように構成され、前記高さマップ作成ユニットは前記剛性変動を不純物の位置および大きさに関連づけるユニットを有する、請求項1に記載の高さ検出装置。
- 所定の値より高い剛性を有する不純物は、前記支持構造上にクランプされる前記対象物の裏面に存在するものと特定される、請求項1に記載の高さ検出装置。
- 所定の値より低い剛性を有する不純物は、投影装置に面する前記対象物の上面に存在するものと特定される、請求項1に記載の高さ検出装置。
- 前記高さ検出装置が前記クランプ力を前記支持構造および前記対象物に印加するためのクランプを有し、前記対象物および前記クランプの一方または両方が、前記少なくとも2つの異なるクランプ圧力レベルでクランプ圧力を提供するように構成されている、請求項1に記載の高さ検出装置。
- 前記クランプが真空クランプであり、前記対象物が所定のリークレートを許容する平坦な対象物である、請求項8に記載の高さ検出装置。
- 前記クランプが静電クランプである、請求項8に記載の高さ検出装置。
- 少なくとも1つのクランプ圧力レベルが通常の操作クランプ圧力レベルと比べて弱い、請求項8に記載の高さ検出装置。
- 放射線ビーム内に対象物を支持するように構成された支持構造と、
前記対象物を前記支持構造にクランプするためのクランプと、
前記対象物の上面の少なくとも1つの高さマップを作成するための高さマップ作成ユニットと、
通常の操作クランプ圧力レベルと比べて弱いクランプ圧力レベルに対して前記対象物の前記少なくとも1つの高さマップを作成するように前記高さマップ作成ユニットを制御するための制御ユニットと、
を有するリソグラフィ装置。 - 真空支持構造と、
所定の範囲内の平坦度許容誤差を有する所定の平坦な基板であって、前記真空支持構造にクランプされるように構成され、前記クランプ圧力を弱めるためにリークしているように構成された平坦な基板と、
をさらに有する、請求項12に記載のリソグラフィ装置。 - リソグラフィ装置の放射線ビーム内に対象物を支持するように構成された支持構造上に前記対象物を載置し、
通常の操作クランプ圧力と比べて弱いレベルで前記対象物を前記支持構造上にクランプするためのクランプ圧力を提供し、
前記弱いクランプ圧力レベルで検出可能な不純物を検出するために前記対象物の上面の高さマップを作成する、
ことを含む、不純物検出方法。 - 前記弱いクランプ圧力レベルが通常の操作クランプ圧力レベルの70%未満である、請求項14に記載の方法。
- 前記弱いクランプ圧力レベルが、周囲圧力より0〜450mbar(0〜450hPa)小さい真空圧力レベルによって提供される、請求項15に記載の方法。
- 前記弱いクランプ圧力レベルが、周囲圧力より約50mbar(50hPa)小さい真空圧力レベルによって提供される、請求項15に記載の方法。
- 前記高さマップが平板を通じて検出可能である、請求項17に記載の方法。
- 前記平板が透明であり、前記支持構造に対して前記平板を水平にするためのレベリング機構を有し、前記レベリング機構は前記平板と弱いクランプ圧力レベルで監視される対象物との間の高さ差を調節するように調節可能である、請求項18に記載の方法。
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