JP2007115434A - 質量分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】試料をイオン化するイオン化部10、試料イオンを質量分離する質量分離部40、60、質量分離されたイオンを検出する検出部20、及び前記イオン化部10から質量分離部40,60を経て検出部20に至るまでのイオン経路上に設けられた衝突部(コリジョンセル)51を有する質量分析装置において、所定の原子又は分子のクラスターを生成するクラスター生成装置30を設け、該クラスター生成装置30によって生成されたクラスターを衝突部51に導入する。CIDにおける標的ガスとして質量数の大きなクラスターを用いることで、試料イオンの衝突エネルギーを効率よく該イオンの分解に用いることができる。
【選択図】図1
Description
20…検出器
30…クラスター生成装置
31…ガス供給部
32…スキマー
40…第1段四重極
50…第2段四重極
51…コリジョンセル
52…クラスター導入孔
60…第3段四重極
70…イオントラップ
71…リング電極
72、73…エンドキャップ電極
74…イオン捕捉空間
75…クラスター導入孔
80…TOFMS
81…飛行空間
Claims (5)
- 試料をイオン化するイオン化部、試料イオンを質量分離する質量分離部、及び質量分離されたイオンを検出する検出部を有する質量分析装置において、
a)前記イオン化部から質量分離部を経て検出部に至るまでのイオン経路上に設けられた衝突部と、
b)所定の原子又は分子のクラスターを生成するクラスター生成手段と、
c)前記クラスターを前記衝突部に導入するクラスター導入手段と、
を有することを特徴とする質量分析装置 。 - 上記クラスター生成手段が、断熱膨張法によりクラスターの生成を行うものであることを特徴とする請求項1に記載の質量分析装置。
- 上記所定の原子又は分子が希ガス原子であることを特徴とする請求項1又は2に記載の質量分析装置。
- 上記衝突部がコリジョンセルであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の質量分析装置 。
- 上記衝突部がイオントラップであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の質量分析装置 。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005303162A JP4581958B2 (ja) | 2005-10-18 | 2005-10-18 | 質量分析装置 |
US11/581,574 US7550716B2 (en) | 2005-10-18 | 2006-10-17 | Mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005303162A JP4581958B2 (ja) | 2005-10-18 | 2005-10-18 | 質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007115434A true JP2007115434A (ja) | 2007-05-10 |
JP4581958B2 JP4581958B2 (ja) | 2010-11-17 |
Family
ID=37947290
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005303162A Expired - Fee Related JP4581958B2 (ja) | 2005-10-18 | 2005-10-18 | 質量分析装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7550716B2 (ja) |
JP (1) | JP4581958B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008023694B4 (de) * | 2008-05-15 | 2010-12-30 | Bruker Daltonik Gmbh | Fragmentierung von Analytionen durch Ionenstoß in HF-Ionenfallen |
GB0817433D0 (en) | 2008-09-23 | 2008-10-29 | Thermo Fisher Scient Bremen | Ion trap for cooling ions |
US8158934B2 (en) * | 2009-08-25 | 2012-04-17 | Agilent Technologies, Inc. | Electron capture dissociation apparatus and related methods |
DE102010013546B4 (de) * | 2010-02-01 | 2013-07-25 | Bruker Daltonik Gmbh | Ionenmanipulationszelle mit maßgeschneiderten Potenzialprofilen |
JP5408107B2 (ja) * | 2010-11-10 | 2014-02-05 | 株式会社島津製作所 | Ms/ms型質量分析装置及び同装置用プログラム |
WO2013144708A1 (en) * | 2012-03-28 | 2013-10-03 | Dh Technologies Development Pte. Ltd. | Mass spectrometry systems and methods for analyses on lipid and other ions using a unique workflow |
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Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5202563A (en) | 1991-05-16 | 1993-04-13 | The Johns Hopkins University | Tandem time-of-flight mass spectrometer |
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-
2005
- 2005-10-18 JP JP2005303162A patent/JP4581958B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-10-17 US US11/581,574 patent/US7550716B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2002181785A (ja) * | 2000-10-11 | 2002-06-26 | Pfizer Prod Inc | ヘリウム液滴式質量分析法(hdms) |
JP2002184349A (ja) * | 2000-12-14 | 2002-06-28 | Shimadzu Corp | イオントラップ型質量分析装置 |
JP2003223864A (ja) * | 2002-01-30 | 2003-08-08 | Hitachi High-Technologies Corp | 大気圧イオン化質量分析装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4581958B2 (ja) | 2010-11-17 |
US20070085000A1 (en) | 2007-04-19 |
US7550716B2 (en) | 2009-06-23 |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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