JP2007115183A - Non-contact ic tag having ic chip breakdown prevention structure - Google Patents

Non-contact ic tag having ic chip breakdown prevention structure Download PDF

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JP2007115183A JP2005308550A JP2005308550A JP2007115183A JP 2007115183 A JP2007115183 A JP 2007115183A JP 2005308550 A JP2005308550 A JP 2005308550A JP 2005308550 A JP2005308550 A JP 2005308550A JP 2007115183 A JP2007115183 A JP 2007115183A
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a non-contact IC tag preventing IC chip from being compressed to breakdown by arranging a strip-like structure on both sides of the IC chip. <P>SOLUTION: In the non-contact IC tag 1 having the IC chip breakdown prevention structure, an antenna pattern 2 is formed on a base film surface 11, the IC chip 3 is mounted, wherein the non-contact IC tag has a surface protective member. In the non-contact IC tag in which two sheets of strip-like structures 10a and 10b are arranged with an interval so as to form a parallel band-shaped groove on the both sides of the IC chip 3 between the surface protective member and the base film 11, the load of the IC chip at compression breakdown is 1,000 N or more, otherwise the load of a part other than the strip-like structures 10a and 10b is three times or more as large as a non-contact IC tag having the same structure. In addition, it is preferable that the thickness of the strip-like structures is not larger than the equivalent thickness of the IC chip 3. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、ICチップ破壊防止構造を有する非接触ICタグに関する。詳しくは、ICタグの層構成中にICチップを保護する短冊状構造体をICチップの両側に平行な溝を形成するように間隔を置いて挿入し、当該溝内にICチップを配置することによって、ICチップが直接外力を受けないようにした非接触ICタグに関するものである。
このような非接触ICタグは通常のICタグとして使用できるが、特には、運送や物流、製品の製造工程、建設現場等、ICタグが外力を受けやすい環境において好適に使用できる非接触ICタグに関する
The present invention relates to a non-contact IC tag having an IC chip destruction prevention structure. Specifically, a strip-shaped structure for protecting an IC chip is inserted into the IC tag layer structure at intervals so as to form a groove parallel to both sides of the IC chip, and the IC chip is disposed in the groove. The non-contact IC tag is configured so that the IC chip is not directly subjected to external force.
Such a non-contact IC tag can be used as a normal IC tag. In particular, a non-contact IC tag that can be suitably used in an environment where the IC tag is susceptible to external force, such as transportation, logistics, product manufacturing process, construction site, etc. Concerning

非接触型ICタグは、情報を記録して保持し非接触で外部装置と交信して情報交換できるので、運送や物流等における認識媒体として、あるいは商品の品質管理、在庫管理等の各種目的に多用されるようになってきている。
しかし、非接触型ICタグを物流ラベルとして利用する場合、物流の際に外部から不可避的な応力が加えられる場合が多い。特にICチップ部分が衝撃を受けると致命的な損傷を受けてしまう。そこで、従来からICチップ部分を保護する構造が考えられているが、複雑な構造となり安価に非接触ICタグを製造できなくなるという問題を生じている。
特に、従来は表面状態がフラット(平面)な非接触ICタグが求められており、その実現のため製造負荷が大きくなる問題が顕著である。
Non-contact type IC tags record and hold information and can exchange information by communicating with external devices in a non-contact manner, so that they can be used as recognition media in transportation and logistics, or for various purposes such as product quality control and inventory management. It has come to be used frequently.
However, when a non-contact type IC tag is used as a physical distribution label, inevitable stress is often applied from the outside during physical distribution. In particular, when the IC chip part receives an impact, it is fatally damaged. Therefore, a structure for protecting the IC chip portion has been conventionally considered. However, there is a problem that a non-contact IC tag cannot be manufactured at a low cost because of a complicated structure.
In particular, a non-contact IC tag having a flat surface (planar surface) has been demanded in the past, and the problem of increasing the manufacturing load for realizing this is significant.

非接触ICタグの避けられない構造上の問題として、ICチップの厚みが、ベースフィルム等と比較して遥かに大きい問題がある。ICチップは小サイズ化が図られ薄片化しているが、近年のICチップでも、0.2mm〜2mm角以内の平面サイズと150μm〜500μmの厚みを有する。したがって、ベースフィルム面にアンテナパターンを形成してICチップを装着し、表面保護部材を被覆して平坦化しても、当該ICタグラベルを積み上げした場合はICチップ部分は嵩高となる。   As an unavoidable structural problem of the non-contact IC tag, there is a problem that the thickness of the IC chip is much larger than that of the base film or the like. Although the IC chip is reduced in size and thinned, recent IC chips also have a planar size within 0.2 mm to 2 mm square and a thickness of 150 μm to 500 μm. Therefore, even if the IC chip is mounted with the antenna pattern formed on the base film surface and the surface protective member is covered and flattened, the IC chip portion becomes bulky when the IC tag labels are stacked.

ICチップが損傷を受ける場合として、この積み上げ状態が考えられる。非接触ICタグラベルを使用する際は、数枚ないし十数枚を積み上げることがよくある。使い易くするためにはラベルの向きを揃えるのが通常である。そうすると必然的にICチップ部分が上下に整列して重なり合うことになる。その積み上げした状態で上面から重量のある物体をラベル上に載せると、上下位置関係にあるいずれかのICチップ相互間が衝撃を受けて、シリコン結晶であるICチップの破壊が生じる。この場合は未使用状態でラベルの不良が疑われる。その他の原因として、硬質の被着体に貼着されたICタグが硬質の他の物体に衝突する場合にも、突出しているICチップ部分が衝撃を受け易い問題がある。
ICチップに不具合を生じる原因は、これらの原因のみではないが、厚みのあるICチップ3が金属等の堅い構造材料に接触または衝突した際に破損しやすいのは事実と考えられる。
This stacked state can be considered as a case where the IC chip is damaged. When non-contact IC tag labels are used, several to dozens are often stacked. To make it easier to use, it is normal to align the labels. Inevitably, the IC chip portions will inevitably overlap in the vertical direction. When a heavy object is placed on the label in the stacked state, any one of the IC chips that are in a vertical positional relationship receives an impact, and the IC chip that is a silicon crystal is destroyed. In this case, a defective label is suspected in an unused state. Another cause is that even when an IC tag attached to a hard adherend collides with another hard object, the protruding IC chip portion is susceptible to impact.
The cause of the failure of the IC chip is not only these causes, but it is considered that the thick IC chip 3 is easily damaged when it contacts or collides with a hard structural material such as metal.

参考のために、実際の一般的な非接触ICタグの実施形態を、図8に図示する。
非接触ICタグ1は、ベースフィルム11の面にアンテナパターン2を形成し、捲線コイル状のアンテナパターン2の両端部2a,2bにICチップ3を装着している。図8のものは透明なベースフィルム11にラミネートされた金属箔をフォトエッチングして、コイル状アンテナパターン2を形成したもので、被着体に貼着する面側から見た図である。アンテナコイルの一端はベースフィルムの背面をとおる導通回路17にかしめ具等を用いて接続し、ICチップ3に接続するアンテナコイル両端部2a,2bに通じるようにしている。ICチップ3は両端部2a,2bに対して導電性接着剤等によりそのパッドが接続するようにされている。図示してないがICチップ3の周囲に厚み調整パターンを設ける場合もあるが、アンテナ用金属箔は20μm〜35μm程度の厚みであって、ICチップ3の厚みに相応するものではない。
For reference, an embodiment of an actual common contactless IC tag is illustrated in FIG.
In the non-contact IC tag 1, an antenna pattern 2 is formed on the surface of a base film 11, and IC chips 3 are mounted on both ends 2a and 2b of the antenna pattern 2 in the form of a coiled coil. In FIG. 8, the metal foil laminated on the transparent base film 11 is photo-etched to form the coiled antenna pattern 2, and is a view seen from the side to be attached to the adherend. One end of the antenna coil is connected to the conduction circuit 17 passing through the back surface of the base film by using a caulking tool or the like so as to communicate with both ends 2a and 2b of the antenna coil connected to the IC chip 3. The pads of the IC chip 3 are connected to both end portions 2a and 2b by a conductive adhesive or the like. Although not shown, a thickness adjustment pattern may be provided around the IC chip 3, but the metal foil for antenna has a thickness of about 20 μm to 35 μm and does not correspond to the thickness of the IC chip 3.

特許文献1、特許文献2は非接触ICタグと同一技術分野に属する非接触ICカードに関する文献である。いずれもICカード全体の均一厚みを実現し、表面の平滑を図ることを課題としている。非接触ICタグも同一課題を実現すべく平坦化を図ってきているが、低価格が望まれる非接触ICタグでは材料等の選択が制限される。また、できる限り平坦にしても前記したICチップの破損を完全には防止できない問題があった。
特許文献3は、ICタグラベルの製造方法に関するが、フラットなICタグラベルの実現を課題としている。特許文献4は、本願と同旨の先願にかかる内容であるが、ICチップの周囲部分にのみ抜き穴を設けた保護部材を挿入する点で本願と相違している。
特許文献5も、本願と同旨の先願であるが、ICチップの圧縮破壊強度については検討していない。
Patent Documents 1 and 2 are documents related to a non-contact IC card belonging to the same technical field as the non-contact IC tag. In any case, it is an object to realize a uniform thickness of the entire IC card and smooth the surface. Non-contact IC tags have been flattened to achieve the same problem, but the selection of materials and the like is limited in non-contact IC tags that are desired to be low in price. Further, there has been a problem that even if the surface is as flat as possible, the above-mentioned damage to the IC chip cannot be completely prevented.
Patent Document 3 relates to a method of manufacturing an IC tag label, but has a problem of realizing a flat IC tag label. Patent Document 4 is a content related to a prior application having the same meaning as the present application, but differs from the present application in that a protective member provided with a punched hole is inserted only in the peripheral portion of the IC chip.
Patent document 5 is also a prior application having the same effect as the present application, but does not examine the compression fracture strength of the IC chip.

特開平7−266767号公報JP-A-7-266767 特開平8−194801号公報JP-A-8-194801 特開2003−67708号公報JP 2003-67708 A 特願2005−051036号Japanese Patent Application No. 2005-051036 特願2005−151967号Japanese Patent Application No. 2005-151967

ICカードで従来採用している厚みを均一化する方法では、製造コストの低減が困難であり材料選択上の問題も生じる。また、上記特許文献4の非接触ICタグでは実際の製造工程において、やや困難性が生じる問題が見出された。
そこで、本発明では、ICチップ部分の両側に構造体を挿入して破壊防止構造にすることと、構造体の厚みを好ましくはICチップと同等以下にして全体の薄層化を図り、なおかつ従来の非接触ICタグでは実現できなかったICチップの圧縮破壊強度を達成すべく研究して完成に至ったものである。
In the method of uniforming the thickness conventionally employed in the IC card, it is difficult to reduce the manufacturing cost, and there is a problem in material selection. Further, the non-contact IC tag of Patent Document 4 has been found to have a problem that a slight difficulty occurs in the actual manufacturing process.
Therefore, in the present invention, the structure is inserted into both sides of the IC chip portion to form a breakage prevention structure, the thickness of the structure is preferably equal to or less than that of the IC chip, and the entire thickness is reduced. The research has been completed to achieve the compressive fracture strength of an IC chip that could not be realized with the non-contact IC tag of the present invention.

上記課題を解決する本発明の第1は、ベースフィルム面にアンテナパターンを形成してICチップを装着し、それらを被覆する表面保護部材を有する非接触ICタグにおいて、上記表面保護部材とベースフィルム間であって、ICチップの両側にICチップと同等厚み以下の2枚の短冊状構造体が平行な帯状の溝を形成するように間隔を置いて配置された非接触ICタグにおいて、ICチップの圧縮破壊時における荷重が、短冊状構造体を除いた以外は同一構造を有する非接触ICタグの3倍以上であることを特徴とするICチップ破壊防止構造を有する非接触ICタグ、にある。   A first aspect of the present invention for solving the above problems is a non-contact IC tag having a surface protection member for forming an antenna pattern on a surface of a base film, mounting an IC chip, and covering them, and the surface protection member and the base film. In a non-contact IC tag in which two strip-shaped structures having a thickness equal to or less than that of the IC chip are arranged on both sides of the IC chip so as to form parallel strip-shaped grooves, A non-contact IC tag having an IC chip destruction prevention structure characterized in that the load at the time of compressive fracture is three times or more that of a non-contact IC tag having the same structure except for a strip-shaped structure .

上記課題を解決する本発明の第2は、ベースフィルム面にアンテナパターンを形成してICチップを装着し、それらを被覆する表面保護部材を有する非接触ICタグにおいて、上記表面保護部材とベースフィルム間であって、ICチップの両側にICチップと同等厚み以下の2枚の短冊状構造体が平行な帯状の溝を形成するように間隔を置いて配置された非接触ICタグにおいて、ICチップの圧縮破壊時における荷重が、1000N以上であることを特徴とするICチップ破壊防止構造を有する非接触ICタグ、にある。   A second aspect of the present invention that solves the above-described problems is a non-contact IC tag having a surface protection member for forming an antenna pattern on a base film surface, mounting an IC chip, and covering the IC chip, and the surface protection member and the base film. In a non-contact IC tag in which two strip-shaped structures having a thickness equal to or less than that of the IC chip are arranged on both sides of the IC chip so as to form parallel strip-shaped grooves, A non-contact IC tag having an IC chip breakage prevention structure characterized in that the load at the time of compressive breakage is 1000 N or more.

上記課題を解決する本発明の第3は、ベースフィルム面にアンテナパターンを形成してICチップを装着し、それらを被覆する表面保護部材を有する非接触ICタグにおいて、上記表面保護部材とベースフィルム間であって、ICチップの両側に2枚の短冊状構造体が平行な帯状の溝を形成するように間隔を置いて配置された非接触ICタグにおいて、ICチップの圧縮破壊時における荷重が、1000N以上であることを特徴とするICチップ破壊防止構造を有する非接触ICタグ、にある。   According to a third aspect of the present invention for solving the above-described problems, in the non-contact IC tag having an antenna pattern formed on the base film surface and mounting an IC chip and covering the surface, the surface protection member and the base film In a non-contact IC tag in which two strip-shaped structures are arranged at intervals so as to form parallel strip-shaped grooves on both sides of the IC chip, the load at the time of IC chip compression failure is The non-contact IC tag having an IC chip destruction preventing structure characterized by being 1000 N or more.

上記第1、第2の発明において、短冊状構造体の厚みが、ICチップの厚みの、60%以上の均一厚みからなる紙またはプラスチックフィルム、あるいは60%以上の均一厚みからなる磁性材シート、とすることができる。
また、上記第3の発明において、ICチップの厚みが、150μm〜210μmの範囲であって、短冊状構造体が、250μm以下の均一厚みからなる紙またはプラスチックフィルム、あるいは60%以上の均一厚みからなる磁性材シート、とすることができる。
In the first and second inventions, the thickness of the strip structure is a paper or plastic film having a uniform thickness of 60% or more of the thickness of the IC chip, or a magnetic material sheet having a uniform thickness of 60% or more, It can be.
In the third invention, the thickness of the IC chip is in the range of 150 μm to 210 μm, and the strip-like structure is a paper or plastic film having a uniform thickness of 250 μm or less, or a uniform thickness of 60% or more. Magnetic material sheet.

本発明のICチップ破壊防止構造を有する非接触ICタグは、ICチップの両側に平行な溝を形成するように短冊状構造体を挿入しているので、ICチップが当該溝内に位置していて外力を受け難くされ、ICチップの圧縮破壊時における荷重が、1000N以上となるので通常のICタグの取り扱いをしても従来の非接触ICタグのようにICチップが破壊することが少ない。   In the non-contact IC tag having the IC chip destruction preventing structure according to the present invention, the strip structure is inserted so as to form a parallel groove on both sides of the IC chip, so that the IC chip is positioned in the groove. Therefore, the load at the time of compressive fracture of the IC chip is 1000 N or more, so even if the normal IC tag is handled, the IC chip is less likely to be broken like a conventional non-contact IC tag.

本発明は、ICチップの破損防止構造を有する非接触ICタグ(以下、単に「非接触ICタグ」とも表記する。)に関するが、以下、図面を参照して説明する。
図1は、本発明の非接触ICタグの例を示す概略平面図、図2は、同断面図、図3は、非接触ICタグの製造方法を説明する図、図4は、非接触ICタグの他の製造方法を説明する図、図5は、非接触ICタグの加工方法を説明する図、図6は、圧縮試験機を示す図、図7は、圧縮試験機の試料の装着方法を示す図、である。
The present invention relates to a non-contact IC tag (hereinafter also simply referred to as “non-contact IC tag”) having an IC chip breakage preventing structure, and will be described below with reference to the drawings.
1 is a schematic plan view showing an example of a non-contact IC tag of the present invention, FIG. 2 is a cross-sectional view thereof, FIG. 3 is a diagram for explaining a method of manufacturing a non-contact IC tag, and FIG. 4 is a non-contact IC. FIG. 5 is a diagram for explaining another method for manufacturing a tag, FIG. 5 is a diagram for explaining a processing method of a non-contact IC tag, FIG. 6 is a diagram showing a compression tester, and FIG. 7 is a sample mounting method for the compression tester. FIG.

本発明の非接触ICタグ1は、図1のように、ベースフィルム11面にアンテナパターン2を形成し、その両端部2a,2bに装着されたICチップ3を有している。
ICチップ3の両側には均一な厚みの短冊状構造体10a,10bが挿入され、当該構造体10a,10bにより平行な帯状の溝9が形成されている。当該構造体10a,10bの厚みは、ICチップ3の厚みの1.2倍以内とし、好ましくはICチップ3と同等であるか、寧ろ薄くし、ICチップ3の突出を少なくするようにされている。この短冊状構造体はICチップ3に対する防護壁の役割をして、ICチップ3が他の非接触ICタグのICチップ3と接触した際、または他の硬質の物体に衝突した際の外力による衝撃を緩和するものである。
As shown in FIG. 1, the non-contact IC tag 1 of the present invention has an antenna pattern 2 formed on the surface of a base film 11 and has IC chips 3 attached to both ends 2a and 2b thereof.
On both sides of the IC chip 3, strip-shaped structures 10a and 10b having a uniform thickness are inserted, and parallel strip-shaped grooves 9 are formed by the structures 10a and 10b. The thickness of the structures 10a and 10b is set to be within 1.2 times the thickness of the IC chip 3, and is preferably equal to or rather thin than the IC chip 3 so that the protrusion of the IC chip 3 is reduced. Yes. This strip-shaped structure serves as a protective wall for the IC chip 3 and is caused by external force when the IC chip 3 comes into contact with the IC chip 3 of another non-contact IC tag or collides with another hard object. It is to reduce the impact.

溝9の幅Lは、最小限ICチップ3を納める幅が必要であり、ICチップ3の平面サイズにも関係するが一辺が1.0mm未満のICチップの場合、通常1.0mmから5.0mm程度の幅があればよい。あまり広い幅では尖った物体に対して当該構造体が防護壁の役割を果たさず、衝撃緩和の効果を生じないからである。   The width L of the groove 9 is required to accommodate at least the IC chip 3 and is related to the planar size of the IC chip 3, but in the case of an IC chip having a side of less than 1.0 mm, usually 1.0 mm to 5. A width of about 0 mm is sufficient. This is because, if the width is too wide, the structure does not serve as a protective wall against a pointed object and does not produce an impact mitigating effect.

本発明の非接触ICタグの特徴は、ICチップの両側に配置する2枚の短冊状構造体の厚みが、ICチップの厚みの1.2倍以下、または好ましくは同等厚み以下であるにもかかわらず、ICチップの圧縮破壊時における荷重が、短冊状構造体を除いた以外は同一構造を有する非接触ICタグの3倍以上であることにある。また、具体的には、この非接触ICタグの圧縮試験の際のICチップの圧縮破壊時における荷重が1000N以上にされている特徴がある。なお、ICチップの圧縮破壊時における荷重の測定方法については後述する。   The non-contact IC tag of the present invention is characterized in that the thickness of the two strip-shaped structures disposed on both sides of the IC chip is 1.2 times or less, or preferably equal to or less than the thickness of the IC chip. Regardless, the load at the time of compressive fracture of the IC chip is that it is three times or more that of the non-contact IC tag having the same structure except that the strip-like structure is excluded. Further, specifically, the load at the time of compressive failure of the IC chip during the compression test of the non-contact IC tag is characterized by being 1000 N or more. A method of measuring the load at the time of IC chip compression failure will be described later.

本発明の非接触ICタグ1の断面構造は、図2のようにベースフィルム11のアンテナパターン2の面に、短冊状構造体10a,10bが接着され、当該短冊状構造体10a,10bの面に表面保護部材4が被覆されている。表面保護部材4は、接着剤層5を介して接着され、通常は非接触ICタグ1の全体を被覆して保護するようにされている。
ベースフィルム11の被着体側となる面には粘着剤層7を有している。当該粘着剤層7は、一般的にはセパ紙と呼ばれる離型面を有する剥離紙8にあらかじめ粘着剤層7を塗工しておき、これを非接触ICタグ1のベースフィルム11に貼着させる場合が多い。
The cross-sectional structure of the non-contact IC tag 1 of the present invention is such that the strip-shaped structures 10a and 10b are bonded to the surface of the antenna pattern 2 of the base film 11 as shown in FIG. The surface protection member 4 is coated. The surface protection member 4 is bonded via an adhesive layer 5 and is usually configured to cover and protect the entire contactless IC tag 1.
The surface of the base film 11 on the adherend side has an adhesive layer 7. The pressure-sensitive adhesive layer 7 is applied to the base film 11 of the non-contact IC tag 1 in advance by applying the pressure-sensitive adhesive layer 7 to a release paper 8 having a release surface generally called a separator paper. In many cases.

短冊状構造体10a,10bは、例として紙やプラスチックフィルムを使用できる。
短冊状構造体10a,10bのアンテナパターン面側には接着剤が塗布されていて、当該接着剤層6によりアンテナパターン2面に接着されている。短冊状構造体10a,10bの厚みは、ICチップ3の1.4倍の厚みが有れば破壊防止機能としては完全であるが、ICチップ3と同等厚みかそれ以下の厚み(ICチップ3の2/3程度までの厚み)である場合にも、上記の圧縮破壊強度は得られる。ICチップの保護強化には短冊状構造体10a,10bの厚みだけではなく保護部材4やベースフィルムの厚み、粘着剤層の塗布厚みも影響するので、構造体の厚みを一律には規定できない。
As the strip-shaped structures 10a and 10b, paper or a plastic film can be used as an example.
Adhesive is applied to the antenna pattern surface side of the strip-shaped structures 10 a and 10 b, and is adhered to the antenna pattern 2 surface by the adhesive layer 6. The thickness of the strip-shaped structures 10a and 10b is perfect as a function to prevent destruction if the thickness is 1.4 times that of the IC chip 3, but the thickness equal to or less than that of the IC chip 3 (IC chip 3 The compression fracture strength is also obtained when the thickness is up to about 2/3 of the above. In addition to the thickness of the strip-like structures 10a and 10b, the thickness of the structure cannot be uniformly defined because the protection of the IC chip is affected not only by the thickness of the strip-like structures 10a and 10b, but also by the thickness of the protective member 4 and the base film.

したがって、ICチップの厚みが210μmであれば、短冊状構造体10は250μmから125μm、好ましくは250μmから150μm程度の厚みを有すれば顕著なICチップ破壊防止効果を奏することができる。厚ければ破壊防止効果は向上するが、250μm以上(ICチップの厚みを40μmを超える程度)では非接触ICタグの屈曲性が低下する。従って、短冊状構造体10は薄ければ薄い方が好ましい。ただし、現状のICチップ3の厚みは、150μm程度が限界であるので、90μm未満(ICチップの厚みの60%未満)の短冊状構造体10a,10bの厚みでは請求項1または請求項2の要件を満たすICチップ破壊防止効果は得られない場合がある。   Therefore, if the thickness of the IC chip is 210 μm, the strip structure 10 can have a remarkable IC chip destruction preventing effect if it has a thickness of about 250 μm to 125 μm, preferably about 250 μm to 150 μm. If it is thick, the effect of preventing destruction is improved, but if it is 250 μm or more (the thickness of the IC chip exceeds 40 μm), the flexibility of the non-contact IC tag is lowered. Therefore, it is preferable that the strip structure 10 is thin if it is thin. However, since the current thickness of the IC chip 3 is limited to about 150 μm, the thickness of the strip-shaped structures 10 a and 10 b of less than 90 μm (less than 60% of the thickness of the IC chip) is that of claim 1 or claim 2. In some cases, the IC chip destruction preventing effect that satisfies the requirements cannot be obtained.

短冊状構造体10a,10bの厚みがICチップの厚みと同等程度の厚みでなくても、構造体を使用しない場合と同一構造の非接触ICタグに対して、3倍以上の圧縮強度が得られる理由は明瞭でない点もあるが、ICチップ3部分のベースフィルム11や表面保護部材4が圧縮されて変形(縮小)すると同時にICチップ3の周囲の短冊状構造体10a,10bや表面保護部材4が変形して反発する力を対向面側(後述する試験機の受圧盤)に及ぼし、ICチップ3が受ける力を緩和するためと考えられる。非接触ICタグの使用場面においてICチップ3が受ける力も多くの場合、面的な力なので、このような外力でICチップ3が破壊されなければ、使用目的に合致することになる。   Even if the thickness of the strip-shaped structures 10a and 10b is not equal to the thickness of the IC chip, the compressive strength is more than three times that of the non-contact IC tag having the same structure as that when the structure is not used. Although the reason for this is not clear, the base film 11 and the surface protection member 4 of the IC chip 3 are compressed and deformed (reduced), and at the same time, the strip structures 10a and 10b and the surface protection member around the IC chip 3 This is considered to be because the force that 4 deforms and repels is applied to the opposite surface side (a pressure receiving plate of a test machine described later), and the force received by the IC chip 3 is alleviated. In many cases, the force received by the IC chip 3 in the usage scene of the non-contact IC tag is a surface force. Therefore, if the IC chip 3 is not destroyed by such an external force, it matches the purpose of use.

ただし、短冊状構造体10a,10bが所定の厚みがなく、上記圧縮破壊強度を達成できなくても通常のICチップ破壊防止の効果は得られる場合がある。短冊状構造体10a,10bがICチップと同等の厚みを持たない場合でも、他のICタグとの間には保護部材4やベースフィルム11が間に入ることになるので、ICチップ相互間が直接衝突するような衝撃は緩和できるからである。ただし、請求項記載の所定の圧縮破壊強度を達成できない非接触ICタグは本願の対象ではない。   However, even if the strip-shaped structures 10a and 10b do not have a predetermined thickness and the compression fracture strength cannot be achieved, a normal effect of preventing IC chip destruction may be obtained. Even when the strip-shaped structures 10a and 10b do not have the same thickness as the IC chip, the protective member 4 and the base film 11 are interposed between other IC tags. This is because the impact that directly collides can be mitigated. However, non-contact IC tags that cannot achieve the predetermined compressive fracture strength described in the claims are not the subject of the present application.

短冊状構造体10a,10bには、紙やプラスチックフィルムの他に磁性材シートを使用することができる。磁性材シートとは、高透磁率のシート状磁性体のことをいう。
通常、フェライトが用いられるが、a)フェライト単体からなるもの、b)フェライトとプラスチックの複合材からなるもの、c)フェライトと金属化合物、プラスチックの複合材からなるもの、等がある。
フェライトとしては、フェライトの粉末またはフレーク状のものが使用される。上記プラスチックとしては加工性のよい熱可塑性プラスチックを用いたり、あるいは耐熱性のよい熱硬化性プラスチックを用いることができる。金属の粉末としては、カーボニル鉄粉末、鉄−パーマロイ等のアトマイズ粉末、還元鉄粉末、等が用いられる。プラスチックを用いて成形するほかに、金属粉とフェライト粉の焼結体や圧粉体としてもよい。またアモルファス磁性体シートも新しい材料として知られている。磁性材シートの厚みも、上記、紙やプラスチックフィルムと同等の厚みのものを使用できる。
In addition to paper and plastic film, a magnetic material sheet can be used for the strip-like structures 10a and 10b. The magnetic material sheet refers to a high magnetic permeability sheet-like magnetic material.
Usually, ferrite is used, but there are a) one composed of ferrite alone, b) one composed of a composite material of ferrite and plastic, c) one composed of a composite material of ferrite and metal, plastic.
As the ferrite, ferrite powder or flakes are used. As the plastic, a thermoplastic plastic with good processability can be used, or a thermosetting plastic with good heat resistance can be used. As the metal powder, carbonyl iron powder, atomized powder such as iron-permalloy, reduced iron powder, and the like are used. In addition to molding using plastic, a sintered body or compact of metal powder and ferrite powder may be used. Amorphous magnetic sheets are also known as new materials. The thickness of the magnetic material sheet can also be the same as that of the above paper or plastic film.

非接触ICタグを金属材料からなる物体や金属製容器のように導電性部材に近接して装着した場合は、ICタグ送受信用の電磁波によって生成する交流磁界により背後の物体の金属内に渦電流が発生する。この渦電流は送受信用の磁束に反発する磁束を生成し、それによって送受信用の磁束が減衰し、送受信が困難になることが多い。
短冊状構造体10a,10bに磁性材シートを使用する場合は、当該磁性材シート内を送受信用磁束が通ることによって金属に磁束が入り込んで生じる渦電流の発生を抑制することができる。磁性材シートはこのような効果を目的として使用する場合に適切である。
When a non-contact IC tag is mounted close to a conductive member such as an object made of a metal material or a metal container, an eddy current is generated in the metal behind the object by an alternating magnetic field generated by an electromagnetic wave for IC tag transmission / reception. Occurs. This eddy current generates a magnetic flux that repels the transmission / reception magnetic flux, which attenuates the transmission / reception magnetic flux, making transmission and reception often difficult.
When a magnetic material sheet is used for the strip-shaped structures 10a and 10b, it is possible to suppress the generation of eddy currents caused by the magnetic flux entering the metal when the transmission / reception magnetic flux passes through the magnetic material sheet. The magnetic material sheet is suitable for use for such an effect.

次に、非接触ICタグの製造方法について説明する。
非接触ICタグ1の製造は、従来の非接触ICタグの製造方法を変形した工程で製造できる。すなわち、ベースフィルム11のアンテナパターン2にICチップ3を装着した後、表面保護部材4をラミネートする前の工程において、短冊状構造体10a,10bを位置合わせして挿入する工程が必要になる。このような工程は既存の自動化ラインでも十分可能である。非接触ICタグの製造工程において、ベースフィルム11にアンテナパターン2を形成する工程等は周知であるため、本発明の特徴である短冊状構造体10a,10bを挿入する工程について説明することとする。
Next, a method for manufacturing a non-contact IC tag will be described.
The non-contact IC tag 1 can be manufactured by a modified process of the conventional non-contact IC tag manufacturing method. That is, after attaching the IC chip 3 to the antenna pattern 2 of the base film 11 and before laminating the surface protection member 4, a step of aligning and inserting the strip-like structures 10a and 10b is necessary. Such a process is sufficiently possible even with an existing automated line. In the manufacturing process of the non-contact IC tag, since the process of forming the antenna pattern 2 on the base film 11 is well known, the process of inserting the strip-shaped structures 10a and 10b, which is a feature of the present invention, will be described. .

図3は、非接触ICタグの製造方法を説明する図である。
ICタグ加工機のディスペンシングユニット20には、図において、上方右側から粘着剤付き構造体用紙10Rが供給される。下方左側からは、アンテナパターン2にICチップ3を装着済みであって、ICタグ回路が形成された1列に切断されたベースフィルム11の連続体11Rが定速度で供給されている。粘着剤付き構造体用紙10Rは、ディスペンシングユニット20と同期して回転するロータリカッター21の切断刃23により所定長さの短冊状構造体10に切断される。切断長さは、前記溝9の幅Lに相当する分だけ非接触ICタグのピッチより短い長さとしたものとなる。
この際、短冊状構造体10のディスペンシングユニット20のドラム22aに接しない側の面は接着剤層6面になっている(図2参照)。ディスペンシングユニット20のドラム22aは真空吸引機構により切断した短冊状構造体10を直ちに吸着し、その状態を保持しながら回転して搬送する。
FIG. 3 is a diagram for explaining a method of manufacturing a non-contact IC tag.
To the dispensing unit 20 of the IC tag processing machine, the structure paper 10R with adhesive is supplied from the upper right side in the figure. From the lower left side, an IC chip 3 is already mounted on the antenna pattern 2, and a continuous body 11R of base film 11 cut in one row on which IC tag circuits are formed is supplied at a constant speed. The structure paper 10R with adhesive is cut into a strip-like structure 10 having a predetermined length by a cutting blade 23 of a rotary cutter 21 that rotates in synchronization with the dispensing unit 20. The cutting length is shorter than the pitch of the non-contact IC tag by an amount corresponding to the width L of the groove 9.
At this time, the surface of the strip structure 10 on the side not in contact with the drum 22a of the dispensing unit 20 is the surface of the adhesive layer 6 (see FIG. 2). The drum 22a of the dispensing unit 20 immediately adsorbs the strip-shaped structure 10 cut by the vacuum suction mechanism, and rotates and conveys the state while maintaining the state.

ディスペンシングユニット20のドラム22aが、短冊状構造体10をベースフィルムの連続体11Rと接触する位置にまで搬送した時点で、ドラム22aとドラム22b間の押圧力により、短冊状構造体10がベースフィルムの連続体11R側に貼着される。
この際、ディスペンシングユニットのドラム22a,22bの回転速度(周速)と、ベースフィルムの連続体11Rの搬送速度では、前記溝9の幅だけベースフィルムの連続体11Rの搬送速度が速くなるようにされている。すなわち、連続体11Rの搬送速度の調整により溝9の幅Lが可変となる。短冊状構造体10をベースフィルム11に貼着した後、表面保護部材4をラミネートする工程を行う。
When the drum 22a of the dispensing unit 20 transports the strip-shaped structure 10 to a position where it comes into contact with the base film continuum 11R, the strip-shaped structure 10 becomes the base by the pressing force between the drum 22a and the drum 22b. It is stuck on the continuous body 11R side of the film.
At this time, at the rotational speed (circumferential speed) of the drums 22a and 22b of the dispensing unit and the transport speed of the base film continuum 11R, the transport speed of the base film continuum 11R is increased by the width of the groove 9. Has been. That is, the width L of the groove 9 is variable by adjusting the conveyance speed of the continuous body 11R. After sticking the strip-shaped structure 10 to the base film 11, the process of laminating the surface protection member 4 is performed.

図5は、非接触ICタグの加工方法を説明する図である。
上記の製造方法は、短冊状構造体10をベースフィルムの連続体11Rに対して、図5(A)の状態で貼着することを前提とするものである。ベースフィルムの連続体11Rを個々のピッチの非接触ICタグ1に切断した後(図5(B))は、短冊状構造体10は、構造体10aと構造体10bの2枚の短冊状構造体に分割されることになる。
この後、短冊状構造体10の面に表面保護部材4をさらにラミネートした後に、個々の非接触ICタグに切断するか、隣接する非接触ICタグ1間のミシン目線等の切り離し線12を設けた非接触ICタグの連続体とする。切断する場合も切り離し線12の部分が切断線12となる。
FIG. 5 is a diagram for explaining a processing method of a non-contact IC tag.
Said manufacturing method presupposes sticking the strip-shaped structure 10 with respect to the continuous body 11R of a base film in the state of FIG. 5 (A). After the base film continuous body 11R is cut into the non-contact IC tags 1 having individual pitches (FIG. 5B), the strip-shaped structure 10 has two strip-shaped structures of the structure 10a and the structure 10b. Will be divided into bodies.
Thereafter, the surface protective member 4 is further laminated on the surface of the strip-shaped structure 10 and then cut into individual non-contact IC tags or separation lines 12 such as perforation lines between adjacent non-contact IC tags 1 are provided. A continuous body of non-contact IC tags. Also in the case of cutting, the part of the separation line 12 becomes the cutting line 12.

図4は、非接触ICタグの他の製造方法を説明する図である。
図4の場合は、ベースフィルムの連続体11Rに対する短冊状構造体10の貼着をラベル貼り機25により行う方法である。この場合は、あらかじめ所定の大きさに打ち抜かれ剥離フィルム24に保持されたラベル(短冊状構造体10)が供給され、ベースフィルムの連続体11Rに貼着される。この場合はラベル(短冊状構造体10)の剥離フィルム24面側に粘着剤加工がされている。ラベル貼り機25によるラベル(短冊状構造体10)の貼着は、ラベル貼り機25の剥離エッジ26の部分で剥離フィルム24から剥離したラベル(短冊状構造体10)をローラ27,28により圧着して、ベースフィルムの連続体11Rに貼着するものである。この際、ベースフィルムの連続体11Rに設けたマークに同期してラベルが貼着するようにされる。この場合は、あらかじめ所定間隔でラベル(短冊状構造体10)を設けたラベル転写材料を準備しておく必要がある。剥離フィルム24はラベルの貼着と同時に剥離エッジ26の部分で除去して巻き取られる。
FIG. 4 is a diagram for explaining another method of manufacturing a non-contact IC tag.
In the case of FIG. 4, the strip structure 10 is attached to the base film continuum 11 </ b> R by the label applicator 25. In this case, a label (strip-shaped structure 10) punched into a predetermined size and held on the release film 24 is supplied and attached to the base film continuous body 11R. In this case, pressure-sensitive adhesive processing is performed on the surface of the release film 24 of the label (strip-shaped structure 10). The label (strip-shaped structure 10) is attached by the label applicator 25, and the label (strip-shaped structure 10) peeled off from the release film 24 at the peeling edge 26 of the label applicator 25 is pressure-bonded by rollers 27 and 28. And it sticks to the continuous body 11R of a base film. At this time, the label is attached in synchronization with the mark provided on the base film continuum 11R. In this case, it is necessary to prepare a label transfer material provided with labels (strip-shaped structures 10) at predetermined intervals in advance. The release film 24 is removed and wound at the release edge 26 at the same time as the label is attached.

以上のような方法でなくても、ICタグ回路が長辺側で連接したベースフィルムの連続体11Rに対して、連続した構造体用紙を異なる幅の短冊状構造体10a,10bに切断しながら連続体11RのICチップ3の両側にラミネートして貼着する製造方法を行うことも可能である。この場合は、ディスペンシングユニット20を使用せず、平面的なライン状加工装置により行うことができる。まとまった量の製造には好適な方法である。
短冊状構造体10a,10bの貼着後、表面保護部材4をラミネートし、その後、個々の非接触ICタグに切断するか、ミシン目線等の切り離し線12を設けた非接触ICタグの連続体にできることも同様である。
Even if the method is not as described above, the continuous structure sheet is cut into strip-like structures 10a and 10b having different widths with respect to the base film continuous body 11R in which the IC tag circuits are connected on the long side. It is also possible to perform a manufacturing method of laminating and sticking to both sides of the IC chip 3 of the continuous body 11R. In this case, the dispensing unit 20 is not used and a planar line processing apparatus can be used. This is a suitable method for manufacturing a mass.
After sticking the strip-shaped structures 10a and 10b, the surface protection member 4 is laminated, and then cut into individual non-contact IC tags, or a continuous body of non-contact IC tags provided with separation lines 12 such as perforations. The same can be done.

<そのほかの材質に関する実施形態>
(1)ベースフィルム
プラスチックフィルムを幅広く各種のものを使用でき、以下に挙げる単独フィルムあるいはそれらの複合フィルムを使用できる。
ポリエチレンテレフタレート(PET)、PET−G(テレフタル酸−シクロヘキサンジメタノール−エチレングリコール共重合体)、ポリ塩化ビニル、塩化ビニル−酢酸ビニル共重合体、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリイミド、セルロースジアセテート、セルローストリアセテート、ポリスチレン系、ABS、ポリアクリル酸エステル、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリウレタン、等である。
<Embodiments related to other materials>
(1) Base film A wide variety of plastic films can be used, and the following single films or composite films thereof can be used.
Polyethylene terephthalate (PET), PET-G (terephthalic acid-cyclohexanedimethanol-ethylene glycol copolymer), polyvinyl chloride, vinyl chloride-vinyl acetate copolymer, polycarbonate, polyamide, polyimide, cellulose diacetate, cellulose triacetate, Polystyrene, ABS, polyacrylate, polypropylene, polyethylene, polyurethane, and the like.

(2)短冊状構造体
短冊状構造体の材質には、上質紙やコート紙、クラフト紙、グラシン紙、合成紙やラテックスまたはメラミン樹脂含浸紙の紙基材を使用することができる。プラスチックフィルムとしては、上記したベースフィルム用のプラスチックフィルムの単体または複合体を使用できる。また、前記のように磁性材シートであってもよい。
(3)表面保護部材
プラスチックフィルムや紙基材を幅広く各種のものを使用できる。上記した紙基材やベースフィルム用のプラスチックフィルムの単体または複合体を使用することができる。
(2) Strip-shaped structure As the material of the strip-shaped structure, high-quality paper, coated paper, craft paper, glassine paper, synthetic paper, latex or melamine resin-impregnated paper base material can be used. As a plastic film, the simple substance or composite_body | complex of the plastic film for base films mentioned above can be used. Moreover, a magnetic material sheet may be used as described above.
(3) Surface protection member A wide variety of plastic films and paper substrates can be used. The simple substance or composite_body | complex of the above-mentioned paper base material or the plastic film for base films can be used.

(4)接着剤、粘着剤
本明細書で接着剤という場合は、溶剤型や重合型、紫外線硬化型、エマルジョン型、熱溶融型等の各種のものをいい、いわゆる粘着剤型のものをも含むものとする。いずれであっても、双方の材料間を接着すれば目的を達成できるからである。
また、本明細書で粘着剤という場合は、徐々に粘度が顕著に上昇することなく、いつまでも中間的なタック状態を保つものをいうものとする。
接着剤、粘着剤の樹脂組成物としては、天然ゴム系、ニトリルゴム系、エポキシ樹脂系、酢酸ビニルエマルジョン系、ポリエステル系、アクリル系、アクリル酸エステル共重合体系、ポリビニルアルコール系、フェノール樹脂系、等の各種材料を使用できる。
(4) Adhesive, pressure-sensitive adhesive In the present specification, the term adhesive refers to various types such as a solvent type, a polymerization type, an ultraviolet curable type, an emulsion type, and a heat-melt type, and so-called pressure-sensitive adhesive types. Shall be included. In either case, the purpose can be achieved by bonding the two materials.
Further, in the present specification, the term “adhesive” refers to an adhesive that keeps an intermediate tack state indefinitely without a significant increase in viscosity.
Adhesive and adhesive resin compositions include natural rubber, nitrile rubber, epoxy resin, vinyl acetate emulsion, polyester, acrylic, acrylate copolymer, polyvinyl alcohol, phenolic resin, Various materials such as can be used.

<圧縮強度の試験方法について>
圧縮強度試験は、図6のような圧縮試験機30を用いて行う。
ロードセル32を圧縮用ロードセル取付板31に取り付けし、受圧盤33をロードセル32にねじ込みする。圧縮盤34も基盤に嵌め込みする。移動クロスヘッド35は上下移動可能になっているので、受圧盤33を押圧して、圧縮盤34と受圧盤33間に装着した試料を圧縮することができる。操作盤36により試験機30を操作する。
受圧盤33と圧縮盤34は、図7のように対向する平行水平面を有する金属盤であって、試料1Sは加圧面間の圧縮盤34面に取り付けされる。受圧盤33は、通常直径100mmである。非接触ICタグの場合は、1単位の非接触ICタグを剥離紙8を除去して圧縮盤34面に粘着剤層7により貼着した状態で測定するが、受圧盤33の大きさ内に納まらない場合は、周囲を切断してICチップ3部分がほぼ受圧盤33の中心に位置するようにしてもよい。
<About compressive strength test method>
The compression strength test is performed using a compression tester 30 as shown in FIG.
The load cell 32 is attached to the compression load cell attachment plate 31, and the pressure receiving plate 33 is screwed into the load cell 32. The compression plate 34 is also fitted into the base. Since the movable crosshead 35 is movable up and down, the pressure plate 33 can be pressed to compress the sample mounted between the compression plate 34 and the pressure plate 33. The testing machine 30 is operated by the operation panel 36.
The pressure receiving plate 33 and the compression plate 34 are metal plates having parallel horizontal planes facing each other as shown in FIG. 7, and the sample 1S is attached to the surface of the compression plate 34 between the pressing surfaces. The pressure receiving plate 33 is usually 100 mm in diameter. In the case of a non-contact IC tag, a unit of non-contact IC tag is measured with the release paper 8 removed and adhered to the surface of the compression plate 34 with the adhesive layer 7, but within the size of the pressure receiving plate 33. If not, the periphery may be cut so that the IC chip 3 portion is positioned substantially at the center of the pressure receiving plate 33.

一般に、圧縮降伏強さ、圧縮破壊強さ又は圧縮耐力(σc )は、σc =Pc /Aの関係式が成立する(JISK7056等)。Aは、試験片の元の最小断面積(mm2 )であり、Pc は、降伏時、最大荷重時、破壊時における荷重(N)である。
非接触ICタグの場合は、ICチップ3部分の圧縮強さが最大になると考えられるが、その周囲を含めた強度を測定するので、最小断面積は求められない。結局は、ICチップの破壊時における荷重(N)を比較することになる。
In general, the compression yield strength, compression fracture strength, or compression strength (σ c ) satisfies the relational expression of σ c = P c / A (JIS K7056 etc.). A is the original minimum cross-sectional area (mm 2 ) of the test piece, and P c is the load (N) at yield, at maximum load, and at break.
In the case of a non-contact IC tag, it is considered that the compressive strength of the IC chip 3 is maximized. However, since the strength including the periphery is measured, the minimum cross-sectional area cannot be obtained. Eventually, the load (N) at the time of destruction of the IC chip is compared.

非接触ICタグ1のベースフィルム11として、厚み38μmの透明2軸延伸ポリエステルフィルムに25μm厚のアルミニウム箔をドライラミネートしたベースフィルム11(幅54mmの連続状フィルム)を使用し、この連続状フィルムに対して感光性レジストを塗布した後、アンテナパターンを有するフォトマスクを露光して感光させた。
露光現像後、フォトエッチングして、図8のようなアンテナパターン2を有するインレットベースフィルムを完成した。なお、1つのアンテナパターン2は外形が、ほぼ45mm×76mmの大きさとなるようにした。
As the base film 11 of the non-contact IC tag 1, a base film 11 (continuous film having a width of 54 mm) obtained by dry laminating a 25 μm thick aluminum foil on a transparent biaxially stretched polyester film having a thickness of 38 μm is used. On the other hand, after applying a photosensitive resist, a photomask having an antenna pattern was exposed and exposed.
After exposure and development, photoetching was performed to complete an inlet base film having the antenna pattern 2 as shown in FIG. One antenna pattern 2 has an outer shape of approximately 45 mm × 76 mm.

上記インレットベースフィルム11のアンテナコイル両端部2a,2bに、平面サイズが1.0mm角、厚み210μmであって、スパイク状バンプを有するICチップ3をフェイスダウンの状態で熱圧をかけて装着した。
次に、短冊状構造体10a,10b用のフィルムとして、厚み128μm、幅54mmのPETフィルムを使用し、これにポリエステル系ホットメルト接着剤を塗工したものを、ICタグ加工機のディスペンシングユニット20を用いて、長さ82mmに切断しながら、非接触ICタグ回路が形成されたベースフィルムの連続体11Rに貼着する加工を行った(図3参照)。短冊状構造体10はICチップ3の両側に幅L(図1参照)が4mmの平行な溝9を形成するように貼着した。
An IC chip 3 having a plane size of 1.0 mm square and a thickness of 210 μm and having spike-like bumps was attached to both ends 2a and 2b of the inlet base film 11 by applying heat pressure in a face-down state. .
Next, as a film for the strip-like structures 10a and 10b, a PET film having a thickness of 128 μm and a width of 54 mm is used, and a polyester hot melt adhesive is applied to the PET film. 20 was cut to a length of 82 mm and pasted to a base film continuum 11R on which a non-contact IC tag circuit was formed (see FIG. 3). The strip-shaped structure 10 was stuck on both sides of the IC chip 3 so as to form parallel grooves 9 having a width L (see FIG. 1) of 4 mm.

さらに厚み40μmの表面保護部材(コート紙)4を上記構造体10の上にポリエステル系ホットメルト接着剤シートを介して積層し熱プレスした。次に、ベースフィルム11の背面に、32μmの粘着剤層7を介して剥離紙8を積層する粘着剤加工を行い、非接触ICタグ1の連続体を完成した。最後に図5のように切り離し線12をミシン目線状に設けて、非接触ICタグ1の連続体とした。1つの非接触ICタグラベル1は、幅54mm×長さ86mmとなった。   Furthermore, a surface protective member (coated paper) 4 having a thickness of 40 μm was laminated on the structure 10 via a polyester-based hot melt adhesive sheet and hot-pressed. Next, the back surface of the base film 11 was subjected to pressure-sensitive adhesive processing in which a release paper 8 was laminated via a 32 μm pressure-sensitive adhesive layer 7 to complete a continuous body of the non-contact IC tag 1. Finally, as shown in FIG. 5, the separation line 12 is provided in the form of a perforation line to form a continuous body of the non-contact IC tag 1. One non-contact IC tag label 1 was 54 mm wide × 86 mm long.

アンテナパターン2の形成までは、実施例1と同一の材料を使用し、同一の工程によりインレットベースフィルムを完成した。なお、1つのアンテナパターン2は外形が、ほぼ45mm×76mmの大きさとなるようにした。
上記インレットベースフィルム11のアンテナコイル両端部2a,2bに、平面サイズが1.0mm角、厚み150μmであって、スパイク状バンプを有するICチップ3をフェイスダウンの状態で熱圧をかけて装着した。
Until the formation of the antenna pattern 2, the same material as in Example 1 was used, and the inlet base film was completed by the same process. One antenna pattern 2 has an outer shape of approximately 45 mm × 76 mm.
The IC chip 3 having a planar size of 1.0 mm square and a thickness of 150 μm and having spike-like bumps was attached to both ends 2a and 2b of the inlet base film 11 by applying heat pressure in a face-down state. .

次に、短冊状構造体10a,10b用のフィルムとして、厚み100μm、幅54mmのPETフィルムを使用し、これにポリエステル系ホットメルト接着剤を塗工したものを、ICタグ加工機のディスペンシングユニット20を用いて、長さ82mmに切断しながら、非接触ICタグ回路が形成されたベースフィルムの連続体11Rに貼着する加工を行った(図3参照)。短冊状構造体10はICチップ3の両側に幅L(図1参照)が4mmの平行な溝9を形成するように貼着した。   Next, as a film for the strip-like structures 10a and 10b, a PET film having a thickness of 100 μm and a width of 54 mm is used, and a polyester hot melt adhesive is applied to the PET film. 20 was cut to a length of 82 mm and pasted to a base film continuum 11R on which a non-contact IC tag circuit was formed (see FIG. 3). The strip-shaped structure 10 was stuck on both sides of the IC chip 3 so as to form parallel grooves 9 having a width L (see FIG. 1) of 4 mm.

さらに厚み40μmの表面保護部材(コート紙)4を上記構造体10の上にポリエステル系ホットメルト接着剤シートを介して積層し熱プレスした。
粘着剤層7と剥離紙8を積層する加工以降の工程は実施例1と同一条件で行った。
Further, a surface protective member (coated paper) 4 having a thickness of 40 μm was laminated on the structure 10 via a polyester-based hot melt adhesive sheet and hot-pressed.
Processes after the process of laminating the pressure-sensitive adhesive layer 7 and the release paper 8 were performed under the same conditions as in Example 1.

アンテナパターン2の形成までは、実施例1と同一の材料を使用し、同一の工程によりインレットベースフィルムを完成した。なお、1つのアンテナパターン2は外形が、ほぼ45mm×76mmの大きさとなるようにした。
上記インレットベースフィルム11のアンテナコイル両端部2a,2bに、平面サイズが1.0mm角、厚み150μmであって、スパイク状バンプを有するICチップ3をフェイスダウンの状態で熱圧をかけて装着した。
Until the formation of the antenna pattern 2, the same material as in Example 1 was used, and the inlet base film was completed by the same process. One antenna pattern 2 has an outer shape of approximately 45 mm × 76 mm.
The IC chip 3 having a planar size of 1.0 mm square and a thickness of 150 μm and having spike-like bumps was attached to both ends 2a and 2b of the inlet base film 11 by applying heat pressure in a face-down state. .

次に、短冊状構造体10a,10bとして、厚み100μmの磁性材シート(TDK株式会社製造「(商品名)IRL02」)を使用し粘着ラベル加工を行いラベル転写材料にした。1枚のラベル状磁性材シートは、幅54mm、長さ82mmになるようにした。
この磁性材シートのラベル転写材料をラベル貼り機25を用いて、図4のように、非接触ICタグが形成されたベースフィルムの連続体11Rに対して、位置合わせしてICチップ3の両側に幅L(図1参照)が4mmの平行な溝9を形成するように貼着した。
Next, as the strip-shaped structures 10a and 10b, a magnetic material sheet having a thickness of 100 μm (manufactured by TDK Corporation, “(trade name) IRL02”) was subjected to adhesive label processing to obtain a label transfer material. One label-like magnetic material sheet was 54 mm wide and 82 mm long.
The label transfer material of the magnetic material sheet is aligned with the base film continuous body 11R on which the non-contact IC tag is formed as shown in FIG. Were attached so as to form parallel grooves 9 having a width L (see FIG. 1) of 4 mm.

さらに厚み40μmの表面保護部材(コート紙)4を上記構造体10の上にポリエステル系ホットメルト接着剤シートを介して積層し熱プレスした。
粘着剤層7と剥離紙8を積層する加工以降の工程は実施例1と同一条件で行った。
Further, a surface protective member (coated paper) 4 having a thickness of 40 μm was laminated on the structure 10 via a polyester-based hot melt adhesive sheet and hot-pressed.
Processes after the process of laminating the pressure-sensitive adhesive layer 7 and the release paper 8 were performed under the same conditions as in Example 1.

アンテナパターン2の形成までは、実施例1と同一の材料を使用し、同一の工程によりインレットベースフィルムを完成した。なお、1つのアンテナパターン2は外形が、ほぼ45mm×76mmの大きさとなるようにした。
上記インレットベースフィルム11のアンテナコイル両端部2a,2bに、平面サイズが1.0mm角、厚み150μmであって、スパイク状バンプを有するICチップ3をフェイスダウンの状態で熱圧をかけて装着した。
次に、短冊状構造体10a,10b用のフィルムとして、厚み180μm、幅54mmのPETフィルムを使用し、これにポリエステル系ホットメルト接着剤を塗工したものを、ICタグ加工機のディスペンシングユニット20を用いて、長さ82mmに切断しながら、非接触ICタグ回路が形成されたベースフィルムの連続体11Rに貼着する加工を行った(図3参照)。短冊状構造体10はICチップ3の両側に幅L(図1参照)が4mmの平行な溝9を形成するように貼着した。
Until the formation of the antenna pattern 2, the same material as in Example 1 was used, and the inlet base film was completed by the same process. One antenna pattern 2 has an outer shape of approximately 45 mm × 76 mm.
The IC chip 3 having a planar size of 1.0 mm square and a thickness of 150 μm and having spike-like bumps was attached to both ends 2a and 2b of the inlet base film 11 by applying heat pressure in a face-down state. .
Next, as a film for the strip-like structures 10a and 10b, a PET film having a thickness of 180 μm and a width of 54 mm is used, and a polyester hot melt adhesive is applied to the PET film. 20 was cut to a length of 82 mm and pasted to a base film continuum 11R on which a non-contact IC tag circuit was formed (see FIG. 3). The strip-shaped structure 10 was stuck on both sides of the IC chip 3 so as to form parallel grooves 9 having a width L (see FIG. 1) of 4 mm.

さらに厚み40μmの表面保護部材(コート紙)4を上記構造体10の上にポリエステル系ホットメルト接着剤シートを介して積層し熱プレスした。
粘着剤層7と剥離紙8を積層する加工以降の工程は実施例1と同一条件で行った。
Further, a surface protective member (coated paper) 4 having a thickness of 40 μm was laminated on the structure 10 via a polyester-based hot melt adhesive sheet and hot-pressed.
Processes after the process of laminating the pressure-sensitive adhesive layer 7 and the release paper 8 were performed under the same conditions as in Example 1.

短冊状構造体10a,10bとして、厚み120μm、幅54mmの板紙を使用した以外は、実施例4と同一の条件で非接触ICタグを製造した。この短冊状構造体10にポリエステル系ホットメルト接着剤を塗工したものを、ICタグ加工機のディスペンシングユニット20を用いて、長さ82mmに切断しながら、非接触ICタグ回路が形成されたベースフィルムの連続体11Rに貼着する加工を行った(図3参照)。
短冊状構造体10はICチップ3の両側に幅L(図1参照)が4mmの平行な溝9を形成するように貼着した。
A non-contact IC tag was manufactured under the same conditions as in Example 4 except that a paperboard having a thickness of 120 μm and a width of 54 mm was used as the strip-shaped structures 10a and 10b. A non-contact IC tag circuit was formed by cutting the strip-shaped structure 10 coated with a polyester hot melt adhesive into a length of 82 mm using a dispensing unit 20 of an IC tag processing machine. The process which sticks to the continuous body 11R of a base film was performed (refer FIG. 3).
The strip-shaped structure 10 was stuck on both sides of the IC chip 3 so as to form parallel grooves 9 having a width L (see FIG. 1) of 4 mm.

さらに厚み40μmの表面保護部材(コート紙)4を上記構造体10の上にポリエステル系ホットメルト接着剤シートを介して積層し熱プレスした。
粘着剤層7と剥離紙8を積層する加工以降の工程は実施例1と同一条件で行った。
Further, a surface protective member (coated paper) 4 having a thickness of 40 μm was laminated on the structure 10 via a polyester-based hot melt adhesive sheet and hot-pressed.
Processes after the process of laminating the pressure-sensitive adhesive layer 7 and the release paper 8 were performed under the same conditions as in Example 1.

[比較例1]
アンテナパターン2の形成までは、実施例1と同一の材料を使用し、同一の工程によりインレットベースフィルムを完成した。なお、1つのアンテナパターン2は外形が、ほぼ45mm×76mmの大きさとなるようにした。
上記インレットベースフィルム11のアンテナコイル両端部2a,2bに、平面サイズが1.0mm角、厚み210μmであって、スパイク状バンプを有するICチップ3をフェイスダウンの状態で熱圧をかけて装着した。ただし、短冊状構造体は使用しないものである。粘着剤層7と剥離紙8を積層する加工以降の工程は実施例1と同一条件で行った。
[Comparative Example 1]
Until the formation of the antenna pattern 2, the same material as in Example 1 was used, and the inlet base film was completed by the same process. One antenna pattern 2 has an outer shape of approximately 45 mm × 76 mm.
An IC chip 3 having a plane size of 1.0 mm square and a thickness of 210 μm and having spike-like bumps was attached to both ends 2a and 2b of the inlet base film 11 by applying heat pressure in a face-down state. . However, strip-shaped structures are not used. Processes after the process of laminating the pressure-sensitive adhesive layer 7 and the release paper 8 were performed under the same conditions as in Example 1.

[比較例2]
アンテナパターン2の形成までは、実施例1と同一の材料を使用し、同一の工程によりインレットベースフィルムを完成した。なお、1つのアンテナパターン2は外形が、ほぼ45mm×76mmの大きさとなるようにした。
上記インレットベースフィルム11のアンテナコイル両端部2a,2bに、平面サイズが1.0mm角、厚み150μmであって、スパイク状バンプを有するICチップ3をフェイスダウンの状態で熱圧をかけて装着した。ただし、短冊状構造体は使用しないものである。粘着剤層7と剥離紙8を積層する加工以降の工程は実施例1と同一条件で行った。
[Comparative Example 2]
Until the formation of the antenna pattern 2, the same material as in Example 1 was used, and the inlet base film was completed by the same process. One antenna pattern 2 has an outer shape of approximately 45 mm × 76 mm.
The IC chip 3 having a planar size of 1.0 mm square and a thickness of 150 μm and having spike-like bumps was attached to both ends 2a and 2b of the inlet base film 11 by applying heat pressure in a face-down state. . However, strip-shaped structures are not used. Processes after the process of laminating the pressure-sensitive adhesive layer 7 and the release paper 8 were performed under the same conditions as in Example 1.

上記実施例1〜実施例5、および比較例1、比較例2の1単位の非接触ICタグ各5点について圧縮強度を測定した。測定は、株式会社エー・アンド・ディ製「テンシロン万能試験機RTE−1210」によった。その結果、実施例1〜実施例5の非接触ICタグは、ICチップの破壊時における荷重(N)が、いずれも1000N以上であったが、比較例1、比較例2の非接触ICタグは、いずれも200N〜300Nの範囲であった。
なお、1000N以上というのは、前記試験機の測定範囲(1000N)を超える趣旨であるので、絶対値は求められていない。
The compressive strength was measured for each of 5 points of the non-contact IC tag of 1 unit of Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 and 2. The measurement was based on “Tensilon universal testing machine RTE-1210” manufactured by A & D Co., Ltd. As a result, in the non-contact IC tags of Examples 1 to 5, the load (N) at the time of breaking the IC chip was 1000 N or more, but the non-contact IC tags of Comparative Example 1 and Comparative Example 2 Were all in the range of 200N to 300N.
Note that 1000 N or more is intended to exceed the measurement range (1000 N) of the testing machine, and thus an absolute value is not obtained.

以上の結果から、短冊状構造体10a,10bの厚みがICチップ3の厚みの1.2倍程度、またはICチップ3の厚み以下、2/3程度の厚みであっても、短冊状構造体10a,10bが無い通常の非接触ICタグと比較すると、3倍以上のICチップ耐破壊荷重が得られることが確認できた。
また、上記各実施例の非接触ICタグは、通常の使用条件において、ICチップが破壊して生じる不具合が顕著に減少することが認められた。
From the above results, even if the thickness of the strip-shaped structures 10a and 10b is about 1.2 times the thickness of the IC chip 3 or less than the thickness of the IC chip 3, it is about 2/3. Compared with a normal non-contact IC tag without 10a and 10b, it was confirmed that an IC chip destructive load of 3 times or more was obtained.
In addition, the non-contact IC tag of each of the above examples was found to significantly reduce the problems caused by destruction of the IC chip under normal use conditions.

本発明の非接触ICタグの例を示す概略平面図である。It is a schematic plan view which shows the example of the non-contact IC tag of this invention. 同断面図である。FIG. 非接触ICタグの製造方法を説明する図である。It is a figure explaining the manufacturing method of a non-contact IC tag. 非接触ICタグの他の製造方法を説明する図である。It is a figure explaining other manufacturing methods of a non-contact IC tag. 非接触ICタグの加工方法を説明する図である。It is a figure explaining the processing method of a non-contact IC tag. 圧縮試験機を示す図である。It is a figure which shows a compression tester. 圧縮試験機の試料の装着方法を示す図である。It is a figure which shows the mounting method of the sample of a compression tester. 一般的な非接触ICタグの実施形態を示す図である。It is a figure which shows embodiment of a general non-contact IC tag.

符号の説明Explanation of symbols

1 ICチップ破壊防止構造を有する非接触ICタグ、非接触ICタグ
2 アンテナパターン
3 ICチップ
4 表面保護部材
5,6 接着剤層
7 粘着剤層
8 剥離紙
9 溝
10,10a,10b 短冊状構造体
11 ベースフィルム
12 切り離し線、切断線
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Non-contact IC tag which has IC chip destruction prevention structure, non-contact IC tag 2 Antenna pattern 3 IC chip 4 Surface protection member 5,6 Adhesive layer 7 Adhesive layer 8 Release paper 9 Groove 10, 10a, 10b Strip-shaped structure Body 11 Base film 12 Cut line, cut line

Claims (7)

ベースフィルム面にアンテナパターンを形成してICチップを装着し、それらを被覆する表面保護部材を有する非接触ICタグにおいて、上記表面保護部材とベースフィルム間であって、ICチップの両側にICチップと同等厚み以下の2枚の短冊状構造体が平行な帯状の溝を形成するように間隔を置いて配置された非接触ICタグにおいて、ICチップの圧縮破壊時における荷重が、短冊状構造体を除いた以外は同一構造を有する非接触ICタグの3倍以上であることを特徴とするICチップ破壊防止構造を有する非接触ICタグ。 In a non-contact IC tag having a surface protection member for forming an antenna pattern on a base film surface and mounting an IC chip, and covering the IC chip, the IC chip is located between the surface protection member and the base film on both sides of the IC chip. In a non-contact IC tag in which two strip-shaped structures having a thickness equal to or less than the thickness are arranged so as to form parallel strip-shaped grooves, the load at the time of IC chip compression failure is reduced. A non-contact IC tag having an IC chip destruction prevention structure, wherein the non-contact IC tag has three or more times the non-contact IC tag having the same structure except for. ベースフィルム面にアンテナパターンを形成してICチップを装着し、それらを被覆する表面保護部材を有する非接触ICタグにおいて、上記表面保護部材とベースフィルム間であって、ICチップの両側にICチップと同等厚み以下の2枚の短冊状構造体が平行な帯状の溝を形成するように間隔を置いて配置された非接触ICタグにおいて、ICチップの圧縮破壊時における荷重が、1000N以上であることを特徴とするICチップ破壊防止構造を有する非接触ICタグ。 In a non-contact IC tag having a surface protection member for forming an antenna pattern on a base film surface and mounting an IC chip, and covering the IC chip, the IC chip is located between the surface protection member and the base film on both sides of the IC chip. In a non-contact IC tag in which two strip-shaped structures having a thickness equal to or less than the thickness are arranged so as to form parallel strip-shaped grooves, the load at the time of IC chip compression failure is 1000 N or more A non-contact IC tag having an IC chip breakage preventing structure. ベースフィルム面にアンテナパターンを形成してICチップを装着し、それらを被覆する表面保護部材を有する非接触ICタグにおいて、上記表面保護部材とベースフィルム間であって、ICチップの両側に2枚の短冊状構造体が平行な帯状の溝を形成するように間隔を置いて配置された非接触ICタグにおいて、ICチップの圧縮破壊時における荷重が、1000N以上であることを特徴とするICチップ破壊防止構造を有する非接触ICタグ。 In a non-contact IC tag having a surface protection member for forming an antenna pattern on a base film surface and mounting an IC chip and covering them, two pieces are provided between the surface protection member and the base film on both sides of the IC chip. In the non-contact IC tag in which the strip-shaped structures are arranged at intervals so as to form parallel strip-shaped grooves, the load at the time of compressive failure of the IC chip is 1000 N or more A non-contact IC tag having a destruction prevention structure. 短冊状構造体の厚みが、ICチップの厚みの60%以上の均一厚みを有する紙またはプラスチックフィルムであることを特徴とする請求項1または請求項2記載のICチップ破壊防止構造を有する非接触ICタグ。 3. The contactless structure having an IC chip breakage prevention structure according to claim 1, wherein the strip structure is a paper or plastic film having a uniform thickness of 60% or more of the thickness of the IC chip. IC tag. 短冊状構造体の厚みが、ICチップの厚みの60%以上の均一厚みを有する磁性材シートであることを特徴とする請求項1または請求項2記載のICチップ破壊防止構造を有する非接触ICタグ。 3. The non-contact IC having an IC chip destruction preventing structure according to claim 1, wherein the strip-like structure is a magnetic material sheet having a uniform thickness of 60% or more of the thickness of the IC chip. tag. ICチップの厚みが、150μm〜210μmの範囲であって、短冊状構造体が、250μm以下の均一厚みからなる紙またはプラスチックフィルムであることを特徴とする請求項3記載のICチップ破壊防止構造を有する非接触ICタグ。 4. The IC chip breakage preventing structure according to claim 3, wherein the thickness of the IC chip is in a range of 150 [mu] m to 210 [mu] m, and the strip structure is a paper or plastic film having a uniform thickness of 250 [mu] m or less. Non-contact IC tag having. ICチップの厚みが、150μm〜210μmの範囲であって、短冊状構造体が、250μm以下の均一厚みからなる磁性材シートであることを特徴とする請求項3記載のICチップ破壊防止構造を有する非接触ICタグ。






4. The IC chip destruction preventing structure according to claim 3, wherein the thickness of the IC chip is in a range of 150 [mu] m to 210 [mu] m, and the strip structure is a magnetic material sheet having a uniform thickness of 250 [mu] m or less. Non-contact IC tag.






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