JP2007112658A - 半導体単結晶の製造方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】ドープ剤の投入時期、ドープ剤の性状、ドープ剤の投入位置を特定することによって、好適な単結晶を得ることができる半導体単結晶の製造方法を提供する。
【解決手段】粒径を選別した顆粒状のドープ剤14を、原料溶融液上方に位置するドープ剤投入容器10から原料溶融液6に向け、投入する工程において、前記原料溶融液6の湯面からのドープ剤投入位置をX(m)とした場合、前記ドープ剤の粒径Y(mm)がY≧0.8X+0.04の式を満足する粒径であって、かつ前記ドープ剤14が単結晶引上線A上から投入される。
【選択図】図1
【解決手段】粒径を選別した顆粒状のドープ剤14を、原料溶融液上方に位置するドープ剤投入容器10から原料溶融液6に向け、投入する工程において、前記原料溶融液6の湯面からのドープ剤投入位置をX(m)とした場合、前記ドープ剤の粒径Y(mm)がY≧0.8X+0.04の式を満足する粒径であって、かつ前記ドープ剤14が単結晶引上線A上から投入される。
【選択図】図1
Description
本発明は、半導体単結晶の製造方法に関し、特にドープ剤の投入工程を含む半導体単結晶の製造方法に関する。
シリコン単結晶等の半導体単結晶の製造方法として、ルツボの中で単結晶原料を溶融し、種結晶を単結晶原料の溶融液面に接触させると同時に回転させながら引上げる、いわゆるCZ法がよく知られている。この半導体単結晶の製造方法にあっては、一般的に、1回の操業で単結晶を1本引上げるという、1本引き操業がなされている。
しかしながら、今日、生産効率の向上の観点から1回の操業で複数の単結晶を引上げるマルチ引上げ操業が検討されている。
しかしながら、今日、生産効率の向上の観点から1回の操業で複数の単結晶を引上げるマルチ引上げ操業が検討されている。
このマルチ引上げ操業は、原料溶融液から単結晶を引上げた後、ルツボを加熱するヒータ電源をOFFすることなく、単結晶原料をルツボに再度チャージして溶融し、再度単結晶を成長させ引上げる工程を、数回行なうものである。あるいはまた、原料溶融液から単結晶を引上げた後、単結晶原料をルツボにチャージすることなく、再度単結晶を成長させ、複数本の単結晶を連続的に引上げるものである。
この操業方法にあっては、炉内部品の冷却時間やチャンバ清掃時間を数バッチ分省略することができ、また通常は単結晶1本分の引上げ毎に1個必要であったルツボも、数本の単結晶に対して1個の使用で済み、製造コストが低減することができるというメリットがある。
一方、単結晶を1本引上げるごとに操業をやり直す半導体単結晶の製造方法において、従来から所望の比抵抗を得るために所定量のドープ剤を投入することが行われていた。このドープ剤は、一般的には、単結晶原料の隙間にドープ材を入れ、前記単結晶原料とともに溶かすことで投入されていた。尚、例えば、特許文献1に記載されているように、ルツボ内に単結晶原料のみを投入して予め溶融した後、ドープ供給管を湯面近くに配置し、前記投入投入管から溶融シリコン中にドープ剤を投入する方法についても提案されている。
特公平6−11680号公報
ところで、前記したマルチ操業においても、所望の比抵抗を得るために所定量のドープ剤を投入する必要があり、如何なる時期に前記ドープ剤を投入すべきか何ら検討されていなかった。また、如何なる形状のドープ剤を投入すべきか何ら検討されていなかった。
そこで、本発明者らは、いわゆるマルチ操業におけるドープ剤の投入時期について、またドープ剤の性状について、更には、ドープ剤の投入位置について鋭意検討を重ね、本発明を完成するに至った。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、いわゆるマルチ操業で単結晶を引上げる半導体単結晶の製造方法において、ドープ剤の投入時期、ドープ剤の性状、ドープ剤の投入位置を特定することによって、好適な単結晶を得ることができる半導体単結晶の製造方法を提供することを目的とするものである。
本発明にかかる半導体単結晶の製造方法は、CZ法により、原料溶融液から単結晶を引上げた後、ルツボ内に単結晶原料をチャージして溶融し、再度単結晶を成長させ、単結晶を引上げる半導体単結晶の製造方法において、前記原料溶融液から単結晶を引上げた後、ルツボ内の原料溶融液に単結晶原料をチャージし、単結晶原料を溶融する工程と、前記工程が終了した後に、粒径を選別した顆粒状のドープ剤を、原料溶融液上方に位置するドープ剤投入容器から原料溶融液に向け、投入する工程と、前記ドープ剤の投入工程終了後、単結晶を成長させ、再度単結晶を引上げる引上げ工程とを含み、前記ドープ剤の投入工程において、前記原料溶融液の湯面からのドープ剤投入位置をX(m)とした場合、前記ドープ剤の粒径Y(mm)がY≧0.8X+0.04の式を満足する粒径であって、かつ前記ドープ剤が単結晶引上線上から投入されることを特徴としている。
本発明にかかる半導体単結晶の製造方法は、CZ法により、原料溶融液から単結晶を引上げた後、再度単結晶を成長させ、複数本の単結晶を連続的に引上げる半導体単結晶の製造方法において、ルツボ内に単結晶原料を収容し、単結晶原料を溶融する工程と、前記工程が終了した後に、粒径を選別した顆粒状のドープ剤を、原料溶融液上方に位置するドープ剤投入容器から原料溶融液に向け、投入する工程と、前記ドープ剤の投入工程終了後、連続的に複数本の単結晶を引上げる引上げ工程とを含み、前記ドープ剤の投入工程において、前記原料溶融液の湯面からのドープ剤投入位置をX(m)とした場合、前記ドープ剤の粒径Y(mm)がY≧0.8X+0.04の式を満足する粒径であって、かつ前記ドープ剤が単結晶引上線上から投入されることを特徴としている。
ここで、前記ドープ剤投入容器から顆粒状のドープ剤を連続的に原料溶融液に向けて自由落下させ、前記原料溶融液の湯面の狭小範囲に投入されることが望ましい。
本発明にかかる半導体単結晶の製造方法にあっては、CZ法により、原料溶融液から単結晶を引上げた後、ルツボ内に単結晶原料をチャージして溶融し、再度単結晶を成長させ、単結晶を引上げるマルチ操業、またCZ法により、原料溶融液から単結晶を引上げた後、再度単結晶を成長させ、複数本の単結晶を連続的に引上げるマルチ操業に適用される。
ここで、CZ法により、原料溶融液から単結晶を引上げた後、ルツボ内に単結晶原料をチャージして溶融し、再度単結晶を成長させ、単結晶を引上げる半導体単結晶の製造方法(マルチ操業)にあっては、少なくとも、前記原料溶融液から単結晶を引上げた後、ルツボ内の原料溶融液に単結晶原料をチャージし、単結晶原料を溶融する工程と、前記工程が終了した後に、粒径を選別した顆粒状のドープ剤を、原料溶融液上方に位置するドープ剤投入容器から原料溶融液に向け、投入する工程と、前記ドープ剤の投入工程終了後、単結晶を成長させ、再度単結晶を引上げる引上げ工程とが含まれる。
また、CZ法により、原料溶融液から単結晶を引上げた後、再度単結晶を成長させ、複数本の単結晶を連続的に引上げる半導体単結晶の製造方法(マルチ操業)にあっては、少なくとも、ルツボ内に単結晶原料を収容し、単結晶原料を溶融する工程と、前記工程が終了した後に、粒径を選別した顆粒状のドープ剤を、原料溶融液上方に位置するドープ剤投入容器から原料溶融液に向け、投入する工程と、前記ドープ剤の投入工程終了後、連続的に複数本の単結晶を引上げる引上げ工程とが含まれる。
そして、いずれのマルチ操業おけるドープ剤の投入工程においても、所定の粒径を有する顆粒状のドープ剤が、原料溶融液の湯面上の所定位置から単結晶引上線上を落下、投入される。
そのため、落下途中におけるドープ剤の蒸発が少なく、しかも飛散が少なく、所定の位置にかつ狭小範囲に、正確に投入することができる。したがって、単結晶の抵抗値を精度良くコントロールでき、抵抗値のバラツキを低減でき、所望の比抵抗を得る単結晶を得ることができる。しかも、このドープ剤の投入は、単結晶の無転位化に影響を及ぼすものでない。
そのため、落下途中におけるドープ剤の蒸発が少なく、しかも飛散が少なく、所定の位置にかつ狭小範囲に、正確に投入することができる。したがって、単結晶の抵抗値を精度良くコントロールでき、抵抗値のバラツキを低減でき、所望の比抵抗を得る単結晶を得ることができる。しかも、このドープ剤の投入は、単結晶の無転位化に影響を及ぼすものでない。
本発明の半導体単結晶の製造方法によれば、所望の比抵抗を有した無転位の単結晶を、効率よく得ることができる。
本発明にかかる半導体単結晶の製造方法の一実施形態について、図1及び図2に基づいて説明する。なお、図1はこの方法に用いられる単結晶引上げ装置を示す概略構成図、図2はドープ剤投入容器を示す概略構成図である。
図1に示すように、本発明にかかわる半導体単結晶製造方法に用いられる単結晶引上げ装置1は、メインチャンバ2とそのメインチャンバ2の上部に形成されたドアチャンバ3により構成されている。
前記メインチャンバ2の内部には、従来と同様にヒータ4の内側にルツボ(たとえば石英ガラス製ルツボ)5が回転軸8を中心に回転可能に配置されている。また、前記ルツボ5の中には単結晶原料(たとえば多結晶シリコン)が収容され、前記ヒータ4により加熱されることにより、原料溶融液(たとえばシリコン融液)6が形成されるように構成されている。
前記メインチャンバ2の内部には、従来と同様にヒータ4の内側にルツボ(たとえば石英ガラス製ルツボ)5が回転軸8を中心に回転可能に配置されている。また、前記ルツボ5の中には単結晶原料(たとえば多結晶シリコン)が収容され、前記ヒータ4により加熱されることにより、原料溶融液(たとえばシリコン融液)6が形成されるように構成されている。
また、前記ヒータ4の外周囲には保温筒9が配置されると共に、前記原料溶融液6の上方には、輻射シールド7が設けられている。この輻射シールド7は、単結晶引上線Aを含む原料溶融液6の中心部分を除いて、原料溶融液6の湯面を覆うように設置されている。
また、前記ドアチャンバ3には、ドープ剤導入容器10が単結晶引上線A上に進退可能に設けられている。更に、図示しないが、前記ドアチャンバ3には、引上げられた単結晶をドアチャンバ3の外部に搬出するための搬出部が形成され、また前記ドアチャンバの上方には、種結晶を降ろし、成長した単結晶を引上げる引上げ装置が設けられている。
この引上げ装置における、単結晶を引上げるワイヤーは、回転軸の軸線延長線上に位置するように配置される。即ち、単結晶を引上げるワイヤーは、単結晶引上線A上に位置するように配置されている。
この引上げ装置における、単結晶を引上げるワイヤーは、回転軸の軸線延長線上に位置するように配置される。即ち、単結晶を引上げるワイヤーは、単結晶引上線A上に位置するように配置されている。
尚、図示しないが、チャンバ内部を所定の圧力、雰囲気になすためのガス導入手段と、ガス排出手段を備えている。
次に、ドープ剤投入容器について図2に基づいて説明する。
図2に示したドープ剤導入容器10は、有底円柱形状に形成され、ドープ剤を収容する収納部10aと、前記収容部10a側壁の上端部の一部に形成された、ドープ剤の導出口10bと、前記収容部10aを傾斜させる操作棒10cとから構成されている。
即ち、このドープ導入容器10は、前記操作棒10cを回動させ、収容部10aを傾斜させることにより、収納部10aに収納されているドープ剤を導出口10bから導出するように構成されている。
図2に示したドープ剤導入容器10は、有底円柱形状に形成され、ドープ剤を収容する収納部10aと、前記収容部10a側壁の上端部の一部に形成された、ドープ剤の導出口10bと、前記収容部10aを傾斜させる操作棒10cとから構成されている。
即ち、このドープ導入容器10は、前記操作棒10cを回動させ、収容部10aを傾斜させることにより、収納部10aに収納されているドープ剤を導出口10bから導出するように構成されている。
また、前記ドープ剤導入容器10のドープ剤導入口10bは、回転軸の軸線延長線上、即ち、単結晶引上線A上に位置するように配置される。したがって、前記ドープ剤導入容器10は、ドープ剤投入時に、前記した位置に進行するために、図示しないが進退機構が設けられている。
更に、ドープ剤導入容器に収容されるドープ剤について説明する。
ドープ剤14は顆粒であって、ボロンとシリコンとの合金だけではなく、ボロンエレメントや、リンとシリコンの合金、アンチモンや砒素について同様に用いることができる。
このドープ剤14の粒径は、前記原料溶融液の湯面からのドープ剤投入位置(ドープ剤導入容器の導出口10bの位置)によって決定される。
ドープ剤14は顆粒であって、ボロンとシリコンとの合金だけではなく、ボロンエレメントや、リンとシリコンの合金、アンチモンや砒素について同様に用いることができる。
このドープ剤14の粒径は、前記原料溶融液の湯面からのドープ剤投入位置(ドープ剤導入容器の導出口10bの位置)によって決定される。
具体的に説明すると、原料溶融液の湯面からのドープ剤投入位置(ドープ剤導入容器の導出口10bの位置)をX(m)とした場合、前記ドープ剤14の粒径Y(mm)がY≧0.8X+0.04の式を満足する粒径のもが用いられる。
このような特定の性状を有するドープ剤14を用いると、引上げられた単結晶における抵抗値のバラツキが少なく、所望の比抵抗を有する単結晶を得ることができる。
このような特定の性状を有するドープ剤14を用いると、引上げられた単結晶における抵抗値のバラツキが少なく、所望の比抵抗を有する単結晶を得ることができる。
次に、本発明にかかる半導体単結晶の製造方法について説明する。尚、ここでは、CZ法により、原料溶融液から単結晶を引上げた後、ルツボ内に単結晶原料をチャージして溶融し、再度単結晶を成長させ、単結晶を引上げるマルチ操業を例にとって説明する。
先ず、前記メインチャンバ2内においてルツボ5内の単結晶原料6を溶融した後に、ドープ剤14を投入する。
このドープ剤14を投入する際、単結晶原料は溶融状態にあり、前記ドープ剤導入容器10を進行させ、前記ドープ剤導入容器10のドープ剤導入口10bを、回転軸の軸線延長線上、即ち、単結晶引上線A上に位置させる。
そして、操作棒10cを回動させ、所定の粒径を有するドープ剤をドープ剤導入口10bから、連続的に自由落下させる。なお、メインチャンバ2及びドアチャンバ3内の雰囲気の流れは殆どなく、前記ドープ剤14は垂直に落下する。
先ず、前記メインチャンバ2内においてルツボ5内の単結晶原料6を溶融した後に、ドープ剤14を投入する。
このドープ剤14を投入する際、単結晶原料は溶融状態にあり、前記ドープ剤導入容器10を進行させ、前記ドープ剤導入容器10のドープ剤導入口10bを、回転軸の軸線延長線上、即ち、単結晶引上線A上に位置させる。
そして、操作棒10cを回動させ、所定の粒径を有するドープ剤をドープ剤導入口10bから、連続的に自由落下させる。なお、メインチャンバ2及びドアチャンバ3内の雰囲気の流れは殆どなく、前記ドープ剤14は垂直に落下する。
このように、単結晶原料を溶融した後に、所定の粒径を有する顆粒状のドープ剤14を、原料溶融液6の湯面上の所定位置から単結晶引上線A上を落下、投入するため、落下途中におけるドープ剤14の蒸発が少なく、しかも飛散が少なく、単結晶引上線A上の湯面上及びその近傍の狭小範囲に、正確に投入することができる。
前記ドープ剤14の投入後、ドープ剤導入容器10は後退し、ドアチャンバ3の外部に搬出させる。なお、前記ドープ剤導入容器10の搬出の際、メインチャンバ2,ドアチャンバ3を真空または減圧あるいは不活性ガスの状態に保持される。
そして、ドープ剤導入容器10の後退後、図示しないワイヤーに取り付けられた種結晶を原料溶融液の湯面まで降下させる。種結晶を原料溶融液の湯面に接触させた後、単結晶を成長させながら、前記引上げ装置がワイヤーを巻き取ることで前記単結晶が引上げられる。そして、前記引上げられた単結晶は、ドアチャンバ3から搬出される。
続いて、2本目の単結晶の引上げは、まず、前記ルツボ5内に単結晶原料を追加投入する。このとき、ルツボ5を加熱するヒータはOFFすることなく、ON状態が維持されており、投入された単結晶原料は溶融される。
この後、ドープ剤14を再び投入する。このドープ剤14を投入する際、再び、ドープ導入容器10をドアチャンバ3の内部に搬入し、ドープ剤導入容器10を進行させ、前記ドープ剤導入容器10のドープ剤導入口10bを、回転軸の軸線延長線上、即ち、単結晶引上線A上に位置させる。そして、操作棒10cを回動させ、所定の粒径を有するドープ剤をドープ剤導入口10bから、連続的に自由落下させる。
この後、ドープ剤14を再び投入する。このドープ剤14を投入する際、再び、ドープ導入容器10をドアチャンバ3の内部に搬入し、ドープ剤導入容器10を進行させ、前記ドープ剤導入容器10のドープ剤導入口10bを、回転軸の軸線延長線上、即ち、単結晶引上線A上に位置させる。そして、操作棒10cを回動させ、所定の粒径を有するドープ剤をドープ剤導入口10bから、連続的に自由落下させる。
この後、前記したように種結晶を原料溶融液の湯面まで降下させる。種結晶を原料溶融液の湯面に接触させた後、単結晶を成長させながら、前記引上げ装置がワイヤーを巻き取ることで、2本目の単結晶が引上げられる。そして、前記引上げられた2本目の単結晶は、ドアチャンバ3から搬出される。
そして、更に上記説明した工程を繰り返すことで、数本の単結晶を引上げることができる。
そして、更に上記説明した工程を繰り返すことで、数本の単結晶を引上げることができる。
尚、本発明にかかるドープ剤導入容器は図2に示した導入容器に限定されるものではなく、図3に示すドープ剤導入容器であっても良い。
図3に示したドープ剤導入容器11は、有底円柱形状部に上方に円錐形状部が形成された、ドープ剤を収容する収納部11aと、前記円錐形状部の頂部に開口して形成された、ドープ剤の導出口10bと、前記収容部11aを傾斜させる操作棒11cとから構成されている。
このドープ剤導入容器11は、前記したドープ剤導入容器10と同様に、操作棒11cを回動させ、収容部11aを傾斜させることにより、収納部11aに収納されているドープ剤を導出口11bから導出するように構成されている。
図3に示したドープ剤導入容器11は、有底円柱形状部に上方に円錐形状部が形成された、ドープ剤を収容する収納部11aと、前記円錐形状部の頂部に開口して形成された、ドープ剤の導出口10bと、前記収容部11aを傾斜させる操作棒11cとから構成されている。
このドープ剤導入容器11は、前記したドープ剤導入容器10と同様に、操作棒11cを回動させ、収容部11aを傾斜させることにより、収納部11aに収納されているドープ剤を導出口11bから導出するように構成されている。
また、本発明にかかるドープ剤導入容器は、図4に示すドープ剤導入容器であっても良い。この図3に示したドープ剤導入容器11の変形例であって、このドープ剤導入容器12は、円柱形状部の下方に円錐形状部が形成された、ドープ剤を収容する収納部12aと、前記円錐形状部の頂部に開口して形成された、ドープ剤の導出口12bと、前記収容部12aを進退させる操作棒12cと構成されている。
そして更に、このドープ剤導入容器12は、前記ドープ剤導出口12bの開閉を行なう、進退可能な開閉板13とを備えている。
このドープ剤導入容器12は、前記開閉板13を後退させることにより、前記導出口12bを開き、収納部12aに収納されているドープ剤を導出するように構成されている。
そして更に、このドープ剤導入容器12は、前記ドープ剤導出口12bの開閉を行なう、進退可能な開閉板13とを備えている。
このドープ剤導入容器12は、前記開閉板13を後退させることにより、前記導出口12bを開き、収納部12aに収納されているドープ剤を導出するように構成されている。
次に、本発明におけるドープ剤の投入位置とドープ剤の粒径との関係の求める実験を行なった。単結晶はシリコン単結晶で直径8インチとし、マルチ引き操業を行ない、ルツボ内の原料溶融液が100kgでドープ剤を投入した。ドープ剤導入容器として図2に示したものを用いた。またメインチャンバ内にアルゴンガス流量150L/min、メインチャンバの圧力を100torrとした。
ドープ剤として、ボロンとシリコンとの合金を使用し、投入量は11gとし、更に粒径が0.2mm、0.4mm、0.7mm、1mm、2mm、3mmのものを用いた。そして、原料溶融液の湯面上の所定高さから単結晶引上線上を落下、投入した。投入高さとして、500mm、1000mm、1500mm、1900mmを選択した。
上記条件のもと、単結晶を引上げ、単結晶が有する比抵抗値を測定し、所望の抵抗値からズレ量を測定した。尚、抵抗値が狙い抵抗値に対して1.5%以上高くずれた値の場合、抵抗のずれ有りとし、抵抗値が狙い抵抗値に対して1.5%未満のずれに収まった場合、抵抗のずれなしとし評価した。その結果を、図5に示す。
この図5から明らかなように、ドープ剤粒径Y(mm)がY≧0.8X+0.04の式を満足することで、抵抗のズレが発生しないことを確認することできた(Xm:湯面からのドープ剤投入位置(m))
本発明は、半導体単結晶の製造分野において好適に用いることができる。なお、本発明はシリコン単結晶の製造に限定されるものではなく、広く半導体単結晶の製造分野において用いられるものである。
1 単結晶引上げ装置
2 メインチャンバ
3 ドアチャンバ
4 ヒータ
5 ルツボ
6 原料溶融液
7 輻射シールド
8 回転軸
9 保温筒
10 ドープ剤投入容器
11 ドープ剤投入容器
12 ドープ剤投入容器
2 メインチャンバ
3 ドアチャンバ
4 ヒータ
5 ルツボ
6 原料溶融液
7 輻射シールド
8 回転軸
9 保温筒
10 ドープ剤投入容器
11 ドープ剤投入容器
12 ドープ剤投入容器
Claims (3)
- CZ法により、原料溶融液から単結晶を引上げた後、ルツボ内に単結晶原料をチャージして溶融し、再度単結晶を成長させ、単結晶を引上げる半導体単結晶の製造方法において、
前記原料溶融液から単結晶を引上げた後、ルツボ内の原料溶融液に単結晶原料をチャージし、単結晶原料を溶融する工程と、
前記工程が終了した後に、粒径を選別した顆粒状のドープ剤を、原料溶融液上方に位置するドープ剤投入容器から原料溶融液に向け、投入する工程と、
前記ドープ剤の投入工程終了後、単結晶を成長させ、再度単結晶を引上げる引上げ工程とを含み、
前記ドープ剤の投入工程において、前記原料溶融液の湯面からのドープ剤投入位置をX(m)とした場合、前記ドープ剤の粒径Y(mm)がY≧0.8X+0.04の式を満足する粒径であって、かつ前記ドープ剤が単結晶引上線上から投入されることを特徴とする半導体単結晶の製造方法。 - CZ法により、原料溶融液から単結晶を引上げた後、再度単結晶を成長させ、複数本の単結晶を連続的に引上げる半導体単結晶の製造方法において、
ルツボ内に単結晶原料を収容し、前記単結晶原料を溶融する工程と、
前記工程が終了した後に、粒径を選別した顆粒状のドープ剤を、前記原料溶融液上方に位置するドープ剤投入容器から前記原料溶融液に向け、投入する工程と、
前記ドープ剤の投入工程終了後、連続的に複数本の単結晶を引上げる引上げ工程とを含み、
前記ドープ剤の投入工程において、前記原料溶融液の湯面からのドープ剤投入位置をX(m)とした場合、前記ドープ剤の粒径Y(mm)がY≧0.8X+0.04の式を満足する粒径であって、かつ前記ドープ剤が単結晶引上線上から投入されることを特徴とする半導体単結晶の製造方法。 - 前記ドープ剤投入容器から顆粒状の前記ドープ剤を連続的に前記原料溶融液に向けて自由落下させ、前記原料溶融液の湯面の狭小範囲に投入されること特徴とする請求項1または請求項2に記載された半導体単結晶の製造方法。
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