JP2007078581A - Illumination device for visual inspection - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an illumination device capable of performing visual inspection of high precision. <P>SOLUTION: The illumination device 20 for visual inspection is equipped with a light emitting diode group 68 for a dark visual field and a light emitting diode group 70 for a bright visual field. Upon visual examination due to the dark visual field method, only the light emitting diode group 68 for the dark visual field is made effective and, upon visual examination due to the bright visual field method, only the light emitting diode group 70 for the bright visual field is made effective. The illumination light emitted from the light emitting diode group 68 or 70 is diffused by a diffusion plate 74 or 78 to irradiate a contact lens 50 being an inspection target. Accordingly, the contact lens 50 is illuminated with uniform brightness and the so-called luminous intensity irregularity is not generated. As a result, visual examination can be performed with uniform precision over the whole of the contact lens 50. Upon visual examination due to the dark visual field method, the diffusion plate 78 for the dark visual field method is covered with a shutter plate 80 from above. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

この発明は、外観検査用照明装置に関し、特に例えば外観検査装置による検査対象物に照明用の光を照射する、外観検査用照明装置に関する。   BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a visual inspection illumination device, and more particularly to a visual inspection illumination device that irradiates, for example, an object to be inspected by a visual inspection device.

この種の照明装置は、例えばコンタクトレンズ用の外観検査装置に用いられる。そして、かかるコンタクトレンズ用の外観検査装置として、従来、例えば特許文献1に開示されたものがある。この従来技術によれば、照明装置としての円形光源手段が、検査対象物(被検査物)であるコンタクトレンズの下方に配置される。そして、この円形光源手段から、円形状の照明光が発せられ、この照明光は、コンタクトレンズに投射される。ここで、コンタクトレンズに疵等の欠陥がある場合、当該コンタクトレンズに投射された照明光は、この欠陥部分によって乱反射される。そして、乱反射された光は、コンタクトレンズの上方に配置された電子撮像装置に入射される。この結果、欠陥部分が強調された撮像画像が得られ、この撮像画像に基づいてコンタクトレンズの外観検査判定が行われる。なお、コンタクトレンズと電子撮像装置との間には、コンタクトレンズの外周外側を通過する不要照明光を遮蔽するためのマスク手段が、設けられる。   This type of illumination device is used in, for example, an appearance inspection device for contact lenses. As such an appearance inspection apparatus for contact lenses, there is a conventional one disclosed in Patent Document 1, for example. According to this prior art, the circular light source means as an illuminating device is disposed below a contact lens that is an inspection object (inspection object). And circular illumination light is emitted from this circular light source means, and this illumination light is projected on a contact lens. Here, when the contact lens has a defect such as a flaw, the illumination light projected on the contact lens is irregularly reflected by the defective portion. Then, the irregularly reflected light is incident on an electronic imaging device disposed above the contact lens. As a result, a captured image in which the defective portion is emphasized is obtained, and the appearance inspection determination of the contact lens is performed based on the captured image. Note that mask means for shielding unnecessary illumination light passing through the outer periphery of the contact lens is provided between the contact lens and the electronic imaging device.

特開平11−23414号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-23414

しかし、上述の従来技術では、円形光源手段から発せられた照明光が、直接、コンタクトレンズに投射されるため、当該コンタクトレンズ上に言わば照度むら(分布)が生じる。このため、コンタクトレンズ上で上述の欠陥部分が見え易い場所とそうでない場所とが生じ、場合によっては当該欠陥部分が見落とされる恐れがある、つまり外観検査精度が低下する、という問題がある。   However, in the above-described conventional technology, the illumination light emitted from the circular light source means is directly projected onto the contact lens, so that uneven illuminance (distribution) occurs on the contact lens. For this reason, a place where the above-described defective portion is easily visible on the contact lens and a place where the above-described defective portion is not visible are generated, and there is a possibility that the defective portion may be overlooked depending on the case.

そこで、この発明は、従来よりも高精度に外観検査を行うことができる外観検査用照明装置を提供することを、目的とする。   Accordingly, an object of the present invention is to provide an illumination device for appearance inspection that can perform an appearance inspection with higher accuracy than before.

かかる目的を達成するために、この発明は、外観検査装置による検査対象物に照明用の光を照射する外観検査用照明装置において、検査対象物に向けて光を発する発光手段と、この発光手段と検査対象物との間に設けられ当該光に対して略半透明な性質を持つ光拡散手段と、を具備することを特徴とするものである。   In order to achieve such an object, the present invention provides a light emitting means for emitting light toward an inspection object in the visual inspection illumination apparatus for irradiating the inspection object by the visual inspection apparatus with light for illumination, and the light emitting means. And a light diffusing means provided between the inspection object and the object to be inspected and having a substantially semi-transparent property with respect to the light.

即ち、この発明では、発光手段から照明用の光、つまり照明光が発せられ、この照明光は、光拡散手段を介して、検査対象物に照射される。ここで、光拡散手段は、照明光に対して略半透明な性質を有し、換言すれば当該照明光を散乱させる作用を奏する。従って、照明光は、この光拡散手段による散乱作用によって拡散され、拡散された照明光が、検査対象物に照射される。この結果、検査対象物が一様な明るさで照明され、照度むらが抑制される。   That is, in this invention, light for illumination, that is, illumination light is emitted from the light emitting means, and this illumination light is applied to the inspection object via the light diffusing means. Here, the light diffusing means has a substantially semi-transparent property with respect to the illumination light, in other words, has an effect of scattering the illumination light. Therefore, the illumination light is diffused by the scattering action by the light diffusing means, and the diffused illumination light is irradiated to the inspection object. As a result, the inspection object is illuminated with uniform brightness, and uneven illuminance is suppressed.

なお、発光手段は、複数であってもよい。このようにすれば、照明光による照明範囲(領域)が拡大し、また当該照明光の光度(検査対象物の照度)が向上する。   There may be a plurality of light emitting means. In this way, the illumination range (area) by the illumination light is expanded, and the intensity of the illumination light (illuminance of the inspection object) is improved.

この場合、全ての発光手段と検査対象物との間に、光拡散手段が設けられる。そして、各発光手段から検査対象物までの距離が略均等とされ、かつ当該各発光手段から光拡散手段までの距離もまた略均等とされるのが、望ましい。このようにすれば、各発光手段から光拡散手段を介して検査対象物までの照明光の照射条件が略均等となり、複数の発光手段が設けられた場合でも、照度むらの発生が抑制される。   In this case, a light diffusing unit is provided between all the light emitting units and the inspection object. It is desirable that the distance from each light emitting means to the inspection object is substantially equal, and the distance from each light emitting means to the light diffusing means is also substantially equal. In this way, the illumination conditions of the illumination light from each light emitting means to the inspection object through the light diffusing means become substantially equal, and even when a plurality of light emitting means are provided, the occurrence of uneven illuminance is suppressed. .

かかる発明は、例えば、検査対象物に対して斜め方向から照明光を照射し、この照明光の散乱や反射を観察することによって外観検査を行う、いわゆる暗視野法の外観検査装置に、適用される。この場合、検査対象物は、外観検査装置が備える対物レンズの光軸上に、配置される。そして、発光手段は、当該光軸に沿う方向において検査対象物の配置位置からずれており、かつ当該光軸に対して直角な方向において検査対象物の周縁よりも当該光軸から離れた位置に、設けられる。   Such an invention is applied to, for example, a so-called dark field appearance inspection apparatus that performs an appearance inspection by irradiating an inspection object with illumination light from an oblique direction and observing scattering and reflection of the illumination light. The In this case, the inspection object is arranged on the optical axis of the objective lens included in the appearance inspection apparatus. Then, the light emitting means is displaced from the arrangement position of the inspection object in the direction along the optical axis, and at a position farther from the optical axis than the periphery of the inspection object in the direction perpendicular to the optical axis. Provided.

なお、この暗視野法による外観検査は、例えば、検査対象物の輪郭(エッジ)や、当該検査対象物の表面状態、特に当該表面における疵等の欠陥の有無を検査するのに、好適である。   The appearance inspection by the dark field method is suitable for, for example, inspecting the outline (edge) of the inspection object and the surface state of the inspection object, particularly the presence or absence of defects such as wrinkles on the surface. .

さらに、この暗視野法による外観検査用途において、例えば、検査対象物が照明光に対して略透明な性質を持つ透明体である場合には、発光手段は、対物レンズの光軸に沿う方向において当該検査対象物よりも当該対物レンズから離れた位置に設けてもよい。この構成によれば、対物レンズの光軸に沿う方向において、検査対象物を挟んで当該対物レンズとは反対側から、検査対象物に照明光が照射される。   Further, in the appearance inspection application by the dark field method, for example, when the inspection object is a transparent body having a property of being substantially transparent to the illumination light, the light emitting means is arranged in a direction along the optical axis of the objective lens. You may provide in the position away from the said objective lens rather than the said test object. According to this configuration, in the direction along the optical axis of the objective lens, the illumination light is irradiated to the inspection object from the side opposite to the objective lens with the inspection object interposed therebetween.

そしてさらに、照明光が直接的に対物レンズに入射するのを防止する防止手段を、設けてもよい。即ち、発光手段から発せられた照明光、或いは光拡散手段を透過した照明光が、直接、対物レンズに入射するのを防止するべく、当該防止手段を設ける。かかる防止手段を設けることで、暗視野法による外観検査において(換言すれば照明光の散乱や反射を観察する上で)障害となる言わば直接光を排除することができ、コントラストの高い光学像を得ることができる。   Further, a prevention means for preventing the illumination light from directly entering the objective lens may be provided. That is, the prevention means is provided to prevent the illumination light emitted from the light emitting means or the illumination light transmitted through the light diffusion means from directly entering the objective lens. By providing such a prevention means, it is possible to eliminate direct light that becomes an obstacle in appearance inspection by the dark field method (in other words, when observing scattering and reflection of illumination light), and an optical image with high contrast can be obtained. Obtainable.

また、検査対象物の態様によっては、当該検査対象物に照射された照明光が極端に屈折し、その屈折光が対物レンズに入射することがある。そしてまた、検査対象物とこれを保持するための容器との間で照明光が乱反射し、その乱反射光が対物レンズに入射することもあり得る。このように屈折光や乱反射光が対物レンズに入射されると、これら屈折光や乱反射光による発光手段の光学像が検査対象物の光学像に重畳される、つまり映り込む、という言わば映り込み現象が生じる。そして、この映り込み現象によって、外観検査作業に支障を来たす恐れがある。そこで、かかる映り込み現象を回避するべく、対物レンズの光軸に沿う方向において検査対象物と発光手段との間の距離を変更する変更手段を、設けてもよい。即ち、この変更手段によって当該距離が変更されると、検査対象物に対する照明光の照射角度が変わる。そして、このように照明光の照射角度が変わると、上述の屈折光や乱反射光の進行方向が変わり、これによって映り込み現象が回避される。   Further, depending on the form of the inspection object, the illumination light applied to the inspection object may be extremely refracted and the refracted light may enter the objective lens. In addition, illumination light may be irregularly reflected between the inspection object and the container for holding it, and the irregularly reflected light may enter the objective lens. In this way, when refracted light or irregularly reflected light is incident on the objective lens, the optical image of the light emitting means by these refracted light or irregularly reflected light is superimposed on the optical image of the inspection object, that is, it is reflected. Occurs. This reflection phenomenon may hinder the appearance inspection work. Therefore, in order to avoid such a reflection phenomenon, a changing means for changing the distance between the inspection object and the light emitting means in the direction along the optical axis of the objective lens may be provided. That is, when the distance is changed by the changing means, the irradiation angle of the illumination light to the inspection object changes. When the illumination light irradiation angle changes in this way, the traveling direction of the above-described refracted light or irregularly reflected light changes, thereby avoiding the reflection phenomenon.

この発明はまた、検査対象物に対して真っ直ぐに照明光を照射し、この照明光のうち検査対象物を透過した透過光を観測することによって外観検査を行う、いわゆる明視野法の外観検査装置にも、適用することができる。この場合、検査対象物は、外観検査装置の対物レンズの光軸上に配置される。そして、発光手段は、検査対象物を挟んで対物レンズと対向する位置に、設けられる。   The present invention also irradiates the inspection object with illumination light straightly, and performs an appearance inspection by observing transmitted light that has passed through the inspection object out of the illumination light. Can also be applied. In this case, the inspection object is disposed on the optical axis of the objective lens of the appearance inspection apparatus. The light emitting means is provided at a position facing the objective lens with the inspection object interposed therebetween.

なお、この明視野法による外観検査は、例えば、略透明な検査対象物の内部状態、特に気泡や異物混入等の欠陥の有無を検査するのに、好適である。   The appearance inspection by the bright field method is suitable for, for example, inspecting the internal state of a substantially transparent inspection object, in particular, the presence or absence of defects such as bubbles and foreign matter.

また、この明視野法による外観検査用途においては、検査対象物と光拡散手段との間に、当該光拡散手段を介して検査対象物に照射される照明光の向きを変更する変更手段を、さらに設けてもよい。なお、ここで言う変更手段とは、回折作用や屈折作用によって当該照明光の向きを変更するものであり、かかる変更手段としては、例えば透明なシートに不透明なインクで特定の模様が描かれたものや、或いは透明なシートの表面に特定の凹凸が形成されたもの等がある。即ち、光拡散手段と検査対象物との間にかかる変更手段が介在することで、当該検査対象物に照射される照明光の向きが言わば斜め方向に変更される。そして、このように検査対象物に対してその斜め方向から照明光が照射されることによって、上述した暗視野法による外観検査と同様に、検査対象物の輪郭や当該検査対象物の表面における疵等の欠陥の有無を、認識することができるようになる。また、検査対象物内における気泡等の欠陥の有無も、より認識し易くなる。   In addition, in this visual field inspection application by the bright field method, changing means for changing the direction of illumination light applied to the inspection object via the light diffusion means between the inspection object and the light diffusion means, Further, it may be provided. The changing means referred to here is to change the direction of the illumination light by diffractive action or refracting action. As such changing means, for example, a specific pattern is drawn with opaque ink on a transparent sheet. And those having specific irregularities formed on the surface of a transparent sheet. That is, when the changing means is interposed between the light diffusing means and the inspection object, the direction of the illumination light applied to the inspection object is changed to an oblique direction. Then, by illuminating the inspection object with the illumination light from the oblique direction, the outline of the inspection object and the surface on the surface of the inspection object are the same as in the appearance inspection by the dark field method described above. It becomes possible to recognize the presence or absence of such defects. Moreover, it becomes easier to recognize the presence or absence of defects such as bubbles in the inspection object.

このような明視野法に適用される照明装置は、上述した暗視野法に適用される照明装置と共に、1つの筺体に収容することができる。この場合、いずれか一方の照明装置を有効化する有効化手段を、設ける。このようにすれば、暗視野法による外観検査および明視野法による外観検査のいずれにも対応することができる。つまり、暗視野法および明視野法の両用の照明装置を実現することができる。   The illuminating device applied to such a bright field method can be accommodated in one housing together with the illuminating device applied to the dark field method described above. In this case, an enabling means for enabling any one of the lighting devices is provided. In this way, it is possible to cope with both the appearance inspection by the dark field method and the appearance inspection by the bright field method. That is, an illumination device for both the dark field method and the bright field method can be realized.

なお、この発明における検査対象物としては、例えばコンタクトレンズがある。   An example of the inspection object in the present invention is a contact lens.

この発明によれば、検査対象物を一様な明るさで照明することができ、つまり照度むらが生じない。従って、当該照度むらの影響によって外観検査精度が低下するという上述した従来技術に比べて、より高い精度で外観検査を行うことができる。   According to the present invention, the inspection object can be illuminated with uniform brightness, that is, uneven illuminance does not occur. Therefore, the appearance inspection can be performed with higher accuracy than the above-described conventional technique in which the appearance inspection accuracy is lowered due to the influence of the illuminance unevenness.

この発明を、コンタクトレンズ用の外観検査装置10に適用した場合の第1実施形態について、図1〜図15を参照して説明する。   1st Embodiment at the time of applying this invention to the external appearance inspection apparatus 10 for contact lenses is described with reference to FIGS.

図1に示すように、この第1実施形態に係る外観検査装置10は、基部としての基台部12と、この基台部12の上方に設けられたヘッド部14と、これら基台部12およびヘッド部14を互いに連結する連結部16とを、備えている。   As shown in FIG. 1, an appearance inspection apparatus 10 according to the first embodiment includes a base part 12 as a base part, a head part 14 provided above the base part 12, and the base part 12. And a connecting portion 16 that connects the head portion 14 to each other.

基台部12は、概略直方体の形状をしており、その内部には、画像処理装置としてのパーソナルコンピュータ(厳密にはパーソナルコンピュータの本体)18と、後述する光源ユニット20用の電源装置22とが、配置されている。そして、この基台部12の上面24上に、試料台ユニット26が、設けられている。   The base portion 12 has a substantially rectangular parallelepiped shape, and includes a personal computer (strictly the main body of the personal computer) 18 as an image processing device and a power supply device 22 for a light source unit 20 described later. Is arranged. A sample stage unit 26 is provided on the upper surface 24 of the base 12.

試料台ユニット26は、基台部12の上面24に固定された方形板状のベース28と、このベース28上の適宜位置に固定されたZ軸ステージ30と、このZ軸ステージ30にL字状の固定具32を介して固定された照明装置としての光源ユニット20と、を有している。そして、後で詳しく説明するが、この光源ユニット20上の所定位置に、概略椀型の透明な容器34が載置され、この容器34内に、検査対象物としてのコンタクトレンズ50が収容され、言わばセットされる。   The sample stage unit 26 includes a rectangular plate-shaped base 28 fixed to the upper surface 24 of the base portion 12, a Z-axis stage 30 fixed at an appropriate position on the base 28, and an L-shape on the Z-axis stage 30. And a light source unit 20 as an illuminating device fixed through a fixture 32 having a shape. As will be described in detail later, a generally bowl-shaped transparent container 34 is placed at a predetermined position on the light source unit 20, and a contact lens 50 as an inspection object is accommodated in the container 34. In other words, it is set.

なお、試料台ユニット26は、容器34の中心O(図2参照)が次に説明するCCD(Charge Coupled Device)カメラ36の光軸38上に位置するように、構成されている。また、Z軸ステージ30が操作されると、容器34と共に光源ユニット20が、当該光軸38に沿う方向に移動する。これによって、CCDカメラ36の焦点調整が行われる。このZ軸ステージ30の操作は、手動により直接行うこともできるし、上述したパーソナルコンピュータ18(図示しないキーボードやマウス等の命令入力手段)によって言わば間接的に行うこともできる。また、当該パーソナルコンピュータ18による画像処理を利用して、自動でZ軸ステージ30を操作し、つまり自動焦点調整を行うこともできる。   The sample stage unit 26 is configured so that the center O (see FIG. 2) of the container 34 is positioned on an optical axis 38 of a CCD (Charge Coupled Device) camera 36 described below. When the Z-axis stage 30 is operated, the light source unit 20 moves along with the container 34 in the direction along the optical axis 38. As a result, the focus of the CCD camera 36 is adjusted. The operation of the Z-axis stage 30 can be directly performed manually or indirectly by using the personal computer 18 (command input means such as a keyboard or a mouse (not shown)). Further, the image processing by the personal computer 18 can be used to automatically operate the Z-axis stage 30, that is, to perform automatic focus adjustment.

CCDカメラ36は、これと光軸38を共にする単焦点型の拡大対物レンズ40を備えており、当該拡大対物レンズ40の入射面を下方に向けた状態、つまり容器34に対向させた状態で、ヘッド部14内に設けられている。そして、このCCDカメラ36の図示しない映像出力端子は、パーソナルコンピュータ18の図示しない映像入力端子に接続されている。なお、拡大対物レンズ40は、倍率の異なるものに任意に交換可能とされており、例えば5倍〜100倍の範囲内で当該倍率を任意に変更することができる。また、CCDカメラ36に代えて、例えばCMOS(Complimentary Metal Oxide Semiconductor)型等の他形式のカメラを用いてもよい。   The CCD camera 36 includes a single-focus type magnifying objective lens 40 that has the optical axis 38 and the CCD camera 36, and the incident surface of the magnifying objective lens 40 faces downward, that is, faces the container 34. The head portion 14 is provided. A video output terminal (not shown) of the CCD camera 36 is connected to a video input terminal (not shown) of the personal computer 18. The magnifying objective lens 40 can be arbitrarily replaced with one having a different magnification. For example, the magnification can be arbitrarily changed within a range of 5 to 100 times. Instead of the CCD camera 36, other types of cameras such as a CMOS (Complimentary Metal Oxide Semiconductor) type may be used.

さらに、ヘッド部14内には、表示手段としての液晶型のディスプレイ42が、その表示画面を当該ヘッド部14の前方側に露出させた状態で、設けられている。そして、このディスプレイ42の図示しない映像入力端子は、パーソナルコンピュータ18の図示しない映像出力端子に接続されている。なお、この液晶型のディスプレイ42に代えて、例えばCRT(Cathode Ray Tube)型等の他形式のディスプレイを採用してもよい。   Further, a liquid crystal display 42 as a display means is provided in the head unit 14 with the display screen exposed to the front side of the head unit 14. A video input terminal (not shown) of the display 42 is connected to a video output terminal (not shown) of the personal computer 18. Instead of the liquid crystal display 42, other types of displays such as a CRT (Cathode Ray Tube) type may be employed.

このように構成された外観検査装置10によれば、容器34内にセットされたコンタクトレンズ50に対して、光源ユニット20から照明光が照射されと、当該コンタクトレンズ50の光学像が、拡大対物レンズ40を介して、CCDカメラ36に入射される。CCDカメラ36は、入射された光学像を電気信号である映像信号に変換し、変換された映像信号は、パーソナルコンピュータ18を経由して、ディスプレイ42に入力される。これによって、ディスプレイ42の表示画面にコンタクトレンズ50の拡大映像が表示される。そして、この拡大映像から、コンタクトレンズ50の外観検査が行われ、例えば形状や寸法、或いは疵や気泡等の欠陥の有無等が検査される。なお、この外観検査(良否判定)は、パーソナルコンピュータ18による画像処理によって自動的に行うこともできる。   According to the appearance inspection apparatus 10 configured in this manner, when the illumination light is irradiated from the light source unit 20 to the contact lens 50 set in the container 34, the optical image of the contact lens 50 is enlarged. The light enters the CCD camera 36 through the lens 40. The CCD camera 36 converts the incident optical image into a video signal that is an electrical signal, and the converted video signal is input to the display 42 via the personal computer 18. As a result, an enlarged image of the contact lens 50 is displayed on the display screen of the display 42. Then, from this enlarged image, the appearance of the contact lens 50 is inspected, and for example, the shape and size, or the presence or absence of defects such as wrinkles and bubbles, etc. are inspected. The appearance inspection (good / bad determination) can also be automatically performed by image processing by the personal computer 18.

ところで、この第1実施形態に係る外観検査装置10は、これ1台で、暗視野法による外観検査と、明視野法による外観検査と、の両方を実施することができる。これは、光源ユニット20が暗視野法および明視野法の両用の照明装置として機能することによって実現される。このため、光源ユニット20は、次のように構成されている。   By the way, the single appearance inspection apparatus 10 according to the first embodiment can perform both the appearance inspection by the dark field method and the appearance inspection by the bright field method. This is realized by the light source unit 20 functioning as an illumination device for both the dark field method and the bright field method. For this reason, the light source unit 20 is configured as follows.

即ち、図2に示すように、光源ユニット20は、概略直方体状の筺体60を有している。そして、この光源ユニット20が上述の如く固定具32を介してZ軸ステージ30に固定されている状態においては、当該筺体60の上面部62および底面部64は水平を成し、かつ上述した拡大対物レンズ40(CCDカメラ36)の光軸38と直交する。さらに、上面部62には、当該光軸38を中心とする円形の貫通孔66が、穿設されている。そして、この貫通孔66を上方から塞ぐように、容器34が載置される。   That is, as shown in FIG. 2, the light source unit 20 has a substantially rectangular parallelepiped casing 60. In the state where the light source unit 20 is fixed to the Z-axis stage 30 via the fixture 32 as described above, the upper surface portion 62 and the bottom surface portion 64 of the housing 60 are horizontal, and the above-described enlargement. It is orthogonal to the optical axis 38 of the objective lens 40 (CCD camera 36). Furthermore, a circular through hole 66 centering on the optical axis 38 is formed in the upper surface portion 62. Then, the container 34 is placed so as to close the through hole 66 from above.

容器34は、上述したように概略椀型であり、具体的には、下方に向かって突出した概略球冠状の底部34aと、この底部34aの周縁から上方に向かって真っ直ぐに延伸する短い円筒状の壁部34bと、から成る。かかる容器34は、光源ユニット20による照明光に対して透明な素材、例えばソーダガラスや石英ガラス等の透明ガラス、或いはポリカーボネイトやABS樹脂等の透明樹脂によって、一体に形成されている。そして、この容器34は、底部34aの外側面を貫通孔66の周縁に当接させた状態で、当該貫通孔66の周縁によって支持され、言わば当該貫通孔66に浅く嵌合される。   The container 34 is substantially bowl-shaped as described above. Specifically, the container 34 has a substantially spherical crown-shaped bottom portion 34a protruding downward, and a short cylindrical shape that extends straight upward from the periphery of the bottom portion 34a. Wall portion 34b. The container 34 is integrally formed of a material transparent to illumination light from the light source unit 20, for example, transparent glass such as soda glass or quartz glass, or transparent resin such as polycarbonate or ABS resin. The container 34 is supported by the peripheral edge of the through hole 66 in a state where the outer surface of the bottom portion 34 a is in contact with the peripheral edge of the through hole 66.

このような貫通孔66による容器34の支持状態を形成するために、当該容器34の直径φaは、貫通孔66の直径φbよりも大きく、例えば貫通孔66の直径φbが30[mm]〜60[mm]であるのに対して、容器34の直径は50[mm]〜80[mm]とされている。また、容器34の底部34aの中心Oは、当該底部34aの頂点でもあり、容器34は、この底部34aの中心Oが拡大対物レンズ40の光軸38上に位置するように、載置される。   In order to form such a support state of the container 34 by the through hole 66, the diameter φa of the container 34 is larger than the diameter φb of the through hole 66. For example, the diameter φb of the through hole 66 is 30 [mm] to 60. In contrast to [mm], the diameter of the container 34 is 50 [mm] to 80 [mm]. The center O of the bottom 34a of the container 34 is also the apex of the bottom 34a, and the container 34 is placed so that the center O of the bottom 34a is positioned on the optical axis 38 of the magnifying objective lens 40. .

そして、この容器34内に、無色透明の液体52が注入され、この液体52が注入された容器34内に、コンタクトレンズ50が、その前面(突出した側の面)を下方に向けた状態で、静かに投入される。すると、コンタクトレンズ50は、下方に向かって、つまり容器34の底部34aに向かって、ゆっくり(ゆらゆらと)沈む。そして、底部34aの内側面に到達する(接触する)と、コンタクトレンズ50は、重力に従って自然に、当該内側面の頂点、つまり中心Oに向かって、移動する。この結果、コンタクトレンズ50は、当該中心Oを基準とする一定位置に落ち着き、つまり光軸38上にセットされる。   Then, a colorless and transparent liquid 52 is injected into the container 34, and the contact lens 50 is placed in a state where the front surface (projected side surface) is directed downward into the container 34 into which the liquid 52 has been injected. It is thrown in quietly. Then, the contact lens 50 sinks slowly (flickering) downward, that is, toward the bottom 34 a of the container 34. When the contact lens 50 reaches (contacts) the inner surface of the bottom 34a, the contact lens 50 naturally moves toward the vertex of the inner surface, that is, the center O according to gravity. As a result, the contact lens 50 settles at a fixed position with respect to the center O, that is, is set on the optical axis 38.

なお、液体52は、コンタクトレンズ50の乾燥(特にソフトタイプの場合には収縮)を防ぐための言わば乾燥防止剤である。また、この液体52は、コンタクトレンズ50への機械的な衝撃を緩和するための緩衝剤としても機能する。かかる液体52としては、例えば一般に知られているコンタクトレンズ用保存液が好適であるが、コンタクトレンズ50および人体に無害であれば保存液以外のものを採用してもよい。   The liquid 52 is a so-called drying preventing agent for preventing the contact lens 50 from drying (especially shrinkage in the case of a soft type). The liquid 52 also functions as a buffering agent for reducing the mechanical impact on the contact lens 50. As the liquid 52, for example, a generally known contact lens storage solution is suitable, but a liquid other than the storage solution may be employed as long as it is harmless to the contact lens 50 and the human body.

また、液体52は、コンタクトレンズ50が十分に浸る程度に注入されるが、この液体52が容器34の外部に流出するのを防止するために、壁部34bが設けられている。つまり、壁部34bは、液体52の流出を防止するための言わば液体流出防止手段として機能する。かかる壁部34bの高さ寸法Haは、少なくとも数[mm]以上であれば足り、例えば10[mm]〜20[mm]程度である。   The liquid 52 is injected to such an extent that the contact lens 50 is sufficiently immersed, but a wall 34 b is provided to prevent the liquid 52 from flowing out of the container 34. That is, the wall 34b functions as a so-called liquid outflow prevention means for preventing the liquid 52 from flowing out. The height dimension Ha of the wall 34b is sufficient if it is at least several [mm] or more, for example, about 10 [mm] to 20 [mm].

そして、容器34の厚さ寸法taは、底部34aおよび壁部34bのいずれにおいても略一定であり、例えば1[mm]〜3[mm]程度である。そしてまた、底部34aの内側面の曲率半径Rも、略一定である。この内側面の曲率半径Rは、当該内側面と接触するコンタクトレンズ50の前面の曲率半径(前面カーブ)よりも大きいのが望ましく、例えば100[mm]〜300[mm]程度である。   The thickness dimension ta of the container 34 is substantially constant in both the bottom 34a and the wall 34b, and is, for example, about 1 [mm] to 3 [mm]. Further, the curvature radius R of the inner surface of the bottom 34a is also substantially constant. The curvature radius R of the inner surface is desirably larger than the curvature radius (front curve) of the front surface of the contact lens 50 in contact with the inner surface, and is, for example, about 100 [mm] to 300 [mm].

なお、コンタクトレンズ50は、ソフトタイプおよびハードタイプのいずれであってもよい。いずれの場合も、コンタクトレンズ50の直径φcは、上述した貫通孔66の直径φbよりも小さく、例えばソフトタイプのものであれば、13.8[mm]〜14.5[mm]程度であり、ハードタイプのものであれば、8.4[mm]〜9.4[mm]程度である。   The contact lens 50 may be either a soft type or a hard type. In any case, the diameter φc of the contact lens 50 is smaller than the diameter φb of the through hole 66 described above. For example, in the case of a soft type, the diameter is about 13.8 [mm] to 14.5 [mm]. In the case of a hard type, it is about 8.4 [mm] to 9.4 [mm].

さて、筺体60の内部には、暗視野法による外観検査時に用いられる言わば暗視野用の発光ダイオード(LED)群68と、明視野法による外観検査時に用いられる言わば明視野用の発光ダイオード群70とが、設けられている。このうち、暗視野用の発光ダイオード群68は、発光手段としての多数(数十個〜百数十個)の白色発光ダイオード72,72,…を有している。これらの発光ダイオード72,72,…は、筺体60内の上面部62の近傍において、拡大対物レンズ40の光軸38を中心として当該光軸38を取り囲むように、言わば環状に、設けられている。また、発光ダイオード72,72,…は、垂直方向(光軸38に沿う方向)にも複数の段を成しており、例えば3段構成とされている。そして、各発光ダイオード72,72,…の発光部(砲弾状の部分)は、貫通孔66の中心付近に向けられており、換言すれば当該貫通孔66の中心付近に位置するコンタクトレンズ50に向けられている。さらに、各発光ダイオード72,72,…の発光部から貫通孔66の中心付近までの距離は、略一定とされている。このため、下方に配置された発光ダイオード72,72,…ほど、上方に配置された発光ダイオード72,72,…よりも、光軸38に近くなる。ただし、光軸38から各発光ダイオード72,72,…までの距離は、当該光軸38から貫通孔66の周縁までの距離(φb/2)よりも大きい。換言すれば、水平方向(光軸38に対して直角な方向)において、各発光ダイオード72,72,…は、コンタクトレンズ50の周縁(エッジ部分)よりも光軸38から離れた位置にある。   Inside the housing 60, a so-called dark-field light emitting diode (LED) group 68 that is used for visual inspection by the dark field method, and a so-called bright-field light emitting diode group 70 that is used for visual inspection by the bright field method. Are provided. Among these, the dark-field light-emitting diode group 68 has a large number (several tens to hundreds) of white light-emitting diodes 72, 72,. These light emitting diodes 72, 72,... Are provided in an annular shape so as to surround the optical axis 38 around the optical axis 38 of the magnifying objective lens 40 in the vicinity of the upper surface portion 62 in the housing 60. . Further, the light emitting diodes 72, 72,... Have a plurality of stages in the vertical direction (the direction along the optical axis 38), for example, a three-stage configuration. The light emitting portions (bullet-like portions) of the respective light emitting diodes 72, 72,... Are directed to the vicinity of the center of the through hole 66. In other words, the contact lens 50 located near the center of the through hole 66 is connected to the contact lens 50. Is directed. Further, the distance from the light emitting portion of each light emitting diode 72, 72,... To the vicinity of the center of the through hole 66 is substantially constant. Therefore, the light emitting diodes 72, 72,... Arranged below are closer to the optical axis 38 than the light emitting diodes 72, 72,. However, the distance from the optical axis 38 to each of the light emitting diodes 72, 72,... Is larger than the distance (φb / 2) from the optical axis 38 to the periphery of the through hole 66. In other words, in the horizontal direction (direction perpendicular to the optical axis 38), each of the light emitting diodes 72, 72,... Is located farther from the optical axis 38 than the peripheral edge (edge portion) of the contact lens 50.

そして、各発光ダイオード72,72,…の並び(発光ダイオード群68)の内側、詳しくは当該各発光ダイオード72,72,…とコンタクトレンズ50との間には、光拡散手段としての概略球帯状の暗視野用拡散板74が、設けられている。この暗視野用拡散板74は、発光ダイオード72,72,…から発せられる光、言わば暗視野用の照明光、に対して、半透明な素材によって形成されており、例えばポリプロピレンやアクリル等の熱可塑性樹脂につや消し加工を施したものである。そして、この暗視野用拡散板74の内側面から貫通孔66の中心付近(例えばコンタクトレンズ50の前面の中心)までの距離は、当該内側面全体にわたって略均等とされており、当該暗視野用拡散板74の外側面から各発光ダイオード72,72,…の発光部までの距離もまた、当該外側面全体にわたって略均等とされている。さらに、この暗視野用拡散板74の厚さ寸法tbは、当該暗視野用拡散板74全体にわたって均一であり、例えば0.5[mm]〜3[mm]程度である。なお、この暗視野用拡散板74の上方端(大きな開口部側)は、筺体60の上面部62に密着されており、下方端(小さな開口部側)は、最下方に位置する発光ダイオード72,72,…よりもさらに下方において開放されている。   .. Are arranged between the light emitting diodes 72, 72,... (Light emitting diode group 68), specifically between the light emitting diodes 72, 72,. A dark field diffusion plate 74 is provided. The dark field diffusion plate 74 is formed of a material that is translucent to light emitted from the light emitting diodes 72, 72,..., So-called illumination light for dark field, for example, heat such as polypropylene or acrylic. A plastic resin that has been matted. The distance from the inner side surface of the dark field diffusion plate 74 to the vicinity of the center of the through hole 66 (for example, the center of the front surface of the contact lens 50) is substantially uniform over the entire inner side surface. The distance from the outer surface of the diffusing plate 74 to the light emitting portions of the light emitting diodes 72, 72,... Is also substantially uniform over the entire outer surface. Further, the thickness tb of the dark field diffusion plate 74 is uniform over the entire dark field diffusion plate 74, for example, about 0.5 [mm] to 3 [mm]. The upper end (large opening side) of the dark field diffusion plate 74 is in close contact with the upper surface 62 of the housing 60, and the lower end (small opening side) is the light emitting diode 72 located at the lowest position. , 72,... Are further opened below.

一方、明視野用の発光ダイオード群70もまた、暗視野用発光ダイオード群68の発光ダイオード72,72,…と同規格の多数(数十個)の白色発光ダイオード76,76,…を有している。これらの発光ダイオード76,76,…は、筺体60の底面部64の近傍であって、貫通孔66の真下、換言すれば当該貫通孔66を介して拡大対物レンズ40と対向する位置に、当該貫通孔66と略同等の大きさの広がりを持って言わば平面(2次元)的に密集して、設けられている。そして、これらの発光ダイオード76,76,…の発光部は、真上に向けられており、つまり貫通孔66に向けられている。   On the other hand, the bright-field light-emitting diode group 70 also has many (several dozen) white light-emitting diodes 76, 76,... Of the same standard as the light-emitting diodes 72, 72,. ing. These light emitting diodes 76, 76,... Are in the vicinity of the bottom surface portion 64 of the housing 60, just below the through hole 66, in other words, at positions facing the magnifying objective lens 40 through the through hole 66. It is provided so as to have a plane (two-dimensional) density so as to have a spread that is approximately the same size as the through-hole 66. The light emitting portions of these light emitting diodes 76, 76,... Are directed right above, that is, directed to the through hole 66.

さらに、各発光ダイオード76,76,…(発光ダイオード群70)の上方、詳しくは当該発光ダイオード76,76,…と暗視野用拡散板74の下方端との間には、光拡散手段としての円板状の明視野用拡散板78が、水平に設けられている。この明視野用拡散板78もまた、上述の暗視野用拡散板74と同様の半透明素材によって形成されており、その厚さ寸法tcは、当該明視野用拡散板78全体にわたって均一であり、例えば0.5[mm]〜3[mm]程度である。従って、明視野用拡散板78の上面から貫通孔66までの垂直方向における距離は、当該上面全体にわたって均等であり、また、当該明視野用拡散板78の下面から各発光ダイオード76,76,…の発光部までの距離も、当該下面全体にわたって均等である。なお、明視野用拡散板78の直径φdは、貫通孔66の直径φbよりも大きく、例えば50[mm]〜80[mm]である。   Further, between each of the light emitting diodes 76, 76,... (Light emitting diode group 70), specifically between the light emitting diodes 76, 76,. A disc-shaped bright field diffusion plate 78 is provided horizontally. The bright-field diffuser plate 78 is also formed of a translucent material similar to the above-described dark-field diffuser plate 74, and the thickness tc thereof is uniform over the entire bright-field diffuser plate 78. For example, it is about 0.5 [mm] to 3 [mm]. Therefore, the distance in the vertical direction from the upper surface of the bright field diffusion plate 78 to the through-hole 66 is uniform over the entire upper surface, and the light emitting diodes 76, 76,... From the lower surface of the bright field diffusion plate 78. The distance to the light emitting portion is uniform over the entire lower surface. The diameter φd of the bright field diffusion plate 78 is larger than the diameter φb of the through hole 66, and is, for example, 50 [mm] to 80 [mm].

また、明視野用拡散板78のさらに上方、詳しくは当該明視野用拡散板78と暗視野用拡散板74の下方端との間に、光遮蔽手段としての円板状のシャッタ板80が、水平に設けられている。このシャッタ板80は、発光ダイオード76,76,…から発せられる言わば明視野用の照明光に対し不透明な素材によって形成されており、例えばアルミニウムやステンレス等の金属製、或いはアクリルやABS等の樹脂製とされている。さらに、このシャッタ板80の表面には、当該明視野用照明光(および暗視野用照明光)に対して高い吸収率を示すつや消しの黒色塗料が、塗布されている。そして、このシャッタ板80は、筺体60の外部、例えば上面部62の上部、に設けられたシャッタ操作用ノブ82に連結されており、このシャッタ操作用ノブ82の操作によって、明視野用拡散板78の上方から任意に排除可能とされている。具体的には、当該シャッタ操作用ノブ82が、図2(a)に矢印84で示す方向に操作(回転)されると、シャッタ板80は、同図に二点鎖線80aで示す位置に移動し、明視野用拡散板78の上方から排除される。なお、シャッタ板80の直径φeは、明視野用拡散板78の直径φdよりも大きく、さらに詳しくは暗視野用拡散板74の下方端の開口部直径よりも大きく、例えば60[mm]〜100[mm]程度である。   Further, a disc-shaped shutter plate 80 as a light shielding means is provided above the bright-field diffuser plate 78, more specifically between the bright-field diffuser plate 78 and the lower end of the dark-field diffuser plate 74. It is provided horizontally. The shutter plate 80 is formed of a material opaque to the illumination light for bright field emitted from the light emitting diodes 76, 76,..., For example, a metal such as aluminum or stainless steel, or a resin such as acrylic or ABS. It is made of. Further, the surface of the shutter plate 80 is coated with a matte black paint exhibiting a high absorption rate for the bright field illumination light (and dark field illumination light). The shutter plate 80 is connected to a shutter operation knob 82 provided on the outside of the housing 60, for example, on the upper surface portion 62. By operating the shutter operation knob 82, a bright field diffusion plate is obtained. It can be arbitrarily excluded from above 78. Specifically, when the shutter operation knob 82 is operated (rotated) in the direction indicated by the arrow 84 in FIG. 2A, the shutter plate 80 moves to the position indicated by the two-dot chain line 80a in FIG. However, it is excluded from above the bright field diffusion plate 78. The diameter φe of the shutter plate 80 is larger than the diameter φd of the bright-field diffusion plate 78, more specifically, larger than the opening diameter at the lower end of the dark-field diffusion plate 74, for example, 60 [mm] to 100 It is about [mm].

このように構成された光源ユニット20によれば、暗視野法による外観検査時には、上述した電源装置22によって、暗視野用発光ダイオード群68のみが有効化され、明視野用発光ダイオード群70は無効化される。つまり、暗視野用の発光ダイオード72,72,…のみが発光し、明視野用の発光ダイオード76,76,…は非発光とされる。これによって、図3に点線の矢印90,90,…で示すように、暗視野用の発光ダイオード72,72,…から暗視野用照明光が発せられ、この暗視野用照明光は、暗視野用拡散板74および容器34(底部34a)を介して、コンタクトレンズ50に照射される。つまり、当該コンタクトレンズ50に対して、斜め下方から暗視野用照明光が照射される。   According to the light source unit 20 configured as described above, only the dark field light emitting diode group 68 is validated and the bright field light emitting diode group 70 is invalidated by the above-described power supply device 22 during the visual field inspection by the dark field method. It becomes. That is, only the dark-field light emitting diodes 72, 72,... Emit light, and the bright-field light emitting diodes 76, 76,. As a result, as shown by dotted arrows 90, 90,... In FIG. 3, dark field illumination light is emitted from the dark field light emitting diodes 72, 72,. The contact lens 50 is irradiated through the diffusion plate 74 and the container 34 (bottom 34a). That is, the dark field illumination light is applied to the contact lens 50 obliquely from below.

ここで、暗視野用拡散板74は、上述したように暗視野用照明光に対して半透明な素材によって形成されており、換言すれば当該暗視野用照明光を散乱させる作用を奏する。従って、各発光ダイオード72,72,…から発せられた暗視野照明光は、この暗視野用拡散板74による散乱作用によって拡散され、この拡散された光が、コンタクトレンズ50に照射される。よって、円形光源手段から発せられる照明光がそのままコンタクトレンズに投射されるという上述した従来技術とは異なり、コンタクトレンズ50全体を一様な(ぼんやりした)明るさで照射することができ、当該コンタクトレンズ50上に照度むらは生じない。   Here, the dark field diffusion plate 74 is formed of a material that is translucent to the dark field illumination light as described above, and in other words, has an effect of scattering the dark field illumination light. Therefore, the dark field illumination light emitted from each of the light emitting diodes 72, 72,... Is diffused by the scattering action by the dark field diffusion plate 74, and the diffused light is irradiated to the contact lens 50. Therefore, unlike the above-described conventional technique in which the illumination light emitted from the circular light source means is directly projected onto the contact lens, the entire contact lens 50 can be irradiated with uniform (blurred) brightness, and the contact Irradiance unevenness does not occur on the lens 50.

また、暗視野用の各発光ダイオード72,72,…から暗視野用拡散板74を介して容器34内のコンタクトレンズ50に至るまでの言わば暗視野用照明光の伝播条件、つまり当該各発光ダイオード72,72、…によるコンタクトレンズ50への暗視野用照明光の照射条件は、概ね平等である。従って、当該照射条件の違いによる照度むら(バラツキ)も生じない。   Further, the propagation conditions of the dark-field illumination light from the dark-field light-emitting diodes 72, 72,... To the contact lens 50 in the container 34 through the dark-field diffusion plate 74, that is, the respective light-emitting diodes. The irradiation conditions of the dark field illumination light onto the contact lens 50 by 72, 72,... Are substantially equal. Accordingly, there is no illuminance unevenness due to the difference in the irradiation conditions.

さて、今、コンタクトレンズ50の表面に疵等の欠陥があるとする。この場合、コンタクトレンズ50に照射された暗視野用照明光は、欠陥部分によって乱反射される。そして、乱反射された光が、拡大対物レンズ40を介して、CCDカメラ36に入射される。この結果、上述したディスプレイ42の表示画面には、当該欠陥部分が強調された画像が、映し出される。なお、暗視野用照明光は、コンタクトレンズ50のエッジ部分によっても乱反射される。従って、ディスプレイ42の表示画面には、当該エッジ部分も、映し出される。一方、コンタクトレンズ50に欠陥がない場合には、エッジ部分のみが映し出され、他の部分はシャッタ板80の表面(上面)を背景とする暗い(言わば真っ暗な)画像で、映し出される。   Now, it is assumed that there are defects such as wrinkles on the surface of the contact lens 50. In this case, the dark field illumination light applied to the contact lens 50 is irregularly reflected by the defective portion. Then, the irregularly reflected light is incident on the CCD camera 36 via the magnification objective lens 40. As a result, an image in which the defective portion is emphasized is displayed on the display screen of the display 42 described above. The dark field illumination light is also irregularly reflected by the edge portion of the contact lens 50. Accordingly, the edge portion is also displayed on the display screen of the display 42. On the other hand, when there is no defect in the contact lens 50, only the edge portion is projected, and the other portion is projected as a dark (so-called dark) image with the surface (upper surface) of the shutter plate 80 as the background.

このように暗視野法による外観検査によれば、コンタクトレンズ50のエッジ部分や、当該コンタクトレンズ50の表面における欠陥の有無等を、効果的に検査することができる。   As described above, according to the appearance inspection by the dark field method, it is possible to effectively inspect the edge portion of the contact lens 50 and the presence or absence of defects on the surface of the contact lens 50.

なお、暗視野用の各発光ダイオード72,72,…の上方は、筺体60の上面部62によって覆われた状態にある。換言すれば、当該各発光ダイオード72,72,…と拡大対物レンズ40との間に、筺体60の上面部62が介在している状態にある。従って、各発光ダイオード72,72,…から発せられる暗視野用照明光が、直接的(直線的)に拡大対物レンズ40に入射することはない。つまり、筺体60の上面部62は、各発光ダイオード72,72,…から拡大対物レンズ40に対して直接的に暗視野用照明光が入射するのを防止する防止手段として、機能する。そして、このように拡大対物レンズ40に対する言わば直接光の入射を防止することによって、暗視野方による外観検査において、コントラストの高い光学像を得ることができる。   .. Are covered with the upper surface portion 62 of the housing 60. The light emitting diodes 72, 72,. In other words, the upper surface portion 62 of the housing 60 is interposed between the light emitting diodes 72, 72,... And the magnifying objective lens 40. Therefore, the dark field illumination light emitted from each of the light emitting diodes 72, 72,... Does not directly (linearly) enter the magnification objective lens 40. That is, the upper surface portion 62 of the housing 60 functions as a preventing means for preventing the dark field illumination light from directly entering the magnifying objective lens 40 from each of the light emitting diodes 72, 72,. In addition, by preventing direct incidence of light to the magnifying objective lens 40 in this way, an optical image having a high contrast can be obtained in an appearance inspection in the dark field direction.

また、暗視野用の発光ダイオード72,72,…とコンタクトレンズ50との位置関係によっては、当該発光ダイオード72,72,…の光学像がコンタクトレンズ52の光学像に映り込むという、言わば映り込み現象が生じる。この映り込み現象は、例えば、図4に点線の矢印92で示すようにコンタクトレンズ50に照射された暗視野用照明光が、同図に二点鎖線の矢印94で示すように当該コンタクトレンズ50と容器34(底部34a)との間で乱反射し、この乱反射した光が拡大対物レンズ40に入射することにより発生する、と推察される。また、図には示さないが、コンタクトレンズ50或いは容器34によって暗視野用照明光が極端に大きく屈折し、この屈折光が拡大対物レンズ40に入射することによっても、当該映り込み現象が生じることがある、とも推察される。そして、かかる映り込み現象が生じると、外観検査作業に支障を来たす恐れがある。   In addition, depending on the positional relationship between the dark field light emitting diodes 72, 72,... And the contact lens 50, the optical image of the light emitting diodes 72, 72,. A phenomenon occurs. This reflection phenomenon is caused by, for example, the dark field illumination light applied to the contact lens 50 as indicated by a dotted arrow 92 in FIG. 4 and the contact lens 50 as indicated by a two-dot chain arrow 94 in FIG. It is assumed that the light is diffusely reflected between the container 34 (bottom 34a) and the diffusely reflected light is incident on the magnifying objective lens 40. Although not shown in the figure, the reflection phenomenon also occurs when the dark field illumination light is refracted extremely greatly by the contact lens 50 or the container 34 and the refracted light is incident on the magnification objective lens 40. It is speculated that there is. If such a reflection phenomenon occurs, there is a risk of hindering the appearance inspection work.

そこで、この第1実施形態においては、暗視野用の各発光ダイオード72,72,…とコンタクトレンズ50との相対的な位置関係が変更可能とされており、具体的には、当該コンタクトレンズ50を含む容器34の位置が拡大対物レンズ40の光軸38に沿う方向において任意に変更可能とされている。より具体的には、例えば図5に示すように、容器34が載置される筺体60の上面部62を、貫通孔66の直径φbの異なるものに任意に交換することができる。なお、図5は、例えば図3の上面部62よりも貫通孔66の直径φbが大きいものに交換された状態を示し、この場合、容器34の位置は下方に移動する。これとは反対に、筺体60の上面部62が貫通孔66の直径φbの小さいものに交換された場合には、容器34の位置は上方に移動する。また、例えば図6に示すように、容器34(底部34a)と筺体60の上面部62との間に、環状のスペーサ100を設けることで、当該容器34の位置を移動させることもできる。この場合、当該スペーサ100の高さ寸法Hbによって、容器34の位置が調整される。   Therefore, in the first embodiment, the relative positional relationship between the dark-field light emitting diodes 72, 72,... And the contact lens 50 can be changed. Can be arbitrarily changed in the direction along the optical axis 38 of the magnifying objective lens 40. More specifically, for example, as shown in FIG. 5, the upper surface portion 62 of the casing 60 on which the container 34 is placed can be arbitrarily replaced with a through hole 66 having a different diameter φb. 5 shows a state in which the through hole 66 has a diameter φb larger than that of the upper surface portion 62 in FIG. 3, for example, and in this case, the position of the container 34 moves downward. On the contrary, when the upper surface portion 62 of the housing 60 is replaced with one having a through hole 66 having a small diameter φb, the position of the container 34 moves upward. For example, as shown in FIG. 6, the position of the container 34 can be moved by providing an annular spacer 100 between the container 34 (bottom 34 a) and the upper surface 62 of the housing 60. In this case, the position of the container 34 is adjusted by the height dimension Hb of the spacer 100.

このように光軸38に沿う方向において容器34の位置が移動すると、当該容器34にセットされたコンタクトレンズ50に対する暗視野用照明光の照射角度が変わる。そして、このように暗視野用照明光の照射角度が変わることによって、上述の映り込み現象の原因となる乱反射光や屈折光の進行方向(角度)が変わり、ひいては当該映り込み現象が回避される。なお、この映り込み現象は、光軸38に沿う方向において、各発光ダイオード72,72,…がコンタクトレンズ50(前面中心)よりも少し、例えば数[mm]ほど下方にあるときに、回避される。   When the position of the container 34 moves in the direction along the optical axis 38 in this way, the irradiation angle of the dark field illumination light with respect to the contact lens 50 set in the container 34 changes. Then, by changing the irradiation angle of the dark field illumination light in this way, the traveling direction (angle) of the irregularly reflected light and the refracted light causing the above-described reflection phenomenon is changed, so that the reflection phenomenon is avoided. . This reflection phenomenon is avoided when each of the light emitting diodes 72, 72,... Is slightly below the contact lens 50 (center of the front surface), for example, several [mm], in the direction along the optical axis 38. The

一方、明視野法による外観検査時には、上述の電源装置22によって、明視野用発光ダイオード群70のみが有効化され、暗視野用発光ダイオード群68は無効化される。つまり、明視野用の発光ダイオード76,76,…のみが発光し、暗視野用の発光ダイオード72,72,…は非発光とされる。また、これと併せて、上述したシャッタ操作用ノブ82によって、図7に示すように、明視野用拡散板78の上方からシャッタ板80が排除される。この結果、同図に点線の矢印110,110,…で示すように、明視野用の発光ダイオード76,76,…から明視野用照明光が発せられ、この明視野用照明光は、明視野用拡散板78を介して、容器34内のコンタクトレンズ50に照射される。つまり、当該コンタクトレンズ50に対して、真下から明視野用照明光が照射される。   On the other hand, at the time of visual inspection by the bright field method, only the bright field light emitting diode group 70 is validated and the dark field light emitting diode group 68 is invalidated by the power supply device 22 described above. In other words, only the bright field light emitting diodes 76, 76,... Emit light, and the dark field light emitting diodes 72, 72,. In addition, the shutter plate 80 is removed from above the bright field diffusion plate 78 by the shutter operating knob 82 described above, as shown in FIG. As a result, bright field illumination light is emitted from the light field light emitting diodes 76, 76,..., As indicated by dotted arrows 110, 110,. The contact lens 50 in the container 34 is irradiated through the diffusion plate 78 for use. That is, bright field illumination light is irradiated onto the contact lens 50 from directly below.

ここで、明視野用照明光は、明視野用拡散板78を透過する際に、当該明視野用拡散板78によって拡散される。そして、この拡散された光が、コンタクトレンズ50に照射される。従って、コンタクトレンズ50全体を一様な明るさで照射することができ、上述した照度むらも生じない。また、明視野用の各発光ダイオード76,76,…から明視野用拡散板78を介して容器12内のコンタクトレンズ50に至るまでの言わば明視野用照明光の伝播条件、つまり当該各発光ダイオード76,76,…によるコンタクトレンズ50への明視野用照明光の照射条件は、概ね平等である。従って、当該照射条件の違いによる照度むらも生じない。   Here, the bright field illumination light is diffused by the bright field diffusion plate 78 when passing through the bright field diffusion plate 78. Then, the diffused light is applied to the contact lens 50. Therefore, the entire contact lens 50 can be irradiated with uniform brightness, and the above-described uneven illuminance does not occur. Further, the propagation conditions of the bright-field illumination light from the bright-field light emitting diodes 76, 76,... To the contact lens 50 in the container 12 through the bright-field diffusion plate 78, that is, the respective light-emitting diodes. The irradiation conditions of the bright field illumination light onto the contact lens 50 by 76, 76,... Are substantially equal. Therefore, uneven illuminance due to the difference in the irradiation conditions does not occur.

このようにしてコンタクトレンズ50の真下から照射された明視野用照明光は、当該コンタクトレンズ50を透過して、拡大対物レンズ40に入射される。この結果、上述したディスプレイ42の表示画面に、当該透過光に基づくコンタクトレンズ50の画像が、映し出される。なお、コンタクトレンズ50の内部に気泡等の欠陥がある場合には、明視野用照明光は、この欠陥部分によって散乱する。従って、当該欠陥部分については、他の(良好な)部分と異なった態様で、映し出される。   The bright field illumination light irradiated from directly below the contact lens 50 in this way passes through the contact lens 50 and enters the magnifying objective lens 40. As a result, the image of the contact lens 50 based on the transmitted light is displayed on the display screen of the display 42 described above. When there is a defect such as a bubble in the contact lens 50, the bright field illumination light is scattered by the defective portion. Therefore, the defect portion is projected in a manner different from other (good) portions.

ただし、コンタクトレンズ50は極めて薄く、また、明視野用照明光を含む可視光線に対して極めて高い透過率を示すので、ディスプレイ42に映し出される画像上で、上述の気泡のような欠陥部分については認識することができるものの、それ以外の部分、例えばコンタクトレンズ50の輪郭(エッジ)等を認識することは、容易ではない。そこで、この第1実施形態では、図8に示すように、明視野用拡散板78の上に、変更手段としての模様シート120を、載置する。この模様シート120とは、明視野用拡散板78を介してコンタクトレンズ50に照射される明視野用照明光の伝播方向を変更するためのものであり、かかる模様シート120を用いることで、コンタクトレンズ50の輪郭等を認識し易くしている。   However, since the contact lens 50 is extremely thin and exhibits a very high transmittance with respect to visible light including bright field illumination light, the defect portion such as the above-described bubbles is not displayed on the image displayed on the display 42. Although it can be recognized, it is not easy to recognize other parts such as the contour (edge) of the contact lens 50. Therefore, in the first embodiment, as shown in FIG. 8, a pattern sheet 120 as a changing unit is placed on the bright field diffusion plate 78. The pattern sheet 120 is for changing the propagation direction of the bright field illumination light applied to the contact lens 50 via the bright field diffuser plate 78. By using the pattern sheet 120, the contact is made. The outline of the lens 50 is easily recognized.

即ち、模様シート120は、図9に示すように、OHP(Over Head Projector)シート等のような透明なシート(フィルム)122に、黒色インク等の不透明なインクで所定の模様124、例えば格子模様が描かれたものである。かかる模様シート120は、例えば、当該所定模様124をCAD(Computer
Aided Design)等で描画し、これを透明シート122に印刷することによって、作成することができる。
That is, as shown in FIG. 9, the pattern sheet 120 is formed on a transparent sheet (film) 122 such as an OHP (Over Head Projector) sheet or the like and a predetermined pattern 124 such as a lattice pattern with opaque ink such as black ink. Is drawn. For example, the pattern sheet 120 can be obtained by converting the predetermined pattern 124 into a CAD (Computer
Aided Design) or the like, and this can be created by printing on the transparent sheet 122.

この模様シート120が明視野用拡散板78上に載置された状態では、当該明視野用拡散板78を介してコンタクトレンズ50に照射される明視野用照明光の一部が、当該模様シート120(模様124の部分)によって回折する。この結果、図8に点線の矢印112,112,…で示すように、当該一部の明視野用照明光の伝播方向が変更され、例えば光軸38に対して斜めの方向に向けられる。そして、この斜めの方向に伝播する明視野用照明光がコンタクトレンズ50に照射されることによって、上述した暗視野法による外観検査時と同様の状態が形成され、コンタクトレンズ50の輪郭等が認識し易くなる。なお、コンタクトレンズ50には、同図に点線の矢印110,110,…で示すように、模様シート120(模様124以外の部分)を直線的に透過する明視野用照明光も、照射される。   In a state where the pattern sheet 120 is placed on the bright field diffusion plate 78, a part of the bright field illumination light irradiated to the contact lens 50 through the bright field diffusion plate 78 is the pattern sheet. Diffracted by 120 (pattern 124 portion). As a result, as indicated by dotted arrows 112, 112,... In FIG. 8, the propagation direction of the part of the bright field illumination light is changed, and is directed, for example, in an oblique direction with respect to the optical axis 38. By irradiating the contact lens 50 with bright field illumination light propagating in the oblique direction, a state similar to that in the appearance inspection by the dark field method described above is formed, and the contour of the contact lens 50 is recognized. It becomes easy to do. The contact lens 50 is also irradiated with bright-field illumination light that linearly passes through the pattern sheet 120 (portion other than the pattern 124), as indicated by dotted arrows 110, 110,. .

図10(参考図1)に、模様シート120が用いられたときにディスプレイ42の表示画面に映し出される画像の一例を、示す。この図10において、暗い格子状の模様で見える部分が、模様シート120に描かれた模様124の像である。そして、同画像の全範囲を少しはみ出す程度に見える円形の模様が、コンタクトレンズ50の輪郭部分の像である。このように、コンタクトレンズ50と明視野用拡散板78との間に模様シート120が介在することによって、当該コンタクトレンズ50の輪郭部分が認識し易くなる。なお、コンタクトレンズ50の周縁よりも内側には、ブレンドと呼ばれる不連続な部分が存在するが、同図によれば、このブレンドについても、認識することができるようになる(同図において輪郭像の内側に見える当該輪郭像よりも小さめの円形模様がブレンドの像である)。かかるブレンドは、これまでの明視野法による外観検査では、認識することが困難であったが、模様シート120を用いることで、当該ブレンドを明確化することに成功した。また、図には示さないが、コンタクトレンズ50内に気泡等の欠陥がある場合には、この欠陥部分も明確に映し出される。なお、このとき、模様124の像は、コンタクトレンズ50の像の言わば背景となる。そして、この背景としての模様124の像が、例えばコンタクトレンズ50内の欠陥部分の像と重なって、当該欠陥部分が認識し難くなるのではないか、と懸念される。しかし、上述した拡大対物レンズ40の焦点はコンタクトレンズ50に合わせられており、よって、模様124の像はボケるため、そのような不都合は生じない。   FIG. 10 (reference FIG. 1) shows an example of an image displayed on the display screen of the display 42 when the pattern sheet 120 is used. In FIG. 10, the portion that appears as a dark grid pattern is an image of the pattern 124 drawn on the pattern sheet 120. A circular pattern that appears to protrude slightly from the entire range of the image is an image of the contour portion of the contact lens 50. As described above, the pattern sheet 120 is interposed between the contact lens 50 and the bright field diffusion plate 78, so that the outline portion of the contact lens 50 is easily recognized. A discontinuous portion called a blend exists inside the periphery of the contact lens 50. According to the figure, this blend can also be recognized (the contour image in the figure). A circular pattern that is smaller than the contour image that is visible inside is a blend image). Such a blend was difficult to recognize in the conventional visual field inspection by the bright field method, but by using the pattern sheet 120, the blend was successfully clarified. Although not shown in the drawing, when there is a defect such as a bubble in the contact lens 50, the defective part is also clearly displayed. At this time, the image of the pattern 124 becomes the background of the image of the contact lens 50. Then, there is a concern that the image of the pattern 124 as the background may overlap with, for example, an image of a defective portion in the contact lens 50, so that the defective portion becomes difficult to recognize. However, the above-described magnification objective lens 40 is focused on the contact lens 50, and the image of the pattern 124 is blurred.

なお、図10は、所定模様124として、約0.5[mm]幅の直線が約1.0[mm]間隔で格子状に描かれた模様シート120を用いた場合の、ディスプレイ40に表示される画像の一例である。また、図11(参考図2)に、当該所定模様124として、約0.5[mm]幅の直線が約5.0[mm]間隔で格子状に描かれた模様シート120を用いた場合の、表示画像の一例を示す。このように、所定模様124の態様によって、画像の見え方が異なるため、検査対象物であるコンタクトレンズ50の態様に併せて当該所定模様124を選択すればよい。   FIG. 10 shows a display on the display 40 when a pattern sheet 120 in which straight lines with a width of about 0.5 [mm] are drawn in a grid pattern at intervals of about 1.0 [mm] is used as the predetermined pattern 124. It is an example of the image to be performed. Further, in FIG. 11 (reference diagram 2), as the predetermined pattern 124, a pattern sheet 120 in which straight lines with a width of about 0.5 [mm] are drawn in a grid pattern at intervals of about 5.0 [mm] is used. An example of the display image is shown. Thus, since the appearance of the image differs depending on the form of the predetermined pattern 124, the predetermined pattern 124 may be selected in accordance with the form of the contact lens 50 that is the inspection object.

かかる所定模様124は、格子状に限らず、例えば図12に示すような斑点(ドット)模様や、或いは図13に示すような同心円状の模様であってもよい。この場合も、斑点の大きさや、線の間隔等を、適宜変えてもよい。そして、言うまでもなく、これ以外の模様、例えば放射線条に直線を描いた模様や、平行線を描いた模様、さらには曲線を描いた模様等を、採用してもよい。ただし、模様は、ランダムな形状のものではなく、一定のパターンに従って描かれたものであるのが、望ましい。また、模様シート120に代えて、単なる網状のもの(いわゆるみかん網のようなもの)を、置いてもよい。   The predetermined pattern 124 is not limited to a lattice shape, and may be a spot (dot) pattern as shown in FIG. 12, or a concentric pattern as shown in FIG. Also in this case, the size of the spots, the interval between the lines, and the like may be appropriately changed. Needless to say, other patterns, for example, a pattern in which a straight line is drawn on a radiation stripe, a pattern in which parallel lines are drawn, a pattern in which a curve is drawn, or the like may be employed. However, the pattern is preferably not a random shape but drawn according to a certain pattern. Further, instead of the pattern sheet 120, a simple net-like material (such as a so-called mandarin orange net) may be placed.

さらに、模様シート120として、例えば図14に示すように、透明なシート130の上に、当該透明シート130と同質の短冊状(または長尺状)の複数の透明体132,132,…を格子状に重ねることによって、当該透明シート130上に凹凸を形成したものを、採用してもよい。この場合、明視野用拡散板78を介してコンタクトレンズ50に照射される明視野用照明光は、当該凹凸部分によって回折されるだけでなく、屈折もする。そして、この回折作用および屈折作用によって、明視野用照明光の伝播方向が変更され、結果的に、上述と同様の効果が得られる。この図14に示す模様シート120が用いられたときの画像の一例を、図15(参考図3)に示す。この図15から分かるように、図14に示す模様シート120が用いられたときも、特にコンタクトレンズ50の輪郭部分が明確化される。なお、透明体132,132,…の形状や配置等は、図14に示す態様に限らず、これ以外の態様であってもよい。   Furthermore, as the pattern sheet 120, for example, as shown in FIG. 14, a plurality of strips (or long shapes) of transparent bodies 132, 132,... Having the same quality as the transparent sheet 130 are latticed on a transparent sheet 130. You may employ | adopt what formed the unevenness | corrugation on the said transparent sheet 130 by overlapping in the shape. In this case, the bright field illumination light applied to the contact lens 50 via the bright field diffusion plate 78 is not only diffracted but also refracted by the uneven portion. And the propagation direction of the bright field illumination light is changed by this diffraction action and refraction action, and as a result, the same effect as described above is obtained. An example of an image when the pattern sheet 120 shown in FIG. 14 is used is shown in FIG. 15 (reference FIG. 3). As can be seen from FIG. 15, when the pattern sheet 120 shown in FIG. 14 is used, the contour portion of the contact lens 50 is particularly clarified. In addition, the shape, arrangement | positioning, etc. of transparent body 132,132, ... are not restricted to the aspect shown in FIG. 14, The aspect other than this may be sufficient.

かかる模様シート120を用いる場合、つまり明視野法による外観検査によってコンタクトレンズ50の輪郭やブレンド部分、さらには当該コンタクトレンズ50表面の疵等の有無を検査する場合には、明視野用拡散板78は、特に無くても構わない。即ち、明視野用拡散板78を設けなくても、模様シート120を設けることで、当該模様シート120による回折作用または屈折作用によって、コンタクトレンズ50の輪郭やブレンド部分、表面の疵等を明確化することができる。   When such a pattern sheet 120 is used, that is, when the contact lens 50 is inspected for outlines and blended parts, and further on the surface of the contact lens 50 by a visual field inspection by the bright field method, the bright field diffusion plate 78 is used. May be omitted. That is, by providing the pattern sheet 120 without providing the bright-field diffuser 78, the contour or blended portion of the contact lens 50, the wrinkles on the surface, etc. are clarified by the diffractive or refractive action of the pattern sheet 120. can do.

以上のように、この第1実施形態によれば、暗視野用照明光および明視野用照明光のいずれについても、直接ではなく、拡散板74または78によって拡散された状態で、コンタクトレンズ50に照射される。従って、コンタクトレンズ50上に照度むらが生じず、当該コンタクトレンズ50は一様な明るさで照明される。即ち、照度むらの影響によって外観検査精度が低下するという上述した従来技術に比べて、より高い精度でコンタクトレンズ50の外観検査を行うことができる。   As described above, according to the first embodiment, both the dark-field illumination light and the bright-field illumination light are not directly applied but are diffused by the diffusion plate 74 or 78 on the contact lens 50. Irradiated. Therefore, uneven illuminance does not occur on the contact lens 50, and the contact lens 50 is illuminated with uniform brightness. That is, the appearance inspection of the contact lens 50 can be performed with higher accuracy compared to the above-described conventional technique in which the appearance inspection accuracy is reduced due to the influence of uneven illuminance.

なお、上述した暗視野用拡散板74は、樹脂製としたが、これに限らない。例えば、摺りガラスや白ガラス等の半透明なガラス製であってもよいし、トレース紙等のような半透明用紙製であってもよい。このことは、明視野用拡散板78についても、同様である。   Although the above-described dark field diffusion plate 74 is made of resin, it is not limited to this. For example, it may be made of translucent glass such as frosted glass or white glass, or may be made of translucent paper such as trace paper. The same applies to the bright field diffusion plate 78.

また、暗視野用発光ダイオード72,72,…および明視野用発光ダイオード76,76,…は、白色発光ダイオードに限らず、別の発光色のものであってもよい。そして、これらの発光ダイオード72,72,…および76,76,…に代えて、電球等の他の発光手段を用いてもよい。また、発光ダイオード72,72,…および76,76,…の配列(各発光ダイオード群68および70の形状)も、この第1実施形態で説明した内容に限らない。   The dark-field light-emitting diodes 72, 72,... And the bright-field light-emitting diodes 76, 76,. Further, instead of these light emitting diodes 72, 72,..., 76, 76,..., Other light emitting means such as a light bulb may be used. Further, the arrangement of the light emitting diodes 72, 72,... And 76, 76,... (The shape of each of the light emitting diode groups 68 and 70) is not limited to the content described in the first embodiment.

さらに、暗視野用発光ダイオード72,72,…(発光ダイオード群68)については、拡大対物レンズ40の光軸38に沿う方向において、コンタクトレンズ50よりも上方に設けてもよい。この場合、言うまでもなく、暗視野用拡散板68についても、当該コンタクトレンズ50よりも上方に設けることとする。   Further, the dark field light emitting diodes 72, 72,... (Light emitting diode group 68) may be provided above the contact lens 50 in the direction along the optical axis 38 of the magnifying objective lens 40. In this case, it goes without saying that the dark field diffusion plate 68 is also provided above the contact lens 50.

そしてさらに、容器34については、概略椀型としたが、これに限らない。即ち、これ以外の形状の容器34を用いてもよいし、シャーレのように一般に市販されているものを利用してもよい。   Furthermore, the container 34 is generally bowl-shaped, but is not limited thereto. That is, a container 34 having a shape other than this may be used, or a commercially available one such as a petri dish may be used.

また、検査対象物としてコンタクトレンズ50を例に挙げたが、これ以外のもの、例えば各種工業用部品や医療用器具等を、当該検査対象物とすることもできる。   Moreover, although the contact lens 50 was mentioned as an example as a test target object, things other than this, for example, various industrial parts, medical instruments, etc., can also be used as the test target object.

続いて、この発明の第2実施形態について、図16〜図18を参照して説明する。なお、この第2実施形態は、上述した第1実施形態における光源ユニット20に代えて、図16に示すような光源ユニット200を採用するものである。   Then, 2nd Embodiment of this invention is described with reference to FIGS. In the second embodiment, a light source unit 200 as shown in FIG. 16 is employed instead of the light source unit 20 in the first embodiment described above.

即ち、図16に示すように、この第2実施形態における光源ユニット200は、第1実施形態における光源ユニット20において、明視野用の発光ダイオード群70を筺体60の底面部64から浮かすと共に、上述したシャッタ板80を構成から外したものである。   That is, as shown in FIG. 16, the light source unit 200 according to the second embodiment floats the light-field light emitting diode group 70 from the bottom surface portion 64 of the housing 60 in the light source unit 20 according to the first embodiment. The shutter plate 80 is removed from the configuration.

より具体的に説明すると、貫通孔66の真下に、概略円板状の可動板202が、設けられている。この可動板202は、筺体60の底面部64から浮いた状態で水平に設けられており、この可動板202の上に、明視野用の発光ダイオード群70が設けられ、詳しくは当該発光ダイオード群70を構成する各発光ダイオード76,76,…がそれぞれの発光部を真上に向けた状態で平面的に密集して設けられている。そして、これらの発光ダイオード76,76,…の上方に、明視野用拡散板78が水平に設けられている。なお、この明視野用拡散板78は、例えば円筒形の支持具204を介して、可動板202の上面に固定されている。そして、これら可動板202,発光ダイオード群70,明視野用拡散板78および支持具204によって、明視野用照明ユニット206が、構成される。   More specifically, a substantially disc-shaped movable plate 202 is provided immediately below the through hole 66. The movable plate 202 is horizontally provided in a state of floating from the bottom surface portion 64 of the housing 60. A bright-field light emitting diode group 70 is provided on the movable plate 202, and more specifically, the light emitting diode group. The light-emitting diodes 76, 76,... Constituting the 70 are densely arranged in a plane in a state where the respective light-emitting portions are directed right above. A bright-field diffuser plate 78 is horizontally provided above the light-emitting diodes 76,. The bright field diffusion plate 78 is fixed to the upper surface of the movable plate 202 via a cylindrical support 204, for example. The movable plate 202, the light emitting diode group 70, the bright field diffusion plate 78, and the support 204 constitute a bright field illumination unit 206.

この明視野用照明ユニット206は、筺体60の外部にある照明用操作ノブ208に連結されている。そして、この証明用操作ノブ208の操作によって、当該明視野用照明ユニット206は、貫通孔66の真下から任意に排除可能とされている。詳しくは、照明用操作ノブ208が、図16(a)に矢印210で示す方向に操作(回転)されると、明視野用照明ユニット206は、同図に二点鎖線206aで示す位置に移動し、貫通孔66の真下から排除される。   The bright field illumination unit 206 is connected to an illumination operation knob 208 outside the housing 60. The bright field illumination unit 206 can be arbitrarily removed from directly below the through hole 66 by operating the proof operation knob 208. Specifically, when the illumination operation knob 208 is operated (rotated) in the direction indicated by the arrow 210 in FIG. 16A, the bright field illumination unit 206 moves to the position indicated by the two-dot chain line 206a in FIG. However, it is excluded from directly below the through hole 66.

さらに、筺体60内の底面部64のうち、少なくとも貫通孔66の真下に位置する部分には、円形状の黒体シート212が貼着されている。この黒体シート212は、上述したつや消し黒色塗料と同様、暗視野用照明光に対して高い吸収率を示す。なお、この黒体シート212の直径φfは、貫通孔66の直径φbよりも大きく、例えば60[mm]〜100[mm]程度である。   Further, a circular black body sheet 212 is attached to at least a portion of the bottom surface portion 64 in the housing 60 that is positioned directly below the through hole 66. This black body sheet 212 exhibits a high absorptance with respect to dark field illumination light, similar to the matte black paint described above. The diameter φf of the black body sheet 212 is larger than the diameter φb of the through hole 66, and is, for example, about 60 [mm] to 100 [mm].

このように構成された光源ユニット200によれば、暗視野法による外観検査時には、上述した電源装置22によって、暗視野用発光ダイオード群68のみが有効化され、明視野用発光ダイオード群70は無効化される。つまり、暗視野用の発光ダイオード72,72,…のみが発光し、明視野用の発光ダイオード76,76,…は非発光とされる。また、これと併せて、照明用操作ノブ208によって、図17に示すように、貫通孔66の真下から明視野用発光ダイオード群68を含む明視野用証明ユニット206が排除される。この結果、同図に点線の矢印220,220,…で示すように、明視野用の発光ダイオード76,76,…から明視野用照明光が発せられ、この明視野用照明光は、明視野用拡散板78を介して、容器34内のコンタクトレンズ50に照射される。そして、この状態で、暗視野法による外観検査が実施される。   According to the light source unit 200 configured as described above, only the dark field light emitting diode group 68 is enabled and the bright field light emitting diode group 70 is disabled by the above-described power supply device 22 at the time of visual inspection by the dark field method. It becomes. That is, only the dark-field light emitting diodes 72, 72,... Emit light, and the bright-field light emitting diodes 76, 76,. At the same time, the illumination operation knob 208 eliminates the bright field proof unit 206 including the bright field light emitting diode group 68 from directly below the through-hole 66 as shown in FIG. As a result, bright field illumination light is emitted from the light field light emitting diodes 76, 76,... As indicated by dotted arrows 220, 220,. The contact lens 50 in the container 34 is irradiated through the diffusion plate 78 for use. In this state, an appearance inspection is performed by the dark field method.

この暗視野法による外観検査においては、黒体シート212が、コンタクトレンズ50の背景となる。ここで、上述した第1実施形態においては、シャッタ板80の上面が背景となることを鑑みると、当該背景からコンタクトレンズ50までの距離Hcは、第1実施形態に比べて第2実施形態の方が大きい。一般には、この距離Hcが大きいほど、背景が理想的な黒体に近づくので、暗視野法による外観検査に好都合になる、とされている。つまり、この第2実施形態によれば、第1実施形態に比べて、暗視野法による外観検査を良好に行うことができる。   In the appearance inspection by the dark field method, the black body sheet 212 is the background of the contact lens 50. Here, in the first embodiment described above, considering that the upper surface of the shutter plate 80 is the background, the distance Hc from the background to the contact lens 50 is that of the second embodiment as compared to the first embodiment. Is bigger. In general, the larger the distance Hc is, the closer the background is to an ideal black body, which is advantageous for visual inspection by the dark field method. That is, according to the second embodiment, the appearance inspection by the dark field method can be performed better than in the first embodiment.

一方、明視野法による外観検査時には、照明用操作ノブ208によって、図18に示すように、貫通孔66の真下に明視野用発光ダイオード群68が配置される。そして、上述の電源装置22によって、明視野用発光ダイオード群70のみが有効化され、暗視野用発光ダイオード群68は無効化される。つまり、明視野用の発光ダイオード76,76,…のみが発光し、暗視野用の発光ダイオード72,72,…は非発光とされる。この結果、同図に点線の矢印230,230,…で示すように、明視野用の発光ダイオード76,76,…から明視野用照明光が発せられ、この明視野用照明光は、明視野用拡散板78を介して、容器34内のコンタクトレンズ50に照射される。そして、この状態で、明視野法による外観検査が行われる。   On the other hand, at the time of visual inspection by the bright field method, the bright field light emitting diode group 68 is arranged directly below the through hole 66 by the illumination operation knob 208 as shown in FIG. Then, only the bright-field light-emitting diode group 70 is enabled and the dark-field light-emitting diode group 68 is disabled by the power supply device 22 described above. In other words, only the bright field light emitting diodes 76, 76,... Emit light, and the dark field light emitting diodes 72, 72,. As a result, bright field illumination light is emitted from the bright field light emitting diodes 76, 76,..., As indicated by dotted arrows 230, 230,. The contact lens 50 in the container 34 is irradiated through the diffusion plate 78 for use. In this state, an appearance inspection is performed by the bright field method.

なお、この第2実施形態においても、明視野用拡散板78の上に、上述した模様シート120を置いてもよい。   In the second embodiment, the above-described pattern sheet 120 may be placed on the bright field diffusion plate 78.

また、黒体シート212は、底面部64の全体にわたって貼着してもよいし、当該黒体シート212に代えて、上述のつや消し黒色塗料を塗布してもよい。   Further, the black body sheet 212 may be attached to the entire bottom surface portion 64, or the above matte black paint may be applied instead of the black body sheet 212.

以上、第1実施形態および第2実施形態で説明した内容は、この発明を実現するための一部の例であり、この発明を限定するものではない。   As described above, the contents described in the first embodiment and the second embodiment are a part of examples for realizing the present invention, and do not limit the present invention.

この発明の第1実施形態に係る外観検査装置の全体構成を示す図である。It is a figure showing the whole visual inspection device composition concerning a 1st embodiment of this invention. 同第1実施形態における光源ユニットの概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the light source unit in the 1st Embodiment. 暗視野法による外観検査時の同光源ユニットの状態を示す図解図である。It is an illustration figure which shows the state of the light source unit at the time of the external appearance inspection by a dark field method. 映り込み現象を説明するための図解図である。It is an illustration figure for demonstrating a reflection phenomenon. 同映り込み現象を回避するための一例を示す図解図である。It is an illustration figure which shows an example for avoiding the same reflection phenomenon. 図5とは異なる回避例を示す図解図である。FIG. 6 is an illustrative view showing an avoidance example different from FIG. 5. 明視野法による外観検査時の光源ユニットの状態を示す図解図である。It is an illustration figure which shows the state of the light source unit at the time of the external appearance test | inspection by a bright field method. 同明視野法による外観検査において模様シートが用いられている状態を示す図解図である。It is an illustration figure which shows the state in which the pattern sheet is used in the external appearance inspection by the same bright field method. 同模様シートの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the same pattern sheet. 図9の模様シートの使用時に得られた画像の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the image obtained at the time of use of the pattern sheet of FIG. 図10とは異なる模様シートの使用時に得られた画像を示す図である。It is a figure which shows the image obtained at the time of use of the pattern sheet different from FIG. 図9とは異なる模様シートの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the pattern sheet different from FIG. 図12とはさらに異なる模様シートの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the pattern sheet further different from FIG. 図13とはさらに異なる模様シートの一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the pattern sheet further different from FIG. 図14の模様シートの使用時に得られた画像の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the image obtained at the time of use of the pattern sheet of FIG. この発明の第2実施形態における光源ユニットの概略構成を示す図である。It is a figure which shows schematic structure of the light source unit in 2nd Embodiment of this invention. 同第2実施形態において暗視野法による外観検査時の光源ユニットの状態を示す図解図である。It is an illustration figure which shows the state of the light source unit at the time of the external appearance test | inspection by the dark field method in the 2nd Embodiment. 同第2実施形態において明視野法による外観検査時の光源ユニットの状態を示す図解図である。It is an illustration figure which shows the state of the light source unit at the time of the external appearance test | inspection by a bright field method in the 2nd Embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

10 外観検査装置
20 光源ユニット
50 コンタクトレンズ
68 暗視野用発光ダイオード群
70 明視野用発光ダイオード群
72 暗視野用発光ダイオード
74 暗視野用拡散板
76 明視野用発光ダイオード
78 明視野用拡散板
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Appearance inspection apparatus 20 Light source unit 50 Contact lens 68 Dark-field light emitting diode group 70 Bright-field light-emitting diode group 72 Dark-field light-emitting diode 74 Dark-field diffuser plate 76 Bright-field light-emitting diode 78 Bright-field diffuser plate

Claims (10)

外観検査装置による検査対象物に照明用の光を照射する外観検査用照明装置において、
上記検査対象物に向けて上記光を発する発光手段と、
上記発光手段と上記検査対象物との間に設けられ上記光に対して略半透明な性質を持つ光拡散手段と、
を具備することを特徴とする、外観検査用照明装置。
In the illumination device for appearance inspection that irradiates the inspection object with the light for illumination by the appearance inspection device,
A light emitting means for emitting the light toward the inspection object;
A light diffusing means provided between the light emitting means and the inspection object and having a substantially translucent property to the light;
An illumination device for visual inspection, comprising:
複数の上記発光手段を備え、
上記光拡散手段は上記複数の発光手段のそれぞれと上記検査対象物との間に設けられ、
上記複数の発光手段から上記検査対象物までの距離が略均等であり、
上記複数の発光手段から上記光拡散手段までの距離が略均等である、
請求項1に記載の外観検査用照明装置。
A plurality of the light emitting means,
The light diffusing means is provided between each of the plurality of light emitting means and the inspection object,
The distance from the plurality of light emitting means to the inspection object is substantially equal,
The distances from the plurality of light emitting means to the light diffusing means are substantially equal.
The illumination device for visual inspection according to claim 1.
上記外観検査装置は上記検査対象物の光学像が入射される対物レンズを備えており、
上記検査対象物は上記対物レンズの光軸上に配置され、
上記発光手段は上記光軸に沿う方向において上記検査対象物の配置位置を外れておりかつ該光軸に対して直角な方向において該検査対象物の周縁よりも該光軸から離れた位置に設けられる、
請求項1または2に記載の外観検査用照明装置。
The appearance inspection apparatus includes an objective lens on which an optical image of the inspection object is incident,
The inspection object is disposed on the optical axis of the objective lens,
The light emitting means is provided at a position away from the optical axis in the direction perpendicular to the optical axis and in the direction perpendicular to the optical axis in the direction along the optical axis. Be
The illumination device for visual inspection according to claim 1 or 2.
上記検査対象物は上記光に対して略透明な透明体であり、
上記発光手段は上記光軸に沿う方向において上記検査対象物よりも上記対物レンズから離れた位置に設けられる、
請求項3に記載の外観検査用照明装置。
The inspection object is a transparent body that is substantially transparent to the light,
The light emitting means is provided at a position farther from the objective lens than the inspection object in a direction along the optical axis.
The illumination device for visual inspection according to claim 3.
上記光が直接的に上記対物レンズに入射するのを防止する防止手段をさらに備える、
請求項3または4に記載の外観検査用照明装置。
A prevention means for preventing the light from directly entering the objective lens;
The illumination device for appearance inspection according to claim 3 or 4.
上記光軸に沿う方向において上記検査対象物と上記発光手段との間の距離を変更する変更手段をさらに備える、
請求項3ないし5のいずれかに記載の外観検査用照明装置。
A changing unit that changes a distance between the inspection object and the light emitting unit in a direction along the optical axis;
The illumination device for visual inspection according to any one of claims 3 to 5.
上記外観検査装置は上記検査対象物の光学像が入射される対物レンズを備えており、
上記検査対象物は上記光に対して略透明な透明体であり上記対物レンズの光軸上に配置され、
上記発光手段は上記検査対象物を挟んで上記対物レンズと対向する位置に設けられる、
請求項1または2に記載の外観検査用照明装置。
The appearance inspection apparatus includes an objective lens on which an optical image of the inspection object is incident,
The inspection object is a transparent body that is substantially transparent to the light, and is disposed on the optical axis of the objective lens.
The light emitting means is provided at a position facing the objective lens across the inspection object.
The illumination device for visual inspection according to claim 1 or 2.
上記検査対象物と上記光拡散手段との間に設けられ該光拡散手段を介して該検査対象物に照射される上記光の向きを変更する変更手段をさらに備える、請求項7に記載の外観検査用照明装置。   The external appearance according to claim 7, further comprising a changing unit that is provided between the inspection object and the light diffusing unit and changes a direction of the light irradiated to the inspection object through the light diffusing unit. Lighting device for inspection. 請求項3ないし6のいずれかに記載の外観検査用照明装置と請求項7または8に記載の外観検査用照明装置とを1つの筺体に収容し、
上記筐体に収容されたいずれか一方の上記外観検査用照明装置を有効化する有効化手段をさらに備える、
外観検査用照明装置。
The visual inspection illumination device according to any one of claims 3 to 6 and the visual inspection illumination device according to claim 7 or 8 are accommodated in one housing.
An activation means for activating any one of the illumination devices for visual inspection housed in the housing;
Lighting device for visual inspection.
上記検査対象物はコンタクトレンズである、請求項1ないし9のいずれかに記載の外観検査用照明装置。   The illumination device for appearance inspection according to claim 1, wherein the inspection object is a contact lens.
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