JP2017003412A - Lens inspection apparatus and lens inspection method - Google Patents
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Abstract
Description
本願の開示する技術は、レンズ検査装置及びレンズ検査方法に関する。 The technology disclosed in the present application relates to a lens inspection device and a lens inspection method.
従来、レンズに光を照射する光源と、レンズからの透過光や反射光に基づいてレンズの傷や異物などの欠陥部を検出する検出部とを備えるレンズ検査装置がある。 2. Description of the Related Art Conventionally, there is a lens inspection apparatus that includes a light source that irradiates light to a lens and a detection unit that detects a defective portion such as a scratch or a foreign substance on the lens based on transmitted light or reflected light from the lens.
レンズの外周部が研磨されていない場合、レンズの外周部が粗面となるため、レンズの外周部にて光の乱反射が生じる可能性がある。このため、レンズの外周部付近に欠陥部がある場合に、レンズの外周部にて光の乱反射が生じている状態では、欠陥部から得られる反射光がレンズの外周部にて生じた乱反射光の影響を受けてしまい、欠陥部を検出できない虞がある。 When the outer peripheral portion of the lens is not polished, the outer peripheral portion of the lens becomes a rough surface, so that irregular reflection of light may occur at the outer peripheral portion of the lens. For this reason, when there is a defect near the outer periphery of the lens and the light is irregularly reflected at the outer periphery of the lens, the reflected light obtained from the defect is diffusely reflected at the outer periphery of the lens. There is a possibility that the defective part cannot be detected.
本願の開示する技術は、一つの側面として、レンズの外周部付近にある欠陥部を検出できるようにすることを目的とする。 An object of the technology disclosed by the present application is to enable detection of a defective portion in the vicinity of an outer peripheral portion of a lens as one aspect.
上記目的を達成するために、本願の開示する技術の一観点によれば、光源と、抑制領域形成部と、検出部とを備えるレンズ検査装置が提供される。光源は、レンズの径方向外側に配置されており、レンズに光を照射する。抑制領域形成部は、レンズの径方向外側に設けられており、レンズの外周部における周方向の一部に、光源から出力された光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域を形成する。検出部は、乱反射抑制領域がレンズの外周部付近の欠陥部と対向する場合に、光源から出力され乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて欠陥部を検出する。 In order to achieve the above object, according to one aspect of the technology disclosed in the present application, a lens inspection device including a light source, a suppression region forming unit, and a detection unit is provided. The light source is disposed outside the lens in the radial direction, and irradiates the lens with light. The suppression region forming portion is provided on the outer side in the radial direction of the lens, and forms a diffuse reflection suppression region in which irregular reflection of light output from the light source is suppressed in a part of the outer peripheral portion of the lens in the circumferential direction. When the irregular reflection suppression region faces a defect near the outer periphery of the lens, the detection unit detects the defect based on irregular reflection light output from the light source and irregularly reflected at the peripheral portion of the irregular reflection suppression region.
本願の開示する技術によれば、レンズの外周部付近にある欠陥部を検出することができる。 According to the technique disclosed in the present application, it is possible to detect a defective portion in the vicinity of the outer peripheral portion of the lens.
［第一実施形態］
はじめに、本願の開示する技術の第一実施形態を説明する。
[First embodiment]
First, a first embodiment of the technology disclosed in the present application will be described.
図１に示されるように、第一実施形態に係るレンズ検査装置１０は、照明光源１２と、回転機構１４と、カメラ１６と、パーソナルコンピュータ１８（以下、パソコン１８と略称する）とを備える。 As shown in FIG. 1, the lens inspection apparatus 10 according to the first embodiment includes an illumination light source 12, a rotation mechanism 14, a camera 16, and a personal computer 18 (hereinafter simply referred to as a personal computer 18).
検査対象であるレンズ２０は、照明光源１２とカメラ１６との間に配置される。このレンズ２０は、図示しない把持ハンド等によって把持され、照明光源１２及びカメラ１６と同軸上に配置される。図１において、矢印Ｚ１は、レンズ２０の軸方向一方側を示し、矢印Ｚ２は、レンズ２０の軸方向他方側を示している。 The lens 20 to be inspected is disposed between the illumination light source 12 and the camera 16. The lens 20 is gripped by a gripping hand (not shown) or the like, and is arranged coaxially with the illumination light source 12 and the camera 16. In FIG. 1, an arrow Z <b> 1 indicates one axial side of the lens 20, and an arrow Z <b> 2 indicates the other axial side of the lens 20.
このレンズ検査装置１０は、カメラのレンズ、コンタクトレンズなど種々のレンズを検査対象とすることが可能である。これらのレンズは、傷や異物などの欠陥部２４を有する場合がある。 The lens inspection apparatus 10 can test various lenses such as camera lenses and contact lenses. These lenses may have a defect 24 such as a scratch or a foreign object.
例えば、一眼レフカメラ用の交換レンズは、凹レンズ及び凸レンズを貼りあわせて形成される。このため、一眼レフカメラ用の交換レンズの場合、凹レンズ及び凸レンズの接合部に気泡やゴミが入り込んだり傷が付いたりすることがあり、これらが欠陥部として残存することがある。 For example, an interchangeable lens for a single-lens reflex camera is formed by bonding a concave lens and a convex lens. For this reason, in the case of an interchangeable lens for a single-lens reflex camera, bubbles or dust may enter or be damaged at the joint between the concave lens and the convex lens, and these may remain as defective portions.
照明光源１２は、「光源」の一例であり、レンズ２０の径方向外側かつ軸方向一方側に配置されている。この照明光源１２は、レンズ２０の外周部２２の周囲に沿って延びており、レンズ２０に光を照射する。この照明光源１２には、例えば、複数のＬＥＤ２６（light emitting diode）が配列されたＬＥＤアレイが用いられる。各ＬＥＤ２６は、レンズ２０の中央部に向けて配置されている。 The illumination light source 12 is an example of a “light source”, and is disposed on the outer side in the radial direction of the lens 20 and on one side in the axial direction. The illumination light source 12 extends along the periphery of the outer peripheral portion 22 of the lens 20 and irradiates the lens 20 with light. As the illumination light source 12, for example, an LED array in which a plurality of LEDs 26 (light emitting diodes) are arranged is used. Each LED 26 is arranged toward the center of the lens 20.
回転機構１４は、「回転移動部」の一例であり、上述の照明光源１２が設けられた回転部材２８をレンズ２０の光軸を中心に回転させる。この回転機構１４には、例えば、ギアモータ等が用いられる。 The rotation mechanism 14 is an example of a “rotation moving unit”, and rotates the rotation member 28 provided with the illumination light source 12 described above around the optical axis of the lens 20. For example, a gear motor or the like is used for the rotation mechanism 14.
カメラ１６は、「検出部」の一例であり、レンズ２０の軸方向他方側に配置されている。カメラ１６は、パソコン１８と通信可能に接続されており、カメラ１６で撮影された画像のデータは、パソコン１８に出力される。パソコン１８は、「画像処理部」の一例であり、カメラ１６で撮影された画像を二値化する機能を有する。 The camera 16 is an example of a “detection unit” and is disposed on the other side in the axial direction of the lens 20. The camera 16 is communicably connected to the personal computer 18, and image data captured by the camera 16 is output to the personal computer 18. The personal computer 18 is an example of an “image processing unit” and has a function of binarizing an image photographed by the camera 16.
図２には、上述のレンズ検査装置１０が平面図にて示されている。図２では、上述のカメラ１６及びパソコン１８（図１参照）の図示が省略されている。 FIG. 2 shows the above-described lens inspection device 10 in a plan view. 2, illustration of the camera 16 and the personal computer 18 (see FIG. 1) is omitted.
この図２に示されるように、照明光源１２には、第一スリット３２及び第二スリット３４が形成されている。この第一スリット３２及び第二スリット３４は、「一対の光出力抑制部」及び「抑制領域形成部」の一例である。この第一スリット３２及び第二スリット３４は、照明光源１２の径方向に互いに対向する位置にそれぞれ形成されている。 As shown in FIG. 2, the illumination light source 12 is formed with a first slit 32 and a second slit 34. The first slit 32 and the second slit 34 are an example of “a pair of light output suppression portions” and “a suppression region forming portion”. The first slit 32 and the second slit 34 are formed at positions facing each other in the radial direction of the illumination light source 12.
また、この第一スリット３２及び第二スリット３４は、それぞれ照明光源１２の周方向の一部に形成されている。この第一スリット３２及び第二スリット３４は、照明光源１２の周方向の一部が途切れることにより空間部として形成されている。 The first slit 32 and the second slit 34 are each formed in a part of the circumferential direction of the illumination light source 12. The first slit 32 and the second slit 34 are formed as a space portion when a portion of the illumination light source 12 in the circumferential direction is interrupted.
レンズ２０の平面視にて第一スリット３２の周方向の一端部とレンズ２０の中心Ｏとを結んだ線の延長線Ｌ１上には、第二スリット３４の周方向の一端部が位置する。また、レンズ２０の平面視にて第一スリット３２の周方向の他端部とレンズ２０の中心Ｏとを結んだ線の延長線Ｌ２上には、第二スリット３４の周方向の他端部が位置する。 One end portion in the circumferential direction of the second slit 34 is positioned on an extension line L1 of a line connecting the one end portion in the circumferential direction of the first slit 32 and the center O of the lens 20 in a plan view of the lens 20. Further, the other end portion in the circumferential direction of the second slit 34 is on an extension line L2 of a line connecting the other end portion in the circumferential direction of the first slit 32 and the center O of the lens 20 in a plan view of the lens 20. Is located.
レンズ２０の外周部２２は、通常、研磨されていないため、粗面となる。このため、レンズ２０の外周部２２における照明光源１２と対向する部位では、照明光源１２から出力された光４２が乱反射することにより反射光４４が得られる。この反射光４４は、レンズ２０の外周部２２の周囲に沿って得られる。図２において、照明光源１２から出力された光４２、及び、レンズ２０の外周部２２にて光が乱反射することにより得られた反射光４４は、理解の容易のために、ドットを付された状態で示されている。 Since the outer peripheral portion 22 of the lens 20 is usually not polished, it becomes a rough surface. For this reason, in the part which opposes the illumination light source 12 in the outer peripheral part 22 of the lens 20, the reflected light 44 is obtained by irregularly reflecting the light 42 output from the illumination light source 12. FIG. The reflected light 44 is obtained along the periphery of the outer peripheral portion 22 of the lens 20. In FIG. 2, the light 42 output from the illumination light source 12 and the reflected light 44 obtained by the irregular reflection of the light at the outer peripheral portion 22 of the lens 20 are provided with dots for easy understanding. Shown in state.
一方、第一スリット３２及び第二スリット３４は、空間部であり、この第一スリット３２及び第二スリット３４では、光源や反射材が設けられていないため、光の出力が抑制される。このため、レンズ２０の外周部２２における第一スリット３２及び第二スリット３４と対向する部位には、光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域３６，３８がそれぞれ形成される。この乱反射抑制領域３６，３８は、照明光源１２の周方向に沿って円弧状に形成されている。 On the other hand, the 1st slit 32 and the 2nd slit 34 are space parts, and since the light source and the reflecting material are not provided in this 1st slit 32 and the 2nd slit 34, the output of light is suppressed. For this reason, irregular reflection suppression regions 36 and 38 in which irregular reflection of light is suppressed are formed in portions of the outer peripheral portion 22 of the lens 20 facing the first slit 32 and the second slit 34, respectively. The irregular reflection suppression regions 36 and 38 are formed in an arc shape along the circumferential direction of the illumination light source 12.
次に、第一実施形態に係るレンズ検査装置１０を用いたレンズ検査方法について説明する。 Next, a lens inspection method using the lens inspection apparatus 10 according to the first embodiment will be described.
先ず、図１に示されるように、検査対象であるレンズ２０が照明光源１２とカメラ１６との間に配置される。そして、回転機構１４が作動し、照明光源１２が設けられた回転部材２８がレンズ２０の光軸を中心に回転される。また、照明光源１２が作動し、照明光源１２からレンズ２０に光が照射される。 First, as shown in FIG. 1, the lens 20 to be inspected is disposed between the illumination light source 12 and the camera 16. Then, the rotation mechanism 14 is operated, and the rotation member 28 provided with the illumination light source 12 is rotated around the optical axis of the lens 20. Further, the illumination light source 12 is activated, and the lens 20 is irradiated with light from the illumination light source 12.
図２に示されるように、照明光源１２が作動すると、レンズ２０の外周部２２における照明光源１２と対向する部位では、照明光源１２から出力された光４２が乱反射することにより反射光４４が得られる。これに対し、レンズ２０の外周部２２における第一スリット３２及び第二スリット３４と対向する部位では、照明光源１２から出力された光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域３６，３８がそれぞれ形成される。反射光４４の位置及び乱反射抑制領域３６，３８の位置は、回転部材２８の回転に伴ってレンズ２０の周方向に移動される。 As shown in FIG. 2, when the illumination light source 12 is activated, the light 42 output from the illumination light source 12 is irregularly reflected at the portion of the outer peripheral portion 22 of the lens 20 facing the illumination light source 12 to obtain reflected light 44. It is done. On the other hand, irregular reflection suppression regions 36 and 38 in which irregular reflection of light output from the illumination light source 12 is suppressed are formed at portions of the outer peripheral portion 22 of the lens 20 facing the first slit 32 and the second slit 34, respectively. The The position of the reflected light 44 and the positions of the irregular reflection suppression regions 36 and 38 are moved in the circumferential direction of the lens 20 as the rotating member 28 rotates.
図１に示されるカメラ１６は、照明光源１２及び回転機構１４が作動している間、レンズ２０を一定の間隔で複数回撮影する。このカメラ１６は、レンズ２０が一周する間、撮影を行う。カメラ１６で撮影された画像のデータは、パソコン１８に出力され、パソコン１８では、カメラ１６で撮影された画像が二値化される。 The camera 16 shown in FIG. 1 photographs the lens 20 a plurality of times at regular intervals while the illumination light source 12 and the rotation mechanism 14 are operating. The camera 16 takes an image while the lens 20 makes a round. Data of an image photographed by the camera 16 is output to the personal computer 18, and the personal computer 18 binarizes the image photographed by the camera 16.
そして、図２に示されるように、例えば、一方の乱反射抑制領域３６が欠陥部２４と対向する位置に位置された状態では、欠陥部２４の背面側において光の乱反射が抑制される。一方、乱反射抑制領域３６の周辺部では、照明光源１２から出力された光４２が乱反射することにより乱反射光４６が生じる。この乱反射光４６は、欠陥部２４にて反射する。また、図１に示されるように、この欠陥部２４にて反射した反射光４８は、カメラ１６にて検出される。 As shown in FIG. 2, for example, in a state where one irregular reflection suppression region 36 is located at a position facing the defect portion 24, irregular reflection of light is suppressed on the back side of the defect portion 24. On the other hand, in the periphery of the irregular reflection suppression region 36, irregular reflection light 46 is generated by irregular reflection of the light 42 output from the illumination light source 12. The irregularly reflected light 46 is reflected by the defect portion 24. In addition, as shown in FIG. 1, the reflected light 48 reflected by the defect portion 24 is detected by the camera 16.
このように第一実施形態では、乱反射抑制領域３６がレンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４と対向する場合に、照明光源１２から出力され乱反射抑制領域３６の周辺部にて乱反射した乱反射光４６に基づいて欠陥部２４が検出される。 As described above, in the first embodiment, when the irregular reflection suppression region 36 faces the defect 24 near the outer peripheral portion 22 of the lens 20, the irregular reflection light output from the illumination light source 12 and irregularly reflected at the peripheral portion of the irregular reflection suppression region 36. Based on 46, the defect 24 is detected.
図３には、第一実施形態に係るレンズ検査装置１０にて得られた二値化画像５０が示されている。この二値化画像５０では、欠陥部にて生じた反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ２の背面側にブラック部分ＢＬが位置する。このため、レンズの外周部にて生じた乱反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ１に、欠陥部にて生じた反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ２が取り込まれることが抑制され、ホワイト部分Ｗ２が明確に確保される。 FIG. 3 shows a binarized image 50 obtained by the lens inspection apparatus 10 according to the first embodiment. In the binarized image 50, the black portion BL is located on the back side of the white portion W2 formed by the reflected light generated at the defective portion. For this reason, the white portion W2 formed by the reflected light generated at the defect portion is suppressed from being taken into the white portion W1 formed by the irregularly reflected light generated at the outer peripheral portion of the lens, and the white portion W2 is clear. Secured.
そして、このようにして得られた二値化画像５０に基づいて作業者やパソコン等により、図１，図２に示されるレンズ２０における欠陥部２４の有無が判定される。 Based on the binarized image 50 obtained in this way, the presence or absence of the defective portion 24 in the lens 20 shown in FIGS. 1 and 2 is determined by an operator, a personal computer, or the like.
なお、以上は、レンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４が生じている場合の説明であるが、レンズ２０の中央部側に生じた欠陥部２４については、照明光源１２から出力された光４２に基づいて検出することが可能である。 The above description is for the case where a defect 24 near the outer peripheral portion 22 of the lens 20 is generated. However, the defect 24 generated on the center side of the lens 20 is output from the illumination light source 12. 42 can be detected.
また、図２に示される例では、一方の乱反射抑制領域３６がレンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４と対向する場合について示されている。しかしながら、他方の乱反射抑制領域３８がレンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４と対向する場合においても上記と同様に欠陥部２４を検出することが可能である。 In the example shown in FIG. 2, one irregular reflection suppression region 36 is shown facing the defect portion 24 near the outer peripheral portion 22 of the lens 20. However, even when the other irregular reflection suppression region 38 faces the defect portion 24 near the outer peripheral portion 22 of the lens 20, the defect portion 24 can be detected in the same manner as described above.
次に、第一実施形態の作用及び効果について説明する。 Next, the operation and effect of the first embodiment will be described.
レンズ２０の外周部２２は、通常、研磨されていないため、粗面となる。レンズ２０の外周部２２が粗面である場合、レンズ２０の外周部２２にて光の乱反射が生じる。このため、図２に示されるようにレンズ２０の外周部２２付近に欠陥部２４がある場合に、レンズ２０の外周部２２にて光の乱反射が生じている状態では、欠陥部２４から得られる反射光がレンズ２０の外周部２２にて生じた乱反射光の影響を受ける可能性がある。この場合には、欠陥部２４を検出できない虞がある。 Since the outer peripheral portion 22 of the lens 20 is usually not polished, it becomes a rough surface. When the outer peripheral portion 22 of the lens 20 is a rough surface, irregular reflection of light occurs at the outer peripheral portion 22 of the lens 20. For this reason, as shown in FIG. 2, when there is a defect 24 near the outer periphery 22 of the lens 20, the light is diffused from the outer periphery 22 of the lens 20 and is obtained from the defect 24. The reflected light may be affected by irregularly reflected light generated at the outer peripheral portion 22 of the lens 20. In this case, there is a possibility that the defective portion 24 cannot be detected.
つまり、図３に示されるように、二値化画像５０が得られた場合に、例えば、レンズの外周部にて生じた乱反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ１に、欠陥部にて生じた反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ２が取り込まれてしまう虞がある。このことは、欠陥部がレンズの外周部近辺に形成された場合や、レンズが小径である場合に特に顕著である。 That is, as shown in FIG. 3, when the binarized image 50 is obtained, for example, the white portion W1 formed by irregularly reflected light generated at the outer peripheral portion of the lens is reflected at the defective portion. There is a possibility that the white portion W2 formed by light is taken in. This is particularly noticeable when the defective portion is formed near the outer periphery of the lens or when the lens has a small diameter.
しかしながら、図２に示されるように、第一実施形態に係るレンズ検査装置１０では、照明光源１２の径方向における互いに対向する部位に第一スリット３２及び第二スリット３４が形成されている。この第一スリット３２及び第二スリット３４は、空間部であり、この第一スリット３２及び第二スリット３４では、光源や反射材が設けられていないため、光の出力が抑制される。このため、レンズ２０の外周部２２における第一スリット３２及び第二スリット３４と対向する部位では、光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域３６，３８がそれぞれ形成される。 However, as shown in FIG. 2, in the lens inspection apparatus 10 according to the first embodiment, the first slit 32 and the second slit 34 are formed at portions facing each other in the radial direction of the illumination light source 12. The first slit 32 and the second slit 34 are space portions, and since the light source and the reflective material are not provided in the first slit 32 and the second slit 34, the output of light is suppressed. For this reason, irregular reflection suppression regions 36 and 38 in which irregular reflection of light is suppressed are formed at portions of the outer peripheral portion 22 of the lens 20 facing the first slit 32 and the second slit 34, respectively.
そして、レンズ検査装置１０では、例えば、一方の乱反射抑制領域３６がレンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４と対向する場合に、照明光源１２から出力され乱反射抑制領域３６の周辺部にて乱反射した乱反射光４６に基づいて欠陥部２４が検出される。したがって、欠陥部２４がレンズ２０の外周部２２付近にある場合でも、この欠陥部２４の背面側では、光の乱反射が抑制されるので、欠陥部２４から得られる反射光が乱反射光の影響を受けることを抑制することができる。これにより、欠陥部２４から得られる反射光を精度良く検出することができるので、レンズ２０の外周部２２付近にある欠陥部２４を検出することができる。 In the lens inspection device 10, for example, when one of the irregular reflection suppression regions 36 faces the defect 24 near the outer peripheral portion 22 of the lens 20, the irregular reflection is output from the illumination light source 12 at the peripheral portion of the irregular reflection suppression region 36. The defective portion 24 is detected based on the irregularly reflected light 46. Therefore, even when the defect portion 24 is near the outer peripheral portion 22 of the lens 20, irregular reflection of light is suppressed on the back side of the defect portion 24, so that reflected light obtained from the defect portion 24 affects the influence of irregular reflection light. It can suppress receiving. Thereby, since the reflected light obtained from the defect part 24 can be detected with high accuracy, the defect part 24 in the vicinity of the outer peripheral part 22 of the lens 20 can be detected.
しかも、照明光源１２の径方向に互いに対向する位置に第一スリット３２及び第二スリット３４を形成するという簡単な構造により、欠陥部２４から得られる反射光が乱反射光の影響を受けることを抑制することができる。これにより、コストアップを抑制することができる。 In addition, the simple structure in which the first slit 32 and the second slit 34 are formed at positions facing each other in the radial direction of the illumination light source 12, so that the reflected light obtained from the defect portion 24 is prevented from being affected by the irregularly reflected light. can do. Thereby, an increase in cost can be suppressed.
また、第一スリット３２及び第二スリット３４は、照明光源１２の径方向における互いに対向する部位に形成されているので、この第一スリット３２及び第二スリット３４を結ぶ仮想線Ｌの間の間隙部では、光の乱反射をより効果的に抑制することができる。これにより、レンズ２０の外周部２２における周方向の一部に乱反射抑制領域３６，３８を精度良く形成することができる。 Further, since the first slit 32 and the second slit 34 are formed at portions facing each other in the radial direction of the illumination light source 12, the gap between the virtual lines L connecting the first slit 32 and the second slit 34. In the part, irregular reflection of light can be more effectively suppressed. Thereby, the irregular reflection suppression regions 36 and 38 can be accurately formed in a part of the outer circumferential portion 22 of the lens 20 in the circumferential direction.
次に、第一実施形態の変形例について説明する。 Next, a modification of the first embodiment will be described.
上述の第一実施形態において、照明光源１２には、一例として、複数のＬＥＤが配列されたＬＥＤアレイが用いられている。しかしながら、例えば、光源と、この光源の光を拡散させる拡散部材を用いた照明器具が照明光源１２として用いられても良い。また、照明光源１２は、レンズ２０に光を照射することができるものであれば、どのようなものでも良い。 In the first embodiment described above, the illumination light source 12 uses, for example, an LED array in which a plurality of LEDs are arranged. However, for example, a luminaire using a light source and a diffusion member that diffuses light from the light source may be used as the illumination light source 12. Further, the illumination light source 12 may be anything as long as it can irradiate the lens 20 with light.
また、上述の第一実施形態では、レンズ２０の外周部２２における周方向の一部に乱反射抑制領域３６，３８を形成するために、第一スリット３２及び第二スリット３４が用いられている。しかしながら、第一スリット３２及び第二スリット３４の代わりに、例えば、図４に示されるように、環状に形成された照明光源１２の周方向の一部を遮光する第一遮光部材６２及び第二遮光部材６４が用いられても良い。また、照明光源１２が回転せずに、第一遮光部材６２及び第二遮光部材６４が回転部材２８の回転に伴って回転されることで、乱反射抑制領域３６，３８の位置がレンズ２０の周方向に移動されても良い。 In the first embodiment described above, the first slit 32 and the second slit 34 are used in order to form the irregular reflection suppression regions 36 and 38 in a part of the outer peripheral portion 22 of the lens 20 in the circumferential direction. However, instead of the first slit 32 and the second slit 34, for example, as shown in FIG. 4, the first light shielding member 62 and the second light shielding member for shielding a part of the annular illumination light source 12 in the circumferential direction. A light shielding member 64 may be used. In addition, the first light blocking member 62 and the second light blocking member 64 are rotated with the rotation of the rotating member 28 without the illumination light source 12 rotating, so that the positions of the irregular reflection suppression regions 36 and 38 are moved around the lens 20. It may be moved in the direction.
また、図５に示されるように、照明光源１２としてＬＥＤアレイが用いられる場合に、このＬＥＤアレイを形成する複数のＬＥＤ２６のうちいずれかのＬＥＤ２６が消灯されることにより、乱反射抑制領域３６，３８が形成されても良い。また、複数のＬＥＤ２６のうち消灯されるＬＥＤ２６が順次切り替えられることにより、乱反射抑制領域３６，３８の位置がレンズ２０の周方向に移動されても良い。この場合には、複数のＬＥＤ２６のうち消灯されるＬＥＤ２６が「抑制領域形成部」の一例に相当し、複数のＬＥＤ２６のうち消灯されるＬＥＤ２６を順次切り替えるための駆動回路等が「回転移動部」の一例に相当する。 As shown in FIG. 5, when an LED array is used as the illumination light source 12, any one of the plurality of LEDs 26 forming the LED array is turned off, so that the irregular reflection suppression regions 36 and 38 are turned off. May be formed. Further, the positions of the irregular reflection suppression regions 36 and 38 may be moved in the circumferential direction of the lens 20 by sequentially switching the LEDs 26 to be turned off among the plurality of LEDs 26. In this case, the LED 26 that is turned off among the plurality of LEDs 26 corresponds to an example of a “restriction region forming unit”, and a drive circuit or the like for sequentially switching the LED 26 that is turned off among the plurality of LEDs 26 It corresponds to an example.
また、上述の第一実施形態では、照明光源１２の周方向の一部からの光の出力を抑制するためのものであれば、第一スリット３２及び第二スリット３４以外に、どのような光出力抑制部が用いられても良い。 In the first embodiment described above, any light other than the first slit 32 and the second slit 34 may be used as long as the light output from a part in the circumferential direction of the illumination light source 12 is suppressed. An output suppression unit may be used.
また、レンズ２０の外周部２２における周方向の一部に乱反射抑制領域３６，３８を形成することができるものであれば、光出力抑制部以外に、どのような抑制領域形成部が用いられても良い。 Any suppression region forming portion other than the light output suppression portion may be used as long as the irregular reflection suppression regions 36 and 38 can be formed in a part of the outer peripheral portion 22 of the lens 20 in the circumferential direction. Also good.
また、上述の第一実施形態において、乱反射抑制領域３６の周辺部にて乱反射した乱反射光４６によって欠陥部２４から反射光を得られれば、第一スリット３２及び第二スリット３４の周方向の長さ及び形状は、どのように設定されても良い。 In the first embodiment described above, if the reflected light is obtained from the defect portion 24 by the irregularly reflected light 46 diffusely reflected at the peripheral portion of the irregular reflection suppressing region 36, the circumferential lengths of the first slit 32 and the second slit 34 are obtained. The height and shape may be set in any way.
また、上述の第一実施形態では、第一スリット３２及び第二スリット３４が形成された照明光源１２が回転部材２８と共に回転されることにより、乱反射抑制領域３６，３８の位置がレンズ２０の周方向に移動される。しかしながら、照明光源１２が固定された状態で、回転部材２８と共にレンズ２０が回転されることにより、乱反射抑制領域３６，３８の位置がレンズ２０の周方向に相対移動されても良い。 Further, in the first embodiment described above, the illumination light source 12 in which the first slit 32 and the second slit 34 are formed is rotated together with the rotating member 28, so that the positions of the irregular reflection suppression regions 36 and 38 are around the lens 20. Moved in the direction. However, the positions of the irregular reflection suppression regions 36 and 38 may be relatively moved in the circumferential direction of the lens 20 by rotating the lens 20 together with the rotating member 28 with the illumination light source 12 fixed.
また、上述の第一実施形態において、レンズ検査装置１０は、回転部材２８を回転させる回転機構１４を備えるが、回転部材２８は、作業者によって手動で回転されても良い。 In the first embodiment described above, the lens inspection device 10 includes the rotation mechanism 14 that rotates the rotation member 28. However, the rotation member 28 may be manually rotated by an operator.
なお、上記複数の変形例のうち組み合わせ可能な変形例は、適宜、組み合わされても良い。 It should be noted that the combinations that can be combined among the plurality of modifications may be combined as appropriate.
［第二実施形態］
次に、本願の開示する技術の第二実施形態を説明する。
[Second Embodiment]
Next, a second embodiment of the technology disclosed in the present application will be described.
図６に示される第二実施形態に係るレンズ検査装置７０では、上述の第一実施形態に係るレンズ検査装置１０（図２参照）に対し、次のように構成が変更されている。 In the lens inspection device 70 according to the second embodiment shown in FIG. 6, the configuration is changed as follows with respect to the lens inspection device 10 (see FIG. 2) according to the first embodiment described above.
すなわち、第二実施形態に係るレンズ検査装置７０では、照明光源１２及びスポット光源７４を有する光源７２が用いられている。スポット光源７４は、レンズ２０の径方向外側（例えば、第二スリット３４の上側又は内側）に設けられており、照明光源１２に固定されている。 That is, in the lens inspection device 70 according to the second embodiment, the light source 72 having the illumination light source 12 and the spot light source 74 is used. The spot light source 74 is provided outside the lens 20 in the radial direction (for example, above or inside the second slit 34), and is fixed to the illumination light source 12.
このスポット光源７４は、レンズ２０の周方向に沿って並ぶ一対の光源部７６，７８を有する。一対の光源部７６，７８は、照明光源１２よりも直進性及び輝度の高い光を出力する。この一対の光源部７６，７８は、レンズ２０の平面視にてレンズ２０の中心Ｏを通過する光軸Ａ１，Ａ２を有する。この一対の光源部７６，７８には、例えば、照明光源１２の光を集光する集光レンズや、ＬＥＤ等の光源が用いられる。 The spot light source 74 has a pair of light source portions 76 and 78 arranged along the circumferential direction of the lens 20. The pair of light source units 76 and 78 outputs light having higher straightness and brightness than the illumination light source 12. The pair of light source units 76 and 78 have optical axes A1 and A2 that pass through the center O of the lens 20 in a plan view of the lens 20. For the pair of light sources 76 and 78, for example, a condenser lens that collects light from the illumination light source 12 or a light source such as an LED is used.
第二実施形態において、第一スリット３２は、「抑制領域形成部」の一例であり、照明光源１２の径方向におけるスポット光源７４と反対側に設けられている。レンズ２０の平面視にて一方の光源部７６の光軸Ａ１上には、第一スリット３２の周方向の一端部が位置する。また、レンズ２０の平面視にて他方の光源部７８の光軸Ａ２上には、第一スリット３２の周方向の他端部が位置する。この第一スリット３２は、レンズ２０の平面視にて一対の光源部７６，７８から出力される光８２の間隙部に位置される。 In the second embodiment, the first slit 32 is an example of a “suppression region forming portion”, and is provided on the opposite side of the spot light source 74 in the radial direction of the illumination light source 12. One end of the first slit 32 in the circumferential direction is positioned on the optical axis A1 of the one light source unit 76 in a plan view of the lens 20. Further, the other end portion of the first slit 32 in the circumferential direction is positioned on the optical axis A2 of the other light source unit 78 in a plan view of the lens 20. The first slit 32 is located in a gap portion of the light 82 output from the pair of light source portions 76 and 78 in a plan view of the lens 20.
この第二実施形態において、照明光源１２、スポット光源７４、第一スリット３２及び第二スリット３４の位置は、回転部材２８の回転に伴ってレンズ２０の周方向に移動される。また、一対の光源部７６，７８は、照明光源１２と共に作動する。一対の光源部７６，７８から出力された光８２は、乱反射抑制領域３６の周辺部で乱反射する。そして、乱反射抑制領域３６の周辺部で生じた乱反射光８６は、欠陥部２４にて反射し、この欠陥部２４にて反射した反射光は、カメラ１６（図１参照）にて検出される。 In the second embodiment, the positions of the illumination light source 12, the spot light source 74, the first slit 32, and the second slit 34 are moved in the circumferential direction of the lens 20 as the rotating member 28 rotates. The pair of light source units 76 and 78 operate together with the illumination light source 12. The light 82 output from the pair of light source units 76 and 78 is diffusely reflected at the periphery of the irregular reflection suppression region 36. The irregularly reflected light 86 generated in the periphery of the irregular reflection suppression region 36 is reflected by the defect portion 24, and the reflected light reflected by the defect portion 24 is detected by the camera 16 (see FIG. 1).
このように第二実施形態では、乱反射抑制領域３６がレンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４と対向する場合に、スポット光源７４から出力され乱反射抑制領域３６の周辺部にて乱反射した乱反射光８６に基づいて欠陥部２４が検出される。 As described above, in the second embodiment, when the irregular reflection suppression region 36 faces the defect 24 near the outer peripheral portion 22 of the lens 20, the irregular reflection light output from the spot light source 74 and irregularly reflected at the peripheral portion of the irregular reflection suppression region 36. Based on 86, the defective portion 24 is detected.
図７には、第二実施形態に係るレンズ検査装置７０にて得られた二値化画像９０が示されている。この二値化画像７０においても、欠陥部にて生じた反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ２の背面側にブラック部分ＢＬが位置する。このため、レンズの外周部にて生じた乱反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ１に、欠陥部にて生じた反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ２が取り込まれることが抑制され、ホワイト部分Ｗ２が明確に確保される。なお、この二値化画像７０では、乱反射抑制領域の周辺部で生じた乱反射光によってホワイト部分Ｗ３が形成されるが、ホワイト部分Ｗ３は、ホワイト部分Ｗ２と離れるため影響は少ない。 FIG. 7 shows a binarized image 90 obtained by the lens inspection device 70 according to the second embodiment. Also in the binarized image 70, the black portion BL is located on the back side of the white portion W2 formed by the reflected light generated at the defective portion. For this reason, the white portion W2 formed by the reflected light generated at the defect portion is suppressed from being taken into the white portion W1 formed by the irregularly reflected light generated at the outer peripheral portion of the lens, and the white portion W2 is clear. Secured. In the binarized image 70, the white portion W3 is formed by the diffusely reflected light generated in the peripheral portion of the irregular reflection suppression region. However, the white portion W3 is separated from the white portion W2, so that the influence is small.
そして、このようにして得られた二値化画像９０に基づいて作業者やパソコン等により、図６に示されるレンズ２０における欠陥部２４の有無が判定される。 Based on the binarized image 90 obtained in this way, the presence or absence of the defective portion 24 in the lens 20 shown in FIG.
この第二実施形態によれば、乱反射抑制領域３６の周辺部で乱反射光８６を得るために、照明光源１２よりも直進性及び輝度の高い光を出力するスポット光源７４が用いられている。したがって、上述の第一実施形態よりも、乱反射抑制領域３６の周辺部で光の強度の高い乱反射光を得ることができるので、欠陥部２４の検出精度を向上させることができる。 According to the second embodiment, the spot light source 74 that outputs light having higher straightness and brightness than the illumination light source 12 is used to obtain the irregular reflection light 86 in the peripheral portion of the irregular reflection suppression region 36. Therefore, since the irregular reflection light having a higher light intensity can be obtained in the peripheral portion of the irregular reflection suppression region 36 than in the first embodiment, the detection accuracy of the defect portion 24 can be improved.
この第二実施形態において、上記以外は、第一実施形態と同様の構造である。第二実施形態において、上述の第一実施形態と同様の構造については、同様の作用効果を奏する。 In the second embodiment, the structure is the same as that of the first embodiment except for the above. In the second embodiment, the same effects as those of the first embodiment described above are obtained.
また、第二実施形態において、上述の第一実施形態と同様の構造については、第一実施形態と同様の変形例を採用することが可能である。 Moreover, in 2nd embodiment, it is possible to employ | adopt the same modification as 1st embodiment about the structure similar to the above-mentioned 1st embodiment.
なお、第二実施形態では、照明光源１２に第一スリット３２及び第二スリット３４が形成されている。しかしながら、スポット光源７４から出力された光８２によって得られる乱反射光８６に基づいて欠陥部２４を検出できるのであれば、スポット光源７４が設けられた側の第二スリット３４は無くても良い。 In the second embodiment, the illumination light source 12 is formed with a first slit 32 and a second slit 34. However, if the defect portion 24 can be detected based on the irregularly reflected light 86 obtained by the light 82 output from the spot light source 74, the second slit 34 on the side where the spot light source 74 is provided may be omitted.
［第三実施形態］
次に、本願の開示する技術の第三実施形態を説明する。
[Third embodiment]
Next, a third embodiment of the technology disclosed in the present application will be described.
図８に示される第三実施形態に係るレンズ検査装置１００では、上述の第二実施形態に係るレンズ検査装置７０（図６参照）に対し、次のように構成が変更されている。 In the lens inspection device 100 according to the third embodiment shown in FIG. 8, the configuration is changed as follows with respect to the lens inspection device 70 (see FIG. 6) according to the second embodiment described above.
すなわち、第三実施形態に係るレンズ検査装置１００では、照明光源１２（図６参照）が省かれており、「光源」の一例として、スポット光源７４が用いられている。また、レンズ２０の径方向におけるスポット光源７４と反対側には、「抑制領域形成部」の一例である乱反射抑制部１０２が確保されている。この乱反射抑制部１０２は、一対の光源部７６，７８から出力される光８２の間隙部によって形成される。 That is, in the lens inspection apparatus 100 according to the third embodiment, the illumination light source 12 (see FIG. 6) is omitted, and a spot light source 74 is used as an example of “light source”. Further, an irregular reflection suppression unit 102 that is an example of a “suppression region forming unit” is secured on the opposite side of the lens 20 in the radial direction from the spot light source 74. The irregular reflection suppressing unit 102 is formed by a gap portion of the light 82 output from the pair of light source units 76 and 78.
レンズ２０の外周部２２における乱反射抑制部１０２と対向する部位には、スポット光源７４から出力された光の乱反射が抑制された円弧状の乱反射抑制領域３６が形成される。 An arc-shaped irregular reflection suppression region 36 in which irregular reflection of light output from the spot light source 74 is suppressed is formed in a portion of the outer peripheral portion 22 of the lens 20 facing the irregular reflection suppression unit 102.
この第三実施形態において、スポット光源７４及び乱反射抑制部１０２の位置は、回転部材２８の回転に伴ってレンズ２０の周方向に移動される。また、一対の光源部７６，７８から出力された光８２は、乱反射抑制領域３６の周辺部で乱反射する。そして、乱反射抑制領域３６の周辺部で生じた乱反射光８６は、欠陥部２４にて反射し、この欠陥部２４にて反射した反射光は、カメラ１６（図１参照）にて検出される。 In the third embodiment, the positions of the spot light source 74 and the irregular reflection suppressing unit 102 are moved in the circumferential direction of the lens 20 as the rotating member 28 rotates. Further, the light 82 output from the pair of light source units 76 and 78 is diffusely reflected at the peripheral portion of the irregular reflection suppression region 36. The irregularly reflected light 86 generated in the periphery of the irregular reflection suppression region 36 is reflected by the defect portion 24, and the reflected light reflected by the defect portion 24 is detected by the camera 16 (see FIG. 1).
このように第三実施形態では、乱反射抑制領域３６がレンズ２０の外周部２２付近の欠陥部２４と対向する場合に、スポット光源７４から出力され乱反射抑制領域３６の周辺部にて乱反射した乱反射光８６に基づいて欠陥部２４が検出される。 As described above, in the third embodiment, when the irregular reflection suppression region 36 faces the defect 24 near the outer peripheral portion 22 of the lens 20, the irregular reflection light output from the spot light source 74 and irregularly reflected at the peripheral portion of the irregular reflection suppression region 36. Based on 86, the defective portion 24 is detected.
図９には、第三実施形態に係るレンズ検査装置１００にて得られた二値化画像１１０が示されている。この二値化画像１１０においても、欠陥部にて生じた反射光によって形成されたホワイト部分Ｗ２の背面側にブラック部分ＢＬが位置する。このため、ホワイト部分Ｗ２が明確に確保される。なお、この二値化画像１１０においても、乱反射抑制領域の周辺部で生じた乱反射光によってホワイト部分Ｗ３が形成されるが、ホワイト部分Ｗ３は、ホワイト部分Ｗ２と離れるため影響は少ない。 FIG. 9 shows a binarized image 110 obtained by the lens inspection apparatus 100 according to the third embodiment. Also in the binarized image 110, the black portion BL is located on the back side of the white portion W2 formed by the reflected light generated at the defective portion. For this reason, the white part W2 is clearly ensured. In the binarized image 110 as well, the white portion W3 is formed by the irregularly reflected light generated in the peripheral portion of the irregular reflection suppression region, but the white portion W3 is separated from the white portion W2, so that the influence is small.
そして、このようにして得られた二値化画像１１０に基づいて作業者やパソコン等により、図８に示されるレンズ２０における欠陥部２４の有無が判定される。 Then, based on the binarized image 110 obtained in this way, the presence or absence of the defective portion 24 in the lens 20 shown in FIG.
この第三実施形態によれば、乱反射抑制領域３６の周辺部で乱反射光８６を得るために、スポット光源７４が用いられている。したがって、例えば、スポット光源７４に加えて照明光源を用いる場合に比して、照明光源による乱反射光の影響を排除できるので、欠陥部２４の検出精度を確保することができる。 According to the third embodiment, the spot light source 74 is used in order to obtain the irregular reflection light 86 in the peripheral portion of the irregular reflection suppression region 36. Therefore, for example, compared to the case where an illumination light source is used in addition to the spot light source 74, the influence of irregularly reflected light from the illumination light source can be eliminated, so that the detection accuracy of the defective portion 24 can be ensured.
また、照明光源を用いない分、部品点数を削減することができるので、コストダウンすることができる。 In addition, since the number of parts can be reduced by not using the illumination light source, the cost can be reduced.
この第三実施形態において、上記以外は、第一及び第二実施形態と同様の構造である。第三実施形態において、上述の第一及び第二実施形態と同様の構造については、同様の作用効果を奏する。 In the third embodiment, the structure is the same as that of the first and second embodiments except for the above. In the third embodiment, the same functions and effects are provided for the same structures as those of the first and second embodiments described above.
また、第三実施形態において、上述の第一及び第二実施形態と同様の構造については、第一及び第二実施形態と同様の変形例を採用することが可能である。 In the third embodiment, a modification similar to that in the first and second embodiments can be adopted for the same structure as in the first and second embodiments described above.
[抑制領域形成部の設定方法の一例]
次に、図１０を適宜参照しながら、上述の各実施形態における抑制領域形成部の幅の設定方法の一例について説明する。上述の各実施形態において、抑制領域形成部の幅は、照明光源の輝度やレンズの特性に関係するため、レンズの外周部で乱反射している光の幅を基に決定される。
[Example of setting method of suppression region forming part]
Next, an example of a method for setting the width of the suppression region forming portion in each of the above-described embodiments will be described with reference to FIG. 10 as appropriate. In each of the above-described embodiments, the width of the suppression region forming portion is determined based on the width of the light that is irregularly reflected on the outer peripheral portion of the lens because it is related to the luminance of the illumination light source and the lens characteristics.
先ず、レンズの外周部で乱反射している光の幅ｄを計測する。
幅ｄでは、欠陥部が見えないが、幅ｄ＋ｄ／２では欠陥部の検出が可能で、かつ、散乱光もある。
このため、レンズの乱反射抑制領域の幅は、２×３ｄ／２＝３ｄとなる。
レンズの半径をｒとすると、レンズの中心から乱反射抑制領域までの角度θは、以下で求められる。
したがって、照明光源の半径をＲとすると、抑制領域形成部の幅Ｌは、以下で求められる。
First, the width d of the light that is irregularly reflected on the outer periphery of the lens is measured.
In the width d, the defect portion cannot be seen, but in the width d + d / 2, the defect portion can be detected and there is also scattered light.
For this reason, the width of the irregular reflection suppression region of the lens is 2 × 3d / 2 = 3d.
Assuming that the radius of the lens is r, the angle θ from the center of the lens to the irregular reflection suppression region can be obtained as follows.
Therefore, when the radius of the illumination light source is R, the width L of the suppression region forming portion is obtained as follows.
以上、本願の開示する技術の第一乃至第三実施形態について説明したが、本願の開示する技術は、上記に限定されるものでなく、上記以外にも、その主旨を逸脱しない範囲内において種々変形して実施可能であることは勿論である。 The first to third embodiments of the technology disclosed in the present application have been described above. However, the technology disclosed in the present application is not limited to the above, and various other techniques can be used without departing from the spirit of the present invention. Of course, the present invention can be modified and implemented.
なお、上述の本願の開示する技術の一実施形態に関し、更に以下の付記を開示する。 In addition, the following additional remark is disclosed regarding one Embodiment of the technique which the above-mentioned this application discloses.
（付記１）
レンズの径方向外側に配置され、前記レンズに光を照射する光源と、
前記レンズの径方向外側に設けられ、前記レンズの外周部における周方向の一部に、前記光源から出力された光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域を形成する抑制領域形成部と、
前記乱反射抑制領域が前記レンズの外周部付近の欠陥部と対向する場合に、前記光源から出力され前記乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて前記欠陥部を検出する検出部と、
を備えるレンズ検査装置。
（付記２）
前記光源は、前記レンズの外周部の周囲に沿って延びる照明光源を有し、
前記抑制領域形成部は、前記照明光源の径方向に互いに対向する位置に設けられ、前記照明光源からの光の出力を抑制する一対の光出力抑制部を有し、
前記乱反射抑制領域は、前記レンズの外周部における前記光出力抑制部と対向する部位にそれぞれ形成される、
付記１に記載のレンズ検査装置。
（付記３）
前記レンズの平面視にて一方の前記光出力抑制部の周方向の一端部と前記レンズの中心とを結んだ線の延長線上には、他方の前記光出力抑制部の周方向の一端部が位置し、
前記レンズの平面視にて一方の前記光出力抑制部の周方向の他端部と前記レンズの中心とを結んだ線の延長線上には、他方の前記光出力抑制部の周方向の他端部が位置する、
付記２に記載のレンズ検査装置。
（付記４）
前記一対の光出力抑制部は、前記照明光源の径方向に互いに対向する位置にそれぞれ形成されたスリットである、
付記２又は付記３に記載のレンズ検査装置。
（付記５）
前記一対の光出力抑制部の位置を前記レンズに対して前記レンズの周方向に相対移動させる回転移動部をさらに備える、
付記２〜付記４のいずれか一項に記載のレンズ検査装置。
（付記６）
前記光源は、前記レンズの外周部の周囲に沿って延びる照明光源と、
前記レンズの径方向外側に設けられ、前記照明光源よりも直進性及び輝度の高い光を出力するスポット光源とを有し、
前記抑制領域形成部は、前記照明光源の径方向における前記スポット光源と反対側に設けられ、前記照明光源からの光の出力を抑制する光出力抑制部を有し、
前記乱反射抑制領域は、前記レンズの外周部における前記光出力抑制部と対向する部位に形成され、
前記検出部は、前記スポット光源から出力され前記乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて前記欠陥部を検出する、
付記１に記載のレンズ検査装置。
（付記７）
前記スポット光源は、前記レンズの周方向に沿って並ぶ一対の光源部を有し、
前記一対の光源部は、前記レンズの平面視にて前記レンズの中心を通過する光軸を有し、
前記レンズの平面視にて一方の前記光源部の光軸上には、前記光出力抑制部の周方向の一端部が位置し、
前記レンズの平面視にて他方の前記光源部の光軸上には、前記光出力抑制部の周方向の他端部が位置する、
付記６に記載のレンズ検査装置。
（付記８）
前記光出力抑制部は、前記照明光源の周方向の一部に形成されたスリットである、
付記６又は付記７に記載のレンズ検査装置。
（付記９）
前記スポット光源及び前記光出力抑制部の位置を前記レンズに対して前記レンズの周方向に相対移動させる回転移動部をさらに備える、
付記６〜付記８のいずれか一項に記載のレンズ検査装置。
（付記１０）
前記光源は、前記レンズの径方向外側に設けられたスポット光源を有し、
前記抑制領域形成部は、前記レンズの径方向における前記スポット光源と反対側に設けられ、前記スポット光源から出力された光の乱反射を抑制する乱反射抑制部を有し、
前記乱反射抑制領域は、前記レンズの外周部における前記乱反射抑制部と対向する部位に形成される、
付記１に記載のレンズ検査装置。
（付記１１）
前記乱反射抑制部は、前記一対の光源部から出力される光の間隙部によって形成される、
付記１０に記載のレンズ検査装置。
（付記１２）
前記スポット光源及び前記乱反射抑制部の位置を前記レンズに対して前記レンズの周方向に相対移動させる回転移動部をさらに備える、
付記１０又は付記１１に記載のレンズ検査装置。
（付記１３）
前記検出部は、カメラである、
付記１〜付記１２のいずれか一項に記載のレンズ検査装置。
（付記１４）
前記カメラで撮影された画像を二値化する画像処理部をさらに備える、
付記１３に記載のレンズ検査装置。
（付記１５）
レンズの径方向外側に配置された光源から前記レンズに光を照射すると共に、前記レンズの外周部における周方向の一部に、前記光源から出力された光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域を形成し、
前記乱反射抑制領域の位置を前記レンズの周方向に移動させ、
前記乱反射抑制領域が前記レンズの外周部付近の欠陥部と対向する場合に、前記光源から出力され前記乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて前記欠陥部を検出する、
ことを含むレンズ検査方法。
（付記１６）
前記レンズの外周部の周囲に沿って延びる照明光源を有する前記光源から前記レンズに光を照射し、
前記照明光源の径方向に互いに対向する位置に設けられた一対の光出力抑制部によって前記照明光源からの光の出力を抑制することにより前記レンズの外周部における前記光出力抑制部と対向する部位に前記乱反射抑制領域をそれぞれ形成する、
付記１５に記載のレンズ検査方法。
（付記１７）
前記レンズの外周部の周囲に沿って延びる照明光源と、前記レンズの径方向外側に設けられ前記照明光源よりも直進性及び輝度の高い光を出力するスポット光源とを有する前記光源から前記レンズに光を照射し、
前記照明光源の径方向における前記スポット光源と反対側に設けられた光出力抑制部によって前記照明光源からの光の出力を抑制することにより前記レンズの外周部における前記光出力抑制部と対向する部位に前記乱反射抑制領域を形成し、
前記スポット光源から出力され前記乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて前記欠陥部を検出する、
付記１６に記載のレンズ検査方法。
（付記１８）
前記レンズの径方向外側に設けられたスポット光源を有する前記光源から前記レンズに光を照射し、
前記レンズの径方向における前記スポット光源と反対側に設けられた乱反射抑制部によって前記スポット光源から出力された光の乱反射を抑制することにより前記レンズの外周部における前記乱反射抑制部と対向する部位に前記乱反射抑制領域を形成する、
付記１７に記載のレンズ検査方法。
(Appendix 1)
A light source disposed outside the lens in the radial direction and irradiating the lens with light;
A suppression region forming portion that is provided outside the lens in the radial direction and forms a diffuse reflection suppression region in which irregular reflection of light output from the light source is suppressed in a part of a circumferential direction of the outer periphery of the lens;
A detection unit that detects the defective part based on irregularly reflected light that is output from the light source and diffusely reflected in the peripheral part of the irregular reflection suppressing area when the irregular reflection suppressing area faces a defective part near the outer peripheral part of the lens; ,
A lens inspection apparatus.
(Appendix 2)
The light source has an illumination light source extending along the periphery of the outer periphery of the lens,
The suppression region forming unit is provided at a position facing each other in the radial direction of the illumination light source, and has a pair of light output suppression units that suppress output of light from the illumination light source,
The irregular reflection suppression region is formed in a portion facing the light output suppression portion in the outer peripheral portion of the lens, respectively.
The lens inspection device according to attachment 1.
(Appendix 3)
One end portion in the circumferential direction of the other light output suppressing portion is on an extension line of a line connecting the one end portion in the circumferential direction of the one light output suppressing portion and the center of the lens in plan view of the lens. Position to,
The other end in the circumferential direction of the other light output suppression unit is on an extension of a line connecting the other end in the circumferential direction of one of the light output suppression units and the center of the lens in plan view of the lens. Part is located,
The lens inspection device according to attachment 2.
(Appendix 4)
The pair of light output suppression units are slits formed at positions facing each other in the radial direction of the illumination light source,
The lens inspection apparatus according to Supplementary Note 2 or Supplementary Note 3.
(Appendix 5)
A rotation moving unit that moves the position of the pair of light output suppression units relative to the lens in the circumferential direction of the lens;
The lens inspection device according to any one of appendix 2 to appendix 4.
(Appendix 6)
The light source is an illumination light source extending along the periphery of the outer periphery of the lens;
A spot light source provided on the outer side in the radial direction of the lens and outputting light having higher straightness and brightness than the illumination light source;
The suppression region forming unit is provided on the side opposite to the spot light source in the radial direction of the illumination light source, and has a light output suppression unit that suppresses output of light from the illumination light source,
The irregular reflection suppression region is formed at a portion facing the light output suppression portion in the outer peripheral portion of the lens,
The detection unit detects the defect portion based on irregularly reflected light output from the spot light source and irregularly reflected at a peripheral portion of the irregular reflection suppression region.
The lens inspection device according to attachment 1.
(Appendix 7)
The spot light source has a pair of light source parts arranged along the circumferential direction of the lens,
The pair of light source units has an optical axis passing through the center of the lens in a plan view of the lens,
On the optical axis of one of the light source units in a plan view of the lens, one end portion in the circumferential direction of the light output suppression unit is located,
On the optical axis of the other light source unit in plan view of the lens, the other end portion in the circumferential direction of the light output suppression unit is located.
The lens inspection device according to appendix 6.
(Appendix 8)
The light output suppression part is a slit formed in a part of the circumferential direction of the illumination light source.
The lens inspection device according to appendix 6 or appendix 7.
(Appendix 9)
A rotation movement unit that relatively moves the positions of the spot light source and the light output suppression unit in the circumferential direction of the lens with respect to the lens;
The lens inspection device according to any one of appendix 6 to appendix 8.
(Appendix 10)
The light source has a spot light source provided on the outside in the radial direction of the lens,
The suppression region forming unit is provided on the side opposite to the spot light source in the radial direction of the lens, and has a diffuse reflection suppression unit that suppresses irregular reflection of light output from the spot light source,
The irregular reflection suppression region is formed in a portion facing the irregular reflection suppression portion in the outer peripheral portion of the lens.
The lens inspection device according to attachment 1.
(Appendix 11)
The irregular reflection suppressing portion is formed by a gap portion of light output from the pair of light source portions.
The lens inspection device according to attachment 10.
(Appendix 12)
A rotation movement unit that relatively moves the positions of the spot light source and the irregular reflection suppression unit relative to the lens in the circumferential direction of the lens;
The lens inspection device according to appendix 10 or appendix 11.
(Appendix 13)
The detection unit is a camera.
The lens inspection device according to any one of appendices 1 to 12.
(Appendix 14)
An image processing unit that binarizes an image captured by the camera;
The lens inspection device according to attachment 13.
(Appendix 15)
Irradiate the lens with light from a light source arranged on the outer side in the radial direction of the lens, and a diffused reflection suppression region in which irregular reflection of the light output from the light source is suppressed in a part of the outer peripheral portion of the lens. Forming,
Move the position of the irregular reflection suppression region in the circumferential direction of the lens,
When the irregular reflection suppression region faces a defect near the outer periphery of the lens, the defect is detected based on irregular reflection light output from the light source and irregularly reflected at the periphery of the irregular reflection suppression region.
A lens inspection method.
(Appendix 16)
Irradiating the lens with light from the light source having an illumination light source extending along the periphery of the outer periphery of the lens;
The part which opposes the said light output suppression part in the outer peripheral part of the said lens by suppressing the output of the light from the said illumination light source by a pair of light output suppression part provided in the position which mutually opposes the radial direction of the said illumination light source Forming each of the irregular reflection suppression regions,
The lens inspection method according to attachment 15.
(Appendix 17)
An illumination light source extending along the periphery of the outer periphery of the lens, and a spot light source that is provided outside in the radial direction of the lens and outputs light that is straight and has higher brightness than the illumination light source. Irradiate with light,
The part which opposes the said light output suppression part in the outer peripheral part of the said lens by suppressing the output of the light from the said illumination light source by the light output suppression part provided in the opposite side to the said spot light source in the radial direction of the said illumination light source Forming the irregular reflection suppression region in
Detecting the defect portion based on irregularly reflected light output from the spot light source and irregularly reflected at the periphery of the irregular reflection suppression region;
The lens inspection method according to appendix 16.
(Appendix 18)
Irradiating the lens with light from the light source having a spot light source provided on the radially outer side of the lens,
By suppressing the irregular reflection of the light output from the spot light source by the irregular reflection suppression unit provided on the opposite side of the spot light source in the radial direction of the lens, the portion facing the irregular reflection suppression unit in the outer periphery of the lens Forming the irregular reflection suppression region,
The lens inspection method according to appendix 17.
１０ レンズ検査装置
１２ 照明光源（光源の一例）
１４ 回転機構（回転移動部の一例）
１６ カメラ（検出部の一例）
１８ パーソナルコンピュータ
２０ レンズ
２２ 外周部
２４ 欠陥部
３２ 第一スリット（光出力抑制部、抑制領域形成部の一例）
３４ 第二スリット（光出力抑制部、抑制領域形成部の一例）
３６，３８ 乱反射抑制領域
６２ 第一遮光部材（光出力抑制部、抑制領域形成部の一例）
６４ 第二遮光部材（光出力抑制部、抑制領域形成部の一例）
７０ レンズ検査装置
７２ 光源
７４ スポット光源
７６，７８ 一対の光源部
１００ レンズ検査装置
１０２ 乱反射抑制部（抑制領域形成部の一例）
10 Lens inspection device 12 Illumination light source (an example of a light source)
14 Rotating mechanism (an example of a rotational movement unit)
16 camera (an example of a detection unit)
18 Personal computer 20 Lens 22 Outer peripheral portion 24 Defect portion 32 First slit (an example of a light output suppressing portion and a suppressing region forming portion)
34 2nd slit (an example of a light output suppression part, a suppression area | region formation part)
36, 38 Diffuse reflection suppression region 62 First light shielding member (an example of a light output suppression portion and a suppression region forming portion)
64 2nd light shielding member (an example of a light output suppression part, a suppression area | region formation part)
70 Lens inspection device 72 Light source 74 Spot light source 76, 78 A pair of light source units 100 Lens inspection device 102 Diffuse reflection suppression unit (an example of suppression region forming unit)
Claims (5)
前記レンズの径方向外側に設けられ、前記レンズの外周部における周方向の一部に、前記光源から出力された光の乱反射が抑制された乱反射抑制領域を形成する抑制領域形成部と、
前記乱反射抑制領域が前記レンズの外周部付近の欠陥部と対向する場合に、前記光源から出力され前記乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて前記欠陥部を検出する検出部と、
を備えるレンズ検査装置。 A light source disposed outside the lens in the radial direction and irradiating the lens with light;
A suppression region forming portion that is provided outside the lens in the radial direction and forms a diffuse reflection suppression region in which irregular reflection of light output from the light source is suppressed in a part of a circumferential direction of the outer periphery of the lens;
A detection unit that detects the defective part based on irregularly reflected light that is output from the light source and diffusely reflected in the peripheral part of the irregular reflection suppressing area when the irregular reflection suppressing area faces a defective part near the outer peripheral part of the lens; ,
A lens inspection apparatus.
前記抑制領域形成部は、前記照明光源の径方向に互いに対向する位置に設けられ、前記照明光源からの光の出力を抑制する一対の光出力抑制部を有し、
前記乱反射抑制領域は、前記レンズの外周部における前記光出力抑制部と対向する部位にそれぞれ形成される、
請求項１に記載のレンズ検査装置。 The light source has an illumination light source extending along the periphery of the outer periphery of the lens,
The suppression region forming unit is provided at a position facing each other in the radial direction of the illumination light source, and has a pair of light output suppression units that suppress output of light from the illumination light source,
The irregular reflection suppression region is formed in a portion facing the light output suppression portion in the outer peripheral portion of the lens, respectively.
The lens inspection device according to claim 1.
前記レンズの径方向外側に設けられ、前記照明光源よりも直進性及び輝度の高い光を出力するスポット光源とを有し、
前記抑制領域形成部は、前記照明光源の径方向における前記スポット光源と反対側に設けられ、前記照明光源からの光の出力を抑制する光出力抑制部を有し、
前記乱反射抑制領域は、前記レンズの外周部における前記光出力抑制部と対向する部位に形成され、
前記検出部は、前記スポット光源から出力され前記乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて前記欠陥部を検出する、
請求項１に記載のレンズ検査装置。 The light source is an illumination light source extending along the periphery of the outer periphery of the lens;
A spot light source provided on the outer side in the radial direction of the lens and outputting light having higher straightness and brightness than the illumination light source;
The suppression region forming unit is provided on the side opposite to the spot light source in the radial direction of the illumination light source, and has a light output suppression unit that suppresses output of light from the illumination light source,
The irregular reflection suppression region is formed at a portion facing the light output suppression portion in the outer peripheral portion of the lens,
The detection unit detects the defect portion based on irregularly reflected light output from the spot light source and irregularly reflected at a peripheral portion of the irregular reflection suppression region.
The lens inspection device according to claim 1.
前記抑制領域形成部は、前記レンズの径方向における前記スポット光源と反対側に設けられ、前記スポット光源から出力された光の乱反射を抑制する乱反射抑制部を有し、
前記乱反射抑制領域は、前記レンズの外周部における前記乱反射抑制部と対向する部位に形成される、
請求項１に記載のレンズ検査装置。 The light source has a spot light source provided on the outside in the radial direction of the lens,
The suppression region forming unit is provided on the side opposite to the spot light source in the radial direction of the lens, and has a diffuse reflection suppression unit that suppresses irregular reflection of light output from the spot light source,
The irregular reflection suppression region is formed in a portion facing the irregular reflection suppression portion in the outer peripheral portion of the lens.
The lens inspection device according to claim 1.
前記乱反射抑制領域の位置を前記レンズの周方向に移動させ、
前記乱反射抑制領域が前記レンズの外周部付近の欠陥部と対向する場合に、前記光源から出力され前記乱反射抑制領域の周辺部にて乱反射した乱反射光に基づいて前記欠陥部を検出する、
ことを含むレンズ検査方法。 Irradiate the lens with light from a light source arranged on the outer side in the radial direction of the lens, and a diffused reflection suppression region in which irregular reflection of the light output from the light source is suppressed in a part of the outer peripheral portion of the lens. Forming,
Move the position of the irregular reflection suppression region in the circumferential direction of the lens,
When the irregular reflection suppression region faces a defect near the outer periphery of the lens, the defect is detected based on irregular reflection light output from the light source and irregularly reflected at the periphery of the irregular reflection suppression region.
A lens inspection method.
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