JP2007013509A - 音響センサおよびダイアフラム - Google Patents

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Abstract

【課題】音響センサの小型化を図りながら、感度を向上させることが可能な音響センサ
を提供する。
【解決手段】背極板10と、背極板10に所定の距離を隔てて対向するように、かつ、振動可能に設けられたポリシリコン層5bと、ポリシリコン層5bとともに振動されることによって発電可能な圧電体からなる発電膜6とを含むダイアフラム7とを備え、ポリシリコン層5bは、発電膜6から供給される電荷を蓄積するように構成され、ダイアフラム7と背極板10との静電容量の変化に基づいて、音を電気的な信号に変換する。
【選択図】図1

Description

本発明は、音響センサおよびダイアフラムに関する。
従来、ダイアフラム(振動板)を音によって振動させて、その振動の変化に基づいて音に対応する電気信号を取り出すマイクロホン(音響センサ)が知られている(たとえば、特許文献1)。
図24は、上記特許文献1に開示されたマイクロホンの概略構成を示した図である。この特許文献1に開示されたマイクロホンは、図24に示すように、SiNからなるダイアフラム40と、ダイアフラム40の端部に配置された電極41aと、その電極41aと対向するように所定の間隔を隔てて配置された電極41bとを備えている。このマイクロホンでは、制御回路42に含まれる昇圧回路42aにより電極41aと電極41bとの間に10V以上の高電圧が印加されている。そして、音によってダイアフラム40が振動されると、このダイアフラム40の振動によって、ダイアフラム40の端部に配置された電極41aも振動する。これにより、電極41aと電極41bとの間の電極間距離が変化するので、電極41aおよび41bからなるコンデンサの静電容量が変化する。この結果、電極41bの電位が変化するので、その電位の変化を増幅回路42bにより増幅して、音に対応する電気信号として出力する。
また、従来、ダイアフラムを用いて音に対応する電気信号を取り出す他の例として、圧電体からなるダイアフラムを備えたマイクロホンが知られている。このマイクロホンは、図25に示すように、圧電体からなるダイアフラム45と、このダイアフラム45の表面および裏面を挟むように設けられた一対の電極46aおよび46bと、高抵抗48により電流から変換された電圧を増幅するための増幅回路47と、電流の損失を防ぎつつ電流を電圧(電位)に変換して接地電位(0V)に対する電極46aの電位得るための高抵抗48とを備えている。また、高抵抗48の一方端と増幅回路47の一方端とは接地されている。このマイクロホンでは、図26に示すように、圧電体からなるダイアフラム45が音によって振動されると、ダイアフラム45と電極46aおよび46bとが変形される。そして、ダイアフラム45が変形されると、圧電効果によりダイアフラム45の上面および下面にそれぞれ負電荷および正電荷が発生する。これにより、高抵抗48に電流が流れるので、その電流を高抵抗48により電圧に変換する。そして、この電圧を増幅回路47によって増幅することにより、音を電気信号に変換して出力している。
特許第3556676号公報
しかしながら、図24に示した特許文献1のマイクロホンでは、ダイアフラム40をSiNで構成しているため、ダイアフラム40に電荷を蓄積することができない。このため、電極41aと電極41との間に電位差を発生させて静電容量の変化を電気信号として取り出すためには、電極41aに常に高電圧を印加する必要がある。このため、制御回路42に回路規模の大きい昇圧回路42aを設ける必要があるので、制御回路42が大型化し、その結果、マイクロホンが大型化するという問題点がある。また、図25および図26に示した従来の圧電体によりダイアフラム45を構成したマイクロホンでは、一度の振動による圧電効果によって発生する電圧は小さいので、音が変換された電気信号が小さくなる。その結果、マイクロホンの感度が低くなるという問題点が生じる。また、圧電体からなるダイアフラム45の面積を大きくすることにより感度を向上させると、マイクロホンが大型化するという問題点がある。
この発明は、上記のような課題を解決するためになされたものであり、この発明の1つの目的は、マイクロホンなどの音響センサの小型化を図りながら、感度を向上させることが可能なダイアフラムを備えた音響センサおよびそのダイアフラムを提供することである。
課題を解決するための手段および発明の効果
この発明の第1の局面による音響センサは、電極板と、電極板に所定の距離を隔てて対向するように、かつ、振動可能に設けられた蓄電部材と、蓄電部材とともに振動されることによって発電可能な圧電体からなる発電部材とを含むダイアフラムとを備え、蓄電部材は、発電部材から供給される電荷を蓄積するように構成され、ダイアフラムと電極板との静電容量の変化に基づいて、音を電気的な信号に変換する。なお、本発明の音響センサは、マイクロホンなどを含む概念である。
この発明の第1の局面による音響センサでは、ダイアフラムに電荷を蓄積するように構成され、かつ、振動可能な蓄電部材と、蓄電部材とともに振動されることにより発電可能な発電部材とを設けることによって、音などによって蓄電部材が振動されると、圧電体からなる発電部材も振動されるので、その発電部材により発電された電荷が蓄電部材により蓄積されて、電極板とダイアフラムとの間に電位差が生じる。このように電極板とダイアフラムとの間に電位差が生じた状態で、ダイアフラムが振動されると、電極板とダイアフラムとの間の距離が変化することにより電極板とダイアフラムとからなるコンデンサの静電容量が変化されるとともに、電極板の電位も変化する。この電位の変化を電気信号として出力することによって、音などを電気的な信号に変換することができる。また、圧電体からなる発電部材を振動させることによって蓄電部材に電荷を蓄積することができるので、ダイアフラムに電圧を印加するための昇圧回路などが不要になる。これにより、音響センサの制御回路を小型化することができるので、音響センサを小型化することができる。また、振動によって発電部材が繰り返し発電するので、蓄電部材に大量の電荷を蓄積することができる。これにより、電極板と、蓄電部材を含むダイアフラムとの間に大きな電位差を生じさせることができるので、電極板とダイアフラムとからなるコンデンサの静電容量の変化に対応する電極板の電位の変化を大きくすることができる。これにより、取り出す電気信号を大きくすることができる。この結果、ダイアフラムを大型化しなくても、音響センサの感度を向上させることができる。したがって、この第1の局面では、小型化を図りながら、感度を向上させることが可能な音響センサを提供することができる。
上記発電部材が蓄電部材の外周部側に配置された音響センサにおいて、好ましくは、圧電体からなる発電部材は、圧電体からなる発電膜を含み、平面的に見て、発電膜の外周部側に正電荷または負電荷が発生し、平面的に見て、蓄電部材が位置する発電膜の内周部側に負電荷または正電荷が発生するように構成されている。このように構成すれば、発電膜の外周部側に正電荷が発生し、発電膜の内周部側に負電荷が発生するように構成した場合には、発電膜の外周部側に発生した正電荷に引き寄せられて外部の負電荷が流入する。そして、その負電荷が発電膜の外周部側から内周部側へと流れるので、蓄電部材には負電荷が蓄積することができる。一方、発電膜の外周部側に負電荷が発生し、発電膜の内周部側に正電荷が発生するように構成した場合には、発電膜の外周部側に発生した負電荷に引き寄せられて外部の正電荷が流入する。そして、その正電荷が発電膜の内周部側から外周部側へと流れので、蓄電部材には正電荷が蓄積される。これらにより、発電膜によって発電される正電荷および負電荷の流れを一方向に固定することができるので、より効率よく蓄電部材に電荷を蓄積することができる。
なお、上記第1の局面による音響センサにおいて、以下のように構成してもよい。上記第1の局面による音響センサにおいて、好ましくは、発電部材には、電荷の流出を抑制する整流素子が電気的に接続されている。このように構成すれば、発電部材によって発電されることによる電荷の流れを蓄電部材への一方向に固定することができるとともに、蓄電部材に蓄えられた電荷の流出を抑制することができるので、蓄電部材は、発電部材から供給された電荷を損失しにくい。これにより、効率よく電荷を蓄積することができる。また、上記第1の局面による音響センサにおいて、好ましくは、圧電体からなる発電部材は、蓄電部材の外周部側に配置されている。このように構成すれば、たとえば、円形の蓄電部材の中心部の振動が最も大きくなる構造を有する場合に、発電部材を円形の蓄電部材の外周部側に配置することにより、蓄電部材の振動の最も大きくなる部分の振動性能を確保しながら、発電部材により発電した電荷を蓄電部材の外周部から蓄電部材に供給することができる。また、上記発電部材が蓄電部材の外周側に設置されている音響センサにおいて、好ましくは、圧電体からなる発電部材は、平面的に見て、蓄電部材の外周部を取り囲むように形成されている。このように構成すれば、蓄電部材の外周部全体から、発電部材は蓄電部材に電荷を供給することができるので、より多くの電荷を蓄電部材に供給することができる。
この発明の第2の局面によるダイアフラムは、電極板に所定の距離を隔てて対向するように、かつ、振動可能に設けられた蓄電部材と、蓄電部材とともに振動されることによって発電可能な圧電体からなる発電部材とを備え、蓄電部材は、発電部材から供給される電荷を蓄積するように構成されている。
この発明の第2の局面によるダイアフラムでは、上記のように、電荷を蓄積するように構成され、かつ、振動可能な蓄電部材と、蓄電部材とともに振動されることにより発電可能な発電部材とを設けることによって、音などによって蓄電部材が振動されると、圧電体からなる発電部材も振動されるので、その発電部材により発電された電荷が蓄電部材に蓄積されて、電極板とダイアフラムとの間に電位差が生じる。このように電極板とダイアフラムとの間に電位差が生じた状態で、ダイアフラムが振動されると、電極板とダイアフラムとの間の距離が変化することにより電極板とダイアフラムとからなるコンデンサの静電容量が変化されるとともに、電極板の電位が変化する。この電位の変化を電気信号として出力することによって、音などを電気的な信号に変換することができる。また、圧電体からなる発電部材を振動させることによって蓄電部材に電荷を蓄積することができるので、ダイアフラムに電圧を印加するための昇圧回路などが不要になる。これにより、ダイアフラムの制御回路を小型化することができるので、音響センサを小型化することができる。また、振動によって発電部材が繰り返し発電するので、蓄電部材に大量の電荷を蓄積することができる。これにより、電極板と、蓄電部材を含むダイアフラムとの間に大きな電位差を生じさせることができるので、電極板とダイアフラムとからなるコンデンサの静電容量の変化に対応する電極板の電位の変化を大きくすることができる。これにより、取り出す電気信号を大きくすることができる。この結果、ダイアフラムを大型化しなくても、音響センサの感度を向上させることができる。したがって、この第2の局面では、音響センサの小型化を図りながら、音響センサの感度を向上させることが可能なダイアフラムを提供することができる。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。なお、以下の説明では、本発明を音響センサの一種であるマイクロホンに適用した例について説明する。
図1は、本発明の一実施形態によるダイアフラムを含むマイクロホンの構造を示した断面図である。図2は、図1に示したマイクロホンのダイアフラムおよび背極板部分の平面図である。図3は、図1に示したマイクロホンのダイアフラム部分の平面図である。まず、図1〜図3を参照して、本発明の一実施形態によるダイアフラムを含むマイクロホンの構造について説明する。
本実施形態によるマイクロホンでは、図1に示すように、シリコン基板1の裏面および表面に、それぞれ、250nmの厚みを有するSiO層2および3が形成されている。そして、後述するダイアフラム7が形成される領域に、シリコン基板1とSiO層2および3とを貫通するように、部分円錐状(裁頭円錐状)の開口部4が形成されている。この開口部4は、音が入ってきた際に、空気の通り道として機能する。SiO層3および開口部4上の一部には、約1μmの厚みを有するポリシリコン層5aが形成されている。このポリシリコン層5aは、図2および図3に示すように、平面的に見て、リング形状に形成されているとともに、n型の不純物(リン(P))がドープされることにより導電性を有している。また、開口部4の上端部の中央部近傍には、平面的に見て、約0.6mmの外径を有する円板状のポリシリコン層5bが形成されている。このポリシリコン層5bは、n型の不純物(リン(P))がドープされることにより導電性を有しており、電荷を蓄積することが可能である。なお、このポリシリコン層5bは、本発明の「蓄電部材」および「半導体膜」の一例である。また、ポリシリコン層5bの外周部を取り囲むように、約1μmの厚みを有する発電膜6が形成されている。この発電膜6は、キュリー温度が高く、耐熱性の高い圧電体(たとえば、PbTiO(キュリー温度:約490℃))からなり、平面的に見て、約1mmの外径と約0.5mmの内径とを有するリング形状に形成されている。また、この発電膜6は、外周側がポリシリコン層5aに取り囲まれるようにポリシリコン層5aと接触している。また、発電膜6の内周部および外周部は、それぞれ、ポリシリコン層5bの外周部近傍の上面およびポリシリコン層5aの内周部近傍の上面に乗り上げるように形成されている。また、この発電膜6は、音によって振動されることにより圧電効果によって電荷を発生させて、電荷をポリシリコン層5bに供給する機能を有する。また、ポリシリコン層5bと発電膜6とによってダイアフラム7が構成されている。なお、発電膜6は、本発明の「発電部材」の一例である。
ポリシリコン層5aおよびSiO層3の上面の一部には、約100nmの厚みを有するSiN層8が形成されている。SiN層8上には、約3μmの厚みを有するポリシリコン層9が形成されている。このポリシリコン層9は、n型の不純物(リン(P))がドープされることにより導電性を有している。このポリシリコン層9のうち、ダイアフラム7と対向する部分が背極板10としての機能を有する。なお、背極板10は、本発明の「電極板」の一例である。また、SiN層8と、ポリシリコン層5a、5bおよび発電膜6との間には、背極板10とダイアフラム7とを絶縁するための空間11が形成されている。この空間11の背極板10とダイアフラム7との距離は、約3μm〜約5μmである。ポリシリコン層9上には、約100nmの厚みを有するSiN層12が形成されている。SiN層8および12と背極板10とには、外部から空間11へと繋がる複数の円形状(図2参照)の音響孔13が形成されている。この音響孔13は、音が入ってきた際に、空気の通り道となる機能を有する。そして、ポリシリコン層5aのコンタクト領域5c上、および、ポリシリコン層9のコンタクト領域9a上には、それぞれ、アルミニウム(Al)からなる電極14aおよび電極14bが形成されている。電極14aは、ポリシリコン層5aおよび発電膜6を介して、ポリシリコン層5bに接続されている。また、電極14aには、ポリシリコン層5bに蓄えられた電荷が流出しないように、ショットキーダイオードやpn接合ダイオードなどからなるダイオード27(図14参照)が接続されている。なお、ダイオード27は、本発明の「整流素子」の一例である。
図4〜図13は、本発明の一実施形態によるダイアフラムおよびその周辺の製造プロセスを説明するための断面図である。次に、図1および図4〜図13を参照して、本発明の一実施形態によるダイアフラムおよびその周辺の製造プロセスについて説明する。
まず、シリコン基板1の裏面および表面を研磨した後、図4に示すように、熱酸化法を用いて、シリコン基板1の裏面および表面の全面に、それぞれ、約250nmの厚みを有するSiO層2および3を形成する。その後、モノシランまたはジクロロシランを原料ガスとするCVD法を用いて、約1μmの厚みを有するポリシリコン層(図示せず)を形成した後、そのポリシリコン層に、n型の不純物であるリン(P)をイオン注入する。その後、フォトリソグラフィ技術およびエッチング技術を用いて、そのポリシリコン層をパターニングすることによって、平面的に見てリング形状のポリシリコン層5aおよび円板形状のポリシリコン層5bを形成する。なお、ポリシリコン層5aは、コンタクト領域5cを有するようにパターニングする。
次に、ゾルゲル法を用いてPbTiOからなる圧電体層(図示せず)を全面に形成した後、フォトリソグラフィ技術と、アルゴン、酸素およびCFによるドライエッチング技術とを用いて、そのPbTiOからなる圧電体層をパターニングすることによって図5に示すように、約1μmの厚み、約1mmの外径および約0.5mmの内径を有するリング形状のPbTiOからなる発電膜6を形成する。
次に、図6に示すように、全面を覆うように約3μm〜約5μmの厚みを有するSiO層20をCVD法により形成した後、フォトリソグラフィ技術およびドライエッチング技術により、そのSiO層20をパターニングする。これにより、空間11(図1参照)を形成するためのパターニングされたSiO層20を形成する。次に、モノシランおよびアンモニア、または、ジクロロシランおよびアンモニアからなる混合ガスによるCVD法を用いて、約300℃〜約600℃の成膜温度で、約100nmの厚みを有するSiN層8を全面覆うように形成する。その後、モノシランガスまたはジクロロシランガスによるCVD法を用いて、SiN層8上の全面に、約3μmの厚みを有するポリシリコン層9を形成した後、そのポリシリコン層9に、n型の不純物であるリン(P)をイオン注入する。その後、モノシランおよびアンモニア、または、ジクロロシランおよびアンモニアからなる混合ガスによるCVD法を用いて、約300℃〜約600℃の成膜温度で、ポリシリコン層9上の全面に、約100nmの厚みを有するSiN層12を形成する。この後、フォトリソグラフィ技術によりレジスト膜22を形成する。そして、レジスト膜22をマスクとして、アルゴン、酸素およびCFをSiNのエッチングに適した所定の混合比に設定した状態で、SiN層12をエッチングした後、アルゴン、酸素およびCFの混合比をポリシリコンのエッチングに適した混合比に変化させて、ポリシリコン層9をこの順番でエッチングすることにより、図7の形状が形成される。この後、レジスト膜22を除去する。そして、図8に示すように、SiN層8の電極14aが形成される領域およびSiN層12の電極14bと音響孔13とが形成される領域を除く領域にフォトリソグラフィ技術によりレジスト膜23を形成する。そして、レジスト膜23をマスクとして、アルゴン、酸素およびCFの混合比をSiNのエッチングに適した混合比に戻した状態で、SiN層8およびSiN層12をエッチングすることによって、複数の音響孔13を形成するとともに、コンタクトホール8aおよび12aを形成する。その後、レジスト膜23を除去する。
次に、図9に示すように、コンタクトホール8aおよび12aを介して、ポリシリコン層5aおよびコンタクト領域5cおよびポリシリコン層9のコンタクト領域9aに、それぞれ接続するようにAlからなる電極14aおよび14bを蒸着法により形成する。
次に、図10に示すように、上面の全面を覆うとともに、音響孔13を埋め込むように、保護膜として機能するSiO層21を形成する。その後、フォトリソグラフィ技術およびエッチング技術を用いて、シリコン基板1の裏面に位置するSiO層のうち開口部4(図1参照)が形成される部分を除去する。
次に、図11に示すように、SiO層2をマスクとして、テトラメチルアンモニウムハイドロオキサイド(TMAH)水溶液、または、水酸化カリウム水溶液を用いた異方性ウェットエッチングにより、開口部4が形成される部分のシリコン基板1を除去する。これにより、部分円錐状(裁頭円錐状)の開口部4が形成される。
次に、図12に示すように、フッ酸によるウェットエッチングにより、保護膜であるSiO層21および空間11を形成するためのSiO層20を除去する。その後、フッ酸によるウェットエッチングにより、ダイアフラム7の下の部分に形成されているSiO層3を除去する。
その後、図13に示すように、発電膜6により発電されて流れる電荷が一定方向に流れるようにするために、発電膜6に分極処理を行う。具体的には、まず、発電膜6を構成する圧電体(PbTiO)のキュリー温度(約490℃)近傍まで、発電膜6を加熱する。この加熱状態において、電極14bに対して電極14aの方が電位が高くなるように、電極14aと電極14bとの間に電圧を印加することによって、ポリシリコン層5aおよび発電膜6を介して電極14aに接続されているポリシリコン層5bの中心部の電位を背極板10の電位よりも低くする。そして、背極板10とポリシリコン層5bとを実質的に等電位にするために、静電気力により背極板10の下のSiN層8とポリシリコン層5bとが接触するように、電極14aと電極14bとの間に印加する電圧を大きくする。これにより、背極板10とSiN層8とが接触して、等電位になり、電極14aと電極14bとの間に印加されている電圧と実質的に同じ電圧が発電膜6に印加された状態を発電膜6が冷却されるまで維持し続ける。これにより、発電膜6の外周部側に正電荷が発生し、ポリシリコン層5bが位置する発電膜6の内周部側に負電荷が発生するように、圧電体からなる発電膜6が分極処理される。
図14〜図22は、本実施形態によるマイクロホンの回路構成および動作を説明するための平面図および断面図である。まず、図14および図15を参照して、本実施形態によるマイクロホンの回路構成について説明する。
図14および図15に示すように、ダイアフラム7と背極板10との間には、電流の損失を防ぎつつ、電流を電圧(電位)に変換して、接地電位(0V)に対する背極板10の電位を得るための高抵抗25と、高抵抗25により電流から変換された電圧を増幅するための増幅回路26とが並列に接続されている。また、高抵抗25の一方端および増幅回路26の一方の入力端は、接地されている。また、ダイアフラム7には、ダイオード27の一方端子が接続されている。このダイオード27は、ポリシリコン層5bに負電荷を供給する方向にのみ電流が流れるように設けられているので、ポリシリコン層5bに蓄積された負電荷が流出するのを防ぐことができる。また、ダイオード27の他方端子は、接地されている。
次に、図14〜図22を参照して、本実施形態によるマイクロホンの動作について説明する。まず、音がマイクロホンに入ってきていない状態の場合は、図14および図15に示すように、ダイアフラム7は振動しない。したがって、圧電体(PbTiO)からなる発電膜6には応力が作用していないので、発電膜6には、電位差が生じない。
一方、図16および図17に示すように、音が矢印A方向にマイクロホンに入ってきている状態では、ダイアフラム7が振動する。したがって、図17に示すように、圧電体からなる発電膜6には、引っ張り応力Sが作用するので、発電膜6は分極量が変化して発電状態となる。ここで、圧電体からなる発電膜6は分極処理されているので、発電状態では、発電膜6の外周部側(ポリシリコン層5a側)に正電荷が偏り、発電膜6の内周部側(ポリシリコン層5b側)には負電荷が偏る。そして、発電膜6の外周部側に発生した正電荷に引っ張られて、ダイオード27の接地された他方端子側から負電荷がポリシリコン層5aに向かって流入される。
次に、図18および図19に示すように、ダイアフラム7が平坦な状態になると、発電膜6には、応力が作用しないので、発電膜6の外周部および内周部の電荷の偏りがなくなる。しかし、ポリシリコン層5aに蓄積された負電荷は、ダイオード27があるためにポリシリコン層5aから外部へ流出することができない。したがって、ポリシリコン層5aに蓄積された負電荷によって、ポリシリコン層5aの電位が低くなる。これにより、ポリシリコン層5aに蓄積された負電荷は、絶縁体の抵抗率よりは小さい抵抗率(たとえば、10Ω・m)を有する発電膜6を通って、電位の高いポリシリコン層5bへと流れていく。
そして、図20および図21に示すように、ポリシリコン層5bに負電荷が蓄積される。この後、振動を繰り返すことによって、ダイオード27が耐えられる限界の電圧まで、徐々にポリシリコン層5bに負電荷が蓄積される。これにより、背極板10とポリシリコン層5bとの間に大きい電位差(たとえば、30V)を生じさせることができる。
そして、図22に示すように、ポリシリコン層5bに負電荷が蓄積されて、ポリシリコン層5bと背極板10との間に電位差が生じた状態で、ポリシリコン層5bが音により振動されて、ポリシリコン層5bと背極板10との距離が小さくなると、ポリシリコン層5bと背極板10との間の静電容量が変化するので、背極板10の接地電位に対する電位が変化する。そして、背極板10の接地電位に対する電位の変化を増幅回路26により増幅して音に対応する電気信号として出力する。なお、圧電体からなる発電膜6と背極板10との間の静電容量は、ポリシリコン層5bと背極板10との静電容量に比べて、無視できるくらい小さいので、発電膜6に対向する領域の背極板10の電位の変化も無視できるくらい小さくなる。したがって、実質的には、ポリシリコン層5bと背極板10との間の静電容量の変化に基づいて、音の検出を行っている。
本実施形態では、上記のように、電荷を蓄積することが可能で、かつ、振動可能なポリシリコン層5bと、ポリシリコン層5bとともに振動されることにより発電可能な発電膜6とがダイアフラム7に設けられているので、音などによってポリシリコン層5bが振動されると、圧電体からなる発電膜6も振動されるので、その発電部材により発電された電荷がポリシリコン層5bにより蓄積されて、背極板10とダイアフラム7との間に電位差が生じる。このように背極板10とダイアフラム7との間に電位差が生じた状態で、ダイアフラム7が振動されると、背極板10とダイアフラム7との間の距離が変化することにより背極板10とダイアフラム7とからなるコンデンサの静電容量が変化されるとともに、背極板10の電位も変化する。この電位の変化を増幅回路26により増幅し、電気信号として出力することにより、音を電気的な信号によって出力することができる。また、本実施形態では、圧電体からなる発電膜6を振動させることによってポリシリコン層5bに電荷を蓄積することができるので、ダイアフラム7と背極板10との間に電圧を印加するための昇圧回路などが不要となる。これにより、ダイアフラム7の周辺の増幅回路26などを含む制御に関する構成を小型化することができるので、マイクロホンを小型化することができる。また、振動によって発電膜6が繰り返し発電するので、ポリシリコン層5bに大量の電荷を蓄積することができる。これにより、背極板10と、ポリシリコン層5bを含むダイアフラム7との間に大きな電位差を生じさせることができるので、背極板10とダイアフラム7とからなるコンデンサの静電容量の変化に対応する電位の変化を大きくすることができる。これにより、取り出す電気信号を大きくすることができる。この結果、ダイアフラム7を大型化しなくても感度を向上させることができる。したがって、本実施形態では、マイクロホンの小型化を図りながら感度を向上させることが可能なダイアフラム7を提供することができる。
また、有機膜からなるエレクトレット膜に比べて耐熱性の高い圧電体(たとえば、PbTiO(キュリー温度:約490℃))からなる発電膜6およびポリシリコン層5bによってダイアフラム7を形成することにより、エレクトレット膜により形成されたダイアフラムに比べて、耐熱性を向上させることができる。これにより、発電膜6およびポリシリコン層5bを半導体の製造プロセスにより製造することができるので、ダイアフラム7を小型化することができる。また、耐熱性を向上させることにより、自動で半田付けを行うことができる。
また、本実施形態では、発電膜6にダイオード27を電気的に接続することによって、発電膜6により発電されることによる電荷の流れを発電膜6からポリシリコン層5bへの一方向に固定することができるとともに、ポリシリコン層5bに蓄えられた電荷の流出を抑制することができるので、ポリシリコン層5bは、発電膜6から供給された電荷を損失しにくい。これにより、効率よく電荷を蓄積することができる。
また、本実施形態では、発電膜6は、ポリシリコン層5bの外周部側に配置されているので、円形にポリシリコン層5bの振動の最も大きくなる部分の振動性能を確保することができる。また、ポリシリコン層5bを取り囲むように発電膜6が形成されているので、ポリシリコン層5bの外周部全体から発電膜6は電荷を供給することができる。これにより、より多くの電荷をポリシリコン層5bに供給することができる。また、製造プロセスにおいて、圧電体からなる発電膜6に分極処理を行うことにより、発電膜6の外周部側に正電荷が発生し、ポリシリコン層5bが位置する発電膜6の内周部側に負電荷が発生させることができる。これにより、発電膜6の外周部側に発生した正電荷に引っ張られて外部の負電荷が流入する。そして、その負電荷が、発電膜6の外周部側から内周部側へと流れる。この結果、発電膜6により発電される電荷の流れを一方向に固定することができるので、より効率よくポリシリコン層5bへ電荷を供給することができる。
なお、今回開示された実施形態は、すべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、上記した実施形態の説明ではなく特許請求の範囲によって示され、さらに特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれる。
たとえば、上記実施形態では、音響センサの一種であるマイクロホンに本発明を適用する例を示したが、本発明を適用するのはマイクロホンに限らず、マイクロホン以外の他の音響センサやスピーカなどに適用してもよい。
また、上記実施形態では、発電膜6とポリシリコン層5bとの一部が重なり合うように形成されている例を示したが、本発明はこれに限らず、ダイアフラム31に含まれるポリシリコン層5bと発電部材30とを、図23に示す変形例のように、ポリシリコン層5bの全面を覆うように発電部材30を形成してもよい。
また、上記実施形態では、発電膜6を構成する圧電体としてPbTiOを用いる例を示したが、本発明はこれに限らず、水晶、LiNbO、LiTaO、KNbOなどの単結晶体や、ZnO、AlNなどの薄膜や、分極処理したPZTなどの焼結体や、ポリフッ化ビニリデン(PVDF)などの圧電高分子膜を用いても良い。
また、上記実施形態では、発電膜6の外周部側に正電荷が偏り、発電膜6の内周部側に負電荷が偏るように、発電膜6に分極処理を施した例を示したが、本発明はこれに限らず、発電膜の外周部側に負電荷が偏り、発電膜の内周部側に正電荷が偏るように、発電膜に分極処理を施しても良い。この場合には、ダイオード27を上記実施形態とは逆方向に配置する必要がある。また、この場合、発電膜が振動されると、発電膜の外周部側に負電荷が偏り、発電膜の内周部側に正電荷が偏るので、発電膜の外周部側のポリシリコン層にダイオードを介して正電荷が引っ張られる。そして、この正電荷によって発電膜の外周部側のポリシリコン層の電位が高くなるので、発電膜の内周部側のポリシリコン層の負電荷が外部へと流出する。この結果、発電膜の内周部側のポリシリコン層の電位が高くなって、発電膜の内周部側のポリシリコン層と背極板との間に電位差が生じる。
また、上記実施形態では、電荷を蓄積するためのポリシリコン層5bの外周部を取り囲むように発電膜6を形成する例を示したが、本発明はこれに限らず、電荷を蓄積するためのポリシリコン層の外周部の一部を支持するように形成してもよい。
また、上記実施形態では、ダイオード27としてショットキーダイオードやpn接合ダイオードを適用する例を示したが、本発明はこれに限らず、pn接合ダイオードのp領域と電極との間に絶縁膜を形成したダイオードを整流素子として用いてもよい。このようなダイオードを整流素子として適用することにより、蓄積された電荷の流出を、より抑制することができる。
本発明の一実施形態によるダイアフラムを含むマイクロホンの構造を示した断面図である。 図1に示したマイクロホンのダイアフラムおよび背極板部分の平面図である。 図1に示したマイクロホンのダイアフラム部分の平面図である。 図1に示した一実施形態によるダイアフラムおよびその周辺の製造プロセスを説明するための断面図である。 図1に示した一実施形態によるダイアフラムおよびその周辺の製造プロセスを説明するための断面図である。 図1に示した一実施形態によるダイアフラムおよびその周辺の製造プロセスを説明するための断面図である。 図1に示した一実施形態によるダイアフラムおよびその周辺の製造プロセスを説明するための断面図である。 図1に示した一実施形態によるダイアフラムおよびその周辺の製造プロセスを説明するための断面図である。 図1に示した一実施形態によるダイアフラムおよびその周辺の製造プロセスを説明するための断面図である。 図1に示した一実施形態によるダイアフラムおよびその周辺の製造プロセスを説明するための断面図である。 図1に示した一実施形態によるダイアフラムおよびその周辺の製造プロセスを説明するための断面図である。 図1に示した一実施形態によるダイアフラムおよびその周辺の製造プロセスを説明するための断面図である。 図1に示した一実施形態によるダイアフラムおよびその周辺の製造プロセスを説明するための断面図である。 図1に示した一実施形態によるマイクロホンの回路構成および動作を説明するための平面図である。 図1に示した一実施形態によるマイクロホンの回路構成および動作を説明するための断面図である。 図1に示した一実施形態によるマイクロホンの回路構成および動作を説明するための平面図である。 図1に示した一実施形態によるマイクロホンの回路構成および動作を説明するための断面図である。 図1に示した一実施形態によるマイクロホンの回路構成および動作を説明するための平面図である。 図1に示した一実施形態によるマイクロホンの回路構成および動作を説明するための断面図である。 図1に示した一実施形態によるマイクロホンの回路構成および動作を説明するための平面図である。 図1に示した一実施形態によるマイクロホンの回路構成および動作を説明するための断面図である。 図1に示した一実施形態によるマイクロホンの回路構成および動作を説明するための断面図である。 本発明による変形例によるマイクロホンに設けられたダイアフラムおよびその周辺の断面図である。 従来のSiNからなるダイアフラムを説明する概略構成図である。 従来の圧電体からなるダイアフラムを説明する概略構成図である。 従来の圧電体からなるダイアフラムを説明する概略構成図である。
符号の説明
1 シリコン基板
2、3 SiO
4 開口部
5a ポリシリコン層
5b ポリシリコン層(蓄電部材、半導体膜)
6 発電膜(発電部材)
7 ダイアフラム
8 SiN層
9 ポリシリコン層
10 背極板(電極板)
11 ギャップ
12 SiN層
13 音響孔
14a、14b 電極
27 整流素子

Claims (3)

  1. 電極板と、
    前記電極板に所定の距離を隔てて対向するように、かつ、振動可能に設けられた蓄電部材と、前記蓄電部材とともに振動されることによって発電可能な圧電体からなる発電部材とを含むダイアフラムとを備え、
    前記蓄電部材は、前記発電部材から供給される電荷を蓄積するように構成され、
    前記ダイアフラムと前記電極板との静電容量の変化に基づいて、音を電気的な信号に変換する、音響センサ。
  2. 前記圧電体からなる発電部材は、前記圧電体からなる発電膜を含み、
    平面的に見て、前記発電膜の外周部側に正電荷または負電荷が発生し、平面的に見て、前記蓄電部材が位置する前記発電膜の内周部側に負電荷または正電荷が発生するように構成されている、請求項1に記載の音響センサ。
  3. 電極板に所定の距離を隔てて対向するように、かつ、振動可能に設けられた蓄電部材と、
    前記蓄電部材とともに振動されることによって発電可能な圧電体からなる発電部材とを備え、
    前記蓄電部材は、前記発電部材から供給される電荷を蓄積するように構成されている、ダイアフラム。
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