JP2007010447A - 寸法測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 一例として、被検物体11の一または二以上の側面について各側面画像を得るための、光路方向転換部30a等を備えた側面画像取得用プリズム系3A等からなる多方向同時観察光学系を用い、その光出力方向上の合焦点位置にテレセントリックレンズ41を設け、さらに、取得された画像情報に基づき被検物体11の側面および上面における所望の寸法を測定するための測定手段を備えた構成の寸法測定装置とする。
【選択図】 図2
Description
図5、6は、被検物体を多方向から寸法測定する方法の従来例を示す説明図である。図5に示すように従来は、被検物体の各面に対応した読み取り装置を面の数だけ設置する方法が採られている。
(p2) 被検物体の一または二以上の側面について各側面画像を得るための一または二以上の側面画像取得用プリズム系と、底面画像を得るための底面画像取得用プリズム系とからなる多方向同時観察光学系であって、該側面画像取得用プリズム系および該底面画像取得用プリズム系はそれぞれ、光路方向転換用プリズムまたは光路方向転換用プリズム機能を有しており、該各プリズム系は、被検物体の真上方向にはその上面画像を取得するための開放空間が確保されるとともに被検物体載置空間部が確保されるように該空間の側方周囲および一部は下方位置を占めて設けられ、該各プリズム系は、それぞれにより出される光の光路が被検物体の上方へ向うようにもしくは相互に平行かつ同一方向となるように、かつ他のプリズム系により光路を遮られないように配置されていることを特徴とする、多方向同時観察光学系。
(p3) 前記側面画像取得用プリズム系および底面画像取得用プリズム系にはそれぞれ、前記光路方向転換用プリズムまたは光路方向転換用プリズム機能の上方に、被検物体の上面を除く各面のワーキングディスタンスを上面のワーキングディスタンスと同一にするための光路長補正用プリズムまたは光路長補正用プリズム機能が設けられていることを特徴とする、(p1)または(p2)に記載の多方向同時観察光学系。
(p4) 前記光路長補正用プリズムまたは光路長補正用プリズム機能は、被検物体の形状や大きさに応じた光路長補正がなされるよう、交換または光路長調整可能に形成されていることを特徴とする、(p3)に記載の多方向同時観察光学系。
(p5) 前記光路方向転換用プリズムまたは光路方向転換用プリズム機能には、前記側面画像取得用プリズム系においては45°ミラープリズムまたはその機能を有するプリズムが用いられ、前記底面画像取得用プリズム系においては二度の方向転換を得ることのできる台形プリズムもしくは三角プリズムまたはこれらのいずれかの機能を有するプリズムが用いられることを特徴とする、(p3)または(p4)に記載の多方向同時観察光学系。
(p6) 前記側面画像取得用プリズム系における前記光路方向転換用プリズムまたは光路方向転換用プリズム機能には、正立像を得ることのできるペンタプリズムまたはその機能を有するプリズムが用いられることを特徴とする、(p3)ないし(p5)のいずれかに記載の多方向同時観察光学系。
(p8) 前記光路シフトプリズムまたは光路シフトプリズム機能は、レンズ等への入射光面積を縮小して解像度を高めるべく、被検物体各面からの光出力の光路断面を縮小させるように形成されていることを特徴とする、(p7)に記載の多方向同時観察光学系。
(p9) 二以上の被検物体を載置し、これらを前記被検物体載置空間部を経由して搬送することのできる被検物体搬送手段が設けられ、前記各プリズム系は該被検物体搬送手段の経路が確保されるように配置されることを特徴とする、(p3)ないし(p8)のいずれかに記載の多方向同時観察光学系。
(p10) 前記側面画像取得用プリズム系は4系統設けられ、前記各プリズム系なしに光出力の得られる上面方向を含めて被検物体の六方向からの各画像情報を光として取得可能であることを特徴とする、(p3)ないし(p9)のいずれかに記載の多方向同時観察光学系。
(p11) 前記4系統の側面画像取得用プリズム系は、前記被検物体載置空間部を挟んで対向する2系統による組が2組配置されていて、各組は相互に直交しているか、または任意の角度でもって配置されていることを特徴とする、(p10)に記載の多方向同時観察光学系。
(p12) 前記側面画像取得用プリズム系および前記底面画像取得用プリズム系の光出力方向に設けられたレンズまたは被検物体側をテレセントリックとすることができるテレセントリックレンズをさらに含んでなることを特徴とする、(p3)ないし(p10)のいずれかに記載の多方向同時観察光学系。
(p13) 前記レンズは、形状に球体や超多面体などを有する複雑な被検物体であっても各面同時に合焦面を合わせられるのに充分な被写界深度を備えていることを特徴とする、(p12)に記載の多方向同時観察光学系。
(p15) (p11)ないし(p13)のいずれかに記載の多方向同時観察光学系により被検物体の各面の画像情報を光として取得し、前記レンズを介して得られる該光をCCD、CMOSもしくはラインCCDを含む電子撮像素子により光電変換処理することによって電気的に処理の可能な画像情報を取得し、これにより画像計測を含む画像解析に用いることができることを特徴とする、画像読み取り方法。
(p16) 前記側面画像取得用プリズム系および底面画像取得用プリズム系はそれぞれ、肉眼による目視観察を容易に行えるように、前記光路方向転換用プリズムまたは光路方向転換用プリズム機能の上方に開放空間が形成されていることを特徴とする、(p1)または(p2)に記載の多方向同時観察光学系。
(p17) 前記光路方向転換用プリズムまたは光路方向転換用プリズム機能には、前記側面画像取得用プリズム系においては三角ミラープリズムまたはその機能を有するプリズムが用いられ、前記底面画像取得用プリズム系においては二度の方向転換を得ることのできる台形プリズムもしくは三角プリズムまたはその機能を有するプリズムが用いられることを特徴とする、(p16)に記載の多方向同時観察光学系。
(p18) 前記側面画像取得用プリズム系における前記光路方向転換用プリズムまたは光路方向転換用プリズム機能には、正立像を得ることのできる五角形プリズムまたはその機能を有するプリズムが用いられることを特徴とする、(p16)または(p17)に記載の多方向同時観察光学系。
(p19) 前記台形プリズムもしくは三角プリズムまたはその機能の上方には、反射防止用プリズムまたはその機能が設けられていることを特徴とする、(p16)ないし(p18)のいずれかに記載の多方向同時観察光学系。
(p20) 二以上の被検物体を載置し、これらを前記被検物体載置空間部を経由して搬送することのできる被検物体搬送手段が設けられ、前記各プリズム系は該被検物体搬送手段の経路が確保されるように配置されることを特徴とする、(p16)ないし(p19)のいずれかに記載の多方向同時観察光学系。
(p21) 前記側面画像取得用プリズム系は4系統設けられ、前記各プリズム系なしに光出力の得られる上面方向を含めて被検物体の六方向からの各画像情報を光として取得可能であることを特徴とする、(p16)ないし(p20)のいずれかに記載の多方向同時観察光学系。
(p22) 前記4系統の側面画像取得用プリズム系は、前記被検物体載置空間部を挟んで対向する2系統による組が2組配置されていて、各組は相互に直交しているか、または任意の角度でもって配置されていることを特徴とする、(p21)に記載の多方向同時観察光学系。
(p23) (p1)または(p2)に記載の多方向同時観察光学系を二以上用いてなり、それによる被検物体の多方向同時観察が可能であることを特徴とする、多方向同時観察光学系複合体。
(I)被検物体の形状が、概略立方体的に把握できるか直方体的かに関わらず、六面方向全てにおいて同時に合焦面を合わせることができ、かつ、いわゆるケラレのない画像を同時に提供でき、外観欠陥検査等の画像解析を正確に行うことができ、検査等の時間を短縮し、検査等の効率を高め、コストを抑制できる。
(II)被検物体が上下面のある七面体以上の多面体、球体または超多面体であっても、側面画像取得用プリズム系のセット数増加や読み取り装置のレンズの被写界深度を長くすることにより、全ての面において同時に合焦面が合い、かつ、ケラレのない画像を同時に提供することができる。
(III)側面画像取得用プリズム系の45°ミラープリズムをペンタプリズムに、あるいは三角ミラープリズムを5角形プリズムに置き換えることで、正立した像を同時に提供できる。
(IV)光路シフトプリズムまたは光路シフト用平面ミラー等の光路シフトプリズム機能を追加構成することで、レンズへの入射光面積が小さくなり、撮像素子の1画像当たりの取り込む物体サイズが小さくなり解像力を高めることができる。
(V)被検物体を移動できる搬送経路を設けることにより、多数の被検物体の多方向同時観察を連続的に行うことができる。
(VI)読み取り装置のレンズに被検物体側テレセントリックレンズを用いることにより、その特性から、構成する各プリズムの大きさを抑制できるとともに、その配置を近接させることができ、全体を小型化できる。また、寸法欠陥検査等の画像計測も正確に行うことができる。
(2) 前記多方向同時観察光学系と前記レンズを介して得られる光を光電変換処理するためのCCD、CMOSもしくはラインCCDを含む電子撮像素子を備えていることを特徴とする、(1)に記載の寸法測定装置。
(3) 前記各プリズム系においては、被検物体側、レンズ側もしくはその両方の面に、光の反射を低減させるARコーティングが施されていることを特徴とする、(1)または(2)に記載の寸法測定装置。
(5) 前記コーティングにより形成されている被膜は、アルミニウムコートであることを特徴とする、(4)に記載の寸法測定装置。
(6) 前記コーティングにより形成されている被膜は、誘電体多層膜であることを特徴とする、(4)に記載の寸法測定装置。
(7) 前記各プリズム系の光路方向転換部を構成する部材は、光を全反射させるために、入射側よりも小さい屈折率の材料によりなることを特徴とする、(1)ないし(3)のいずれかに記載の寸法測定装置。
(8) 前記光路方向転換部において光を反射させるために、該光路方向転換部は、アルミニウムコートの形成、誘電体多層膜の形成、または入射側よりも小さい屈折率の材料の使用、の各手段の中から、いずれか二以上が併用されていることを特徴とする、(1)ないし(3)のいずれかに記載の寸法測定装置。
(A)被検物体の一または二以上の側面について各側面画像を得るための一または二以上の側面画像取得用プリズム系のみを有してなる多方向同時観察光学系を用いた寸法測定装置。
(B)被検物体の底面画像を得るための底面画像取得用プリズム系のみを有してなる多方向同時観察光学系を用いた寸法測定装置。
(C)被検物体の一または二以上の側面について各側面画像を得るための一または二以上の側面画像取得用プリズム系、および、底面画像を得るための底面画像取得用プリズム系のいずれも有してなる多方向同時観察光学系を用いた寸法測定装置。
図1−1は、本発明寸法測定装置に係る側面画像取得用プリズム系の一般的な構成例を示す側面図、
図1−2は、本発明寸法測定装置に係る底面画像取得用プリズム系の一般的な構成例を示す側面図、そして、
図1−3は、本発明寸法測定装置に係る、側面画像取得用プリズム系と底面画像取得用プリズム系を一体化させたプリズム系の一般的な構成例を示す側面図である。また、
図2は、被検物体の側面と上面の画像情報を得るための本発明寸法測定装置の要部の側面視構成を示す説明図、
図3は、被検物体の底面と上面の画像情報を得るための本発明寸法測定装置の要部の側面視構成を示す説明図、そして、
図4は、被検物体の側面、底面および上面の画像情報を得るための本発明寸法測定装置の要部の側面視構成を示す説明図である。図2〜4に示す各構成は、図1−1〜1−3に示すプリズム系構成を用いてなるものである。
3A、3A’…側面画像取得用プリズム系
3BC…底面画像取得用プリズム系
30a〜30c…光路方向転換部(光路方向転換プリズム)
32a、32b…画像取得用プリズム系の物体側の面
33a、33b…画像取得用プリズム系のレンズ側の面
41…テレセントリックレンズ
5a〜5c…光路
81a〜81f…被検物体の面
82a〜82f…平面ミラー
840…画像読み取り装置
Claims (8)
- 被検物体の一または二以上の側面について各側面画像を得るための一または二以上の側面画像取得用プリズム系、もしくは底面画像を得るための底面画像取得用プリズム系の少なくともいずれかを有してなる多方向同時観察光学系を用いた寸法測定装置であって、該側面画像取得用プリズム系、該底面画像取得用プリズム系は、光路方向転換用プリズムまたは光路方向転換用プリズム機能を有し、かつ光路長補正機能を有しており、該各プリズム系は、被検物体の真上方向にはその上面画像を取得するための開放空間が確保されるとともに被検物体載置空間部が確保されるように該空間の側方位置に、もしくは該底面画像取得用プリズム系の場合には一部下方位置にも設けられ、該各プリズム系は、それぞれにより出される光の光路が被検物体の上方へ向うように、もしくは相互に平行かつ同一方向となるように、かつ他のプリズム系により光路を遮られないように配置され、該側面画像取得用プリズム系、該底面画像取得用プリズム系の光出力方向に設けられたレンズは被検物体側をテレセントリックとすることができるテレセントリックレンズであり、取得された画像情報に基づき被検物体の所望の寸法を測定するための測定手段を備えていることを特徴とする、寸法測定装置。
- 前記多方向同時観察光学系と前記レンズを介して得られる光を光電変換処理するためのCCD、CMOSもしくはラインCCDを含む電子撮像素子を備えていることを特徴とする、請求項1に記載の寸法測定装置。
- 前記各プリズム系においては、被検物体側、レンズ側もしくはその両方の面に、光の反射を低減させるARコーティングが施されていることを特徴とする、請求項1または2に記載の寸法測定装置。
- 前記各プリズム系においては、光路方向転換部の面に、光を反射させるためのコーティングが施されていることを特徴とする、請求項1ないし3のいずれかに記載の寸法測定装置。
- 前記コーティングにより形成されている被膜は、アルミニウムコートであることを特徴とする、請求項4に記載の寸法測定装置。
- 前記コーティングにより形成されている被膜は、誘電体多層膜であることを特徴とする、請求項4に記載の寸法測定装置。
- 前記各プリズム系の光路方向転換部を構成する部材は、光を全反射させるために、入射側よりも小さい屈折率の材料によりなることを特徴とする、請求項1ないし3のいずれかに記載の寸法測定装置。
- 前記光路方向転換部において光を反射させるために、該光路方向転換部は、アルミニウムコートの形成、誘電体多層膜の形成、または入射側よりも小さい屈折率の材料の使用、の各手段の中から、いずれか二以上が併用されていることを特徴とする、請求項1ないし3のいずれかに記載の寸法測定装置。
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