JP2006351005A - 半導体装置、半導体装置を用いた無線通信システム - Google Patents
半導体装置、半導体装置を用いた無線通信システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006351005A JP2006351005A JP2006137783A JP2006137783A JP2006351005A JP 2006351005 A JP2006351005 A JP 2006351005A JP 2006137783 A JP2006137783 A JP 2006137783A JP 2006137783 A JP2006137783 A JP 2006137783A JP 2006351005 A JP2006351005 A JP 2006351005A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor device
- terminal
- circuit
- antenna
- carrier wave
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 183
- 230000006854 communication Effects 0.000 title claims abstract description 25
- 238000004891 communication Methods 0.000 title claims abstract description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 51
- 239000012535 impurity Substances 0.000 claims description 28
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 25
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 16
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 13
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 7
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 3
- 230000005674 electromagnetic induction Effects 0.000 claims description 3
- 230000007175 bidirectional communication Effects 0.000 claims description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 72
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 63
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 57
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 26
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 16
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 12
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 12
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 9
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 8
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 8
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000002585 base Substances 0.000 description 7
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 7
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 7
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 6
- 238000005121 nitriding Methods 0.000 description 6
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 238000009832 plasma treatment Methods 0.000 description 5
- 230000004044 response Effects 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N Nitrous Oxide Chemical compound [O-][N+]#N GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 4
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 description 4
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 4
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 4
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 238000005984 hydrogenation reaction Methods 0.000 description 3
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 2
- WPYMKLBDIGXBTP-UHFFFAOYSA-N benzoic acid Chemical compound OC(=O)C1=CC=CC=C1 WPYMKLBDIGXBTP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 2
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 description 2
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 2
- 229910052743 krypton Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052754 neon Inorganic materials 0.000 description 2
- 229960001730 nitrous oxide Drugs 0.000 description 2
- 235000013842 nitrous oxide Nutrition 0.000 description 2
- 125000000962 organic group Chemical group 0.000 description 2
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052715 tantalum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000005711 Benzoic acid Substances 0.000 description 1
- 241001465754 Metazoa Species 0.000 description 1
- 229910052779 Neodymium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000004695 Polyether sulfone Substances 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 1
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 239000005407 aluminoborosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 150000004945 aromatic hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 1
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000010233 benzoic acid Nutrition 0.000 description 1
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- CFBGXYDUODCMNS-UHFFFAOYSA-N cyclobutene Chemical compound C1CC=C1 CFBGXYDUODCMNS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000003814 drug Substances 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 1
- 238000005499 laser crystallization Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 244000144972 livestock Species 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052756 noble gas Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920001230 polyarylate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920006393 polyether sulfone Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 238000009210 therapy by ultrasound Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Near-Field Transmission Systems (AREA)
Abstract
【解決手段】半導体装置は、アンテナと、電源回路と、電源回路によって生成した直流電圧を電源電圧として用いる回路と、抵抗とを有する。アンテナは一対の端子を有し、無線信号(変調された搬送波)を受信する。電源回路は第1の端子と第2の端子とを有し、受信された無線信号(変調された搬送波)を用いて前記第1の端子と前記第2の端子との間に直流電圧を発生させる。抵抗は第1の端子と第2の端子との間に接続される。こうして、半導体装置及び無線通信システムはデータの送受信を正確に行うことができる。
【選択図】図1
Description
本発明の半導体装置について、図1を用いて説明する。なお図1において図3と同じ部分は同じ符号を用いて示す。半導体装置101は、アンテナ304と、帯域フィルタ306と、電源回路307と、電源回路307によって生成した直流電圧を電源電圧として用いる回路(信号処理回路305を代表で示す)と、抵抗100とを有する。アンテナ304は一対の端子を有し、無線信号(変調された搬送波)を受信する。帯域フィルタ306はアンテナ304の一対の端子のうち一方と電源回路307の入力との間に接続される。電源回路307は第1の端子310と第2の端子311とを有し、受信された前記無線信号(変調された搬送波)を用いて第1の端子310と第2の端子311との間に直流電圧を発生させる。抵抗100は第1の端子310と第2の端子311との間に接続される。
本実施の形態では、実施の形態1で示した半導体装置101における信号処理回路305の例について、図2を用いて説明する。なお、図2において図1と同じ部分は同じ符号を用いて示し、説明は省略する。
本実施の形態では、実施の形態1や実施の形態2で示した半導体装置101を用いる無線通信システムのリーダ/ライタの例について、図5を用いて説明する。
101 半導体装置
200 帯域フィルタ
201 復調回路
202 解析回路
203 メモリ
204 符号化回路
205 変調回路
300 リーダ/ライタ
301 アンテナ
302 制御用端末
303 無線タグ
304 アンテナ
305 信号処理回路
306 帯域フィルタ
307 電源回路
308 整流回路
309 保持容量
310 第1の端子
311 第2の端子
330 変調された搬送波
331 第2の端子311の電位
332 第1の端子310の電位
340 厚さ
341 キャリアの移動方向
351 垂直な方向
352 コンタクトホール
361 配線
362 配線
363 配線
401 第1の信号
402 第2の信号
444 波形
500 リーダ/ライタ
501 発振回路
502 符号化回路
503 変調回路
504 増幅回路
505 アンテナ
506 帯域フィルタ
507 増幅回路
508 復調回路
509 解析回路
510 制御用端末
600 基板
601 素子群
602 端子部
603 導電性粒子
604 樹脂
610 基板
660 半導体層
661 下地膜
662 半導体層
662a チャネル形成領域
662b 不純物領域
662c 低濃度不純物領域
663 第1の絶縁膜
664 ゲート電極
665 第3の絶縁膜
666 配線
667 第2の絶縁膜
668 第4の絶縁膜
701 フレキシブル基板
720 無線タグ
801 保護層
802 アンテナ
803 保護層
804 素子群
805 ソース及びドレインの一方
806 ソース及びドレインの他方
807 ゲート電極
880 基板
881 トランジスタ
901 共振容量
902 クロック補正・カウンタ回路
903 コード抽出・コード認識・判定回路
904 メモリコントローラ
905 マスクROM
1000 回路
1301 表示部
1302 リーダ/ライタ
1303 物品
1304 リーダ/ライタ
1305 物品
1501a 角部
1501b 角部
1501c 角部
1502a 角部
1502b 角部
1502c 角部
3060 帯域フィルタ
Claims (20)
- 変調された搬送波を送受信するアンテナと、
第1の端子と第2の端子とを有し、前記変調された搬送波を用いて前記第1の端子と前記第2の端子との間に直流電圧を発生させる電源回路と、
前記直流電圧を電源電圧として用いる回路と、
前記第1の端子と前記第2の端子との間に接続された抵抗とを有することを特徴とする半導体装置。 - 変調された搬送波を送受信するアンテナと、
第1の端子と第2の端子とを有し、前記変調された搬送波を用いて前記第1の端子と前記第2の端子との間に直流電圧を発生させる電源回路と、
前記直流電圧を電源電圧として用いる回路と、
前記第1の端子と前記第2の端子との間に接続された抵抗とを有し、
前記電源回路は、前記変調された搬送波を整流し直流信号に変換する整流回路と、前記整流回路から出力された前記直流信号を平滑化する保持容量とを有し、前記保持容量によって平滑化された信号を前記直流電圧として出力することを特徴とする半導体装置。 - 一対の端子を有し、変調された搬送波を送受信するアンテナと、
前記アンテナの一対の端子のうち一方に接続された帯域フィルタと、
第1の端子と第2の端子とを有し、前記帯域フィルタを介して入力される前記変調された搬送波を用いて前記第1の端子と前記第2の端子との間に直流電圧を発生させる電源回路と、
前記直流電圧を電源電圧として用いる回路と、
前記第1の端子と前記第2の端子との間に接続された抵抗とを有することを特徴とする半導体装置。 - 一対の端子を有し、変調された搬送波を送受信するアンテナと、
前記アンテナの一対の端子のうち一方に接続された帯域フィルタと、
第1の端子と第2の端子とを有し、前記帯域フィルタを介して入力される前記変調された搬送波を用いて前記第1の端子と前記第2の端子との間に直流電圧を発生させる電源回路と、
前記直流電圧を電源電圧として用いる回路と、
前記第1の端子と前記第2の端子との間に接続された抵抗とを有し、
前記電源回路は、入力された前記変調された搬送波を整流し直流信号に変換する整流回路と、前記整流回路から出力された前記直流信号を平滑化する保持容量とを有し、前記保持容量によって平滑化された信号を前記直流電圧として出力することを特徴とする半導体装置。 - 請求項3または請求項4において、
前記アンテナの一対の端子のうち他方と前記第1の端子とは同じ電位が与えられていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項3または請求項4において、
前記アンテナの一対の端子のうち他方と前記第1の端子とは接地されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項6のいずれか一項において、
前記直流電圧を電源電圧として用いる回路は、前記変調された搬送波を復調する復調回路と、前記復調回路によって復調された情報を解析する解析回路と、前記解析回路によって解析されたデータに基づき動作するメモリであることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項6のいずれか一項において、
前記直流電圧を電源電圧として用いる回路は、前記変調された搬送波を復調する復調回路と、前記復調回路によって復調された情報を解析する解析回路と、前記解析回路によって解析されたデータに基づき動作するメモリと、前記メモリから読み出されたデータを符号化する符号化回路と、前記符号化回路によって符号化された情報に応じて搬送波を変調する変調回路であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項7または請求項8において
前記メモリは、DRAM、SRAM、FeRAM、マスクROM、EPROM、EEPROM、及びフラッシュメモリのいずれかであることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項9のいずれか一項において、
前記抵抗は、500kΩ以上2MΩ以下の電気抵抗値であることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項10のいずれか一項において、
前記抵抗は、半導体層を用いて形成されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項11のいずれか一項において、
前記直流電圧を電源電圧として用いる回路は薄膜トランジスタを有し、
前記抵抗は、前記薄膜トランジスタの活性層となる半導体層と同時に形成された半導体層を用いて形成されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項12において、
前記抵抗を形成する半導体層には、導電型を付与する不純物元素が添加されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項12において、
前記抵抗を形成する半導体層には、前記薄膜トランジスタのチャネル形成領域と導電型を付与する不純物元素が同程度に添加されていることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項14のいずれか一項において、
前記搬送波の周波数は、サブミリ波である300GHz以上3THz以下、ミリ波である30GHz以上300GHz未満、マイクロ波である3GHz以上30GHz未満、極超短波である300MHz以上3GHz未満、超短波である30MHz以上300MHz未満、短波である3MHz以上30MHz未満、中波である300kHz以上3MHz未満、長波である30kHz以上300kHz未満、及び超長波である3kHz以上30kHz未満のいずれかであることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項15のいずれか一項において、
前記アンテナは、ダイポールアンテナ、パッチアンテナ、ループアンテナ、及び八木アンテナのいずれかであることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項16のいずれか一項において、
前記搬送波の変調は、アナログ変調またはデジタル変調であって、振幅変調、位相変調、周波数変調、及びスペクトラム拡散のいずれかであることを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項17のいずれか一項において、
電磁結合方式、電磁誘導方式、及び電波方式のいずれかによって、前記アンテナは前記変調された搬送波を送受信することを特徴とする半導体装置。 - 請求項1乃至請求項18のいずれか一項において、
前記半導体装置と、前記半導体装置と信号の送受信を行うアンテナ及び当該アンテナに接続されたリーダ/ライタとを有することを特徴とする無線通信システム。 - 請求項1乃至請求項18のいずれか一項において、
前記半導体装置と、前記半導体装置と信号の送受信を行うアンテナ及び当該アンテナに接続されたリーダ/ライタとを有し、
前記半導体装置と前記リーダ/ライタとの通信方式は、単方向通信または双方向通信であって、空間分割多重化方式、偏波面分割多重化方式、周波数分割多重化方式、時分割多重化方式、符号分割多重化方式、直交周波数分割多重化方式のいずれかであることを特徴とする無線通信システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006137783A JP4789696B2 (ja) | 2005-05-19 | 2006-05-17 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005147059 | 2005-05-19 | ||
JP2005147059 | 2005-05-19 | ||
JP2006137783A JP4789696B2 (ja) | 2005-05-19 | 2006-05-17 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006351005A true JP2006351005A (ja) | 2006-12-28 |
JP4789696B2 JP4789696B2 (ja) | 2011-10-12 |
Family
ID=37646716
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006137783A Expired - Fee Related JP4789696B2 (ja) | 2005-05-19 | 2006-05-17 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4789696B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7750403B2 (en) | 2006-06-30 | 2010-07-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1095189A (ja) * | 1997-07-28 | 1998-04-14 | Hitachi Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JPH10145987A (ja) * | 1996-09-13 | 1998-05-29 | Hitachi Ltd | 電力伝送システムおよびicカード並びにicカードを用いた情報通信システム |
JP2000348152A (ja) * | 1999-06-09 | 2000-12-15 | Hitachi Ltd | 非接触icカード |
-
2006
- 2006-05-17 JP JP2006137783A patent/JP4789696B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10145987A (ja) * | 1996-09-13 | 1998-05-29 | Hitachi Ltd | 電力伝送システムおよびicカード並びにicカードを用いた情報通信システム |
JPH1095189A (ja) * | 1997-07-28 | 1998-04-14 | Hitachi Ltd | 半導体装置の製造方法 |
JP2000348152A (ja) * | 1999-06-09 | 2000-12-15 | Hitachi Ltd | 非接触icカード |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7750403B2 (en) | 2006-06-30 | 2010-07-06 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd | Semiconductor device and manufacturing method thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4789696B2 (ja) | 2011-10-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101346241B1 (ko) | 안테나 및 그의 제작방법, 안테나를 가지는 반도체장치 및그의 제작방법, 및 무선통신 시스템 | |
US7808098B2 (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof | |
TWI430180B (zh) | 半導體裝置 | |
TWI442513B (zh) | 半導體裝置的製造方法 | |
TWI480806B (zh) | 半導體裝置以及使用該半導體裝置的無線標籤 | |
US7877068B2 (en) | Semiconductor device | |
US8305216B2 (en) | Semiconductor device and wireless communication system using the same | |
JP2007109216A (ja) | 半導体装置 | |
JP2007036216A (ja) | 半導体装置及び無線通信システム | |
KR20080036168A (ko) | 반도체장치 및 무선 통신 시스템 | |
JP5144313B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP4593534B2 (ja) | 半導体装置及び無線通信システム | |
EP1907992B1 (en) | Semiconductor device | |
JP4789696B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2007181187A (ja) | アンテナ及びその作製方法、アンテナを有する半導体装置及びその作製方法、並びに無線通信システム | |
JP5159178B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2007006464A (ja) | 半導体装置 | |
KR20070030676A (ko) | 반도체장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080922 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110419 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110606 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110712 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110719 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140729 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4789696 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140729 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |