JP2006308593A - 埋設された長尺物体の探査装置および探査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明に係る探査装置(1)は,演算手段(7)および表示手段(8)を有する評価ユニット(6)を具え,さらに,被探査面(F)に沿って移動可能であり,かつ,探査経路センサ(10)と,アンテナ(12a)が設けられた送受信ユニット(11a)とを有する手持ち式の探査ヘッド(9)を具える。前記アンテナは,被探査面(F)内で相互に離間して配置された少なくとも2個のアンテナ(12a,12b)を含み,これらアンテナ(12a,12b)の被探査面(F)内における間隔が5cm〜50cmの範囲内に設定されている。
【選択図】図1
Description
a) 少なくとも2つの個別的測定データから,AND結合または乗算により相関測定データを算出する計算方法。
b) 少なくとも2つの個別的測定データから,相互相関または相互分散により相関測定データを算出する計算方法。
c) 少なくとも2つの個別的測定データにおける,空間的に離散して検出された物体の理論的交差値を算出する計算方法。
d) 少なくとも2つの個別的測定データにおける,空間的に非鋭敏(ファジー)に検出された物体の重畳された確率値を算出する計算方法。
5 埋設された長尺物体
6 評価ユニット
7 演算手段
8 表示手段
9 探査ヘッド
10 探査経路センサ
11a,11b 送受信ユニット
12a,12b アンテナ
13a,13b 別種センサ
16 フェライト部材
17a,17b 脚部
19 ホイール
Claims (20)
- 被探査領域に埋設された長尺物体(5)を探査するための探査装置(1)であって,演算手段(7)および表示手段(8)を有する評価ユニット(6)を具え,さらに,被探査面(F)に沿って移動可能であり,かつ,探査経路センサ(10)と,アンテナ(12a)が設けられた送受信ユニット(11a)とを有する手持ち式の探査ヘッド(9)を具える探査装置において,前記アンテナが,被探査面(F)内で相互に離間して配置された少なくとも2個のアンテナ(12a,12b)を含み,これらアンテナ(12a,12b)の被探査面(F)内における間隔が5cm〜50cmの範囲内に設定されていることを特徴とする探査装置。
- 請求項1に記載の探査装置であって,前記送受信ユニット(11a)がレーダ型送受信ユニットで構成され,該送受信ユニットが,任意的に,500MHzおよび10GHzの間の周波数領域内で,0.5〜1.0の範囲内の相対的帯域幅を有することを特徴とする探査装置。
- 請求項2に記載の探査装置であって,前記少なくとも2個のアンテナ(12a,12b)がそれぞれモノスタティック型の広帯域ダイポールアンテナで構成され,該ダイポールアンテナが,任意的に,同一方向に向けられた極性方向(P)を有することを特徴とする探査装置。
- 請求項1〜3の何れか一項に記載の探査装置であって,前記探査ヘッド(9)が,少なくとも1つの別種センサ(13a)を更に含むことを特徴とする探査装置。
- 請求項4に記載の探査装置であって,前記別種センサ(13a)が,2個のアンテナ(12a,12b)の周りで対称的に延在することを特徴とする探査装置。
- 請求項4に記載の探査装置であって,2個の前記別種センサ(13a,13b)が,それぞれ1個のアンテナ(12a,12b)の周りで対称的に延在することを特徴とする探査装置。
- 請求項4〜6の何れか一項に記載の探査装置であって,前記別種センサ(13a)が誘導型センサで構成されていることを特徴とする探査装置。
- 請求項7に記載の探査装置であって,前記誘導型センサが,走査方向および該走査方向と直交する方向にそれぞれ異なるパスを有するクロス型フェライト部材(16)で構成されていることを特徴とする探査装置。
- 請求項1〜8の何れか一項に記載の探査装置であって,少なくとも2個の前記送受信ユニット(11a,11b)を具え,これら送受信ユニットがそれぞれ各別のアンテナ(12a,12b)に関連して配置されていることを特徴とする探査装置。
- 請求項9に記載の探査装置であって,前記探査ヘッド(9)が180°の角度に亘って旋回可能な脚部(17a,17b)で構成され,前記2個の送受信ユニット(11a,11b)が,関連するアンテナ(12a,12b)と共に,それぞれ異なる脚部(17a,17b)に配置され,任意的に,両アンテナ(12a,12b)が,前記脚部(17a,17b)に沿って変位し得るよう固定可能とされていることを特徴とする探査装置。
- 請求項10に記載の探査装置であって,前記各脚部(17a,17b)に被探査面(F)に沿って移動可能な少なくとも1個のホイール(19)が設けられ,任意的に,旋回軸線(S)に沿って互いにオフセット配置された合計3個のホイール(19)が設けられていることを特徴とする探査装置。
- 請求項11に記載の探査装置であって,前記各脚部(17a,17b)につき,少なくとも1個のホイール(19)が前記探査経路センサ(10)と結合していることを特徴とする探査装置。
- 被探査領域に埋設された長尺物体(5)を探査するための探査方法であって,多数回に亘って反復される第一工程(I)において探査装置(1)により,被探査面(F)に沿って走査方向に移動可能な探査ヘッド(9)の位置変化(Δx)を生じさせると共に,その位置(xA)に関連する個別的測定信号(A(xA))を少なくとも1個のアンテナ(12a)により受信し,第二工程(II)において演算手段(7)により個別的測定信号(A(xA),B(xB))から,当該個別的測定信号(A(xA),B(xB))中の,埋設されている可能性のある物体(5)を同定可能に含む個別的測定データ(A[A(xA), xA])を算出する探査方法において,
第一工程(I)において,少なくとも2個のアンテナ(12a,12b)により個別的測定信号(A(xA),B(xB))を受信し,
第二工程(II)において,個別的測定信号(A(xA),B(xB))から個別的測定データ(A[A(xA), xA, B[B(xB), xB])を算出し,
第三工程(III)において,演算手段(7)により少なくとも2つの個別的測定データ(A[A(xA), xA], B[B(xB), xB])から相関測定データを算出することを特徴とする探査方法。 - 請求項13に記載の探査方法であって,第二工程(II)において,個別的測定信号(A(xA))を少なくとも部分的に個別的測定データ(A[A(xA), xA)として使用することを特徴とする探査方法。
- 請求項13または14に記載の探査方法であって,第二工程(II)において,演算手段(7)による演算処理の少なくとも一部を慣用的な信号処理方法をもって実行することを特徴とする探査方法。
- 請求項13〜15の何れか一項に記載の探査方法であって,第三工程(III)において,演算手段(7)による個別的測定データ(A[A(xA), xA], B[B(xB), xB])からの相関測定データの算出を,次の計算方法の少なくとも1つをもって実行することを特徴とする探査方法。
a) 少なくとも2つの個別的測定データから,AND結合または乗算により相関測定データを算出する計算方法。
b) 少なくとも2つの個別的測定データから,相互相関または相互分散により相関測定データを算出する計算方法。
c) 少なくとも2つの個別的測定データにおける,空間的に離散して検出された物体の理論的交差値を算出する計算方法。
d) 少なくとも2つの個別的測定データにおける,空間的に非鋭敏(ファジー)に検出された物体の重畳された確率値を算出する計算方法。 - 請求項13〜16の何れか一項に記載の探査方法であって,第四工程(IV)において,演算手段(7)により相関測定データと,付加的な測定データとを組み合わせて複合測定データを取得し,該付加的な測定データは,第一工程(I)において更なるセンサ(13a)により付加的な測定データとして受信し,かつ,第二工程(II)において付加的な測定データとして加工されるものであることを特徴とする探査方法。
- 請求項17に記載の探査方法であって,付加的な測定信号を誘導型センサにより検出する場合に,演算手段(7)により該付加的な測定信号を電源回路の電源周波数として検出し,かつ,付加的な測定データに加工することを特徴とする探査方法。
- 請求項13〜18の何れか一項に記載の探査方法であって,更なる工程において,演算手段(7)により多数の相関測定データまたは複合測定データをそれらの位置(xA, xB)と共に相互に減算し,任意的に,所定の物体パラメータと比較し,かつ,位置(x)および深度(z)と関連させた物体データ(O(x, y))に加工することを特徴とする探査方法。
- 請求項13〜19の何れか一項に記載の探査方法であって,更なる第五工程(V)において,演算手段(7)により物体データ(O(x, y))を位置(x)および/または深度(z)と共にデータ画像として算出し,該データ画像を評価手段(6)における出力手段(8)から任意的にグラフィックイメージとして出力することを特徴とする探査方法。
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