JP2006300858A - 水質検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 水質検査装置は、基本構造として、光源1、波長カットフィルタ部2、上水/下水道に連通された検水セル部3、被検水からの散乱光を受光し電気信号に変換する光電変換部4、比較校正/変換部5、表示部6、制御部7を有する。この構成において、生成した互いに波長の異なる第1の照射光と第2の照射光が被検水に照射され、それらの散乱光によりそれぞれに算出された被検水の濁度に基づいて、比較校正された信頼性の高い上記被検水の水質値が出される。
【選択図】 図1
Description
第49回全国水道研究発表会予講習集(平成10年5月)、p.446、「ろ過水の濁度および微粒子数の相互関係」
(実施の形態1)
図1は、本発明の水質検査装置である濁度計の機能ブロック図である。ここでは、検水のプローブ光(検査光)として2つの照射光が用いられる。図2は、この2つの照射光を生成する一例の模式図である。図3は、検査光が照射される検水セル部の断面図である。
Z1=X−k(Y−X) ・・・(1)式
ここで、係数kは、以下に説明する濁度測定値感度に関するデータから予め抽出された値である。
図4の濁度測定値感度は、被検水中の微粒子の種類(粒径で分類)の濁度寄与を表しており、上記測定値感度を微粒子の種類で全積分すると被検水の濁度になる。そして、図4において、粒径が1μmを超える全微粒子に亘り濁度測定値感度を積分すると、その積分値は上記の校正濁度Z1に相当することになる。図4に示した右上から左下斜線のハッチ領域の面積をS1、左上から右下斜線のハッチ領域の面積をS2とすると、上記(1)式の係数はk=S1/S2で表される。この係数kは、第1の照射光11と第2の照射光12により決まり、被検水15中の濁質粒子数に依存しない値であるために、予め上記標準被検水から計測した値が適用できる。
Z2=X−α(Y−X) ・・・(2)式
ここで、係数αは、零あるいは係数kよりも小さな正の値であり、水質検査装置の設置されるろ過池あるいは排水処理施設における経験値が採用される。
この実施の形態では、水質検査装置が、例えば被検水の有機物質濃度を測定する蛍光分析水質検査装置の場合について説明する。図5は、本発明の蛍光分析水質検査装置の機能ブロック図である。この場合も、検水のプローブ光(検査光)として2つの照射光が用いられる。そして、2つの照射光は、図2で説明したのと同様にして生成される。図6は、検査光が入射する検水セル部の一例の断面図である。
この実施の形態では、上記実施の形態1,2において特徴的であった2つの照射光の生成について、別の一態様を説明する。図8は、実施の形態1,2で説明した濁度計あるいは蛍光分析水質検査装置のような水質検査装置の一部の機能ブロック図である。
この実施の形態では、上記2つの照射光を2つの光源により生成する一態様について説明する。図9は、実施の形態1,2で説明した濁度計あるいは蛍光分析水質検査装置のような水質検査装置の一部の機能ブロック図である。
この実施の形態では、上記2つの照射光を2つの光源により生成する別の一態様について説明する。図10は、実施の形態1,2で説明した濁度計あるいは蛍光分析水質検査装置のような水質検査装置の一部の機能ブロック図である。
この実施の形態では、上記2つの照射光を2つの光源により生成する更に別の一態様を説明する。図11は、実施の形態1,2で説明した濁度計あるいは蛍光分析水質検査装置のような水質検査装置の一部の機能ブロック図である。
以上、この発明の実施の形態について図面を参照して詳述してきたが、具体的な構成はこの実施の形態に限られるものではなく、この発明の要旨を逸脱しない範囲の設計の変更等があってもこの発明に含まれる。
2,22,37 波長カットフィルタ部
3,23 検水セル部
4,25 光電変換部
5,26 比較校正/変換部
6,27 表示部
7,28 制御部
8 第1の波長カットフィルタ
9 第2の波長カットフィルタ
10 光源光
11 第1の照射光
12 第2の照射光
13、29 検水セル
14 配水管
15,30 被検水
16 第1の散乱光
17 第2の散乱光
24 光学フィルタ
31 第1の励起光
32 第2の励起光
33 第1の蛍光
34 第2の蛍光
35 光路切り換え部
36 光ファイバ
38 第1の光源
39 第2の光源
40 第1の波長カットフィルタ部
41 第2の波長カットフィルタ部
Claims (14)
- 被検水に対して光を照射し、そのときの被検水からの応答光を検知して、前記被検水の水質を計測する水質検査装置であって、
被検水が導入されるセルと、
第1の照射光および第2の照射光を生成する照射光生成手段と、
前記第1の照射光を照射したときの前記被検水からの第1の応答光、および前記第2の照射光を照射したときの前記被検水からの第2の応答光を検知するための検知手段と、
前記検知手段により検知された前記第1の応答光と前記第2の応答光に基づき前記被検水の水質値を算出する演算手段と、
を有することを特徴とする水質検査装置。 - 前記演算手段は、前記第1の応答光の強度から算出した前記被検水の第1の水質値と、前記第2の応答光の強度から算出した第2の水質値とを比較校正するための比較校正手段を備えていること、を特徴とする請求項1に記載の水質検査装置。
- 前記照射光生成手段は、1つの光源と、前記光源から出射する光源光の所定の波長帯域をカットする光学フィルタとを有していること、を特徴とする請求項1又は2に記載の水質検査装置。
- 前記照射光生成手段は、互いに光源光を異にする2つの光源を有していること、を特徴とする請求項1又は2に記載の水質検査装置。
- 前記照射光生成手段は、前記異なる光源光の異なる所定の波長帯域をカットする複数の光学フィルタを有していること、を特徴とする請求項4に記載の水質検査装置。
- 前記照射光生成手段は、ランプ光源、レーザ光源あるいは発光ダイオードを光源とすることを特徴とする請求項1ないし5のいずれか一項に記載の水質検査装置。
- 前記セルと前記検知手段との間に前記第1の応答光あるいは第2の応答光の所定の波長帯域をカットする光学フィルタが配置されていることを特徴とする請求項1ないし6のいずれか一項に記載の水質検査装置。
- 前記照射光生成手段から前記セルへの光路と前記セルから前記検知手段への光路の間でなす角度が可変であり、前記第1の照射光の前記セルへの入射と前記第1の応答光の前記セルからの出射のなす角度と、前記第2の照射光の前記セルへの入射と第2の応答光の前記セルからの出射のなす角度とが異なることを特徴とする請求項1ないし7のいずれか一項に記載の水質検査装置。
- 前記第1および第2の応答光は前記被検水中の濁質成分からの散乱光であり、前記水質値は前記散乱光の強度から算出される被検水の濁度であること、を特徴とする請求項1ないし8のいずれか一項に記載の水質検査装置。
- 前記比較校正手段は、前記第1の水質値をX、前記第2の水質値をYとし、αを正数とするとき、Z=X−α(Y−X)の式に基づき、被検水の比較校正後の水質値Zを算出すること、を特徴とする請求項9に記載の水質検査装置。
- 前記水質値Zの算出により、被検水中の濁質成分のうち粒径が1μm以下になる濁質成分からの濁度寄与分を除去すること、を特徴とする請求項10に記載の水質検査装置。
- 前記検水中のクリプトスポリジウムを濁度成分として水質モニターすることを特徴とする請求項11に記載の水質検査装置。
- 前記応答光は前記被検水中の汚染成分からの蛍光であり、前記水質値は、前記蛍光の強度または前記第1の照射光あるいは第2の照射光を照射してから前記蛍光を発するまでの時間差、に基づき算出される被検水の汚染成分濃度であること、を特徴とする請求項1ないし8のいずれか一項に記載の水質検査装置。
- 前記汚染成分は有機物質であることを特徴とする請求項13に記載の水質検査装置。
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