JP2006300533A - 近赤外分光分析計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 近赤外分光分析計は、被測定対象物に投光する光源手段と、前記被測定対象物からの拡散反射光を検出する受光手段と、前記受光手段で検出された拡散反射光を分光し干渉光を生成する分光手段と、前記分光手段で分離し配置された干渉光を検出し、光信号を電気信号に変換する検出手段と、を備え、前記分光手段と前記検出手段の間を光伝達手段によって接続する構成にしたことである。【選択図】 図1
Description
光学系部品の組立ては、その精度や光学調整が厳しく、光学部品が多い程、また装置が大きくなる程、コストアップする。又、光学部品が密集するほど、部品交換や修理等のメンテナンス性が低下する。
(2)(1)の構成に加え、更に、前記受光手段と前記分光手段の間を光伝達手段によって接続する構成にしたことである。
(3)前記光伝達手段は、光ファイバを利用した光の伝達である(1)乃至(2)に記載の近赤外分光分析計。
又、検出器や関連する光学部品を独立・分離させることにより、部品交換や修理等のメンテナンス性が向上し、市場の光学部品の使用採択の可能性を得ることができる。
更に、大型の検出器の使用や、検出器の温度制御が容易となるという効果を得ることができる。
この中で、ビームスプリッタ15、移動ミラーユニット16、固定ミラー17、三角プリズムミラー18が干渉計22を構成し、移動ミラーユニット16は、移動ミラー変位測定用He―Neレーザ23により変位測定されて移動する構成となっている。
照射光は、サンプル11の粒度や成分によるが、一部サンプルに吸収され、透過する。ここで、サンプル11に吸収されて拡散反射した光を受光レンズユニット13に集光する。ここで拡散反射光は、光源12の強度分布の他、サンプル11の光吸収の強度分布の情報を持つ。
干渉光は、三角プリズムミラー18で光路を変え、光ファイバ19に導かれ、検出器20に接続され、光信号を電気信号に変換され、その電気信号が演算処理部21で演算処理され、4−20mA等に変換されて伝送される。
12 光源
13 受光レンズユニット
14 光ファイバ
15 ビームスプリッタ
16 移動ミラーユニット
17 固定ミラー
18 三角プリズムミラー
19 光ファイバ
20 検出器
21 演算処理部
22 干渉計
23 移動ミラー変位測定用He―Neレーザ。
Claims (3)
- 被測定対象物に投光する光源手段と、
前記被測定対象物からの拡散反射光を検出する受光手段と、
前記受光手段で検出された拡散反射光を分光し干渉光を生成する分光手段と、
前記分光手段で分離し配置された干渉光を検出し、光信号を電気信号に変換する検出手段と、
を備え、
前記分光手段と前記検出手段の間を光伝達手段によって接続する構成にしたことを特徴とする近赤外分光分析計。 - 請求項1の構成に加え、更に、前記受光手段と前記分光手段の間を光伝達手段によって接続する構成にしたことを特徴とする近赤外分光分析計。
- 前記光伝達手段は、光ファイバを利用した光の伝達である請求項1乃至2に記載の近赤外分光分析計。
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- 2005-04-15 JP JP2005118151A patent/JP2006300533A/ja active Pending
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