JP2006267129A - 分析装置 - Google Patents
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Abstract
ダイオキシンや有機ニトロ化合物等を容易かつ高感度に測定する。
【解決手段】
試料を負のコロナ放電を用いて効率的にイオン化し、生成した負イオンを質量分析計を用いて測定する。ダイオキシンやニトロ化合物等を容易に分析できる。
【選択図】 図1
Description
図1は本発明の第1の実施例の分析装置の構成を示す図である。後記のように、本発明においては、負のコロナ放電を行うに先立って試料を加熱することが実用上有効であるが、本実施例は、気体試料導入ポンプ11の前段に設けた気体試料導入プローブによって、試料の加熱を行った例である。
本実施例は試料加熱部を試料導入ポンプ11の後段に設けた例であり、図4〜9を用いて説明する。測定すべき気体試料は、気体試料導入ポンプ11によって気体試料導入パイプ8から気体試料加熱炉13内に導入される。この気体試料加熱炉13は、金属製のブロックの中に、石英のような高温に耐える材質製の絶縁パイプ14が設けられ、その中に置かれた金属線ヒータ15によって、この領域を通過する気体試料が高温に加熱される。金属線ヒータ15としては、ニクロム線などの金属製のワイヤを多重に巻いたものを使用した。絶縁パイプの径は、流入する気体量にも依存するが、毎分2リットル程度の気体が導入される場合では、5mm程度である。絶縁パイプ14の長さは10cm程度とした。上記金属線ヒータ15の代わりに、図5に示したように、衝突板加熱ヒータ42を設け、気体試料をこの加熱された複数の衝突板43に衝突させて加熱してもよい。
コロナ放電部17で生成したイオンを分析するには、各種質量分析計を使用できるが、イオン溜め込み型のイオントラップ質量分析計を用いた場合について、図1を用いて説明する。四重極質量分析計や磁場型質量分析計などの他の質量分析計を用いた場合でも同様である。
上記各実施例では、気体試料導入ポンプ11により気体試料を連続的に導入する場合を示したが、図17に示したように、シリンジ53によって気体試料を気体試料導入ポート52から、オフラインで導入することも可能である。
Claims (2)
- 測定すべき気体試料を導入する試料導入部と、
前記試料導入部により導入された前記気体試料をイオン化するための針状電極を備えたコロナ放電部と、
前記コロナ放電部で生成された前記気体試料に関するイオンを分析する質量分析部とを有し、
前記試料導入部には、前記気体試料の流路を制限する絞りが設けられ、前記絞りを介して前記気体試料が前記針電極の先端に向けて吹き付けられることを特徴とする分析装置。 - 測定すべき気体試料を導入する試料導入部と、
前記試料導入部に設置されたフィルタと、
前記試料導入部により導入された前記気体試料を加熱する加熱部と、
前記加熱部によって加熱された前記気体試料を負のコロナ放電するコロナ放電部と、
前記負のコロナ放電によって生じたイオンを質量分析する質量分析部とを有し、
前記試料導入部は、前記気体試料が通る内管と前記内管の外側に配置された外管からなる二重構造を有し、前記加熱部が前記内管と前記外管の間に設置されているとともに、前記内管及び前記外管が折り曲げ可能な柔軟な素材で構成され、
前記試料導入部の一端に赤外線照射により固体試料を加熱する固体試料加熱部を有することを特徴とする分析装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006175051A JP4303264B2 (ja) | 2006-06-26 | 2006-06-26 | 分析装置 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10901698A Division JP3904322B2 (ja) | 1998-04-20 | 1998-04-20 | 分析装置 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006267129A true JP2006267129A (ja) | 2006-10-05 |
JP4303264B2 JP4303264B2 (ja) | 2009-07-29 |
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JP2006175051A Expired - Lifetime JP4303264B2 (ja) | 2006-06-26 | 2006-06-26 | 分析装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4303264B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008139809A1 (ja) * | 2007-05-15 | 2008-11-20 | Ulvac, Inc. | 質量分析ユニット |
JP2009115651A (ja) * | 2007-11-07 | 2009-05-28 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 試料導入装置、試料分析装置及び試料分析システム |
US8115166B2 (en) | 2007-04-16 | 2012-02-14 | Ulvac, Inc. | Method of controlling mass spectrometer and mass spectrometer |
-
2006
- 2006-06-26 JP JP2006175051A patent/JP4303264B2/ja not_active Expired - Lifetime
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US8138473B2 (en) | 2007-05-15 | 2012-03-20 | Ulvac, Inc. | Mass spectrometry unit |
KR101141782B1 (ko) | 2007-05-15 | 2012-05-03 | 가부시키가이샤 아루박 | 질량 분석 유닛 |
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JP2009115651A (ja) * | 2007-11-07 | 2009-05-28 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 試料導入装置、試料分析装置及び試料分析システム |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP4303264B2 (ja) | 2009-07-29 |
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A977 | Report on retrieval |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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