JP2006260633A - 磁気記録媒体および磁気記憶装置 - Google Patents

磁気記録媒体および磁気記憶装置 Download PDF

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Abstract

【課題】 優れたS/Nを有し、高記録密度化が可能な磁気記録媒体および磁気記憶装置を提供する。
【解決手段】 基板11上に、第1シード層12、第2シード層13、下地層14、中間層15、記録層16、保護膜20、および潤滑層21が順に設けられた構成とし、記録層16は下地層14側から第1磁性層18および第2磁性層19が順に設けられた2層構造を有する。第1磁性層18および第2磁性層19はCoCrPtBを主成分とする強磁性材料からなり、第1磁性層18は第2磁性層よりもB含有量が多く、かつCr含有量が少ない組成からなる。
【選択図】 図2

Description

本発明は、磁気記録媒体および磁気記憶装置に係り、特に複数の磁性層を有する記録層を備えた磁気記録媒体および磁気記憶装置する。
近年、磁気記憶装置、例えば磁気ディスク装置は、デジタル化した動画や音楽の記憶装置として広汎な用途に用いられている。特に、家庭用の動画記録用として用いられ、従来のビデオテープを用いた家庭用ビデオ装置にかわって、高速アクセス・小型・大容量等の特長を生かし、著しく市場規模が増大している。動画は特に情報量が多く、磁気ディスク装置の大容量化が求められている。そのため、これまで年率100%で増加してきた記録密度をさらに向上するため、磁気記録媒体および磁気ヘッドのいっそうの高記録密度化のための技術開発が不可欠である。
ところで、記録密度を向上させるため、磁気記録媒体の記録層の高保磁力化および残留磁束密度Brと膜厚tとの積tBrの低減が進められてきた。これは、記録密度の向上により、1ビットに相当する磁化単位が微小化されるにしたがって、増加する反磁界に対抗するためである。すなわち、保磁力を高めることで反磁界による磁化の減少を抑制し、積tBrを低減することで反磁界の強度を低減するものである。
一方、磁気記録媒体の記録層の強磁性材料として、従来からCoCrPt合金に種々の元素を添加した4元系合金あるいは5元系合金が用いられてきた。その中で、媒体ノイズが低くS/N比の優れた強磁性材料として、CoCrPtB合金が用いられてきた。さらに、記録層をCoCrPtB合金からなる2層とした磁気記録媒体が提案されている(例えば、特許文献1参照。)
特開2003−196822号公報
ところで、磁気記録媒体の記録密度をさらに向上させるためには、高保磁力、残留磁束密度Brと膜厚tとの積tBrの低減、および媒体ノイズをさらに低減することが望まれる。しかし、記録層の膜厚tを単に低減すると保磁力が低下し、また、媒体ノイズが増加してS/N比が劣化するという問題が生じる。
そこで、本発明は上記問題点に鑑みてなされたもので、本発明の目的は、優れたS/Nを有し、高記録密度化が可能な磁気記録媒体および磁気記憶装置を提供することである。
本願発明者は、記録層の薄膜化および高保磁力化の検討において、記録層が過度に薄膜になると記録層の異方性磁界や飽和磁化が低下することを知得した。なお、異方性磁界は、磁化の方向が磁化容易軸方向に平行である場合に、磁化の方向と反対方向に磁界を印加して、磁化を反転させるために必要な磁界強度である。異方性磁界と保磁力は密接に関係しており、異方性磁界が低下すると保磁力が低下する。
図1は、磁気記録媒体の記録層の磁気特性と記録層の厚さとの関係を示す図である。図1の縦軸は、記録層の飽和磁化(“○”で示す。)および記録層の異方性磁界(“△”で示す。)であり、横軸は記録層の厚さである。磁気記録媒体は、記録層が1層のCoCrPtBCu膜を用いた以外は、後ほど説明する第1の実施の形態の比較例と略同様の構成とした。図1に示す特性は、記録層の厚さを異ならせた以外は同様の構成からなる磁気記録媒体から得られたものである。
図1を参照するに、記録層の厚さが厚い側、すなわち厚さが20nmや28nmの記録層では、飽和磁化および異方性磁界が略一定値である。しかし、記録層の厚さが小さくなるにつれて飽和磁化は漸次減少し、異方性磁界は13nm以下で急激に減少することが確認された。この飽和磁化および異方性磁界の低下は、記録層が下地層の表面に成長する際に、その初期に形成される層(いわゆる初期成長層)が以下に説明するような構造になっていると考えられる。記録層は、強磁性の多数の結晶粒子と、結晶粒子間に形成される非磁性の粒界部からなる多結晶体である。結晶粒子はCo含有量が高く、粒界部はCr含有量が高い。結晶粒子の結晶性が低下したり、隣接する結晶粒子同士が粒界部により十分に分離されていない場合、記録層の飽和磁化が低下し、異方性磁界も低下する。図1に示す記録層の初期成長層はこのような状態になっていると考えられる。
記録層がこのような初期成長層を有する場合、記録層を薄膜化すると磁気特性(飽和磁化および異方性磁界)は急激に劣化し、薄膜化しない場合であっても磁気特性が良好でない記録層となる。このような記録層では、媒体ノイズが高くS/N比が低下するという問題が生じる。また、異方性磁界が低下するので保磁力が低下するという問題が生じる。さらには、記録層の耐熱揺らぎ性、すなわち、記録層に記録された磁化の熱安定性が劣化する。そこで、本願発明者は、かかる問題を解決するために以下に説明する発明をなしたものである。
本発明の一観点によれば、基板と、前記基板上に設けられた下地層と、前記下地層上に設けられた記録層と、を備え、前記記録層は、下地層側から第1の磁性層および第2の磁性層とからなり、前記第1の磁性層および第2の磁性層は、CoCrPtBを主成分とする強磁性材料からなり、前記第1の磁性層は、第2の磁性層よりも、B含有量が多く、かつCr含有量が少ないことを特徴とする磁気記録媒体が提供される。
本発明によれば、記録層は下地層側から第1の磁性層および第2の磁性層が順に設けられてなる。第1の磁性層および第2の磁性層は、CoCrPtBを主成分とする強磁性材料からなり、第1の磁性層は、第2の磁性層よりもB含有量が多くかつCr含有量が少ない組成に設定される。このようにB含有量を設定することで、B添加の作用により、第1の磁性層を構成する結晶粒子の微細化が促進される。すなわち、結晶粒子は、基板面に平行な断面における大きさが低減される。そして、第2の磁性層の結晶粒子は、第1の磁性層の結晶粒子のそれぞれの上に結晶成長するので、第2の磁性層の結晶粒子も微細化される。その結果、第1の磁性層および第2の磁性層の結晶粒子が共に微細化されるので磁気記録媒体の媒体ノイズが低減される。
また、このようにB含有量を設定することで、第1の磁性層は、隣接する結晶粒子を離隔する粒界部に非磁性元素のCrやBが拡散し、いわゆるCrやBの偏析が促進される。そのため粒界部の厚さが増加し、隣接する結晶粒子の間隙が大きくなる。これは、第2の磁性層にも引き継がれる。したがって、第1の磁性層および第2の磁性層の結晶粒子同士が離隔されて形成されることにより、結晶粒子間の磁気的あるいは交換相互作用が低減される。この点からも磁気記録媒体の媒体ノイズが低減される。
一方、Cr含有量を第1の磁性層が第2の磁性層よりも少ない組成に設定することで、第1の磁性層の結晶粒子のCo含有量が多くなるので、結晶粒子の結晶性を高めることができる。これは、結晶粒子がCoCrPtBを主成分とした組成を有するが、このうちCo原子が結晶粒子の結晶構造(hcp(六方細密充填)構造)の骨格を形成しているため、Co含有量が多いほど結晶性が良好になるからである。さらに、第2の磁性層の結晶粒子は、第1の磁性層の結晶粒子の良好な結晶性を引き継ぐので、結晶性が良好となる。したがって、異方性磁界が増加し、その結果保磁力が増加する。さらに同様の理由により飽和磁化が増加する。よって、磁気記録媒体は高密度記録に適した特性を有することになる。
以上により、本発明の磁気記録媒体は、媒体ノイズが低く、優れたS/Nを有し、高記録密度化が可能である。
また、前記記録層は、前記第1の磁性層の下に、下地層側から下部磁性層および非磁性結合層をさらに有し、前記下部磁性層と第1の磁性層とは交換結合すると共に、外部磁場が印加されない状態で該下部磁性層の磁化と第1の磁性層との磁化とが互いに反平行である構成としてもよい。このように記録層が反強磁性的な交換結合構造を有することにより、記録層の記録された磁化の熱安定性を高めることができる。その結果、磁気記録媒体は信頼性が向上する。
本発明の他の観点によれば、上記いずれか一項記載の磁気記録媒体と、記録素子と磁気抵抗効果型再生素子とを有する記録再生手段と、を備える磁気記憶装置が提供される。
本発明によれば、優れたS/Nを有し、高記録密度化が可能な磁気記憶装置が実現される。
本発明によれば、記録層がCoCrPtBを主成分とする強磁性材料からなる第1の磁性層および第2の磁性層からなり、下地層側の第1の磁性層を第2の磁性層よりも、B含有量が多くかつCr含有量が少ない強磁性材料とすることにより、優れたS/Nを有し、高記録密度化が可能な磁気記録媒体および磁気記憶装置を提供できる。
以下図面を参照しつつ実施の形態を説明する。
(第1の実施の形態)
図2は、本発明の第1の実施の形態の第1例に係る磁気記録媒体の断面図である。
図2を参照するに、第1例に係る磁気記録媒体10は、基板11と、基板11上に、第1シード層12、第2シード層13、下地層14、中間層15、記録層16、保護膜20、および潤滑層21が順に設けられた構成からなる。記録層16は下地層14側から第1磁性層18および第2磁性層19が順に設けられた2層構造を有している。
基板11は、特に制限はなく、ガラス基板、NiPめっきアルミ合金基板、シリコン基板、プラスチック基板、セラミック基板、カーボン基板等を用いることができる。
基板11の表面には、所定の方向に沿って延在する多数の溝からなる、いわゆるテクスチャ(不図示)を設けてもよい。ここで所定の方向は、磁気記録媒体10の記録方向と略同じ方向であることが好ましい。例えば、磁気記録媒体10がディスク状の場合はその周方向である。これにより、記録層16を構成するCoCrPtB合金膜のc軸を周方向に配向させることできる。CoCrPtB合金膜のc軸は磁化容易軸であるので記録層16の保磁力が増加し、その結果、高記録密度の磁気記録媒体10として好ましい磁気特性となる。なお、このようなテクスチャは基板11の表面に限定されず、その代わりに次に説明する第1シード層12あるいは第2シード層13の表面に設けてもよい。
第1シード層12は、非磁性で非晶質の金属材料からなる。第1シード層12に好適な金属材料としては、CoW、CrTi、NiP、CoCrZr、およびこれらの金属を主成分とする金属が挙げられる。また、第1シード層12の厚さは5nm〜30nmの範囲に設定されることが好ましい。第1シード層12は、その表面が非晶質で結晶学的に一様であるので、この上に形成される第2シード層13に結晶学的な異方性の影響を与えない。その結果、第2シード層13がそれ自体の結晶構造を形成しやすくなるので、第2シード層13の結晶性および結晶配向性が向上する。この効果は、その上の下地層14等を介して記録層16の結晶性および結晶配向性を向上させる。なお、第2シード層13を設けない場合は、第1シード層12は下地層14に同様の効果を与える。
第2シード層13は、非磁性でB2構造を有する結晶質の金属材料からなる。第2シード層13に好適な金属材料としては、例えば、AlRu、NiAlが挙げられる。また、第2シード層13の厚さは1nm〜100nmの範囲に設定されることが好ましい。B2構造は、bcc(体心立方)構造を基本としたCsCl(塩化セシウム)型の金属規則相である。また、第2シード層13の上に形成される下地層14はbcc構造を有するので、第2シード層13と下地層14とは互いに結晶構造が近似する。したがって、下地層14の結晶配向性が向上する。
なお、第2シード層13は、多数の結晶粒子からなる多結晶体である。基板面に平行な断面における結晶粒子の大きさの肥大化を抑制する点で、第2シード層13は、上記の材料からなる薄膜(例えば厚さ5nm)を積層して構成してもよい。このようにすることで、第2シード層13自体の結晶性を維持しつつ、その結晶粒子の肥大化を抑制でき、下地層14を介して第1磁性層および第2磁性層の各々の結晶粒子の肥大化を抑制できる。
なお、磁気記録媒体10は、第1シード層12および第2シード層13を設ける方がより好ましいが、いずれかを省略してもよく、さらには両方とも省略してもよい。
下地層14は、Crまたはbcc結晶構造を有するCr合金からなる。下地層14に好適なCr合金としてはCr−X3合金からなり、X3がW、V、Mo、Mnおよびこれらの合金から選択される一種からなる金属である。下地層14の厚さは、3nm〜10nmの範囲に設定されることが好ましい。下地層14は、Crに金属X3を添加することにより格子定数を制御して中間層15との格子整合性を高めることができる。これにより、中間層15の結晶性を向上できる。さらに、中間層15の結晶配向性、すなわち中間層15の結晶軸のc軸を基板面に平行な方向(以下、「面内方向」という。)に配向させる。この結晶配向性は、第1磁性層18および第2磁性層19に引き継がれ、第1磁性層18および第2磁性層19のc軸を面内方向に配向させる。なお、中間層15を設けない場合は、下地層14は第1磁性層18に同様の効果を与える。
また、下地層14は、上記の材料からなる薄膜(例えば厚さ2nm)を積層して構成してもよい。このようにすることで、下地層14の結晶性を維持しつつ、その結晶粒子の肥大化を抑制できる。その結果、第1磁性層18および第2磁性層19の結晶粒子の肥大化を抑制できる。
中間層15は、hcp構造を有するCo−X2合金からなる。ここで、X2は、Cr、Ta、Mo、Mn、Re、Ru、およびこれらの合金から選択される一種である。中間層15の厚さは、0.5nm〜3.0nmの範囲に設定されることが好ましい。中間層15は下地層14の表面上にエピタキシャル成長しhcp構造を形成する。第1磁性層18はCoCrPtB膜でhcp構造を有するため、中間層15を設けることで、中間層15と第1磁性層18との結晶整合が良好となる。その結果、第1磁性層18は中間層15との界面付近の領域(いわゆる初期成長層)が、結晶粒子が粒界部により分離され、結晶粒子の結晶性が向上するという好ましい構造が形成される。その結果、記録層16の媒体ノイズが低減される。
また、中間層15はc軸が面内方向に配向するため、第1磁性層18のc軸の面内方向の配向を促進させる。その結果、記録層16の面内方向の保磁力が増加し、高密度記録に好適な磁気特性を有することになる。なお、中間層15は、下地層14と同様に、上記の材料からなる薄膜を複数積層してもよい。また、中間層15を設ける方が好ましいが、必須ではない。
第1磁性層18および第2磁性層19はCoCrPtBを主成分とする強磁性材料からなる。第1磁性層18および第2磁性層19に好適な強磁性材料としては、CoCrPtBまたはCoCrPtB−M合金からなり、ここで添加成分Mは、Cu、Ag、Nb、Ru、Ni、V、Ta、Au、Fe、Mn、Ir、SiおよびPdのうち少なくとも一種からなる。
第1磁性層18は、第2磁性層19よりもB含有量が多くかつCr含有量が少ない組成に設定される。このようにB含有量を設定することで、第1磁性層18は、結晶粒子の基板面に平行な断面における大きさが低減され、結晶粒子の微細化が促進される。そして、第2磁性層19の結晶粒子はそれぞれ一つの第1磁性層18の結晶粒子上に結晶成長するので、第2磁性層19の結晶粒子も微細化される。その結果、第1磁性層18および第2磁性層19の結晶粒子が微細化されるので媒体ノイズが低減される。
また、このようにB含有量を設定することで、第1磁性層18は、隣接する結晶粒子を離隔する粒界部に非磁性元素のCrやBが拡散し、いわゆるCrやBの偏析が促進される。そのため粒界部の厚さが増加し、隣接する結晶粒子の間隙が大きくなる。結晶粒子同士が離隔されて形成されることにより、結晶粒子間の磁気的あるいは交換相互作用が低減される。この点からも媒体ノイズが低減される。したがって、よりいっそう媒体ノイズが低減される。
一方、上述したように、Cr含有量を第1磁性層18が第2磁性層19よりも少ない組成に設定される。することで、第1磁性層18の結晶粒子のCo含有量を多くして結晶性を高めることができる。これは、結晶粒子がCoCrPtBを主成分とした組成を有するが、このうちCo原子がhcp構造の骨格を形成しているため、Co含有量が多いほど結晶性が良好に維持されるからである。
さらに、第2磁性層19の結晶粒子は、第1磁性層18の結晶粒子の良好な結晶性を引き継ぐので、結晶性が良好となる。その結果、異方性磁界が増加して保磁力が増加する。さらにまた飽和磁化が増加する。よって、磁気記録媒体10は高密度記録に適した特性を有することになる。
第1磁性層18は、その表面に第2磁性層19を良好に結晶成長させる点で、第2磁性層19よりも厚い方が好ましい。第1磁性層18と第2磁性層19からなる記録層16の全体の厚さは、磁気記録媒体10の電磁変換特性における分解能やオーバーライト特性により所定の厚さに制限される。一方、第1磁性層18は、厚く形成するほどその表面の状態が良好となる。具体的には、第1磁性層18の表面の結晶粒子間の分離の程度や結晶粒子の結晶性が良好となる。これにより、第2磁性層19の結晶性や、結晶配向性が良好となり、保磁力が増加する。
また、第2磁性層19は、第1磁性層18よりも媒体ノイズが低減される点で上記の添加成分Mの含有量が多い方が好ましい。
保護膜20は、公知の保護膜材料から選択され、例えばダイヤモンドライクカーボン、窒化カーボン、アモルファスカーボン等から構成される。保護膜20の厚さは、0.5nm〜10nm(好ましくは0.5nmから5nm)の範囲に設定される。
潤滑層21は、特に制限されないが、例えばパーフルオロポリエーテルを主鎖として末端基が−OH、ベンゼン環等よりなる有機系液体潤滑剤を用いることができる。なお、潤滑剤は保護膜20の材料に合わせて適宜選定される。
次に第1例に係る磁気記録媒体10の製造方法を図2を参照しつつ説明する。最初に、基板11の表面にテクスチャを形成する場合は、スパッタ装置に載置する前にテクスチャ加工を行う。テクスチャ加工はテクスチャ形成装置を用いて行う。具体的には、基板11の表面にパッドを押圧し、研磨剤を含むスラリーを基板11の表面に供給しながら、基板11とパッドとを相対的に移動させて、基板11の表面に研磨痕を形成する。テクスチャを第1シード層12あるいは第2シード層13の表面に形成する場合も同様にして行う。
次いで、基板11の表面を清浄化した後、スパッタ装置、例えばDCマグネトロンスパッタに基板11を載置し、例えば約180℃に基板11を加熱する。DCマグネトロンスパッタのチャンバー内は予め真空度1×10-5Pa以下に排気後、Ar等の不活性ガスやプロセスガスを供給することが好ましい。
次いで、チャンバー内にArガス等の不活性ガスを供給し、第1シード層12から第2磁性層19までを各々の材料からなるスパッタターゲットを用いて成膜する。第1シード層12から第2磁性層19までを形成する間に基板11の加熱をさらに行ってもよい。
次いで、第2磁性層19上にスパッタ法、CVD法、FCA(Filtered Cathod Arc)法等を用いて保護膜20を形成する。さらに、保護膜20上に潤滑層21を形成する。具体的には、浸漬法、スピンコート法等を用いて希釈した潤滑剤溶液を保護膜20上に塗布して潤滑層21を形成する。以上により第1例に係る磁気記録媒体10が形成される。なお、以下に説明する第2例〜第4例に係る磁気記録媒体も第1例に係る磁気記録媒体10と略同様の方法で製造する。
以上説明したように、第1例に係る磁気記録媒体10は、媒体ノイズが低く、優れたS/Nを有し、高記録密度化が可能である。また第1磁性層18および第2磁性層19の結晶粒子の結晶性が良好であるので、異方性磁界が大きい。その結果、面内方向の保磁力が増加する。この点においても磁気記録媒体10は、高記録密度化が可能である。
図3は、第1の実施の形態の第2例に係る磁気記録媒体の断面図である。図中、先に説明した部分に対応する部分には同一の参照符号を付し、説明を省略する。
図3を参照するに、第2例に係る磁気記録媒体30は、基板11と、基板11上に、第1シード層12、第2シード層13、下地層14、中間層15、記録層31、保護膜20、および潤滑層21が順に設けられた構成からなる。磁気記録媒体30は、記録層31が異なる以外は第1例に係る磁気記録媒体と同様の構成を有する。
記録層31は、基板11側から下部磁性層32、非磁性結合層33、第1磁性層18、および第2磁性層19が順に設けられている。記録層31は、下部磁性層32と第1磁性層18とが非磁性結合層33を介して反強磁性的に交換結合された交換結合構造を有する。すなわち、下部磁性層32の磁化と第1磁性層18の磁化とは、外部磁界が印加されない状態で互いに反平行方向に向いている。なお、第1磁性層18と第2磁性層19とは強磁性的に交換結合しているので、下部磁性層32と第2磁性層19とは間接的に反強磁性的に交換結合している。
下部磁性層32は、CoCrまたはCoCr−X1合金の強磁性材料からなる。ここで、添加元素X1は、Pt、B、Ta、Ni、Cu、Ag、Fe、Nb、Au、Mn、Ir、SiおよびPdから少なくとも一種選択されたものである。CoCr−X1合金は、下部磁性層32の粒径制御が良好な点で好ましい。なお、下部磁性層32は、一層のみならず、上記の強磁性材料からなる膜を複数積層した構成を有してもよい。
非磁性結合層33は、例えばRu、Rh、Ir、Ru合金、Rh合金、Ir合金等から選択される。非磁性結合層33は、第1磁性層18との結晶整合性が良好な点で、Ruまたはhcp構造を有するRu合金からなることが好ましい。これは、第1磁性層18がhcp構造を有し、かつ格子定数が近接していることによる。Ru合金としては、Co、Cr、Fe、Ni、およびMnのうちいずれか一種、またはこれらの合金とRuの合金が挙げられる。
また、非磁性結合層33の厚さは0.4nm〜1.2nmの範囲に設定されることが好ましい。この範囲に非磁性結合層33の厚さを設定することで、非磁性結合層33を介して下部磁性層32の磁化と第1磁性層18の磁化とが反強磁性的に交換結合する。
このように、下部磁性層32と、第1磁性層18および第2磁性層19とが反強磁性的に交換結合しているので、交換結合した磁化が占める総体積が増加する。これにより、記録された磁化の熱安定性が高まる。高密度記録では、この磁化が占める総体積は減少するが、下部磁性層32によりその減少量を抑制できるので、記録された磁化の熱安定性の劣化を抑制できる。
第1磁性層18は、下部磁性層32との交換結合作用が強まる点で、第2磁性層19よりもCo含有量が多い方が好ましい。
第2例に係る磁気記録媒体30は、第1例の磁気記録媒体と同様の効果を有し、さらに、記録層31に記録された磁化の熱安定性が優れている。その結果、磁気記録媒体30は高記録密度化が可能となる。また、第1磁性層18のCo含有量を第2磁性層19よりも多く設定することで、下部磁性層32と第1磁性層18との反強磁性的な交換結合作用をいっそう強め、磁気記録媒体30は、記録層31に記録された磁化の熱安定性をいっそう高めることができる。
図4は、第1の実施の形態の第3例に係る磁気記録媒体の断面図である。図中、先に説明した部分に対応する部分には同一の参照符号を付し、説明を省略する。
図4を参照するに、第3例に係る磁気記録媒体40は、基板11と、基板11上に、第1シード層12、第2シード層13、下地層14、中間層15、記録層41、保護膜20、および潤滑層21が順に設けられた構成からなる。磁気記録媒体40は、記録層41が異なる以外は第1例に係る磁気記録媒体と同様の構成を有する。
記録層41は、基板11側から第1磁性層421、第2磁性層422、…、第n−1磁性層42n-1、第n磁性層42nが順に設けられた、n層の磁性層からなる。ここで、nは3以上の整数である。記録層41は、第1例に係る磁気記録媒体の記録層を2層からn層に拡張したものである。
第1磁性層421〜第n磁性層42nの各々の磁性層は、図2に示す第1例に係る磁気記録媒体の第1磁性層18および第2磁性層19と同様の材料から構成される。
第1磁性層421〜第n磁性層42n-1の各々の磁性層は、その上側(直上)の磁性層よりも、B含有量が多く、かつCr含有量が少ない組成に設定される。このようにすることで、下側の磁性層は結晶粒子の微細化が促進され、その結晶粒子の粒径が上側の磁性層に引き継がれ、上側の磁性層の結晶粒子も微細化される。その結果、第1磁性層421〜第n磁性層42n-1の結晶粒子が微細化されるので媒体ノイズが低減される。
第3例に係る磁気記録媒体40は、第1例の磁気記録媒体と同様の効果を有すると共に、媒体ノイズが一層低減されるので、優れたS/Nを有し、高記録密度化が可能となる。
図5は、第1の実施の形態の第4例に係る磁気記録媒体の断面図である。図中、先に説明した部分に対応する部分には同一の参照符号を付し、説明を省略する。
図5を参照するに、第4例に係る磁気記録媒体50は、基板11と、基板11上に、第1シード層12、第2シード層13、下地層14、中間層15、記録層51、保護膜20、および潤滑層21が順に設けられた構成からなる。磁気記録媒体50は、記録層51が異なる以外は第1例に係る磁気記録媒体と同様の構成を有する。
記録層51は、基板11側から、下部磁性層32、非磁性結合層33、第1磁性層421、第2磁性層422、…、第n−1磁性層42n-1、第n磁性層42nが順に設けられた構成を有する。すなわち、記録層51は、図3に示す第2例に係る磁気記録媒体30の記録層31の交換結合構造と第3例に係る磁気記録媒体40の記録層41のn層の磁性層とを組み合わせたものである。
したがって、第4例に係る磁気記録媒体50は、第1例に係る磁気記録媒体の効果を有すると共に、さらに媒体ノイズが一層低減される。さらに、磁気記録媒体50は、記録層51に記録された磁化の熱安定性が優れている。
次に本実施の形態に係る実施例と本発明によらない比較例を示す。
[実施例]
実施例に係る磁気ディスクは、その構成を図2に示す第1例の磁気記録媒体と同様の構成とした。その具体的構成を以下に示す。
ガラス基板(直径65mm)
第1シード層:Cr50Ti50膜(25nm)
第2シード層:Al50Ru50膜(25nm)
下地層:Cr75Mo25膜(5nm)
中間層:Co58Cr42膜(1nm)
第1磁性層:Co65Cr11Pt1113膜(10nm)
第2磁性層:Co60Cr18Pt118Cu3膜(5nm)
保護膜:アモルファスカーボン膜(5nm)
潤滑層:AM3001(1.5nm)
なお、上記のかっこ内の数値は厚さを表し、組成の数値は原子%で表している。
実施例に係る磁気ディスクを以下のようにして作製した。最初にガラス基板の表面に周方向に沿って延在するテクスチャを形成した。次いで、表面を清浄化したガラス基板を真空中で200℃に加熱した。
次いで、DCマグネトロンスパッタ装置を用いてArガス雰囲気中(圧力0.67Pa)で、上記膜構成のうちCr50Ti50膜からカーボン膜までを各々の真空チャンバー内で連続して形成した。次いで、引き上げ法によりアモルファスカーボン膜の表面に潤滑層を塗布した。なお、加熱装置およびDCマグネトロンスパッタ装置の真空チャンバー内を予め1×10-5Pa以下の高真空に排気した後、アルゴンガスを供給して上記の圧力に設定した。
[比較例]
比較例に係る磁気ディスクは、実施例の第2磁性層と同様の組成の強磁性材料を第1磁性層と第2磁性層の両方に用いた以外は実施例と同様の構成とした。比較例に係る磁気ディスクの作製方法は実施例と略同様である。なお、第1磁性層と第2磁性層とは異なる真空チャンバーで成膜し、第1磁性層と第2磁性層との間では成膜を一旦停止した。以下、実施例と異なる層のみを示す。
第1磁性層:Co60Cr18Pt118Cu3膜(10nm)
第2磁性層:Co60Cr18Pt118Cu3膜(5nm)
図6Aは、実施例に係る磁気ディスクの第2磁性層のTEM(透過電子顕微鏡)写真、図6Bは、比較例に係る磁気ディスクの第2磁性層のTEM写真である。TEM写真は第2磁性層の表面を示しており、暗い領域が結晶粒子、暗い領域を囲んでいる明るい領域が粒界部を示している。また、図7は、実施例および比較例に係る磁気ディスクの特性図である。なお、図7では磁気ディスクの磁気特性を合わせて示している。
図6A、図6B、および図7を参照するに、第2磁性層の組成は実施例と比較例とで同様であるが、比較例に対して実施例は各々の結晶粒子が小さくなっていることが分かる。図7に示すように、実施例の結晶粒子の平均粒径が、比較例に対して26%も低減されていることが分かる。すなわち、実施例は比較例よりも第2磁性層の結晶粒子の微細化が促進されていることが分かる。
また、第2磁性層の隣接する結晶粒子間の距離、すなわち、粒界部の厚さは比較例よりも実施例の方が大きい。図7に示すように、実施例の粒界部の平均厚さが、比較例に対して35%も増加していることが分かる。このことにより、実施例ではCrやBが、比較例よりも粒界部に多く移動しており、いわゆるCrやBの偏析が促進されていることが分かる。また、このことから結晶粒子の組成が、比較例よりも実施例の方がCo含有量が多くなっていることが容易に推察できる。Co含有量が多くなると飽和磁化が増加するので、再生出力が増加するという好ましい効果が生ずる。
なお、結晶粒子の平均粒径と粒界部の平均厚さは、第2磁性層の表面TEM写真(総合倍率約200万倍)を用いて以下のようにして求めた。最初に、画像解析装置を用いて、所定の領域内の結晶粒子の面積を求めた。結晶粒子の面積は、各々の結晶粒子を楕円形に近似し、楕円形の面積を結晶粒子の面積とした。次いで、楕円形の面積と同面積の真円の直径を結晶粒子の粒径とした。このようにして、100個から200個程度の結晶粒子について、結晶粒子の粒径を求めて平均し、結晶粒子の平均粒径を求めた。
また、粒界部の平均厚さは、最初に画像解析装置を用いて所定の領域内の粒界部の総面積を求めた。また、上記真円の周長を結晶粒子の周長として、所定の領域内にある結晶粒子の周長の総計を求めた。そして、先に求めた粒界部の総面積を結晶粒子の周長の総計で除して得られた数値を粒界部の平均厚さとした。
一方、図7に示すように、実施例の保磁力は、比較例に対して6%程度増加している。これは主に実施例の結晶粒子の結晶性が比較例よりも良好であることによるものであると推察できる。
また、実施例のS/Nmは、比較例に対して0.4dBも向上していることが分かる。これは、結晶粒子の微細化および粒界部の平均厚さの増加(CrやBの偏析促進)によるものである。
以上説明したように、実施例によれば、第1磁性層を第2磁性層よりもB含有量が多く、かつCr含有量が少ない組成とすることで、第2磁性層の結晶粒子の微細化および粒界部の平均厚さが増加し、その結果、高保磁力および高S/N比の磁気ディスクが得られた。
なお、保磁力の測定は振動試料型磁力計を用いた。また、S/Nmの測定は、市販のスピンスタンドと、誘導型記録素子とGMR再生素子を有する複合型磁気ヘッドを用いた。S/Nmは、平均出力Siso(89kFCI)と媒体ノイズNmから10×log(Siso/Nm)(dB)として求めた。
(第2の実施の形態)
図8は、本発明の第2の実施の形態の磁気記憶装置の要部を示す平面図である。
図8を参照するに、磁気記憶装置60は大略ハウジング61からなる。ハウジング61内には、スピンドル(図示されず)により駆動されるハブ62、ハブ62に固定され回転される磁気記録媒体63、アクチュエータユニット64、アクチュエータユニット64に取り付けられ磁気記録媒体63の半径方向に移動されるアーム65及びサスペンション66、サスペンション66に支持された磁気ヘッド68が設けられている。磁気ヘッド68は、MR素子(磁気抵抗効果型素子)、GMR素子(巨大磁気抵抗効果型素子)、あるいはTMR素子(トンネル磁気効果型)等の再生ヘッドと誘導型の記録ヘッドとの複合型ヘッドからなる。この磁気記憶装置60の基本構成自体は周知であり、その詳細な説明は本明細書では省略する。
磁気記録媒体63は、例えば第1の実施の形態の第1例から第4例の磁気記録媒体のいずれかである。磁気記録媒体63は媒体ノイズが低くS/N比が良好であるので、磁気記憶装置60の高記録密度化を図ることが可能である。
なお、本実施の形態に係る磁気記憶装置60の基本構成は、図6に示すものに限定されるものではなく、磁気ヘッド68は上述した構成に限定されず、公知の磁気ヘッドを用いることができる。
以上本発明の好ましい実施の形態について詳述したが、本発明は係る特定の実施の形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の範囲内において、種々の変形・変更が可能である。
例えば、上記第2の実施の形態の磁気記録媒体は磁気ディスクを例として説明したが磁気テープでもよい。磁気テープにはディスク状の基板の代わりにテープ状の基板、例えば、テープ状のPET、PEN、ポリイミド等のプラスチックフィルムを用いる。
なお、以上の説明に関して更に以下の付記を開示する。
(付記1) 基板と、
前記基板上に設けられた下地層と、
前記下地層上に設けられた記録層と、を備え、
前記記録層は、下地層側から第1の磁性層および第2の磁性層とからなり、
前記第1の磁性層および第2の磁性層は、CoCrPtBを主成分とする強磁性材料からなり、
前記第1の磁性層は、第2の磁性層よりも、B含有量が多く、かつCr含有量が少ないことを特徴とする磁気記録媒体。
(付記2) 前記記録層は、
前記第1の磁性層の下に、下地層側から下部磁性層および非磁性結合層をさらに有し、
前記下部磁性層と第1の磁性層とは交換結合すると共に、外部磁場が印加されない状態で該下部磁性層の磁化と第1の磁性層との磁化とが互いに反平行であることを特徴とする付記1記載の磁気記録媒体。
(付記3) 前記下部磁性層はCoCrまたはCoCr−X1合金からなり、該X1が、Pt、B、Ta、Ni、Cu、Ag、Fe、Nb、Au、Mn、Ir、SiおよびPdからなる群のうち少なくとも一種からなることを特徴とする付記2記載の磁気記録媒体。
(付記4) 前記第1の磁性層は、そのCo含有量が、第2の磁性層と同程度あるいはそれよりも多いことを特徴とする付記1〜3のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体。
(付記5) 前記第1の磁性層および第2の磁性層は添加成分Mを含むCoCrPtB−M合金からなり、
前記添加成分Mは、Cu、Ag、Nb、Ru、Ni、V、Ta、Au、Fe、Mn、Ir、SiおよびPdからなる群のうち少なくとも一種からなることを特徴とする付記1〜4のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体。
(付記6) 前記第2の磁性層は、第1の磁性層よりも、前記添加成分Mの含有量が多いことを特徴とする付記1〜5のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体。
(付記7) 前記第1の磁性層の厚さは、第2の磁性層の厚さよりも大きいことを特徴とする付記1〜6のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体。
(付記8) 前記下地層はCrまたはbcc結晶構造を有するCr合金からなることを特徴とする付記1〜7のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体。
(付記9) 前記Cr合金はCr−X3合金からなり、該X3がW、V、Mo、Mnおよびこれらの合金から選択される一種からなることを特徴とする付記8記載の磁気記録媒体。
(付記10) 前記下地層と記録層との間にhcp構造を有するCo−X2合金からなる中間層をさらに備え、該X2がCr、Ta、Mo、Mn、Re、RuおよびHfからなる群のうち少なくとも一種からなることを特徴とする付記1〜9のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体。
(付記11) 前記基板と下地層との間にB2構造を有する結晶質のシード層を備えることを特徴とする付記1〜10のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体。
(付記12) 前記基板と下地層との間に非晶質の他のシード層を備え、
前記他のシード層は、CoW、CrTi、NiP、CoCrZrおよびこれらの金属を主成分とする金属からなる群のうちいずれか1つからなることを特徴とする付記1〜10のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体。
(付記13) 前記基板と下地層との間に、基板側から他のシード層、シード層の順に設けられてなることを特徴とする付記12記載の磁気記録媒体。
(付記14) 当該磁気記録媒体はディスク状の形状を有し、
前記基板、シード層、および他のシード層のうち、いずれかの表面に周方向に沿って延在する凹凸が形成されてなることを特徴とする付記12または13記載の磁気記録媒体。
(付記15) 基板と、
前記基板上に設けられた下地層と、
前記下地層上に設けられた記録層と、を備え、
前記記録層は、下地層側から第1の磁性層から第nの磁性層までが順に設けられたn層の磁性層からなり、
前記第1の磁性層から第nの磁性層は、CoCrPtB合金を主成分とする強磁性材料からなり、
前記第1の磁性層から第n−1の磁性層は、各々の直上の磁性層よりも、B含有量が多く、かつCr含有量が少ないことを特徴とする磁気記録媒体。
(付記16) 前記記録層は、
前記下部磁性層の下に、下地層側から下部磁性層および非磁性結合層をさらに有し、
前記下部磁性層と第1の磁性層とは交換結合すると共に、外部磁場が印加されない状態で該下部磁性層の磁化と第1の磁性層との磁化とが互いに反平行であることを特徴とする付記16記載の磁気記録媒体。
(付記17) 付記1〜16のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体と、
記録素子と磁気抵抗効果型再生素子とを有する記録再生手段と、を備える磁気記憶装置。
(付記18) ディスク状の基板と、前記基板上に設けられた下地層と、前記下地層上に設けられた記録層と、を有する磁気ディスクと、
記録素子と磁気抵抗効果型再生素子を有する記録再生手段と、を備える磁気ディスク装置であって、
前記記録層は、下地層側から第1の磁性層および第2の磁性層とからなり、
前記第1の磁性層および第2の磁性層は、CoCrPtBを主成分とする強磁性材料からなり、
前記第1の磁性層は、第2の磁性層よりも、B含有量が多く、かつCr含有量が少ないことを特徴とする磁気ディスク装置。
磁気記録媒体の記録層の磁気特性と記録層の厚さとの関係を示す図である。 本発明の第1の実施の形態の第1例に係る磁気記録媒体の断面図である。 第1の実施の形態の第2例に係る磁気記録媒体の断面図である。 第1の実施の形態の第3例に係る磁気記録媒体の断面図である。 第1の実施の形態の第4例に係る磁気記録媒体の断面図である。 実施例に係る磁気ディスクの第2磁性層のTEM写真である。 比較例に係る磁気ディスクの第2磁性層のTEM写真である。 実施例および比較例に係る磁気ディスクの特性図である。 本発明の第2の実施の形態の磁気記憶装置の要部を示す平面図である。
符号の説明
10、30、40、50 磁気記録媒体
11 基板
12 第1シード層
13 第2シード層
14 下地層
15 中間層
16、31、41 記録層
18 第1磁性層
19 第2磁性層
20 保護膜
21 潤滑層
32 下部磁性層
33 非磁性結合層
421〜42n 第1磁性層〜第n磁性層
60 磁気記憶装置

Claims (10)

  1. 基板と、
    前記基板上に設けられた下地層と、
    前記下地層上に設けられた記録層と、を備え、
    前記記録層は、下地層側から第1の磁性層および第2の磁性層とからなり、
    前記第1の磁性層および第2の磁性層は、CoCrPtBを主成分とする強磁性材料からなり、
    前記第1の磁性層は、第2の磁性層よりも、B含有量が多く、かつCr含有量が少ないことを特徴とする磁気記録媒体。
  2. 前記記録層は、
    前記第1の磁性層の下に、下地層側から下部磁性層および非磁性結合層をさらに有し、
    前記下部磁性層と第1の磁性層とは交換結合すると共に、外部磁場が印加されない状態で該下部磁性層の磁化と第1の磁性層との磁化とが互いに反平行であることを特徴とする請求項1記載の磁気記録媒体。
  3. 前記下部磁性層はCoCrまたはCoCr−X1合金からなり、該X1が、Pt、B、Ta、Ni、Cu、Ag、Fe、Nb、Au、Mn、Ir、SiおよびPdからなる群のうち少なくとも一種からなることを特徴とする請求項2記載の磁気記録媒体。
  4. 前記第1の磁性層は、そのCo含有量が、第2の磁性層と同程度あるいはそれよりも多いことを特徴とする請求項1〜3のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体。
  5. 前記第1の磁性層および第2の磁性層は添加成分Mを含むCoCrPtB−M合金からなり、
    前記添加成分Mは、Cu、Ag、Nb、Ru、Ni、V、Ta、Au、Fe、Mn、Ir、SiおよびPdからなる群のうち少なくとも一種からなることを特徴とする請求項1〜4のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体。
  6. 前記第1の磁性層の厚さは、第2の磁性層の厚さよりも大きいことを特徴とする請求項1〜5のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体。
  7. 前記下地層はCrまたはbcc構造を有するCr合金からなることを特徴とする請求項1〜6のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体。
  8. 前記下地層と記録層との間にhcp構造を有するCo−X2合金からなる中間層をさらに備え、該X2がCr、Ta、Mo、Mn、Re、RuおよびHfからなる群のうち少なくとも一種からなることを特徴とする請求項1〜7のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体。
  9. 基板と、
    前記基板上に設けられた下地層と、
    前記下地層上に設けられた記録層と、を備え、
    前記記録層は、下地層側から第1の磁性層から第nの磁性層までが順に設けられたn層の磁性層からなり、
    前記第1の磁性層から第nの磁性層は、CoCrPtB合金を主成分とする強磁性材料からなり、
    前記第1の磁性層から第n−1の磁性層は、各々の直上の磁性層よりも、B含有量が多く、かつCr含有量が少ないことを特徴とする磁気記録媒体。
  10. 請求項1〜9のうち、いずれか一項記載の磁気記録媒体と、
    記録素子と磁気抵抗効果型再生素子とを有する記録再生手段と、を備える磁気記憶装置。
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