JP2006235727A - 電子機器及びその自己診断方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 入力端子i1〜i4への入力信号にデジタル信号処理を施して出力端子o1〜o4から出力させるためのデジタルシグナルプロセッサ14と、デジタルシグナルプロセッサ14を制御する上位プロセッサ15とを備え、動作確認時には、入力端子i1〜i4をそれぞれ出力端子o1〜o4のいずれかに接続し、上位プロセッサ15から、自己診断用プログラムとして、信号を発振して出力端子o1〜o4から出力させるとともに入力端子i1〜i4への入力信号に基づいて所定の測定項目の測定を行うプログラムを、デジタルシグナルプロセッサ14にダウンロードする。
【選択図】 図4
Description
・所定周波数の信号を発振していずれかの入力端子に入力させ、他のいずれかの入力端子への信号の入力レベルを求めることによるクロストーク測定。
・信号を発振していずれかの入力端子に入力させた場合のその入力端子への入力レベルと、その入力端子に信号を入力させなかった場合のその入力端子への入力レベルとの比を求めることによるS/N比測定。
・所定周波数の信号を発振していずれかの入力端子に入力させ、その入力端子への入力信号からその所定周波数の成分をデジタルフィルタ処理によって減衰させて残りの成分のレベルを求めることによる高調波歪測定。
・周波数を複数通りに切り替えつつ信号を発振していずれかの入力端子に入力させ、その入力端子への入力レベルを求めることによる周波数特性測定。
(1)レベル測定
(2)アナログ入出力端子についてのクロストーク測定
(3)アナログ入出力端子についてのS/N比測定
(4)アナログ入出力端子についての高調波歪(THD)測定
(5)アナログ入出力端子についての周波数特性測定
Claims (7)
- 複数の入力端子と、
複数の出力端子と、
前記入力端子への入力信号にデジタル信号処理を施して前記出力端子から出力させるためのデジタルシグナルプロセッサと、
前記デジタルシグナルプロセッサを制御する上位プロセッサと
を備え、
動作確認時には、前記入力端子をそれぞれ前記出力端子のいずれかに接続し、前記上位プロセッサから、自己診断用プログラムとして、信号を発振して前記出力端子から出力させるとともに前記入力端子への入力信号に基づいて所定の測定項目の測定を行うプログラムを、前記デジタルシグナルプロセッサにダウンロードすることを特徴とする電子機器。 - 請求項1に記載の電子機器において、
前記所定の測定項目は、所定周波数の信号を発振していずれかの前記入力端子に入力させ、他のいずれかの前記入力端子への信号の入力レベルを求めることによるクロストーク測定を含むことを特徴とする電子機器。 - 請求項1に記載の電子機器において、
前記所定の測定項目は、信号を発振していずれかの前記入力端子に入力させた場合の該入力端子への入力レベルと、該入力端子に信号を入力させなかった場合の該入力端子への入力レベルとの比を求めることによるS/N比測定を含むことを特徴とする電子機器。 - 請求項1に記載の電子機器において、
前記所定の測定項目は、所定周波数の信号を発振していずれかの前記入力端子に入力させ、該入力端子への入力信号から前記所定周波数の成分をデジタルフィルタ処理によって減衰させて残りの成分のレベルを求めることによる高調波歪測定を含むことを特徴とする電子機器。 - 請求項1に記載の電子機器において、
前記所定の測定項目は、周波数を複数通りに切り替えつつ信号を発振していずれかの前記入力端子に入力させ、該入力端子への入力レベルを求めることによる周波数特性測定を含むことを特徴とする電子機器。 - 請求項1に記載の電子機器において、
前記入力端子への入力信号のゲインを調節するアンプをさらに備えており、
前記自己診断用プログラムは、前記アンプのゲインが高い場合には発振する信号のレベルを下げさせ、前記アンプのゲインが低い場合には発振する信号のレベルを上げさせることを特徴とする電子機器。 - 複数の入力端子と、
複数の出力端子と、
前記入力端子への入力信号にデジタル信号処理を施して前記出力端子から出力させるためのデジタルシグナルプロセッサと、
前記デジタルシグナルプロセッサを制御する上位プロセッサと
を備えた電子機器の自己診断方法において、
前記入力端子をそれぞれ前記出力端子のいずれかに接続し、前記上位プロセッサから、自己診断用プログラムとして、信号を発振して前記出力端子から出力させるとともに前記入力端子への入力信号に基づいて所定の測定項目の測定を行うプログラムを、前記デジタルシグナルプロセッサにダウンロードすることを特徴とする自己診断方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005045747A JP2006235727A (ja) | 2005-02-22 | 2005-02-22 | 電子機器及びその自己診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005045747A JP2006235727A (ja) | 2005-02-22 | 2005-02-22 | 電子機器及びその自己診断方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2006235727A true JP2006235727A (ja) | 2006-09-07 |
Family
ID=37043341
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2005045747A Pending JP2006235727A (ja) | 2005-02-22 | 2005-02-22 | 電子機器及びその自己診断方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006235727A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016045215A (ja) * | 2014-08-19 | 2016-04-04 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置及びその故障検出方法 |
-
2005
- 2005-02-22 JP JP2005045747A patent/JP2006235727A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2016045215A (ja) * | 2014-08-19 | 2016-04-04 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置及びその故障検出方法 |
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