JP2006224142A - レーザ走査装置およびレーザマーキング装置、ならびにレーザマーキング方法 - Google Patents

レーザ走査装置およびレーザマーキング装置、ならびにレーザマーキング方法 Download PDF

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博敏 早川
Yasushi Yoshida
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Abstract

【課題】慣性が大きいステージを使用することなく高速なレーザビーム走査を可能とするとともに、装置構成上の部品点数が少なく簡便で、且つ、温度、湿度の影響を受け難く正確で精密なレーザマーキング、またはレーザ加工を可能とするレーザ走査装置、レーザマーキング装置、およびレーザマーキング方法装置を提供する。
【解決手段】ガルバノスキャナのミラー18の背面に照射される光線40の光源5と、ガルバノスキャナのミラー18の背面で反射した光線41の位置を検出する半導体位置検出素子を用いた位置検出器601を備えた。
【選択図】図1

Description

本発明は、半導体ウェハ、液晶パネルおよび機械部品等に文字、数字、図形、バーコードおよび2次元コード等をレーザによってマーキングするためのレーザ走査装置およびレーザマーキング装置、ならびにレーザマーキング方法に関するものである。
従来のレーザ走査装置およびレーザマーキング装置として、例えば、ガラス基板の表面にアブレーションによる凹部を形成してマーキングを行うようにしたものがある(例えば、特許文献1参照)。
また、ミラーを高速かつ高精度に位置決めするようにしたものがある(例えば、特許文献2参照)。
図4は、特許文献1に開示されている従来のレーザマーキング装置を示す構成図である。
図4において、1はレーザ発振器、2はビーム整形光学系、301は70%以上の反射率を持つ固定ミラー、302は全反射ミラー、4はスキャン光学系としてのポリゴンミラー、5は投光器、6は受光センサ、7はモニタ、8は集光光学系、9はガスノズル、10は被加工物であるガラス基板、11はステージ、13はコントローラである。
先ず、図4を参照しながら特許文献1に開示されている従来技術のレーザマーキング装置の構成について説明する。
レーザ発振器1は、CO2レーザ、若しくは固体レーザ等であって、赤外の波長領域に発振波長を有するレーザ発振器である。レーザ発振器1からのレーザは、ビーム整形光学系2、固定ミラー301、全反射ミラー302で反射し、ポリゴンミラー4に入射する。固定ミラー301の後方には、その透過光を検出するモニタ7が設けられている。モニタ7は、パルス状のレーザのエネルギ、パワー、ビームプロファイルのうちの1つあるいはこれらを組合せてモニタするもので、その出力はコントローラ13に送られる。ポリゴンミラー4には投光器5からの光が照射され、その反射光を受光センサ6で検出することにより、反射角度の変化に応じたポリゴンミラー4の回転位置を検出し、回転位置検出信号をコントローラ13に出力する。
受光センサ6は、フォトダイオード、フォトダイオードアレイや半導体位置検出素子(Position Sensitive Detector:以降、PSD素子と称す)などの受光素子が用いられる。集光光学系8としては、一枚の凸レンズ、組合せレンズ、fθレンズ等が用いられる。ステージ11は、水平方向に関して一軸方向あるいは互いに直交する二軸方向の移動が可能な駆動機構を備えている。ステージ11にはその位置を検出するための位置センサが設けられ、その検出信号はコントローラ13に送られる。また、ガラス基板10上の被加工領域にNガスを吹き付けるガスノズル9が設けられる。
次に、図4を参照しながら特許文献1で開示された従来技術のレーザマーキング装置におけるマーキング動作について説明する。
レーザ発振器1からのパルス状のレーザビームは、ビーム整形光学系2により所望のレーザ光量を持つレーザビームに整形され、固定ミラー301、全反射ミラー302を経由してポリゴンミラー4に入射する。ポリゴンミラー4は、入射したパルス状のレーザビームをガラス基板10の被加工領域において直線的に振らせることで、いわば一軸方向のドット状の走査を行う。この一軸方向の走査と合わせてステージ11は一軸方向(上記の一軸方向と直角な方向)あるいは二軸方向に駆動される。ポリゴンミラー4の回転速度制御、ステージ11の駆動制御は、受光センサ6の検出結果を用いてコントローラ13がポリゴンミラー4の一枚分のミラーの回転(図4のような8枚のミラー場合、45°の回転角度)が終了すると、走査軌跡をずらすために、ステージ11を一軸方向あるいは二軸方向に所定距離だけ移動させるように制御する。ポリゴンミラー4の回転速度にもよるが、通常、数10kHzでのパルス照射による高速加工を行うことができるものである。コントローラ13はまた、モニタ7の検出結果を用いて、レーザ発振器1を制御してパルスの周期やパルスの幅を調整する。このようにして、ガラス基板10の被加工領域にパルス状のレーザをドット式に照射して所望の文字や記号等のマーキングがガラス基板10に行われるものである。
図5は、特許文献2に開示されている従来のレーザ加工装置を示す構成図である。
図5において、14は圧電素子駆動アンプ、15は圧電素子、16は駆動力伝達部材、17はミラー、18はガルバノミラー、19はガルバノスキャナモータ、20はガルバノスキャナ駆動アンプ、30は光学スキャナ、31はガルバノスキャナ、110は固定されたマーキングテーブルである。尚、図4と同じ説明符号のものは図4と同じ構成要素を示しているので符号の説明は省略する。
以下、図5を参照しながら特許文献2で開示された従来技術のレーザ加工装置の構成および動作について説明する。
このレーザ加工装置は、光学スキャナ30と、ガルバノスキャナ31とを光路中に直列に配置し、光学スキャナ30とガルバノスキャナ31によりレーザ光を同じ方向に偏向するように構成したものであり、コントローラ13によってシステム制御される。加工時には図に示していない上位コントローラからレーザビームの走査を一括制御するコントローラ13に目標値が送られる。コントローラ13は、光学スキャナ30およびガルバノミラー18を取り付けたガルバノスキャナモータ19(モータ内部には図示していないエンコーダが具備される)の現在位置と目標位置との偏差を演算し、その偏差に応じた駆動信号を圧電素子駆動アンプ14とガルバノスキャナ駆動アンプ20に出力する。これに応じて、圧電素子駆動アンプ14とガルバノスキャナ駆動アンプ20はそれぞれのスキャナへ駆動電圧または駆動電流を出力する。コントローラ13は受光センサ6から出力される角度信号により各スキャナの時々刻々の位置を把握し、両者を協調動作させて目標値に短時間で到達するように駆動信号を制御するものである。そして、目標値に達すると、レーザ発射指令により加工用レーザ発振器1からレーザビームが発射され、被加工物10に照射される。
この従来技術のスキャナシステムは、ガルバノスキャナシステムと比較して、偏向角は小さいが応答は速いという特徴を持つので、このようにスキャナを組合せることにより、特に小ストロークの加工の繰り返しにおいて、レーザ照射点の位置決めを高速に行うことができる。なお、ここで開示されている光学スキャナ30は、圧電素子駆動アンプ14からの出力電圧を圧電素子15が受け、圧電素子15が伸縮するととも駆動力伝達部材16が直線運動し、この直線運動をミラー17の端面近くに伝え、中心に回転軸を有するミラー17を回転させ、レーザ発振器1からレーザビームを偏向させるものである。
特開平11−33752号公報(第3−4頁、第1図) 特開2004−74166号公報(第12頁、第10図)
しかしながら、特許文献1に開示された従来技術は、ポリゴンミラーとともに移動するステージが設けられているが、ステージの慣性が大きいため高速に動かすことが出来ないという問題があった。特に、ステージを繰り返しの直線動作させる場合など、ステージの慣性の影響を大きく受けステージの停止に時間がかかり、結果として高速かつ精密なマーキングができないという問題があった。
また、特許文献2に開示された従来技術は、一軸方向の移動に対して光学スキャナとガルバノスキャナの2つのアクチュエータでレーザビームを偏向することになり、装置構成上部品点数が増え複雑であった。また、圧電素子14は、強誘電体膜を積層構造にしたアクチュエータが使用され、温度、湿度の影響を受け、圧電素子駆動アンプ14から同じ出力を受けても、圧電素子14の伸縮量が変化し、マーキング、若しくは加工中に圧電素子14の伸縮量が変化し、正確な位置決めのもとで加工できないという問題もあった。また、ガルバノスキャナ31は、通常、ガルバノスキャナモータ19に内蔵される静電式の位置決めセンサ(エンコーダ)の位置信号に基づいて位置決めされるため、圧電素子15と同様に温度、湿度の影響を受けやすく、正確な回転角度の位置決めができないという問題があった。
本発明はこのような問題点に鑑みてなされたものであり、慣性が大きいステージを使用することなく高速なレーザビーム走査を可能とするとともに、装置構成上の部品点数が少なく簡便で、且つ、温度、湿度の影響を受け難く正確で精密なレーザマーキング、またはレーザ加工を可能とするレーザ走査装置、レーザマーキング装置、およびレーザマーキング方法装置を提供することを目的とするものである。
上記問題を解決するため、本発明は、次のように構成したのである。
請求項1に記載の発明は、ガルバノスキャナモータと、前記ガルバノスキャナモータの出力軸にミラーを備え、レーザを前記ミラーに照射し前記レーザを偏向させるレーザ走査装置において、前記ミラーの背面に照射される光線の光源と、前記ミラーの背面で反射した光線の位置を検出する位置検出器と、を備えたことを特徴とするものである。
また、請求項2に記載の発明は、請求項1記載のレーザ走査装置において、前記位置検出器は、PSD素子を用いたものからなることを特徴とするものである。
また、請求項3に記載の発明は、ミラーを備えたガルバノスキャナモータを少なくとも2軸具備し、レーザを前記ミラーに照射し、前記レーザを偏向させ被マーキング材に照射し前記被マーキング材にマークを施すレーザマーキング装置において、前記ミラーの背面に照射される光線の光源と、前記ミラーの背面で反射した光線の位置を検出する位置検出器と、を備えたことを特徴とするものである。
また、請求項4に記載の発明は、請求項2記載のレーザマーキング装置において、前記位置検出器は、PSD素子を用いたものからなることを特徴とするものである。
また、請求項5に記載の発明は、ミラーを備えたガルバノスキャナモータを少なくとも2軸具備し、レーザを前記ミラーに照射し、前記レーザを偏向させ被マーキング材に照射し前記被マーキング材にマークを施すレーザマーキング方法において、請求項1または2に記載した該位置検出器が出力する位置信号が所定の値に達したときレーザを前記被マーキング材に照射するようにしたことを特徴とするものである。
請求項1に記載の発明によると、移動ステージを必要としないレーザ走査装置を実現することができ、高速な加工、マーキングを可能とすることができる。また、レーザビームの一軸方向の偏向に光学スキャナとガルバノスキャナの2つのアクチュエータを使用する必要がないので簡便な装置を形成でき、さらに圧電素子を使用しない、および静電式の位置決めセンサ(エンコーダ)を使用しないため温度、湿度による影響を受け難く、したがって正確で精密な加工、マーキングを可能とするレーザ走査装置を実現することができる。
請求項2に記載の発明によると、PSD素子を使用するので連続な位置検出信号を得ることができ、精密位置決めを可能とするレーザ走査装置を実現することができる。
請求項3に記載の発明によると、移動ステージを必要としないレーザマーキング装置を実現することができ、高速な加工、マーキングを可能とすることができる。また、レーザビームの一軸方向の偏向に光学スキャナとガルバノスキャナの2つのアクチュエータを使用する必要がないので簡便な装置を形成でき、さらに圧電素子を使用しない、および静電式の位置決めセンサ(エンコーダ)を使用しないため温度、湿度による影響を受け難く、したがって正確で精密なマーキングを可能とするレーザマーキング装置を実現することができる。
請求項4に記載の発明によると、PSD素子を使用するので連続な位置検出信号を得ることができ、精密位置決めを可能とするレーザマーキング装置を実現することができる。
請求項5に記載の発明によると、位置検出器の信号によりマーキング位置を決定するので正確で精密なマーキングを行うことができる。
以下、本発明の実施の形態について図に基づいて説明する。
図1は、本発明のレーザ走査装置を示す斜視図である。
図1において、5は投光器、18はガルバノスキャナのミラー、19はガルバノスキャナモータ、21はガルバノスキャナモータ19の出力軸、191はガルバノスキャナモータ19の電磁部、192はガルバノスキャナモータ19のエンコーダ部、40は光線(入射光)、41は光線(反射光)、500はレーザビーム(入射光)、510はレーザビーム(反射光)、601はPSD素子を用いた位置検出器である。
以下、図1を用いて本発明のレーザ走査装置の構成および動作を説明する。
ガルバノスキャナモータ19は、出力軸を揺動回転させる電磁部191と、回転角度を検出するエンコーダ部192からなる。さらに、図示していないレーザ発振器からのレーザビーム500が入射光としてミラー18に照射され、照射されたレーザビームは反射光510として被マーキング材、被加工材に照射される。また、投光器5からの光線40がミラー18の背面に照射され、その反射光41は位置検出器601のPSD素子に照射されるようになっている。
位置検出器601のPSD素子に入射する投光器5からの光線は、ミラー18が回転すると位置検出器601のPSD素子の照射点が移送し、ミラー18の回転角度を検出することができる。なお、PSD素子は半導体デバイスで、PSD素子上の光の照射位置を電流値として検出できるものである。
なお、本実施例では、投光器を使用したが、赤色レーザ等のレーザを光源に使用してもよい。
前述のような構成としているので、本実施例は、特許文献1のように被マーキング材、被加工材にレーザビームを照射するときにステージを必要とすることがない。さらに、本実施例は、ガルバノスキャナモータ19の負荷荷重はミラー18だけであり、従来技術と比較して格段に軽量であるため、レーザビームを高速に反復等の繰り返し運動させることができる。
また、特許文献2の従来技術では一軸方向にレーザビーム偏向させる場合、ガルバノスキャナおよびその駆動アンプに加え光学スキャナ、圧電素子駆動アンプを必要としたが、本実施例では、光学スキャナ、圧電素子駆動アンプを必要としない。よって、レーザビームを走査する装置としては、構成が簡単になり、しかも装置の価格も安価になり、実用上簡便なレーザ走査装置となる。また、圧電素子を使用しないため、光学スキャナのアクチュエータ自身が温度、湿度に影響されることがなく、正確な位置にレーザビームを走査することが可能となる。
さらに、本実施例は以下に示す格別顕著な効果もある。
すなわち、本実施例は、図1に示すように、投光器5からミラー18の背面に光線40を照射するようにしているため、投光器5とミラー18との間の距離、ならびにミラー18と位置検出器601のPSD素子の距離を、原理的に数メートル確保することが可能である。また、投光器5とミラー18との間、およびミラー18と位置検出器601のPSD素子の間に反射ミラーを数多く設置して光路の距離を長くすることによって、ミラー18の微小な角度の変化でもPSD素子上では十分に距離変化として検出することが可能となり、レーザビームを精密に走査することができる。
図2は、本発明のレーザマーキング装置を示す構成図である。
図2において、1は発信器、10は被加工材、110はマーキングテーブル、13はコントローラ、181、182はガルバノスキャナのミラー、1910、1920はガルバノスキャナモータ、201、202はガルバノスキャナ駆動アンプ、51、52は投光器、61、62はPSD素子を用いた位置検出器である。すなわち、本実施例は、第1実施例である図1に示したガルバノスキャナモータ19、ミラー18、投光器5およびPSD素子を用いた位置検出器601から成るレーザ走査装置を1セットとして、このレーザ走査装置を2セット具備したレーザマーキング装置である。
以下、図2を用いて、本発明のレーザマーキング装置の構成および動作を説明する。
本発明のレーザマーキング装置は、X軸用ガルバノスキャナ駆動アンプ202によって駆動されるガルバノスキャナモータ1920、Y軸用ガルバノスキャナ駆動アンプ201によって駆動されるガルバノスキャナモータ1910を具備する。ガルバノスキャナモータ1910およびガルバノスキャナモータ1920のそれぞれの出力軸にはレーザビームを反射するミラー181およびミラー182が具備されている。
また各ミラー181およびミラー182の背面には、投光器51および投光器52からの光線が照射され、それぞれ光線の反射光は位置検出器61のPSD素子および位置検出器62のPSD素子に入射される。
レーザ発振器1からの加工用またはマーキング用レーザビームは、ミラー182およびミラー181上を反射し、固定されたマーキングテーブル110上の被マーキング材、若しくは被加工材10に照射されるものである。
レーザビームの照射ポイントは、位置検出器61のPSD素子および位置検出器62のPSD素子により、その位置信号がコントローラ13に送られ、位置信号が所定の値に達したときにコントローラ13からレーザ発振器1にレーザビーム発射指令が送られる。
尚、ガルバノスキャナモータ1910およびガルバノスキャナモータ1920には、図1に示すようにそれぞれエンコーダ192を具備しており、コントローラ13に回転角度信号を送り、この回転角度信号によってガルバノスキャナモータをコントロールすることも可能である。
しかしながら、ガルバノスキャナモータのエンコーダは、静電エンコーダを使うことが多く、湿度の変化によって、位置信号がドリフトすることがあり、正確な位置決めができないという欠点があるため、マーキング時、若しくは加工時にはPSD素子からの位置信号を参照してマーキング、若しくは加工した方が良い。
また、ガルバノスキャナモータに具備する静電エンコーダは、ガルバノスキャナモータ内の温度上昇によっても、静電エンコーダ内にある誘電体の容量が変化し、この容量変化はそのまま回転角度信号のドリフトとなるので、ガルバノスキャナモータ内のエンコーダを除去し、単純にPSD素子の位置信号だけによってシステム全体をコントロールしても良い。
以上述べたように、本実施例に係るレーザマーキング装置およびレーザマーキング方法によれば、本実施例は、第1実施例である図1に示したガルバノスキャナモータ19、ミラー18、投光器5およびPSD素子を用いた位置検出器601から成るレーザ走査装置を1セットとして、このレーザ走査装置を2セット、すなわち第1および第2のレーザ走査装置を具備し、レーザ発振器から出力したレーザビームは第1のレーザ走査装置によって一軸方向に偏向され、偏向されたレーザビームは第2のレーザ走査装置によって第1のレーザ走査装置とは直角方向に偏向されるように構成しているので、光学スキャナが不要となり、簡単な構成でレーザマーキング装置を構築できる。
また、アクチュエータとして圧電素子を使用しないため、温度、湿度の影響を受け難いレーザマーキング装置を構築できる。尚、本実施例は第1および第2のレーザ走査装置でレーザマーキング装置を形成したが、必要に応じ第3のレーザ走査装置を追加し、使用してもよい。
図3は、本発明に使用したPSD素子の詳細を示す構成図である。
以下、図3を用いて本発明の第1実施例および第2実施例に使用したPSDの構成および原理を説明する。
PSD素子は半導体素子で、P層、I層、N層の3層構造であり、P層の両端には電極AおよびBが形成され、さらにその背面のN層の中心位置には電極Cが設けられているものである。入射光がPSD素子上のある点に入射されると、P層表面には電流IaおよびIbが流れ、これらを電極AおよびBで電流検出できるものである。このようにPSD素子の中心を原点とした場合、電流IaおよびIbは、次の2つの式(1)および(2)で表され、入射光の位置φaが検出できるものである。ただし、I=Ia+Ibである。
Ia=I×(L−φa)/2L ・・・・・(1)
Ib=I×(L+φa)/2L ・・・・・(2)
上述したPSD素子を用いることにより、サブミクロンの分解能で光線の照射位置を検出でき、図1における投光器5とミラー18との間の距離、ならびにミラー18と位置検出器601のPSD素子の距離を十分取ることで、24bitの精度でミラー18の角度変化を検出することが可能であり、また、投光器5はレーザを用いることで、光線の直向性の良い、高精度な位置検出が可能である。
本発明は、投光器からの光線を精度良く検出することができるので、レーザマーキング装置のほかレーザの反射光によって位置を検出する位置検出装置などの用途にも適用できる。
本発明のレーザ走査装置を示す斜視図 本発明のレーザマーキング装置を示す構成図 本発明に使用したPSD素子の詳細を示す構成図 従来のレーザマーキング装置を示す構成図 従来のレーザ加工装置を示す構成図
符号の説明
1 レーザ発振器
2 ビーム整形光学系
20 ガルバノスキャナ駆動アンプ
201、202 ガルバノスキャナ駆動アンプ
30 光学スキャナ
31 ガルバノスキャナ
301 固定ミラー
302 全反射ミラー
4 ポリゴンミラー
40 光線(入射光)
41 光線(反射光)
5、51、52 投光器
500 レーザビーム(入射光)
510 レーザビーム(反射光)
6 受光センサ
61、62、601 位置検出器
7 モニタ
8 集光光学系
9 ガスノズル
10 被マーキング材(被加工材)
110 マーキングテーブル
11 ステージ
13 コントローラ
14 圧電素子駆動アンプ
15 圧電素子
16 駆動力伝達部材
17 ミラー
18、181、182 ガルバノスキャナのミラー
19、1910、1920 ガルバノスキャナモータ、
191 モータの電磁部
192 モータのエンコーダ部

Claims (5)

  1. ガルバノスキャナモータ(19)と、前記ガルバノスキャナモータの出力軸(21)にミラー(18)を備え、レーザ(500)を前記ミラー(18)に照射し前記レーザを偏向させるレーザ走査装置において、
    前記ミラー(18)の背面に照射される光線(40)の光源(5)と、
    前記ミラー(18)の背面で反射した光線(41)の位置を検出する位置検出器(601)と、を備えたことを特徴とするレーザ走査装置。
  2. 前記位置検出器(601)は、半導体位置検出素子を用いたものからなることを特徴とする請求項1に記載のレーザ走査装置。
  3. ミラー(18)を備えたガルバノスキャナモータ(19)を少なくとも2軸具備し、レーザを前記ミラー(181、182)に照射し、前記レーザを偏向させ被マーキング材(10)に照射し前記被マーキング材にマークを施すレーザマーキング装置において、
    前記ミラー(181、182)の背面に照射される光線の光源(51、52)と、
    前記ミラー(181、182)の背面で反射した光線の位置を検出する位置検出器(61、62)と、を備えたことを特徴とするレーザマーキング装置。
  4. 前記位置検出器(61、62)は、半導体位置検出素子を用いたものからなることを特徴とする請求項3に記載のレーザマーキング装置。
  5. ミラー(18)を備えたガルバノスキャナモータ(19)を少なくとも2軸具備し、レーザを前記ミラー(181、182)に照射し、前記レーザを偏向させ被マーキング材(10)に照射し前記被マーキング材にマークを施すレーザマーキング方法において、
    請求項1または2に記載した該位置検出器(601、61、62)が出力する位置信号が所定の値に達したときレーザを前記被マーキング材(10)に照射するようにしたことを特徴とするレーザマーキング方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009131113A1 (ja) 2008-04-25 2009-10-29 独立行政法人理化学研究所 テラヘルツ波ビーム走査装置と方法
JP2010182847A (ja) * 2009-02-05 2010-08-19 Toshiba Corp 光伝送装置
JP2011174967A (ja) * 2010-02-23 2011-09-08 Mitsubishi Electric Corp ガルバノスキャナ装置とその制御方法
RU2457522C1 (ru) * 2011-03-02 2012-07-27 Государственное Научное Учреждение "Институт Физики Имени Б.И. Степанова Национальной Академии Наук Беларуси" Установка лазерной маркировки
CN106346136A (zh) * 2016-08-29 2017-01-25 广州创乐激光设备有限公司 一种倾斜连续打标装置及方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2009131113A1 (ja) 2008-04-25 2009-10-29 独立行政法人理化学研究所 テラヘルツ波ビーム走査装置と方法
US8121157B2 (en) 2008-04-25 2012-02-21 Riken Terahertz beam scanning apparatus and method thereof
JP2010182847A (ja) * 2009-02-05 2010-08-19 Toshiba Corp 光伝送装置
JP2011174967A (ja) * 2010-02-23 2011-09-08 Mitsubishi Electric Corp ガルバノスキャナ装置とその制御方法
RU2457522C1 (ru) * 2011-03-02 2012-07-27 Государственное Научное Учреждение "Институт Физики Имени Б.И. Степанова Национальной Академии Наук Беларуси" Установка лазерной маркировки
CN106346136A (zh) * 2016-08-29 2017-01-25 广州创乐激光设备有限公司 一种倾斜连续打标装置及方法

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