JP2006218495A - 中子、残砂検出方法および残砂検出装置 - Google Patents
中子、残砂検出方法および残砂検出装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006218495A JP2006218495A JP2005033416A JP2005033416A JP2006218495A JP 2006218495 A JP2006218495 A JP 2006218495A JP 2005033416 A JP2005033416 A JP 2005033416A JP 2005033416 A JP2005033416 A JP 2005033416A JP 2006218495 A JP2006218495 A JP 2006218495A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sand
- detection
- fluorescent
- casting
- core
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Molds, Cores, And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
【解決手段】残砂検出装置1に、シリンダヘッド15の表面に紫外線、X線または電子線を照射する照射手段2と、蛍光砂12が発する可視光または紫外線を検出する検出手段3と、を具備し、蛍光体を被覆した蛍光砂12を少なくとも一部に含む中子10をシリンダヘッド15から除去した後に、シリンダヘッド15の表面に残留した蛍光砂12を検出する。
【選択図】図2
Description
このような中子のうち、砂等の粉粒体(粉体、粒体またはこれらの混合物)をバインダー等を用いて所定の形状に成形した、いわゆる崩壊性の中子を形成する代表的な方法としては、(1)シェルモールド法、(2)RCS法等が挙げられる。
(1)シェルモールド法は砂(乾燥骨材)とフェノール樹脂とヘキサミン(ヘキサメチレンテトラミン)との混合物を約250℃に加熱した金型上に供給し、金型の熱によりフェノール樹脂を溶融するとともにヘキサミンの熱分解により生じたホルムアルデヒドによりフェノール樹脂の重合度を高めて砂粒同士を融着させることにより、殻状の中子を形成する方法である。
(2)RCS(Resin Coated Sand)法は、金型上に砂とフェノール樹脂とヘキサミンとの混合物を供給する際の粉塵の発生、砂とフェノール樹脂の比重差に起因する偏析等のシェルモールド法の問題点を解消したものであり、砂(乾燥骨材)と液状または溶融フェノール樹脂とヘキサミンとを加熱混練して砂粒の表面にフェノール樹脂とヘキサミンを均一に分散、被覆し、次いでフェノール樹脂の融点以下の温度でこれらの混練を続けることにより、樹脂被覆砂粒、すなわちRCSを形成し、該RCSを約250℃に加熱した金型に供給することにより殻状の中子を形成する方法である。
そして、残砂は鋳物の製品品質の低下の原因となり得るため、鋳物の表面に残留する残砂の有無を作業者が目視で検査、除去している。
砂に蛍光体を被覆して形成した蛍光砂を少なくとも一部に含むものである。
砂に蛍光体を被覆して蛍光砂を形成する蛍光砂形成工程と、
該蛍光砂を少なくとも一部に含む中子を形成する中子形成工程と、
該中子を用いて所定の形状の鋳物を鋳造する鋳造工程と、
該鋳物から該中子を除去する中子除去工程と、
該鋳物の表面に紫外線、X線または電子線を照射し、該鋳物の表面に残留する蛍光砂が発する可視光または紫外線を検出する残砂検出工程と、
を具備するものである。
蛍光体を被覆した蛍光砂を少なくとも一部に含む中子を鋳物から除去した後に、該鋳物の表面に残留した蛍光砂を検出する残砂検出装置であって、
該鋳物の表面に紫外線、X線または電子線を照射する照射手段と、
該蛍光砂が発する可視光または紫外線を検出する検出手段と、
を具備するものである。
前記照射手段は、
所定の波長の紫外線、X線または電子線を発生させる光源と、
該光源により発生した所定の波長の紫外線、X線または電子線を伝送し、前記鋳物の表面に照射する照射側ライトガイドと、
を具備するものである。
前記照射側ライトガイドはリキッドライトガイドであるものである。
前記検出手段は、
前記鋳物の表面に残留した蛍光砂が発する可視光または紫外線を伝送する検出側ライトガイドと、
該検出側ライトガイドにより伝送された可視光または紫外線の量を検出するフォトンカウンターと、
を具備するものである。
前記検出手段は、
複数の前記検出側ライトガイドを具備する場合において、
該複数の検出側ライトガイドと前記フォトンカウンターとの間に配置され、該複数の検出側ライトガイドが伝送する可視光または紫外線をそれぞれ遮断または通過するように切り替え可能とするシャッターを具備するものである。
前記検出手段は、
前記検出側ライトガイドと前記フォトンカウンターとの間に配置され、前記蛍光砂が発する可視光または紫外線を選択的に通過させるフィルターと、該フィルターを通過した可視光または紫外線を増幅する光電子倍増管と、を具備する検出ヘッド、
を具備するものである。
前記検出側ライトガイドはリキッドライトガイドであるものである。
前記検出側ライトガイドの受光部に広角度のレンズを設けたものである。
前記検出手段はボアスコープを具備するものである。
前記ボアスコープの受光部に広角度のレンズを設けたものである。
また、鋳物の表面に残留する蛍光砂の検出に要する時間を短縮することが可能である。
ここで、本出願における「中子」は、鋳物を鋳造するための主たる鋳型の内部に設けられ、該鋳物のアンダーカット部や中空部に対応する部分等を成形するための別の鋳型を指すものとする。
また、「鋳物」は、鋳型に供給した溶湯を凝固させて所定の形状に成形したものを広く指すものとする。溶湯には、溶融状態の鋳鉄、アルミニウム、アルミニウム合金、銅、銅合金その他の金属の他、溶融状態の樹脂等も含まれる。
本出願における「崩壊性の中子」は、砂と、該砂を所定の形状に固めるためのバインダーと、を具備する中子を指すものとする。崩壊性の中子は、細かく砕く、すなわち崩壊させることにより鋳造後の鋳物から除去される。
砂の具体例としては、石英(SiO2)を主成分とする「山砂」や「珪砂」(日本工業規格:JIS G5901、JIS G5902を参照)、ジルコン砂(示成式:ZrSiO4)、炭素粒を主成分とするカーボン砂の他、カンラン石を破砕して得られるオリビン砂(示成式:(Mg,Fe)2SiO4)、造粒により作られたムライト系のセラミック砂、フェロニッケル鋼滓を風砕処理したもの等が挙げられる。
図1の(b)に示す如く、本実施例の中子10は、RCS11および蛍光砂12を含む。
また、本出願における「蛍光体」は、後述の具体例に限定されず、紫外線、X線、電子線等を照射すると所定の波長の可視光または紫外線を発する性質を有するものを全て含むものとする。
なお、中子10は鋳造時に鋳物に接触するものであるため、その温度が溶湯の温度付近まで上昇し、その後室温まで冷却される。従って、蛍光体は、このような温度変化を受けた後も紫外線、X線、電子線等を照射すると所定の波長の可視光または紫外線を発する性質を有することが求められる。そして、上記溶湯の温度は溶湯を構成する材料により異なるため、当該溶湯を構成する材料に応じて蛍光体を選択することが望ましい。
(a)紫外線を発する蛍光体
(Y,Sr)TaO4:Nb、BaSi2O5:Pb
(b)青色光を発する蛍光体
ZnS:Ag、3(Ba,Mg),8Al2O3:Eu、(Sr,Ca,Ba,Mg)10(PO4)6・Cl2:Eu、BaMgAl10O17:Eu、CaWO4
(c)青緑色光を発する蛍光体
3(Ba,Mg)O,8Al2O3:Eu,Mn、(Ba,Ca,Mg)10(PO4)6・Cl2:Eu
(d)緑色光を発する蛍光体
ZnS:Cu,Al、ZnS:Cu,Au,Al、(La,Ce)(P,B)O4:Ce,Tb、Zn2SiO4:Mn、Gd2O2S:Tb、Zn2SiO4:Mn、
(e)橙色光を発する蛍光体
ZnS:Cu,Mn、(Sr,Mg)3(PO4)2:Sn
(f)赤色光を発する蛍光体
Y2O2S、Y2O3:Eu、(Y,Gd)BO3:Eu、3.5MgO・0.5MgF2・GeO2:Mn
(g)白色光を発する蛍光体
Ca10(PO4)6FCl:Sb,Mn
なお、所定の粒径の蛍光体が分散された塗料(蛍光塗料)を砂粒の表面に塗布することによっても本出願における蛍光砂を得ることが可能である。
なお、RCS11と蛍光砂12とを混合する「所定の割合」は、後述の如く、中子10を鋳物から除去した後に鋳物の表面に残留する砂、すなわち残砂の量に応じて適宜選択することが望ましい。また、当該所定の割合は、蛍光砂12が100%の場合、すなわち中子10を構成する砂を全て蛍光砂12とする場合、も含まれる。
本実施例の残砂検出装置1は、蛍光砂12を少なくとも一部に含む中子10をシリンダヘッド15から除去した後にシリンダヘッド15の表面に残留した蛍光砂12を検出する装置であり、主として照射手段2、検出手段3、制御手段4等を具備する。
なお、本実施例においては、孔15a・15b・15c・15dがシリンダヘッド15の内部で連通しているものとする。
本実施例の照射手段2は主として光源21、照射側ライトガイド22等を具備する。
本実施例の照射側ライトガイド22は、単数の光ファイバーケーブル、または複数の光ファイバーケーブルを束ねたもの、の外周を被覆したものであり、その一端が光源21に接続され、他端は孔15dの内部に差し込まれている。照射側ライトガイド22は光源21により発生した所定の波長の紫外線、X線または電子線を伝送し、シリンダヘッド15の表面、特に孔15a・15b・15c・15dの内周面、すなわち中子10と接触していた部分およびその周囲に照射する。
なお、照射側ライトガイド22としては、コア材の屈折率をクラッド材の屈折率よりも高くした光ファイバーを用いたいわゆるポリマーライトガイドを用いることが可能であるが、コア部分を中空にして当該中空部分にクラッド材よりも屈折率が大きい液体を充填した光ファイバーを用いたいわゆるリキッドライトガイドを用いることが望ましい。
これは、リキッドライトガイドは波長の短い紫外線やX線、電子線の伝送時の損失が少ないため、シリンダヘッド15の表面により強い紫外線やX線、電子線を照射することが可能だからである。
検出手段3は主として検出側ライトガイド31・32・33、シャッター34、検出ヘッド35、フォトンカウンター36等を具備する。
これは、リキッドライトガイドは可視光や紫外線の伝送時の損失が少ないため、シリンダヘッド15の表面に残留した蛍光砂12の検出精度を向上させることが可能だからである。
従って、検出側ライトガイドを複数具備しない場合には、シャッター34を省略することも可能である。
検出ヘッド35は、検出側ライトガイド31・32・33と後述するフォトンカウンター36との間(より厳密には、シャッター34と後述するフォトンカウンター36との間)に配置される。
ここで、本出願における「蛍光砂が発する可視光または紫外線を選択的に通過させる」とは、蛍光砂が発する可視光または紫外線が通過する際の損失が、蛍光砂が発する可視光または紫外線に対応する波長以外の波長を持つ可視光または紫外線が通過する際の損失よりも相対的に小さいことを指すものとする。
本実施例の場合、検出側ライトガイド31・32・33により伝送された可視光または紫外線は、シャッター34を経て検出ヘッド35に到達し、検出ヘッド35にて可視光または紫外線の量に応じた電流パルス信号に変換される。そして、フォトンカウンター36は当該電流パルス信号に基づいて検出側ライトガイド31・32・33により伝送された可視光または紫外線の量を検出する。
制御手段4は主として制御部41、入力部42、表示部43等を具備する。
制御部41は、より具体的にはCPU、ROM、RAM、HDD等がバスで接続される構成であっても良く、あるいはワンチップのLSI等からなる構成であっても良い。
また、制御部41は専用品でも良いが、市販のパソコンやワークステーション等を用いて達成することも可能である。
入力部42は専用品でも良いが、市販のキーボードやタッチパネル等を用いて達成することも可能である。
表示部43は専用品でも良いが、市販のモニターや液晶ディスプレイ等を用いて達成することも可能である。
本実施例の残砂検出装置101は、蛍光砂12を少なくとも一部に含む中子10をシリンダヘッド15から除去した後にシリンダヘッド15の表面に残留した蛍光砂12を検出する装置であり、主として照射手段102、検出手段103、等を具備する。
照射手段102は主として光源121、照射側ライトガイド122等を具備する。光源121、照射側ライトガイド122の構成についてはそれぞれ上述の光源21、照射側ライトガイド22の構成と略同じである。
検出手段103は主としてボアスコープ131、モニター132等を具備する。
挿入部131aは細長い形状をしており、目視で確認することが困難な孔の内部等に挿入して該内部を観察する場合に適している。
なお、以下では便宜上、図2に示す残砂検出装置1を用いて説明する。
本実施例の場合、出発材となる砂と、バインダーとなる液状または溶融フェノール樹脂とヘキサミンと、蛍光体と、を加熱混練することにより砂粒の表面にフェノール樹脂とヘキサミンと蛍光体とを均一に分散、被覆して、蛍光砂12を形成する。
蛍光砂形成工程201が終了したら、中子形成工程202に移行する。
本実施例の場合、蛍光砂12、またはRCS11と蛍光砂12とを所定の割合で混合したもの、を所定の温度に加熱した金型上に供給することにより中子10を形成する。
中子形成工程202が終了したら、鋳造工程203に移行する。
本実施例の場合、中子10が内部に配置された図示せぬ鋳型の内部に溶湯を供給し、該溶湯を凝固させて所定の形状に成形することによりシリンダヘッド15を鋳造する。
鋳造工程203が終了したら、中子除去工程204に移行する。
本実施例の場合、中子10を細かく砕く、すなわち崩壊させることにより、シリンダヘッド15から中子10を除去する。中子10を崩壊させる方法の一例としては、シリンダヘッド15に振動を付与して中子10を崩壊させる方法が挙げられる。
中子除去工程204が終了したら、残砂検出工程205に移行する。
本実施例の場合、残砂検出装置1の照射手段2により中子10を除去したシリンダヘッド15の表面(より厳密には、孔15a・15b・15cの内周面等、中子10と接触していた部分およびその周囲)に紫外線、X線または電子線を照射し、残砂検出装置1の検出手段3によりシリンダヘッド15の表面に残留する蛍光砂12が発する可視光または紫外線を検出する。
砂に蛍光体を被覆して形成した蛍光砂12を少なくとも一部に含むものである。
このように構成することにより、中子10を用いて鋳造したシリンダヘッド15の表面に紫外線、X線または電子線を照射すると、該表面に残留している蛍光砂12は可視光または紫外線を発する。そのため、シリンダヘッド15の表面に残留する蛍光砂12を容易かつ確実に検出することが可能である。
砂に蛍光体を被覆して蛍光砂12を形成する蛍光砂形成工程201と、
蛍光砂12を少なくとも一部に含む中子10を形成する中子形成工程202と、
中子10を用いてシリンダヘッド15を鋳造する鋳造工程203と、
シリンダヘッド15から中子10を除去する中子除去工程204と、
シリンダヘッド15の表面に紫外線、X線または電子線を照射し、シリンダヘッド15表面に残留する蛍光砂12が発する可視光または紫外線を検出する残砂検出工程205と、
を具備するものである。
このように構成することにより、シリンダヘッド15の表面に残留する蛍光砂12を容易かつ確実に検出することが可能である。
蛍光体を被覆した蛍光砂12を少なくとも一部に含む中子10をシリンダヘッド15から除去した後に、シリンダヘッド15の表面に残留した蛍光砂12を検出する残砂検出装置であって、
シリンダヘッド15の表面に紫外線、X線または電子線を照射する照射手段2(照射手段102)と、
蛍光砂12が発する可視光または紫外線を検出する検出手段3(検出手段103)と、
を具備するものである。
このように構成することにより、シリンダヘッド15の表面に残留する蛍光砂12を容易かつ確実に検出することが可能である。
所定の波長の紫外線、X線または電子線を発生させる光源21(光源121)と、
光源21(光源121)により発生した所定の波長の紫外線、X線または電子線を伝送し、シリンダヘッド15の表面に照射する照射側ライトガイド22(照射側ライトガイド122)と、
を具備するものである。
このように構成することにより、シリンダヘッド15の表面、特に中子10と接触していた部分およびその周囲の形状が複雑な場合でも、確実に所定の波長の紫外線、X線または電子線を照射することが可能である。
このように構成することにより、紫外線やX線、電子線の伝送時の損失が少なく、シリンダヘッド15の表面により強い紫外線やX線、電子線を照射することが可能である。
シリンダヘッド15の表面に残留した蛍光砂12が発する可視光または紫外線を伝送する検出側ライトガイド31・32・33と、
検出側ライトガイド31・32・33により伝送された可視光または紫外線の量を検出するフォトンカウンター36と、
を具備するものである。
このように構成することにより、シリンダヘッド15の表面に残留する蛍光砂12を容易かつ確実に検出することが可能である。
また、シリンダヘッド15の表面に残留する蛍光砂12の検出に要する時間を短縮することが可能である。
さらに、シリンダヘッド15の表面に残留する蛍光砂12の検出に要する時間を短縮することが可能であることから、シリンダヘッド15の製造工程に組み込んで全数検査に用いることが可能となり、シリンダヘッド15の品質向上に寄与する。
検出側ライトガイド31・32・33を具備する場合において、
検出側ライトガイド31・32・33とフォトンカウンター36との間に配置され、検出側ライトガイド31・32・33が伝送する可視光または紫外線をそれぞれ遮断または通過するように切り替え可能とするシャッター34を具備するものである。
このように構成することにより、シリンダヘッド15の表面の複数の箇所に残留する蛍光砂12を検出する場合に、その都度検出側ライトガイドの位置を変えて検出する必要が無く、作業性に優れる。
検出側ライトガイド31・32・33とフォトンカウンター36との間に配置され、蛍光砂12が発する可視光または紫外線を選択的に通過させるフィルター35aと、フィルター35aを通過した可視光または紫外線を増幅する光電子倍増管35bと、を具備する検出ヘッド35、
を具備するものである。
このように構成することにより、蛍光砂12が発する可視光または紫外線が微弱な場合でもこれを確実に検出することが可能である。
このように構成することにより、可視光や紫外線の伝送時の損失が少ないため、シリンダヘッド15の表面に残留した蛍光砂12の検出精度を向上させることが可能である。
このように構成することにより、検出側ライトガイド31・32・33の視野角、すなわち蛍光砂12の発する可視光または紫外線を受光可能な範囲が広くなり、より確実にシリンダヘッド15の表面に残留した蛍光砂12を検出することが可能である。
このように構成することにより、シリンダヘッド15の表面に残留する蛍光砂12を容易かつ確実に検出することが可能である。
このように構成することにより、ボアスコープ131の視野角、すなわち蛍光砂12の発する可視光または紫外線を受光可能な範囲が広くなり、より確実にシリンダヘッド15の表面に残留した蛍光砂12を検出することが可能である。
2 照射手段
3 検出装置
10 中子
12 蛍光砂
15 シリンダヘッド(鋳物)
Claims (12)
- 砂に蛍光体を被覆して形成した蛍光砂を少なくとも一部に含むことを特徴とする中子。
- 砂に蛍光体を被覆して蛍光砂を形成する蛍光砂形成工程と、
該蛍光砂を少なくとも一部に含む中子を形成する中子形成工程と、
該中子を用いて所定の形状の鋳物を鋳造する鋳造工程と、
該鋳物から該中子を除去する中子除去工程と、
該鋳物の表面に紫外線、X線または電子線を照射し、該鋳物の表面に残留する蛍光砂が発する可視光または紫外線を検出する残砂検出工程と、
を具備することを特徴とする残砂検出方法。 - 蛍光体を被覆した蛍光砂を少なくとも一部に含む中子を鋳物から除去した後に、該鋳物の表面に残留した蛍光砂を検出する残砂検出装置であって、
該鋳物の表面に紫外線、X線または電子線を照射する照射手段と、
該蛍光砂が発する可視光または紫外線を検出する検出手段と、
を具備することを特徴とする残砂検出装置。 - 前記照射手段は、
所定の波長の紫外線、X線または電子線を発生させる光源と、
該光源により発生した所定の波長の紫外線、X線または電子線を伝送し、前記鋳物の表面に照射する照射側ライトガイドと、
を具備することを特徴とする請求項3に記載の残砂検出装置。 - 前記照射側ライトガイドはリキッドライトガイドであることを特徴とする請求項4に記載の残砂検出装置。
- 前記検出手段は、
前記鋳物の表面に残留した蛍光砂が発する可視光または紫外線を伝送する検出側ライトガイドと、
該検出側ライトガイドにより伝送された可視光または紫外線の量を検出するフォトンカウンターと、
を具備することを特徴とする請求項3から請求項5までのいずれか一項に記載の残砂検出装置。 - 前記検出手段は、
複数の前記検出側ライトガイドを具備する場合において、
該複数の検出側ライトガイドと前記フォトンカウンターとの間に配置され、該複数の検出側ライトガイドが伝送する可視光または紫外線をそれぞれ遮断または通過するように切り替え可能とするシャッターを具備することを特徴とする請求項6に記載の残砂検出装置。 - 前記検出手段は、
前記検出側ライトガイドと前記フォトンカウンターとの間に配置され、前記蛍光砂が発する可視光または紫外線を選択的に通過させるフィルターと、該フィルターを通過した可視光または紫外線を増幅する光電子倍増管と、を具備する検出ヘッド、
を具備することを特徴とする請求項6または請求項7に記載の残砂検出装置。 - 前記検出側ライトガイドはリキッドライトガイドであることを特徴とする請求項6から請求項8までのいずれか一項に記載の残砂検出装置。
- 前記検出側ライトガイドの受光部に広角度のレンズを設けたことを特徴とする請求項6から請求項9までのいずれか一項に記載の残砂検出装置。
- 前記検出手段はボアスコープを具備することを特徴とする請求項3から請求項5までのいずれか一項に記載の残砂検出装置。
- 前記ボアスコープの受光部に広角度のレンズを設けたことを特徴とする請求項11に記載の残砂検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005033416A JP2006218495A (ja) | 2005-02-09 | 2005-02-09 | 中子、残砂検出方法および残砂検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005033416A JP2006218495A (ja) | 2005-02-09 | 2005-02-09 | 中子、残砂検出方法および残砂検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006218495A true JP2006218495A (ja) | 2006-08-24 |
Family
ID=36981145
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005033416A Pending JP2006218495A (ja) | 2005-02-09 | 2005-02-09 | 中子、残砂検出方法および残砂検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006218495A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008256683A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-23 | Honda Motor Co Ltd | 冷却剤通路検査装置及び車両用シリンダヘッド冷却剤通路の詰まり検知方法 |
JP2010208131A (ja) * | 2009-03-10 | 2010-09-24 | Daicel Polymer Ltd | 樹脂成形加工機用の洗浄用樹脂組成物 |
CN102287251A (zh) * | 2010-06-16 | 2011-12-21 | 丰田自动车株式会社 | 排气冷却用接合器 |
JP2015219303A (ja) * | 2014-05-15 | 2015-12-07 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 画像形成装置 |
JP2016057405A (ja) * | 2014-09-08 | 2016-04-21 | オリンパス株式会社 | 多光子励起型観察システム |
JP2016071160A (ja) * | 2014-09-30 | 2016-05-09 | オリンパス株式会社 | レーザ走査型顕微鏡 |
-
2005
- 2005-02-09 JP JP2005033416A patent/JP2006218495A/ja active Pending
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008256683A (ja) * | 2007-03-30 | 2008-10-23 | Honda Motor Co Ltd | 冷却剤通路検査装置及び車両用シリンダヘッド冷却剤通路の詰まり検知方法 |
JP4629120B2 (ja) * | 2007-03-30 | 2011-02-09 | 本田技研工業株式会社 | 冷却剤通路検査装置及び車両用シリンダヘッド冷却剤通路の詰まり検知方法 |
JP2010208131A (ja) * | 2009-03-10 | 2010-09-24 | Daicel Polymer Ltd | 樹脂成形加工機用の洗浄用樹脂組成物 |
CN102287251A (zh) * | 2010-06-16 | 2011-12-21 | 丰田自动车株式会社 | 排气冷却用接合器 |
JP2012002127A (ja) * | 2010-06-16 | 2012-01-05 | Toyota Motor Corp | 排気冷却用アダプタ |
JP2015219303A (ja) * | 2014-05-15 | 2015-12-07 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 画像形成装置 |
JP2016057405A (ja) * | 2014-09-08 | 2016-04-21 | オリンパス株式会社 | 多光子励起型観察システム |
JP2016071160A (ja) * | 2014-09-30 | 2016-05-09 | オリンパス株式会社 | レーザ走査型顕微鏡 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2006218495A (ja) | 中子、残砂検出方法および残砂検出装置 | |
JP7049112B2 (ja) | 水ガラスを含有するバインダーを用いて鋳型および中子を逐次層構築するための方法ならびに水ガラスを含有するバインダー | |
JP3955479B2 (ja) | 溶接型枠アセンブリ | |
EP2799835B1 (de) | Probennehmer und Verfahren zur Probenentnahme | |
JP5594924B2 (ja) | 蛍光体、蛍光体含有組成物、発光装置、画像表示装置、照明装置、及び蛍光体の製造方法 | |
KR20200067953A (ko) | 3차원(3d) 인쇄 | |
CN108025915A (zh) | 负热膨胀材料和含有该负热膨胀材料的复合材料 | |
EP1731258A1 (en) | Submerged arc flux | |
CN110446563B (zh) | 用于铸造工业的包含颗粒状的、无定形二氧化硅和酸的涂料组成 | |
JP5292723B2 (ja) | 蛍光体の製造方法 | |
KR101967929B1 (ko) | Fe-P 합금철의 XRF 성분분석용 글래스비드(Glassbead) 제조방법 | |
EP3153562B1 (en) | Neutron scintillator and neutron detector | |
CN107735372A (zh) | 烧结成形体及其制造方法、具备烧结成形体的物品、烧结成形体用材料以及烧结前成形体及其制造方法 | |
CN104781691A (zh) | 放射线检测装置以及其制造方法 | |
JPWO2014123198A1 (ja) | 窒化物蛍光体とその製造方法 | |
EA038380B1 (ru) | Применение обмазывающей композиции, содержащей кислоту, в литейной промышленности | |
EA038375B1 (ru) | Обмазочная композиция, содержащая органические сложноэфирные соединения и дисперсный аморфный диоксид кремния для применения в литейной промышленности | |
EP2463251A1 (en) | Methods of incorporating materials of interest in glass optical waveguides | |
Imashuku et al. | Simple identification of Al2O3 and MgO· Al2O3 spinel inclusions in steel using X‐ray‐excited optical luminescence | |
JP4406451B2 (ja) | 高レベル放射性廃液のガラス溶融方法 | |
CN101360805A (zh) | 荧光体原料和荧光体原料用合金的制造方法 | |
CN101972905B (zh) | 自蔓延钎焊热源药粉、自蔓延钎焊装置及其制备方法 | |
JP5875862B2 (ja) | 離型剤 | |
JP2017508710A (ja) | 改善された流動性を有する耐火物 | |
JP5980612B2 (ja) | 骨材粒子およびその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20070425 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090831 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20090908 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20091016 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20091124 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |