JP2006210873A - Manufacturing method of partial build up wiring board - Google Patents

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JP2006210873A JP2005249888A JP2005249888A JP2006210873A JP 2006210873 A JP2006210873 A JP 2006210873A JP 2005249888 A JP2005249888 A JP 2005249888A JP 2005249888 A JP2005249888 A JP 2005249888A JP 2006210873 A JP2006210873 A JP 2006210873A
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Toshiyuki Suzuki
俊之 鈴木
Satoru Nakao
知 中尾
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of manufacturing a partial build up wiring board capable of removing a build up resin layer on a flexible layer while suppressing increase of processes or effect on a circuit board to minimum. <P>SOLUTION: A conductor layer 3 is formed on one side on a rigid layer 1. A slit 5 is formed at the part corresponding to a flexible layer 7 of the rigid layer 1. The rigid layer 1 is laminated on the flexible layer 7. A part of the conductor layer is so left as a lid as to stop the slit. A build up resin layer17 is formed on the rigid layer 1. The build up resin layer 17 and the conductor layer 3 positioned above the slit 5 are removed to open the slit 5. The build up resin layer 17 and the rigid layer 1 positioned above the flexible layer 7 are removed. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、部分ビルドアップ配線板の製造方法に関し、特に、フレキシブル配線板(コア基板)の部分領域に、エポキシ樹脂等によるビルドアップ樹脂層をビルドアップ法によって形成する部分ビルドアップ配線板の製造方法に関する。   The present invention relates to a method for manufacturing a partial buildup wiring board, and in particular, manufacturing a partial buildup wiring board in which a buildup resin layer made of epoxy resin or the like is formed in a partial region of a flexible wiring board (core substrate) by a buildup method. Regarding the method.

近年の電子機器の軽薄短小化、半導体チップや部品の小型化、端子の狭ピッチ化に伴い、プリント配線板(配線基板)では、実装面積の縮小や配線の精細化が進んでいる。同時に、情報関連機器では、信号周波数の広帯域化に対応して部品間を連結する配線の短距離化が求められており、高密度、高性能を達成するためのプリント配線板の多層化は必要不可欠となっている。   In recent years, electronic devices have become smaller and lighter, semiconductor chips and components have been downsized, and the pitch of terminals has been narrowed. In printed wiring boards (wiring boards), the mounting area has been reduced and the wiring has been refined. At the same time, in information-related equipment, it is required to shorten the distance of wiring connecting parts in response to the widening of signal frequency, and it is necessary to increase the number of printed wiring boards to achieve high density and high performance. It has become indispensable.

多層配線基板の中でも、携帯電話機、DVC(デジタルビデオカメラ)、DSC(デジタルスチルカメラ)等の小型電子機器において、狭い空間への3次元実装が可能なリジッドフレックス配線板(以下、リジッドフレックス回路基板ともいう。)の需要が急増している。また、さらなる高密度実装への要求から4〜6層のリジッドフレックス配線板または多層フレキシブル配線板をコア基板として上下1〜2層のビルドアップ層を形成した高密度基板が開発されている。   Among the multilayer wiring boards, a rigid flex wiring board (hereinafter referred to as a rigid flex circuit board) that can be three-dimensionally mounted in a narrow space in a small electronic device such as a mobile phone, a DVC (digital video camera), and a DSC (digital still camera). Demand is also increasing rapidly. Further, a high-density substrate having 1 to 2 build-up layers formed on the upper and lower layers using a 4 to 6-layer rigid flex wiring board or a multilayer flexible wiring board as a core substrate has been developed to meet the demand for higher density mounting.

リジッドフレックス配線板または多層フレキシブル配線板は、片面もしくは両面フレキシブルPWB(プリント配線板)をベースボードとして部品を搭載する箇所を部分的に多層化し、これら部品を搭載した基板多層部同士をフレキシブルPWBによって電気的に接続しているものがある。これを部分ビルドアップ配線板という。   Rigid-flex wiring boards or multilayer flexible wiring boards use single-sided or double-sided flexible PWB (printed wiring board) as a base board to partially layer parts where parts are mounted, and board multilayer parts mounted with these parts by flexible PWBs. Some are electrically connected. This is called a partial build-up wiring board.

ところで、リジッドフレックス回路基板は、ポリイミドフィルム等の柔らかい(フレキシブルな)材料に回路形成した基板にガラスエポキシ等の硬い(リジッドな)材料に回路形成した基板を積層している。このとき、上記硬い材料からなる基板の一部を開口して柔らかい材料からなる基板を露出させることにより、この柔らかい材料からなる基板によって屈曲可能とすることができる。このようなリジッドフレックス基板をコアとしてリジッド部にビルドアップ層を積層することにより、より配線密度の高い基板を作成することができる。   By the way, in the rigid flex circuit board, a substrate in which a circuit is formed on a hard (rigid) material such as glass epoxy is laminated on a substrate in which a circuit is formed on a soft (flexible) material such as polyimide film. At this time, by opening a part of the substrate made of the hard material and exposing the substrate made of the soft material, the substrate made of the soft material can be bent. By stacking a buildup layer on the rigid portion using such a rigid flex substrate as a core, a substrate with higher wiring density can be created.

従来のリジッドフレックス回路基板(部分ビルドアップ配線板)の製造方法を図10を参照して説明する。   A conventional method of manufacturing a rigid flex circuit board (partial buildup wiring board) will be described with reference to FIG.

図10に示すように、従来のリジッドフレックス回路基板は、フレキシブル層101の片面に銅箔層(導体パターン)103を形成し、この銅箔層103を形成したフレキシブル層101の片面全体にカバーレイフィルム105をラミネートする。なお、図10では、フレキシブル層101の片面にビルドアップする例を示しているが、実際にはフレキシブル層101の両面にビルドアップするようにしており、この場合の製造方法も同様である。   As shown in FIG. 10, in the conventional rigid flex circuit board, a copper foil layer (conductor pattern) 103 is formed on one surface of a flexible layer 101, and a cover layer is formed on the entire surface of the flexible layer 101 on which the copper foil layer 103 is formed. The film 105 is laminated. FIG. 10 shows an example in which build-up is performed on one side of the flexible layer 101, but in actuality, build-up is performed on both sides of the flexible layer 101, and the manufacturing method in this case is the same.

次に、部品を実装する多層部を形成するため、カバーレイフィルム105上の所定の位置(部分的領域)に接着層107を形成し、その上にガラスエポキシ等によるリジッド層109、銅箔層(導体パターン)103を形成する。その後、図示していないが、所定部位にスルーホールを形成し、スルーホールめっきによって層間の導通をとる。これにより、部分多層のリジッドフレックス回路基板のコア基板111を形成する。   Next, in order to form a multilayer part for mounting components, an adhesive layer 107 is formed at a predetermined position (partial region) on the coverlay film 105, and a rigid layer 109 made of glass epoxy or the like, a copper foil layer thereon, and the like. (Conductor pattern) 103 is formed. Thereafter, although not shown, a through hole is formed in a predetermined portion, and conduction between layers is achieved by through hole plating. Thereby, the core substrate 111 of the partially multilayered rigid flex circuit board is formed.

さらに、コア基板111の多層部(接着層107+リジッド層109+銅箔層103)にエポキシ樹脂等のリジッド材料によるビルドアップ樹脂層113を、ラミネート、印刷、コーティング等によって形成する。そして、ビルドアップ樹脂層113にめっき等により部品実装のための図示しない銅箔層(導体パターン)を形成する。この銅箔層は、レーザビア形成、めっき等によってコア基板111の銅箔層103,103と導通をとる。これにより、リジッドフレックス回路基板が得られる。   Further, a build-up resin layer 113 made of a rigid material such as an epoxy resin is formed on the multilayer portion (adhesive layer 107 + rigid layer 109 + copper foil layer 103) of the core substrate 111 by lamination, printing, coating, or the like. Then, a copper foil layer (conductor pattern) (not shown) for component mounting is formed on the buildup resin layer 113 by plating or the like. This copper foil layer is electrically connected to the copper foil layers 103 and 103 of the core substrate 111 by laser via formation, plating or the like. Thereby, a rigid flex circuit board is obtained.

このように従来のリジッドフレックス回路基板は、回路形成したフレキシブル層(フレックス基板)101上に予め開口を施したリジッド層(リジッド基板)109を積層することで、銅箔層103を形成したフレキシブル層(フレキシブル部)101を露出させる。このようにして形成したコア基板111にビルドアップ樹脂113を積層するものの、このビルドアップ樹脂113は、コア基板111表面の回路への埋め込み性を確保するためある程度の流動性を有しており、そのまま積層すると、図11に示すように上記フレキシブル部へビルドアップ樹脂113が染み出してしまう。したがって、ビルドアップ樹脂113が染み出すと、上記フレキシブル部の可撓性が低下すると共に、フレキシブル部に近い部分のリジッド層109上のビルドアップ層が薄くなり、回路の信頼性が低下する可能性がある。   Thus, the conventional rigid flex circuit board is a flexible layer in which a copper foil layer 103 is formed by laminating a rigid layer (rigid board) 109 having an opening in advance on a flexible layer (flex board) 101 on which a circuit is formed. (Flexible part) 101 is exposed. Although the build-up resin 113 is laminated on the core substrate 111 formed in this manner, the build-up resin 113 has a certain degree of fluidity in order to ensure embedding in the circuit on the surface of the core substrate 111. If laminated as it is, the build-up resin 113 oozes out to the flexible part as shown in FIG. Therefore, when the build-up resin 113 oozes out, the flexibility of the flexible part is lowered, and the build-up layer on the rigid layer 109 near the flexible part is thinned, which may reduce the reliability of the circuit. There is.

そのため、従来では、ビルドアップ樹脂の染み出しを抑えるための発明が多く案出されている。その代表的な製造方法の発明としては、特許文献1に開示されたものがある。この特許文献1に開示された発明は、フレキシブル部の周囲にダミーの回路等を設け流動するビルドアップ樹脂に対して堤防の役割を果たすようにしたものである。   For this reason, conventionally, many inventions have been devised for suppressing the seepage of the build-up resin. The invention of the typical manufacturing method is disclosed in Patent Document 1. The invention disclosed in this Patent Document 1 is configured such that a dummy circuit or the like is provided around a flexible portion so as to play a role of a bank against a buildup resin that flows.

また、他の方法としては、ビルドアップ樹脂に紫外線硬化型樹脂を使用し、フレキシブル部に染み出した樹脂を露光しないようにして除去し易くする方法や、特許文献2に開示された発明のように、レーザ光を照射して除去してしまう方法がある。   Further, as other methods, an ultraviolet curable resin is used for the build-up resin, and the resin exuded on the flexible portion is made easy to be removed without being exposed, as in the invention disclosed in Patent Document 2. In addition, there is a method of removing by irradiating a laser beam.

さらに、リジッドフレックス回路基板の製造工程において、特許文献3に開示された発明がある。特許文献3に開示されたリジッドフレックス回路基板は、図12(a),(b)に示すようにフレキシブル層115の両面に内層回路パターン117を形成し、この内層回路パターン117を形成したフレキシブル層115の両面全体にカバーレイフィルム119をラミネートする。   Furthermore, there is an invention disclosed in Patent Document 3 in a manufacturing process of a rigid flex circuit board. As shown in FIGS. 12A and 12B, the rigid flex circuit board disclosed in Patent Document 3 has an inner layer circuit pattern 117 formed on both surfaces of the flexible layer 115, and a flexible layer in which the inner layer circuit pattern 117 is formed. A coverlay film 119 is laminated on both sides of 115.

次に、部品を実装する多層部を形成するため、カバーレイフィルム119上の所定の位置(部分的領域)に接着層121を形成し、その上にガラスエポキシ等によるリジッド層123、表層回路パターン125を形成する。その後、表層回路パターン125上にエポキシ樹脂等のリジッド材料による図13(a),(b)に示すビルドアップ樹脂層127を、ラミネート、印刷、コーティング等によって形成する。   Next, an adhesive layer 121 is formed at a predetermined position (partial region) on the cover lay film 119 in order to form a multilayer part for mounting components, and a rigid layer 123 made of glass epoxy or the like, and a surface layer circuit pattern are formed thereon. 125 is formed. Thereafter, a build-up resin layer 127 shown in FIGS. 13A and 13B is formed on the surface layer circuit pattern 125 by a rigid material such as an epoxy resin by lamination, printing, coating, or the like.

したがって、特許文献3に開示されたリジッドフレックス回路基板は、リジッド層(リジッド基板)123を積層する際、そのリジッド層123を予め開孔せずに、リジッド部とフレキシブル部との境界部分にスリット129を設け、外形加工により基板を打ち抜くと同時に、フレキシブル部上のリジッド層123を除去する方法により形成される。
特開2001−156445公報 特開2003−198133公報 特開2001−185854公報
Therefore, the rigid flex circuit board disclosed in Patent Document 3 does not open the rigid layer 123 in advance when laminating the rigid layer (rigid board) 123, and slits at the boundary between the rigid part and the flexible part. 129 is provided, and the substrate is punched out by external processing, and at the same time, the rigid layer 123 on the flexible portion is removed.
JP 2001-156445 A JP 2003-198133 A JP 2001-185854 A

しかしながら、上記特許文献1に開示された製造方法では、ダミー回路を設けることは回路デザイン上の制約を生み、染み出した樹脂を除去するための工程が増え、コストアップにつながる問題がある。   However, in the manufacturing method disclosed in Patent Document 1, the provision of the dummy circuit causes a limitation in circuit design, and there is a problem that the number of steps for removing the exuded resin increases, leading to an increase in cost.

また、上記特許文献2に開示された製造方法では、レーザ光を使用してフレキシブル部上の樹脂を除去する場合、フレキシブル基板を損傷させる可能性があり、予め銅箔層を形成する等の対策は講じられているものの、リジッド部同士を繋ぐ配線の真上でレーザ光を使用して加工を行うのは、作業上好ましいことではない。   In addition, in the manufacturing method disclosed in Patent Document 2, when removing the resin on the flexible portion using laser light, there is a possibility of damaging the flexible substrate, and measures such as forming a copper foil layer in advance. However, it is not preferable in terms of work to perform processing using laser light directly above the wiring connecting the rigid portions.

さらに、上記特許文献3に開示された製造方法では、ビルドアップした時にビルドアップ樹脂層127の染み出しを抑えることが重要で、図13(a),(b)に示すように染み出したビルドアップ樹脂層127によってスリット129が埋まってしまうと、リジッド層123を除去することができなくなるという問題がある。   Furthermore, in the manufacturing method disclosed in Patent Document 3, it is important to prevent the build-up resin layer 127 from exuding when the build-up is performed, and the build-up that has exuded as shown in FIGS. If the slit 129 is filled with the up resin layer 127, there is a problem that the rigid layer 123 cannot be removed.

本発明は、上記に鑑みてなされたもので、その目的としては、工程の増加や回路基板への影響を最小限に抑えつつ、フレキシブル層上のビルドアップ樹脂層を除去可能な部分ビルドアップ配線板の製造方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above, and the purpose thereof is a partial build-up wiring capable of removing the build-up resin layer on the flexible layer while minimizing the increase in the number of processes and the influence on the circuit board. It is in providing the manufacturing method of a board.

請求項1記載の発明は、上記課題を解決するため、フレキシブル層の部分的領域にリジッド層を積層し、このリジッド層にビルドアップ樹脂層を積層する部分ビルドアップ配線板の製造方法であって、前記リジッド層の一側に導体層を形成し、かつ前記リジッド層の前記フレキシブル層に対応する部分にスリットを形成しておき、このリジッド層を前記フレキシブル層に積層すると共に、前記スリットを塞ぐように前記導体層の一部を蓋部として残し、前記リジッド層に前記ビルドアップ樹脂層を形成し、前記スリット上に位置する前記導体層及び前記ビルドアップ樹脂層を除去して前記スリットを開口させ、前記フレキシブル層上に位置する前記リジッド層及び前記ビルドアップ樹脂層を除去することを要旨とする。   The invention described in claim 1 is a method for manufacturing a partial buildup wiring board in which a rigid layer is laminated on a partial region of a flexible layer and a buildup resin layer is laminated on the rigid layer in order to solve the above-mentioned problem. A conductor layer is formed on one side of the rigid layer, and a slit is formed in a portion of the rigid layer corresponding to the flexible layer, and the rigid layer is laminated on the flexible layer and the slit is blocked. As described above, leaving a part of the conductor layer as a lid, forming the build-up resin layer on the rigid layer, removing the conductor layer and the build-up resin layer located on the slit and opening the slit The gist is to remove the rigid layer and the buildup resin layer located on the flexible layer.

請求項2記載の発明は、上記課題を解決するため、前記リジッド層の上面が平坦に形成され、このリジッド層上面に前記フレキシブル層を積層することを要旨とする。   In order to solve the above problems, the invention according to claim 2 is summarized in that the upper surface of the rigid layer is formed flat and the flexible layer is laminated on the upper surface of the rigid layer.

請求項3記載の発明は、上記課題を解決するため、前記リジッド層の上面が平坦に形成され、このリジッド層上面に前記ビルドアップ樹脂層を積層することを要旨とする。   The gist of the invention described in claim 3 is that the upper surface of the rigid layer is formed flat and the build-up resin layer is laminated on the upper surface of the rigid layer in order to solve the above problems.

請求項4記載の発明は、上記課題を解決するため、前記リジッド層に形成される前記スリットは、座ぐり加工にて前記リジッド層のみを切欠いて形成することを要旨とする。   In order to solve the above-mentioned problem, the invention described in claim 4 is summarized in that the slit formed in the rigid layer is formed by notching only the rigid layer by spot facing.

請求項5記載の発明は、上記課題を解決するため、前記スリット上に位置する前記ビルドアップ樹脂層は、レーザ光を照射することによりビアホールを開口するのと同時に除去される一方、前記スリット上に位置する前記導体層は、回路形成するのと同時に除去されることを要旨とする。   In order to solve the above-mentioned problem, the build-up resin layer located on the slit is removed simultaneously with the opening of the via hole by irradiating a laser beam. The gist of the invention is that the conductor layer located in is removed at the same time as the circuit is formed.

請求項6記載の発明は、上記課題を解決するため、前記フレキシブル層上に位置する前記リジッド層及び前記ビルドアップ樹脂層は、外形加工により同時に除去されること要旨とする。   In order to solve the above problems, the invention described in claim 6 is summarized in that the rigid layer and the buildup resin layer located on the flexible layer are simultaneously removed by external processing.

また、本発明による部分ビルドアップ配線板の製造方法は、フレキシブル層の部分的領域にリジッド層を有し、当該リジッド層上にビルドアップ樹脂層を積層され、多層化されたリジッド部分と、前記フレキシブル層のみによるフレキシブル部分とを有するビルドアップ配線板の製造方法であって、前記リジッド部分と前記フレキシブル部分に相当する部分と含むリジット層材を用い、当該リジット層材の前記リジッド部分と前記フレキシブル部分に相当する部分との境界部に沿ったスリットを貫通開口する工程と、前記リジット層材の一方の面に、前記スリットの片側の開口を塞ぐように樹脂フィルムを貼り合わせる工程と、前記リジット層材の他方の面に、めっきを行い、当該リジット層材の他方の面にめっき層を形成すると共にスリット内にめっき金属を充填する工程と、前記リジット層材の前記一方の面を貼り合わせ面として当該リジット層材の前記リジッド部分のみを前記フレキシブル層上に貼り付ける工程と、前記リジット層材の他方の面に形成された前記めっき層を前記スリット内のメッキ金属を残すようにエッチングして回路パターンを形成する工程と、前記リジット層材の前記他方の面の全面にビルドアップ樹脂層を積層する工程と、前記スリットに対応する部分の前記ビルドアップ樹脂層を除去する工程と、前記スリットに充填されためっき金属を除去する工程と、前記フレキシブル部分に相当する部分の前記リジット層材を除去する工程とを含む。   The method for manufacturing a partial buildup wiring board according to the present invention includes a rigid layer in a partial region of the flexible layer, a buildup resin layer laminated on the rigid layer, A manufacturing method of a build-up wiring board having a flexible part only by a flexible layer, wherein the rigid part material includes a part corresponding to the rigid part and the flexible part, and the rigid part of the rigid layer material and the flexible part A step of penetrating and opening a slit along a boundary with a portion corresponding to the portion, a step of bonding a resin film to one surface of the rigid layer material so as to close one side of the slit, and the rigid Plating is performed on the other surface of the layer material, and a plating layer is formed on the other surface of the rigid layer material and the slip is formed. Filling the inside with plating metal, attaching the rigid portion of the rigid layer material only on the flexible layer with the one surface of the rigid layer material as a bonding surface, and the other of the rigid layer material A step of etching the plating layer formed on the surface to leave a plating metal in the slit to form a circuit pattern, and laminating a buildup resin layer on the entire surface of the other surface of the rigid layer material A step, a step of removing the build-up resin layer corresponding to the slit, a step of removing the plating metal filled in the slit, and a removal of the rigid layer material corresponding to the flexible portion. Process.

また、本発明による部分ビルドアップ配線板の製造方法は、フレキシブル層の部分的領域にリジッド層を有し、当該リジッド層上にビルドアップ樹脂層を積層され、多層化されたリジッド部分と、前記フレキシブル層のみによるフレキシブル部分とを有するビルドアップ配線板の製造方法であって、前記リジッド部分と前記フレキシブル部分に相当する部分と含むリジット層材を用い、当該リジット層材の前記リジッド部分と前記フレキシブル部分に相当する部分との境界部に沿ったスリットを貫通開口する工程と、前記リジット層材の一方の面に、前記スリットの片側の開口を塞ぐように樹脂フィルムを貼り合わせる工程と、前記リジット層材の両面に、めっきを行い、当該リジット層材の両面にめっき層を形成すると共にスリット内にめっき金属を充填する工程と、前記リジット層材の前記一方の面に形成された前記めっき層をエッチングして回路パターンを形成する工程と、前記リジット層材の前記一方の面を貼り合わせ面として当該リジット層材の前記リジッド部分のみを前記フレキシブル層上に貼り付ける工程と、前記リジット層材の他方の面に形成された前記めっき層を前記スリット内のメッキ金属を残すようにエッチングして回路パターンを形成する工程と、前記リジット層材の前記他方の面の全面にビルドアップ樹脂層を積層する工程と、前記スリットに対応する部分の前記ビルドアップ樹脂層を除去する工程と、前記スリットに充填されためっき金属を除去する工程と、前記フレキシブル部分に相当する部分の前記リジット層材を除去する工程とを含む。   The method for manufacturing a partial buildup wiring board according to the present invention includes a rigid layer in a partial region of the flexible layer, a buildup resin layer laminated on the rigid layer, A manufacturing method of a build-up wiring board having a flexible part only by a flexible layer, wherein the rigid part material includes a part corresponding to the rigid part and the flexible part, and the rigid part of the rigid layer material and the flexible part A step of penetrating and opening a slit along a boundary with a portion corresponding to the portion, a step of bonding a resin film to one surface of the rigid layer material so as to close one side of the slit, and the rigid Plating is performed on both sides of the layer material to form a plating layer on both sides of the rigid layer material and fit in the slit. A step of filling the metal layer, a step of etching the plating layer formed on the one surface of the rigid layer material to form a circuit pattern, and the one surface of the rigid layer material as a bonding surface A step of attaching only the rigid portion of the rigid layer material on the flexible layer, and etching the plating layer formed on the other surface of the rigid layer material so as to leave a plating metal in the slit. A step of forming a pattern, a step of laminating a buildup resin layer on the entire surface of the other surface of the rigid layer material, a step of removing the buildup resin layer in a portion corresponding to the slit, and the slit Removing the filled plating metal; and removing the rigid layer material in a portion corresponding to the flexible portion.

本発明による部分ビルドアップ配線板の製造方法は、好ましくは、前記スリットに対応する部分の前記ビルドアップ樹脂層を除去する工程は、レーザ光照射によって前記ビルドアップ樹脂層にビアホールを形成する工程と同じ工程で行う。   In the method for manufacturing a partial buildup wiring board according to the present invention, preferably, the step of removing the buildup resin layer in the portion corresponding to the slit includes a step of forming a via hole in the buildup resin layer by laser light irradiation. Perform in the same process.

本発明による部分ビルドアップ配線板の製造方法は、好ましくは、前記フレキシブル部分に相当する部分の前記リジット層材を除去する工程は、部分ビルドアップ配線板の外形加工する工程と同じ工程で行う。   In the method for manufacturing a partial buildup wiring board according to the present invention, preferably, the step of removing the rigid layer material in the portion corresponding to the flexible portion is performed in the same step as the step of externally processing the partial buildup wiring board.

本発明によれば、リジッド層の少なくとも一側に導体層を形成し、かつリジッド層のフレキシブル層に対応する部分にスリットを形成しておき、このリジッド層をフレキシブル層に積層し、リジッド層にビルドアップ樹脂層を形成し、スリット上に位置する導体層及びビルドアップ樹脂層を除去してスリットを開口させ、フレキシブル層上に位置するリジッド層及びビルドアップ樹脂層を除去することにより、工程の増加や回路基板への影響を最小限に抑えつつ、フレキシブル層上のビルドアップ樹脂層を除去することができる。   According to the present invention, a conductor layer is formed on at least one side of the rigid layer, and a slit is formed in a portion corresponding to the flexible layer of the rigid layer, and this rigid layer is laminated on the flexible layer, By forming a build-up resin layer, removing the conductor layer and build-up resin layer located on the slit to open the slit, and removing the rigid layer and build-up resin layer located on the flexible layer, The buildup resin layer on the flexible layer can be removed while minimizing the increase and the influence on the circuit board.

また、ビルドアップ樹脂層の染み出しを考慮する必要がなくなるため、選択可能な樹脂の種類を大幅に増加することができる。そして、ビルドアップ樹脂層に流動性の高い樹脂を使用することができるので、ビルドアップ樹脂を埋め込み易く基板を平坦にすることができる。   Moreover, since it is not necessary to consider the seepage of the build-up resin layer, the types of selectable resins can be greatly increased. And since resin with high fluidity | liquidity can be used for a buildup resin layer, it is easy to embed buildup resin and can make a board | substrate flat.

本発明によれば、リジッド層の上面が平坦に形成され、このリジッド層上面にビルドアップ樹脂層を積層することにより、ビルドアップ樹脂層の層厚を均一にし易くなる。   According to the present invention, the upper surface of the rigid layer is formed flat, and the buildup resin layer is laminated on the upper surface of the rigid layer, whereby the layer thickness of the buildup resin layer is easily made uniform.

本発明によれば、リジッド層に形成されるスリットは、座ぐり加工にてリジッド層のみを切欠いて形成することにより、スリットを確実かつ容易に形成することができる。   According to the present invention, the slit formed in the rigid layer can be surely and easily formed by cutting only the rigid layer by spot facing.

本発明によれば、スリット上に位置するビルドアップ樹脂層は、レーザ光を照射することによりビアホールを開口するのと同時に除去される一方、スリット上に位置する導体層は、回路形成するのと同時に除去されることにより、余計な工程を増加させることなく、スリット上に位置するビルドアップ樹脂層及び導体層を除去することができる。   According to the present invention, the build-up resin layer located on the slit is removed simultaneously with the opening of the via hole by irradiating the laser beam, while the conductor layer located on the slit forms the circuit. By removing at the same time, the build-up resin layer and the conductor layer located on the slit can be removed without increasing unnecessary steps.

本発明によれば、フレキシブル層上に位置するリジッド層及びビルドアップ樹脂層は、外形加工により同時に除去されることにより、余計な工程を増加させることなく、フレキシブル層上に位置するリジッド層及びビルドアップ樹脂層を除去することができる。   According to the present invention, the rigid layer and the build-up resin layer located on the flexible layer are simultaneously removed by the outer shape processing, so that the rigid layer and the build located on the flexible layer are not increased without increasing unnecessary processes. The up resin layer can be removed.

以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(一実施の形態)
図1(a)〜(e)は本発明に係る部分ビルドアップ配線板の製造方法における一実施の形態を示す工程図である。
(One embodiment)
1A to 1E are process diagrams showing an embodiment of a method for manufacturing a partial buildup wiring board according to the present invention.

まず、図1(a)に示すように、リジッド層1の片面(一側)に導体層としての銅箔層3を形成した片面銅箔付きガラスエポキシ基材を使用する。リジッド層1には、後述するフレキシブル層との継目に相当する部分にリジッド層1側からスリット5を座ぐり加工により形成しておく一方、銅箔層3にはスリットを形成しないようにする。   First, as shown to Fig.1 (a), the glass epoxy base material with the single side | surface copper foil which formed the copper foil layer 3 as a conductor layer in the single side | surface (one side) of the rigid layer 1 is used. In the rigid layer 1, slits 5 are formed from the rigid layer 1 side in a portion corresponding to a joint with a flexible layer to be described later, while the slits are not formed in the copper foil layer 3.

次に、図1(b)に示すように、フレキシブル層7の片面に回路パターン9を形成し、この回路パターン9を形成したフレキシブル層7の片面全体にカバーレイフィルム11をラミネートし、このカバーレイフィルム11上の所定の位置(部分的領域)に接着層13を形成し、その上に上記リジッド層1、銅箔層3を積層してコア基板15を形成する。このとき、銅箔層3は、スリット5に相当する部分は、スリット5を塞ぐ蓋部3aとして残しておく。図1にはフレキシブル層の片面のみに積層する工程が示されているが、この工程は両面に回路を形成したフレキシブル層の表裏面に対して同時に適用することもできる。(片面だけに限定されない)   Next, as shown in FIG. 1B, a circuit pattern 9 is formed on one surface of the flexible layer 7, and a cover lay film 11 is laminated on the entire surface of the flexible layer 7 on which the circuit pattern 9 is formed. An adhesive layer 13 is formed at a predetermined position (partial region) on the lay film 11, and the rigid layer 1 and the copper foil layer 3 are laminated thereon to form a core substrate 15. At this time, in the copper foil layer 3, the portion corresponding to the slit 5 is left as a lid portion 3 a that closes the slit 5. Although FIG. 1 shows a process of laminating only one side of the flexible layer, this process can be applied simultaneously to the front and back surfaces of the flexible layer in which circuits are formed on both sides. (Not limited to one side only)

さらに、図1(c)に示すように、リジッド層1及び銅箔層3上にビルドアップ樹脂層17を積層する。このとき、ビルドアップ樹脂層17は、特に加工をせず、ビルドアップ樹脂層17によりコア基板15全体をラミネートする。ここで、スリット5は、銅箔層3の蓋部3aによって塞がれているためビルドアップ樹脂層17が流入することはない。   Further, as shown in FIG. 1C, a buildup resin layer 17 is laminated on the rigid layer 1 and the copper foil layer 3. At this time, the build-up resin layer 17 is not particularly processed, and the entire core substrate 15 is laminated by the build-up resin layer 17. Here, since the slit 5 is closed by the lid portion 3 a of the copper foil layer 3, the buildup resin layer 17 does not flow in.

その後、図1(d)に示すように、ビルドアップ樹脂層17にレーザ光を照射してビアホール19を形成すると同時に、リジッド層1のスリット5の直上に位置する部分のビルドアップ樹脂層17をレーザ光で除去してトリミング部21を形成する。このとき、レーザ光は、銅箔層3によってより深部への到達を阻止されるため、コア基板15表面に対するダメージを考慮する必要がなくなる。レーザを用いず、スリット5上に位置する銅箔層3は残したまま感光性のビルドアップ樹脂をラミネートし、露光・現像によってビアホール19を開口するのと同時にスリット5上のビルドアップ樹脂層17を除去する方法もある。   Thereafter, as shown in FIG. 1 (d), the build-up resin layer 17 is irradiated with laser light to form a via hole 19, and at the same time, the part of the build-up resin layer 17 positioned immediately above the slit 5 of the rigid layer 1 is formed. The trimming part 21 is formed by removing with laser light. At this time, since the laser beam is prevented from reaching the deeper portion by the copper foil layer 3, it is not necessary to consider damage to the surface of the core substrate 15. Without using a laser, a photosensitive build-up resin is laminated while leaving the copper foil layer 3 positioned on the slit 5, and the via-hole 19 is opened by exposure and development, and at the same time, the build-up resin layer 17 on the slit 5. There is also a way to remove the.

次いで、ビルドアップ樹脂層17上の全面にめっき等で導電層を形成する。その後、この導電層上に回路形成用のレジストを形成し、露光・現像により回路部分にエッチング用の保護膜を形成する。次に、上記導電層をエッチングすることにより、所要の回路を形成する。このエッチングと同時に、図1(e)に示すようにスリット5上の銅箔層3の蓋部3aが除去され、レジスト除去後に外形加工を施せばフレキシブル層7上のビルドアップ樹脂層17とリジッド層1を除去することができる。   Next, a conductive layer is formed on the entire surface of the buildup resin layer 17 by plating or the like. Thereafter, a resist for forming a circuit is formed on this conductive layer, and a protective film for etching is formed on the circuit portion by exposure and development. Next, a required circuit is formed by etching the conductive layer. Simultaneously with this etching, as shown in FIG. 1 (e), the lid 3a of the copper foil layer 3 on the slit 5 is removed, and if the outer shape is applied after removing the resist, the build-up resin layer 17 on the flexible layer 7 and the rigid are formed. Layer 1 can be removed.

このように本実施の形態によれば、リジッド層1の片側に銅箔層3を形成し、かつリジッド層1のフレキシブル層7に対応する部分、つまりフレキシブル層7との境界部に相当する部分にスリット5を形成しておき、このリジッド層1をフレキシブル層7に積層すると共に、スリット5を塞ぐように銅箔層3の一部を蓋部3aとして残し、リジッド層1にビルドアップ樹脂層17を形成し、スリット5上に位置する銅箔層3及びビルドアップ樹脂層17を除去してスリット5を開口させ、フレキシブル層7上に位置するリジッド層1及びビルドアップ樹脂層17を除去することにより、工程の増加や回路基板への影響を最小限に抑えつつ、フレキシブル層7上のビルドアップ樹脂層17を容易に除去することができる。   As described above, according to the present embodiment, the copper foil layer 3 is formed on one side of the rigid layer 1 and the portion corresponding to the flexible layer 7 of the rigid layer 1, that is, the portion corresponding to the boundary portion with the flexible layer 7. A slit 5 is formed on the rigid layer 1 and the rigid layer 1 is laminated on the flexible layer 7, and a part of the copper foil layer 3 is left as a lid portion 3 a so as to close the slit 5. 17 is formed, the copper foil layer 3 and the buildup resin layer 17 located on the slit 5 are removed, the slit 5 is opened, and the rigid layer 1 and the buildup resin layer 17 located on the flexible layer 7 are removed. Thus, the build-up resin layer 17 on the flexible layer 7 can be easily removed while minimizing the increase in the process and the influence on the circuit board.

また、スリット5を塞ぐように銅箔層3の蓋部3aが設けられているので、ビルドアップ樹脂層17の染み出しを考慮する必要がなくなり、選択可能な樹脂の種類を大幅に増加することができる。そして、ビルドアップ樹脂層17に流動性の高い樹脂を使用することができるので、ビルドアップ樹脂を埋め込み易く基板を平坦にすることができる。   Further, since the lid portion 3a of the copper foil layer 3 is provided so as to close the slit 5, it is not necessary to consider the seepage of the build-up resin layer 17, and the types of selectable resins are greatly increased. Can do. And since resin with high fluidity | liquidity can be used for the buildup resin layer 17, it is easy to embed buildup resin and can make a board | substrate flat.

さらに、本実施の形態によれば、リジッド層1の上面が平坦に形成され、このリジッド層1上面にビルドアップ樹脂層17を積層することにより、ビルドアップ樹脂層17の層厚を均一にし易くなる。   Furthermore, according to the present embodiment, the upper surface of the rigid layer 1 is formed flat, and the buildup resin layer 17 is laminated on the upper surface of the rigid layer 1, thereby making it possible to make the layer thickness of the buildup resin layer 17 uniform. Become.

そして、本実施の形態によれば、リジッド層1に形成されるスリット5は、座ぐり加工にてリジッド層1のみを切欠いて形成することにより、スリット5を確実かつ容易に形成することができる。   And according to this Embodiment, the slit 5 formed in the rigid layer 1 can form the slit 5 reliably and easily by notching only the rigid layer 1 by spot facing. .

本実施の形態によれば、スリット5上に位置するビルドアップ樹脂層17は、レーザ光を照射することによりビアホール19を開口するのと同時に除去される一方、スリット5上に位置する銅箔層3は、回路形成するのと同時に除去されることにより、余計な工程を増加させることなく、スリット5上に位置するビルドアップ樹脂層17及び銅箔層3を除去することができる。   According to the present embodiment, the build-up resin layer 17 located on the slit 5 is removed at the same time as opening the via hole 19 by irradiating laser light, while the copper foil layer located on the slit 5 is removed. 3 is removed at the same time as the circuit is formed, so that the build-up resin layer 17 and the copper foil layer 3 located on the slit 5 can be removed without increasing unnecessary steps.

また、本実施の形態によれば、フレキシブル層7上に位置するリジッド層1及びビルドアップ樹脂層17は、外形加工により同時に除去されることにより、余計な工程を増加させることなく、フレキシブル層7上に位置するリジッド層1及びビルドアップ樹脂層17を除去することができる。   Moreover, according to this Embodiment, the rigid layer 1 and the buildup resin layer 17 which are located on the flexible layer 7 are removed by external shape processing simultaneously, and without increasing an extra process, the flexible layer 7 The rigid layer 1 and the buildup resin layer 17 located on the upper side can be removed.

(実施の形態の変形例)
次に、図2(a)〜(d)に基づいて本実施の形態の変形例を説明する。図2(a)〜(d)は本実施の形態の変形例を示す銅箔層を除去する工程図である。
(Modification of the embodiment)
Next, a modification of the present embodiment will be described with reference to FIGS. FIGS. 2A to 2D are process diagrams for removing the copper foil layer showing a modification of the present embodiment.

銅箔層3を除去する場合、図2(a)に示すようにビルドアップ樹脂層17にレーザ光を照射してリジッド層1のスリット5の直上に位置する部分のビルドアップ樹脂層17をレーザ光で除去してトリミング部21を形成する。   When removing the copper foil layer 3, as shown in FIG. 2A, the buildup resin layer 17 is irradiated with laser light to laser the portion of the buildup resin layer 17 positioned immediately above the slit 5 of the rigid layer 1. The trimming part 21 is formed by removing with light.

すると、ビルドアップ樹脂層17が流動性を有しているので、図2(b)に示すようにビルドアップ樹脂の染み出しによりトリミング部21が閉塞されてブリッジ部23が形成される。   Then, since the buildup resin layer 17 has fluidity, as shown in FIG. 2B, the trimming portion 21 is closed by the seepage of the buildup resin and the bridge portion 23 is formed.

次いで、図2(c)に示すようにウェットまたはドライ法によりデスミアしてキュア部23を除去する。   Next, as shown in FIG. 2C, the cured portion 23 is removed by desmearing by a wet or dry method.

さらに、図2(d)に示すようにスリット5上に位置する銅箔層3をエッチングにより除去する。このような工程によりスリット5上に位置する銅箔層3を除去することができる。   Further, as shown in FIG. 2D, the copper foil layer 3 located on the slit 5 is removed by etching. The copper foil layer 3 located on the slit 5 can be removed by such a process.

(実施例)
次に、本発明に係る部分ビルドアップ配線板の製造方法における実施例を、図3及び図4を参照して説明する。
(Example)
Next, an embodiment of the method for manufacturing a partial buildup wiring board according to the present invention will be described with reference to FIGS.

まず、図3(a)に示すようにポリイミドフィルムからなるフレキシブル層31の両面に銅箔からなる導体層33が接着されたものを準備し、導体層33にサブトラクティブ法により回路形成を行う。   First, as shown in FIG. 3A, a flexible layer 31 made of a polyimide film is prepared by bonding a conductor layer 33 made of copper foil to both surfaces, and a circuit is formed on the conductor layer 33 by a subtractive method.

次いで、図3(b)に示すように導体層33が接着されたフレキシブル層31の両面に、回路を保護するカバーレイフィルム35と、最終的にフレキシブル層を露出させる部分に略相当する部分を除去した接着層37とをそれぞれラミネートし、その両面上に、片面に銅箔からなる導体層39が設けられたガラスエポキシ樹脂からなるリジッド層41を貼り付ける。   Next, as shown in FIG. 3B, on both surfaces of the flexible layer 31 to which the conductor layer 33 is bonded, a coverlay film 35 that protects the circuit, and a portion substantially corresponding to the portion that finally exposes the flexible layer are formed. The removed adhesive layer 37 is laminated, and a rigid layer 41 made of a glass epoxy resin provided with a conductor layer 39 made of copper foil on one side is pasted on both sides thereof.

このとき、フレキシブル層31に相当するリジッド層41を後工程で除去できるようにリジッド層41側から導体層39に向かってスリット(切れ込み)43を形成する。このスリット43はレーザ光の照射、ルータまたはエッチング等を用いて座ぐり加工することによりガラスエポキシ樹脂からなるリジッド層41のみを除去する。なお、このスリット43は、後工程に影響がない限り大きさや形状に制限はない。   At this time, slits (cuts) 43 are formed from the rigid layer 41 side toward the conductor layer 39 so that the rigid layer 41 corresponding to the flexible layer 31 can be removed in a later step. This slit 43 removes only the rigid layer 41 made of glass epoxy resin by spot facing using laser light irradiation, router, etching or the like. The slit 43 is not limited in size or shape as long as it does not affect the subsequent process.

さらに、図3(c)に示すように所定部位にスルーホール45を貫通形成し、このスルーホール45にスルーホールめっき46を施して層間の導通をとると共に、回路形成を行う。この場合、スリット43の位置に相当する導体層39は、除去せずに残しておくことでスリット43に蓋をする機能を有することになる。   Further, as shown in FIG. 3C, a through hole 45 is formed through a predetermined portion, and through hole plating 46 is applied to the through hole 45 to establish conduction between layers, and a circuit is formed. In this case, the conductor layer 39 corresponding to the position of the slit 43 has a function of covering the slit 43 by leaving it without being removed.

次に、図3(d)に示すように導体層39をビルドアップ樹脂層47によりラミネートする。ここで、ビルドアップ樹脂層47は、基板全体にラミネートし、流動性の高い樹脂を使用して回路に埋め込み、ビルドアップ樹脂層47の平坦性を高めることが望ましい。   Next, as shown in FIG. 3D, the conductor layer 39 is laminated with the buildup resin layer 47. Here, it is desirable that the build-up resin layer 47 is laminated on the entire substrate and embedded in a circuit using a resin having high fluidity to improve the flatness of the build-up resin layer 47.

そして、図4(e)に示すようにビルドアップ樹脂層47にレーザ光を照射してビアホール49を形成すると同時に、リジッド層41のスリット43の直上に位置する部分のビルドアップ樹脂層47にレーザ光を照射することにより除去し、トリミング部51を形成する。   Then, as shown in FIG. 4E, the build-up resin layer 47 is irradiated with laser light to form a via hole 49, and at the same time, a laser is applied to the build-up resin layer 47 in a portion located immediately above the slit 43 of the rigid layer 41. The trimming part 51 is formed by removing light by irradiation.

このとき、レーザ光は、スリット直上にある導体層によって阻止されるため、コア基板表面に対するダメージを考慮する必要がなくなる。   At this time, since the laser beam is blocked by the conductor layer directly above the slit, it is not necessary to consider damage to the core substrate surface.

なお、図4(e)に示す工程において、スリット43上のビルドアップ樹脂層47を除去する際、スリット43上には、銅箔からなる導体層39が残っているためレーザ光の照射によりコア基板が損傷することはない。   In the step shown in FIG. 4E, when the buildup resin layer 47 on the slit 43 is removed, the conductor layer 39 made of copper foil remains on the slit 43, so that the core is irradiated with laser light. The substrate is not damaged.

また、上記のようにビルドアップ樹脂層47にレーザ光を照射することによりビアホール49やトリミング部51を形成する代わりに、ビルドアップ樹脂に紫外線硬化型樹脂等の感光性樹脂を用いて露光・現像により感光性樹脂を部分的に除去してビアホール49やトリミング部51を同時に形成するようにしてもよい。   Further, instead of forming the via hole 49 and the trimming portion 51 by irradiating the build-up resin layer 47 with laser light as described above, exposure and development are performed using a photosensitive resin such as an ultraviolet curable resin for the build-up resin. Thus, the photosensitive resin may be partially removed to form the via hole 49 and the trimming portion 51 at the same time.

さらに、図4(f)に示すようにビルドアップ樹脂層47上にめっき等で導電層53を形成する。その後、この導電層53上に回路形成用のレジストを形成し、露光・現像により回路部分にエッチング用の保護膜を形成する。次に、上記導電層53をエッチングすることにより、所要の回路を形成する。このエッチングと同時に、図4(f)に示すようにスリット43上の銅箔層39が除去され、レジスト除去後に外形加工を施せばフレキシブル層31上のビルドアップ樹脂層47とリジッド層41を除去することができる。   Further, as shown in FIG. 4F, a conductive layer 53 is formed on the buildup resin layer 47 by plating or the like. Thereafter, a resist for forming a circuit is formed on the conductive layer 53, and a protective film for etching is formed on the circuit portion by exposure and development. Next, the conductive layer 53 is etched to form a required circuit. Simultaneously with this etching, the copper foil layer 39 on the slit 43 is removed as shown in FIG. 4 (f), and if the outer shape is applied after removing the resist, the build-up resin layer 47 and the rigid layer 41 on the flexible layer 31 are removed. can do.

なお、ビルドアップ樹脂層47上に形成される導電層53は、具体的にはウェット法またはドライ法によりデスミアし、上記めっき法によってビルドアップ樹脂層47上に、部品実装が行われる導電層53を形成する。この導電層53は、サブトラクティブ法やアディティブ法によってファイン回路として形成することができる。これにより、回路形成されたビルドアップ樹脂層47を表層に有する部分多層のリジッドフレックス回路基板が得られる。   The conductive layer 53 formed on the buildup resin layer 47 is specifically desmeared by a wet method or a dry method, and the conductive layer 53 on which component mounting is performed on the buildup resin layer 47 by the plating method. Form. The conductive layer 53 can be formed as a fine circuit by a subtractive method or an additive method. As a result, a partially multilayered rigid flex circuit board having a build-up resin layer 47 with a circuit formed as a surface layer is obtained.

このように本実施例によれば、リジッド層41の片側に導体層39を形成し、かつリジッド層41のフレキシブル層31に対応する部分にスリット43を形成しておき、このリジッド層41をフレキシブル層31に積層し、リジッド層41にビルドアップ樹脂層47を形成し、スリット43上に位置する導体層39及びビルドアップ樹脂層47を除去してスリット43を開口させ、フレキシブル層31上に位置するリジッド層41及びビルドアップ樹脂層47を除去するようにしたので、工程の増加や回路基板への影響を最小限に抑えつつ、フレキシブル層31上のビルドアップ樹脂層47を除去することができる。   Thus, according to the present embodiment, the conductor layer 39 is formed on one side of the rigid layer 41, and the slit 43 is formed in the portion corresponding to the flexible layer 31 of the rigid layer 41, and the rigid layer 41 is flexible. The layer 31 is laminated, the build-up resin layer 47 is formed on the rigid layer 41, the conductor layer 39 and the build-up resin layer 47 located on the slit 43 are removed, the slit 43 is opened, and the position is on the flexible layer 31. Since the rigid layer 41 and the buildup resin layer 47 to be removed are removed, the buildup resin layer 47 on the flexible layer 31 can be removed while minimizing the increase in the process and the influence on the circuit board. .

(他の実施形態)
本発明による部分ビルドアップ配線板の製造方法の他の実施形態を、図5、図6を参照して説明する。
(Other embodiments)
Another embodiment of the method for manufacturing a partial buildup wiring board according to the present invention will be described with reference to FIGS.

まず、図5(a)に示されているようなガラスエポキシ基板材等のリジット層材61を用意する。リジット層材61はリジッド部分Rとフレキシブル部分F(図6(j)参照)に相当する部分Frと含むものである。このリジット層材61のリジッド部分Rとフレキシブル部分Fに相当する部分Frとの境界部Bに沿ったスリット63をレーザ加工等によって貫通開口する。   First, a rigid layer material 61 such as a glass epoxy substrate material as shown in FIG. The rigid layer material 61 includes a rigid portion R and a portion Fr corresponding to a flexible portion F (see FIG. 6J). A slit 63 along the boundary B between the rigid portion R of the rigid layer material 61 and the portion Fr corresponding to the flexible portion F is opened by laser processing or the like.

つぎに、図5(b)に示されているように、リジット層材61の一方の面に、スリット63の片側の開口を塞ぐように樹脂フィルム65を貼り合わせる。これにより、スリット63の片側が樹脂フィルム65によって塞がれる。   Next, as shown in FIG. 5B, a resin film 65 is bonded to one surface of the rigid layer material 61 so as to close the opening on one side of the slit 63. As a result, one side of the slit 63 is closed by the resin film 65.

ここで、使用する樹脂フィルム65の材質に特に制限はないが、PET,PEN等、後工程で変形・変性・溶解しない耐熱性や耐酸性を有しているものである必要がある。また、樹脂フィルム65は、十分に硬化・密着させ、作業中に剥がれたり、フレキシブル層のカバーレイ75(図5(e)参照)と接着しないようにする必要がある。   Here, although there is no restriction | limiting in particular in the material of the resin film 65 to be used, PET, PEN, etc. must have the heat resistance and acid resistance which do not deform | transform, modify | denature, and melt | dissolve in a post process. Further, the resin film 65 needs to be sufficiently cured and closely adhered so that it does not peel off during the operation or adhere to the flexible layer cover lay 75 (see FIG. 5E).

つぎに、図5(c)に示されているように、リジット層材61の他方の面(樹脂フィルム65が貼り合わられていない面)に、銅めっきを行い、リジット層材61の他方の面にめっき層67を形成すると共にスリット63内にめっき金属(銅)69を充填する。この銅めっきは、樹脂フィルム65によって底部を塞がれているスリット63内にめっき金属69を良好に充填されるフィリングめっきの要領で行うことができる。   Next, as shown in FIG. 5C, copper plating is performed on the other surface of the rigid layer material 61 (the surface on which the resin film 65 is not bonded), and the other surface of the rigid layer material 61 is subjected to copper plating. A plating layer 67 is formed on the surface, and plating metal (copper) 69 is filled in the slit 63. This copper plating can be performed in the manner of filling plating in which the plating metal 69 is satisfactorily filled in the slit 63 whose bottom is closed by the resin film 65.

つぎに、図5(d)に示されているように、樹脂フィルム65のうち、スリット63に対応する部分、つまり、スリット63の底部をなしていた部分を、レーザ光照射やプラズマエッチングによって除去(符号E)する。   Next, as shown in FIG. 5D, the portion of the resin film 65 corresponding to the slit 63, that is, the portion that formed the bottom of the slit 63 is removed by laser light irradiation or plasma etching. (Reference E).

つぎに、図5(e)に示されているように、ポリイミドフィルム等によるフレキシブル層71の片面に回路パターン73を形成され、フレキシブル層71の片面に回路パターン73を被覆するように電気絶縁性のカバーレイ75が設けられている。このカバーレイ75上に、リジット層材61の前記一方の面を貼り合わせ面として当該リジット層材61のリジッド部分Rのみを接着剤層77によって貼り付ける。   Next, as shown in FIG. 5 (e), a circuit pattern 73 is formed on one side of the flexible layer 71 made of polyimide film or the like, and the circuit pattern 73 is covered on one side of the flexible layer 71. Coverlay 75 is provided. On the cover lay 75, only the rigid portion R of the rigid layer material 61 is adhered by the adhesive layer 77 with the one surface of the rigid layer material 61 as a bonding surface.

つぎに、図5(f)に示されているように、リジット層材61の他方の面に形成されているめっき層67をエッチングして回路パターン79を形成する。このエッチング工程では、スリット63内のめっき金属69は除去しない。   Next, as shown in FIG. 5F, the circuit pattern 79 is formed by etching the plating layer 67 formed on the other surface of the rigid layer material 61. In this etching process, the plated metal 69 in the slit 63 is not removed.

つぎに、図6(g)に示されているように、リジット層材61の前記他方の面(回路パターン79を形成されている面)の全面にビルドアップ樹脂層81をラミネート法等によって積層する。   Next, as shown in FIG. 6G, a build-up resin layer 81 is laminated on the entire surface of the other surface (surface on which the circuit pattern 79 is formed) of the rigid layer material 61 by a laminating method or the like. To do.

ビルドアップ樹脂層81は、回路パターン79の埋め込み性を確保するために、加熱ブレスによるリジット層材61との貼り合わせ時に流動性を示す樹脂材料により構成されている。これにより、ビルドアップ樹脂層81の表面の平坦性が得られ、ひいては、リジッド部分Rの表面の平坦性が得られる。   The build-up resin layer 81 is made of a resin material that exhibits fluidity when bonded to the rigid layer material 61 by heating breathing in order to ensure the embedding property of the circuit pattern 79. Thereby, the flatness of the surface of the buildup resin layer 81 is obtained, and consequently the flatness of the surface of the rigid portion R is obtained.

このように、ビルドアップ樹脂層81は、加熱ブレスによるビルドアップ時に、流動性を示すが、スリット63がめっき金属69によって塞がれているから、流動性をもったビルドアップ樹脂層81が不必要にフレキシブル部分F(図6(j)参照)に染み出すことがない。   As described above, the build-up resin layer 81 exhibits fluidity during build-up by heating breathing, but the slit 63 is blocked by the plated metal 69, so that the build-up resin layer 81 having fluidity is not satisfactory. The flexible part F (see FIG. 6 (j)) does not ooze out as necessary.

つぎに、図6(h)に示されているように、ビルドアップ樹脂層81に、レーザ光照射によってビアホール83を開口形成する。このビアホール形成工程時に、つまり、ビアホール形成工程と同工程で、スリット63に対応する部分のビルドアップ樹脂層81を除去し、スリット63に連通するスリット85をビルドアップ樹脂層81に形成する。   Next, as shown in FIG. 6H, via holes 83 are formed in the buildup resin layer 81 by laser beam irradiation. During this via hole forming process, that is, in the same process as the via hole forming process, the part of the buildup resin layer 81 corresponding to the slit 63 is removed, and a slit 85 communicating with the slit 63 is formed in the buildup resin layer 81.

スリット85を形成するためのレーザ光照射は、スリット63のめっき金属69に対しては行われるが、回路パターン73に対しては行われないから、レーザ光照射による基板表面のダメージを考慮する必要がない。   Although the laser beam irradiation for forming the slit 85 is performed on the plated metal 69 of the slit 63 but not the circuit pattern 73, it is necessary to consider the damage on the substrate surface due to the laser beam irradiation. There is no.

つぎに、図6(i)に示されているように、ビルドアップ樹脂層81の表面をフィリングめっきし、ビアホール83内をめっき金属(銅)で埋めてフィルドビアとする共に、ビルドアップ樹脂層81の表面にめっき層を形成し、これをエッチングして回路パターン87を形成する。この回路パターン形成のエッチング工程で、つまり、このエッチング工程と同工程で、スリット63に充填されていためっき金属69を除去する。   Next, as shown in FIG. 6I, the surface of the build-up resin layer 81 is filling-plated, and the via hole 83 is filled with a plated metal (copper) to form a filled via, and the build-up resin layer 81 is also filled. A plating layer is formed on the surface of the substrate, and this is etched to form a circuit pattern 87. In this circuit pattern forming etching step, that is, in the same step as this etching step, the plating metal 69 filled in the slit 63 is removed.

つぎに、図6(j)に示されているように、打ち抜きプレス等によって部分ビルドアップ配線板の外形加工を施す。この外形加工によってフレキシブル部分Fに相当する部分Frのリジット層材61が、この部分のビルドアップ樹脂層81および樹脂フィルム65と共に、リジット部Rより分離し、除去される。   Next, as shown in FIG. 6J, the external shape processing of the partial build-up wiring board is performed by a punching press or the like. By this outer shape processing, the rigid layer material 61 of the portion Fr corresponding to the flexible portion F is separated from the rigid portion R together with the buildup resin layer 81 and the resin film 65 of this portion and removed.

これにより、ビルドアップさけれたリジット部Rと、フレキシブル層70だけによるフレキシブル部分Fとによる部分ビルドアップ配線板が得られる。   Thereby, the partial buildup wiring board by the rigid part R which was built up and the flexible part F only by the flexible layer 70 is obtained.

この工法で、フレキシブル層70によるフレキシブル部分Fに、染み出しによるビルドアップ樹脂層81の樹脂が存在することがないので、フレキシブル部分Fのフレキシブル性が損なわれることがない。   In this construction method, since the resin of the build-up resin layer 81 due to bleeding does not exist in the flexible portion F of the flexible layer 70, the flexibility of the flexible portion F is not impaired.

また、この実施形態では、スリット63は、薄い銅箔層を残すような座ぐり加工でなく、リジット層材61を貫通する穴明け加工でよいから、スリット63の加工が容易になり、生産性が向上する。   Further, in this embodiment, the slit 63 is not a counterbore process that leaves a thin copper foil layer, but may be a drilling process that penetrates the rigid layer material 61, so that the slit 63 can be easily processed and the productivity is improved. Will improve.

スリット63を金属で埋めることや、これを除去することは、めっきや回路形成の工程内でできる作業なので、製造負荷を最小限に抑えることができる。さらに、スリットに銅をめっき充填すれば、銅厚を厚くできるので。レーザ加工によるダメージをさらに軽減できる。   Filling the slit 63 with metal or removing it is an operation that can be performed in the process of plating or circuit formation, so that the manufacturing load can be minimized. Furthermore, if the slit is filled with copper, the copper thickness can be increased. Damage due to laser processing can be further reduced.

(もう一つの実施形態)
本発明による部分ビルドアップ配線板の製造方法のもう一つの実施形態を、図7〜図9を参照して説明する。なお、図7〜図9において、図5、図6に対応する部分は、図5、図6に付した符号と同一の符号を付けて説明する。
(Another embodiment)
Another embodiment of a method for manufacturing a partial buildup wiring board according to the present invention will be described with reference to FIGS. 7 to 9, portions corresponding to those in FIGS. 5 and 6 are described with the same reference numerals as those in FIGS. 5 and 6.

まず、図7(a)に示されているようなプリプレグ(ガラスエポキシ基板材)等のリジット層材61を用意する。リジット層材61はリジッド部分Rとフレキシブル部分F(図6(j)参照)に相当する部分Frと含むものである。このリジット層材61のリジッド部分Rとフレキシブル部分Fに相当する部分Frとの境界部Bに沿ったスリット63をレーザ加工等によって貫通開口する。   First, a rigid layer material 61 such as a prepreg (glass epoxy substrate material) as shown in FIG. 7A is prepared. The rigid layer material 61 includes a rigid portion R and a portion Fr corresponding to a flexible portion F (see FIG. 6J). A slit 63 along the boundary B between the rigid portion R of the rigid layer material 61 and the portion Fr corresponding to the flexible portion F is opened by laser processing or the like.

つぎに、図7(b)に示されているように、リジット層材61の一方の面に、スリット63の片側の開口を塞ぐように樹脂フィルム65を貼り合わせる。これにより、スリット63の片側が樹脂フィルム65によって塞がれる。   Next, as shown in FIG. 7B, a resin film 65 is bonded to one surface of the rigid layer material 61 so as to close the opening on one side of the slit 63. As a result, one side of the slit 63 is closed by the resin film 65.

ここで、使用する樹脂フィルム65の材質に特に制限はないが、PET,PEN等、後工程で変形・変性・溶解しない耐熱性や耐酸性を有しているものである必要がある。また、樹脂フィルム65は、十分に硬化・密着させ、作業中に剥がれたり、フレキシブル層のカバーレイ207、209(図7(g)参照)と接着しないようにする必要がある。   Here, although there is no restriction | limiting in particular in the material of the resin film 65 to be used, PET, PEN, etc. must have the heat resistance and acid resistance which do not deform | transform, modify | denature, and melt | dissolve in a post process. Further, the resin film 65 needs to be sufficiently cured and closely adhered so that it does not peel off during the operation or adhere to the cover layers 207 and 209 (see FIG. 7G) of the flexible layer.

つぎに、図7(c)に示されているように、リジット層材61の両面に、銅めっきを行い、リジット層材61の両面にめっき層91、93を形成すると共にスリット63内にめっき金属(銅)95を充填する。この銅めっきは、樹脂フィルム65によって底部を塞がれているスリット63内にめっき金属95を良好に充填されるフィリングめっきの要領で行うことができる。   Next, as shown in FIG. 7C, copper plating is performed on both surfaces of the rigid layer material 61, plating layers 91 and 93 are formed on both surfaces of the rigid layer material 61, and plating is performed in the slit 63. Fill with metal (copper) 95. This copper plating can be performed in the manner of filling plating in which the plating metal 95 is satisfactorily filled in the slit 63 whose bottom is closed by the resin film 65.

つぎに、図7(d)に示されているように、リジット層材61の一方の面(樹脂フィルム65を貼り合わされている面)に形成されためっき層93をエッチングして回路パターン97を形成する。このエッチングによって樹脂フィルム65の貼り合わせ部分のめっき層93は除去し、樹脂フィルム65を外部に露呈させる。   Next, as shown in FIG. 7D, the circuit pattern 97 is formed by etching the plating layer 93 formed on one surface of the rigid layer material 61 (the surface on which the resin film 65 is bonded). Form. By this etching, the plating layer 93 at the bonded portion of the resin film 65 is removed, and the resin film 65 is exposed to the outside.

つぎに、図7(e)に示されているように、樹脂フィルム65のうち、スリット63に対応する部分、つまり、スリット63の底部をなしていた部分を、レーザ光照射やプラズマエッチングによって除去(符号E)する。   Next, as shown in FIG. 7 (e), the portion of the resin film 65 corresponding to the slit 63, that is, the portion that formed the bottom of the slit 63 is removed by laser light irradiation or plasma etching. (Reference E).

つぎに、図7(f)に示されているように、ポリイミドフィルム等による絶縁層201の両面に回路パターン203、204を形成されたコア基板202を作成する。   Next, as shown in FIG. 7F, a core substrate 202 having circuit patterns 203 and 204 formed on both surfaces of an insulating layer 201 made of polyimide film or the like is formed.

つぎに、図7(g)に示されているように、コア基板202の両面に各々回路パターン203、205を被覆するように電気絶縁性のカバーレイ207、209を貼り合わせて両面タイプのフレキシブル層200を作成し、カバーレイ207と209の各々に、リジット層材61の前記一方の面を貼り合わせ面として当該リジット層材61のリジッド部分Rのみを接着剤層211、213によって貼り付ける。   Next, as shown in FIG. 7G, both sides of the core substrate 202 are bonded to each other with electrically insulating coverlays 207 and 209 so as to cover the circuit patterns 203 and 205, respectively. The layer 200 is formed, and only the rigid portion R of the rigid layer material 61 is adhered to each of the coverlays 207 and 209 by using the adhesive layers 211 and 213 with the one surface of the rigid layer material 61 as a bonding surface.

そして、フレキシブル層200の両面にあるリジット層材61の各々のめっき層91をエッチングして回路パターン99を形成する。このエッチング工程では、スリット63内のめっき金属95は除去しない。さらに、層間導通を行うめっきスルーホール215を形成する   Then, the circuit patterns 99 are formed by etching the plating layers 91 of the rigid layer material 61 on both surfaces of the flexible layer 200. In this etching process, the plated metal 95 in the slit 63 is not removed. Further, a plated through hole 215 for performing interlayer conduction is formed.

つぎに、図8(h)に示されているように、フレキシブル層200の両面にあるリジット層材61の各々の他方の面(回路パターン99を形成されている面)の全面にビルドアップ樹脂層217、219をラミネート法等によって積層する。   Next, as shown in FIG. 8 (h), build-up resin is formed on the entire surface of the other surface (surface on which the circuit pattern 99 is formed) of each of the rigid layer materials 61 on both surfaces of the flexible layer 200. The layers 217 and 219 are laminated by a laminating method or the like.

ビルドアップ樹脂層217、219、回路パターン99の埋め込み性を確保するために、加熱ブレスによるリジット層材61との貼り合わせ時に流動性を示す樹脂材料により構成されている。これにより、ビルドアップ樹脂層217、219の表面の平坦性が得られ、ひいては、リジッド部分Rの表面の平坦性が得られる。   In order to secure the embedding property of the build-up resin layers 217 and 219 and the circuit pattern 99, the resin layer is made of a resin material that exhibits fluidity when bonded to the rigid layer material 61 by heating brace. Thereby, the flatness of the surface of the buildup resin layers 217 and 219 is obtained, and consequently the flatness of the surface of the rigid portion R is obtained.

このように、ビルドアップ樹脂層217、219は、加熱ブレスによるビルドアップ時に、流動性を示すが、スリット63がめっき金属95によって塞がれているから、流動性をもったビルドアップ樹脂層217、219が不必要にフレキシブル部分F(図9(k)参照)に染み出すことがない。   As described above, the build-up resin layers 217 and 219 exhibit fluidity at the time of build-up by heating breathing. However, since the slit 63 is blocked by the plating metal 95, the build-up resin layer 217 having fluidity is provided. 219 does not unnecessarily ooze into the flexible portion F (see FIG. 9K).

つぎに、図8(i)に示されているように、ビルドアップ樹脂層217、219の各々に、レーザ光照射によってビアホール221、223を開口形成する。このビアホール形成工程時に、つまり、ビアホール形成工程と同工程で、スリット63に対応する部分のビルドアップ樹脂層217、219を除去し、スリット63に連通するスリット225、227をビルドアップ樹脂層221、223に形成する。   Next, as shown in FIG. 8I, via holes 221 and 223 are formed in each of the build-up resin layers 217 and 219 by laser light irradiation. During this via hole formation process, that is, in the same process as the via hole formation process, the buildup resin layers 217 and 219 corresponding to the slit 63 are removed, and the slits 225 and 227 communicating with the slit 63 are replaced with the buildup resin layer 221. 223.

スリット225、227を形成するためのレーザ光照射は、スリット63のめっき金属95に対しては行われるが、回路パターン93に対しては行われないから、レーザ光照射による基板表面のダメージを考慮する必要がない。   Although the laser beam irradiation for forming the slits 225 and 227 is performed on the plated metal 95 of the slit 63 but not the circuit pattern 93, the damage on the substrate surface due to the laser beam irradiation is taken into consideration. There is no need to do.

つぎに、図8(j)に示されているように、ビルドアップ樹脂層221、223の表面をフィリングめっきし、ビアホール221、223内をめっき金属(銅)233、235で埋めてフィルドビアとする共に、ビルドアップ樹脂層221、223の表面にめっき層を形成し、これをエッチングして回路パターン229、231を形成する。この回路パターン形成のエッチング工程で、つまり、このエッチング工程と同工程で、スリット63に充填されていためっき金属95を除去する。   Next, as shown in FIG. 8J, the surfaces of the build-up resin layers 221 and 223 are filling-plated, and the via holes 221 and 223 are filled with plated metals (copper) 233 and 235 to form filled vias. In both cases, plating layers are formed on the surfaces of the build-up resin layers 221 and 223, and this is etched to form circuit patterns 229 and 231. In this circuit pattern forming etching step, that is, in the same step as this etching step, the plating metal 95 filled in the slit 63 is removed.

つぎに、図9(k)に示されているように、打ち抜きプレス等によって部分ビルドアップ配線板の外形加工を施す。この外形加工によってフレキシブル部分Fに相当する部分Frのリジット層材61が、この部分のビルドアップ樹脂層221、223と共に、リジット部Rより分離し、フレキシブル部分Fに相当する部分Frのリジット層材61が、この部分のビルドアップ樹脂層221、223と共に除去される。   Next, as shown in FIG. 9 (k), the external shape processing of the partial buildup wiring board is performed by a punching press or the like. By this outer shape processing, the rigid layer material 61 of the portion Fr corresponding to the flexible portion F is separated from the rigid portion R together with the buildup resin layers 221 and 223 of this portion, and the rigid layer material of the portion Fr corresponding to the flexible portion F is obtained. 61 is removed together with the build-up resin layers 221 and 223 of this portion.

これにより、ビルドアップされたリジット部Rと、フレキシブル層200だけによるフレキシブル部分Fとによる部分ビルドアップ配線板が得られる。   Thereby, the partial buildup wiring board by the rigid part R built up and the flexible part F only by the flexible layer 200 is obtained.

この工法では、フレキシブル層200によるフレキシブル部分Fに、染み出しによるビルドアップ樹脂層81の樹脂が存在することがないので、フレキシブル部分Fのフレキシブル性が損なわれることがない。   In this construction method, since the resin of the build-up resin layer 81 due to bleeding does not exist in the flexible portion F of the flexible layer 200, the flexibility of the flexible portion F is not impaired.

また、この実施形態でも、スリット63は、薄い銅箔層を残すような座ぐり加工でなく、リジット層材61を貫通する穴明け加工でよいから、スリット63の加工が容易になり、生産性が向上する。   Also in this embodiment, the slit 63 is not a counterbore process that leaves a thin copper foil layer, but may be a drilling process that penetrates the rigid layer material 61, so that the process of the slit 63 is facilitated and productivity is improved. Will improve.

スリット63を金属で埋めることや、これを除去することは、めっきや回路形成の工程内でできる作業なので、製造負荷を最小限に抑えることができる。さらに、スリットに銅をめっき充填すれば、銅厚を厚くできるので。レーザ加工によるダメージをさらに軽減できる。   Filling the slit 63 with metal or removing it is an operation that can be performed in the process of plating or circuit formation, so that the manufacturing load can be minimized. Furthermore, if the slit is filled with copper, the copper thickness can be increased. Damage due to laser processing can be further reduced.

(a)〜(e)は本発明に係る部分ビルドアップ配線板の製造方法における一実施の形態を示す工程図である。(A)-(e) is process drawing which shows one Embodiment in the manufacturing method of the partial buildup wiring board which concerns on this invention. (a)〜(d)は本実施の形態の変形例を示す銅箔層を除去する工程図である。(A)-(d) is process drawing which removes the copper foil layer which shows the modification of this Embodiment. (a)〜(d)は本発明に係る部分ビルドアップ配線板の製造方法における実施例の工程(前半)を示す工程図である。(A)-(d) is process drawing which shows the process (first half) of the Example in the manufacturing method of the partial buildup wiring board which concerns on this invention. (e),(f)は本発明に係る部分ビルドアップ配線板の製造方法における実施例の工程(後半)を示す工程図である。(E), (f) is process drawing which shows the process (second half) of the Example in the manufacturing method of the partial buildup wiring board based on this invention. (a)〜(f)は本発明による部分ビルドアップ配線板の製造方法の他の実施形態の工程(前半)を示す工程図である。(A)-(f) is process drawing which shows the process (first half) of other embodiment of the manufacturing method of the partial buildup wiring board by this invention. (g〜(j)は本発明による部分ビルドアップ配線板の製造方法の他の実施形態の工程(後半)を示す工程図である。(G- (j) is process drawing which shows the process (latter half) of other embodiment of the manufacturing method of the partial buildup wiring board by this invention. (a)〜(g)は本発明による部分ビルドアップ配線板の製造方法のもう一つの実施形態の工程(前半)を示す工程図である。(A)-(g) is process drawing which shows the process (first half) of another embodiment of the manufacturing method of the partial buildup wiring board by this invention. (h)〜(j)は本発明による部分ビルドアップ配線板の製造方法のもう一つの実施形態の工程(後半)を示す工程図である。(H)-(j) is process drawing which shows the process (second half) of another embodiment of the manufacturing method of the partial buildup wiring board by this invention. (k)は本発明による部分ビルドアップ配線板の製造方法のもう一つの実施形態の工程(後半)を示す工程図である。(K) is process drawing which shows the process (second half) of another embodiment of the manufacturing method of the partial buildup wiring board by this invention. 従来のリジッドフレックス回路基板のビルドアップ回路を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the buildup circuit of the conventional rigid flex circuit board. 従来のリジッドフレックス回路基板においてビルドアップ樹脂が染み出した状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state which the buildup resin oozed out in the conventional rigid flex circuit board. (a),(b)は特許文献3に開示されたリジッドフレックス回路基板を示す平面図,断面図である。(A), (b) is the top view and sectional drawing which show the rigid flex circuit board disclosed by patent document 3. FIG. (a),(b)は図12のリジッドフレックス回路基板においてビルドアップ樹脂が染み出した状態を示す平面図,断面図である。(A), (b) is the top view and sectional drawing which show the state which the buildup resin oozed out in the rigid flex circuit board of FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1 リジッド層
3 銅箔層(導体層)
5 スリット
7 フレキシブル層
9 回路パターン
11 カバーレイフィルム
13 接着層
15 コア基板
17 ビルドアップ樹脂層
19 ビアホール
21 トリミング部
23 キュア部
61 リジッド層材
63 スリット
65 樹脂フィルム
67 めっき層
69 めっき金属
70 フレキシブル層
81 ビルドアップ樹脂層
91、93 めっき層
95 めっき金属
200 フレキシブル層
202 コア基板
217、219 ビルドアップ樹脂層
1 Rigid layer 3 Copper foil layer (conductor layer)
5 Slit 7 Flexible Layer 9 Circuit Pattern 11 Coverlay Film 13 Adhesive Layer 15 Core Substrate 17 Build-up Resin Layer 19 Via Hole 21 Trimming Part 23 Cure Part 61 Rigid Layer Material 63 Slit 65 Resin Film 67 Plating Layer 69 Plating Metal 70 Flexible Layer 81 Build-up resin layers 91 and 93 Plating layer 95 Plating metal 200 Flexible layer 202 Core substrate 217 and 219 Build-up resin layer

Claims (10)

フレキシブル層の部分的領域にリジッド層を積層し、このリジッド層にビルドアップ樹脂層を積層する部分ビルドアップ配線板の製造方法であって、
前記リジッド層の一側に導体層を形成し、かつ前記リジッド層の前記フレキシブル層に対応する部分にスリットを形成しておき、このリジッド層を前記フレキシブル層に積層すると共に、前記スリットを塞ぐように前記導体層の一部を蓋部として残し、前記リジッド層に前記ビルドアップ樹脂層を形成し、前記スリット上に位置する前記導体層及び前記を除去して前記スリットを開口させ、前記フレキシブル層上に位置する前記リジッド層及び前記ビルドアップ樹脂層を除去することを特徴とする部分ビルドアップ配線板の製造方法。
A method for producing a partial buildup wiring board in which a rigid layer is laminated on a partial region of a flexible layer, and a buildup resin layer is laminated on the rigid layer,
A conductor layer is formed on one side of the rigid layer, and a slit is formed in a portion of the rigid layer corresponding to the flexible layer, and the rigid layer is laminated on the flexible layer and the slit is closed. A part of the conductor layer is left as a lid, the build-up resin layer is formed on the rigid layer, the conductor layer located on the slit and the slit are removed to open the slit, and the flexible layer The manufacturing method of the partial buildup wiring board characterized by removing the rigid layer and the buildup resin layer which are located on the top.
前記リジッド層の上面が平坦に形成され、このリジッド層上面に前記フレキシブル層を積層することを特徴とする請求項1記載の部分ビルドアップ配線板の製造方法。   2. The method of manufacturing a partial buildup wiring board according to claim 1, wherein an upper surface of the rigid layer is formed flat, and the flexible layer is laminated on the upper surface of the rigid layer. 前記リジッド層の上面が平坦に形成され、このリジッド層上面に前記ビルドアップ樹脂層を積層することを特徴とする請求項1記載の部分ビルドアップ配線板の製造方法。   2. The method of manufacturing a partial buildup wiring board according to claim 1, wherein an upper surface of the rigid layer is formed flat, and the buildup resin layer is laminated on the upper surface of the rigid layer. 前記リジッド層に形成される前記スリットは、座ぐり加工にて前記リジッド層のみを切欠いて形成することを特徴とする請求項1記載の部分ビルドアップ配線板の製造方法。   2. The method of manufacturing a partial buildup wiring board according to claim 1, wherein the slit formed in the rigid layer is formed by notching only the rigid layer by spot facing. 前記スリット上に位置する前記ビルドアップ樹脂層は、レーザ光を照射することによりビアホールを開口するのと同時に除去される一方、前記スリット上に位置する前記導体層は、回路形成するのと同時に除去されることを特徴とする請求項1記載の部分ビルドアップ配線板の製造方法。   The build-up resin layer located on the slit is removed at the same time as opening the via hole by irradiating laser light, while the conductor layer located on the slit is removed at the same time as forming the circuit. The manufacturing method of the partial buildup wiring board of Claim 1 characterized by the above-mentioned. 前記フレキシブル層上に位置する前記リジッド層及び前記ビルドアップ樹脂層は、外形加工により同時に除去されることを特徴とする請求項1記載の部分ビルドアップ配線板の製造方法。   2. The method of manufacturing a partial build-up wiring board according to claim 1, wherein the rigid layer and the build-up resin layer located on the flexible layer are simultaneously removed by external processing. フレキシブル層の部分的領域にリジッド層を有し、当該リジッド層上にビルドアップ樹脂層を積層され、多層化されたリジッド部分と、前記フレキシブル層のみによるフレキシブル部分とを有するビルドアップ配線板の製造方法であって、
前記リジッド部分と前記フレキシブル部分に相当する部分と含むリジット層材を用い、当該リジット層材の前記リジッド部分と前記フレキシブル部分に相当する部分との境界部に沿ったスリットを貫通開口する工程と、
前記リジット層材の一方の面に、前記スリットの片側の開口を塞ぐように樹脂フィルムを貼り合わせる工程と、
前記リジット層材の他方の面に、めっきを行い、当該リジット層材の他方の面にめっき層を形成すると共にスリット内にめっき金属を充填する工程と、
前記リジット層材の前記一方の面を貼り合わせ面として当該リジット層材の前記リジッド部分のみを前記フレキシブル層上に貼り付ける工程と、
前記リジット層材の他方の面に形成された前記めっき層を前記スリット内のメッキ金属を残すようにエッチングして回路パターンを形成する工程と、
前記リジット層材の前記他方の面の全面にビルドアップ樹脂層を積層する工程と、
前記スリットに対応する部分の前記ビルドアップ樹脂層を除去する工程と、
前記スリットに充填されためっき金属を除去する工程と、
前記フレキシブル部分に相当する部分の前記リジット層材を除去する工程と、
を含む部分ビルドアップ配線板の製造方法。
Manufacture of a build-up wiring board having a rigid layer in a partial region of a flexible layer, a build-up resin layer laminated on the rigid layer, and having a multi-layered rigid portion and a flexible portion only by the flexible layer A method,
Using a rigid layer material including the rigid portion and a portion corresponding to the flexible portion, and through-opening a slit along a boundary between the rigid portion of the rigid layer material and the portion corresponding to the flexible portion;
A step of bonding a resin film to one surface of the rigid layer material so as to close the opening on one side of the slit;
Performing plating on the other surface of the rigid layer material, forming a plating layer on the other surface of the rigid layer material and filling a plating metal in the slit;
A step of attaching only the rigid portion of the rigid layer material on the flexible layer with the one surface of the rigid layer material as a bonding surface;
Etching the plating layer formed on the other surface of the rigid layer material to leave a plating metal in the slit to form a circuit pattern;
Laminating a buildup resin layer over the entire surface of the other surface of the rigid layer material;
Removing the build-up resin layer corresponding to the slit;
Removing the plating metal filled in the slit;
Removing the rigid layer material in a portion corresponding to the flexible portion;
Method of manufacturing a partial build-up wiring board including
フレキシブル層の部分的領域にリジッド層を有し、当該リジッド層上にビルドアップ樹脂層を積層され、多層化されたリジッド部分と、前記フレキシブル層のみによるフレキシブル部分とを有するビルドアップ配線板の製造方法であって、
前記リジッド部分と前記フレキシブル部分に相当する部分と含むリジット層材を用い、当該リジット層材の前記リジッド部分と前記フレキシブル部分に相当する部分との境界部に沿ったスリットを貫通開口する工程と、
前記リジット層材の一方の面に、前記スリットの片側の開口を塞ぐように樹脂フィルムを貼り合わせる工程と、
前記リジット層材の両面に、めっきを行い、当該リジット層材の両面にめっき層を形成すると共にスリット内にめっき金属を充填する工程と、
前記リジット層材の前記一方の面に形成された前記めっき層をエッチングして回路パターンを形成する工程と、
前記リジット層材の前記一方の面を貼り合わせ面として当該リジット層材の前記リジッド部分のみを前記フレキシブル層上に貼り付ける工程と、
前記リジット層材の他方の面に形成された前記めっき層を前記スリット内のメッキ金属を残すようにエッチングして回路パターンを形成する工程と、
前記リジット層材の前記他方の面の全面にビルドアップ樹脂層を積層する工程と、
前記スリットに対応する部分の前記ビルドアップ樹脂層を除去する工程と、
前記スリットに充填されためっき金属を除去する工程と、
前記フレキシブル部分に相当する部分の前記リジット層材を除去する工程と、
を含む部分ビルドアップ配線板の製造方法。
Manufacture of a build-up wiring board having a rigid layer in a partial region of a flexible layer, a build-up resin layer laminated on the rigid layer, and having a multi-layered rigid portion and a flexible portion only by the flexible layer A method,
Using a rigid layer material including the rigid portion and a portion corresponding to the flexible portion, and through-opening a slit along a boundary between the rigid portion of the rigid layer material and the portion corresponding to the flexible portion;
A step of bonding a resin film to one surface of the rigid layer material so as to close the opening on one side of the slit;
Performing plating on both surfaces of the rigid layer material, forming a plating layer on both surfaces of the rigid layer material and filling the slit with a plating metal; and
Etching the plating layer formed on the one surface of the rigid layer material to form a circuit pattern;
A step of attaching only the rigid portion of the rigid layer material on the flexible layer with the one surface of the rigid layer material as a bonding surface;
Etching the plating layer formed on the other surface of the rigid layer material to leave a plating metal in the slit to form a circuit pattern;
Laminating a buildup resin layer over the entire surface of the other surface of the rigid layer material;
Removing the build-up resin layer corresponding to the slit;
Removing the plating metal filled in the slit;
Removing the rigid layer material in a portion corresponding to the flexible portion;
Method of manufacturing a partial build-up wiring board including
前記スリットに対応する部分の前記ビルドアップ樹脂層を除去する工程は、レーザ光照射によって前記ビルドアップ樹脂層にビアホールを形成する工程と同じ工程で行う請求項7または8記載の部分ビルドアップ配線板の製造方法。
造方法。
The partial buildup wiring board according to claim 7 or 8, wherein the step of removing the buildup resin layer in a portion corresponding to the slit is performed in the same step as the step of forming a via hole in the buildup resin layer by laser light irradiation. Manufacturing method.
Manufacturing method.
前記フレキシブル部分に相当する部分の前記リジット層材を除去する工程は、部分ビルドアップ配線板の外形加工する工程と同じ工程で行う請求項7〜9の何れか1項記載の部分ビルドアップ配線板の製造方法。   The partial buildup wiring board according to any one of claims 7 to 9, wherein the step of removing the rigid layer material in a portion corresponding to the flexible portion is performed in the same step as the step of externally processing the partial buildup wiring board. Manufacturing method.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR101055517B1 (en) * 2008-12-15 2011-08-08 삼성전기주식회사 Manufacturing method of rigid-flexible printed circuit board

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