JP2006200968A - 非破壊検査用プローブおよびこれを含む非破壊検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 被検体の形状や検査の状況を問わず、容易かつ高精度にプローブの位置検出を行うことができる非破壊検査プローブおよびこれを含む非破壊検査装置を提供すること。
【解決手段】 被検体の傷や状態を検査するための検査部と、この検査部を収納する収納部とを備え、ケーブルを介して検査装置本体に接続されて用いられる非破壊検査用プローブ1において、前記収納部に、互いに直交するX軸およびY軸によって規定されるXY平面上の前記検査部の動きを検出する検出手段38が設けられていることを特徴とする。
【選択図】 図3
【解決手段】 被検体の傷や状態を検査するための検査部と、この検査部を収納する収納部とを備え、ケーブルを介して検査装置本体に接続されて用いられる非破壊検査用プローブ1において、前記収納部に、互いに直交するX軸およびY軸によって規定されるXY平面上の前記検査部の動きを検出する検出手段38が設けられていることを特徴とする。
【選択図】 図3
Description
本発明は、被検体の傷や状態を検査するための非破壊検査用プローブおよびこれを含む非破壊検査装置に関するものである。
近年、金属等の被検体の傷や状態などを検査する方法として、超音波を利用する超音波探傷法や、渦電流を利用する渦流探傷法などが知られている。それら検査を行うためには、一般に、非破壊検査用プローブと、この非破壊検査用プローブを操作するための検査装置本体とを備えた非破壊検査装置が使用される。
これら非破壊検査装置について、検査対象範囲を漏れなく検査したかどうかを確認するために、非破壊検査用プローブの移動軌跡を調べる必要があるが、そのためには、非破壊検査用プローブの位置を検出する必要がある。
これら非破壊検査装置について、検査対象範囲を漏れなく検査したかどうかを確認するために、非破壊検査用プローブの移動軌跡を調べる必要があるが、そのためには、非破壊検査用プローブの位置を検出する必要がある。
そこで、探傷プローブと旋回ベースとを伸縮自在かつ回転自在に取り付けられたワイヤによって接続し、そのワイヤの伸縮量と回転角度から探傷プローブの位置を検出するものが提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
また、探傷プローブにレーザターゲットを設け、被検体の外部に設置された複数のレーザ光投光検出器からレーザターゲットに光を投光して、そのレーザターゲットの位置を検出するものも提案されている(例えば、特許文献2参照。)。
特開2002−340868号公報
特開2000−46810号公報
また、探傷プローブにレーザターゲットを設け、被検体の外部に設置された複数のレーザ光投光検出器からレーザターゲットに光を投光して、そのレーザターゲットの位置を検出するものも提案されている(例えば、特許文献2参照。)。
しかしながら、上記のようなワイヤの伸縮量と回転角度によって検出する構成にすると、探傷プローブがワイヤによって機械的に拘束されているため、作業性が悪化してしまうという問題がある。さらに、ワイヤを張って位置検出を行うため、配管のような曲面状の被検体には対応できないという問題もある。
また、レーザ光投光検出器およびレーザターゲットを利用して検出する構成にすると、探傷プローブと離れた位置に設置した複数のレーザ光投光検出器の間の光路を常に確保する必要があるため、作業時にそれら光路を遮らないように、姿勢や立ち位置などに注意しなければならず、やはり作業性が悪化してしまうという問題がある。さらに、配管などの曲面状の検査対象については、光路の影となる場所では改めて検出器を設置し直す必要があるため、多大な時間がかかってしまうだけでなく、検査精度も低下してしまうという問題もある。
また、レーザ光投光検出器およびレーザターゲットを利用して検出する構成にすると、探傷プローブと離れた位置に設置した複数のレーザ光投光検出器の間の光路を常に確保する必要があるため、作業時にそれら光路を遮らないように、姿勢や立ち位置などに注意しなければならず、やはり作業性が悪化してしまうという問題がある。さらに、配管などの曲面状の検査対象については、光路の影となる場所では改めて検出器を設置し直す必要があるため、多大な時間がかかってしまうだけでなく、検査精度も低下してしまうという問題もある。
本発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、被検体の形状や検査の状況を問わず、容易かつ高精度にプローブの位置検出を行うことができる非破壊検査プローブおよびこれを含む非破壊検査装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するために、本発明は以下の手段を提供する。
請求項1に係る発明は、被検体の傷や状態を検出するための検査信号を発する検査部と、この検査部を収納する収納部とを備え、ケーブルを介して検査装置本体に接続されて用いられる非破壊検査用プローブにおいて、前記収納部に、互いに直交するX軸およびY軸によって規定されるXY平面上の前記検査部の動きを検出する検出手段が設けられていることを特徴とする。
請求項1に係る発明は、被検体の傷や状態を検出するための検査信号を発する検査部と、この検査部を収納する収納部とを備え、ケーブルを介して検査装置本体に接続されて用いられる非破壊検査用プローブにおいて、前記収納部に、互いに直交するX軸およびY軸によって規定されるXY平面上の前記検査部の動きを検出する検出手段が設けられていることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査用プローブにおいては、収納部に設けられた検出手段により、XY平面上の検査部の動きが検出される。
これにより、ワイヤなどに邪魔されたり、光路を遮らないように考えたりすることなく、容易かつ迅速に、検査部の加速度や速度、変位などの位置に関する情報を得ることができる。
これにより、ワイヤなどに邪魔されたり、光路を遮らないように考えたりすることなく、容易かつ迅速に、検査部の加速度や速度、変位などの位置に関する情報を得ることができる。
請求項2に係る発明は、請求項1に記載の非破壊検査用プローブにおいて、前記収納部の内部に、前記検査部と前記ケーブルとを接続する中継基板を備え、この中継基板上に、前記検出手段が設けられていることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査用プローブにおいては、収納部の内部に中継基板が設けられてケーブルと検査部とが接続される。そして、その中継基板上に検出手段が設けられ、検査部の前記動きが検出される。
これにより、検出手段を収納部内に容易かつ確実に設置することができ、さらに、小型化を容易にすることができる。
これにより、検出手段を収納部内に容易かつ確実に設置することができ、さらに、小型化を容易にすることができる。
請求項3に係る発明は、請求項1または請求項2に記載の非破壊検査用プローブにおいて、前記ケーブルを備えることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査用プローブにおいては、前記検査部に前記ケーブルが接続される。
これにより、ケーブルを介して、検査装置本体に非破壊検査用プローブを容易に取り付けることができる。
これにより、ケーブルを介して、検査装置本体に非破壊検査用プローブを容易に取り付けることができる。
請求項4に係る発明は、被検体の傷や状態を検査するための検査部と、、この検査部を収納する収納部と、収納部用ケーブルコネクタを介して前記収納部に着脱可能に取り付けられるケーブルとを備え、このケーブルを介して検査装置本体に接続されて用いられる非破壊検査用プローブにおいて、前記収納部用ケーブルコネクタに、互いに直交するX軸およびY軸によって規定されるXY平面上の前記検査部の動きを検出する検出手段を備えることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査用プローブにおいては、収納部用ケーブルコネクタを介して、ケーブルが収納部に着脱可能に取り付けられる。そして、収納部用ケーブルコネクタに検出手段が設けられる。
これにより、検出手段が収納部に設けられていない場合であっても、ケーブルを取り付けるだけで、容易にその動きを検出することができる。
これにより、検出手段が収納部に設けられていない場合であっても、ケーブルを取り付けるだけで、容易にその動きを検出することができる。
請求項5に係る発明は、請求項4に記載の非破壊検査用プローブにおいて、前記ケーブルと前記収納部との相対回転を規制する規制手段を備えることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査用プローブにおいては、ケーブルを収納部に取り付けると、規制手段によって、ケーブルと収納部との相対回転が規制される。
これにより、ケーブルと収納部とを確実に固定し、高精度な検出を行うことができる。
これにより、ケーブルと収納部とを確実に固定し、高精度な検出を行うことができる。
請求項6に係る発明は、請求項3から請求項5のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブにおいて、前記ケーブルが、前記検査装置本体に着脱可能に取り付けるための本体用ケーブルコネクタを備え、この本体用ケーブルコネクタが、前記検査部を前記検査装置本体に接続するための検査用コネクタと、前記検出手段を前記検査装置本体に接続するための検出用コネクタとを別個に備えていることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査装置においては、本体用ケーブルコネクタを介して、ケーブルが検査装置本体に着脱可能に取り付けられる。このとき、検査用コネクタと、検出用コネクタとが別個に取り付けられる。
これにより、検査用コネクタを通る検査信号と検出用コネクタを通る検出信号とが互いに干渉するのを防止することができ、より高精度な検査を行うことができる。
これにより、検査用コネクタを通る検査信号と検出用コネクタを通る検出信号とが互いに干渉するのを防止することができ、より高精度な検査を行うことができる。
請求項7に係る発明は、請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブにおいて、前記検出手段が、加速度センサを備えることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査用プローブにおいては、加速度センサにより、XY平面に沿った検査部の加速度が検出される。
請求項8に係る発明は、請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブにおいて、前記検出手段が、前記X軸およびY軸の2軸回りにおける前記検査部の回転を検出するXY回転検出部を備えることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査用プローブにおいては、XY回転検出部により、X軸およびY軸の2軸回りにおける検査部の回転が検出される。そのため、検査部の三次元の移動が検出される。
これにより、三次元形状の被検体の検査においても、検査部の位置に関する情報を得ることができる。
これにより、三次元形状の被検体の検査においても、検査部の位置に関する情報を得ることができる。
請求項9に係る発明は、請求項8に記載の非破壊検査用プローブにおいて、前記XY回転検出部が、角加速度センサ、角速度センサまたは角変位センサであることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査用プローブにおいては、角加速度センサ、角速度センサまたは角変位センサにより、X軸およびY軸の2軸回りにおける検査部の角加速度、角速度または角変位が検出される。
請求項10に係る発明は、請求項1から9のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブにおいて、前記検出手段が、前記XY平面に直交するZ軸の方向の動きを検出するZ軸動検出部を備えることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査用プローブにおいては、Z軸動検出部により、Z軸方向の検査部の動きが検出される。
これにより、検査部が被検体から浮いた状態であるか否かを検出することができ、さらに高精度な検出を行うことができる。
これにより、検査部が被検体から浮いた状態であるか否かを検出することができ、さらに高精度な検出を行うことができる。
請求項11に係る発明は、前記検出手段が、前記XY平面に直交するZ軸の回りにおける前記検査部の回転を検出するZ軸回転検出部を備えることを特徴とする請求項1から10のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブ。
この発明に係る非破壊検査用プローブにおいては、Z軸回転検出部により、Z軸回りにおける検査部の回転が検出される。
これにより、検査中に検査部がZ軸回りに振れた状態を検出することができ、さらに高精度な検出を行うことができる。
これにより、検査中に検査部がZ軸回りに振れた状態を検出することができ、さらに高精度な検出を行うことができる。
請求項12に係る発明は、請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブにおいて、前記検出手段からの検出信号が入力される信号処理部を備え、この信号処理部が、前記検出信号を、前記XY平面上における前記検査部の位置を示す信号に変換するXY位置演算回路を備えることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査用プローブにおいては、検出手段からの検出信号が信号処理部に入力されると、XY位置演算回路により、その検出信号が、XY平面上における検査部の位置(各XY軸を基準としたXY平面上における検査部のズレ量)を示す信号に変換される。
これにより、検査装置本体が信号処理部を備えていない場合であっても、検査部のXY平面上の位置情報を得ることができる。
これにより、検査装置本体が信号処理部を備えていない場合であっても、検査部のXY平面上の位置情報を得ることができる。
請求項13に係る発明は、請求項8から請求項12のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブにおいて、前記検出手段からの検出信号が入力される信号処理部を備え、この信号処理部が、前記検出信号を、前記2軸回りにおける前記検査部の姿勢角度を示す信号に変換するXY角度演算回路を備えることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査用プローブにおいては、検出手段からの検出信号が信号処理部に入力されると、XY角度演算回路により、その検出信号が、2軸回りにおける検査部の姿勢角度(各XY軸を基準とした2軸回りの検査部のズレ量)を示す信号に変換される。
これにより、検査装置本体が信号処理部を備えていない場合であっても、検査部のXY軸回りの姿勢角度情報を得ることができる。
これにより、検査装置本体が信号処理部を備えていない場合であっても、検査部のXY軸回りの姿勢角度情報を得ることができる。
請求項14に係る発明は、請求項10から請求項13のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブにおいて、前記検出手段からの検出信号が入力される信号処理部を備え、この信号処理部が、前記検出信号を、前記Z軸の方向における前記検査部の位置を示す信号に変換するZ軸位置演算回路を備えることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査装置においては、検出手段からの検出信号が信号処理部に入力されると、Z軸位置演算回路により、その検出信号が、Z軸方向における検査部の位置(Z軸を基準としたZ軸方向における検査部のズレ量)を示す信号に変換される。
これにより、検査装置本体が信号処理部を備えていない場合であっても、検査部のZ軸方向の位置情報を得ることができる。
これにより、検査装置本体が信号処理部を備えていない場合であっても、検査部のZ軸方向の位置情報を得ることができる。
請求項15に係る発明は、請求項11から請求項13のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブにおいて、前記検出手段からの検出信号が入力される信号処理部を備え、この信号処理部が、前記検出信号を、前記Z軸回りにおける前記検査部の姿勢角度を示す信号に変換するZ軸角度演算回路を備えることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査装置においては、検出手段からの検出信号が信号処理部に入力されると、Z軸角度演算回路により、その検出信号が、Z軸回りにおける検査部の姿勢角度(Z軸を基準としたZ軸回りの検査部のズレ量)を示す信号に変換される。
これにより、検査装置本体が信号処理部を備えていない場合であっても、検査部のZ軸回りの姿勢角度情報を得ることができる。
これにより、検査装置本体が信号処理部を備えていない場合であっても、検査部のZ軸回りの姿勢角度情報を得ることができる。
請求項16に係る発明は、請求項1から請求項15のいずれか一項に記載の非破壊検査プローブと、この非破壊検査用プローブを操作するための検査装置本体とを備えることを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査装置においては、請求項1から請求項15のいずれか一項に記載の非破壊検査プローブが検査装置本体に取り付けられる。
これにより、上記請求項1から請求項15のいずれか一項に係る発明と同様の効果を奏することができる。
これにより、上記請求項1から請求項15のいずれか一項に係る発明と同様の効果を奏することができる。
請求項17に係る発明は、請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の非破壊検査プローブと、この非破壊検査用プローブを操作するための検査装置本体と、この検査装置本体に着脱可能に取り付けられる外部機器とを備え、この外部機器に、前記検出手段からの検出信号が入力される信号処理部が設けられ、この信号処理部が、前記入力された検出信号を、前記検査部の変位を示す信号に変換することを特徴とする。
この発明に係る非破壊検査装置においては、請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の非破壊検査プローブおよび外部機器が、検査装置本体に取り付けられる。そして、外部機器に設けられた信号処理部に検出信号が入力されると、その検出信号は、検査部の変位を示す信号に変換される。
これにより、非破壊検査プローブおよび検査装置本体が、信号処理部を備えていない場合であっても、検査部の変位情報を得ることができる。
これにより、非破壊検査プローブおよび検査装置本体が、信号処理部を備えていない場合であっても、検査部の変位情報を得ることができる。
本発明によれば、収納部や収納部用ケーブルコネクタに検出手段が設けられているため、被検体の形状や検査の状況を問わず、プローブの位置に関する情報を容易に得ることができる。
(実施例1)
以下、本発明の第1実施例における非破壊検査装置について、図面を参照して説明する。
図1は、本発明を超音波探傷装置に適用した場合の例を示す図であって、符号1は超音波探傷装置を示している。
この超音波探傷装置(非破壊検査装置)1は、被検体Wに押し当てて探傷を行うプローブ(非破壊検査用プローブ)2と、このプローブ2を操作するための箱型の装置本体部(検査装置本体)3とを備えている。
以下、本発明の第1実施例における非破壊検査装置について、図面を参照して説明する。
図1は、本発明を超音波探傷装置に適用した場合の例を示す図であって、符号1は超音波探傷装置を示している。
この超音波探傷装置(非破壊検査装置)1は、被検体Wに押し当てて探傷を行うプローブ(非破壊検査用プローブ)2と、このプローブ2を操作するための箱型の装置本体部(検査装置本体)3とを備えている。
装置本体部3の前面中央には、探傷のための画像を映し出す表示パネル6が設けられており、この表示パネル6の近傍には各種の役割を担う操作スイッチ7が設けられている。装置本体部3の上面には、様々な入力機器および出力機器を接続するための接続部9が設けられている。
また、プローブ2は、箱型のプローブ本体11と、接続用のケーブル12とを備えている。ケーブル12の一端にはプローブ本体11が取り付けられており、他端には、本体用ケーブルコネクタ14が設けられている。そして、この本体用ケーブルコネクタ14を介してケーブル12の他端が接続部9に着脱可能に取り付けられている。これにより、ケーブル12を介して、プローブ本体11と装置本体部3とが接続されている。
また、プローブ2は、箱型のプローブ本体11と、接続用のケーブル12とを備えている。ケーブル12の一端にはプローブ本体11が取り付けられており、他端には、本体用ケーブルコネクタ14が設けられている。そして、この本体用ケーブルコネクタ14を介してケーブル12の他端が接続部9に着脱可能に取り付けられている。これにより、ケーブル12を介して、プローブ本体11と装置本体部3とが接続されている。
プローブ本体11は、図2に示すように、ステンレス鋼からなるハウジング(収納部)16を備えている。このハウジング16は有底角筒状をなしており、その側壁16aには円形の開口部13が形成されている。この開口部13には、ケーブル固定用のクランプ17が設けられており、これらクランプ17および開口部13を介してケーブル12がハウジング16内に挿通されるとともに、クランプ17によってケーブル12が固定された状態になっている。さらに、ハウジング16内には、超音波を発生させる超音波モジュール(検査部)18が設けられている。
超音波モジュール18は、箱型に形成された支持体20を備えている。支持体20は、背面負荷材として超音波を吸収する材質からなっている。例えば、支持体20は、ウレタン樹脂、シリコーン樹脂などの可とう性樹脂材料に金属粉や酸化金属粉を混合して注型し熱硬化することにより形成されている。
超音波モジュール18は、箱型に形成された支持体20を備えている。支持体20は、背面負荷材として超音波を吸収する材質からなっている。例えば、支持体20は、ウレタン樹脂、シリコーン樹脂などの可とう性樹脂材料に金属粉や酸化金属粉を混合して注型し熱硬化することにより形成されている。
支持体20の側壁の一つには、例えばフレキシブル基板やリジット基板等のプリント配線板から構成された電極配線部材(中継基板)19が取り付けられている。電極配線部材19は、グランド電極端子25と複数の信号電極端子26とを有している。そして、これら信号電極端子26は、ケーブル12の信号導線28にそれぞれ電気的に接続されており、グランド電極端子25はグランドシールド線29に電気的に接続されている。
また、支持体20の底面には、電圧を印加することにより変形する複数の圧電振動子21が設けられている。圧電振動子21は短冊状に形成されており、それらがアレイ状に配列されている。そして、圧電振動子21の一方の主面には、信号電極31が設けられており、この信号電極31に信号用リード34が接続されている。また、圧電振動子21の他方の主面には、グランド電極32が設けられており、このグランド電極32にグランド用リード35が接続されている。そして、信号用リード34が信号電極端子26に電気的に接続され、グランド用リード35がグランド電極端子25に電気的に接続されている。
さらに、圧電振動子21の底面全体には、図1に示す被検体Wに接触させる板状の音響整合層22が設けられている。この音響整合層22は、被検体Wと圧電振動子21との間の音響マッチングをとるとともに、圧電振動子21を保護するためのものである。
これらの支持体20、圧電振動子21および音響整合層22の重ね合わせ面はそれぞれ密着されており、そのためそれぞれの上面および底面はすべて平行に配置されている。
このような構成のもと、各電極端子25,26や各リード34,35などを介して各圧電振動子21に電圧を印加すると、それら圧電振動子21が振動することにより超音波を発するようになっている。そして、支持体20側に向かう超音波は支持体20により吸収、減衰し、音響整合層22側に向かう超音波は被検体Wに向かうようになっている。
これらの支持体20、圧電振動子21および音響整合層22の重ね合わせ面はそれぞれ密着されており、そのためそれぞれの上面および底面はすべて平行に配置されている。
このような構成のもと、各電極端子25,26や各リード34,35などを介して各圧電振動子21に電圧を印加すると、それら圧電振動子21が振動することにより超音波を発するようになっている。そして、支持体20側に向かう超音波は支持体20により吸収、減衰し、音響整合層22側に向かう超音波は被検体Wに向かうようになっている。
また、本実施例におけるプローブ2のハウジング16内には、XYリニア加速度センサ38が設けられている。このXYリニア加速度センサ38は、支持体20の上面20aに設置されている。XYリニア加速度センサ38は、互いに直交するX軸およびY軸によって規定されるXY平面上の超音波モジュール18の加速度を検出して、その検出結果を出力するようになっている。すなわち、XY平面とは、支持体20の上面20aの延在する面であって、支持体20、圧電振動子21および音響整合層22の上面(上面20aを除く)および底面は、上面20aに平行に配されているため、それらの上面および底面は、XY平面に平行に配置されている。さらに、X軸は、ハウジング16の側壁16aの延在方向であって、かつXY平面に沿った方向に向けられるように設定されており、Y軸は、X軸と直交する方向、すなわち側壁16aと直交する方向に向けられるように設定されている。
次いで、図3のブロック図を参照して、超音波探傷装置1の信号処理系に関して説明する。
装置本体部3は、各種制御を行うCPU(Central Processing Unit)40を備えている。このCPU40には、各種処理を行うための動作プログラムなどが予め記憶されたROM(Read Only Memory)41と、CPU40による処理の過程で発生する一時的なデータなどが記憶されるRAM(Random Access Memory)43とが接続されている。また、CPU40には、操作スイッチ7が電気的に接続されており、操作スイッチ7をONにすると、操作スイッチ7から各種操作信号が出力されて、CPU40に入力されるようになっている。
装置本体部3は、各種制御を行うCPU(Central Processing Unit)40を備えている。このCPU40には、各種処理を行うための動作プログラムなどが予め記憶されたROM(Read Only Memory)41と、CPU40による処理の過程で発生する一時的なデータなどが記憶されるRAM(Random Access Memory)43とが接続されている。また、CPU40には、操作スイッチ7が電気的に接続されており、操作スイッチ7をONにすると、操作スイッチ7から各種操作信号が出力されて、CPU40に入力されるようになっている。
さらに、装置本体部3には、例えばフラッシュメモリ等の外部記憶媒体42が着脱可能に取り付けられるようになっており、その外部記憶媒体42を取り付けると、その外部記憶媒体42がCPU40に電気的に接続されるようになっている。また、CPU40には、表示パネル6に画像を表示するための画像信号を出力する表示回路44が接続されており、この表示回路44から出力される画像信号が、表示パネル6に入力されるようになっている。
さらに、装置本体部3は、パルスを発生させるパルサー回路45を備えており、CPU40の制御のもと、パルサー回路45からの駆動パルスが、接続部9および本体用ケーブルコネクタ14を介して、圧電振動子21に印加されるようになっている。また、装置本体部3は、本体用ケーブルコネクタ14および接続部9を介して、圧電振動子21から出力された検査信号が入力されるレシーバ回路46を備えており、このレシーバ回路46から出力された出力信号が、信号処理回路47に入力されるようになっている。信号処理回路47は、CPU40の制御のもと、入力された検査信号をS−SAN画像などの画像信号に変換し、この画像信号を表示回路44に入力するようになっている。
また、本実施例における装置本体部3は、XYリニア加速度センサ38からの検出信号が入力されて、その検出信号を増幅させるアンプ50を備えており、このアンプ50からの出力信号が、A/D変換回路51によって、アナログ信号からディジタル信号に変換されて、XY位置演算回路(信号処理部)52に入力されるようになっている。XY位置演算回路52は、CPU40の制御のもと、所定の演算を行い、演算結果を位置情報信号として表示回路44に入力するようになっている。
次に、このように構成された本実施例における超音波探傷装置1の作用について説明する。
まず、ケーブル12を介してプローブ2を装置本体部3に取り付けて、装置本体部3の電源をONにする。すると、図3に示すように、ROM41にあらかじめ記憶された動作プログラムが、CPU40によって読み込まれ、各種起動処理が行われる。このとき、処理の過程で発生する一時的なデータがRAM43に記憶される。
まず、ケーブル12を介してプローブ2を装置本体部3に取り付けて、装置本体部3の電源をONにする。すると、図3に示すように、ROM41にあらかじめ記憶された動作プログラムが、CPU40によって読み込まれ、各種起動処理が行われる。このとき、処理の過程で発生する一時的なデータがRAM43に記憶される。
続いて、プローブ本体11の音響整合層22を図1に示す被検体Wに押し当てる。そして、所定の操作スイッチ7を押圧すると、操作スイッチ7からの操作信号がCPU40に入力されて、CPU40はパルサー回路45を駆動する。このパルサー回路45からの駆動パルスが、図2に示すケーブル12などを介して、圧電振動子21に印加される。これによって、圧電振動子21が振動し、超音波が発せられる。一方、被検体Wから反射したパルスエコーによって、圧電振動子21が振動し、この振動エネルギーが電気信号に変換されて検査信号として出力される。この圧電振動子21からの検査信号が、ケーブル12やレシーバ回路46を介して信号処理回路47に入力される。
信号処理回路47は、CPU40の制御のもと、入力された検査信号を画像信号に変換し、この画像信号を表示回路44に入力する。表示回路44は、XY位置演算回路52からの位置情報信号と、信号処理回路47からの画像信号とに基づいて、CPU40の制御のもと、所定の演算を行い、その演算結果を表示パネル6に供給する。これにより、表示パネル6に、探傷結果やプローブ2の位置情報などが表示される。このとき、例えば、探傷結果のみを表示する1画面表示モード、探傷結果と位置情報を表示する2画面表示モード、位置情報のみを表示する1画面表示モードなどによって、各種情報が表示される。
そして、表示パネル6に映し出される画像を見ながら探傷を行い、探傷が終わると検査結果に応じて所定の処置が行われる。
そして、表示パネル6に映し出される画像を見ながら探傷を行い、探傷が終わると検査結果に応じて所定の処置が行われる。
ここで、本実施例における超音波探傷装置1は、以下のようにして、プローブ2の位置が容易に検出される。
すなわち、最初にプローブ2を被検体Wの所定の初期位置に当接させる。そして、音響整合層22を被検体Wに当接させながら、プローブ2を被検体Wの平坦面に沿って移動させていく。すると、XYリニア加速度センサ38によって、超音波モジュール18のXY軸方向の加速度が検出される。そして、XYリニア加速度センサ38からの検出信号が、アンプ50やA/D変換回路51などを経て、XY位置演算回路52に入力される。
すなわち、最初にプローブ2を被検体Wの所定の初期位置に当接させる。そして、音響整合層22を被検体Wに当接させながら、プローブ2を被検体Wの平坦面に沿って移動させていく。すると、XYリニア加速度センサ38によって、超音波モジュール18のXY軸方向の加速度が検出される。そして、XYリニア加速度センサ38からの検出信号が、アンプ50やA/D変換回路51などを経て、XY位置演算回路52に入力される。
このXY位置演算回路52によって、入力された検出信号が、位置情報信号に、すなわちXY平面上におけるプローブ2の初期位置からのズレ量を示す信号に変換される。そして、この位置情報信号が表示回路44に入力されると、信号処理回路47からの画像信号と合わせて所定の演算が行われ、上述のように表示パネル6に探傷結果やプローブ2の位置情報が表示される。
以上より、本実施例における超音波探傷装置1によれば、ハウジング16内に設けられたXYリニア加速度センサ38によって、XY平面上のプローブ2の加速度を検出することができるため、ワイヤなどに邪魔されたり、光路を遮らないように考えたりすることなく、プローブ2の位置に関する情報を、プローブ2から装置本体部3に容易に送ることができる。そして、XY位置演算回路52によって、プローブ2の位置情報を得ることができるため、プローブ2の移動軌跡を容易に調べることができ、迅速かつ高精度な検査を行うことができる。
また、ハウジング16内の支持体20の上面20aにXYリニア加速度センサ38を設けているため、XYリニア加速度センサ38がハウジング16内に容易かつ確実に設置され、さらに、小型化を容易にすることができる。
なお、XYリニア加速度センサ38を上面20aに設けるとしたが、これに限ることはなく、例えば、電極配線部材19上に設けるようにしてもよい。これによっても、XYリニア加速度センサ38を容易かつ確実に設置することができる。
なお、XYリニア加速度センサ38を上面20aに設けるとしたが、これに限ることはなく、例えば、電極配線部材19上に設けるようにしてもよい。これによっても、XYリニア加速度センサ38を容易かつ確実に設置することができる。
(実施例2)
次に、本発明の第2の実施例について説明する。
図4は、本発明の第2の実施例を示したものである。
図4において、図1から図3に記載の構成要素と同一部分については同一符号を付し、その説明を省略する。
この実施例と上記第1の実施例とは基本的構成は同一であり、以下の点において異なるものとなっている。
次に、本発明の第2の実施例について説明する。
図4は、本発明の第2の実施例を示したものである。
図4において、図1から図3に記載の構成要素と同一部分については同一符号を付し、その説明を省略する。
この実施例と上記第1の実施例とは基本的構成は同一であり、以下の点において異なるものとなっている。
すなわち、本実施例におけるプローブ2は、ハウジング16内に、Z軸ジャイロセンサ(角速度センサ、Z軸回転検出部)54が設けられている。このZ軸ジャイロセンサ54は、XY平面に直交するZ軸の回りにおけるプローブ2の回転、すなわち角速度を検出して、その検出結果をアンプ50に入力するようになっている。また、装置本体部3は、Z軸ジャイロセンサ54からの検出信号に応じて、後述する所定の位置情報信号を出力するXY位置・Z軸角度演算回路(信号処理部、XY位置演算回路、Z軸角度演算回路)56を備えている。
このような構成のもと、上記と同様の作用により、超音波が送受信され、XYリニア加速度センサ38からの検出信号が、アンプ50、A/D変換回路51などを経て、XY位置・Z軸角度演算回路56に入力される。さらに、本実施例においては、Z軸ジャイロセンサ54により、Z軸回りのプローブ2の角速度が検出されて、その検出信号が、アンプ50、A/D変換回路51を経て、XY位置・Z軸角度演算回路56に入力される。XY位置・Z軸角度演算回路56は、それら検出信号を、位置情報信号、および姿勢角度を示す姿勢角度情報信号に変換する。ここで、姿勢角度とは、各XY軸を基準とした2軸回りのプローブ2の初期位置からのズレ量をいう。さらに、XY位置・Z軸角度演算回路56は、姿勢角度情報信号に基づいて位置情報信号を補正して、補正後の位置情報信号を出力する。そして、その信号が表示回路44に入力されて、表示パネル6に各情報が表示される。
以上より、上記第1の実施例と同様の効果を奏することができるだけでなく、姿勢角度情報信号に基づいて位置情報信号を補正することができるため、検査時にプローブ2がZ軸回りに振れても、そのプローブ2のZ軸回りの回転分をキャンセルすることにより、高精度の位置情報を得ることができる。
なお、本実施例においては、角速度を検出するとしたが、これに限ることはなく、例えば、角加速度センサや角変位センサを設けることにより、角加速度や角変位を検出するようにしてもよい。
(実施例3)
次に、本発明の第3の実施例について説明する。
図5は、本発明の第3の実施例を示したものである。
本実施例におけるプローブ2は、XY軸だけでなく、Z軸方向のプローブ2の加速度をも検出するXYZリニア加速度センサ(検出手段、Z軸動検出部)58と、XYZ軸回りの回転、すなわち傾きを検出するXYZ軸傾きセンサ(XY回転検出部、Z軸回転検出部)59とを備えている。さらに、アンプ50およびA/D変換回路51がプローブ2に設けられている。
次に、本発明の第3の実施例について説明する。
図5は、本発明の第3の実施例を示したものである。
本実施例におけるプローブ2は、XY軸だけでなく、Z軸方向のプローブ2の加速度をも検出するXYZリニア加速度センサ(検出手段、Z軸動検出部)58と、XYZ軸回りの回転、すなわち傾きを検出するXYZ軸傾きセンサ(XY回転検出部、Z軸回転検出部)59とを備えている。さらに、アンプ50およびA/D変換回路51がプローブ2に設けられている。
このような構成のもと、プローブ2を移動させると、XYZリニア加速度センサ58により、プローブ2のXY軸方向の加速度とZ軸方向の加速度とが検出されて、アンプ50およびA/D変換回路51を経て検出信号として出力される。この検出信号は、装置本体部3に設けられたXYZ位置・傾き演算回路(信号処理部、XY位置演算回路、Z軸位置演算回路、XY角度演算回路、Z軸角度演算回路)62に入力される。一方、XYZ軸傾きセンサ59により、プローブ2の各軸の傾きが検出されて、その検出結果が、アンプ50およびA/D変換回路51を経てXYZ位置・傾き演算回路62に入力される。
XYZ位置・傾き演算回路62は、それら検出信号から、上記第2の実施例と同様に、補正した位置情報信号を出力し、この位置情報信号が、表示回路44に入力されて、表示パネル6にプローブ2の各情報が表示される。
以上より、プローブ2のZ軸方向の位置情報を得ることができ、検査時にプローブ2が浮いた状態であるか否かを検出することができる。また、XYZ軸傾きセンサ59により、各軸の傾きを検出することができるので、任意の曲面形状を有する被検体Wの検査であっても、プローブ2の位置情報を得ることができる。そのため、さらに精度よく検査することができる。
なお、本実施例においては、XYZ軸の加速度と傾きを検出するとしたが、これに限ることはなく、少なくとも、XY軸方向の加速度とXY軸回りの傾きとを検出するようにすればよい。
また、XYZリニア加速度センサ58とXYZ軸傾きセンサ59とを備えるとしたが、これに限ることはなく、各軸のセンサの組み合わせは適宜変更可能である。
例えば、図6に示すように、XY軸回りの傾きを検出するXY軸傾きセンサ(XY回転検出部)64と、Z軸ジャイロセンサ54と、XYZリニア加速度センサ58とを設けることもできる。
これにより、XY軸とZ軸とで異なる検出手段を用いることによって、精度を向上させることができる。
また、XYZリニア加速度センサ58とXYZ軸傾きセンサ59とを備えるとしたが、これに限ることはなく、各軸のセンサの組み合わせは適宜変更可能である。
例えば、図6に示すように、XY軸回りの傾きを検出するXY軸傾きセンサ(XY回転検出部)64と、Z軸ジャイロセンサ54と、XYZリニア加速度センサ58とを設けることもできる。
これにより、XY軸とZ軸とで異なる検出手段を用いることによって、精度を向上させることができる。
さらに、図7に示すように、XY軸傾きセンサ64とXYリニア加速度センサ38とを設けることもできる。
これにより、プローブ2の小型化を図ることができる。
これにより、プローブ2の小型化を図ることができる。
(実施例4)
次に、本発明の第4の実施例について説明する。
図8および図9は、本発明の第4の実施例を示したものである。
本実施例におけるプローブ2は、ハウジング16にハウジングコネクタ66が設けられ、ケーブル12の一端にプローブ用ケーブルコネクタ(収納部用ケーブルコネクタ)67が設けられて構成されている。プローブ用ケーブルコネクタ67は、嵌合部69と、この嵌合部69を突出させた状態で支持する支持ケース70とを備えている。
次に、本発明の第4の実施例について説明する。
図8および図9は、本発明の第4の実施例を示したものである。
本実施例におけるプローブ2は、ハウジング16にハウジングコネクタ66が設けられ、ケーブル12の一端にプローブ用ケーブルコネクタ(収納部用ケーブルコネクタ)67が設けられて構成されている。プローブ用ケーブルコネクタ67は、嵌合部69と、この嵌合部69を突出させた状態で支持する支持ケース70とを備えている。
嵌合部69は、ハウジングコネクタ66に嵌合するようになっており、嵌合部69を嵌合させることにより、ケーブル12がハウジング16に着脱可能に取り付けられるようになっている。支持ケース70は箱型に形成されており、その内部に空洞部が設けられている。そして、その空洞部内に、電極配線部材19が設けられており、その電極配線部材19上に、XYZリニア加速度センサ58とXYZ軸傾きセンサ59とが設けられている。
また、支持ケース70の上面70aの上面には、嵌合部69の突出する方向に延びる突出板(規制手段)71が設けられており、この突出板71はネジ72によって固定されている。
また、支持ケース70の上面70aの上面には、嵌合部69の突出する方向に延びる突出板(規制手段)71が設けられており、この突出板71はネジ72によって固定されている。
このような構成のもと、嵌合部69をハウジングコネクタ66に嵌合させて、ケーブル12をハウジング16に取り付けると、突出板71がハウジング16の上面16bに当接し、ケーブル12とハウジング16との相対回転が規制される。
以上より、支持ケース70にXYZリニア加速度センサ58およびXYZ軸傾きセンサ59が設けられているため、プローブ本体11に検出手段が設けられていなくても、ケーブル12を取り付けるだけで、プローブ2の動きや回転を検出することができる。
また、ケーブル12をハウジング16に取り付けたときに、それらの相対回転が規制されるため、ケーブル12とハウジング16とを確実に固定し、高精度な検出を行うことができる。
また、ケーブル12をハウジング16に取り付けたときに、それらの相対回転が規制されるため、ケーブル12とハウジング16とを確実に固定し、高精度な検出を行うことができる。
なお、本実施例においては、規制手段として突出板71を設けるとしたが、これに限ることはなく、その形状等は適宜変更可能である。例えば、図10に示すように、嵌合部69に凸部(規制手段)74を設けるとともに、ハウジングコネクタ66に凹部(規制手段)75を設けて、これらを嵌合させることにより、相対回転を規制することもできる。
(実施例5)
次に、本発明の第5の実施例について説明する。
図11および図12は、本発明の第5の実施例を示したものである。
本実施例において、本体用ケーブルコネクタ14は、圧電振動子21を装置本体部3に電気的に接続するための検査用コネクタ77と、XYZリニア加速度センサ58およびXYZ軸傾きセンサ59を装置本体部3に電気的に接続するための検出用コネクタ78とを別個に備えている。そして、これら検査用コネクタ77と検出用コネクタ78とを別々の接続部9に接続するようになっている。
次に、本発明の第5の実施例について説明する。
図11および図12は、本発明の第5の実施例を示したものである。
本実施例において、本体用ケーブルコネクタ14は、圧電振動子21を装置本体部3に電気的に接続するための検査用コネクタ77と、XYZリニア加速度センサ58およびXYZ軸傾きセンサ59を装置本体部3に電気的に接続するための検出用コネクタ78とを別個に備えている。そして、これら検査用コネクタ77と検出用コネクタ78とを別々の接続部9に接続するようになっている。
また、検出用コネクタ78内には、アンプ50、A/D変換回路51およびXYZ位置・傾き演算回路62が設けられており、検出用コネクタ78を所定の接続部9に取り付けると、XYZ位置・傾き演算回路62からの位置情報信号が、装置本体部3内の表示回路44に入力される。
以上より、本体用ケーブルコネクタ14は、検査用コネクタ77と、検出用コネクタ78とを別個に備えているため、検査信号と検出信号とが互いに干渉するのを防止することができ、より高精度な検出・検査を行うことができる。
また、検出用コネクタ78にXYZ位置・傾き演算回路62が設けられているため、装置本体部3に、そのような演算回路が設けられていない場合でも、プローブ2の位置情報を得ることができる。
また、検出用コネクタ78にXYZ位置・傾き演算回路62が設けられているため、装置本体部3に、そのような演算回路が設けられていない場合でも、プローブ2の位置情報を得ることができる。
(実施例6)
次に、本発明の第6の実施例について説明する。
図13は、本発明の第6の実施例を示したものである。
本実施例における超音波探傷装置1は、探傷結果や位置情報を表示する補助表示装置(外部機器)84を備えている。この補助表示装置84は、検査信号用接続部88と検出信号用接続部89とを備えており、連結ケーブル85を介して、装置本体部3に着脱可能に取り付けられている。すなわち、連結ケーブル85の一端は検査信号用接続部88に接続され、他端は装置本体部3の出力用の接続部9に接続されている。
次に、本発明の第6の実施例について説明する。
図13は、本発明の第6の実施例を示したものである。
本実施例における超音波探傷装置1は、探傷結果や位置情報を表示する補助表示装置(外部機器)84を備えている。この補助表示装置84は、検査信号用接続部88と検出信号用接続部89とを備えており、連結ケーブル85を介して、装置本体部3に着脱可能に取り付けられている。すなわち、連結ケーブル85の一端は検査信号用接続部88に接続され、他端は装置本体部3の出力用の接続部9に接続されている。
また、ケーブル12は、検出信号を送る検出信号伝送部80と、検査信号を送る検査信号伝送部81とを有する二又ケーブルとして構成されている。そして、検査信号伝送部81は、装置本体部3の入力用の接続部9に接続され、検出信号伝送部80は、検出信号用接続部89に接続されている。
このような構成のもと、圧電振動子21からの検査信号は、検査信号伝送部81を通り入力用の接続部9を介して装置本体部3に送られる。そして、検査信号は、装置本体部3による所定の処理の後、出力用の接続部9から出力されて、連結ケーブル85を介して、補助表示装置84に入力される。一方、圧電振動子21からの検出信号は、検出信号伝送部80を介して、補助表示装置84に入力される。これら入力された検査信号および検出信号が、信号処理部93によって、上記実施例のように所定の処理がなされて、各情報が表示部91に表示される。
なお、信号処理部93は、上記第1から第5の実施例において示した各演算回路が設けられており、上記のような処理を行う。
なお、信号処理部93は、上記第1から第5の実施例において示した各演算回路が設けられており、上記のような処理を行う。
以上より、装置本体部3やプローブ2に、検査信号や検出信号を処理する手段が設けられていなくても、探傷結果や位置情報を容易に得ることができる。
なお、上記第1から第6の実施例においては、プローブ2がプローブ本体11とケーブル12とを備えるものとしたが、これに限ることはなく、プローブ本体11のみからなるとしてもよい。但し、その場合であっても、プローブ2と装置本体部3とをケーブル12を介して接続するのは言うまでもない。
また、上記実施例では、超音波探傷装置1を例にとって説明したが、本発明は超音波探傷装置1に限定されるものではなく、渦流探傷装置のような他の非破壊検査装置にも適用可能であることは言うまでもない。
なお、本発明の技術範囲は上記の実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、種々の変更を加えることが可能である。
また、上記実施例では、超音波探傷装置1を例にとって説明したが、本発明は超音波探傷装置1に限定されるものではなく、渦流探傷装置のような他の非破壊検査装置にも適用可能であることは言うまでもない。
なお、本発明の技術範囲は上記の実施例に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、種々の変更を加えることが可能である。
1 超音波探傷装置(非破壊検査装置)
2 プローブ(非破壊検査用プローブ)
3 装置本体部(検査装置本体)
12 ケーブル
14 本体用ケーブルコネクタ
16 ハウジング(収納部)
18 超音波モジュール(検査部)
19 電極配線部材(中継基板)
38 XYリニア加速度センサ(検出手段)
52 XY位置演算回路(信号処理部)
54 Z軸ジャイロセンサ(角速度センサ、Z軸回転検出部)
56 XY位置・Z軸角度演算回路(信号処理部、XY位置演算回路、Z軸角度演算回路)
58 XYZリニア加速度センサ(検出手段、Z軸動検出部)
59 XYZ軸傾きセンサ(XY回転検出部、Z軸回転検出部)
62 XYZ位置・傾き演算回路(信号処理部、XY位置演算回路、Z軸位置演算回路、XY角度演算回路、Z軸角度演算回路)
64 XY軸傾きセンサ(XY回転検出部)
67 プローブ用ケーブルコネクタ(収納部用ケーブルコネクタ)
71 突出板(規制手段)
74 凸部(規制手段)
75 凹部(規制手段)
77 検査用コネクタ
78 検出用コネクタ
84 補助表示装置(外部機器)
93 信号処理部
W 被検体
2 プローブ(非破壊検査用プローブ)
3 装置本体部(検査装置本体)
12 ケーブル
14 本体用ケーブルコネクタ
16 ハウジング(収納部)
18 超音波モジュール(検査部)
19 電極配線部材(中継基板)
38 XYリニア加速度センサ(検出手段)
52 XY位置演算回路(信号処理部)
54 Z軸ジャイロセンサ(角速度センサ、Z軸回転検出部)
56 XY位置・Z軸角度演算回路(信号処理部、XY位置演算回路、Z軸角度演算回路)
58 XYZリニア加速度センサ(検出手段、Z軸動検出部)
59 XYZ軸傾きセンサ(XY回転検出部、Z軸回転検出部)
62 XYZ位置・傾き演算回路(信号処理部、XY位置演算回路、Z軸位置演算回路、XY角度演算回路、Z軸角度演算回路)
64 XY軸傾きセンサ(XY回転検出部)
67 プローブ用ケーブルコネクタ(収納部用ケーブルコネクタ)
71 突出板(規制手段)
74 凸部(規制手段)
75 凹部(規制手段)
77 検査用コネクタ
78 検出用コネクタ
84 補助表示装置(外部機器)
93 信号処理部
W 被検体
Claims (17)
- 被検体の傷や状態を検査するための検査部と、この検査部を収納する収納部とを備え、ケーブルを介して検査装置本体に接続されて用いられる非破壊検査用プローブにおいて、
前記収納部に、互いに直交するX軸およびY軸によって規定されるXY平面上の前記検査部の動きを検出する検出手段が設けられていることを特徴とする非破壊検査用プローブ。 - 前記収納部の内部に、前記検査部と前記ケーブルとを接続する中継基板を備え、
この中継基板上に、前記検出手段が設けられていることを特徴とする請求項1に記載の非破壊検査用プローブ。 - 前記ケーブルを備えることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の非破壊検査用プローブ。
- 被検体の傷や状態を検査するための検査部と、この検査部を収納する収納部と、収納部用ケーブルコネクタを介して前記収納部に着脱可能に取り付けられるケーブルとを備え、このケーブルを介して検査装置本体に接続されて用いられる非破壊検査用プローブにおいて、
前記収納部用ケーブルコネクタに、互いに直交するX軸およびY軸によって規定されるXY平面上の前記検査部の動きを検出する検出手段を備えることを特徴とする非破壊検査用プローブ。 - 前記ケーブルと前記収納部との相対回転を規制する規制手段を備えることを特徴とする請求項4に記載の非破壊検査用プローブ。
- 前記ケーブルが、前記検査装置本体に着脱可能に取り付けるための本体用ケーブルコネクタを備え、
この本体用ケーブルコネクタが、前記検査部を前記検査装置本体に接続するための検査用コネクタと、前記検出手段を前記検査装置本体に接続するための検出用コネクタとを別個に備えていることを特徴とする請求項3から請求項5のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブ。 - 前記検出手段が、加速度センサを備えることを特徴とする請求項1から請求項6のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブ。
- 前記検出手段が、前記X軸およびY軸の2軸回りにおける前記検査部の回転を検出するXY回転検出部を備えることを特徴とする請求項1から請求項7のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブ。
- 前記XY回転検出部が、角加速度センサ、角速度センサまたは角変位センサを備えることを特徴とする請求項8に記載の非破壊検査用プローブ。
- 前記検出手段が、前記XY平面に直交するZ軸の方向の動きを検出するZ軸動検出部を備えることを特徴とする請求項1から9のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブ。
- 前記検出手段が、前記XY平面に直交するZ軸の回りにおける前記検査部の回転を検出するZ軸回転検出部を備えることを特徴とする請求項1から10のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブ。
- 前記検出手段からの検出信号が入力される信号処理部を備え、
この信号処理部が、前記検出信号を、前記XY平面上における前記検査部の位置を示す信号に変換するXY位置演算回路を備えることを特徴とする請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブ。 - 前記検出手段からの検出信号が入力される信号処理部を備え、
この信号処理部が、前記検出信号を、前記2軸回りにおける前記検査部の姿勢角度を示す信号に変換するXY角度演算回路を備えることを特徴とする請求項8から請求項12のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブ。 - 前記検出手段からの検出信号が入力される信号処理部を備え、
この信号処理部が、前記検出信号を、前記Z軸の方向における前記検査部の位置を示す信号に変換するZ軸位置演算回路を備えることを特徴とする請求項10から請求項13のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブ。 - 前記検出手段からの検出信号が入力される信号処理部を備え、
この信号処理部が、前記検出信号を、前記Z軸回りにおける前記検査部の姿勢角度を示す信号に変換するZ軸角度演算回路を備えることを特徴とする請求項11から請求項13のいずれか一項に記載の非破壊検査用プローブ。 - 請求項1から請求項15のいずれか一項に記載の非破壊検査プローブと、
この非破壊検査用プローブを操作するための検査装置本体とを備えることを特徴とする非破壊検査装置。 - 請求項1から請求項11のいずれか一項に記載の非破壊検査プローブと、
この非破壊検査用プローブを操作するための検査装置本体と、
この検査装置本体に着脱可能に取り付けられる外部機器とを備え、
この外部機器に、前記検出手段からの検出信号が入力される信号処理部が設けられ、
この信号処理部が、前記入力された検出信号を、前記検査部の変位を示す信号に変換することを特徴とする非破壊検査装置。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20080401 |