JP4038463B2 - 超音波探傷画像表示方法及び装置 - Google Patents

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Description

本発明は、超音波探傷装置の超音波探触子を走査して得られた超音波探傷結果を画像表示する方法と装置とに係る。
従来の超音波探傷方法としては、タービンロータの超音波探傷において走査方向(周方向)の座標軸と直交する方向に超音波の路程の座標を設定して探傷画像を二次元表示させる超音波探傷方法が公知である(例えば、特許文献1参照)。これは、あらかじめ超音波探傷装置のモニタの画面上で表示する周方向の探傷範囲を設定しておいてこの範囲で超音波探触子を走査させ各周位置での超音波の路程の座標を表示するものであり、被検査体側の周方向範囲が移動するのではなく、超音波探触子又はアレイプローブ側の路程上の信号が固定された周方向位置で表示されるものである。
特開2002−310998号公報
この従来の技術の場合、より広い超音波探傷範囲をモニタ画面上に表示するためには、改めて超音波探傷範囲を設置する必要があり、連続的に広い範囲を同一スケールでモニタ画面上に表示できず、広い範囲を表示させる場合にはスケールを縮小する必要があり、その場合には表示結果が小さくなって表示画面上での欠陥識別性が低下する恐れがあると考えられる上、表示が座標表示となるので、被検査体の断面形状との相関が認識しにくい。
本発明は、超音波探傷結果を被検査体の断面形状との相関において認識しやすくすることを目的とする。
本発明による超音波探傷装置の超音波探傷画像表示装置は、超音波探傷装置の超音波探触子で被検査体に対して超音波を送受信した結果に基づいて生成された超音波波形データを記憶する波形記憶メモリと、前記被検査体の断面形状と基準マーカーとを表す形状データを記憶した形状データメモリと、前記超音波探触子の走査位置に対応した位置を表す信号を位置データとして発生する位置信号発生器と、前記波形記憶メモリと前記形状データメモリと前記位置信号発生器からの各データを入力として、前記超音波波形データに基づいてBスコープ表示の画像データを生成すると共に、前記走査位置に対応した前記Bスコープ表示の画像データと前記形状データとを加算処理して加算処理画像データを生成する演算回路と、前記加算処理画像データに基づいて画像を表示するモニタとを備えている。このような超音波探傷画像表示装置によって、超音波探傷装置によるBスコープ表示画像と、前記Bスコープ表示画像の表示領域に対応した被検査体形状を表す画像とを重ね合わせて表示する超音波探傷画像表示方法が成されるようになる。
その超音波探傷画像表示方法の一層具体的な方法として、超音波探傷装置の超音波探触子を被検査体に対して走査させて得られた超音波探傷結果をBスコープ表示画像でモニターの画面上に表示する超音波探傷画像表示方法において、前記Bスコープ表示画像を前記画面上に表示させ、これと同時にあらかじめ被検査体形状と基準マーカーを登録して構成されている前記被検査体の形状を表す画像を前記Bスコープ表示画像と重ねて前記画面上に表示させ、前記走査で移動した超音波探触子の位置に応じて前記被検査体の形状を表す画像をスクロールさせて前記Bスコープ表示画像と前記被検査体の形状を表す画像の表示領域を一致するように制御する方法が採用できる。
本発明によれば、Bスコープで超音波探傷した結果を被検査体の形状情報との相対関係で容易に把握できるため、検査員の探傷結果の評価が容易となり、検査作業の大幅な効率向上と検査精度,信頼性の向上を実現できる。
以下、本発明の一実施例を各図に基づいて説明する。図1に示す超音波探傷装置は、超音波探傷装置本体27と、その超音波探傷装置本体27に接続されている超音波探触子4と、その超音波探傷装置本体27に接続されている走査装置の各エンコーダ31,32と、その超音波探傷装置本体27に接続されているモニタと、その超音波探傷装置本体27に接続されているデータ収録装置14とから構成されている。
超音波探触子4は、送受信用の複数の超音波振動子5を並べて備えており、超音波探傷装置本体27から供給された電気信号で励起された超音波振動子5(以下、単に振動子5という。)はその電気信号を超音波に変換して被検査体(以下、単に被検体と略称する。)に超音波を入射したり、被検査体内から反射してきた超音波を受信して電気信号に変換して超音波探傷装置本体27に供給したりできる。このような超音波探触子4は、アレイプローブともいう。以下、超音波探触子4をアレイプローブ4という。
超音波探傷装置本体27内には、次のような電気・電子機器を有している。即ち、電子スキャン装置である制御回路1により送信遅延回路2を制御して遅延時間の異なるトリガ信号を送信信号発生回路3の24CHの各CHに与えてパルス信号を発生させ、このパルス信号をアレイプローブ4の複数の超音波振動子5に時系列に送信し、アレイプローブ4の振動子5を励起させるものである。
この励起により発生した超音波が被検体中に伝播して、被検体内に欠陥などの超音波をさえぎるものがある場合、その超音波はその欠陥などの超音波をさえぎるものより反射する。その超音波の反射波はアレイプローブ4の振動子5で受信され、電気信号に変換されたうえでこの電気信号がプリアンプ6で増幅され、その後にA/D回路7によりデジタル信号に変換される。
デジタル信号に変換された信号は、遅延回路8によりオフセット時間を調整し加算回路9で加算され、超音波探傷結果の波形データとして波形記憶メモリ10に保存される。この波形データは、あらかじめ入力しておいた形状データメモリ11の形状データ及びアレイプローブ4の位置を特定するエンコーダ31,32からの信号を基にした位置信号発生器12からの位置データとともに演算回路13に送られ、モニタ28に表示される。また、演算回路13による演算結果の画像データをデータ収録装置14に格納できる。
より具体的に説明すると、金属製の被検体15aの中央部に溶接部開先15bの溶接部17を設け、更に模擬欠陥として横穴18を付与しているものを超音波探傷の対象にして、この横穴18を超音波で検出するため、アレイプローブ4の振動子5側を被検体15aに接触させる。アレイプローブ4の振動子5からの超音波を効率よく伝達、或いは受信させるためアレイプローブ4と被検体15aの間に水やマシン油等の接触媒質16を薄く塗布する。
アレイプローブ4を走査する走査装置として、駆動部台21で支持されたX軸方向駆動機構20とY軸方向駆動機構19とを備えている。アレイプローブ4は、Y軸方向駆動機構19に装着され、Y軸方向駆動機構19はさらにX軸方向駆動機構20に装着される。アレイプローブ4は、X軸方向駆動機構20によりX方向に、Y軸方向駆動機構19によりY方向に駆動される。X軸方向駆動機構20は、支えとしての駆動部台21に設置される。アレイプローブ4からは、超音波22が超音波ビームセクタ範囲23で被検体15aに伝達され模擬欠陥としての横穴18等の反射体がある場合、反射波が得られる。例えば、ここで反射体は、被検体15aの底面及び横穴18であり、反射波は被検体底面からの反射波24あるいは横穴18からの反射波25がこれに相当する。これらの反射波は、アレイプローブ4の振動子5により受信され、振動子5で反射波が電気信号に変換されて超音波信号ケーブル26により超音波探傷装置本体27に伝達される。その超音波探傷結果としてモニタ28に反射体画像29,30を表示する。アレイプローブ4の位置は、X軸方向駆動機構20及びY軸方向駆動機構19に取付けられて、駆動量に応じた信号がエンコーダ31,32からエンコーダ信号ケーブル33,34を通して超音波探傷装置本体
27に伝達される。
ここでX軸方向駆動機構20によりアレイプローブ4をX方向に走査させた際に得られる従来のBスコープ画像を図3に示す。実物の動きを図3のa1,a2及びa3に示す。各アレイプローブ4の位置(1),(2)及び(3)の位置でのBスコープ表示を図3のb1,b2及びb3に示す。アレイプローブ4と反射体との位置関係が異なるため、反射体の画像の位置が右から左へ移動していることがわかる。しかしながら、被検体15aの底面の反射体画像29及び横穴18の反射体画像30の被検体15aにおける相対位置は、本Bスコープ上において被検体15aの位置を識別するための基準線や溶接形状などの位置基準になる目安がないため、反射体の位置を被検体15aの検査断面のどのへんに位置して存在しているかのイメージが困難で位置判断が困難である。
そこで、あらかじめ被検体15aとBスコープ表示の相対位置が把握できる基準として被検体15aの底面の位置表示35,溶接部開先15bの表示36及び被検体15aの中心線表示37等のデータを被検体15aの形状データとして超音波探傷装置本体27の形状データメモリ11に入力しておき、この形状データがBスコープ表示上でエンコーダ
31,32に基づく位置信号に連動して自動で動くように超音波探傷装置本体27でデータ処理を行えば、アレイプローブ4の各X方向位置でのBスコープ表示上にアレイプローブ4の位置に応じた基準位置が表示されるため、相対位置を容易に把握できる。
図4に上記の基準を考慮した実物の動きをc1,c2及びc3に対する各アレイプローブの位置(1),(2)及び(3)の位置でのBスコープ表示をd1,d2及びd3に示す。位置(1)ではBスコープ表示中央の点線の右側に溶接部開先の位置の表示36及び被検体15aの中心位置表示37があるのに対しアレイプローブ4が位置(2),(3)と移動するのに伴い、溶接部開先の位置の表示36及び被検体15aの被検体中心位置表示37がそれぞれBスコープ表示の中央,左側と移動していくため、被検体15aと各反射体画像29,30との相対位置を容易に把握できる。
上述のように、超音波波形データを演算回路13で演算した結果と被検体の形状データとの重ね合せによるモニターへの画像表示に係る画像処理ステップを図5に示す。まず図2に示す形態において駆動部原点20aを(0,0)としてアレイプローブ4をX方向に走査してY方向にピッチ送りするような矩形走査20bを行う場合アレイプローブ4の位置座標QをQ(X,Y)とするアレイプローブ4が任意の位置座標Qn(Xn,Yn)にある場合、エンコーダ31,32の位置信号に応じた位置信号発生器12からの信号により制御回路1から同期信号が発生して(ステップS01)、アレイプローブ4から波形データを加算回路9を通して波形記憶メモリに収録し、収録した波形記憶データを演算回路13に読み出して(ステップS02)、図6の(b)に示すようなBスコープ画像41,42及び43を演算する(ステップS03)。
40はアレイプローブ4が位置座標Qn(Xn,Yn)にある場合の波形記憶データの範囲である。これと同時に制御回路1から同期信号により位置信号発生器12bの値を読み出して(ステップS04)、図6の(a)に示すようなあらかじめ形状データメモリ
11に入力しておいた走査装置のY位置に応じた形状データ38のうち、Y=Ynにおける形状データP(X,T)の中からXnをアレイプローブ4の中心位置としたX方向のBスコープ表示範囲ΔXと被検体15aの深さ方向のBスコープ表示範囲ΔTに相当する形状データの読取り範囲39を演算し(ステップS05)、形状データの読取り範囲39に応じた形状データP(X,T)を波形データメモリより演算回路13に読み出す(ステップS06)。
ここで演算回路13に読み出された波形データP(X,T)とステップS03で演算された位置座標Qn(Xn,Yn)のBスコープ画像41,42及び43を加算処理する
(ステップS07)。その結果として図6の(c)に示すようなBスコープ画像と形状データの重なりあった加算処理画像44のデータを得る。
次に加算処理画像44のデータを表示モニタ28ヘ転送してモニタ28に加算処理した画像を表示する(ステップS08)。エンコーダ31,32からの信号に変化が生じ位置信号発生器12からそれに応じた信号が制御回路1に送られた場合、ステップS02に戻り同様の処理を継続する(ステップS09のYES)。なお、制御回路1は一定周期で位置信号発生器12の変化を監視する。これにより超音波探傷時にリアルタイムで形状データが移動できる。また、制御回路1から探傷終了の信号が演算回路13に送られた場合
(ステップS09のNO)、演算を停止する(ステップS10)。演算回路13は図5の各ステップを実行するようにプログラムが設定されているコンピュータによって成されても良い。
本発明の実施例に係る超音波探傷装置の全体説明図である。 (a)図は、本発明の実施例による被検査体に対する超音波探傷作業の実施状態を示した全体図、(b)図は、(a)図の被検査体部分のA−A矢視図、(c)図は、(b)図の被検査体と超音波探触子との接触関係を(b)図の右側面からみて示した図である。 従来の表示法によるBスコープ画像の説明図である。 本発明の実施例による表示法によるBスコープ画像の説明図である。 本発明の実施例による超音波探傷装置の画像処理ステップのフローチャート図である。 本発明の実施例による超音波探傷装置における画像に関する演算処理の解説図である。
符号の説明
1…制御回路、2…送信遅延回路、3…送信信号発生回路、4…超音波探触子又はアレイプローブ、5…振動子、6…プリアンプ、7…A/D回路、8…遅延回路、9…加算回路、10…波形記憶メモリ、11…形状データメモリ、12…位置信号発生器、13…演算回路、14…データ収録装置、15a…被検体、15b…溶接部開先、16…接触媒質、17…溶接部、18…横穴、19…Y軸方向駆動機構、20…X軸方向駆動機構、20a…駆動部原点、20b…矩形走査、21…駆動部台、22…超音波、23…超音波ビームセクタ範囲、24…被検体底面からの反射波、25…横穴からの反射波、26…超音波信号ケーブル、27…超音波探傷装置本体、28…モニタ、29,30…反射体画像、31,32…エンコーダ、33,34…エンコーダ信号ケーブル、35…被検体底面の位置表示、36…溶接部開先の位置の表示、37…被検体中心線の表示、38…形状データメモリ11に入力しておいたスキャナのY位置に応じた形状データ、39…形状データの読取り範囲、40…位置座標Qn(Xn,Yn)にある場合の波形記憶データの範囲、41,42,43…位置座標Qn(Xn,Yn)におけるBスコープ画像、44…加算処理画像。

Claims (2)

  1. 超音波探傷装置の超音波探触子を被検査体に対して走査させて得られた超音波探傷結果
    をBスコープ表示画像でモニタの画面上に表示する超音波探傷画像表示方法において、
    前記Bスコープ表示画像を前記画面上に連続的に表示させると同時にあらかじめ被検査
    体形状と基準マーカーを登録して構成されている前記被検査体の形状を表す画像を前記B
    スコープ表示画像と重ねて前記画面上に表示させ、
    前記走査で移動した超音波探触子の位置に応じて前記被検査体の形状を表す画像をスク
    ロールさせて前記Bスコープ表示画像と前記被検査体の形状を表す画像の表示領域を一致
    するように制御する超音波探傷画像表示方法。
  2. 超音波探傷装置の超音波探触子で被検査体に対して超音波を送受信した結果に基づいて
    生成された超音波波形データを記憶する波形記憶メモリと、
    前記被検査体の断面形状と基準マーカーとを表す形状データを記憶した形状データメモ
    リと、
    前記超音波探触子の走査位置に対応した位置を表す信号を位置データとして発生する位
    置信号発生器と、
    前記波形記憶メモリと前記形状データメモリと前記位置信号発生器からの各データを入
    力として、前記超音波波形データに基づいてBスコープ表示の画像データを生成すると共
    に、前記走査位置に対応した前記Bスコープ表示の画像データと前記形状データとを加算
    処理して加算処理画像データを生成する演算回路と、
    前記加算処理画像データに基づいて画像を表示するモニタと、
    を備えた超音波探傷画像表示装置。
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JP5169548B2 (ja) * 2008-07-03 2013-03-27 トヨタ自動車株式会社 溶接溶け込み深さ評価方法
JP5156707B2 (ja) * 2009-09-01 2013-03-06 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 超音波検査方法及び装置
JP5253424B2 (ja) 2010-01-05 2013-07-31 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 超音波探傷方法及び超音波探傷装置
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