JP2006187863A - 基板の研磨装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】占有面積を減少させたコンパクトな構成で、しかも駆動軸の振動を抑えて安定に稼動することができる基板の研磨装置を提供する。
【解決手段】研磨プレート50を有する研磨テーブル48と、該研磨テーブル48に偏芯位置で連結して該研磨テーブル48を研磨プレート50と一体に並進円運動させる駆動軸68とを備え、研磨テーブル48の大きさは、研磨対象の基板とほぼ同じに設定され、研磨プレート50の内部には、研磨プレート50と研磨テーブル48との間に形成された空間78に連通する複数の研磨液吐出孔50aが設けられている。
【選択図】 図2

Description

本発明は、基板の研磨装置に係り、特に、半導体ウエハ、ガラス基板、液晶パネル等の高度の清浄度が要求される基板を研磨する場合に好適な基板の研磨装置に関するものである。
近年、半導体デバイスの高集積化が進むにつれて回路の配線が微細化し、配線間距離もより狭くなりつつある。これに伴い、光リソグラフィなどで回路形成を行う場合に焦点深度が浅くなるので、ステッパの結像面のより高い平坦度を必要とする。このような事情は、液晶パネル等の基板においても同様である。
半導体ウエハの表面を平坦化する手段として、回転するターンテーブル上に貼付した研磨布(研磨具)に砥粒を含む研磨液を供給しながら、キャリアで保持したウエハを研磨布に押し付けて研磨する化学機械的研磨(CMP)が行われ、そのための装置として、平面内で周期運動する研磨テーブルと、該研磨テーブルに対して被研磨材の研磨面を押圧する把持部材とを有する研磨装置が用いられている。
これは、例えば、図5に示すように、回転自在で上面に研磨布(研磨具)100を貼付したターンテーブル102を備えた駆動装置103と、ウエハを真空保持しつつ該ウエハの被研磨面を所定の圧力で研磨布100に押し付けるトップリングヘッド104を有するトップリング装置106と、研磨布100の目立てを行うドレッシングヘッド108を有するドレッシング装置110と、これらのターンテーブル102やドレッシングヘッド108に水や砥粒を含む研磨液を供給する研磨液供給装置112を備えている。
トップリングヘッド104は、揺動アーム114の先端に上下動かつ回転自在に支持された主軸116の下端に連結され、ターンテーブル102の側方位置でウエハの受け渡しを行うとともに、ウエハを保持した状態で主軸116を自転させながらウエハの全面を研磨するようになっている。一方、ドレッシングヘッド108もほぼ同様に、揺動アーム118の先端に上下動かつ回転自在に支持された主軸120の下端に連結され、研磨布100の目立てを行うようになっている。
この研磨装置は、自転するターンテーブル102により研磨を行うものであり、回転中心では変位が無く、研磨が行われないので、中心をはずれたところで研磨を行うようになっている。従って、ターンテーブル102の大きさは、ウエハの直径の少なくとも2倍以上の直径を有するように設定されている。
上記のような従来の研磨装置においては、ターンテーブル102とトップリングヘッド104との相対的な変位が大きく、またその相対速度も大きいため効率的な研磨がなされ、平坦度も十分に得られる。しかしながら、駆動装置103のターンテーブル102の径がウエハの2倍以上と大きく、大きな面積を占有して、研磨装置自体が大型化してしまうとともに、設備コストも大きくなる。この欠点は、ウエハの大径化の傾向に伴って一層顕著になる。
そこで、上記のような研磨装置に替わって、あるいはこれと併用して、研磨面全体が小さい半径の並進円運動を行う研磨装置の採用が考えられる。この場合は、研磨面が全て同じ運動を行うので、研磨具自体の大きさは研磨対象物である基板とほぼ同じ大きさでよいことになる。
ところで、上記のような並進円運動を行わせるために駆動側の回転軸の回転を研磨テーブルに偏芯させた状態で伝達するものが使用されるが、この場合、駆動軸のバランスが悪いと装置全体が振動してしまい、また、駆動軸と研磨テーブルとが重心がずれているので、テーブルが運動するとき振動現象が起こる。このため、安定な稼動や操業環境に悪影響を与える。
本発明は上述の事情に鑑みなされたもので、占有面積を小さくしたコンパクトな構成で、しかも駆動軸の振動を抑えて安定に稼動することができる基板の研磨装置を提供することを目的とする。
本発明の基板の研磨装置は、研磨プレートを有する研磨テーブルと、該研磨テーブルに偏芯位置で連結して該研磨テーブルを前記研磨プレートと一体に並進円運動させる駆動軸とを備え、前記研磨テーブルの大きさは、研磨対象の基板とほぼ同じに設定され、前記研磨プレートの内部には、前記研磨プレートと前記研磨テーブルとの間に形成された空間に連通する複数の研磨液吐出孔が設けられている。
このような基板の研磨装置においては、研磨テーブルは、並進円運動を行うので、研磨テーブルの大きさを基本的に研磨対象の基板とほぼ同じに設定することができる。
前記駆動軸の軸方向に沿った所定の位置に、取付け位置が調整可能な少なくとも2つのバランサ片が設けられていることが好ましい。これにより、駆動軸に作用するアンバランスな荷重負荷を、少なくとも2つのバランス片を個々に調整することによって、現場で容易にバランスさせることができ、振動や偏った摩耗の発生を防止することができる。
この発明の基板の研磨装置によれば、研磨テーブルの大きさを基本的に研磨対象の基板とほぼ同じに設定することができ、装置全体をコンパクトに構成することができる。また、駆動軸に作用するアンバランスな荷重負荷を現場で容易にバランスさせて、振動や偏った摩耗の発生を防止するようにすることができる。
以下、本発明に係る基板の研磨装置の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は、本発明の1つの実施の形態の駆動装置を備えた研磨装置を示す図面である。この研磨装置には、矩形枠状のフレーム10の内部に設けられ、その上部にトップリング装置12とドレッシング装置14が、下部に研磨工具装置16とウエハの受け渡しを行うプッシャ18がそれぞれ備えられている。
トップリング装置12には、円筒状ケース20の内部を挿通する支持軸22が備えられ、この支持軸22の下端にウエハを吸着保持しつつ該ウエハを研磨工具装置16に向けて所定の圧力で押し付けるトップリングヘッド24が取付けられている。そして、円筒状ケース20の内部にはモータが内蔵され、このモータの駆動に伴って支持軸22が回転するとともに、円筒状ケース20の側方に配置されたシリンダ26と支持軸22とが連結部材28を介して互いに連結され、これによって、シリンダ26の駆動に伴って支持軸22が上下動するようになっている。
一方、ドレッシング装置14もほぼ同様に、円筒状ケース30の内部を挿通する支持軸32が備えられ、この支持軸32の下端に下記の研磨プレート50の目立てを行うドレッシングヘッド34が取付けられている。そして、円筒状ケース30の内部にはモータが内蔵され、このモータの駆動に伴って支持軸32が回転するとともに、円筒状ケース30の側方に配置されたシリンダ36と支持軸32とが連結部材38を介して互いに連結され、これによって、シリンダ36の駆動に伴って支持軸32が上下動するようになっている。
各支持軸22,32は、共にスプライン軸によって構成され、このスプライン軸とモータの出力軸がスプライン溝により摺動自在に連結されている。従って、モータの駆動力の伝達とともに、シリンダ26,36の作動による上下動が各支持軸22,32に伝達されるようになっている。また、トップリング装置12の支持軸22の上端には、回転を検出するためのエンコーダ40が設けられている。
トップリング装置12及びドレッシング装置14は、一対のガイドレール42に沿って走行自在な矩形平板状の台車44にトップリングヘッド24及びドレッシングヘッド34を下方に突出させた状態で取付けられている。そして、台車44の走行により、トップリングヘッド24は研磨工具装置16とプッシャ18の間を、ドレッシングヘッド34はリンス槽46と研磨工具装置16の間をそれぞれ往復移動するようになっている。
研磨工具装置16には、並進円運動を行う研磨テーブル48が備えられ、この研磨テーブル48の上面に、研磨プレート50が固着されている。プッシャ18は、ウエハをトップリングヘッド24と図示しないロボットとの間で授受するもので、上下動自在で、かつ前後方向に位置調整が可能に構成されている。
研磨工具装置16の詳細を図2乃至図4を参照して説明する。これは、内部にモータ52を収容する筒状のケーシング54の上端開口部を覆う取付板56に略円筒状の基台58が固定され、この基台58に複数の支持部60を介して研磨テーブル48が支持されている。研磨テーブル48の下面と基台58の上面の対応する位置には、周方向に等間隔に複数の凹部48a,58aが形成され、ここにはそれぞれベアリング62,64を介して、偏芯量“e”だけずれた2つの軸体66a,66bを持つクランクシャフト66が、各軸体66a,66bの端部を挿入して配置され、これにより、研磨テーブル48が半径“e”の円に沿って並進円運動可能となっている。
また、研磨テーブル48の中央部には、モータ52の駆動に伴って回転する駆動軸68の上端に偏芯して設けられた駆動ピン部68aを軸受70を介して収容する中央孔48bが形成されている。この駆動ピン部68aの偏芯量、即ちこの駆動ピン部68aの軸心O2と駆動軸68の軸心O1との距離も、2つの軸体66a,66bの偏芯量と同じ“e”である。モータ52は、ケーシング54内に形成されたモータ室72に収容され、その駆動軸68は上下の軸受74,76により支持されている。
研磨テーブル48は、研磨すべきウエハ等の被研磨材の径に偏芯量“e”を加えた値よりやや大きい径に設定され、この上面には、研磨プレート(研磨工具)50が固着されている。これらの部材間には研磨プレート50の上面に供給する研磨液を流通させる空間78が形成されている。この空間78は側面に設けられた研磨液供給孔(図示せず)に連通しているとともに、研磨プレート50の内部に設けられた複数の研磨液吐出孔50aと連通している。
更に、研磨テーブル48の周囲には、供給された研磨液を回収する回収槽80が設けられているとともに、この回収槽80内を研磨液を導く案内板82が研磨テーブル48の周縁部に取付けられている。
駆動軸68には、研磨テーブルを偏芯駆動する際のバランスを取って、振動や機械的摩耗を防止するためのバランサが上下に設けられている。上端側のバランサは、2個の扇状のバランサ片84,86からなり、これらのバランサ片84,86の総計のモーメントが研磨テーブル48及び研磨プレート50と合計の重量が形成するモーメントと対応するように設定されている。これらのバランサ片84,86は、駆動軸68の軸心O1に対して駆動ピン部68aの軸心O2との偏芯方向と反対方向に向かうように駆動軸68に取付けられている。
この取付機構は以下のようになっている。すなわち、駆動軸68の周囲には、横断面の鉤型の屈曲部88aを有するリング状の取付治具88がビス90を介して駆動軸68をとりかこむように固着されている。一方、各バランサ片84,86の内周部には、屈曲部88aの断面形状に沿った断面形状で円周方向に延びる凹溝84a,86aが設けられているとともに、外周面からこの凹溝84a,86aに達するねじ穴84b,86bが設けられている。そして、この凹溝84a,86a内に取付治具88の屈曲部88aを嵌入させ、ねじ穴84b,86b内にビス92を螺合することにより、バランサ片84,86を駆動軸68に取付けている。これにより、バランサ片84,86の取付治具88からの脱落を確実に防止する。
このような構成によって、バランサ片84,86は、駆動軸68に対してその周方向への取付位置を比較的簡単に変えることができる。つまり、ビス92を緩めることによって、図4に示すように、両者の合力F4が研磨(運動)中の研磨テーブル48による負荷F1とバランスするように、この位置関係を容易に調節することができる。従って、例えば、振動を耳や振動計で判断しながら、現場で簡単にバランサ片84,86の取付位置を調整し、研磨テーブル48の振動を防止し、安定したウエハの研磨を可能としている。
この調整方法の一例を説明すると、初期設定は、図4に示すように、2つのバランサ片84,86を軸心O1とO2を結ぶ線に対して対称に取付けておく。そして、振動を検知しながら、2つのバランサ片84,86をまず対称に動かし、それでも不充分な場合は非対称な位置への調整も行う。実機のバランス調整は、多くの要因によって個々に条件が異なるので、トライアル・アンド・エラー方式が有効であることも多いからである。駆動軸68の下端側のバランサ94も同様な機構となっている。または駆動軸、研磨テーブル等にセンサをとりつけて振動を検知するようにして、その検知結果にもとづいてバランサ片84,86の位置を変更してもよい。
本発明の実施の形態に係る基板の研磨装置を示す正面図である。 同じく、研磨工具装置の縦断正面図である。 同じく、クランクシャフト(支持部)を取付けた基台と駆動軸とを示す平面図である。 同じく、駆動軸に取付けたバランサと該駆動軸に作用する負荷の説明図である。 従来の駆動装置を備えた研磨装置を示す斜視図である。
符号の説明
12 トップリング装置
14 ドレッシング装置
16 研磨工具装置
18 プッシャ
24 トップリングヘッド
34 ドレッシングヘッド
48 研磨テーブル
50 研磨プレート(研磨具)
52 モータ
58 基台
60 支持部
66 クランクシャフト
68 駆動軸
68a 同駆動ピン部
84,86 バランサ片
88 取付治具
90,92 ビス
94 第2のバランサ

Claims (4)

  1. 研磨プレートを有する研磨テーブルと、
    該研磨テーブルに偏芯位置で連結して該研磨テーブルを前記研磨プレートと一体に並進円運動させる駆動軸とを備え、
    前記研磨テーブルの大きさは、研磨対象の基板とほぼ同じに設定され、前記研磨プレートの内部には、前記研磨プレートと前記研磨テーブルとの間に形成された空間に連通する複数の研磨液吐出孔が設けられていることを特徴とする基板の研磨装置。
  2. 前記研磨テーブルの周囲には、前記研磨テーブルに供給された研磨液を回収する回収槽が設けられ、前記研磨テーブルの周縁部には、前記回収槽へ研磨液を導く案内板が取付けられていることを特徴とする請求項1記載の基板の研磨装置。
  3. 前記駆動軸の軸方向に沿った所定の位置に、取付け位置が調整可能な少なくとも2つのバランサ片が設けられていることを特徴とする請求項2記載の基板の研磨装置。
  4. 前記研磨テーブルを支持するための複数の支持部を有する基台を有し、
    前記複数の支持部はそれぞれ前記駆動軸が前記研磨プレートを並進円運動させる偏芯量と同一の偏芯量を有するクランクシャフトを有することを特徴とする請求項3記載の基板の研磨装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2008013330A1 (en) * 2006-07-27 2008-01-31 Doosan Mecatec Co., Ltd. Platen driving system of chemical mechanical polishing equipment for wafer

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