JP2006183111A - 回折格子の製造方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】
表面粗度が細かくサイズを大きくすることを可能とする回折格子の製作方法を提供する。
【解決手段】
イオンビームを照射するイオン源4とイオンが照射されてスパッタリングされるターゲット材2とターゲット材2から叩き出された原子が堆積する基板1が設置され、ターゲット材2と基板1の間にはマスク3が配設されている。ターゲット材2には二酸化珪素材が使用される。マスク3は基板1より一回り大きく製作され、表面には格子状に透過部であるスリット16が設けられている。スリット16は回折格子の溝数に合わせて加工される。マスク3は上下に可動可能にガイド棒ホルダー12に固定されたガイド棒6に挿入されたマスクホルダー7に取り付けられている。マスクホルダー7の右端はネジ棒9と螺合するボールネジ可動部8と一体にされており、ネジ棒9はモータホルダー11に固定されたパルスモータ10と連結されている。
【選択図】 図1

Description

本発明は、回折格子特にその溝を特殊な方法によって形成する製作方法に関する。
回折格子の溝形状を形成する製作方法には、イオンビームエッチングによる加工や、レーザ光を照射して溝加工するレーザ加工などの方法が採用される(たとえば特許文献1参照)。以下たとえば反応性イオンビームエッチングでの溝形状を形成する方法は、イオン源から引き出され、加速された反応性ガスイオンビームをターゲットである基板表面に入射させて原子であるスパッタ粒子を真空中に放出させるスパッタリング現象を利用して基板表面を原子・分子の単位で除去し、溝を形成する加工方法である。
さらに別の製作法としてホログラフィック露光法を利用する方法もある。この方法は図4に示される。
まず光学研磨された石英ガラスなど光学ガラス製の基板1の表面にフォトレジスト層20が形成される(図4(a))。このように準備したワークをホログラフィック露光装置にセットし、レーザビーム21の2光束干渉によるホログラフィック露光法でフォトレジストに干渉縞の潜像を露光した後、現像液で現像、純水リンスを行ってフォトレジストの回折格子パターンをつくる((図4(b))。
次に、これを反応性イオンビームエッチング装置に取り付け、このパターンの上からイオンビーム22を照射し続け基板1上に平底型パターンを作製する(図4(c))。最後にプラズマアッシングによるエッチングによって硬くなったレジスト表面層を灰化し、その後リムーバ液に浸漬し、基板1上のフォトレジストパターンを剥離し矩形状形の回折格子(ラミナーグレーティング)のマスターを製作する(図4(d))。さらに関連技術としてイオンビームスパッタによる非球面ミラーの作製に関する技術も提案されている。
以上のように回折格子は基板上面を除去加工して製作される方法が一般的である。
特開2004−227009号公報 特開2002−221596号公報
従来の回折格子の溝形状を形成するプロセスでは、エッチング工程の前に基板表面のフォトレジスト層の露光が行われる。この時、外部からの光が入ったり周囲の空気の乱れで光がゆれたり、光の跳ね返りなど無駄な光の外乱がある場合には、きれいなパターンができない。マスクパターンがきれいでないと次工程のエッチングで表面粗さがそのまま現れる。このため目的とする表面祖度が得られない場合がある。
また、高速のイオンビームを基板表面に衝突させ基板の一部をスパッタ現象で除去することで行うため、除去された基板の溝部分の表面粗さは研磨された基板よりも粗いものとなる。また、基板表面のフォトレジスト層の露光において、干渉縞のサイズが大きい場合レーザの可干渉性に限界があり、端部で所望の干渉縞が得られず、100mm角より大きなサイズの回折格子を製作するのは困難である。
本発明はこのような問題を解決する回折格子の製作方法を提供する。
本発明が提供する回折格子の製作方法は、上記課題を解決するために、回折格子の溝形状を形成するための材料を蒸着技術にて飛散させる材料飛散工程と、飛散された材料を基盤に対置させたマスクを介して基板上に回折格子層を堆積させる材料堆積工程とからなり、基板上に材料の堆積で回折格子の溝形状を形成させるものである。
蒸着技術としては、たとえばスパッタリング方式を採用する。
ターゲット材のスパッタリングにより成膜を行う薄膜製造装置が利用できる。さらに本発明は、製作する回折格子の溝形状により、基板上に回折格子の溝を形成するスパッタ材が通過し基板に堆積させるスリットを具備したマスクをターゲットと基板との間に設置する。さらにこのマスクと基板との間隔を調節可能な機構を具備する。
さらにターゲット材とビーム源との距離を調節しターゲット材料の回折格子の溝形成を調節するように構成する。
さらに回折格子とマスクとの距離を調節しターゲット材料の回折格子の溝形成を調節するように構成する。このような構成によって溝の形成を最も望ましい形状に形成できる。
本発明が提供する回折格子の製作方法によれば、回折格子の溝表面の面精度が光学研磨された基板と同等の溝を得ることができる。
一辺200mm角の大面積の回折格子の製作が可能である。
回折格子の製作工程が短く単純化され、コスト低減が図られる。
本発明の特徴は、回折格子の溝形状を蒸着技術を利用して、ターゲット材と基板との間にマスクを配設し、ターゲット材からスパッタされた材料を基板上に堆積し回折格子の溝形状を作成するもので、この蒸着技術としては、イオンビームスパッタ蒸着技術や化学的蒸着方式など各種による方式を材料との関連で適宜選択し利用する。他方、マスクの位置やターゲット材とイオンビーム源との距離も調節自在にする。これらの各方式と調節手段の組み合わせによって最良の形態を実現できる。
本発明の実施例を図1、図2および図3にしたがって説明する。
図1は、イオンビームスパッタ方式の蒸着技術を利用する製作装置の断面構造を示している。これらの図1、図2、図3において、イオンビームを照射するイオン源4とイオンが照射されてスパッタリングされるターゲット材2とターゲット材2から叩き出された原子が堆積する基板1が設置され、ターゲット材2と基板1の間にはマスク3が配設されている。処理室23の内部は真空排気されている。
基板1は200mm角の合成石英材で基板ステージ5に取り付けられている。ターゲット材2は支軸18により支承され、支軸18を回転中心とする一端をピエゾ素子17で支持されている。実施例では、ターゲット材2には二酸化珪素材が使用される。マスク3は基板1より一回り大きく製作され、表面には格子状に透過部であるスリット16が設けられている。スリット16は回折格子の溝数に合わせて加工される。マスク3は上下に可動可能にガイド棒ホルダー12に固定されたガイド棒6に挿入されたマスクホルダー7に取り付けられている。マスクホルダー7の右端はネジ棒9と螺合するボールネジ可動部8と一体にされており、ネジ棒9はモータホルダー11に固定されたパルスモータ10と連結されている。モータホルダー11は処理室23に固定された取付台13にネジで締結されている。
イオン源4としては、イオン銃が用いられ処理室23の下部に取り付けられている。
イオン源4で発生させた運動エネルギーを持つアルゴンイオンビーム14を加速してターゲット材2の表面に照射すると、その衝突エネルギーにより蒸着物質15であるターゲット材2の原子が真空中に放出され基板1上に堆積し薄膜を形成する。その際、放出された原子はマスク3の格子状のスリット16を透過することによって基板1への堆積量が場所によって異なり、基板1上に一つのパターンができる。この基板1上に形成されるパターンはマスク3のスリット16の形状、マスク3の厚み、マスク3と基板1との距離や基板1に対するマスク3の取り付け角度などにより異なったパターンが形成される。また、イオンビームスパッタ蒸着装置には固有の膜厚分布特性があるので、これも考慮に入れ予めシミュレーションを行い、最適な形状パターンが得られるマスク3を準備しておく。
次に、図1、図2で本発明の回折格子の形状を決定する要因の一つである基板1とマスク3の距離をどのように調節するか説明する。
図1でパルスモータ10が正転、逆転することで、それと連結したネジ棒9も同様の回転をする。この回転にしたがってネジ棒9とかみ合ったボールネジ可動部8と一体のマスクホルダー7およびマスクホルダー7に取り付けられたマスク3は、ガイド棒6上を上下に移動する。これにより回折格子の形状を決定する基板1とマスク3との距離が調節可能となる。
また、ターゲット材2の傾斜角度は、ピエゾ素子17の圧電効果による膨張収縮によって支軸18を中心とした角度が調節され、溝形成に最適な傾斜角度が得られイオン源4との距離を調節できる。
図2は、基板1の表面とマスク3との表面が面一となった位置を示す。この点をマスク3の零点とする。パルスモータ10の回転とボールネジ可動部8の移動距離はボールネジの仕様および実テストで求められ、回折格子の形状を決定に必要な距離は、パルスモータ10の回転で得られる。
このような方法で、溝形成に必要な基板1とマスク3の距離の設定が行われ製作準備が完了する。
再現性で重要となる膜厚は、真空蒸着で用いられる光学式膜厚計を利用することで、波長オーダの膜厚を制御することで実現できる。
図3(a)は、正弦波形状回折格子が形成された基板1上の回折格子層19のパターンを示す縦断面図である。マスク3とマスク3のスリット16と基板1上に堆積された正弦波形状の回折格子層19が断面表示されている。
マスク3のスリット16の下端面より一点鎖線で示す円錐状に先に広がった範囲に原子が堆積される。格子状のそれぞれのスリット16からは同じように円錐状の範囲に原子が堆積される。さらに、隣り合ったスリット16どうしの円錐状の範囲の重なりにより基板1上には正弦波形状の回折格子層19が形成される。
この正弦波形状の層は、平滑に仕上げられた基板1上に微細な原子で形成されるため表面は滑らかに仕上がる。また、基板1上に一工程で形成されるため、工程短縮により形状変形を受ける要因がなく従来品より精度良く回折格子層19が得られる。この方法で製作された回折格子層19の溝部の実際の表面粗さは、測定結果、成膜前の基板1の表面粗さから変化しないことが判明した。
図3(b)は、矩形波形状回折格子が形成された基板1上の回折格子層19のパターンを示す縦断面図である。これは、基板1とマスク3との間隔を小さくすることで得られる。
本発明のイオンビームスパッタ蒸着法で使用されるマスク3は200mm角のサイズまで製作が可能であり、従来(約100mm角)より大きな回折格子に製作が可能である。回折格子サイズが大きいので明るく、光量も増えることによりS/N比が改善される。また、基板1上に一工程で形成されるため、製作の再現性と工程短縮によりコスト削減の効果にもなる。
本発明の実施例では、イオンビームスパッタ蒸着装置で回折格子層19を形成する例を示したが、請求項1で記載の製作方法として真空蒸着などで回折格子層19を形成しても良く、その外、CVDなどによる方法など各種、蒸着技術を採用できる。
また、実施例ではターゲット材2として、二酸化珪素を挙げたが、これ以外の物質で形成しても良く、さらに、複数種類以上の物質で形成しても良い。
上述の実施例では平面形状の基板1を用いたが、球面形状の基板を使用しても良い。
請求項1で記載のマスク3と基板1は、ターゲット材2から飛び出す原子の方向に対し、垂直方向だけでなく、角度を持って配設されることで、非対称形の回折格子層19を得ることもできる。
さらに基板1とマスク3との距離の調節をパルスモータ10とボールネジからなるネジ送り機構としたが、モータを使わず間隔調節片を出入させたり、レーザで距離を測定し移動量を調整し位置決めする方法なども考えられる。ターゲット材2を傾斜させる例を示したが直線方向に前後する簡略的な機構とすることもでき、本発明はこれら全てを包含する。
本発明は、原子状の細かい表面粗さの堆積層を得るのに好適に使用される。
本発明の製造方法を実施するためのイオンビームスパッタ蒸着装置の構成を示す図である。 零点合わせ時の基板に対するマスクの位置を示す図である。 本発明の装置で使用されたマスクと製作された回折格子の溝形状を示す図である。 従来の回折格子の製作プロセスを示す図である。
符号の説明
1 基板
2 ターゲット材
3 マスク
4 イオン源
5 基板ステージ
6 ガイド棒
7 マスクホルダー
8 ボールネジ可動部
9 ネジ棒
10 パルスモータ
11 モータホルダー
12 ガイド棒ホルダー
13 取付台
14 アルゴンイオンビーム
15 蒸着物質
16 スリット
17 ピエゾ素子
18 支軸
19 回折格子層
20 フォトレジスト層
21 レーザビーム
22 イオンビーム
23 処理室

Claims (4)

  1. 回折格子の溝形状を形成するためのターゲット材を蒸着技術にて飛散させる材料飛散工程と、飛散された材料を基板に対置させたマスクを介して基板に回折格子層を堆積させる材料堆積工程とからなり、基板への材料の堆積で回折格子の溝形状を形成させることを特徴とする回折格子の製作方法。
  2. 蒸着技術をイオンビーム源からのビームをターゲット材に照射しスパッタリングさせて材料を飛散させるスパッタリング方式としたことを特徴とする請求項1記載の回折格子の製作方法。
  3. ターゲット材とビーム源との距離を調節しターゲット材料の回折格子の溝形成を調節するようにしたことを特徴とする請求項2記載の回折格子の製作方法。
  4. 回折格子とマスクとの距離を調節しターゲット材料の回折格子の溝形成を調節するようにしたことを特徴とする請求項2記載の回折格子の製作方法。
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