JP2006151398A - Packing tape carrier for semiconductor integrated circuit - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a packaging tape carrier for a semiconductor integrated circuit, which prevents a solder ball terminal from being damaged without increasing a chip size. <P>SOLUTION: A tape 35 is made of a polystyrene resin, and is provided with sprocket holes 11 along the side edge of the tape 35. The tape 35 is also provided with square openings 36 formed at constant intervals, and box-like embossed parts 31, in which an IC chip 2a is stored, are continuously formed respectively at the lower end edges of the openings 36. After the IC chip 2a is stored in the embossed part 31, the upper face of the tape 35 is sealed with a sealing film 13. The embossed part 31 has side faces each sloping inward at a certain angle toward the bottom face of the embossed part 31, and a side shift preventing wall 33 limiting a shift of the IC chip 2a is provided on the side walls of the embossed part 31. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、主として超小型半導体集積回路パッケージを用いたIC(半導体集積回路)チップの梱包、搬送に用いて好適な半導体集積回路用梱包テープキャリアに関する。   The present invention relates to a semiconductor integrated circuit packaging tape carrier suitable for use in packing and transporting an IC (semiconductor integrated circuit) chip mainly using a microminiature semiconductor integrated circuit package.

図7は超小型半導体集積回路パッケージ(以下、CSP(Chip Size Package)パッケージという)を用いたICチップの構造を示す平面図、側面図および裏面図である。この図において、符号2は上面が正方形状のICチップであり、上面の隅部に位置マーク3が付けられている。また、底面は封止樹脂6によって封止され、この封止樹脂6に正方形状に配置された9個の半田ボール端子が取り付けられている。   FIG. 7 is a plan view, a side view, and a back view showing the structure of an IC chip using a micro semiconductor integrated circuit package (hereinafter referred to as a CSP (Chip Size Package) package). In this figure, reference numeral 2 denotes an IC chip having a square top surface, and position marks 3 are attached to corners of the top surface. The bottom surface is sealed with a sealing resin 6, and nine solder ball terminals arranged in a square shape are attached to the sealing resin 6.

図8は、従来から、このようなICチップの梱包、搬送に用いられているエンボステープキャリア9の構成を示す平面図および側面図である。このエンボステープキャリア9は帯状をなし、側縁に沿ってスプロケット穴11が形成され、また、裏面には一定間隔でICチップ2を収納するエンボス部14が形成されている。そして、各エンボス部14にICチップが収納された後、上面を封止フィルム13によって封止するようになっている。このエンボステープキャリア9はポリスチレン樹脂によって一体成型で製造され、また、封止フィルム13は熱圧着によって取り付けられる。   FIG. 8 is a plan view and a side view showing a configuration of an embossed tape carrier 9 conventionally used for packing and transporting such an IC chip. The embossed tape carrier 9 has a belt-like shape, and sprocket holes 11 are formed along the side edges, and an embossed portion 14 that houses the IC chips 2 at regular intervals is formed on the back surface. And after an IC chip is accommodated in each embossed part 14, the upper surface is sealed with a sealing film 13. The embossed tape carrier 9 is manufactured by integral molding with polystyrene resin, and the sealing film 13 is attached by thermocompression bonding.

図9はエンボステープキャリア9をテープリール17に巻いた状態を示す図である。プリント基板製造工程において、ICチップ2をプリント基板に実装するマウント機にテープリール17がセットされる。そして、マウント機を稼働させると、ICチップが自動的にプリント基板にマウントされる。エンボステープキャリア9の引き出しは、マウント機のスプロケットギヤがスプロケット穴11にかみ合い、同ギヤの回転によって行われる。
なお、従来のこの種のテープキャリアに関する文献として、特許文献1〜3が知られている。
特開2000-33969号公報 特開2002-68288号公報 特開2003-26229号公報
FIG. 9 is a view showing a state in which the embossed tape carrier 9 is wound around the tape reel 17. In the printed circuit board manufacturing process, the tape reel 17 is set in a mounting machine for mounting the IC chip 2 on the printed circuit board. When the mounting machine is operated, the IC chip is automatically mounted on the printed board. The embossed tape carrier 9 is pulled out by rotation of the sprocket gear of the mounting machine engaged with the sprocket hole 11.
Patent Documents 1 to 3 are known as documents related to this type of conventional tape carrier.
JP 2000-33969 A JP 2002-68288 A JP 2003-26229 A

ところで、上述した図8および図9に示すエンボステープキャリア9には次の問題がある。すなわち、出荷輸送の過程で、ICチップ2がエンボス部14の内部で図10に矢印で示すように振動する。このため、ICチップ2の半田ボール端子5が、エンボス部14の底面との接触、摩擦によって損傷し、図11に示すように、高さが均一ではなくなる。そして、摩擦によって半田ボール端子が損傷した状態でICチップ2をプリント基板に半田付けすると、図12に示すように、半田ボール端子の高さが均一でないため接触不良が発生する。   Incidentally, the embossed tape carrier 9 shown in FIGS. 8 and 9 has the following problems. That is, the IC chip 2 vibrates inside the embossed portion 14 as shown by an arrow in FIG. For this reason, the solder ball terminal 5 of the IC chip 2 is damaged by contact with the bottom surface of the embossed portion 14 and friction, and the height is not uniform as shown in FIG. When the IC chip 2 is soldered to the printed circuit board with the solder ball terminal damaged by friction, contact failure occurs because the height of the solder ball terminal is not uniform as shown in FIG.

そこで、上述した問題を解決するため、保持棚型エンボステープキャリアが開発された。図13(a)は保持棚型エンボステープキャリアの平面図、(b)は側面図、(c)はエンボス部22にICチップ2を挿入したところを示す図である。これらの図に示すように、保持棚型エンボステープキャリア21は、エンボス部22の内壁に沿ってICチップ保持棚26を設けたもので、ICチップ2の周辺部がこの保持棚26によって保持され、これにより、半田ボール端子5がエンボス部22の底面に接触することがなく、この結果、半田ボール端子5の損傷を防ぐことができる。   In order to solve the above-described problems, a holding shelf type embossed tape carrier has been developed. FIG. 13A is a plan view of a holding shelf type embossed tape carrier, FIG. 13B is a side view, and FIG. 13C is a view showing the IC chip 2 inserted into the embossed portion 22. As shown in these drawings, the holding shelf type embossed tape carrier 21 is provided with an IC chip holding shelf 26 along the inner wall of the embossed portion 22, and the peripheral portion of the IC chip 2 is held by the holding shelf 26. As a result, the solder ball terminal 5 does not contact the bottom surface of the embossed portion 22, and as a result, damage to the solder ball terminal 5 can be prevented.

しかしながら、保持棚26によってICチップ2を保持するためには、ICチップ2の周辺部に一定幅のスペース、具体的には、図14に示すように、半田ボール端子5の中心から外周線までの距離SPとして少なくとも0.5mmが必要である。そして、周辺部にこのスペースをとると、半田ボール端子5のピッチ間隔が0.5mmと決まっていることから、同図に示すように、9個の端子を有するICチップ2の場合、縦、横寸法が共に2mmとなる。このように、保持棚26を設けると、縦、横のサイズが大きくなってしまい、また、サイズが大きくなることによってチップ単価が上昇する問題がある。   However, in order to hold the IC chip 2 by the holding shelf 26, a space of a certain width around the IC chip 2, specifically, from the center of the solder ball terminal 5 to the outer peripheral line as shown in FIG. The distance SP must be at least 0.5 mm. When this space is taken in the peripheral portion, the pitch interval of the solder ball terminals 5 is determined to be 0.5 mm. Therefore, as shown in the figure, in the case of the IC chip 2 having nine terminals, Both lateral dimensions are 2 mm. Thus, when the holding shelf 26 is provided, the vertical and horizontal sizes increase, and there is a problem that the chip unit price increases due to the increase in size.

本発明は上記事情を考慮してなされたもので、その目的は、チップサイズを大きくすることなく半田ボール端子の損傷を防ぐことができる半導体集積回路用梱包テープキャリアを提供することにある。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a packaging tape carrier for a semiconductor integrated circuit that can prevent damage to a solder ball terminal without increasing the chip size.

この発明は上記の課題を解決するためになされたもので、請求項1に記載の発明は、所定の長さのテープ部材に一定間隔で開口部が形成され、該開口部にICチップが収納される箱状の収納部が連設された半導体集積回路用梱包テープキャリアにおいて、前記収納部の側面を該収納部の底面に向かって内側に一定角度傾斜して形成し、前記側面に、前記ICチップの移動を制限する横ズレ防止壁を設けたことを特徴とする半導体集積回路用梱包テープキャリアである。   SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems. According to the first aspect of the present invention, openings are formed at predetermined intervals in a tape member having a predetermined length, and an IC chip is accommodated in the openings. In the packaging tape carrier for a semiconductor integrated circuit in which the box-shaped storage unit is continuously provided, the side surface of the storage unit is inclined at a certain angle inward toward the bottom surface of the storage unit. A packaging tape carrier for a semiconductor integrated circuit, wherein a lateral misalignment prevention wall for restricting movement of an IC chip is provided.

請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の半導体集積回路用梱包テープキャリアにおいて、前記横ブレ防止壁は三角柱状をなし、その高さが、前記収納部に収納されたICチップの上面と前記開口部との間の長さより大であることを特徴とする。   According to a second aspect of the present invention, in the packaging tape carrier for a semiconductor integrated circuit according to the first aspect, the lateral blur prevention wall has a triangular prism shape, and the height of the IC chip accommodated in the accommodating portion is It is larger than the length between the upper surface and the opening.

この発明によれば、ICチップの輸送中の摩擦による半田ボール端子の損傷を防ぐことができる効果がある。また、ICチップの周辺スペース幅に特段の制限がなく、これにより、半田ボール端子の損傷を防ぐためICチップのサイズを大きくする必要がない利点が得られる。また、ICチップのサイズを大きくする必要がないことから、ICチップのコストが上昇しない利点が得られる。   According to the present invention, it is possible to prevent damage to the solder ball terminal due to friction during transportation of the IC chip. In addition, there is no particular limitation on the peripheral space width of the IC chip, which provides an advantage that the size of the IC chip does not need to be increased in order to prevent damage to the solder ball terminals. Further, since it is not necessary to increase the size of the IC chip, there is an advantage that the cost of the IC chip does not increase.

以下、図面を参照し、この発明の実施の形態について説明する。図1はこの発明の一実施の形態によるエンボステープキャリア30の構成を示す平面図および側面図である。この図において、符号35はポリスチレン樹脂によるテープであり、側縁に沿ってスプロケット穴11が形成されている。また、このテープ35には、一定間隔で正方形状の開口部36が形成され、該開口部36の下端縁にICチップ2aが収納される箱状のエンボス部(収納部)31が連設されている。そして、各エンボス部31にICチップ2aが収納された後、上面を封止フィルム13によって封止するようになっている。このエンボステープキャリア31はポリスチレン樹脂によって一体成型で製造され、また、封止フィルム13は熱圧着によって取り付けられる。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view and a side view showing a configuration of an embossed tape carrier 30 according to an embodiment of the present invention. In this figure, the code | symbol 35 is a tape by a polystyrene resin, and the sprocket hole 11 is formed along the side edge. The tape 35 has square openings 36 formed at regular intervals, and a box-like embossed portion (storage portion) 31 in which the IC chip 2a is stored is connected to the lower end edge of the opening 36. ing. And after IC chip 2a is accommodated in each embossed part 31, the upper surface is sealed with sealing film 13. The embossed tape carrier 31 is manufactured by integral molding with polystyrene resin, and the sealing film 13 is attached by thermocompression bonding.

以上の構成において、エンボス部31以外の構成は、従来のエンボステープキャリアと同様であり、以下、エンボス部31について詳述する。
図2はエンボス部31の構成を示す側面図であり、この図に示すように、エンボス部31は4側面31aがいずれも内側に一定角度傾斜しており、底面31bの大きさが開口部より小さくなっている。これにより、エンボス部31内にICチップ2aを挿入すると、ICチップ2aの下面の周縁部が図に示すように側面31aに当接し(符号A参照)、これにより、半田ボール端子5がエンボス部31の底面31bに接触するのを防ぐことができる。
In the above configuration, the configuration other than the embossed portion 31 is the same as that of the conventional embossed tape carrier, and the embossed portion 31 will be described in detail below.
FIG. 2 is a side view showing the configuration of the embossed portion 31. As shown in this figure, the embossed portion 31 has four side surfaces 31a inclined at a certain angle inward, and the size of the bottom surface 31b is larger than the opening. It is getting smaller. As a result, when the IC chip 2a is inserted into the embossed portion 31, the peripheral portion of the lower surface of the IC chip 2a abuts on the side surface 31a as shown in the figure (see symbol A), whereby the solder ball terminal 5 is It is possible to prevent contact with the bottom surface 31 b of the 31.

図3はエンボス部31の側面31aが開口部36となす角αを説明するための図である。この実施形態において使用されるICチップ2aは、半田ボール端子5の中心から外周線までの長さSP=0.3mmである。他の寸法は従来のもの(図14)と同じであり、半田ボール端子5の直径D=0.3mm、半田ボール端子5の高さb=0.24mmである。また、半田ボール端子5の外周部からチップの外周線までの長さは、a=0.15mmである。そして、図に示すように、ICチップ2aの裏面の外周縁と、半田ボール端子5の最右端の接線および最下端の接線の交点Pとを結ぶ直線に側面31aを一致させれば、半田ボール端子5が側面31aに接触することがないことから、角度αはこの直線と側面31aが一致するように決められており、
α=arc(tanb/a)
なる式によって求められる。この式に
a=0.15
b=0.24
を代入すると、
α=57.9度
として求められる。
FIG. 3 is a diagram for explaining an angle α formed by the side surface 31 a of the embossed portion 31 and the opening 36. The IC chip 2a used in this embodiment has a length SP from the center of the solder ball terminal 5 to the outer peripheral line = 0.3 mm. Other dimensions are the same as the conventional one (FIG. 14). The diameter D of the solder ball terminal 5 is 0.3 mm, and the height b of the solder ball terminal 5 is 0.24 mm. The length from the outer peripheral portion of the solder ball terminal 5 to the outer peripheral line of the chip is a = 0.15 mm. As shown in the figure, if the side surface 31a is aligned with a straight line connecting the outer peripheral edge of the back surface of the IC chip 2a and the intersection P of the rightmost tangent and the lowest tangent of the solder ball terminal 5, the solder ball Since the terminal 5 does not contact the side surface 31a, the angle α is determined so that the straight line and the side surface 31a coincide with each other.
α = arc (tanb / a)
It is calculated by the following formula. In this equation, a = 0.15
b = 0.24
Substituting
It is calculated as α = 57.9 degrees.

しかし、単に側面31aを傾斜させただけでは、移動中の振動によって、図4に示すように、ICチップ2aが傾き、半田ボール端子5がエンボス部31の底面31bに接触してしまう。そこで、この実施形態においては、図1、図5に示すように、上述した側面31aの傾斜構造に加えて、さらに横ズレ防止壁33を4側面31aの各内面に形成している。この横ズレ防止壁33は、三角柱状をなし、その縦面がICチップ2aの側面と僅かの間隙をおいて形成され、横面が開口部36と平行に形成され、斜め面がエンボス部31の側面31aに合致している。また、その高さHは、ICチップ2aの上面とエンボス部31の開口部36との間の長さcより大きい長さに形成されている。高さHをこのような長さに形成されることによって、ICチップ2aが振動によって開口部36まで持ち上がっても横ズレ防止壁33を越えて横ズレすることを防ぐことができる。   However, if the side surface 31a is simply inclined, the IC chip 2a is inclined and the solder ball terminal 5 comes into contact with the bottom surface 31b of the embossed portion 31 due to vibration during movement, as shown in FIG. Therefore, in this embodiment, as shown in FIGS. 1 and 5, in addition to the inclined structure of the side surface 31a described above, a lateral displacement prevention wall 33 is further formed on each inner surface of the four side surfaces 31a. The lateral displacement prevention wall 33 has a triangular prism shape, the vertical surface is formed with a slight gap from the side surface of the IC chip 2a, the lateral surface is formed in parallel with the opening 36, and the oblique surface is the embossed portion 31. It corresponds to the side surface 31a. Further, the height H is formed to be longer than the length c between the upper surface of the IC chip 2 a and the opening 36 of the embossed portion 31. By forming the height H to such a length, even if the IC chip 2a is lifted up to the opening 36 by vibration, it is possible to prevent the IC chip 2a from shifting laterally beyond the lateral displacement preventing wall 33.

図6は、この実施形態において使用されるICチップ2aの構成を示す平面図、側面図および裏面図である。この図に示すように、この実施形態によればICチップ2aの半田ボール端子5の中心から外周線までの長さSPを0.3mmとすることができ、この結果、ICチップ2aの外形寸法を、
1.6mm×1.6mm
とすることができる。これにより、上述したICチップ2aは、従来の2.0mm×2.0mmのICチップ2に比較し、面積を36%縮小することができる。そして、チップサイズの縮小によりIC製造工程での良品歩留まり向上と製造コストの削減を実現することができる。
FIG. 6 is a plan view, a side view, and a back view showing the configuration of the IC chip 2a used in this embodiment. As shown in this figure, according to this embodiment, the length SP from the center of the solder ball terminal 5 of the IC chip 2a to the outer peripheral line can be set to 0.3 mm. As a result, the outer dimensions of the IC chip 2a The
1.6mm x 1.6mm
It can be. Thereby, the area of the IC chip 2a described above can be reduced by 36% compared to the conventional IC chip 2 of 2.0 mm × 2.0 mm. Further, by reducing the chip size, it is possible to improve the yield of non-defective products in the IC manufacturing process and reduce the manufacturing cost.

この発明は、主としてCSPパッケージを用いたICチップの製造工場において用いられる。   The present invention is mainly used in an IC chip manufacturing factory using a CSP package.

この発明の一実施形態によるエンボステープキャリアの構成を示す平面図および側面図である。It is the top view and side view which show the structure of the embossed tape carrier by one Embodiment of this invention. 側面を傾斜させたエンボス部の構成を示す図である。It is a figure which shows the structure of the embossing part which inclined the side surface. 図2におけるエンボス部の側面と開口面とのなす角αを説明するための図である。It is a figure for demonstrating the angle (alpha) which the side surface of the embossing part in FIG. 2 and an opening surface make. 図2に示すエンボス部の問題点を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the problem of the embossing part shown in FIG. 図2に示すエンボス部をさらに改良した、図1に示すエンボス部31の側断面図である。FIG. 3 is a side sectional view of the embossed portion 31 shown in FIG. 1, further improving the embossed portion shown in FIG. 2. 図1に示すエンボステープキャリアに収納されるICチップの構成を示す平面図、側面図および裏面図である。It is the top view, side view, and back view which show the structure of the IC chip accommodated in the embossed tape carrier shown in FIG. 従来のエンボステープキャリアに収納されるICチップの構成を示す平面図、側面図および裏面図である。It is the top view, side view, and back view which show the structure of the IC chip accommodated in the conventional embossed tape carrier. 従来のエンボステープキャリアの構成を示す平面図および側面図である。It is the top view and side view which show the structure of the conventional embossed tape carrier. 図8に示すエンボステープキャリアがテープリールに巻かれた状態を示す図である。It is a figure which shows the state by which the embossed tape carrier shown in FIG. 8 was wound around the tape reel. 従来のエンボステープキャリアの問題点を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the problem of the conventional embossed tape carrier. 従来のエンボステープキャリアの問題点を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the problem of the conventional embossed tape carrier. 従来のエンボステープキャリアの問題点を説明するための図である。It is a figure for demonstrating the problem of the conventional embossed tape carrier. 図8に示すエンボステープキャリアを改良した保持棚型エンボステープキャリアの平面図、側面図およびエンボス部22にICチップ2を挿入したところを示す図である。FIG. 9 is a plan view, a side view, and a view showing the IC chip 2 inserted into the embossed portion 22 of a holding shelf type embossed tape carrier improved from the embossed tape carrier shown in FIG. 8. 従来のエンボステープキャリアに収納されるICチップの寸法を示す平面図および裏面図である。It is the top view and back view which show the dimension of the IC chip accommodated in the conventional embossed tape carrier.

符号の説明Explanation of symbols

2a…ICチップ、5…半田ボール端子、11…スプロケット穴、30…エンボステープキャリア、31…エンボス部、31a…側面、31b…底面、33…横ズレ防止壁、35テープ、36…開口部、 2a ... IC chip, 5 ... solder ball terminal, 11 ... sprocket hole, 30 ... embossed tape carrier, 31 ... embossed portion, 31a ... side surface, 31b ... bottom surface, 33 ... lateral misalignment prevention wall, 35 tape, 36 ... opening,

Claims (2)

所定の長さのテープ部材に一定間隔で開口部が形成され、該開口部にICチップが収納される箱状の収納部が連設された半導体集積回路用梱包テープキャリアにおいて、
前記収納部の側面を該収納部の底面に向かって内側に一定角度傾斜して形成し、
前記側面に、前記ICチップの移動を制限する横ズレ防止壁を設けた
ことを特徴とする半導体集積回路用梱包テープキャリア。
In a packing tape carrier for a semiconductor integrated circuit in which openings are formed at predetermined intervals in a tape member of a predetermined length, and a box-shaped storage portion in which an IC chip is stored in the opening is continuously provided.
The side surface of the storage portion is formed so as to be inclined at a certain angle inward toward the bottom surface of the storage portion,
A packaging tape carrier for a semiconductor integrated circuit, characterized in that a lateral displacement prevention wall for restricting movement of the IC chip is provided on the side surface.
前記横ブレ防止部材は三角柱状をなし、その高さが、前記収納部に収納されたICチップの上面と前記開口部との間の長さより大であることを特徴とする請求項1に記載の半導体集積回路用梱包テープキャリア。   2. The horizontal blur preventing member has a triangular prism shape, and a height thereof is larger than a length between an upper surface of an IC chip accommodated in the accommodating portion and the opening portion. Packing tape carrier for semiconductor integrated circuits.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100941984B1 (en) 2007-09-28 2010-02-11 삼성전기주식회사 Packaging method of wafer
WO2018088178A1 (en) * 2016-11-09 2018-05-17 信越ポリマー株式会社 Method for manufacturing carrier tape for electronic component
JP2021017264A (en) * 2019-07-19 2021-02-15 信越ポリマー株式会社 Carrier tape body

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100941984B1 (en) 2007-09-28 2010-02-11 삼성전기주식회사 Packaging method of wafer
WO2018088178A1 (en) * 2016-11-09 2018-05-17 信越ポリマー株式会社 Method for manufacturing carrier tape for electronic component
JP2018076093A (en) * 2016-11-09 2018-05-17 信越ポリマー株式会社 Manufacturing method of carrier tape for electronic component
JP2021017264A (en) * 2019-07-19 2021-02-15 信越ポリマー株式会社 Carrier tape body
JP7232146B2 (en) 2019-07-19 2023-03-02 信越ポリマー株式会社 Carrier tape body

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