JP2006148613A - 固体撮像装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】 固体撮像素子チップに対して基準信号発生回路を設けることなく、列毎の利得ばらつきを補正する補正信号を容易に取得できる固体撮像装置を提供する。
【解決手段】 画素が2次元に配列された画素アレイ110 と、該画素アレイの各画素信号を読み出すための水平走査回路101-a,101-bと、垂直走査回路103 と、行選択線と垂直信号線と列選択スイッチと水平信号線とからなる信号読み出し部とを有する固体撮像装置において、均一光照射下で、同一列に配置された第1の画素と、該第1の画素とは異なる第2の画素とを選択するように前記水平及び垂直走査回路を制御する制御部111 と、前記第1の画素からの出力と前記第2の画素からの出力との出力差に基づき、列毎に利得補正をするための補正信号を生成する演算部112-a,112-bとを設けて構成する。
【選択図】 図 1
【解決手段】 画素が2次元に配列された画素アレイ110 と、該画素アレイの各画素信号を読み出すための水平走査回路101-a,101-bと、垂直走査回路103 と、行選択線と垂直信号線と列選択スイッチと水平信号線とからなる信号読み出し部とを有する固体撮像装置において、均一光照射下で、同一列に配置された第1の画素と、該第1の画素とは異なる第2の画素とを選択するように前記水平及び垂直走査回路を制御する制御部111 と、前記第1の画素からの出力と前記第2の画素からの出力との出力差に基づき、列毎に利得補正をするための補正信号を生成する演算部112-a,112-bとを設けて構成する。
【選択図】 図 1
Description
本発明は、固体撮像装置に関し、特に、画素列毎の利得ばらつきを補正することが可能な固体撮像装置に関する。
画素を2次元に配列した固体撮像装置においては、一般的に列方向に配列される画素からの出力信号は、同一の垂直信号線もしくは垂直転送路により伝送もしくは転送されるようになっている。このような構成の固体撮像装置においては、特に垂直信号線毎にアンプを有する場合、各アンプの特性を均一にすることが難しいため、この特性ばらつきが縦筋状のノイズとなって映像信号を劣化させていた。
このような問題に対処した固体撮像装置として、特開2000−295533号公報開示のものが知られている。図10は、上記公報開示の従来の固体撮像装置の構成を示す概要図である。この固体撮像装置においては、画素P11〜Paaからの信号は垂直走査回路Y1により行方向の読み出しの選択がなされ、水平読み出し回路X1によって列方向の選択がなされて信号が出力される。垂直走査回路Y1によって選択された行の画素信号は、列方向の画素に共通に接続された各信号読み出しライン(垂直信号線)を介してそれぞれラインアンプA1,A2へと送られる。各ラインアンプA1,A2には基準信号発生回路V1が接続され、該基準信号発生回路V1にて設定した複数のDCバイアスレベルが各ラインアンプA1,A2に印加される。各ラインアンプA1,A2からは入力された複数のDCバイアスを利得倍した信号が出力されるようになっている。
図11は、前記基準信号発生回路V1の具体的な回路構成を示しており、次にその動作について説明する。図11に示す基準信号発生回路において、PchMOSトランジスタQ3のゲート電極に直流バイアスを切り換えるためのバイアス切換パルスを与えると、PchMOSトランジスタQ1,Q3とNchMOSトランジスタQ2の各ドレイン共通接続点の電位が、DCバイアスとして取り出すことができる。すなわち、バイアス切り換えパルスが高レベルのときには、PchMOSトランジスタQ3がオフ状態にあることから、ドレイン共通接続点には、MOSトランジスタQ1,Q2の各チャネル抵抗による分圧によって、低レベルの電位がDCバイアスとして得られ、またバイアス切り換えパルスが低レベルのときには、MOSトランジスタQ3がオン状態となり、MOSトランジスタQ1,Q3の各チャネル抵抗が並列になるため、略電源電圧の高レベルの電位がDCバイアスとして得られる。
前記基準信号発生回路V1において、例えば画素信号レベルの黒レベル信号と白レベル信号に相当する複数のDCバイアスをラインアンプA1,A2に印加し、垂直信号線毎にラインアンプA1,A2により利得倍された前記複数のDCバイアス出力差を、固体撮像装置の外部において求めることによって、垂直信号線毎のラインアンプA1,A2の利得ばらつきを検出することができる。この検出値を用いて補正処理を行うことにより、映像信号中に含まれるラインアンプA1,A2の利得ばらつきに起因する縦筋状のノイズ成分を除去することが可能となる。
特開2000−295533号公報
しかしながら、上記従来の固体撮像装置においても、次のような課題が挙げられる。すなわち、固体撮像装置上に基準信号発生回路を設ける場合、予め固体撮像素子チップ上に基準信号発生回路を設けておく必要がある。更に高精度の基準信号発生回路を構成する場合、回路規模が大きくなり、他の回路のチップ内回路配置に影響を及ぼす可能性もある。
本願発明は、従来の固体撮像装置における上記課題を解消するためになされたもので、固体撮像素子チップに対して基準信号発生回路を特別に設けることなく、また画素への入射光量を制御することを可能とし、列毎の利得補正用信号の容易な取得を可能とする固体撮像装置を提供することを目的とする。更に、列毎の利得補正用信号の高精度な取得を可能とする固体撮像装置を提供することを目的とする。
上記課題を解決するため、請求項1に係る発明は、画素が2次元に配列された画素アレイと、該画素アレイの各画素信号を読み出すための水平及び垂直走査回路と、信号読み出し部とを備えた固体撮像装置において、均一光照射下で、同一列に配置された第1の画素と、該第1の画素とは異なる第2の画素とを選択するように前記水平及び垂直走査回路を制御する制御部と、前記第1の画素からの出力と前記第2の画素からの出力との出力差に基づき、列毎に利得補正を補正するための補正信号を生成する演算部とを有することを特徴とするものである。
請求項2に係る発明は、請求項1に係る固体撮像装置において、前記第1の画素は、入射光に対して、前記第2の画素の光学特性とは異なる光学特性を有することを特徴とするものである。
請求項3に係る発明は、請求項2にに係る固体撮像装置において、前記第1の画素は、前記光学特性として、入射面に貼付される光学フィルタの透過率が前記第2の画素とは異なることを特徴とするものである。
請求項4に係る発明は、請求項2又は3に係る固体撮像装置において、前記第1の画素は、前記光学特性として、入射側の開口率が前記第2の画素とは異なることを特徴とするものである。
請求項5に係る発明は、請求項2に係る固体撮像装置において、前記画素アレイは、撮像領域と常時遮光されている遮光領域とを有し、前記第1の画素は、前記撮像領域に設定され、前記第2の画素は、前記遮光領域に設定されていることを特徴とするものである。
請求項6に係る発明は、請求項1〜5のいずれか1項に係る固体撮像装置において、前記演算部は、複数の前記第1の画素の平均出力値と、複数の前記第2の画素の平均出力値との出力差から前記補正信号を生成することを特徴とするものである。
請求項1に係る発明によれば、固体撮像素子チップ内に基準信号発生回路等を特別に設けることなく、且つ従来の固体撮像装置の通常の駆動状態において、簡便に列毎の利得補正用の補正信号の生成を行うことが可能となる。請求項2〜5に係る発明によれば、固体撮像素子チップに対して基準信号発生回路を特別に設けることなく、画素への入射光量を制御することを可能にして、列毎の利得補正用の補正信号の容易な取得が可能となる。請求項6に係る発明によれば、列毎の利得補正用の補正信号の高精度な取得が可能となる。
次に、本発明を実施するための最良の形態について説明する。
まず、本発明に係る固体撮像装置の実施例1について説明する。図1は、実施例1に係る固体撮像装置の構成を示すブロック構成図である。図1において、100-11,100-21,100-31,100-41,100-12,100-22,100-32,100-42,100-13,100-23,100-33,100-43,100-14,100-24,100-34,100-44,100-15,100-25,100-35,100-45,100-16,100-26,100-36,100-46は2次元状画素アレイを構成する各画素を表し、画素100-11,100-31,100-13,100-33,100-15,100-35上には、Gr のカラーフィルタが、画素100-21,100-41,100-23,100-43,100-25,100-45上には、Bのカラーフィルタが、画素100-12,100-32,100-14,100-34,100-16,100-36上には、Rのカラーフィルタが、画素100-22,100-42,100-24,100-44,100-26,100-46上には、Gb のカラーフィルタが、それぞれ配置形成されている場合を示している。
ここで前記画素部の構成において、110 は撮像のための画素領域(画素アレイ)であり、更に補正信号取得領域109 は列間の画素信号の利得ばらつきを補正するための信号を取得する画素領域であり、該補正信号取得領域109 は前記撮像のための画素領域110 中に包含されて構成されている。
画素100-11,100-21,100-31,100-41は垂直信号線C1に接続され、画素100-12,100-22,100-32,100-42は垂直信号線C2に接続され、画素100-13,100-23,100-33,100-43は垂直信号線C3に接続され、画素100-14,100-24,100-34,100-44は垂直信号線C4に接続され、画素100-15,100-25,100-35,100-45は垂直信号線C5に接続され、画素100-16,100-26,100-36,100-46は垂直信号線C6に接続されている。
また、垂直走査回路103 によって選択され、行選択信号が印加される行選択線L1には、行方向の画素100-11,100-12,・・・,100-16,行選択線L2には、画素100-21,100-22,・・・,100-26,行選択線L3には、画素100-31,100-32,・・・,100-36,行選択線L4には、画素100-41,100-42,・・・,100-46がそれぞれ接続されている。また、垂直走査回路103 及び水平走査回路101-a,101-bには、これらの走査回路の駆動及び走査開始を制御するための制御部111 が接続されている。
奇数列の垂直信号線C1はノイズ除去回路105-a及び列選択スイッチ107-aを介して、垂直信号線C3はノイズ除去回路105-b及び列選択スイッチ107-bを介して、垂直信号線C5はノイズ除去回路105-c及び列選択スイッチ107-cを介して、水平信号線108-bにそれぞれ接続されている。
前記水平信号線108-bには、出力アンプ102-bが接続されている。この出力アンプ102-bには、後述する複数画素の出力信号の出力差に基づき、列毎に利得補正を行うための補正信号を生成する演算部112-bが接続されている。
偶数列の垂直信号線C2はノイズ除去回路104-a及び列選択スイッチ106-aを介して、垂直信号線C4はノイズ除去回路104-b及び列選択スイッチ106-bを介して、垂直信号線C6はノイズ除去回路104-c及び列選択スイッチ106-cを介して、水平信号線108-aにそれぞれ接続されている。
前記水平信号線108-aには、出力アンプ102-aが接続されている。この出力アンプ102-aには、後述する複数画素の出力信号の出力差に基づき、列毎に利得補正を行うための補正信号を生成する演算部112-aが接続される。なお、演算部112-a,112-bは、固体撮像素子チップの内部に一体的に構成してもよいし、固体撮像素子の外部に別個に構成してもよい。
次に、上記のように構成された実施例1に係る固体撮像装置の動作について説明する。まず、本実施例に係る固体撮像装置の撮像動作開始時に、画素部の補正信号取得領域109 の全面に亘って、一様な光を照射する(以下特に断らない限り、全ての実施例において、撮像動作開始時に補正信号取得領域109 の全面に亘って一様な光を照射するものとする)。制御部111 による制御のもと、垂直走査回路103 によって生成される行選択信号によって選択された、前記補正信号取得領域109 内の画素における画素信号は、垂直信号線C1〜C6に読み出され、それぞれの垂直信号線C1〜C6に設けられたノイズ除去回路、列選択スイッチを介して、水平信号線108-a,108-bに読み出される。水平信号線108-a,108-bに読み出された画素信号は、各々の水平信号線108-a,108-bに接続された出力アンプ102-a,102-bを介して演算部112-a,112-bに入力される。演算部112-a,112-bでは、以下のような背景をもとに補正信号が生成される。
本実施例では、奇数列の垂直信号線C1,C3,C5の画素信号は出力アンプ102-bを介して読み出されるが、この際読み出される画素配列を図2の(A)に示す。図2の(A)において、A−A′線に沿った補正信号取得領域の画素の出力レベルを図2の(B)に示し、図2の(A)において、B−B′線に沿った補正信号取得領域の画素の出力レベルを図2の(C)に示す。図2の(B)において、画素100-31,すなわちこの場合Gr フィルタに対応する画素信号出力をS1で表し、画素100-41,すなわちこの場合Bフィルタに対応する画素信号出力をS2で表す。同様に、画素100-33,すなわちこの場合Gr フィルタに対応する画素信号出力をS3で表し、画素100-43,すなわちこの場合Bフィルタに対応する画素信号出力をS4で表す。
同様に、偶数列の垂直信号線C2,C4,C6の画素信号は出力アンプ102-aを介して読み出されるが、この際読み出される画素配列を図3の(A)に示す。図3の(A)において、C−C′線に沿った補正信号取得領域の画素の出力レベルを図3の(B)に示し、図3の(A)において、D−D′線に沿った補正信号取得領域の画素の出力レベルを図3の(C)に示す。図3の(B)において、画素100-32,すなわちこの場合Rフィルタに対応する画素信号出力をS5で表し、画素100-42,すなわちこの場合Gb フィルタに対応する画素信号出力をS6で表す。同様に、画素100-34,すなわちこの場合Rフィルタに対応する画素信号出力をS7で表し、画素100-44,すなわちこの場合Gb フィルタに対応する画素信号出力をS8で表す。
ここで、補正信号取得領域109 に一様な光が照射されているとき、該領域内の各画素の画素信号S1とS2,S3とS4の出力差は理想的には同一となる。しかし、各列に配設されているノイズ除去回路104-a〜104-c,105-a〜105-cの特性ばらつきによって列毎に利得ばらつきを生じ、画素信号S1とS2,S3とS4の出力差は同一とはならない。
例えば、図2の(A)においてA−A′線に沿った画素列における画素100-31と、B−B′線に沿った画素列における画素100-33では、同一の分光透過率を示すOCF(光学的カラーフィルタ)であるGr フィルタが配設されていたとしても、各々の列の垂直信号線C1,C3に配設されているノイズ除去回路105-aと105-bの特性ばらつきにより出力差が生じる。同様に、A−A′線に沿った画素列における画素100-41と、B−B′に沿った画素列における画素100-43では、同一の分光透過率を示すOCFであるBフィルタが配設されていたとしても、同様に各々の列の垂直信号線C1,C3に配設されているノイズ除去回路105-aと105-bの特性ばらつきによって出力差が生じる。
したがって、A−A′線に沿った画素列における画素100-31の画素出力S1と、画素100-41の画素出力S2との出力差ΔSA,及びB−B′線に沿った画素列における100-33の画素出力S3と、画素100-43の画素出力S4との出力差ΔSBを、演算部112-bにて検出し処理することで、隣接列間のノイズ除去回路等の信号出力回路に起因する利得ばらつきを補正するための、補正信号を得ることができる。
同様に、図3の(A)においてC−C′線に沿った画素列における画素100-32と、D−D′線に沿った画素列における画素100-34では、同一の分光透過率を示すOCFであるRフィルタが配設されていたとしても、各々の列の垂直信号線C2,C4に配設されているノイズ除去回路104-aと104-bの特性ばらつきにより出力差が生じる。また、C−C′線に沿った画素列における画素100-42と、D−D′線に沿った画素列における画素100-44では、同一の分光透過率を示すOCFであるGb フィルタが配設されていたとしても、同様に各々の列の垂直信号線C2,C4に配設されているノイズ除去回路104-aと104-bの特性ばらつきにより出力差が生じる。
したがって、C−C′線に沿った画素列における画素100-32の画素出力S5と、画素100-42の画素出力S6との出力差ΔSC,及びD−D′線に沿った画素列における画素100-34の画素出力S7と、画素100-44の画素出力S8との出力差ΔSDを、演算部112-aにて検出し処理することで、隣接列間のノイズ除去回路等の信号出力回路に起因する利得ばらつきを補正するための、補正信号を得ることができる。
ここで、図1に示した実施例1では、画素領域に対向するように、それぞれ2つの水平走査回路及び信号読み出し部を配設した2線出力の固体撮像装置を例にあげ説明したが、これに限らず出力信号線(水平信号線)数は何本でもよい。更に補正信号取得のために、列方向の2画素分の信号を用いた例を示したが、2画素以上であればその画素数は問わない。
以上のように構成することで、固体撮像装置に対して、各列間の画素出力の利得ばらつきを補正するための基準信号発生回路を付加しなくても、通常の固体撮像装置の撮像状態及び駆動タイミングにて、各々の垂直信号線の経路における利得ばらつきを補正するための補正信号を、固体撮像装置単体にても簡便に生成することができるように構成することが可能になる。
次に、実施例2について説明する。図4は、実施例2に係る固体撮像装置を示すブロック構成図である。図1に示した実施例1と異なる点は、補正信号取得領域109 の画素上に、OCFの代わりに濃度の異なるNDフィルタを配設した点である。本実施例では、補正信号取得領域109 の画素100-31,100-32,100-33,100-34,100-35,100-36上には任意の濃度のNDフィルタND1が配設され、画素100-41,100-42,100-43,100-44,100-45,100-46上にはNDフィルタND1とは異なる任意の濃度のNDフィルタND2が配置されている例を示している。
このような構成とすることにより、列方向に隣接した画素信号において、NDフィルタの濃度差によって生成される画素信号出力差を、演算部112-a及び112-bにて検出し処理することで、前記出力差により隣接する列間の画素出力信号の利得ばらつきの補正信号を簡便に得ることができる。更に、奇数列及び偶数列の互いに隣接する列間の画素出力信号の利得のばらつきだけでなく、奇数列及び偶数列の画素出力信号に対応させた出力アンプ102-aと102-bとの間の特性ばらつきをも補正することが可能となる。
次に、実施例3について説明する。図5は、実施例3に係る固体撮像装置を示すブロック構成図である。本実施例は、図1に示した実施例1と同様にOCFを画素上に配設する構成のものであるが、例えば補正信号取得領域109 のOCF配列を、補正信号取得領域109 以外の撮像のための画素領域とは別の配列に変えたものである。本実施例において、補正信号取得領域109 以外の撮像のための画素領域におけるOCFは、一般的なベイヤー配列であり、補正信号取得領域109 においては、画素100-31,100-32,100-33,100-34,100-35,100-36上にはGr のカラーフィルタが配設され、画素100-41,100-42,100-43,100-44,100-45,100-46上にはBのカラーフィルタが配置される例を示している。
このような構成とすることにより、列方向に隣接した画素信号において、OCF配列によって生成される画素信号出力差を、演算部112-a及び112-bにて検出し処理することで、隣接する列間の画素出力信号の利得ばらつきの補正信号を簡便に得ることができる。更に、奇数列及び偶数列の互いに隣接する列間の画素出力信号の利得のばらつきだけでなく、奇数列及び偶数列の画素出力信号に対応させた出力アンプ102-aと102-bとの間の特性ばらつきをも補正することが可能となる。
上記実施例2及び実施例3では、濃度の異なるNDフィルタ及びOCFを画素上に配設構成したものを示したが、これに限らず、画素アレイ直上に配設される光学的なフィルタについて、入射する光量を制御するために透過率を変化させるようにしたものを用いるのであれば、何を用いても構わない。更に、偏向フィルタなどを複数組み合わせることによって光量制御を行い、明時信号の出力差を得るように構成しても構わないことは言うもまでもない。
以上のように構成することで、固体撮像素子チップに対して特別な基準信号発生回路の追加を行うことなく、半導体製造プロセス終了後の簡単な追加オンチップフィルタ製造プロセスにて、補正信号取得領域の画素への入射光量を制御するように構成することを可能とし、列毎の利得補正用の補正信号の容易な取得が可能となる。
次に、実施例4について説明する。図6は、実施例4に係る固体撮像装置を示すブロック構成図である。上記実施例1〜3と異なる点は、補正信号取得領域109 の画素上に、透過率を制御する減光手段ではなく、開口を制御するブラックフィルタを配置した点である。補正信号取得領域109 の画素100-31,100-32,100-33,100-34,100-35,100-36上には任意の開口の第1のブラックフィルタBF1が形成され、画素100-41,100-42,100-43,100-44,100-45,100-46上には第1のブラックフィルタBF1とは開口率の異なる任意の開口の第2のブラックフィルタBF2が形成されている。
このような構成とすることにより、列方向に隣接した画素信号において、ブラックフィルタBF1,BF2の開口率差によって生成される画素信号出力差を、演算部112-a及び112-bにて検出し処理することで、隣接する列間の画素出力信号の利得ばらつきの補正信号を簡便に得ることができる。更に、奇数列及び偶数列の互いに隣接する列間の画素出力信号の利得のばらつきだけでなく、奇数列及び偶数列の画素出力信号に対応させた出力アンプ102-aと102-bとの間の特性ばらつきをも補正することが可能となる。
次に、実施例5について説明する。図7は、実施例5に係る固体撮像装置を示すブロック構成図である。本実施例は、画素上に構成される開口を変化させる手段として、図6に示した実施例4とは別に、補正信号取得領域109 の画素上に、開口を制御するためのオンチップマイクロレンズ(OML)を配設して構成したものである。通常のOMLであれば、画素アレイ内に、同一曲率で一様に形成されているため、各々の画素においては、信号出力差は生じない。そこで、補正信号取得領域109 内の各画素に配設するOMLの曲率を複数種類設けることにより、信号出力差を得るようにしている。
本実施例では、例えば、補正信号取得領域109 内の画素100-31,100-32,100-33,100-34,100-35,100-36上には任意の曲率のOML(ML1)が形成され、画素100-41,100-42,100-43,100-44,100-45,100-46上にはOML(ML1)とは異なる任意の曲率のOML(ML2)が形成されている例を示している。なお、図7において、補正信号取得領域109 内において、OMLを形成した行と、OMLを形成しない行を設けることによって信号出力差を得るように構成しても、勿論構わない。
このような構成とすることにより、列方向に隣接した画素信号において、OML(ML1)とOML(ML2)の開口率差によって生成される画素信号出力差を、演算部112-a及び112-bにて検出し処理することで、隣接する列間の画素出力信号の利得ばらつきの補正信号を簡便に得ることができる。更に、奇数列及び偶数列の互いに隣接する列間の画素出力信号の利得のばらつきだけでなく、奇数列及び偶数列の画素出力信号に対応させた出力アンプ102-aと102-bとの間の特性ばらつきをも補正することが可能となる。
上記実施例4及び5では、画素に対する開口率の制御に、ブラックフィルタやOMLを使用して、画素信号の出力差を生じさせる例を示したが、開口率を制御することによって画素へ入射する光量を変化させることで、補正信号生成のための画素信号出力差を得る構成のものであれば、その手段は問わない。
以上のように構成することで、固体撮像素子チップに対して特別な基準信号発生回路の追加を行うことなく、半導体製造プロセス終了後の簡単な追加オンチップフィルタもしくはオンチップレンズ製造プロセスにて、補正信号取得領域の画素への入射光量を制御するように構成することを可能とし、列毎の利得補正用信号の容易な取得が可能となる。
次に、実施例6について説明する。図8は,実施例6に係る固体撮像装置を示すブロック構成図である。上記実施例1〜5と異なる点は、補正信号取得領域の画素上で画素信号出力差を得るために、通常の明時信号と暗時の信号を用いた点である。本実施例では、補正信号取得領域109 内の画素100-31,100-32,100-33,100-34,100-35,100-36としては、通常の画素信号取得領域と同一構成の画素が配置され、画素100-41,100-42,100-43,100-44,100-45,100-46上には遮光層が配置されている例を示している。
遮光層は、画素信号取得領域109 内において任意の画素のみ覆うように配置してもよいし、通常固体撮像素子チップ上の画素アレイ周辺部に配置されている、オプティカルブラック領域を遮光画素として用いてもよい。これにより、列方向に隣接した画素信号において、明時画素信号と遮光画素信号の出力差を、演算部112-a及び112-bにて検出し処理することで、隣接する列間の画素出力信号の利得ばらつきの補正信号を簡便に得ることができる。
以上のように構成することで、固体撮像素子チップに対して特別な基準信号発生回路の追加を行うことなく、通常の固体撮像素子チップの明時画素出力と遮光画素出力をそのまま利用して利得補正用の補正信号を生成することができるようになり、列毎の利得補正用の補正信号の容易な取得が可能となる。
次に、実施例7について説明する。図9は、実施例7に係る固体撮像装置を示すブロック構成図である。上記実施例1〜6と異なる点は、補正信号取得領域109 での同一列画素上において、略同一出力の複数画素の出力を平均化し、前記平均化した少なくとも2種類以上の画素出力レベルの差を検出することにより、利得補正用の補正信号を取得するように構成した点である。図9において、100-11,100-21,100-31,100-41,100-51,100-61,100-12,100-22,100-32,100-42,100-52,100-62,100-13,100-23,100-33,100-43,100-53,100-63,100-14,100-24,100-34,100-44,100-54,100-64,100-15,100-25,100-35,100-45,100-55,100-65,100-16,100-26,100-36,100-46,100-56,100-66は、画素を表し、各画素100-11,100-31,100-51,100-13,100-33,100-53,100-15,100-35,100-55上には、Gr のカラーフィルタが、画素100-21,100-41,100-61,100-23,100-43,100-63,100-25,100-45,100-65上には、Bのカラーフィルタが、画素100-12,100-32,100-52,100-14,100-34,100-54,100-16,100-36,100-56上には、Rのカラーフィルタが、画素100-22,100-42,100-62,100-24,100-44,100-64,100-26,100-46,100-66上には、Gb のカラーフィルタがそれぞれ形成されている場合を示している。
ここで上記各画素は、撮像のための画素領域110 を構成し、更に補正信号取得領域109 は列間の画素出力信号の利得ばらつきの補正用の補正信号を取得するための画素信号出力差を生成する画素領域であり、該補正信号取得領域109 は前記撮像のための画素領域110 中に包含されて構成されているものとする。
上記画素領域110 中の画素100-11,100-21,100-31,100-41,100-51,100-61は垂直信号線C1に接続され、画素100-12,100-22,100-32,100-42,100-52,100-62は垂直信号線C2に接続され、画素100-13,100-23,100-33,100-43,100-53,100-63は垂直信号線C3に接続され、画素100-14,100-24,100-34,100-44,100-54,100-64は垂直信号線C4に接続され、画素100-15,100-25,100-35,100-45,100-55,100-65は垂直信号線C5に接続され、画素100-16,100-26,100-36,100-46,100-56,100-66は垂直信号線C6に接続されている。
また、垂直走査回路103 によって選択され、行選択信号が印加される行選択線L11には、画素100-11,100-12,・・・,100-16が接続され、行選択線L12には、画素100-21,100-22,・・・,100-26が接続され、行選択線L13には、画素100-31,100-32,・・・,100-36が接続され、行選択線L14には、画素100-41,100-42,・・・,100-46が接続され、行選択線L15には、画素100-51,100-52,・・・,100-56が接続され、行選択線L16には、画素100-61,100-62,・・・,100-66が接続されている。ここで、例えば垂直信号線C1に接続される、補正信号取得領域109 の画素100-31と100-51,100-41と100-61には、それぞれ同一のOCFが配置されている。
通常は同一プロセスで製造された固体撮像素子においても、製造ばらつきにより画素からの信号に微小な出力差及び利得差が生じる。本実施例においては、補正信号取得領域109 において略同一画素出力を有する画素、すなわちGr のOCFが配置されている画素100-31と100-51の出力を平均化する。更に同一列内において、別の複数の略同一画素出力を有する画素、すなわちBのOCFが配置されている画素100-41と100-61の出力を平均化する。こうして個々の画素間ばらつきの影響を小さく抑えた後、この2種類の平均値の差を、演算部112-bにて検出し処理することで、列間の画素出力信号の利得ばらつきの補正信号の取得に利用する。他の垂直信号線C2〜C6についても、同一OCF間画素にて同様の処理を行い、列間の画素出力信号の利得ばらつきの補正用の補正信号の取得を行う。
本実施例では、補正信号取得領域109 内において同一列内における2種類の同一OCFを配置した画素同士の平均を取り、列毎の利得補正用の補正信号の取得を行うものを示したが、これに限らず、平均化する画素出力信号は2種類以上であってもよいし、更に同一列内の画素出力差を得るための手段としては、OCFのみならず、上記各実施例で示した透過率制御、開口率制御、遮光手段などを用いても勿論構わない。
以上のように構成することで、列毎の画素出力信号の利得補正用の補正信号を、より高精度に取得することが可能となる。
上記各実施例では、補正信号取得領域の画素に対して透過率制御、開口率制御、遮光手段を単独に用いて、画素出力差を得る例を示したが、勿論、これらの手段を組み合わせて使用してもよいのは言うまでもない。また、上記各実施例で、撮像動作開始時すなわち補正信号取得時には、補正信号取得領域109 に一様な光が照射されていることが前提となる。一様な光照射手段としては、例えば、固体撮像装置を備えた機器に光源を内蔵し、撮像開始時に点灯させることなどが考えられる。光源については、LEDでもよいしランプ光源でもよいが、補正信号取得領域109 の全域に亘って一様な光が照射できるものであれば、特にその種類は問わない。また撮像開始時に、照度ムラのない一様な被写体を撮像する他、焦点位置に対して被写体をデフォーカスさせ、補正信号取得領域に被写体の照度ムラなどのパターンの影響を除いた画像を撮像するなどして、補正用信号の取得を行ってもよい。すなわち補正用信号取得時には、補正信号取得領域109 に一様な光を照射できるような構成であれば、その手段は問わない。
100-11〜100-66 画素
101-a,101-b 水平走査回路
102-a,102-b 出力アンプ
103 垂直走査回路
104-a,104-b,104-c,105-a,105-b,105-c ノイズ除去回路
106-a,106-b,106-c,107-a,107-b,107-c 列選択スイッチ
108-a,108-b 水平信号線
109 補正信号取得領域
110 撮像画素領域(画素アレイ)
111 制御部
112-a,112-b 演算部
C1〜C6 垂直信号線
L1〜L4,L11〜L16 行選択線
101-a,101-b 水平走査回路
102-a,102-b 出力アンプ
103 垂直走査回路
104-a,104-b,104-c,105-a,105-b,105-c ノイズ除去回路
106-a,106-b,106-c,107-a,107-b,107-c 列選択スイッチ
108-a,108-b 水平信号線
109 補正信号取得領域
110 撮像画素領域(画素アレイ)
111 制御部
112-a,112-b 演算部
C1〜C6 垂直信号線
L1〜L4,L11〜L16 行選択線
Claims (6)
- 画素が2次元に配列された画素アレイと、該画素アレイの各画素信号を読み出すための水平及び垂直走査回路と、信号読み出し部とを備えた固体撮像装置において、均一光照射下で、同一列に配置された第1の画素と、該第1の画素とは異なる第2の画素とを選択するように前記水平及び垂直走査回路を制御する制御部と、前記第1の画素からの出力と前記第2の画素からの出力との出力差に基づき、列毎に利得補正をするための補正信号を生成する演算部とを有することを特徴とする固体撮像装置。
- 前記第1の画素は、入射光に対して、前記第2の画素の光学特性とは異なる光学特性を有することを特徴とする請求項1に係る固体撮像装置。
- 前記第1の画素は、前記光学特性として、入射面に貼付される光学フィルタの透過率が前記第2の画素とは異なることを特徴とする請求項2に係る固体撮像装置。
- 前記第1の画素は、前記光学特性として、入射側の開口率が前記第2の画素とは異なることを特徴とする請求項2又は3に係る固体撮像装置。
- 前記画素アレイは、撮像領域と常時遮光されている遮光領域とを有し、前記第1の画素は、前記撮像領域に設定され、前記第2の画素は、前記遮光領域に設定されていることを特徴とする請求項2に係る固体撮像装置。
- 前記演算部は、複数の前記第1の画素の平均出力値と、複数の前記第2の画素の平均出力値との出力差から前記補正信号を生成することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1項に係る固体撮像装置。
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JP2004336851A JP2006148613A (ja) | 2004-11-22 | 2004-11-22 | 固体撮像装置 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2009207073A (ja) * | 2008-02-29 | 2009-09-10 | Nec Corp | 赤外線撮像装置および固定パターンノイズ補正方法 |
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-
2004
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---|---|---|---|---|
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