JP2006145370A - 周期的なパターンを有する被検査体の欠陥箇所検出装置および欠陥箇所検出方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 本発明の周期的なパターンを有する被検査体の欠陥箇所検出方法は、被検査体とそれを撮像するラインセンサカメラの相対位置を一定速度で直線移動させ、ラインセンサカメラにより被検査体を連続的に撮像する。撮像した画像信号の強度の周期的変化に対して、各時点の画像信号の強度と1周期後の画像信号の強度との差を第1差分信号、1周期前の画像信号の強度との差を第2差分信号として算出し、各時点における第1差分信号と第2差分信号の絶対値を比較し、その絶対値の小さい方を被検査体からの欠陥画像信号として採用する。
【選択図】 図3
Description
(1)被検査体とそれを撮像するラインセンサカメラの相対位置を一定速度で直線移動させる。ただしその移動方向はラインセンサカメラを構成するセンサ素子を配列方向に対して直角方向とし、また被検査体の周期的なパターンの周期が存在する方向とする。
(2)被検査体を照明装置により照明する。
(3)ラインセンサカメラにより被検査体を連続的に撮像する。
(4)撮像した画像信号の強度の周期的変化に対して、各時点の画像信号の強度と1周期後の画像信号の強度との差を第1差分信号、1周期前の画像信号の強度との差を第2差分信号として算出し、各時点における第1差分信号と第2差分信号の絶対値を比較し、その絶対値の小さい方を被検査体からの欠陥画像信号として採用する。
図1は、本実施形態の一例である半導体ウェハの欠陥箇所検出装置の全体構成図である。図1で示すように本発明の欠陥箇所検出装置は、周期的なパターンを有する半導体ウェハ10を被検査体とする。半導体ウェハ10は搬送装置20により一定速度で直線的に矢印で示される方向に搬送される。半導体ウェハ10は照明装置30により照明され、半導体ウェハ10の表面で散乱された光はラインセンサカメラ40により連続的に撮像される。半導体ウェハ10のパターンの欠陥箇所は画像処理部50により検出され、その結果は表示装置60により表示される。
以下、図2〜7を用いて本発明の実施の形態である画像処理を用いた欠陥箇所検出方法について説明する。
20 搬送装置
30 照明
40 ラインセンサカメラ
50 画像処理部
60 表示装置
Claims (5)
- 周期的なパターンを有する被検査体の欠陥箇所検出装置において、前記被検査体を照明する照明装置と、前記被検査体を撮像するラインセンサカメラと、前記被検査体と前記ラインセンサカメラの相対位置を一定速度で直線移動させる搬送装置と、前記ラインセンサカメラが撮像した画像信号を処理する画像処理部を備え、前記被検査体の移動方向をその周期的なパターンの周期が存在する方向とし、前記ラインセンサカメラを、それを構成するセンサ素子の配列方向を前記被検査体の移動の方向と直角な方向に配置して、前記被検査体の周期的なパターンを連続的に撮像した画像信号の強度の周期的変化に対して、前記画像処理部には、各時点の画像信号の強度と1周期後の前記画像信号の強度との差を第1差分信号、1周期前の前記画像信号の強度との差を第2差分信号として算出し、当該各時点における前記第1差分信号と前記第2差分信号の絶対値を比較し、前記絶対値の小さい方を被検査体からの欠陥画像信号として採用する手段が格納されていることを特徴とする周期的なパターンを有する被検査体の欠陥箇所検出装置。
- 周期的なパターンを有する被検査体の欠陥箇所検出方法において、該被検査体とそれを撮像するラインセンサカメラの相対位置を一定速度で前記ラインセンサカメラを構成するセンサ素子の配列方向に対して直角方向に、かつ前記被検査体の周期的なパターンの周期が存在する方向に直線移動させながら、照明装置により照明された被検査体の周期的なパターンを前記ラインセンサカメラより連続的に撮像し、撮像した画像信号の強度の周期的変化に対して、各時点の画像信号の強度と1周期後の前記画像信号の強度の差を第1差分信号、1周期前の前記画像信号の強度の差を第2差分信号として算出し、当該各時点における前記第1差分信号と前記第2差分信号の絶対値を比較し、前記絶対値の小さい方を被検査体からの欠陥画像信号として採用することを特徴とする周期的なパターンを有する被検査体の欠陥箇所検出方法。
- 前記被検査体は表面に周期的なパターンを有する半導体ウェハであることを特徴とする請求項2記載の周期的なパターンを有する被検査体の欠陥箇所検出方法。
- 前記被検査体は表面に周期的なパターンを有する液晶パネルであることを特徴とする請求項2記載の周期的なパターンを有する被検査体の欠陥箇所検出方法。
- 前記被検査体は表面に周期的なパターンを有するプラズマディスプレイパネルであることを特徴とする請求項2記載の周期的なパターンを有する被検査体の欠陥箇所検出方法。
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2009063295A1 (en) * | 2007-11-12 | 2009-05-22 | Micronic Laser Systems Ab | Methods and apparatuses for detecting pattern errors |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS61205811A (ja) * | 1985-03-11 | 1986-09-12 | Hitachi Ltd | 欠陥検出方法 |
JPH05264467A (ja) * | 1992-12-04 | 1993-10-12 | Hitachi Ltd | 繰返しパターンの欠陥検査装置 |
JPH11160247A (ja) * | 1997-11-28 | 1999-06-18 | Hitachi Ltd | 外観検査方法およびその装置 |
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2004
- 2004-11-19 JP JP2004335600A patent/JP2006145370A/ja active Pending
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