JP2006135700A - 画像検査装置、画像検査方法、制御プログラムおよび可読記憶媒体 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 イメージセンサ11の出力画像データを記憶する原画像メモリ21と、出力画像データからシェーディング成分を除去したシェーディング成分除去データを求めるフィルタリング処理手段22と、シェーディング成分除去データを記憶する一次処理メモリ23と、シェーディング成分除去データをn×mの大きさのブロックに分割し、分割ブロック内のシェーディング成分除去データを加算してブロック分割・加算データを求めるブロック分割・加算手段24と、ブロック分割・加算データを記憶する二次処理メモリ25と、ブロック分割・加算データの平均値、最大値、最小値を求める統計処理手段26と、求められた平均値、最大値および最小値を用いて良否を判定する良否判定手段27と、良否ブロックの情報を記憶する判定結果メモリ28とを有する。
【選択図】 図1
Description
(Max−Ave)/(Ave−Min)>limit_1
(但し、Max:ブロック分割・加算データの最大値
Min:ブロック分割・加算データの最小値
Ave:ブロック分割・加算データの平均値
limit_1:良否判定の限界値)
によって前記イメージセンサの良否判定を行う。
(Blk−Ave)/(Ave−Min)>limit_2
(但し、Blk:任意ブロックの分割・加算データ
Min:ブロック分割・加算データの最小値
Ave:ブロック分割・加算データの平均値
limit_2:良否判定の限界値)
によって前記ブロックの良否判定を行う。
Max:最大値
Min:最小値
Ave:平均値
limit_1:良否判定のリミット
また、不良ブロック(故障エリア)を抽出するためには、「任意のブロックの加算データBlkと平均値Aveとの差」および「平均値Aveと最小値Minの差」を求め、下記式(2)に示すように、「任意のブロックの加算データBlkと平均値Aveの差」と「平均値Aveと最小値Minとの差」の比に対して、任意の倍数(良否判定のリミット:limit_2)を超えた場合に、その任意のブロックは不良ブロックであると判定する。
Blk:ブロックの加算データ
Max:加算データの最大値
Min:加算データの最小値
Ave:加算データの平均値
limit_2:不良ブロック(故障エリア)のリミット
なお、良否判定のリミットlimit_1およびlimit_2は、対象物によって目視結果との相関を取った上で求めることができるが、好ましくは、1.5〜2.5の範囲とする。また、より好ましくは、良否判定のリミットlimit_1およびlimit_2は2である。良否判定のリミットlimit_1およびlimit_2が1.5よりも小さければ「良」も「不良」と判定される確率が高くなり、2.5よりも大きければ「不良」も「良」と判定される確率が高くなる。
fx(B−A)=I(x,y)−I(x−1,y)
fx(C−B)=I(x+1,y)−I(x,y)
によって表される。但し、I(x,y)は点(x,y)での画素値とする。
fxx(x,y)=fx(C−B)−fx(B−A)
=I(x−1,y)+I(x+1,y)−2I(x,y)
によって計算することができる。
∇2f(x,y)=I(x−1,y)+I(x+1,y)
+I(x,y−1)+I(x,y+1)−4I(x,y)
・・・(式3)
によって与えられる。
(Blk-Ave)/(Ave-Min)>limit_2・・・(式2)
Blk:任意のブロックの加算データ
Max:加算データの最大値
Min:加算データの最小値
Ave:加算データの平均値
limit_2:良否判定リミット12の値
を用いてイメージセンサ11の出力画像データに対する輝度むら”を検出する。
(Max-Ave)/(Ave-Min)>limit_1・・・(式1)
Max:最大値
Min:最小値
Ave:平均値
limit_1:良否判定リミット12の値
を用いて良否判定を行う。
Vnew(x)
=|(V(x+2)+V(x+1)−V(x−1)−V(x−2))/2|
に基づく微分フィルタをかける。即ち、注目出力画像データに対して一つ隣り合った出力画像データとの差分および二つ隣り合った出力画像データとの差分を取り、2で割って絶対値を求める。
|(2350+2376−2450−2408)/2|
=|−132/2|=|−66|=66
となる。隣の出力画像データに対しても、同様に上記微分フィルタを通すと、輝度変化量は、
|(2410+2350−2392−2450)/2|=41
となる。
平均値:11986.07
最大値:24021
最小値:9716
となる。
(Blk-Ave)/(Ave-Min)>2
から、
Blk>3×Ave-2×Min
=3×11986.07-2×9716=16526.21
となり、ブロック内の加算データの総和が16527以上であるブロックが不良と判断される。
(Max-Ave)/(Ave-Min)
=(24021−11986.07)/(11986.07-9716)
=12034.93/2270.07=5.30>2
となり、「最大値と平均値の差」が「最小値と平均値の差」より2倍以上大きいため、“輝度むら”があると判定される。
12 良否判定リミット
20 画像検査装置
21 原画像メモリ
22 フィルタリング処理手段
23 一次処理メモリ
24 ブロック分割・加算手段
241 ブロック分割手段
242 ブロック加算手段
25 二次処理メモリ
26 統計処理手段
27 良否判定手段
28 判定結果メモリ
31 良否表示
32 判定結果表示
41 CPU
42 ROM
43 RAM
44 入力部
45 出力部
Claims (11)
- イメージセンサの出力画像データに対して良否判定を行う画像検査装置において、
該イメージセンサからの出力画像データをn×m(m,nは自然数)の所定サイズのブロックに分割し、分割されたブロック内のデータを加算してブロック分割・加算データを求めるブロック分割・加算手段と、
該ブロック分割・加算データの平均値、最大値および最小値を求める統計処理手段と、
該統計処理手段によって求められたブロック分割・加算データの平均値、最大値および最小値に基づいて該イメージセンサの出力画像データに対する良否を判定する良否判定手段とを有する画像検査装置。 - 前記ブロック分割・加算手段の前段に、前記イメージセンサの出力画像データからシェーディング成分を除去したシェーディング成分除去データを求めるフィルタリング処理手段を更に有し、
該ブロック分割・加算手段は、該シェーディング成分除去データをn×m(m,nは自然数)の所定サイズの各ブロックに分割し、分割されたブロック内の該シェーディング成分除去データを加算してブロック分割・加算データを求める請求項1に記載の画像検査装置。 - イメージセンサの出力画像データに対して良否判定を行う画像検査装置において、
該イメージセンサの出力画像データを記憶する原画像メモリと、
該原画像メモリに記憶された出力画像データからシェーディング成分を除去したシェーディング成分除去データを求めるフィルタリング処理手段と、
該フィルタリング処理手段によって求められた該シェーディング成分除去データを記憶する一次処理メモリと、
該一次処理メモリに記憶された該シェーディング成分除去データをn×m(m,nは自然数)の所定サイズのブロックに分割し、分割されたブロック内の該シェーディング成分除去データを加算してブロック分割・加算データを求めるブロック分割・加算手段と、
該ブロック分割・加算手段によって求められた該ブロック分割・加算データを記憶する二次処理メモリと、
該二次処理メモリに記憶された該ブロック分割・加算データの平均値、最大値および最小値を求める統計処理手段と、
該統計処理手段によって求められた該ブロック分割・加算データの平均値、最大値および最小値に基づいて該イメージセンサの出力画像データに対する良否を判定する良否判定手段と、
該良否判定手段によって判定された良否ブロックの情報を記憶する判定結果メモリとを有する画像検査装置。 - 前記フィルタリング処理手段は、水平方向の中心差分による微分フィルタ、垂直方向の中心差分による微分フィルタ、4近傍ラプラシアンフィルタ、8近傍ラプラシアンフィルタおよび3方向の中心差分による微分フィルタのいずれか一つを用いてシェーディング成分除去データを求める請求項2または3に記載の画像検査装置。
- 前記良否判定手段は、
(Max−Ave)/(Ave−Min)>limit_1
(但し、Max:ブロック分割・加算データの最大値
Min:ブロック分割・加算データの最小値
Ave:ブロック分割・加算データの平均値
limit_1:良否判定の限界値)
によって前記イメージセンサの良否判定を行う請求項1または3に記載の画像検査装置。 - 前記良否判定手段は、
(Blk−Ave)/(Ave−Min)>limit_2
(但し、Blk:任意ブロックの分割・加算データ
Min:ブロック分割・加算データの最小値
Ave:ブロック分割・加算データの平均値
limit_2:良否判定の限界値)
によって前記ブロックの良否判定を行う請求項1、3および5のいずれかに記載の画像検査装置。 - 前記良否判定の限界値は、1.5から2.5の範囲である請求項5または6に記載の画像検査装置。
- イメージセンサの出力画像データに対して良否判定を行う画像検査方法において、
該イメージセンサからの出力画像データをn×m(m,nは自然数)の所定サイズのブロックに分割し、分割されたブロック内のデータを加算してブロック分割・加算データを求めるブロック分割・加算ステップと、
該ブロック分割・加算データの平均値、最大値および最小値を求める統計処理ステップと、
該ブロック分割・加算データの平均値、最大値および最小値を用いて該イメージセンサの出力画像データに対して良否を判定する良否判定ステップとを有する画像検査方法。 - 前記ブロック分割・加算ステップの前に、前記イメージセンサの出力画像データからシェーディング成分を除去したシェーディング成分除去データを求めるフィルタリング処理ステップを更に有し、
該ブロック分割・加算ステップは、該シェーディング成分除去データをn×m(m,nは自然数)の所定サイズの各ブロックに分割し、分割されたブロック内のシェーディング成分除去データを加算してブロック分割・加算データを求める請求項8に記載の画像検査方法。 - 請求項8または9に記載の画像検査方法をコンピュータによって処理するための処理手順が記録された制御プログラム。
- 請求項10に記載の制御プログラムが格納されたコンピュータ読み取り可能な可読記憶媒体。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7783103B2 (en) | 2005-09-27 | 2010-08-24 | Sharp Kabushiki Kaisha | Defect detecting device, image sensor device, image sensor module, image processing device, digital image quality tester, and defect detecting method |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI342155B (en) * | 2006-11-07 | 2011-05-11 | Realtek Semiconductor Corp | Methods for processing image signals and related apparatuses |
US20100149426A1 (en) * | 2008-12-17 | 2010-06-17 | Ho-Tzu Cheng | Systems and methods for bandwidth optimized motion compensation memory access |
TWI495862B (zh) * | 2012-10-04 | 2015-08-11 | Pixart Imaging Inc | 檢測影像感測器的方法以及相關裝置 |
JP6657925B2 (ja) | 2015-06-04 | 2020-03-04 | ソニー株式会社 | 車載カメラ・システム並びに画像処理装置 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0397074A (ja) * | 1989-09-08 | 1991-04-23 | Advantest Corp | カラー画像信号評価方法及びこの評価方法を用いた装置 |
JPH0397075A (ja) * | 1989-09-08 | 1991-04-23 | Advantest Corp | カラー画像信号の評価方法及びこの評価方法を用いたカラー画像信号評価装置 |
JPH03258092A (ja) * | 1990-03-07 | 1991-11-18 | Advantest Corp | カラー画像信号の評価方法及びこの評価方法を用いたカラー画像信号評価装置 |
JPH04258736A (ja) * | 1991-02-13 | 1992-09-14 | Toshiba Corp | カラー固体撮像素子の検査装置 |
JPH05102451A (ja) * | 1991-10-11 | 1993-04-23 | Matsushita Electron Corp | 固体撮像素子の評価方法 |
JPH06244396A (ja) * | 1993-02-17 | 1994-09-02 | Fuji Electric Co Ltd | イメージセンサの試験方法 |
JPH07117571B2 (ja) * | 1988-09-22 | 1995-12-18 | 松下電子工業株式会社 | 固体撮像素子の検査方法 |
JPH11331626A (ja) * | 1998-03-09 | 1999-11-30 | Minolta Co Ltd | 画像処理装置 |
JP2000287135A (ja) * | 1999-03-31 | 2000-10-13 | Sony Corp | 撮像装置並びに固体撮像素子の画素欠陥検出装置及び方法 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4926251A (en) * | 1987-04-07 | 1990-05-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Color image processing apparatus with image corrector |
JPS63250973A (ja) * | 1987-04-07 | 1988-10-18 | Canon Inc | エツジ検出方法 |
JP3297950B2 (ja) * | 1993-07-13 | 2002-07-02 | シャープ株式会社 | 平面型表示パネル検査装置 |
JPH09259281A (ja) | 1996-03-22 | 1997-10-03 | Advantest Corp | 画像情報処理装置 |
JPH10257381A (ja) | 1997-03-12 | 1998-09-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | フリッカ補正装置 |
KR19990018136A (ko) * | 1997-08-26 | 1999-03-15 | 윤종용 | 칼라화질검사방법 및 장치 |
JP3237582B2 (ja) * | 1997-08-28 | 2001-12-10 | 富士ゼロックス株式会社 | 画像処理装置及び画像処理方法 |
JP4165932B2 (ja) * | 1998-07-21 | 2008-10-15 | 東芝ソリューション株式会社 | 明暗検査装置および明暗検査方法 |
KR100416775B1 (ko) * | 2001-07-19 | 2004-01-31 | 엘지전자 주식회사 | 디스플레이 장치 휘도 검사방법 |
JP3710131B2 (ja) * | 2002-05-29 | 2005-10-26 | シャープ株式会社 | 画像処理装置および画像処理方法、並びに画像表示装置、携帯電子機器 |
JP2004228948A (ja) * | 2003-01-23 | 2004-08-12 | Seiko Epson Corp | 画像処理システム、プロジェクタ、プログラム、情報記憶媒体および画像処理方法 |
-
2004
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- 2005-11-07 CN CNB2005101202139A patent/CN100353381C/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07117571B2 (ja) * | 1988-09-22 | 1995-12-18 | 松下電子工業株式会社 | 固体撮像素子の検査方法 |
JPH0397074A (ja) * | 1989-09-08 | 1991-04-23 | Advantest Corp | カラー画像信号評価方法及びこの評価方法を用いた装置 |
JPH0397075A (ja) * | 1989-09-08 | 1991-04-23 | Advantest Corp | カラー画像信号の評価方法及びこの評価方法を用いたカラー画像信号評価装置 |
JPH03258092A (ja) * | 1990-03-07 | 1991-11-18 | Advantest Corp | カラー画像信号の評価方法及びこの評価方法を用いたカラー画像信号評価装置 |
JPH04258736A (ja) * | 1991-02-13 | 1992-09-14 | Toshiba Corp | カラー固体撮像素子の検査装置 |
JPH05102451A (ja) * | 1991-10-11 | 1993-04-23 | Matsushita Electron Corp | 固体撮像素子の評価方法 |
JPH06244396A (ja) * | 1993-02-17 | 1994-09-02 | Fuji Electric Co Ltd | イメージセンサの試験方法 |
JPH11331626A (ja) * | 1998-03-09 | 1999-11-30 | Minolta Co Ltd | 画像処理装置 |
JP2000287135A (ja) * | 1999-03-31 | 2000-10-13 | Sony Corp | 撮像装置並びに固体撮像素子の画素欠陥検出装置及び方法 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7783103B2 (en) | 2005-09-27 | 2010-08-24 | Sharp Kabushiki Kaisha | Defect detecting device, image sensor device, image sensor module, image processing device, digital image quality tester, and defect detecting method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN1770202A (zh) | 2006-05-10 |
TW200631397A (en) | 2006-09-01 |
US7646892B2 (en) | 2010-01-12 |
KR100754969B1 (ko) | 2007-09-04 |
KR20060052459A (ko) | 2006-05-19 |
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US20060126136A1 (en) | 2006-06-15 |
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