JP2006132987A - Ultrasonic flaw detector - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、超音波により物体内部の傷等を探索する超音波探傷装置に関する。 The present invention relates to an ultrasonic flaw detector that searches for scratches and the like inside an object using ultrasonic waves.
超音波探傷装置は、ブローブから超音波を周期的に出力し、試験片から反射された探傷信号を各種信号処理することによりビデオ信号に変換し描画する処理を行うのが一般的である。 In general, an ultrasonic flaw detection apparatus performs processing of periodically outputting ultrasonic waves from a probe and converting the flaw detection signals reflected from a test piece into a video signal by performing various signal processings and drawing.
超音波探傷装置では、探傷信号を装置に取り込むADコンバータを動作させる動作クロックと、LCDなどに描画データを出力するための同期信号、および、その動作クロックは非同期である。そこで、装置内に取り込んだ探傷信号データを一度画像メモリに保存し、それを異なる転送速度で読み出す処理が行われる。 In an ultrasonic flaw detector, an operation clock for operating an AD converter that takes a flaw detection signal into the apparatus, a synchronization signal for outputting drawing data to an LCD, and the operation clock are asynchronous. Therefore, processing is performed in which the flaw detection signal data taken into the apparatus is once stored in the image memory and read out at different transfer speeds.
Aスコープ表示、Bスコープ表示、Sスコープ表示いずれの描画を行う場合にも、上記の画像メモリが利用される。 The above-mentioned image memory is used for drawing any of A scope display, B scope display, and S scope display.
また、Bスコープ表示やSスコープ表示の場合は、画像メモリへのライトアドレスとリードアドレスをそれぞれ独立に設定し探傷位置に併せた座標変換処理を行われる。特に、メモリーリード動作はシーケンシャルにアドレスをインクリメントするラスタスキャン動作が一般的である。 In the B scope display and S scope display, a write address and a read address to the image memory are set independently, and coordinate conversion processing is performed in accordance with the flaw detection position. In particular, the memory read operation is generally a raster scan operation in which the address is incremented sequentially.
従来の超音波探傷装置においては、探傷信号の特定のエリアに着目して検査を行うことがある。 In a conventional ultrasonic flaw detector, an inspection may be performed while paying attention to a specific area of a flaw detection signal.
例えば、Aスコープ表示においては、所定のゲート期間を設定し、該ゲート期間内の探傷信号データを検査するゲート手法が頻繁に用いられる。 For example, in the A scope display, a gate method is often used in which a predetermined gate period is set and flaw detection signal data in the gate period is inspected.
すなわち、従来のゲート手法では、ゲート期間のピーク振幅、時間などを計測する、あるいは、ゲート期間に探傷信号データが所定閾値を超えたか否かを判定することで、計測結果をゲート期間のゲート情報として得、このゲート情報を用いて検査がなされる。 That is, in the conventional gate method, the measurement result is obtained by measuring the peak amplitude, time, etc. of the gate period, or by determining whether the flaw detection signal data exceeds a predetermined threshold during the gate period. The gate information is used for inspection.
このようなゲート手法を利用した検査の一例では、例えば特開平9−33494号公報に開示されているように、ゲート情報を画面上に計測数値で表示する、或いは、アラームを鳴らすなどの処理が取られていた。 In an example of inspection using such a gate technique, for example, as disclosed in JP-A-9-33494, gate information is displayed as a measured numerical value on a screen, or an alarm is sounded. It was taken.
また、例えばBスコープ表示やSスコープ表示においても、所定のビームや所定のエリアに着目して検査を行うことは頻繁に行われる。さらにSスコープ表示においては前記Aスコープ表示と同様にゲートの処理を行われたり、或いは、所定のビーム角度での検査結果に着目した検査が行われたりする。
しかしながら、探傷波形の評価を行う際、所定のゲート期間、所定のビームや所定のエリア等の注目領域の発生状態を識別する方法として、従来のゲート手法のように数値表示や音を鳴らす方法では、一過性の告知形態となるため、注目領域の発生状態を確実に認識することが難しいといった問題がある。 However, when evaluating a flaw detection waveform, as a method for identifying the occurrence state of a region of interest such as a predetermined gate period, a predetermined beam, a predetermined area, etc. Since this is a temporary notification form, there is a problem that it is difficult to reliably recognize the occurrence state of the region of interest.
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、確実かつ容易に、探傷波形の評価を行う際に使用する注目領域の発生状態を認識することのできる超音波探傷装置を提供することを目的としている。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides an ultrasonic flaw detection apparatus capable of recognizing the occurrence state of a region of interest used when evaluating a flaw detection waveform reliably and easily. It is aimed.
本発明の超音波探傷装置は、
物体内部に対して超音波を送受する超音波プローブと、
前記超音波の駆動パルスを出力するパルス駆動手段と、
前記超音波プローブからの前記超音波のエコー信号を信号処理して前記物体内部情報を示す探傷データを生成する信号処理手段と、
前記探傷データの注目領域を指定する所定注目パラメータを記憶する所定注目パラメータ記憶手段と、
前記所定注目パラメータに基づき前記探傷データの前記注目領域を抽出し、抽出データとして前記探傷データ付加する抽出データ付加手段と、
前記抽出データが付加された前記探傷データを記憶するデータ記憶手段と、
前記データ記憶手段に記憶されている前記抽出データに基づき、前記データ記憶手段に記憶されている前記探傷データの前記注目領域を抽出し、抽出した前記注目領域を所定の色により彩色する注目領域彩色手段と
を備えて構成される。
The ultrasonic flaw detector of the present invention is
An ultrasonic probe that transmits and receives ultrasonic waves to the inside of the object;
Pulse driving means for outputting the ultrasonic driving pulse;
Signal processing means for processing the ultrasonic echo signal from the ultrasonic probe to generate flaw detection data indicating the object internal information;
Predetermined attention parameter storage means for storing a predetermined attention parameter for designating an attention area of the flaw detection data;
Extraction data adding means for extracting the attention area of the flaw detection data based on the predetermined attention parameter and adding the flaw detection data as extraction data;
Data storage means for storing the flaw detection data with the extracted data added thereto;
Based on the extracted data stored in the data storage means, extract the attention area of the flaw detection data stored in the data storage means, and color the extracted attention area with a predetermined color And means.
本発明によれば、確実かつ容易に、探傷波形の評価を行う際に使用する注目領域の発生状態を認識することができるという効果がある。 According to the present invention, there is an effect that it is possible to recognize the occurrence state of a region of interest used when evaluating a flaw detection waveform reliably and easily.
以下、図面を参照しながら本発明の実施例について述べる。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
図1ないし図6は本発明の実施例1に係わり、図1は超音波探傷装置の構成を示す構成図、図2は図1の画像メモリのメモリ構成を示す図、図3は図1の装置本体の作用を説明する第1の図、図4は図1の装置本体の作用を説明する第2の図、図5は図1の装置本体の作用の第1の変形例を説明する図、図6は図1の装置本体の作用の第2の変形例を説明する図である。 1 to 6 relate to the first embodiment of the present invention, FIG. 1 is a configuration diagram showing the configuration of the ultrasonic flaw detector, FIG. 2 is a diagram showing the memory configuration of the image memory in FIG. 1, and FIG. FIG. 4 is a second diagram illustrating the operation of the apparatus main body of FIG. 1, and FIG. 5 is a diagram illustrating a first modification of the operation of the apparatus main body of FIG. FIG. 6 is a diagram for explaining a second modification of the operation of the apparatus main body of FIG.
図1に示すように、本実施例の超音波探傷装置1は、被検物体2に超音波を送受波するプローブ3と、プローブ3に対して超音波駆動信号を出力すると共にプローブ3からの超音波エコー信号を信号処理しモニタ4にAスコープ表示する装置本体5とを備えて構成される。
As shown in FIG. 1, the ultrasonic
装置本体5は、プローブ3内の超音波探触子(図示せず)を駆動するパルサ6と、プローブ3の超音波エコー信号を受信するレシーバ7と、検波処理、ゲイン処理、フィルタ処理等の処理を行う信号処理回路8と、信号処理回路8からのエコーデータを所定時間遅延させる遅延回路9と、Aスコープ表示における所定のゲート部情報である所定注目パラメータとしての所定の閾値を予め記憶しているゲート部情報記憶回路13と、信号処理回路8からのエコーデータの時系列の各データ値とゲート部情報記憶回路13に記憶されている所定の閾値とを比較して比較結果としての制御ビットを遅延回路9が出力するエコーデータの時系列のデータ値の最下位ビットに付加し画像メモリ10に記憶させる制御ビット付加回路14と、画像メモリ10に記憶されたエコーデータを読み出しデータ部の画素を第1の所定の色(例えば白色)に彩色して出力するデータ部彩色回路11と、制御ビットが”1”の注目領域であるエコーデータの画素を第2の所定の色(例えば緑色)に彩色して出力する制御ビット彩色回路15と、データ部彩色回路11の出力及び制御ビット彩色回路15の出力を画像メモリ10に記憶されているエコーデータの時系列のデータ値の制御ビットに基づき選択的にモニタ4に出力するセレクタ12と、各部の制御パラメータを設定する制御回路16とを備えて構成される。制御回路16は、CPU等のソフトウエア処理手段で構成される。
The apparatus main body 5 includes a pulser 6 that drives an ultrasonic probe (not shown) in the
このように構成された本実施例の超音波探傷装置1では、プローブ3による被検物体2の探傷検査が開始されると、図2に示すように、画像メモリ10には、時系列のデータ値のエコーデータDiと制御ビットがアドレスAi毎に格納される。
In the
上述したように、制御ビット付加回路14は、信号処理回路8からのエコーデータの時系列の各データ値とゲート部情報記憶回路13に記憶されている所定の閾値とを比較して比較結果を制御ビットとしており、例えば信号処理回路8からのエコーデータが図3のように変化した場合、制御ビット付加回路14は閾値Vhとエコーデータの時系列の各データ値と比較し、データ値が閾値Vh以下ならば制御ビットを”0”とし、データ値が閾値Vhを超えたならば制御ビットを”1”としてエコーデータの時系列のデータ値と共に画像メモリ10に記憶させる。
As described above, the control
そして、セレクタ12は、この制御ビットに基づきデータ部彩色回路11の出力及び制御ビット彩色回路15の出力を選択的に出力する。すなわち、制御ビットが”0”ならばデータ部彩色回路11の出力を選択し、制御ビットが”1”ならば制御ビット彩色回路15の出力を選択してモニタ4に出力する。
The
このセレクタ12の選択的な出力によりモニタ4には、図4に示すように、閾値Vhを境界として波形が塗り分けられる。つまり、データ値が閾値Vh以下ならば例えば白色に彩色(エコーデータ彩色)され、データ値が閾値Vh超えたならば例えば緑色に彩色(ゲート部彩色)される。
As shown in FIG. 4, the waveform of the monitor 4 is colored by the selective output of the
このように本実施例では、ゲート部情報記憶回路13に所定の閾値を予め記憶させるだけで、注目領域(所定のゲート部情報)の発生状態をAスコープ表示の彩色により表示することができるので、確実に注目領域の発生状態を視認できる。
As described above, in this embodiment, the state of occurrence of the attention area (predetermined gate portion information) can be displayed in the color of the A scope display only by storing the predetermined threshold value in the gate portion
また、彩色処理を一旦画像メモリに保存したデータに対して行う方法も考えられる。例えば制御回路16を利用して解析処理をする、あるいは、画像メモリの後段に解析処理用の回路を設ける等の方法であるが、その場合、処理時間が掛かる、回路規模が大きくなる、あるいは、正確に位置を同定することが困難であるなどの問題がある。本実施例では信号処理回路8からのエコーデータに制御ビットを付加して画像メモリに格納するので、制御回路16による解析を必要とせずに、制御ビットに基づいて簡単に彩色処理を行うことが可能となる。また、時系列のデータ値に制御ビットを付加しているので、正確に位置を同定することが可能である。
Another possible method is to perform the coloring process on data once stored in the image memory. For example, the analysis process is performed using the
なお、本実施例では、所定注目パラメータをエコーデータの時系列のデータ値と比較する所定の閾値としたが、これに限らない。 In the present embodiment, the predetermined parameter of interest is set to a predetermined threshold value to be compared with the time-series data value of the echo data. However, the present invention is not limited to this.
すなわち、所定注目パラメータをエコーデータの時系列の所定期間値(すなわち、画像メモリ10のアドレスAj及びアドレスAj)としてもよい。この場合、セレクタ12の選択的な出力によりモニタ4には、図5に示すように、時刻T1と時刻T2間が所定注目パラメータが発生した状態となり、この時刻T1と時刻T2間の波形が緑色に彩色(ゲート部彩色)される。
That is, the predetermined attention parameter may be a time-series predetermined period value of the echo data (that is, the address Aj and the address Aj of the image memory 10). In this case, the selective output of the
また、所定注目パラメータをエコーデータのピーク点としてもよい。この場合、セレクタ12の選択的な出力によりモニタ4には、図6に示すように、ピーク点が所定注目パラメータが発生した状態となり、このピーク点の波形位置が緑色に彩色(ゲート部彩色)される。
The predetermined attention parameter may be a peak point of the echo data. In this case, the selective output of the
また、所定注目パラメータをゲート部情報記憶回路13に予め記憶するとしたが、これに限らず、検査毎に図示しない入力手段により所定注目パラメータをゲート部情報記憶回路13に書き込むことができるようにしてもよい。
Further, the predetermined attention parameter is stored in advance in the gate part
図7ないし図11は本発明の実施例2に係わり、図7は超音波探傷装置の構成を示す構成図、図8は図7の画像メモリのメモリ構成を示す図、図9は図7の装置本体の作用を説明する第1の図、図10は図7の装置本体の作用を説明する第2の図、図11は図7の装置本体の作用を説明する第3の図である。 7 to 11 relate to the second embodiment of the present invention, FIG. 7 is a configuration diagram showing the configuration of the ultrasonic flaw detector, FIG. 8 is a diagram showing the memory configuration of the image memory in FIG. 7, and FIG. FIG. 10 is a second diagram illustrating the operation of the apparatus main body of FIG. 7, and FIG. 11 is a third diagram illustrating the operation of the apparatus main body of FIG.
実施例2は、実施例1とほとんど同じであるので、異なる点のみ説明し、同一の構成には同じ符号をつけ説明は省略する。 Since the second embodiment is almost the same as the first embodiment, only different points will be described, and the same components are denoted by the same reference numerals and description thereof will be omitted.
本実施例の装置本体5は、プローブ3に対して超音波駆動信号を出力すると共にプローブ3からの超音波エコー信号を信号処理しモニタ4にSスコープ表示する。
The apparatus main body 5 of this embodiment outputs an ultrasonic drive signal to the
そこで、装置本体5は、図7に示すように、ゲート部情報記憶回路13の代わりに、Sスコープ表示のためのセクタ状の複数のエコービームのうち彩色するエコービームのビーム番号を所定注目パラメータとして予め記憶した彩色ビーム番号記憶回路21を設けている。
Therefore, as shown in FIG. 7, the apparatus body 5 determines the beam number of the echo beam to be colored among the plurality of sector-like echo beams for S scope display instead of the gate unit
なお、本実施例の制御ビット付加回路14は、信号処理回路8からのエコービームのビーム番号をカウントしカウントしたビーム番号と彩色ビーム番号記憶回路21が記憶しているビーム番号が一致した場合に、信号処理回路8からのエコービームのデータ値の最下位ビットに制御ビットを”1”として付加し、それ以外のエコービームのデータ値の最下位ビットに制御ビットを”0”として付加するようになっている。
The control
このように構成された本実施例の作用について説明する。本実施例の超音波探傷装置1では、プローブ3による被検物体2の探傷検査が開始されると、図8に示すように、画像メモリ10には、セクタ状の複数のエコービームのデータ値のエコーデータDijと制御ビットがアドレス(AVi、AHj)に2次元的に格納される。なお、図8では説明を簡略化するためにセクタ状のエコービームを3本として図示している。
The operation of this embodiment configured as described above will be described. In the
例えば、彩色ビーム番号記憶回路21に彩色するエコービームのビーム番号が”2”として格納されているとすると、図8において、ビーム番号が”2”のエコービームの制御ビットが”1”として画像メモリ10に記憶される。そして、セレクタ12の選択的な出力によりビーム番号が”2”のエコービームが注目領域となり、制御ビット彩色回路15により緑色に彩色(ゲート部彩色)される。
For example, assuming that the beam number of the echo beam to be colored is stored as “2” in the chromatic beam
一般的には、図9に示すように、彩色ビーム番号記憶回路21にビーム番号として、”i”〜”j”が格納されると、注目領域としてエコービームEBi〜エコービームEBjが彩色される。また、エコービームEBi〜エコービームEBj間に傷があれば、図10に示すように、傷部分を輝度を上げた彩色表示により強調させることが可能となる。なお、図11に示すように、エコービームEBi〜エコービームEBj間にある傷のみを注目領域として緑色に彩色(ゲート部彩色)してもよい。
In general, as shown in FIG. 9, when “i” to “j” are stored as beam numbers in the chromatic beam
このように本実施例においても、実施例1と同様に、彩色ビーム番号記憶回路21に彩色するエコービームのビーム番号を予め記憶させるだけで、注目領域(所定のゲート部情報)の発生状態をSスコープ表示の彩色により表示することができるので、確実に注目領域の発生状態を視認できる。
In this way, in this embodiment as well, as in the first embodiment, the state of occurrence of the region of interest (predetermined gate portion information) can be determined by simply storing the beam number of the echo beam to be colored in advance in the chromatic beam
本発明は、上述した実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨を変えない範囲において、種々の変更、改変等が可能である。 The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various changes and modifications can be made without departing from the scope of the present invention.
1…超音波探傷装置
2…被検物体
3…プローブ
4…モニタ
5…装置本体
6…パルサ
7…レシーバ
8…信号処理回路
9…遅延回路
10…画像メモリ
11…データ部彩色回路
12…セレクタ
13…ゲート部情報記憶回路
14…制御ビット付加回路
15…制御ビット彩色回路
16…制御回路
代理人 弁理士 伊藤 進
DESCRIPTION OF
Claims (5)
前記超音波の駆動パルスを出力するパルス駆動手段と、
前記超音波プローブからの前記超音波のエコー信号を信号処理して前記物体内部情報を示す探傷データを生成する信号処理手段と、
前記探傷データの注目領域を指定する所定注目パラメータを記憶する所定注目パラメータ記憶手段と、
前記所定注目パラメータに基づき前記探傷データの前記注目領域を抽出し、抽出データとして前記探傷データ付加する抽出データ付加手段と、
前記抽出データが付加された前記探傷データを記憶するデータ記憶手段と、
前記データ記憶手段に記憶されている前記抽出データに基づき、前記データ記憶手段に記憶されている前記探傷データの前記注目領域を抽出し、抽出した前記注目領域を所定の色により彩色する注目領域彩色手段と
を備えたことを特徴とする超音波探傷装置。 An ultrasonic probe that transmits and receives ultrasonic waves to the inside of the object;
Pulse driving means for outputting the ultrasonic driving pulse;
Signal processing means for processing the ultrasonic echo signal from the ultrasonic probe to generate flaw detection data indicating the object internal information;
Predetermined attention parameter storage means for storing a predetermined attention parameter for designating an attention area of the flaw detection data;
Extraction data adding means for extracting the attention area of the flaw detection data based on the predetermined attention parameter and adding the flaw detection data as extraction data;
Data storage means for storing the flaw detection data with the extracted data added thereto;
Based on the extracted data stored in the data storage means, extract the attention area of the flaw detection data stored in the data storage means, and color the extracted attention area with a predetermined color And an ultrasonic flaw detector.
前記所定注目パラメータはAスコープ表示探傷データのデータ値と比較する所定の閾値である
ことを特徴とする請求項1に記載の超音波探傷装置。 The flaw detection data is A scope display flaw detection data,
The ultrasonic flaw detector according to claim 1, wherein the predetermined attention parameter is a predetermined threshold value to be compared with a data value of A scope display flaw detection data.
前記所定注目パラメータはAスコープ表示探傷データの所定期間を指定する期間情報である
ことを特徴とする請求項1に記載の超音波探傷装置。 The flaw detection data is A scope display flaw detection data,
The ultrasonic flaw detection apparatus according to claim 1, wherein the predetermined attention parameter is period information that specifies a predetermined period of A scope display flaw detection data.
前記所定注目パラメータはAスコープ表示探傷データのピーク点を指定するピーク指定情報である
ことを特徴とする請求項1に記載の超音波探傷装置。 The flaw detection data is A scope display flaw detection data,
The ultrasonic flaw detector according to claim 1, wherein the predetermined parameter of interest is peak designation information that designates a peak point of A scope display flaw detection data.
前記所定注目パラメータはSコープ表示探傷データのエコービーム番号を指定するビーム番号情報である
ことを特徴とする請求項1に記載の超音波探傷装置。 The flaw detection data is S scope display flaw detection data,
The ultrasonic flaw detector according to claim 1, wherein the predetermined parameter of interest is beam number information for designating an echo beam number of S-scope display flaw detection data.
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Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010266378A (en) * | 2009-05-15 | 2010-11-25 | Choonpa Zairyo Shindan Kenkyusho:Kk | Ultrasonic diagnosis/evaluation system |
CN104764806A (en) * | 2015-03-20 | 2015-07-08 | 江苏大学 | Estimation method for defect quantification parameter |
RU180038U1 (en) * | 2018-03-14 | 2018-05-31 | Акционерное общество "Фирма ТВЕМА" | ULTRASONIC DEFECTOSCOPE |
RU2686409C1 (en) * | 2018-11-08 | 2019-04-25 | Акционерное общество "Фирма ТВЕМА" | Rail monitoring flaw detector |
RU206199U1 (en) * | 2021-04-23 | 2021-08-30 | Акционерное общество "Фирма ТВЕМА" | FLAW DETECTOR FOR RAIL CONTROL |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04208143A (en) * | 1990-10-12 | 1992-07-29 | Hitachi Medical Corp | Ultrasonic diagnostic apparatus |
JPH0580034A (en) * | 1991-09-19 | 1993-03-30 | Tokimec Inc | Ultrasonic flaw detector |
JPH0933494A (en) * | 1995-07-24 | 1997-02-07 | Hitachi Ltd | Ultrasonic flaw detector |
JPH116820A (en) * | 1997-06-13 | 1999-01-12 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | Method for ultrasonic probe imaging |
JPH11118776A (en) * | 1997-10-13 | 1999-04-30 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | Sector scanning ultrasonic inspecting apparatus |
JPH11183452A (en) * | 1997-12-25 | 1999-07-09 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | Waveform display method for ultrasonic flaw detector |
JPH11211706A (en) * | 1998-01-22 | 1999-08-06 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | Ultrasonic inspection apparatus of fan shape scanning type |
JP2000266734A (en) * | 1999-03-16 | 2000-09-29 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | Measured waveform display device and method thereof |
-
2004
- 2004-11-02 JP JP2004319745A patent/JP4646599B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04208143A (en) * | 1990-10-12 | 1992-07-29 | Hitachi Medical Corp | Ultrasonic diagnostic apparatus |
JPH0580034A (en) * | 1991-09-19 | 1993-03-30 | Tokimec Inc | Ultrasonic flaw detector |
JPH0933494A (en) * | 1995-07-24 | 1997-02-07 | Hitachi Ltd | Ultrasonic flaw detector |
JPH116820A (en) * | 1997-06-13 | 1999-01-12 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | Method for ultrasonic probe imaging |
JPH11118776A (en) * | 1997-10-13 | 1999-04-30 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | Sector scanning ultrasonic inspecting apparatus |
JPH11183452A (en) * | 1997-12-25 | 1999-07-09 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | Waveform display method for ultrasonic flaw detector |
JPH11211706A (en) * | 1998-01-22 | 1999-08-06 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | Ultrasonic inspection apparatus of fan shape scanning type |
JP2000266734A (en) * | 1999-03-16 | 2000-09-29 | Hitachi Constr Mach Co Ltd | Measured waveform display device and method thereof |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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