JP2006128228A - Forming method of conductive film, wiring board, electronic device, and electronic equipment - Google Patents

Forming method of conductive film, wiring board, electronic device, and electronic equipment Download PDF

Info

Publication number
JP2006128228A
JP2006128228A JP2004311589A JP2004311589A JP2006128228A JP 2006128228 A JP2006128228 A JP 2006128228A JP 2004311589 A JP2004311589 A JP 2004311589A JP 2004311589 A JP2004311589 A JP 2004311589A JP 2006128228 A JP2006128228 A JP 2006128228A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductive film
film
forming
substrate
metal film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004311589A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kuniyasu Matsui
邦容 松井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to JP2004311589A priority Critical patent/JP2006128228A/en
Priority to US11/245,731 priority patent/US20060086619A1/en
Priority to KR20050098982A priority patent/KR100745545B1/en
Priority to TW094136775A priority patent/TW200635461A/en
Priority to CNA200510116055XA priority patent/CN1767725A/en
Publication of JP2006128228A publication Critical patent/JP2006128228A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/22Secondary treatment of printed circuits
    • H05K3/24Reinforcing the conductive pattern
    • H05K3/245Reinforcing conductive patterns made by printing techniques or by other techniques for applying conductive pastes, inks or powders; Reinforcing other conductive patterns by such techniques
    • H05K3/246Reinforcing conductive paste, ink or powder patterns by other methods, e.g. by plating
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/1601Process or apparatus
    • C23C18/1603Process or apparatus coating on selected surface areas
    • C23C18/1605Process or apparatus coating on selected surface areas by masking
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/18Pretreatment of the material to be coated
    • C23C18/20Pretreatment of the material to be coated of organic surfaces, e.g. resins
    • C23C18/2006Pretreatment of the material to be coated of organic surfaces, e.g. resins by other methods than those of C23C18/22 - C23C18/30
    • C23C18/2026Pretreatment of the material to be coated of organic surfaces, e.g. resins by other methods than those of C23C18/22 - C23C18/30 by radiant energy
    • C23C18/2033Heat
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/18Pretreatment of the material to be coated
    • C23C18/20Pretreatment of the material to be coated of organic surfaces, e.g. resins
    • C23C18/2006Pretreatment of the material to be coated of organic surfaces, e.g. resins by other methods than those of C23C18/22 - C23C18/30
    • C23C18/2046Pretreatment of the material to be coated of organic surfaces, e.g. resins by other methods than those of C23C18/22 - C23C18/30 by chemical pretreatment
    • C23C18/2073Multistep pretreatment
    • C23C18/208Multistep pretreatment with use of metal first
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C18/00Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
    • C23C18/16Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
    • C23C18/18Pretreatment of the material to be coated
    • C23C18/20Pretreatment of the material to be coated of organic surfaces, e.g. resins
    • C23C18/28Sensitising or activating
    • C23C18/30Activating or accelerating or sensitising with palladium or other noble metal
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/03Conductive materials
    • H05K2201/0332Structure of the conductor
    • H05K2201/0335Layered conductors or foils
    • H05K2201/0347Overplating, e.g. for reinforcing conductors or bumps; Plating over filled vias
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/01Tools for processing; Objects used during processing
    • H05K2203/0104Tools for processing; Objects used during processing for patterning or coating
    • H05K2203/013Inkjet printing, e.g. for printing insulating material or resist
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/07Treatments involving liquids, e.g. plating, rinsing
    • H05K2203/0703Plating
    • H05K2203/0716Metallic plating catalysts, e.g. for direct electroplating of through holes; Sensitising or activating metallic plating catalysts
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/12Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns
    • H05K3/1241Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns by ink-jet printing or drawing by dispensing
    • H05K3/125Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using thick film techniques, e.g. printing techniques to apply the conductive material or similar techniques for applying conductive paste or ink patterns by ink-jet printing or drawing by dispensing by ink-jet printing
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/38Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal
    • H05K3/386Improvement of the adhesion between the insulating substrate and the metal by the use of an organic polymeric bonding layer, e.g. adhesive

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method of forming a conductive film which is excellent in conductivity and adhesion to a substrate, and capable of forming a thicker film, a wiring board comprising the conductive film formed by the method thereof, and a highly reliable electronic device and electronic equipment. <P>SOLUTION: In the method of forming a conductive film, the conductive film 3 of a specified pattern is formed on a substrate 2. A metal film 31 containing metal particles 31a is so formed on the substrate 2 by a droplet discharge method as to be the pattern similar to that of the conductive film 3. Then, by performing electroless plating by at least once, a plating film 32 is so formed as to cover the surface of the metal film 31, resulting in providing the conductive film 3. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、導電膜の形成方法、配線基板、電子デバイスおよび電子機器に関するものである。   The present invention relates to a method for forming a conductive film, a wiring board, an electronic device, and an electronic apparatus.

配線(導電膜)の形成方法として、例えば、無電解メッキ法による方法(例えば、特許文献1参照。)や、金属粒子を用いた方法(例えば、特許文献2参照。)等が知られている。
ところが、無電解メッキ法により、基板上に配線を形成した場合、配線と基板との密着性が低く、また、無電解メッキ法によるメッキ膜は、膜応力が高い。このため、配線を厚膜で形成した場合、容易に基板から剥離してしまうという問題がある。
As a method for forming a wiring (conductive film), for example, a method using an electroless plating method (for example, see Patent Document 1), a method using metal particles (for example, see Patent Document 2), and the like are known. .
However, when the wiring is formed on the substrate by the electroless plating method, the adhesion between the wiring and the substrate is low, and the plating film by the electroless plating method has high film stress. For this reason, when wiring is formed with a thick film, there exists a problem that it will peel easily from a board | substrate.

また、密着性が低いことから、信頼性に足る品質の配線が得られないという問題がある。
一方、金属粒子で配線を形成する場合、この金属粒子は、インク液滴として基板上に供給するため、インク液滴中の金属粒子の含有量や描画精度に限界がある。このため、金属粒子同士の間に間隙が形成され易く、比較的大面積のものを形成すると、クラックや断線が生じ易いという問題がある。
また、一般に、インク液滴中には、金属粒子を固定するためのバインダーが含まれるため、低抵抗な配線が得に難いという問題がある。
In addition, since the adhesiveness is low, there is a problem that a wiring having a quality sufficient for reliability cannot be obtained.
On the other hand, when the wiring is formed with metal particles, the metal particles are supplied onto the substrate as ink droplets, so there is a limit to the content of metal particles in the ink droplets and drawing accuracy. For this reason, there is a problem that gaps are easily formed between metal particles, and cracks and disconnections are liable to occur if a relatively large area is formed.
In general, the ink droplet contains a binder for fixing the metal particles, so that there is a problem that it is difficult to obtain a low-resistance wiring.

特開平7−131135号公報JP 7-131135 A 特開2003−315813号公報JP 2003-315813 A

本発明の目的は、導電性および基板との密着性に優れ、厚膜化が可能な導電膜の形成方法、かかる導電膜の形成方法により形成された導電膜を有する配線基板、信頼性の高い電子デバイスおよび電子機器を提供することにある。   An object of the present invention is to provide a method for forming a conductive film that is excellent in conductivity and adhesion to the substrate and can be made thick, a wiring substrate having a conductive film formed by the method for forming such a conductive film, and high reliability To provide an electronic device and an electronic apparatus.

このような目的は、下記の本発明により達成される。
本発明の導電膜の形成方法は、基板上に、所定パターンの導電膜を形成する導電膜の形成方法であって、
前記基板上に、前記導電膜のパターンとほぼ等しいパターンとなるように、液滴吐出法により金属粒子を含有する金属膜を形成し、
その後、無電解メッキを少なくとも1回行うことにより、前記金属膜の表面を覆うようにメッキ膜を形成して、前記導電膜を得ることを特徴とする。
これにより、導電性および基板との密着性に優れ、厚膜の導電膜が得られる。
Such an object is achieved by the present invention described below.
The conductive film forming method of the present invention is a conductive film forming method for forming a conductive film having a predetermined pattern on a substrate,
On the substrate, a metal film containing metal particles is formed by a droplet discharge method so as to be a pattern substantially equal to the pattern of the conductive film,
Thereafter, electroless plating is performed at least once to form a plating film so as to cover the surface of the metal film, thereby obtaining the conductive film.
Thereby, it is excellent in electroconductivity and adhesiveness with a board | substrate, and a thick film electrically conductive film is obtained.

本発明の導電膜の形成方法では、前記金属膜の平均厚さは、1〜10μmであることが好ましい。
これにより、例えば金属膜がバインダーを含有する場合でも、得られる導電膜の導電性の低下を防止しつつ、メッキ膜のコアとして十分に機能させることができる。
本発明の導電膜の形成方法では、前記金属粒子は、金、銀、銅、ニッケル、パラジウムまたはこれらを含む合金のうちの少なくとも1種を主材料として構成されていることが好ましい。
これにより、これらの金属粒子は、特に、導電性に優れるため、得られた導電膜全体としての導電性の向上を図ることができる。
In the method for forming a conductive film of the present invention, the average thickness of the metal film is preferably 1 to 10 μm.
Thereby, for example, even when the metal film contains a binder, it is possible to sufficiently function as a core of the plating film while preventing a decrease in conductivity of the obtained conductive film.
In the method for forming a conductive film of the present invention, it is preferable that the metal particles are composed mainly of at least one of gold, silver, copper, nickel, palladium, or an alloy containing these.
Thereby, since these metal particles are especially excellent in electroconductivity, the electroconductivity improvement as the whole obtained electrically conductive film can be aimed at.

本発明の導電膜の形成方法では、前記無電解メッキを行うのに先立って、前記金属膜の表面に触媒を選択的に付与することが好ましい。
これにより、メッキ膜をより効率よく形成することができる。
本発明の導電膜の形成方法では、前記無電解メッキは、複数回行われ、
2回目以降の各回の前記無電解メッキを行うのに先立って、前の回で形成された膜の表面に触媒を選択的に付与することが好ましい。
これにより、メッキ膜をより効率よく形成することができる。
本発明の導電膜の形成方法では、前記触媒は、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、スズまたはこれらを含む合金のうちの少なくとも1種を主材料として構成されていることが好ましい。
これらの触媒は、特に高い触媒作用を有することから好ましい。
In the method for forming a conductive film of the present invention, it is preferable to selectively apply a catalyst to the surface of the metal film prior to performing the electroless plating.
Thereby, a plating film can be formed more efficiently.
In the method for forming a conductive film of the present invention, the electroless plating is performed a plurality of times,
Prior to performing the electroless plating each time after the second time, it is preferable to selectively apply a catalyst to the surface of the film formed in the previous time.
Thereby, a plating film can be formed more efficiently.
In the method for forming a conductive film of the present invention, the catalyst is preferably composed mainly of at least one of palladium, platinum, rhodium, iridium, tin, or an alloy containing these.
These catalysts are preferable because they have particularly high catalytic action.

本発明の導電膜の形成方法では、前記無電解メッキは、複数回行われ、
各回の前記無電解メッキにおいて、同種の無電解メッキ液を用いることが好ましい。
これにより、密着性の良い導電膜が得られる。
本発明の導電膜の形成方法では、前記無電解メッキは、複数回行われ、
複数回の前記無電解メッキのうちの少なくとも1回において、他の回と異種の無電解メッキ液を用いることが好ましい。
これにより、より性能に優れた導電膜が得られる。
In the method for forming a conductive film of the present invention, the electroless plating is performed a plurality of times,
In each electroless plating, it is preferable to use the same type of electroless plating solution.
Thereby, a conductive film with good adhesion can be obtained.
In the method for forming a conductive film of the present invention, the electroless plating is performed a plurality of times,
It is preferable to use an electroless plating solution different from the other times in at least one of the plurality of times of the electroless plating.
Thereby, the electrically conductive film excellent in performance is obtained.

本発明の導電膜の形成方法では、前記メッキ膜は、ニッケル、銅、金、銀のうちの少なくとも1種を主材料として構成されていることが好ましい。
これにより、より性能に優れた導電膜が得られる。
本発明の導電膜の形成方法では、1回目の前記無電解メッキにより形成する膜の平均厚さは、100〜1000nmであることが好ましい。
これにより、応力の上昇を抑えつつ、金属膜が基板から剥離し易くなるのを防止でき、密着性の良い導電膜が得られる。
In the method for forming a conductive film of the present invention, it is preferable that the plating film is composed mainly of at least one of nickel, copper, gold, and silver.
Thereby, the electrically conductive film excellent in performance is obtained.
In the method for forming a conductive film of the present invention, the average thickness of the film formed by the first electroless plating is preferably 100 to 1000 nm.
Thereby, it is possible to prevent the metal film from being easily peeled from the substrate while suppressing an increase in stress, and a conductive film having good adhesion can be obtained.

本発明の導電膜の形成方法では、前記メッキ膜の平均厚さは、1〜10μmであることが好ましい。
これにより、十分な膜強度を有するとともに、高い導電性を有する導電膜が得られる。
本発明の導電膜の形成方法では、前記金属膜を形成するのに先立って、前記基板上に前記金属膜の下地層を形成することが好ましい。
下地層は、各種の目的で設けることができる。
In the method for forming a conductive film of the present invention, the average thickness of the plating film is preferably 1 to 10 μm.
As a result, a conductive film having sufficient film strength and high conductivity can be obtained.
In the method for forming a conductive film of the present invention, it is preferable to form a base layer of the metal film on the substrate prior to forming the metal film.
The underlayer can be provided for various purposes.

本発明の導電膜の形成方法では、前記下地層は、前記金属膜と前記基板との密着性を向上させる機能を有するものであることが好ましい。
これにより、導電膜の基板に対する密着性がより向上し、基板からの剥離をより確実に防止することができる。
本発明の導電膜の形成方法では、前記下地層は、絶縁性を有するものであることが好ましい。
これにより、導電膜を高い配線密度で形成した場合でも、導電膜同士の間において短絡が生じるのを防止することができる。また、基板として金属製のものを用いることができるようになり、基板の選択の幅が広がるという利点もある。
本発明の導電膜の形成方法では、前記基板は、非金属製のものであることが好ましい。
無電解メッキを用いながらも、非金属製の基板上に導電膜を密着性よく形成することができる。
In the method for forming a conductive film of the present invention, it is preferable that the base layer has a function of improving adhesion between the metal film and the substrate.
Thereby, the adhesiveness with respect to the board | substrate of an electrically conductive film improves more, and can peel more reliably from a board | substrate.
In the method for forming a conductive film of the present invention, the base layer preferably has an insulating property.
Thereby, even when the conductive film is formed with a high wiring density, it is possible to prevent a short circuit from occurring between the conductive films. Further, a metal substrate can be used, and there is an advantage that the range of substrate selection is widened.
In the method for forming a conductive film of the present invention, the substrate is preferably made of a nonmetal.
While using electroless plating, a conductive film can be formed on a nonmetallic substrate with good adhesion.

本発明の配線基板は、基板と、
該基板上に、本発明の導電膜の形成方法により形成された導電膜とを備えることを特徴とする。
これにより、信頼性の高い配線基板が得られる。
本発明の配線基板は、基板と、
該基板上に、所定のパターンで設けられ、金属粒子を含有する金属膜と、該金属膜の表面を覆うように設けられたメッキ膜とを備える導電膜とを有することを特徴とする。
これにより、信頼性の高い配線基板が得られる。
本発明の電子デバイスは、本発明の配線基板を備えることを特徴とする。
これにより、信頼性の高い電子デバイスが得られる。
本発明の電子機器は、本発明の電子デバイスを備えることを特徴とする。
これにより、信頼性の高い電子機器が得られる。
The wiring board of the present invention includes a substrate,
And a conductive film formed by the method for forming a conductive film of the present invention over the substrate.
Thereby, a highly reliable wiring board is obtained.
The wiring board of the present invention includes a substrate,
A conductive film including a metal film containing a metal particle provided in a predetermined pattern and a plating film provided to cover the surface of the metal film is provided over the substrate.
Thereby, a highly reliable wiring board is obtained.
An electronic device according to the present invention includes the wiring board according to the present invention.
Thereby, an electronic device with high reliability can be obtained.
An electronic apparatus according to the present invention includes the electronic device according to the present invention.
Thereby, a highly reliable electronic device can be obtained.

以下、本発明の導電膜の形成方法、配線基板、電子デバイスおよび電子機器の好適実施形態に基づいて詳細に説明する。
<導電膜の形成方法>
まず、本発明の導電膜の形成方法について説明する。
図1は、本発明の配線基板の一例を示す部分断面斜視図である。
本発明の導電膜の形成方法は、図1に示すように、所定のパターンで設けられ、金属粒子31aを含有する金属膜31と、この金属膜31の表面を覆うように設けられたメッキ膜32とを備える導電膜3を形成する方法である。
Hereinafter, the conductive film forming method, the wiring board, the electronic device, and the electronic apparatus according to preferred embodiments of the present invention will be described in detail.
<Method for Forming Conductive Film>
First, the formation method of the electrically conductive film of this invention is demonstrated.
FIG. 1 is a partial cross-sectional perspective view showing an example of the wiring board of the present invention.
As shown in FIG. 1, the conductive film forming method of the present invention is provided in a predetermined pattern, and a metal film 31 containing metal particles 31a and a plating film provided so as to cover the surface of the metal film 31. 32 is formed.

<<第1実施形態>>
まず、本発明の導電膜の形成方法の第1実施形態について説明する。
図2は、本発明の導電膜の形成方法の第1実施形態を示す図(縦断面図)である。なお、以下の説明では、図2中の上側を「上」、下側を「下」と言う。
図2に示す導電膜の形成方法は、金属膜形成工程[1A]と、メッキ膜形成工程[2A]とを有している。
<< First Embodiment >>
First, a first embodiment of the method for forming a conductive film of the present invention will be described.
FIG. 2 is a diagram (longitudinal sectional view) showing a first embodiment of the method for forming a conductive film of the present invention. In the following description, the upper side in FIG. 2 is referred to as “upper” and the lower side is referred to as “lower”.
The conductive film forming method shown in FIG. 2 includes a metal film forming step [1A] and a plating film forming step [2A].

以下、各工程について順次説明する。
まず、図2(a)に示すように、導電膜3を形成すべき基板2を準備する。
基板2としては、例えば、Siウエハ、石英ガラス基板、ガラス基板、プラスチックフィルムのような非金属製の基板、金属製の基板等の各種の基板を用いることができる。また、これらを基材とし、その表面に半導体膜、金属膜、誘電体膜、有機膜等が形成されたものを基板として用いてもよい。
これらの中でも、基板2としては、非金属製の基板が好適である。本発明の導電膜の形成方法によれば、後述するように無電解メッキを用いながらも、非金属製の基板2上に導電膜3を密着性よく形成することができる。
Hereinafter, each process will be described sequentially.
First, as shown in FIG. 2A, a substrate 2 on which a conductive film 3 is to be formed is prepared.
As the substrate 2, for example, various substrates such as a Si wafer, a quartz glass substrate, a glass substrate, a non-metallic substrate such as a plastic film, and a metallic substrate can be used. Alternatively, a substrate in which a semiconductor film, a metal film, a dielectric film, an organic film, or the like is formed on the surface thereof may be used as a substrate.
Among these, the substrate 2 is preferably a non-metallic substrate. According to the method for forming a conductive film of the present invention, the conductive film 3 can be formed on the nonmetallic substrate 2 with good adhesion while using electroless plating as described later.

[1A]金属膜形成工程
まず、基板2上に、例えばインクジェット法等の液滴吐出法により、図2(b)に示すように、金属粒子31aを含有する金属膜形成材料310を吐出して、図2(c)に示すような金属膜31を形成する。
このとき、金属膜31は、目的とする導電膜3のパターンとほぼ等しいパターンとなるように形成する。液滴吐出法を用いることにより、レジスト層(マスク)を用いることなく、金属膜31を容易かつ寸法精度よくパターニングすることができる。
この金属膜31は、後述するメッキ膜32を成長させるためのコア(芯部)として機能するとともに、基板2とメッキ膜32との接合するための接合層として機能する。
[1A] Metal Film Formation Step First, as shown in FIG. 2B, a metal film formation material 310 containing metal particles 31a is discharged onto the substrate 2 by a droplet discharge method such as an inkjet method. Then, a metal film 31 as shown in FIG. 2C is formed.
At this time, the metal film 31 is formed so as to have a pattern substantially equal to the pattern of the target conductive film 3. By using the droplet discharge method, the metal film 31 can be easily and accurately patterned without using a resist layer (mask).
The metal film 31 functions as a core (core part) for growing a plating film 32 described later, and also functions as a bonding layer for bonding the substrate 2 and the plating film 32.

金属粒子31aは、銀、金、銅、ニッケル、パラジウム、白金またはこれらを含む合金等で構成されたものを用いることができるが、特に、金、銀、銅、ニッケル、パラジウムまたはこれらを含む合金のうちの少なくとも1種を主材料として構成されたものを用いるのが好ましい。これらの金属粒子31aは、特に、導電性に優れるため、得られた導電膜3全体としての導電性の向上を図ることができる。
また、これらの金属粒子31aは、金属膜形成材料310中での分散性を向上させるために、例えば有機物等によりコーティングして用いるようにしてもよい。
The metal particles 31a may be made of silver, gold, copper, nickel, palladium, platinum or an alloy containing these, and in particular, gold, silver, copper, nickel, palladium or an alloy containing these. It is preferable to use a material composed of at least one of them as a main material. Since these metal particles 31a are particularly excellent in conductivity, the conductivity of the obtained conductive film 3 as a whole can be improved.
These metal particles 31a may be used after being coated with, for example, an organic substance in order to improve dispersibility in the metal film forming material 310.

金属粒子31aの平均粒径は、特に限定されないが、1〜100nm程度であるのが好ましく、1〜50nm程度であるのがより好ましい。金属粒子31aの粒径が小さ過ぎると、金属粒子31a同士が凝集し易くなり、金属膜形成材料310中での分散性が低下するおそれがある。一方、金属粒子31aの粒径が大き過ぎると、液滴吐出ヘッドのノズルに目詰まりが生じるおそれがある。   The average particle diameter of the metal particles 31a is not particularly limited, but is preferably about 1 to 100 nm, and more preferably about 1 to 50 nm. If the particle size of the metal particles 31a is too small, the metal particles 31a are likely to aggregate and the dispersibility in the metal film forming material 310 may be reduced. On the other hand, if the particle size of the metal particles 31a is too large, the nozzles of the droplet discharge head may be clogged.

金属膜形成材料310の調整に用いる(金属粒子31aを分散させる)分散媒としては、室温での蒸気圧が0.001〜200mmHg(約0.133〜26600Pa)程度であるのが好ましく、0.001〜50mmHg(約0.133〜6650Pa)程度であるのがより好ましい。分散媒の蒸気圧が低過ぎると、分散媒の蒸発が不十分となり、金属膜31中に分散媒が残留し易くなる傾向を示し好ましくない。一方、分散媒の蒸気圧が高過ぎると、金属膜形成材料310を基板2上に吐出後、分散媒が急激に蒸発してしまい、良好な金属膜31を形成することが困難となるおそれがある。また、金属膜形成材料310を液滴吐出法により液滴として吐出する際に乾燥によるノズル詰まりが起こり易くなり、安定な液滴吐出が困難となるおそれがある。   The dispersion medium used for adjusting the metal film forming material 310 (dispersing the metal particles 31a) preferably has a vapor pressure of about 0.001 to 200 mmHg (about 0.133 to 26600 Pa) at room temperature. More preferably, it is about 001-50 mmHg (about 0.133-6650 Pa). If the vapor pressure of the dispersion medium is too low, evaporation of the dispersion medium becomes insufficient, and the dispersion medium tends to remain in the metal film 31, which is not preferable. On the other hand, if the vapor pressure of the dispersion medium is too high, after the metal film forming material 310 is discharged onto the substrate 2, the dispersion medium rapidly evaporates and it may be difficult to form a good metal film 31. is there. Further, when the metal film forming material 310 is ejected as droplets by the droplet ejection method, nozzle clogging due to drying tends to occur, and stable droplet ejection may be difficult.

このような分散媒としては、特に限定されないが、水の他に、例えば、メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノールのようなアルコール類、n−ヘプタン、n−オクタン、デカン、テトラデカン、トルエン、キシレン、シメン、デュレン、インデン、ジペンテン、テトラヒドロナフタレン、デカヒドロナフタレン、シクロヘキシルベンゼンのような炭化水素類、エチレングリコールジメチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールメチルエチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールメチルエチルエーテル、1,2−ジメトキシエタン、ビス(2−メトキシエチル)エーテル、p−ジオキサンのようなエーテル類、プロピレンカーボネート、γ−ブチロラクトン、N−メチル−2−ピロリドン、ジメチルホルムアミド、ジメチルスルホキシド、シクロヘキサノン等が挙げられる。   Such a dispersion medium is not particularly limited, but in addition to water, for example, alcohols such as methanol, ethanol, propanol and butanol, n-heptane, n-octane, decane, tetradecane, toluene, xylene, and cymene. , Hydrocarbons such as durene, indene, dipentene, tetrahydronaphthalene, decahydronaphthalene, cyclohexylbenzene, ethylene glycol dimethyl ether, ethylene glycol diethyl ether, ethylene glycol methyl ethyl ether, diethylene glycol dimethyl ether, diethylene glycol diethyl ether, diethylene glycol methyl ethyl ether, 1,2-dimethoxyethane, bis (2-methoxyethyl) ether, ethers such as p-dioxane, propylene Carbonate, .gamma.-butyrolactone, N- methyl-2-pyrrolidone, dimethylformamide, dimethyl sulfoxide, and cyclohexanone.

これらの中でも、分散媒としては、水、アルコール類、炭化水素類、エーテル類が好ましく、水、炭化水素類がより好ましい。これらの分散媒は、金属粒子31aを均一に分散させ易く、調整された金属膜形成材料310の保存安定性が高く、また、液滴吐出法へ適用し易いという利点もある。
なお、前述したような分散媒は、単独または任意の2種以上を混合して用いることができる。
Among these, as the dispersion medium, water, alcohols, hydrocarbons, and ethers are preferable, and water and hydrocarbons are more preferable. These dispersion media have the advantage that the metal particles 31a are easily dispersed uniformly, the storage stability of the adjusted metal film forming material 310 is high, and the droplet ejection method is easy to apply.
In addition, the dispersion medium as described above can be used alone or in admixture of two or more kinds.

また、金属膜形成材料310中の金属粒子31aの含有量(分散質濃度)は、目的とする金属膜31の膜厚等に応じて適宜調整するようにすればよく、特に限定されないが、1〜80wt%程度であるのが好ましく。10〜60wt%程度であるのがより好ましい。 なお、金属粒子31aの含有量を前記上限値を超えて多くすると、金属粒子31a同士が凝集し易くなり、均一な膜厚の金属膜31が得難くなるおそれがある。   In addition, the content (dispersoid concentration) of the metal particles 31a in the metal film forming material 310 may be appropriately adjusted according to the film thickness of the target metal film 31 and the like, and is not particularly limited. It is preferably about ˜80 wt%. More preferably, it is about 10-60 wt%. If the content of the metal particles 31a is increased beyond the upper limit, the metal particles 31a are likely to aggregate together, and it may be difficult to obtain the metal film 31 having a uniform film thickness.

金属膜形成材料310の表面張力は、0.02〜0.07N/m程度であるのが好ましく、0.02〜0.05N/m程度であるのがより好ましい。液滴吐出法により金属膜形成材料310を吐出する際に、表面張力が低過ぎると、金属膜形成材料310のノズル面に対する濡れ性が増大して飛行曲りが生じ易くなるおそれがあり、一方、表面張力が高過ぎると、ノズル先端でのメニスカスの形状が安定しないため吐出量、吐出タイミングの制御が困難になるおそれがある。   The surface tension of the metal film forming material 310 is preferably about 0.02 to 0.07 N / m, and more preferably about 0.02 to 0.05 N / m. When discharging the metal film forming material 310 by the droplet discharge method, if the surface tension is too low, the wettability of the metal film forming material 310 with respect to the nozzle surface may increase and flight bending may easily occur. If the surface tension is too high, the shape of the meniscus at the nozzle tip is not stable, and it may be difficult to control the discharge amount and the discharge timing.

表面張力を調整するため、金属膜形成材料310には、基板2との接触角を必要以上に低下させない範囲で、フッ素系、シリコーン系、ノニオン系等の表面張力調節剤を微量添加するようにしてもよい。例えば、ノニオン系表面張力調節剤は、金属膜形成材料310の基板2に対する濡れ性を良好化し、形成される金属膜31のレベリング性を改良し、金属膜31に微細な凹凸が発生すること等を好適に防止する。
また、金属膜形成材料310は、必要に応じて、アルコール、エーテル、エステル、ケトン等の有機化合物を含んでいてもよい。
In order to adjust the surface tension, a small amount of a surface tension regulator such as fluorine, silicone or nonion is added to the metal film forming material 310 within a range where the contact angle with the substrate 2 is not lowered more than necessary. May be. For example, the nonionic surface tension adjusting agent improves the wettability of the metal film forming material 310 to the substrate 2, improves the leveling property of the formed metal film 31, and generates fine irregularities on the metal film 31. Is preferably prevented.
Further, the metal film forming material 310 may contain an organic compound such as alcohol, ether, ester, or ketone, if necessary.

このような金属膜形成材料310の粘度は、1〜50mPa・s程度であるのが好ましく、5〜30mPa・s程度であるのがより好ましい。液滴吐出法により金属膜形成材料310を吐出する際に、粘度が低過ぎると、ノズル周辺部が金属膜形成材料310の流出により汚染され易くなるおそれがあり、一方、粘度が高過ぎると、ノズル孔での目詰まり頻度が高くなり、円滑な金属膜形成材料310の吐出が困難となるおそれがある。   The viscosity of the metal film forming material 310 is preferably about 1 to 50 mPa · s, and more preferably about 5 to 30 mPa · s. When discharging the metal film forming material 310 by the droplet discharge method, if the viscosity is too low, the peripheral portion of the nozzle may be easily contaminated by the outflow of the metal film forming material 310, whereas if the viscosity is too high, There is a possibility that clogging frequency in the nozzle hole is increased, and it is difficult to smoothly discharge the metal film forming material 310.

基板2上に、所定のパターンとなるように供給された金属膜形成材料310には、必要に応じて、例えば加熱処理等を施すことにより、金属膜31としてもよい。これにより、金属膜31がバインダーを含有する場合は、金属膜31の表面付近からバインダーを除去して、金属粒子31aを露出させることができる。
形成する金属膜31の平均厚さは、特に限定されないが、1〜10μm程度であるのが好ましく、1〜5μm程度であるのがより好ましい。金属膜31の厚さが薄過ぎると、後述するメッキ膜32のコアとして十分に機能できなくなるおそれがあり、一方、金属膜31を前記上限値を超えて厚くすると、例えば金属膜31がバインダーを含有する場合、そのバインダーの種類や量等によっては、得られる導電膜3の導電性が極端に低下するおそれがある。
The metal film forming material 310 supplied in a predetermined pattern on the substrate 2 may be subjected to, for example, heat treatment or the like to form the metal film 31 as necessary. Thereby, when the metal film 31 contains a binder, the binder can be removed from the vicinity of the surface of the metal film 31 to expose the metal particles 31a.
Although the average thickness of the metal film 31 to be formed is not particularly limited, it is preferably about 1 to 10 μm, and more preferably about 1 to 5 μm. If the thickness of the metal film 31 is too thin, the metal film 31 may not function sufficiently as a core of the plating film 32 to be described later. On the other hand, if the metal film 31 is thicker than the upper limit value, for example, the metal film 31 may contain a binder. When contained, depending on the type and amount of the binder, the conductivity of the obtained conductive film 3 may be extremely reduced.

[2A]メッキ膜形成工程
次に、無電解メッキを少なくとも1回(本実施形態では、4回)行うことにより、金属膜31の表面を覆うようにメッキ膜32を形成する。これにより、導電膜3を得る。
まず、図2(d)に示すように、金属膜31の表面に触媒5を選択的に付与する。これにより、第1の膜321(メッキ膜32)をより効率よく形成することができる。
[2A] Plating Film Formation Step Next, the plating film 32 is formed so as to cover the surface of the metal film 31 by performing electroless plating at least once (in this embodiment, four times). Thereby, the conductive film 3 is obtained.
First, as shown in FIG. 2 (d), the catalyst 5 is selectively applied to the surface of the metal film 31. Thereby, the 1st film | membrane 321 (plating film | membrane 32) can be formed more efficiently.

これは、触媒5を含有する触媒付与液を、金属膜31の表面に供給する(接触させる)ことにより行われる。
金属膜31の表面に触媒付与液を供給する方法としては、例えば、ディップコート法、スピンコート法、スリットコート法、キャップコート法、ディスペンサー法、スプレーコート法、ロールコート法、インクジェット法(液滴吐出法)等の各種塗布法が挙げられ、これらのうちの1種または任意の2種以上を組み合わせて用いることができる。
This is performed by supplying (contacting) a catalyst-providing liquid containing the catalyst 5 to the surface of the metal film 31.
As a method for supplying the catalyst-providing liquid to the surface of the metal film 31, for example, a dip coating method, a spin coating method, a slit coating method, a cap coating method, a dispenser method, a spray coating method, a roll coating method, an ink jet method (droplet) Various application methods such as a discharge method) can be mentioned, and one of these or any two or more of them can be used in combination.

触媒としては、例えば、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、あるいは、スズ−パラジウム混合溶液またはこれらを含む合金等が挙げられるが、これらの中でも、パラジウム、白金、スズ−パラジウム混合溶液またはこれらを含む合金のうちの少なくとも1種を主材料とするものが好適である。これらの触媒5は、特に高い触媒作用を有することから好ましい。   Examples of the catalyst include palladium, platinum, rhodium, iridium, a tin-palladium mixed solution or an alloy containing these, and among these, palladium, platinum, a tin-palladium mixed solution, or an alloy containing these. Those having at least one of them as a main material are suitable. These catalysts 5 are preferable because they have particularly high catalytic action.

触媒付与液は、例えば、前記触媒の塩(ハロゲン化物等)を溶媒に溶解することにより調整することができる。
このような触媒付与液を金属膜31の表面に接触させると、金属粒子31aの表面に触媒5が金属単体として析出する。
このため、触媒付与液を金属膜31の表面に接触させるのに先立って、金属膜31の表面には活性化処理を施しておくのが好ましい。この活性化処理としては、例えば、金属粒子31aの表面のコーティング剤や酸化膜等を除去する処理(ライトエッチング)が挙げられる。これにより、金属粒子31aの表面に触媒をより確実に析出(付着)させることができる。
The catalyst-providing liquid can be adjusted, for example, by dissolving the catalyst salt (halide or the like) in a solvent.
When such a catalyst-providing liquid is brought into contact with the surface of the metal film 31, the catalyst 5 is deposited as a single metal on the surface of the metal particles 31a.
For this reason, it is preferable to perform an activation treatment on the surface of the metal film 31 prior to bringing the catalyst applying liquid into contact with the surface of the metal film 31. As this activation process, the process (light etching) which removes the coating agent, oxide film, etc. on the surface of the metal particle 31a is mentioned, for example. Thereby, a catalyst can be more reliably deposited (attached) on the surface of the metal particle 31a.

このライトエッチングによる金属粒子31aの表面の除去量は、例えば、エッチング液の濃度、エッチング時間等を設定することにより調製(制御)することができる。
また、金属膜31の表面に触媒を付与する際の条件、例えば、触媒付与液中の塩濃度、触媒付与液の温度、金属膜31の表面への触媒付与液の接触時間等も、それぞれ、特に限定されない。
なお、金属膜31中の金属粒子31aが触媒作用を有する場合には、金属膜31の表面への触媒付与は、省略することができる。
The removal amount of the surface of the metal particles 31a by this light etching can be prepared (controlled) by setting the concentration of the etching solution, the etching time, and the like.
In addition, the conditions for applying the catalyst to the surface of the metal film 31, for example, the salt concentration in the catalyst application liquid, the temperature of the catalyst application liquid, the contact time of the catalyst application liquid to the surface of the metal film 31, respectively, There is no particular limitation.
In addition, when the metal particle 31a in the metal film 31 has a catalytic action, the catalyst provision to the surface of the metal film 31 can be omitted.

次に、無電解メッキ液中に、金属膜31が形成された基板2を浸漬することにより、1回目の無電解メッキを行う。これにより、図2(e)に示すように、金属膜31の表面には、触媒5を核として第1の膜321が形成される。
ここで、第1の膜321の平均厚さは、特に限定されないが、100〜1000nm程度であるのが好ましく、150〜800nm程度であるのがより好ましい。第1の膜321が前記下限値未満であると、金属膜がアイランド状で十分に膜になっていない可能性があり、その結果、不均一な膜質となるおそれがあり、一方、第1の膜321の厚さを前記上限値を超えて厚くすると、金属膜31が基板2から剥離し易くなるおそれがある。
第1の膜321の膜厚は、例えば、無電解メッキ液中の金属塩の濃度、無電解メッキ液の温度、無電解メッキ液中への基板2の浸漬時間等を適宜設定することにより調製(制御)することができる。
Next, the first electroless plating is performed by immersing the substrate 2 on which the metal film 31 is formed in the electroless plating solution. As a result, as shown in FIG. 2E, a first film 321 is formed on the surface of the metal film 31 with the catalyst 5 as a nucleus.
Here, the average thickness of the first film 321 is not particularly limited, but is preferably about 100 to 1000 nm, and more preferably about 150 to 800 nm. If the first film 321 is less than the lower limit value, the metal film may be island-like and not sufficiently formed into a film, and as a result, the film quality may be uneven. If the thickness of the film 321 exceeds the upper limit, the metal film 31 may be easily peeled off from the substrate 2.
The film thickness of the first film 321 is prepared by appropriately setting, for example, the concentration of the metal salt in the electroless plating solution, the temperature of the electroless plating solution, the immersion time of the substrate 2 in the electroless plating solution, and the like. (Control).

次いで、前記と同様にして、第1の膜321の表面に触媒を付与した後、無電解メッキ液中に基板2を浸漬すること(2回目の無電解メッキを行うこと)により、図2(f)に示すように、第2の膜322を形成する。
このようにして、無電解メッキを繰り返して行って、図2(g)に示すように、順次、第3の膜323、第4の膜324を形成する。これにより、メッキ膜32が得られる。
このように、メッキ膜32を複数回の無電解メッキにより形成することにより、金属膜31との密着性を維持しつつ、膜厚の大きいものを確実に得ることができる。
Next, after applying a catalyst to the surface of the first film 321 in the same manner as described above, the substrate 2 is immersed in the electroless plating solution (performing the second electroless plating), so that FIG. As shown in f), a second film 322 is formed.
In this way, the electroless plating is repeatedly performed, and the third film 323 and the fourth film 324 are sequentially formed as shown in FIG. Thereby, the plating film 32 is obtained.
In this way, by forming the plating film 32 by a plurality of times of electroless plating, it is possible to reliably obtain a film having a large film thickness while maintaining the adhesion with the metal film 31.

この場合、各回の無電解メッキで形成する膜の厚さを、ほぼ等しくしてもよいが、異なるように、特に、後の回で形成する膜の厚さが大きくなるようにするのが好ましい。これにより、基板2に対してより密着性の高い導電膜3を得ることができる。
また、この場合、各回で用いる無電解メッキ液を同種のものを用いてもよく、少なくとも1回異種のものを用いるようにしてもよい。
In this case, the thickness of the film formed by each electroless plating may be substantially equal, but it is preferable to increase the thickness of the film formed in the subsequent round so as to be different. . Thereby, the conductive film 3 having higher adhesion to the substrate 2 can be obtained.
In this case, the same type of electroless plating solution used each time may be used, or a different type of electroless plating solution may be used at least once.

無電解メッキ液として同種のものを用いる場合には、例えば、金属膜そのものの相性を考慮する必要がなく、密着性が良好であるという利点がある。
一方、無電解メッキ液として、少なくとも1回異種のものを用いる場合には、次のような利点がある。
すなわち、I:例えば、最終回の無電解メッキ液に無電解金メッキ液を用いて、導電膜3の表面付近を金で構成することにより、導電膜3を保護することができるようになるとともに、他の配線との接続を容易に行い得るものとすることができる。
When the same type of electroless plating solution is used, there is an advantage that, for example, it is not necessary to consider the compatibility of the metal film itself, and the adhesion is good.
On the other hand, when a different type of electroless plating solution is used at least once, there are the following advantages.
That is, I: For example, by using an electroless gold plating solution as the last electroless plating solution and forming the vicinity of the surface of the conductive film 3 with gold, the conductive film 3 can be protected, Connection with other wiring can be easily performed.

また、II:例えば、メッキ膜32をニッケルと、金または銅との積層膜とすることにより、導電性を維持しつつ、比較的安価なニッケルを用いるため、コストの削減を実現できる。
また、III:例えば、膜応力が互いに反対方向の膜を積層することにより、メッキ膜32の膜応力を消失または緩和させることができ、メッキ膜32の金属膜31からの剥離をより確実に防止することができる。ここで、一般に、膜応力が圧縮方向に強く現れる膜としては、例えば、ニッケル−リン膜等が挙げられ、膜応力が引っ張り方向に強く現れる膜としては、ニッケル−ボロン膜や銅膜等が挙げられる。
なお、無電解メッキの回数は、4回に限定されず、1回、2回、3回または5回以上行うようにしてもよい。
II: For example, by using a laminated film of nickel and gold or copper as the plating film 32, relatively inexpensive nickel is used while maintaining conductivity, so that cost reduction can be realized.
III: For example, by laminating films whose film stresses are opposite to each other, the film stress of the plating film 32 can be eliminated or alleviated, and peeling of the plating film 32 from the metal film 31 can be more reliably prevented. can do. Here, in general, examples of the film in which the film stress appears strongly in the compression direction include a nickel-phosphorous film, and examples of the film in which the film stress appears strongly in the tensile direction include a nickel-boron film and a copper film. It is done.
The number of times of electroless plating is not limited to four times, and may be performed once, twice, three times, or five times or more.

メッキ膜32の平均厚さは、特に限定されないが、1〜10μm程度であるのが好ましく、1〜5μm程度であるのがより好ましい。これにより、十分な膜強度を有するとともに、高い導電性を有する導電膜3が得られる。
また、メッキ膜32の構成材料としては、前記のニッケル、銅、金の他、例えば、銀等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて(例えば積層等して)用いるのが好ましい。これらのものは、導電膜としての導電性が良好であるという点で優れている。
以上の工程を経て、本発明の配線基板1が得られる。
このような配線基板1は、導電膜3が高い導電性を有し、かつ、密着性高く基板2上に設けられ、容易に剥離することがないため、信頼性の高いものとなる。
The average thickness of the plating film 32 is not particularly limited, but is preferably about 1 to 10 μm, and more preferably about 1 to 5 μm. Thereby, the conductive film 3 having sufficient film strength and high conductivity can be obtained.
In addition to the nickel, copper, and gold, examples of the constituent material of the plating film 32 include silver, and one or more of these may be used in combination (for example, stacked). Is preferred. These are excellent in that the conductivity as a conductive film is good.
The wiring board 1 of the present invention is obtained through the above steps.
Such a wiring substrate 1 is highly reliable because the conductive film 3 has high conductivity, is provided on the substrate 2 with high adhesion, and does not easily peel off.

<<第2実施形態>>
次に、本発明の導電膜の形成方法の第2実施形態について説明する。
図3は、本発明の導電膜の形成方法の第2実施形態を示す図(縦断面図)である。なお、以下の説明では、図3中の上側を「上」、下側を「下」と言う。
以下、第2実施形態の導電膜の形成方法について、前記第1実施形態の導電膜の形成方法との相違点を中心に説明し、同様の事項については、その説明を省略する。
第2実施形態では、基板2上に、金属膜31を形成するのに先立って下地層4を形成し、それ以外は、前記第1実施形態と同様である。
図3に示す導電膜の形成方法は、下地層形成工程[1B]と、金属膜形成工程[2B]と、メッキ膜形成工程[3B]とを有している。
<< Second Embodiment >>
Next, a second embodiment of the method for forming a conductive film of the present invention will be described.
FIG. 3 is a view (longitudinal sectional view) showing a second embodiment of the method for forming a conductive film of the present invention. In the following description, the upper side in FIG. 3 is referred to as “upper” and the lower side is referred to as “lower”.
Hereinafter, the method for forming a conductive film according to the second embodiment will be described with a focus on differences from the method for forming a conductive film according to the first embodiment, and description of similar matters will be omitted.
In the second embodiment, the base layer 4 is formed on the substrate 2 prior to the formation of the metal film 31, and the rest is the same as in the first embodiment.
The conductive film forming method shown in FIG. 3 includes a base layer forming step [1B], a metal film forming step [2B], and a plating film forming step [3B].

[1B]下地層形成工程
まず、図3(a)に示すように、基板2上に、下地層4を形成する。
ここで、下地層4は、金属膜31と基板2との密着性を向上させる機能を有するものである。この下地層4を設けることにより、金属膜31と基板2との密着性が向上するため、基板2が可撓性を有するものである場合等でも、金属膜31(導電膜3)が基板2から剥離するのを確実に防止することができる。
[1B] Underlayer Formation Step First, as shown in FIG. 3A, the underlayer 4 is formed on the substrate 2.
Here, the base layer 4 has a function of improving the adhesion between the metal film 31 and the substrate 2. By providing the base layer 4, the adhesion between the metal film 31 and the substrate 2 is improved. Therefore, even when the substrate 2 is flexible, the metal film 31 (conductive film 3) is the substrate 2. It can be reliably prevented from peeling off.

また、この下地層4は、絶縁性を有するものであるのが好ましい。これにより、導電膜3を高い配線密度で形成した場合でも、導電膜3同士の間において短絡が生じるのを防止することができる。また、基板2として金属製のものを用いることができるようになり、基板2の選択の幅が広がるという利点もある。
このような下地層4の構成材料(絶縁材料)としては、例えば、ポリエチレン、ポリプロピレン、エチレン−プロピレン共重合体、エチレン−酢酸ビニル共重合体(EVA)等のポリオレフィン、環状ポリオレフィン、変性ポリオレフィン、ポリ塩化ビニル、ポリ塩化ビニリデン、ポリスチレン、ポリアミド、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリカーボネート、ポリ−(4−メチルペンテン−1)、アイオノマー、アクリル系樹脂、ポリメチルメタクリレート、アクリロニトリル−ブタジエン−スチレン共重合体(ABS樹脂)、アクリロニトリル−スチレン共重合体(AS樹脂)、ブタジエン−スチレン共重合体、ポリオキシメチレン、ポリビニルアルコール(PVA)、エチレン−ビニルアルコール共重合体(EVOH)、ポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリブチレンテレフタレート(PBT)、ポリシクロヘキサンテレフタレート(PCT)等のポリエステル、ポリエーテル、ポリエーテルケトン(PEK)、ポリエーテルエーテルケトン(PEEK)、ポリエーテルイミド、ポリアセタール(POM)、ポリフェニレンオキシド、変性ポリフェニレンオキシド、ポリサルフォン、ポリエーテルサルフォン、ポリフェニレンサルファイド、ポリアリレート、芳香族ポリエステル(液晶ポリマー)、ポリテトラフルオロエチレン、ポリフッ化ビニリデン、その他フッ素系樹脂、スチレン系、ポリオレフィン系、ポリ塩化ビニル系、ポリウレタン系、ポリエステル系、ポリアミド系、ポリブタジエン系、トランスポリイソプレン系、フッ素ゴム系、塩素化ポリエチレン系等の各種熱可塑性エラストマー、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ユリア樹脂、メラミン樹脂、不飽和ポリエステル、シリコーン樹脂、ポリウレタン等、またはこれらを主とする共重合体、ブレンド体、ポリマーアロイ等が挙げられ、これらのうちの1種または2種以上を組み合わせて(例えば2層以上の積層体として)用いることができる。
Moreover, it is preferable that this foundation layer 4 has insulation. Thereby, even when the conductive film 3 is formed with a high wiring density, it is possible to prevent a short circuit from occurring between the conductive films 3. Further, a metal substrate can be used as the substrate 2, and there is an advantage that the range of selection of the substrate 2 is widened.
Examples of the constituent material (insulating material) of the underlayer 4 include polyolefins such as polyethylene, polypropylene, ethylene-propylene copolymer, ethylene-vinyl acetate copolymer (EVA), cyclic polyolefin, modified polyolefin, poly Vinyl chloride, polyvinylidene chloride, polystyrene, polyamide, polyimide, polyamideimide, polycarbonate, poly- (4-methylpentene-1), ionomer, acrylic resin, polymethyl methacrylate, acrylonitrile-butadiene-styrene copolymer (ABS resin) ), Acrylonitrile-styrene copolymer (AS resin), butadiene-styrene copolymer, polyoxymethylene, polyvinyl alcohol (PVA), ethylene-vinyl alcohol copolymer (EVOH), polyethylene Polyester such as terephthalate (PET), polybutylene terephthalate (PBT), polycyclohexane terephthalate (PCT), polyether, polyetherketone (PEK), polyetheretherketone (PEEK), polyetherimide, polyacetal (POM), polyphenylene Oxide, modified polyphenylene oxide, polysulfone, polyethersulfone, polyphenylene sulfide, polyarylate, aromatic polyester (liquid crystal polymer), polytetrafluoroethylene, polyvinylidene fluoride, other fluororesins, styrene, polyolefin, polyvinyl chloride , Polyurethane, polyester, polyamide, polybutadiene, trans polyisoprene, fluororubber, chlorinated polyethylene Various thermoplastic elastomers such as epoxy resins, epoxy resins, urea resins, urea resins, melamine resins, unsaturated polyesters, silicone resins, polyurethanes, etc., or copolymers mainly containing these, blends, polymer alloys, etc. One or more of these can be used in combination (for example, as a laminate of two or more layers).

下地層4の平均厚さは、特に限定されないが、1〜25μm程度であるのが好ましく、5〜20μm程度であるのがより好ましい。下地層4の厚さが薄過ぎると、下地層4の構成材料等によっては、基板2と金属膜31との十分な密着性が得られなかったり、十分な絶縁性が発揮されなかったり等するおそれがある。一方、下地層4の厚さを前記上限値を超えて大きくしても、それ以上の効果の増大が期待できず、基板2が可撓性を有する場合、その可撓性が低下するおそれがある。
また、下地層4は、このような材料またはその前駆体を溶解または分散した下地層形成材料を、基板2上に供給した後、例えば、乾燥、加熱処理、紫外線照射等することにより形成することができる。
The average thickness of the underlayer 4 is not particularly limited, but is preferably about 1 to 25 μm, and more preferably about 5 to 20 μm. If the thickness of the underlayer 4 is too thin, sufficient adhesion between the substrate 2 and the metal film 31 may not be obtained or sufficient insulation may not be exhibited depending on the constituent material of the underlayer 4. There is a fear. On the other hand, even if the thickness of the underlayer 4 is increased beyond the upper limit, no further increase in effect can be expected, and if the substrate 2 has flexibility, the flexibility may decrease. is there.
Further, the underlayer 4 is formed by supplying an underlayer forming material in which such a material or a precursor thereof is dissolved or dispersed onto the substrate 2 and then, for example, drying, heat treatment, ultraviolet irradiation, or the like. Can do.

下地層形成材料を基板2上に供給する方法としては、触媒付与液を供給する方法として挙げたのと同様の各種塗布法を用いることができる。
なお、下地層4は、基板2と金属膜31との密着性の向上させる目的以外の他の目的や、この他の目的と密着性向上の目的との双方を目的として設けるようにしてもよい。
また、図示の構成では、下地層4は、基板2の全面に形成しているが、これに限定されず、例えば、導電膜3とほぼ等しいパターンで形成するようにしてもよい。
As a method for supplying the base layer forming material onto the substrate 2, various coating methods similar to those exemplified as the method for supplying the catalyst-imparting liquid can be used.
The underlayer 4 may be provided for the purpose other than the purpose of improving the adhesion between the substrate 2 and the metal film 31, and for the purpose of both the other purpose and the purpose of improving the adhesion. .
In the illustrated configuration, the underlayer 4 is formed on the entire surface of the substrate 2. However, the present invention is not limited to this. For example, the underlayer 4 may be formed in a pattern substantially equal to the conductive film 3.

[2B]金属膜形成工程
前記工程[1A]と同様にして行う。これにより、図3(b)に示すように、下地層4上に金属膜31を形成する。
[3B]メッキ膜形成工程
前記工程[2A]と同様にして行う。これにより、図3(c)に示すように、金属膜31の表面を覆うように、メッキ膜4を形成する。
以上の工程を経て、本発明の配線基板1が得られる。
第2実施形態では、下地層4を設けるため、導電膜3の基板2に対する密着性がより向上し、基板2からの剥離をより確実に防止することができる。
[2B] Metal Film Forming Step The same as step [1A]. As a result, a metal film 31 is formed on the base layer 4 as shown in FIG.
[3B] Plating film forming step This is performed in the same manner as in the above step [2A]. As a result, the plating film 4 is formed so as to cover the surface of the metal film 31 as shown in FIG.
The wiring board 1 of the present invention is obtained through the above steps.
In the second embodiment, since the base layer 4 is provided, the adhesion of the conductive film 3 to the substrate 2 is further improved, and peeling from the substrate 2 can be more reliably prevented.

<電子デバイス>
上述したような配線基板1は、各種の半導体装置や、液晶表示装置、有機EL表示装置、プラズマディスプレイ装置のような表示装置等の電子デバイスに適用することができる。
なお、以下では、本発明の電子デバイスを、プラズマディスプレイ装置に適用した場合を一例として説明する。
<Electronic device>
The wiring substrate 1 as described above can be applied to various semiconductor devices, electronic devices such as liquid crystal display devices, organic EL display devices, display devices such as plasma display devices, and the like.
Hereinafter, a case where the electronic device of the present invention is applied to a plasma display apparatus will be described as an example.

図4は、本発明の電子デバイスをプラズマディスプレイ装置に適用した場合の実施形態を示す分解斜視図である。
図4に示すプラズマディスプレイ装置500は、互いに対向して配置されたガラス基板501とガラス基板502と、これらの間に形成された放電表示部510とから概略構成されている。
FIG. 4 is an exploded perspective view showing an embodiment in which the electronic device of the present invention is applied to a plasma display apparatus.
A plasma display device 500 shown in FIG. 4 is generally configured by a glass substrate 501 and a glass substrate 502 that are arranged to face each other, and a discharge display portion 510 formed between them.

放電表示部510は、複数の放電室516が集合されてなり、複数の放電室516のうち、赤色放電室516(R)、緑色放電室516(G)、青色放電室516(B)の3つの放電室516が対になって1画素を構成するように配置されている。
ガラス基板501の上面には、所定の間隔でストライプ状にアドレス電極511が形成され、これらのアドレス電極511と基板501の上面とを覆うように誘電体層519が形成されている。
さらに、誘電体層519上において、アドレス電極511、511間に位置して各アドレス電極511に沿うように隔壁515が形成されている。
The discharge display unit 510 includes a plurality of discharge chambers 516, and among the plurality of discharge chambers 516, three of the red discharge chamber 516 (R), the green discharge chamber 516 (G), and the blue discharge chamber 516 (B). Two discharge chambers 516 are arranged in pairs to constitute one pixel.
Address electrodes 511 are formed in stripes at predetermined intervals on the upper surface of the glass substrate 501, and a dielectric layer 519 is formed so as to cover these address electrodes 511 and the upper surface of the substrate 501.
Further, a partition wall 515 is formed on the dielectric layer 519 so as to be positioned between the address electrodes 511 and 511 and along each address electrode 511.

なお、隔壁515においては、その長手方向の所定位置においてアドレス電極511と直交する方向にも所定の間隔で仕切られている(図示せず)。
これにより、基本的には、アドレス電極511の幅方向左右両側に隣接する隔壁と、アドレス電極511と直交する方向に延設された隔壁により仕切られる長方形状の領域が形成され、これらの長方形状の領域に対応するように放電室516が形成されている。そして、これらの長方形状の領域が3つ対になって1画素が構成されている。
The partition 515 is also partitioned at a predetermined interval in a direction perpendicular to the address electrode 511 at a predetermined position in the longitudinal direction (not shown).
As a result, basically, rectangular regions partitioned by partition walls adjacent to both the left and right sides of the address electrode 511 in the width direction and partition walls extending in a direction perpendicular to the address electrodes 511 are formed. A discharge chamber 516 is formed so as to correspond to this region. One pixel is formed by three pairs of these rectangular regions.

また、隔壁515で区画される長方形状の領域の内側には、蛍光体層517が設けられている。蛍光体層517は、赤、緑、青の何れかの蛍光を発光するものであり、赤色放電室516(R)の底部には、赤色蛍光体層517(R)が、緑色放電室516(G)の底部には緑色蛍光体層517(G)が、青色放電室516(B)の底部には青色蛍光体層517(B)が各々設けられている。   In addition, a phosphor layer 517 is provided inside a rectangular region partitioned by the partition 515. The phosphor layer 517 emits red, green, or blue fluorescence, and the red phosphor layer 517 (R) is disposed at the bottom of the red discharge chamber 516 (R). A green phosphor layer 517 (G) is provided at the bottom of G), and a blue phosphor layer 517 (B) is provided at the bottom of the blue discharge chamber 516 (B).

一方、ガラス基板502側には、先のアドレス電極511と直交する方向に複数の透明表示電極512がストライプ状に、所定の間隔で形成されている。この透明表示電極512は、例えば、ITO、FTO、ATO等の透明導電性材料で構成されている。
また、この透明表示電極512に接触して、金属製のバス電極512aが形成されている。バス電極512aは、透明表示電極512の抵抗値を低減させる機能を有するものである。
さらに、これらの透明表示電極512およびバス電極512aを覆うようにして、誘電体層513が形成され、さらにMgOなどからなる保護膜514が形成されている。
On the other hand, on the glass substrate 502 side, a plurality of transparent display electrodes 512 are formed in stripes at predetermined intervals in a direction orthogonal to the previous address electrodes 511. The transparent display electrode 512 is made of a transparent conductive material such as ITO, FTO, or ATO.
Further, a metal bus electrode 512 a is formed in contact with the transparent display electrode 512. The bus electrode 512a has a function of reducing the resistance value of the transparent display electrode 512.
Further, a dielectric layer 513 is formed so as to cover the transparent display electrode 512 and the bus electrode 512a, and a protective film 514 made of MgO or the like is further formed.

そして、ガラス基板501とガラス基板502とが、アドレス電極511と透明表示電極512とを互いに直交させるように対向させて相互に貼り合わされ、蛍光体層517と保護膜514とで囲まれる空間部分を排気して希ガスを封入することにより、放電室516が形成されている。
なお、ガラス基板502側に形成される透明表示電極512は、各放電室516に対して2本ずつ配置されるように形成されている。
The glass substrate 501 and the glass substrate 502 are bonded to each other so that the address electrodes 511 and the transparent display electrodes 512 are opposed to each other so as to be orthogonal to each other, and a space portion surrounded by the phosphor layer 517 and the protective film 514 is formed. A discharge chamber 516 is formed by exhausting and sealing a rare gas.
Note that two transparent display electrodes 512 formed on the glass substrate 502 side are formed so as to be arranged two by two for each discharge chamber 516.

アドレス電極511と透明表示電極512とは、図示しない交流電源に接続され、各電極に通電することにより、所望の位置の放電表示部510において、蛍光体層517を励起発光させて、カラー表示ができるようになっている。
このようなプラズマディスプレイ装置500において、例えば、アドレス電極511が形成されたガラス基板501が、本発明の配線基板で構成されている。
The address electrode 511 and the transparent display electrode 512 are connected to an AC power source (not shown), and when each electrode is energized, the phosphor layer 517 is excited to emit light in the discharge display unit 510 at a desired position, and color display is performed. It can be done.
In such a plasma display device 500, for example, the glass substrate 501 on which the address electrode 511 is formed is constituted by the wiring substrate of the present invention.

<電子機器>
本発明の電子デバイスは、各種電子機器に適用することができる。
<<パーソナルコンピュータ>>
図5は、本発明の電子機器を適用したモバイル型(またはノート型)のパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。
<Electronic equipment>
The electronic device of the present invention can be applied to various electronic devices.
<< personal computer >>
FIG. 5 is a perspective view showing a configuration of a mobile (or notebook) personal computer to which the electronic apparatus of the present invention is applied.

この図において、パーソナルコンピュータ1100は、キーボード1102を備えた本体部1104と、表示ユニット1106とにより構成され、表示ユニット1106は、本体部1104に対しヒンジ構造部を介して回動可能に支持されている。
このパーソナルコンピュータ1100においては、表示ユニット1106が前述の表示装置(電子デバイス)を備えている。
In this figure, a personal computer 1100 includes a main body 1104 having a keyboard 1102 and a display unit 1106. The display unit 1106 is supported by the main body 1104 via a hinge structure so as to be rotatable. Yes.
In the personal computer 1100, the display unit 1106 includes the display device (electronic device) described above.

図6は、本発明の電子機器を適用した携帯電話機(PHSも含む)の構成を示す斜視図である。
この図において、携帯電話機1200は、複数の操作ボタン1202、受話口1204および送話口1206とともに、前述の表示装置(電子デバイス)を表示部に備えている。
FIG. 6 is a perspective view showing a configuration of a mobile phone (including PHS) to which the electronic apparatus of the present invention is applied.
In this figure, a cellular phone 1200 includes a plurality of operation buttons 1202, an earpiece 1204, and a mouthpiece 1206, and the above-described display device (electronic device) in a display unit.

図7は、本発明の電子機器を適用したディジタルスチルカメラの構成を示す斜視図である。なお、この図には、外部機器との接続についても簡易的に示されている。
ここで、通常のカメラは、被写体の光像により銀塩写真フィルムを感光するのに対し、ディジタルスチルカメラ1300は、被写体の光像をCCD(Charge Coupled Device)などの撮像素子により光電変換して撮像信号(画像信号)を生成する。
FIG. 7 is a perspective view showing the configuration of a digital still camera to which the electronic apparatus of the present invention is applied. In this figure, connection with an external device is also simply shown.
Here, an ordinary camera sensitizes a silver halide photographic film with a light image of a subject, whereas a digital still camera 1300 photoelectrically converts a light image of a subject with an imaging device such as a CCD (Charge Coupled Device). An imaging signal (image signal) is generated.

ディジタルスチルカメラ1300におけるケース(ボディー)1302の背面には、前述の表示装置(電子デバイス)が表示部に設けられ、CCDによる撮像信号に基づいて表示を行う構成になっており、被写体を電子画像として表示するファインダとして機能する。
ケースの内部には、回路基板1308が設置されている。この回路基板1308は、撮像信号を格納(記憶)し得るメモリが設置されている。
また、ケース1302の正面側(図示の構成では裏面側)には、光学レンズ(撮像光学系)やCCDなどを含む受光ユニット1304が設けられている。
On the back of the case (body) 1302 of the digital still camera 1300, the above-described display device (electronic device) is provided in the display unit, and is configured to perform display based on an imaging signal from the CCD. Functions as a finder to display as
A circuit board 1308 is installed inside the case. The circuit board 1308 is provided with a memory that can store (store) an imaging signal.
A light receiving unit 1304 including an optical lens (imaging optical system), a CCD, and the like is provided on the front side of the case 1302 (on the back side in the illustrated configuration).

撮影者が表示部に表示された被写体像を確認し、シャッタボタン1306を押下すると、その時点におけるCCDの撮像信号が、回路基板1308のメモリに転送・格納される。
また、このディジタルスチルカメラ1300においては、ケース1302の側面に、ビデオ信号出力端子1312と、データ通信用の入出力端子1314とが設けられている。そして、図示のように、ビデオ信号出力端子1312にはテレビモニタ1430が、デ−タ通信用の入出力端子1314にはパーソナルコンピュータ1440が、それぞれ必要に応じて接続される。さらに、所定の操作により、回路基板1308のメモリに格納された撮像信号が、テレビモニタ1430や、パーソナルコンピュータ1440に出力される構成になっている。
When the photographer confirms the subject image displayed on the display unit and presses the shutter button 1306, the CCD image pickup signal at that time is transferred and stored in the memory of the circuit board 1308.
In the digital still camera 1300, a video signal output terminal 1312 and an input / output terminal 1314 for data communication are provided on the side surface of the case 1302. As shown in the figure, a television monitor 1430 is connected to the video signal output terminal 1312 and a personal computer 1440 is connected to the data communication input / output terminal 1314 as necessary. Further, the imaging signal stored in the memory of the circuit board 1308 is output to the television monitor 1430 or the personal computer 1440 by a predetermined operation.

なお、本発明の電子機器は、図5のパーソナルコンピュータ(モバイル型パーソナルコンピュータ)、図6の携帯電話機、図7のディジタルスチルカメラの他にも、例えば、テレビや、ビデオカメラ、ビューファインダ型、モニタ直視型のビデオテープレコーダ、ラップトップ型パーソナルコンピュータ、カーナビゲーション装置、ページャ、電子手帳(通信機能付も含む)、電子辞書、電卓、電子ゲーム機器、ワードプロセッサ、ワークステーション、テレビ電話、防犯用テレビモニタ、電子双眼鏡、POS端末、タッチパネルを備えた機器(例えば金融機関のキャッシュディスペンサー、自動券売機)、医療機器(例えば電子体温計、血圧計、血糖計、心電表示装置、超音波診断装置、内視鏡用表示装置)、魚群探知機、各種測定機器、計器類(例えば、車両、航空機、船舶の計器類)、フライトシュミレータ、その他各種モニタ類、プロジェクター等の投射型表示装置等に適用することができる。   In addition to the personal computer (mobile personal computer) of FIG. 5, the mobile phone of FIG. 6, and the digital still camera of FIG. 7, the electronic apparatus of the present invention includes, for example, a television, a video camera, a viewfinder type, Monitor direct-view video tape recorder, laptop personal computer, car navigation system, pager, electronic notebook (including communication function), electronic dictionary, calculator, electronic game device, word processor, workstation, video phone, security TV Monitors, electronic binoculars, POS terminals, devices equipped with touch panels (for example, cash dispensers and automatic ticket vending machines for financial institutions), medical devices (for example, electronic thermometers, blood pressure monitors, blood glucose meters, electrocardiographs, ultrasound diagnostic devices, internal Endoscope display device), fish finder, various measuring instruments, Vessels such (e.g., gages for vehicles, aircraft, and ships), a flight simulator, various monitors, and a projection display such as a projector.

以上、導電膜の形成方法、配線基板、電子デバイスおよび電子機器を図示の実施形態に基づいて説明したが、本発明は、これらに限定されるものではない。
例えば、本発明の導電膜の形成方法では、任意の目的の工程が1または2以上追加されてもよい。
また、本発明の電子デバイスおよび電子機器では、各部の構成は、同様の機能を発揮する任意の構成のものに置換することができ、また、任意の構成を付加することもできる。
As described above, the method for forming a conductive film, the wiring board, the electronic device, and the electronic apparatus have been described based on the illustrated embodiments, but the present invention is not limited thereto.
For example, in the method for forming a conductive film of the present invention, one or two or more optional steps may be added.
In the electronic device and the electronic apparatus of the present invention, the configuration of each part can be replaced with any configuration that exhibits the same function, and any configuration can be added.

次に、本発明の具体的実施例について説明する。
1.配線基板の製造
(実施例1)
まず、金属膜形成材料として、平均粒径:約5nmの銀粒子が有機溶剤に分散した液体(真空冶金社製、「パーフェクトシルバー」)の分散媒を、テトラデカンに置換して調整した。
Next, specific examples of the present invention will be described.
1. Production of wiring board (Example 1)
First, as a metal film-forming material, a dispersion medium of a liquid (“Perfect Silver”, manufactured by Vacuum Metallurgical Co., Ltd.) in which silver particles having an average particle diameter of about 5 nm are dispersed in an organic solvent was replaced with tetradecane and adjusted.

なお、金属膜形成材料中の銀粒子の含有量を60wt%、金属膜形成材料の粘度を8mPa・s、表面張力を0.05N/mとした。
この金属膜形成材料を、セイコーエプソン製のインクジェットプリンターヘッド(市販プリンター商品名PM950Cと同等ヘッドを耐有機溶剤使用に改造したもの)を用いて、ガラス基板上に図1に示すようなパターンで吐出した。
The content of silver particles in the metal film forming material was 60 wt%, the viscosity of the metal film forming material was 8 mPa · s, and the surface tension was 0.05 N / m.
This metal film forming material is ejected in a pattern as shown in FIG. 1 on a glass substrate using a Seiko Epson ink jet printer head (a commercially available printer product name PM950C is remodeled to use an organic solvent-resistant head). did.

次に、所定パターンでガラス基板上に吐出された金属膜形成材料を、大気中、室温(25℃)×2時間で乾燥させた後、窒素雰囲気中、400℃×1時間で焼成した。
得られた金属膜は、細線部(平均厚さ:3μm、平均幅:20μm)と、パッド部(平均厚さ:3μm、平面積:0.15mm)であった。
次に、金属膜に対して、ライトエチングを施した。
Next, the metal film forming material discharged on the glass substrate in a predetermined pattern was dried in the atmosphere at room temperature (25 ° C.) × 2 hours, and then fired in a nitrogen atmosphere at 400 ° C. × 1 hour.
The obtained metal film was a thin line part (average thickness: 3 μm, average width: 20 μm) and a pad part (average thickness: 3 μm, flat area: 0.15 mm 2 ).
Next, light etching was performed on the metal film.

次に、パラジウム塩を含有する触媒付与液(メルテックス社製、「アクチベーター」)中に、金属膜が形成されたガラス基板を1分間浸漬させた。
これにより、金属膜の表面にパラジウム(触媒)を付与した。
次に、このガラス基板を触媒付与液中から取り出し、水洗した後、ニッケルメッキ液(メルテックス社製、「無電解ニッケルメッキ液」)中に2分間浸漬させた。
これにより、金属膜にニッケルメッキを施し、金属膜の表面を覆うように、平均厚さ:約160nmのニッケル膜を形成した。
Next, the glass substrate on which the metal film was formed was immersed for 1 minute in a catalyst imparting solution containing a palladium salt (“Activator” manufactured by Meltex Co., Ltd.).
Thereby, palladium (catalyst) was provided to the surface of the metal film.
Next, this glass substrate was taken out from the catalyst application solution, washed with water, and then immersed in a nickel plating solution (Meltex, “electroless nickel plating solution”) for 2 minutes.
Thereby, nickel plating was performed on the metal film, and a nickel film having an average thickness of about 160 nm was formed so as to cover the surface of the metal film.

次に、ガラス基板を水洗した後、前記と同様の触媒付与液に2分間させ、さらに水洗の後、前記と同様のニッケルメッキ液に3分間浸漬させた。
次に、かかる操作を、ニッケルメッキ液への浸漬時間を、3分、5分、5分に変更して繰り返し行った。
最後に、置換金メッキを行った。これにより、メッキ膜を形成して、導電膜を得た。
なお、得られた導電膜は、平均厚さ:8μm(メッキ膜の平均厚さ:5μm)であり、細線部およびパッド部の表面は、いずれも緻密であることが確認された。
以上の工程を経て、配線基板を得た。
Next, after the glass substrate was washed with water, it was immersed in the same catalyst-imparting solution as described above for 2 minutes, and further washed with water and then immersed in the same nickel plating solution as described above for 3 minutes.
Next, this operation was repeated by changing the immersion time in the nickel plating solution to 3, 5, and 5 minutes.
Finally, substitution gold plating was performed. Thereby, a plating film was formed to obtain a conductive film.
The obtained conductive film had an average thickness of 8 μm (the average thickness of the plating film: 5 μm), and it was confirmed that the surfaces of the fine line portion and the pad portion were both dense.
Through the above steps, a wiring board was obtained.

(実施例2)
基板としてポリイミドフィルムを用い、ガラス基板に固定した状態で、ポリイミドフィルム上に前記実施例1と同様にして導電膜を形成した。
なお、無電解メッキのプロセスは、前記実施例1と同様であるが、ニッケルメッキの回数を3回とした。
また、ニッケルメッキ液への浸漬時間を、1分、3分、7分とした。
なお、得られた導電膜は、平均厚さ:6μm(メッキ膜の平均厚さ:3μm)であり、細線部およびパッド部の表面は、いずれも緻密であることが確認された。
(Example 2)
A polyimide film was used as a substrate, and a conductive film was formed on the polyimide film in the same manner as in Example 1 while being fixed to a glass substrate.
The electroless plating process is the same as in Example 1, but the number of nickel platings was three.
The immersion time in the nickel plating solution was set to 1 minute, 3 minutes, and 7 minutes.
The obtained conductive film had an average thickness of 6 μm (average thickness of the plating film: 3 μm), and it was confirmed that the surfaces of the fine wire portion and the pad portion were both dense.

(実施例3)
以下に示すように形成した下地層を設けた以外は、前記実施例1と同様にして、配線基板を製造した。
ガラス基板上に、スピンコート法によりエポキシ樹脂前駆体を供給した後、280℃×1時間焼成した。これにより、平均厚さ:5μmの下地層を形成した。
(実施例4)
前記実施例3と同様にして、下地層を設けた以外は、前記実施例2と同様にして、配線基板を製造した。
(Example 3)
A wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1 except that a base layer formed as shown below was provided.
An epoxy resin precursor was supplied onto a glass substrate by spin coating, and then baked at 280 ° C. for 1 hour. As a result, an underlayer having an average thickness of 5 μm was formed.
Example 4
A wiring board was manufactured in the same manner as in Example 2 except that a base layer was provided in the same manner as in Example 3.

(比較例1)
金属膜を省略した以外は、前記実施例1と同様にして、配線基板を製造した。
(比較例2)
金属膜を省略した以外は、前記実施例2と同様にして、配線基板を製造した。
(比較例3)
金属膜を省略した以外は、前記実施例3と同様にして、配線基板を製造した。
(比較例4)
金属膜を省略した以外は、前記実施例4と同様にして、配線基板を製造した。
(Comparative Example 1)
A wiring board was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the metal film was omitted.
(Comparative Example 2)
A wiring board was manufactured in the same manner as in Example 2 except that the metal film was omitted.
(Comparative Example 3)
A wiring board was manufactured in the same manner as in Example 3 except that the metal film was omitted.
(Comparative Example 4)
A wiring board was manufactured in the same manner as in Example 4 except that the metal film was omitted.

2.評価
各実施例および各比較例で製造された配線基板について、それぞれ、テープピール試験を行った。
なお、このテープピール試験は、JIS H 8504(めっきの密着性試験方法)に示される試験方法のうち、(8)引き剥がし試験方法の(a)テープ試験方法に準じて行った。
2. Evaluation Each of the wiring boards manufactured in each Example and each Comparative Example was subjected to a tape peel test.
In addition, this tape peel test was performed according to (a) tape test method of (8) peeling test method among the test methods shown in JIS H 8504 (plating adhesion test method).

各実施例で製造された配線基板は、いずれも、導電膜の基板からの剥離が観察されず、問題のないことが確認された。
これに対し、各比較例で製造された配線基板は、いずれも、導電膜の基板からの剥離が目視により明らかであった。
また、各実施例で製造された配線基板は、いずれも、導電膜の電気的特性についても問題がないことが確認された。
As for the wiring board manufactured by each Example, peeling from the board | substrate of an electrically conductive film was not observed, and it was confirmed that there is no problem.
On the other hand, in any of the wiring boards manufactured in each comparative example, peeling of the conductive film from the substrate was clearly visible.
In addition, it was confirmed that none of the wiring boards manufactured in each example had a problem with respect to the electrical characteristics of the conductive film.

本発明の配線基板の一例を示す部分断面斜視図である。It is a fragmentary sectional perspective view which shows an example of the wiring board of this invention. 本発明の導電膜の形成方法の第1実施形態を示す図(縦断面図)である。It is a figure (longitudinal section) showing a 1st embodiment of a formation method of a conductive film of the present invention. 本発明の導電膜の形成方法の第2実施形態を示す図(縦断面図)である。It is a figure (longitudinal sectional view) showing a second embodiment of a method for forming a conductive film of the present invention. 本発明の電子デバイスをプラズマディスプレイ装置に適用した場合の実施形態を示す分解斜視図である。It is a disassembled perspective view which shows embodiment at the time of applying the electronic device of this invention to a plasma display apparatus. 本発明の電子機器を適用したモバイル型(またはノート型)のパーソナルコンピュータの構成を示す斜視図である。1 is a perspective view showing a configuration of a mobile (or notebook) personal computer to which an electronic apparatus of the present invention is applied. 本発明の電子機器を適用した携帯電話機(PHSも含む)の構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the mobile telephone (PHS is also included) to which the electronic device of this invention is applied. 本発明の電子機器を適用したディジタルスチルカメラの構成を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structure of the digital still camera to which the electronic device of this invention is applied.

符号の説明Explanation of symbols

1・・・配線基板 2・・・基板 3・・・導電膜 31・・・金属膜 31a・・・金属粒子 310・・・金属膜形成材料 32・・・メッキ膜 321・・・第1の膜 322・・・第2の膜 323・・・第3の膜 324・・・第4の膜 4・・・下地層 5・・・触媒 500・・・プラズマディスプレイ装置 501、502・・・ガラス基板 510・・・放電表示部 511・・・アドレス電極 512・・・透明表示電極 512a・・・バス電極 513・・・誘電体層 514・・・保護膜 515・・・隔壁 516・・・放電室 517・・・蛍光体層 519・・・誘電体層 1100・・・パーソナルコンピュータ 1102・・・キーボード 1104・・・本体部 1106・・・表示ユニット 1200・・・携帯電話機 1202・・・操作ボタン 1204・・・受話口 1206・・・送話口 1300・・・ディジタルスチルカメラ 1302・・・ケース(ボディー) 1304・・・受光ユニット 1306・・・シャッタボタン 1308・・・回路基板 1312・・・ビデオ信号出力端子 1314・・・データ通信用の入出力端子 1430・・・テレビモニタ 1440・・・パーソナルコンピュータ   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Wiring board 2 ... Board | substrate 3 ... Conductive film 31 ... Metal film 31a ... Metal particle 310 ... Metal film formation material 32 ... Plating film 321 ... 1st Film 322 ... Second film 323 ... Third film 324 ... Fourth film 4 ... Underlayer 5 ... Catalyst 500 ... Plasma display device 501, 502 ... Glass Substrate 510... Discharge display unit 511. Address electrode 512. Transparent display electrode 512 a. Bus electrode 513. Dielectric layer 514. Protective film 515. Chamber 517 ... Phosphor layer 519 ... Dielectric layer 1100 ... Personal computer 1102 ... Keyboard 1104 ... Main body 1106 ... Display unit 1200 ... Mobile phone 1202 ... Operation buttons 1204 ... Earpiece 1206 ... Mouthpiece 1300 ... Digital still camera 1302 ... Case (body) 1304 ... Light receiving unit 1306 ... Shutter button 1308 ... Circuit board 1312 ... Video signal output terminal 1314 ... Input / output terminal for data communication 1430 ... TV monitor 1440 ... Personal computer

Claims (19)

基板上に、所定パターンの導電膜を形成する導電膜の形成方法であって、
前記基板上に、前記導電膜のパターンとほぼ等しいパターンとなるように、液滴吐出法により金属粒子を含有する金属膜を形成し、
その後、無電解メッキを少なくとも1回行うことにより、前記金属膜の表面を覆うようにメッキ膜を形成して、前記導電膜を得ることを特徴とする導電膜の形成方法。
A conductive film forming method for forming a conductive film having a predetermined pattern on a substrate,
On the substrate, a metal film containing metal particles is formed by a droplet discharge method so as to be a pattern substantially equal to the pattern of the conductive film,
Then, the electroconductive plating is performed at least once to form a plating film so as to cover the surface of the metal film, thereby obtaining the conductive film.
前記金属膜の平均厚さは、1〜10μmである請求項1に記載の導電膜の形成方法。   The method for forming a conductive film according to claim 1, wherein the average thickness of the metal film is 1 to 10 μm. 前記金属粒子は、金、銀、銅、ニッケル、パラジウムまたはこれらを含む合金のうちの少なくとも1種を主材料として構成されている請求項1または2に記載の導電膜の形成方法。   The method for forming a conductive film according to claim 1 or 2, wherein the metal particles are composed mainly of at least one of gold, silver, copper, nickel, palladium, or an alloy containing these. 前記無電解メッキを行うのに先立って、前記金属膜の表面に触媒を選択的に付与する請求項1ないし3のいずれかに記載の導電膜の形成方法。   The method for forming a conductive film according to claim 1, wherein a catalyst is selectively applied to the surface of the metal film prior to performing the electroless plating. 前記無電解メッキは、複数回行われ、
2回目以降の各回の前記無電解メッキを行うのに先立って、前の回で形成された膜の表面に触媒を選択的に付与する請求項1ないし4のいずれかに記載の導電膜の形成方法。
The electroless plating is performed a plurality of times,
5. The formation of a conductive film according to claim 1, wherein a catalyst is selectively applied to the surface of the film formed in the previous round prior to performing the electroless plating each time after the second round. Method.
前記触媒は、パラジウム、白金、ロジウム、イリジウム、スズまたはこれらを含む合金のうちの少なくとも1種を主材料として構成されている請求項4または5に記載の導電膜の形成方法。   The method for forming a conductive film according to claim 4 or 5, wherein the catalyst is composed mainly of at least one of palladium, platinum, rhodium, iridium, tin or an alloy containing these. 前記無電解メッキは、複数回行われ、
各回の前記無電解メッキにおいて、同種の無電解メッキ液を用いる請求項1ないし6のいずれかに記載の導電膜の形成方法。
The electroless plating is performed a plurality of times,
The method for forming a conductive film according to claim 1, wherein the same type of electroless plating solution is used in each electroless plating.
前記無電解メッキは、複数回行われ、
複数回の前記無電解メッキのうちの少なくとも1回において、他の回と異種の無電解メッキ液を用いる請求項1ないし6のいずれかに記載の導電膜の形成方法。
The electroless plating is performed a plurality of times,
The method for forming a conductive film according to claim 1, wherein an electroless plating solution different from other times is used in at least one of the plurality of times of the electroless plating.
前記メッキ膜は、ニッケル、銅、金、銀のうちの少なくとも1種を主材料として構成されている請求項1ないし8のいずれかに記載の導電膜の形成方法。   9. The method for forming a conductive film according to claim 1, wherein the plating film is composed of at least one of nickel, copper, gold, and silver as a main material. 1回目の前記無電解メッキにより形成する膜の平均厚さは、100〜1000nmである請求項5、7ないし9のいずれかに記載の導電膜の形成方法。   The method for forming a conductive film according to claim 5, wherein an average thickness of the film formed by the first electroless plating is 100 to 1000 nm. 前記メッキ膜の平均厚さは、1〜10μmである請求項1ないし10のいずれかに記載の導電膜の形成方法。   The method for forming a conductive film according to claim 1, wherein an average thickness of the plating film is 1 to 10 μm. 前記金属膜を形成するのに先立って、前記基板上に前記金属膜の下地層を形成する請求項1ないし11のいずれかに記載の導電膜の形成方法。   The method for forming a conductive film according to claim 1, wherein a base layer of the metal film is formed on the substrate prior to forming the metal film. 前記下地層は、前記金属膜と前記基板との密着性を向上させる機能を有するものである請求項12に記載の導電膜の形成方法。   The method for forming a conductive film according to claim 12, wherein the base layer has a function of improving adhesion between the metal film and the substrate. 前記下地層は、絶縁性を有するものである請求項12または13に記載の導電膜の形成方法。   The method for forming a conductive film according to claim 12 or 13, wherein the underlayer has an insulating property. 前記基板は、非金属製のものである請求項1ないし14のいずれかに記載の導電膜の形成方法。   The method for forming a conductive film according to claim 1, wherein the substrate is made of a nonmetal. 基板と、
該基板上に、請求項1ないし15のいずれかに記載の導電膜の形成方法により形成された導電膜とを備えることを特徴とする配線基板。
A substrate,
A wiring board comprising: a conductive film formed by the method for forming a conductive film according to claim 1 on the substrate.
基板と、
該基板上に、所定のパターンで設けられ、金属粒子を含有する金属膜と、該金属膜の表面を覆うように設けられたメッキ膜とを備える導電膜とを有することを特徴とする配線基板。
A substrate,
A wiring board having a conductive film provided on the substrate in a predetermined pattern and including a metal film containing metal particles and a plating film provided to cover the surface of the metal film .
請求項16または17に記載の配線基板を備えることを特徴とする電子デバイス。   An electronic device comprising the wiring board according to claim 16. 請求項18に記載の電子デバイスを備えることを特徴とする電子機器。   An electronic apparatus comprising the electronic device according to claim 18.
JP2004311589A 2004-10-26 2004-10-26 Forming method of conductive film, wiring board, electronic device, and electronic equipment Pending JP2006128228A (en)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004311589A JP2006128228A (en) 2004-10-26 2004-10-26 Forming method of conductive film, wiring board, electronic device, and electronic equipment
US11/245,731 US20060086619A1 (en) 2004-10-26 2005-10-07 Method of forming conductive pattern, wiring substrate, electronic device and electronic equipment
KR20050098982A KR100745545B1 (en) 2004-10-26 2005-10-20 Method of forming conductive pattern, wiring substrate, electronic device and electronic equipment
TW094136775A TW200635461A (en) 2004-10-26 2005-10-20 Method of forming conductive pattern, wiring substrate, electronic device and electronic equipment
CNA200510116055XA CN1767725A (en) 2004-10-26 2005-10-25 Method of forming conductive pattern, wiring substrate, electronic device and electronic equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004311589A JP2006128228A (en) 2004-10-26 2004-10-26 Forming method of conductive film, wiring board, electronic device, and electronic equipment

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2006128228A true JP2006128228A (en) 2006-05-18

Family

ID=36205205

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004311589A Pending JP2006128228A (en) 2004-10-26 2004-10-26 Forming method of conductive film, wiring board, electronic device, and electronic equipment

Country Status (5)

Country Link
US (1) US20060086619A1 (en)
JP (1) JP2006128228A (en)
KR (1) KR100745545B1 (en)
CN (1) CN1767725A (en)
TW (1) TW200635461A (en)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009539593A (en) * 2006-06-14 2009-11-19 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピア Method for producing a conductive surface on a support
JP2010204168A (en) * 2009-02-27 2010-09-16 Sony Corp Method for forming reflection electrode, drive substrate, and display device
JP2012505964A (en) * 2008-10-17 2012-03-08 アトテック・ドイチュラント・ゲーエムベーハー Ni-P / Pd stack with reduced stress for bondable wafer surfaces
JP2013187047A (en) * 2012-03-08 2013-09-19 Koito Mfg Co Ltd Planar light-emitting body
JP2014075543A (en) * 2012-10-05 2014-04-24 Tyco Electronics Japan Kk Glass wiring plate
JP2015012227A (en) * 2013-07-01 2015-01-19 株式会社リコー Manufacturing method of three-dimensional structure with conductive pattern
JP2016058545A (en) * 2014-09-09 2016-04-21 住友電気工業株式会社 Substrate for printed wiring board, printed wiring board and method of manufacturing printed wiring board
JP2016119424A (en) * 2014-12-22 2016-06-30 住友電気工業株式会社 Substrate for print circuit board, print circuit board, and manufacturing method of substrate for print circuit board
JP2016171122A (en) * 2015-03-11 2016-09-23 京セラ株式会社 Wiring board
WO2022085461A1 (en) 2020-10-21 2022-04-28 旭化成株式会社 Method for manufacturing conductive pattern-provided structure

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070281099A1 (en) * 2006-05-31 2007-12-06 Cabot Corporation Solderable pads utilizing nickel and silver nanoparticle ink jet inks
CN101584258A (en) * 2007-01-19 2009-11-18 巴斯夫欧洲公司 Method for the production of structured, electrically conductive surfaces
JP4355965B2 (en) * 2007-04-02 2009-11-04 セイコーエプソン株式会社 Wiring board manufacturing method
DE102008043125A1 (en) * 2008-10-23 2010-04-29 BSH Bosch und Siemens Hausgeräte GmbH Operating element for a household appliance
JP5573429B2 (en) * 2009-08-10 2014-08-20 住友ベークライト株式会社 Electroless nickel-palladium-gold plating method, plated product, printed wiring board, interposer, and semiconductor device
KR101340872B1 (en) * 2013-07-05 2013-12-12 주식회사 에스아이 플렉스 Composite coating shielding method using ink detachment type
KR102341910B1 (en) * 2016-03-26 2021-12-21 나노-디멘션 테크놀로지스, 엘티디. Fabrication of PCBs and FPCs with shielded tracks and/or components using 3D inkjet printing
CN110972386A (en) * 2018-09-28 2020-04-07 深圳正峰印刷有限公司 Circuit board suitable for printed electronic component
CN110831350A (en) * 2019-11-14 2020-02-21 四会富仕电子科技股份有限公司 Method for manufacturing bottomless copper circuit board

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06177499A (en) * 1992-12-03 1994-06-24 Matsushita Electric Works Ltd Ceramic wiring board
JPH11145590A (en) * 1997-11-06 1999-05-28 Kamaya Denki Kk Manufacture of circuit wiring substrate
JPH11214430A (en) * 1998-01-28 1999-08-06 Ngk Spark Plug Co Ltd Wiring board and its manufacture
JP2000323618A (en) * 1999-05-07 2000-11-24 Sumitomo Electric Ind Ltd Copper circuit clad substrate and manufacture thereof
JP2001148561A (en) * 1999-11-19 2001-05-29 Kyocera Corp Method of manufacturing wiring board
JP2004143571A (en) * 2001-11-22 2004-05-20 Fuji Photo Film Co Ltd Board and ink for drawing conductive pattern and method for forming conductive pattern
JP2004200288A (en) * 2002-12-17 2004-07-15 Ulvac Japan Ltd Method of forming seed pattern for plating and conductive film pattern

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4668533A (en) * 1985-05-10 1987-05-26 E. I. Du Pont De Nemours And Company Ink jet printing of printed circuit boards
EP0252941A4 (en) 1985-12-30 1988-06-08 Gen Electric Fabrication of electrical conductor by augmentation replacement process.
EP0762813A1 (en) * 1995-08-25 1997-03-12 Macdermid Incorporated Method for the manufacture of printed circuit boards
US20030146019A1 (en) * 2001-11-22 2003-08-07 Hiroyuki Hirai Board and ink used for forming conductive pattern, and method using thereof
JP4068883B2 (en) * 2002-04-22 2008-03-26 セイコーエプソン株式会社 Method for forming conductive film wiring, method for manufacturing film structure, method for manufacturing electro-optical device, and method for manufacturing electronic apparatus

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06177499A (en) * 1992-12-03 1994-06-24 Matsushita Electric Works Ltd Ceramic wiring board
JPH11145590A (en) * 1997-11-06 1999-05-28 Kamaya Denki Kk Manufacture of circuit wiring substrate
JPH11214430A (en) * 1998-01-28 1999-08-06 Ngk Spark Plug Co Ltd Wiring board and its manufacture
JP2000323618A (en) * 1999-05-07 2000-11-24 Sumitomo Electric Ind Ltd Copper circuit clad substrate and manufacture thereof
JP2001148561A (en) * 1999-11-19 2001-05-29 Kyocera Corp Method of manufacturing wiring board
JP2004143571A (en) * 2001-11-22 2004-05-20 Fuji Photo Film Co Ltd Board and ink for drawing conductive pattern and method for forming conductive pattern
JP2004200288A (en) * 2002-12-17 2004-07-15 Ulvac Japan Ltd Method of forming seed pattern for plating and conductive film pattern

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009539593A (en) * 2006-06-14 2009-11-19 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピア Method for producing a conductive surface on a support
JP2012505964A (en) * 2008-10-17 2012-03-08 アトテック・ドイチュラント・ゲーエムベーハー Ni-P / Pd stack with reduced stress for bondable wafer surfaces
US8986789B2 (en) 2008-10-17 2015-03-24 Atotech Deutschland Gmbh Stress-reduced Ni-P/Pd stacks for bondable wafer surfaces
JP2010204168A (en) * 2009-02-27 2010-09-16 Sony Corp Method for forming reflection electrode, drive substrate, and display device
JP2013187047A (en) * 2012-03-08 2013-09-19 Koito Mfg Co Ltd Planar light-emitting body
JP2014075543A (en) * 2012-10-05 2014-04-24 Tyco Electronics Japan Kk Glass wiring plate
JP2015012227A (en) * 2013-07-01 2015-01-19 株式会社リコー Manufacturing method of three-dimensional structure with conductive pattern
JP2016058545A (en) * 2014-09-09 2016-04-21 住友電気工業株式会社 Substrate for printed wiring board, printed wiring board and method of manufacturing printed wiring board
JP2016119424A (en) * 2014-12-22 2016-06-30 住友電気工業株式会社 Substrate for print circuit board, print circuit board, and manufacturing method of substrate for print circuit board
JP2016171122A (en) * 2015-03-11 2016-09-23 京セラ株式会社 Wiring board
WO2022085461A1 (en) 2020-10-21 2022-04-28 旭化成株式会社 Method for manufacturing conductive pattern-provided structure
KR20230049702A (en) 2020-10-21 2023-04-13 아사히 가세이 가부시키가이샤 Method for manufacturing a structure having a conductive pattern

Also Published As

Publication number Publication date
KR100745545B1 (en) 2007-08-03
TW200635461A (en) 2006-10-01
CN1767725A (en) 2006-05-03
US20060086619A1 (en) 2006-04-27
KR20060054133A (en) 2006-05-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100745545B1 (en) Method of forming conductive pattern, wiring substrate, electronic device and electronic equipment
JP2022104974A (en) Display device
JP4332533B2 (en) Capacitor-embedded printed circuit board and manufacturing method thereof
JP3479023B2 (en) Method for manufacturing electric wiring, wiring board, display device, and image detector
TWI365015B (en)
US7326585B2 (en) Forming process of thin film pattern and manufacturing process of device, electro-optical apparatus and electronic apparatus
JP2004326108A (en) Electromagnetic wave shielding filter for plasma display panels and method for manufacturing the same
US20060068573A1 (en) Multilayer structure forming method, method of manufacturing wiring board, and method manufacturing of electronic apparatus
JP4590854B2 (en) Method for manufacturing piezoelectric device
US20100326706A1 (en) Electronic apparatus and flexible printed wiring board
US20060188661A1 (en) Method of forming film pattern, method of manufacturing device, electro-optical device, and electronic apparatus
US7431770B2 (en) Table device, film-forming apparatus, optical element, semiconductor element, and electric apparatus
JP2007300012A (en) Metal wiring forming method, manufacturing method of active matrix substrate, device, electro-optic device, and electronic instrument
JP2013211441A (en) Package, manufacturing method of the same, electronic device and electronic apparatus
JP2005109184A (en) Film pattern forming method, circuit element, electro-optic device, and electronic equipment
JP4617983B2 (en) Film pattern forming method and device manufacturing method
CN107708355B (en) Shell manufacturing method, shell and electronic equipment
US20060043592A1 (en) Substlate, electro-optical device, electronic apparatus, method of forming substlate, method of forming electro-optical device, and method of forming electronic apparatus
JP2007115743A (en) Patterning method, thin film transistor, and electronic apparatus
CN104827771A (en) Conduction structure, method of manufacturing conduction structure, droplet ejecting head, and printing apparatus
JP2006245516A (en) Film forming method, substrate for electronic device, electronic device, and electronic equipment
JP5733967B2 (en) Liquid discharge head and manufacturing method thereof
JP2004193518A (en) Method for manufacturing and mounting semiconductor chip, semiconductor chip, semiconductor mounted board, electronic device and electronic apparatus
JP2004193517A (en) Semiconductor chip, manufacturing method therefor, semiconductor mounted board, electronic device and electronic apparatus
JP2004247516A (en) Connection line formation method, substrate for electronic device, and electronic device and electronic equipment

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070727

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070807

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071004

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080219