JP2006106000A - 変位測定のための干渉計システム及びこれを利用した露光装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 この干渉計は光線を発生させる光源、光線を基準光線と測定光線とに分ける光分配器、基準光線の進行方向を変更するための基準ミラー、測定光線の進行方向を変更するための変位変換器及び方向変更された基準光線と測定光線を測定するための検出器を具備する。変位変換器は測定光線の進行方向に垂直の変位を測定光線の経路差に変換させるために透過型格子または反射型格子を利用する。
【選択図】 図6A
Description
ゼーマン(Zeeman)レーザー、インバートラムレーザー及びスペクトラル光線のうちの一つを使うことができる。前記光源100で生成された光線は前記光分配器111で各々前記基準ミラー141及び前記変位変換器121に向けて進行する基準光線211と測定光線201とに分けられる。このために、前記光分配器111は入射された光の一部分は反射させ、他の一部分は透過させることができる半透明ミラー(half mirror)を使うことが望ましい。
111 光分配器
121 変位変換器
131 検出器
141 基準ミラー
150 運動体
201 測定光線
211 基準光線
Claims (52)
- 測定光線に応答する変位変換器を含み、前記変位変換器は測定光線に垂直の方向での変位変換器の運動を前記変位変換器の反射面と前記測定光線との間の経路の長さでの変化に変換させるように配置されることを特徴とする変位干渉計。
- 入射光線を基準光線と測定光線とに分ける光分配器をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の変位干渉計。
- リダイレクト基準光線として、前記基準光線を前記光分配器に向けなおすように配置される基準ミラーをさらに含むことを特徴とする請求項2に記載の変位干渉計。
- 前記変位変換器は、リダイレクト測定光線として、前記測定光線を前記光分配器に向けなおすように配置されることを特徴とする請求項3に記載の変位干渉計。
- 前記リダイレクト基準光線と前記リダイレクト測定光線とを受光するように配置される感知器をさらに含むことを特徴とする請求項4に記載の変位干渉計。
- 前記変位変換器は、
前記測定光線の経路に配置される前面を有する透過型回折格子と、
前記透過型回折格子の後面を向く変位ミラーとを具備することを特徴とする請求項1に記載の変位干渉計。 - 前記変位ミラーは所定の勾配角βを形成しながら前記透過型回折格子の後面に向いており、前記経路長さでの変化ΔP、前記測定光線に垂直の方向での前記変位変換器の運動ΔD及び前記勾配角βの間にはΔP=2ΔDsinβの関係が成り立つことを特徴とする請求項6に記載の変位干渉計。
- 前記変位変換器は反射型回折格子を含み、
前記反射型回折格子はそれの主面の法線が前記測定光線に対して所定の勾配角βを有するように配置され、前記経路長さの変化ΔP、前記測定光線に垂直の方向での前記変位変換器の運動ΔD及び前記勾配角βの間にはΔP=2ΔDtanβの関係が成り立つことを特徴とする請求項1に記載の変位干渉計。 - 入射光線を基準光線と測定光線とに分ける光分配器をさらに含むことを特徴とする請求項8に記載の変位干渉計。
- リダイレクト基準光線として、前記基準光線を前記光分配器に向けなおすように配置される基準ミラーをさらに含むことを特徴とする請求項9に記載の変位干渉計。
- 光線を発生させる光源と、
前記光源に対して運動することができる運動体と、
前記運動体の第1方向変位を測定するため、前記光線を利用する第1変位干渉計と、
前記運動体の第2方向変位を測定するため、前記光線を利用する第2変位干渉計と具備し、
前記第1変位干渉計は前記運動体の前記第1方向変位を前記第2方向で前記第1変位干渉計に入射される光線の経路差に変換させる第1変位変換器を具備することを特徴とする変位干渉計システム。 - 前記第1変位干渉計は、
前記光線を第1基準光線と前記第2方向に進行する第1測定光線とに分ける第1光分配器と、
前記第1基準光線の進行方向を変更するための第1基準ミラーと、
前記第1測定光線の進行方向を変更するための前記第1変位変換器と、
前記方向変更された第1基準光線と第1測定光線を測定するための第1検出器とを具備し、
前記第1変位変換器は前記運動体の前記第1方向の変位ΔD1を前記第1測定光線の経路差ΔP1に変換させることを特徴とする請求項11に記載の変位干渉計システム。 - 前記第2変位干渉計は、
前記光線を第2基準光線と前記第2方向に進行する第2測定光線とに分ける第2光分配器と、
前記第2基準光線の進行方向を変更するための第2基準ミラーと、
前記第2測定光線の進行方向を変更するための第2変位変換器と、
前記方向変更された第2基準光線と第2測定光線を測定するための第2検出器とを具備し、
前記運動体の第2方向の変位は前記第2測定光線の経路長さの変化の半分であることを特徴とする請求項12に記載の変位干渉計システム。 - 前記第1光分配器、前記第1基準ミラー及び前記第1変位変換器は前記運動体に固定されて、前記運動体とともに運動することを特徴とする請求項12に記載の変位干渉計システム。
- 前記第1光分配器、前記第1検出器及び前記第1基準ミラーは前記光源に対して固定された位置に配置され、
前記第1変位変換器は前記運動体に固定されて前記運動体とともに運動することを特徴とする請求項12に記載の変位干渉計システム。 - 前記第2光分配器、前記第2検出器及び前記第2基準ミラーは前記光源に対して固定された位置に配置され、
前記第2変位変換器は前記運動体に固定されて前記運動体とともに運動することを特徴とする請求項13に記載の変位干渉計システム。 - 前記第1変位変換器は、
透過型回折格子と、
前記透過型回折格子に対して所定の第1勾配角β1を形成し、前記透過型回折格子から離隔されて配置される変位ミラーとを具備し、
前記透過型回折格子及び前記変位ミラーは前記第1測定光線の経路差ΔP1、前記第1勾配角β1及び前記第1方向の変位ΔD1の間にΔP1=2・ΔD1・sinβ1の関係が成り立つように配置されることを特徴とする請求項12に記載の変位干渉計システム。 - 前記透過型回折格子は前記第1測定光線の進行方向に垂直に配置されることを特徴とする請求項17に記載の変位干渉計システム。
- 前記透過型回折格子を構成する格子パターンのピッチがdであり、
前記透過型回折格子の法線に対する前記測定光線の進行方向がなす角度がαであり、
前記光線の波長がλである場合、
前記透過型回折格子の法線に対する前記変位ミラーの勾配角β1はarcsin(λ/d ― sinα)であることを特徴とする請求項17に記載の変位干渉計システム。 - 前記第1変位変換器は前記第1測定光線の進行方向に対して所定の第1勾配角β1を形成しながら配置される反射型回折格子を具備し、
前記反射型回折格子は前記第1測定光線の経路差ΔP1、前記第1勾配角β1及び前記第1方向の変位ΔD1の間にΔP1=2・ΔD1・tanβ1の関係が成り立つように配置されることを特徴とする請求項12に記載の変位干渉計システム。 - 前記反射型回折格子を構成する格子パターンのピッチがdであり、
前記光線の波長がλである場合、
前記測定光線の進行方向に対する前記反射型回折格子の勾配角βはarcsin(λ/d)であることを特徴とする請求項20に記載の変位干渉計システム。 - 前記光線は単一周波数レーザー、二重周波数レーザー、多重周波数レーザー、ラムレーザー、ゼーマンレーザー、インバートラムレーザー及びスペクトラル光線のうちの一つであることを特徴とする請求項11に記載の変位干渉計システム。
- 前記第1方向と前記第2方向は互いに直交することを特徴とする請求項11に記載の変位干渉計システム。
- 前記運動体の第3方向の位置を測定するため、前記光線を利用する第3変位干渉計をさらに具備し、
前記第3変位干渉計は、
前記光線を第3基準光線と前記第2方向に進行する第2測定光線に分ける第3光分配器と、
前記第3基準光線の進行方向を変更するための第3基準ミラーと、
前記第3測定光線の進行方向を変更するための第3変位変換器と、
前記方向変更された第3基準光線と第3測定光線を測定するための第3検出器とを具備し、
前記第3変位変換器は前記運動体の前記第3方向の変位ΔD3を前記第3測定光線の経路差ΔP3に変換させることを特徴とする請求項11に記載の変位干渉計システム。 - 前記第3光分配器、前記第3基準ミラー及び前記第3変位変換器は前記運動体に固定されて、前記運動体とともに運動することを特徴とする請求項24に記載の変位干渉計システム。
- 前記第3光分配器、前記第3検出器及び前記第3基準ミラーは前記光源に対して固定された位置に配置され、
前記第3変位変換器は前記運動体に固定されて前記運動体とともに運動することを特徴とすることを特徴とする24に記載の変位干渉計システム。 - 前記第3変位変換器は、
透過型回折格子と、
前記透過型回折格子に対して所定の第2勾配角β2を形成し、前記透過型回折格子から離隔されるように配置される変位ミラーとを具備し、
前記透過型回折格子及び前記変位ミラーは前記第3測定光線の経路差ΔP3、前記第2勾配角β2及び前記第3方向の変位ΔD3の間にΔP3=2・ΔD3・sinβ2の関係が成り立つように配置されることを特徴とする請求項24に記載の変位干渉計システム。 - 前記透過型回折格子を構成する格子パターンのピッチがdであり、
前記透過型回折格子の法線に対する前記測定光線の進行方向がなす角度がαであり、
前記光線の波長がλである場合、
前記透過型回折格子の法線に対する前記変位ミラーの第2勾配角β2はarcsin(λ/d ― sinα)であることを特徴とする請求項27に記載の変位干渉計システム。 - 前記透過型回折格子は前記第3測定光線の進行方向に垂直に配置されることを特徴とする請求項27に記載の変位干渉計システム。
- 前記第3変位変換器は前記第3測定光線の進行方向に対して所定の第2勾配角β2を形成しながら配置される反射型回折格子を具備し、
前記反射型回折格子は前記第3測定光線の経路差ΔP3、前記第2勾配角β及び前記第3方向の変位ΔD3の間にΔP3=2・ΔD3・tanβ2の関係が成り立つように配置されることを特徴とする請求項24に記載の変位干渉計システム。 - 前記反射型回折格子を構成する格子パターンのピッチがdであり、
前記光線の波長がλである場合、
前記測定光線の進行方向に対する前記反射型回折格子の第2勾配角β2はarcsin(λ/d)であることを特徴とする請求項30に記載の変位干渉計システム。 - 光線を発生させる光源と、
前記光源に対してy方向に運動することができるレティクルステージと、
前記レティクルステージのx方向変位を測定するため、前記光線を利用する第1変位干渉計と、
前記レティクルステージのy方向変位を測定するため、前記光線を利用する第2変位干渉計とを具備し、
前記第1変位干渉計は前記レティクルステージのx方向変位をy方向で前記第1変位干渉計に入射される光線の経路差に変換させる第1変位変換器を具備することを特徴とするスキャン型露光装置。 - 前記第1変位干渉計は
前記光線をx方向に進行する第1測定光線とy方向に進行する第1基準光線とに分ける第1光分配器と、
前記第1基準光線の進行方向を変更するための第1基準ミラーと、
前記第1測定光線の進行方向を変更するための前記第1変位変換器と、
前記方向変更された第1基準光線と第1測定光線を測定するための第1検出器とを具備し、
前記第1変位変換器は前記レティクルステージのx方向の変位ΔDxを前記第1測定光線の経路差ΔPに変換させることを特徴とする請求項32に記載のスキャン型露光装置。 - 前記第2変位干渉計は、
前記光線をx方向に進行する第2測定光線とy方向に進行する第2基準光線とに分ける第2光分配器と、
前記第2基準光線の進行方向を変更するための第2基準ミラーと、
前記第2測定光線の進行方向を変更するための第2測定ミラーと、
前記方向変更された第2基準光線と第2測定光線を測定するための第2検出器とを具備し、
前記レティクルステージのy方向変位は前記第2測定光線の経路長さの変化の半分であることを特徴とする請求項33に記載のスキャン型露光装置。 - 前記第1光分配器、前記第1基準ミラー及び前記第1変位変換器は前記レティクルステージに固定されて、前記レティクルステージとともに運動することを特徴とする請求項33に記載のスキャン型露光装置。
- 前記第1光分配器、前記第1検出器及び前記第1基準ミラーは前記光源に対して固定された位置に配置され、
前記第1変位変換器は前記レティクルステージに固定されて前記レティクルステージとともに運動することを特徴とする請求項33に記載のスキャン型露光装置。 - 前記第2光分配器、前記第2検出器及び前記第2基準ミラーは前記光源に対して固定された位置に配置され、
前記第2測定ミラーは前記レティクルステージに固定されて前記レティクルステージとともに運動することを特徴とする請求項34に記載のスキャン型露光装置。 - 前記第1変位変換器は、
透過型回折格子と、
前記透過型回折格子に対して所定の勾配角βを形成し、前記透過型回折格子から離隔されて配置される変位ミラーとを具備し、
前記透過型回折格子及び前記変位ミラーは前記第1測定光線の経路差ΔP、前記勾配角β及び前記レティクルステージのx方向変位ΔDxの間にΔP=2・ΔDx・sinβの関係が成り立つように配置されることを特徴とする請求項33に記載のスキャン型露光装置。 - 前記透過型回折格子を構成する格子柄のピッチがdであり、
前記透過型回折格子の法線に対する前記測定光線の進行方向が成す角度がαであり、
前記光線の波長がλである場合、
前記透過型回折格子の法線に対する前記変位ミラーの勾配角βはarcsin(λ/d ― sinα)であることを特徴とする請求項38に記載のスキャン型露光装置。 - 前記透過型回折格子は前記第1測定光線の進行方向に垂直に配置されることを特徴とする請求項38に記載のスキャン型露光装置。
- 前記第1変位変換器は前記第1測定光線の進行方向に対して所定の勾配角βを形成しながら配置される反射型回折格子を具備し、
前記反射型回折格子は前記第1測定光線の経路差ΔP、前記勾配角β及び前記レティクルステージのx方向変位ΔDxの間にΔP=2・ΔDx・tanβの関係が成り立つように配置されることを特徴とする請求項33に記載のスキャン型露光装置。 - 前記反射型回折格子を構成する格子パターンのピッチがdであり、
前記光線の波長がλである場合、
前記測定光線の進行方向に対する前記反射型回折格子の勾配角βがarcsin(λ/d)であることを特徴とする請求項41に記載のスキャン型露光装置。 - 前記光線は単一周波数レーザー、二重周波数レーザー、多重周波数レーザー、ラムレーザー、ゼーマンレーザー、インバートラムレーザー及びスペクトラル光線のうちの一つであることを特徴とする請求項32に記載のスキャン型露光装置。
- 前記レティクルステージの下に配置されるレンズシステムと、
前記レンズシステムの下に配置されるウェーハステージと、
前記レティクルステージ及び前記レンズシステムを通過する露光光線を発生させる露光光源とをさらに具備することを特徴とする請求項32に記載のスキャン型露光装置。 - 光線を発生させる光源と、
前記光源に対して運動することができる運動体と、
前記光線を第1基準光線と第2方向に進行する第1測定光線とに分ける第1光分配器と、前記第1基準光線の進行方向を変更するための第1基準ミラーと、前記第1測定光線の進行方向を変更し、前記運動体の前記第1方向の変位ΔD1を前記第1測定光線の経路差ΔP1に変換させる第1変位変換器と、前記方向変更された第1基準光線と第1測定光線を測定するための第1検出器とを具備する第1変位干渉計と、
前記光線を第2基準光線と前記第2方向に進行する第2測定光線とに分ける第2光分配器と、前記第2基準光線の進行方向を変更するための第2基準ミラーと、前記第2測定光線の進行方向を変更するための第2変位変換器と、前記方向変更された第2基準光線と第2測定光線を測定するための第2検出器とを具備する第2変位干渉計と、
前記第1及び第2変位干渉計で測定された結果を利用して、前記運動体の第1方向変位及び第2方向変位を計算する制御器とを具備し、
前記第1光分配器、前記第1検出器及び前記第1基準ミラーは前記光源に対して固定された位置に設けられ、前記第1変位変換器は前記運動体に固定された位置に設けられ、
前記制御器は前記第1変位干渉計で測定された結果を利用して計算された変位から前記第2変位干渉計で測定された結果を利用して計算された変位を引く過程を通じて前記運動体の実際第1方向変位を決めることを特徴とする変位干渉計システム。 - 前記第2光分配器、前記第2検出器及び前記第2基準ミラーは前記光源に対して固定された位置に配置され、
前記第2変位変換器は前記運動体に固定されて前記運動体とともに運動することを特徴とする請求項45に記載の変位干渉計システム。 - 前記第1変位変換器は、
透過型回折格子と、
前記透過型回折格子に対して所定の勾配角βを形成し、前記透過型回折格子から離隔されるように配置される変位ミラーとを具備し、
前記透過型回折格子及び前記変位ミラーは前記第1測定光線の経路差ΔP、前記勾配角β及び前記運動体の第1方向変位ΔD1の間にΔP=2・ΔD1・sinβの関係が成り立つように配置されることを特徴とする請求項45に記載の変位干渉計システム。 - 前記透過型回折格子は前記第1測定光線の進行方向に垂直に配置されることを特徴とする請求項47に記載の変位干渉計システム。
- 前記透過型回折格子を構成する格子パターンのピッチがdであり、
前記透過型回折格子の法線に対する前記測定光線の進行方向がなす角度がαであり、
前記光線の波長がλである場合、
前記透過型回折格子の法線に対する前記変位ミラーの勾配角βがarcsin(λ/d −sinα)であることを特徴とする請求項47に記載の変位干渉計システム。 - 前記第1変位変換器は前記第1測定光線の進行方向に対して所定の勾配角βを形成しながら配置される反射型回折格子を具備し、
前記反射型回折格子は前記第1測定光線の経路差ΔP、前記勾配角β及び前記運動体の第1方向変位ΔD1の間にΔP=2・ΔD1・tanβの関係が成り立つように配置されることを特徴とする請求項45に記載の変位干渉計システム。 - 前記反射型回折格子を構成する格子パターンのピッチがdであり、
前記光線の波長がλである場合、
前記測定光線の進行方向に対する前記反射型回折格子の勾配角βがarcsin(λ/d)であることを特徴とする請求項50に記載の変位干渉計システム。 - 前記第1方向と前記第2方向は互いに直交することを特徴とする請求項45に記載の変位干渉計システム。
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