JP2006100800A - Pickup device and packaging apparatus for chip parts - Google Patents

Pickup device and packaging apparatus for chip parts Download PDF

Info

Publication number
JP2006100800A
JP2006100800A JP2005238885A JP2005238885A JP2006100800A JP 2006100800 A JP2006100800 A JP 2006100800A JP 2005238885 A JP2005238885 A JP 2005238885A JP 2005238885 A JP2005238885 A JP 2005238885A JP 2006100800 A JP2006100800 A JP 2006100800A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
chip
suction nozzle
pickup device
suction
tip
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2005238885A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP4629532B2 (en
Inventor
Yoshihiro Kusube
善弘 楠部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Mechatronics Corp
Original Assignee
Shibaura Mechatronics Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shibaura Mechatronics Corp filed Critical Shibaura Mechatronics Corp
Priority to JP2005238885A priority Critical patent/JP4629532B2/en
Publication of JP2006100800A publication Critical patent/JP2006100800A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4629532B2 publication Critical patent/JP4629532B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a pickup device which prevents a chip taken out by an absorption nozzle from shifting with respect to this absorption nozzle. <P>SOLUTION: The pickup device for the chip takes out a chip 4 by absorbing a surface on which a bump 27. There is provided a absorption nozzle 16 in which a suction hole 25 is formed so as to be opened to an end surface. When the absorption nozzle 16 absorbs the surface of the chip 4 on which the bump 27 is formed, a recess 26 engaging with the bump 27 is formed at least on an inside surface of a tip of the suction hole 25. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

この発明はたとえば半導体からなるチップなどのチップ部品を吸着して取り出すピックアップ装置及びピックアップ装置によって取り出されたチップ部品を基板に実装する実装装置に関する。   The present invention relates to a pickup device that picks up and extracts a chip component such as a chip made of a semiconductor and a mounting device that mounts the chip component taken out by the pickup device on a substrate.

キヤリアテープやリードフレームなどの基板に半導体からなるチップなどのチップ部品を実装する実装装置としては、チップ部品に形成されたバンプを下向きにして上記基板の上面から実装するフリップチップ方式の実装装置が知られている。   As a mounting device for mounting a chip component such as a semiconductor chip on a substrate such as a carrier tape or a lead frame, a flip-chip mounting device for mounting from the upper surface of the substrate with the bump formed on the chip component facing downward is used. Are known.

フリップチップ方式の実装装置は部品供給部を有する。この部品供給部はウエハステージに多数のチップに分割された半導体ウエハがウエハシートに貼着されて保持されている。各チップの上面には複数のバンプが形成されている。   The flip-chip type mounting apparatus has a component supply unit. In this component supply unit, a semiconductor wafer divided into a large number of chips is attached to a wafer sheet and held on a wafer stage. A plurality of bumps are formed on the upper surface of each chip.

上記ウエハステージの下面側には突き上げピンが設けられ、この突き上げピンによって所定位置のチップが突き上げられる。突き上げピンによって突き上げられたチップはピックアップ装置の吸引孔が形成された吸着ノズルによって吸着されて取り出される。   A push-up pin is provided on the lower surface side of the wafer stage, and a chip at a predetermined position is pushed up by the push-up pin. The chip pushed up by the push-up pin is sucked and taken out by a suction nozzle in which a suction hole of the pickup device is formed.

上記吸着ノズルは上下方向の向きが反転可能に設けられている。そして、上記吸着ノズルはチップを吸着した後、その吸着面が下向きから上向きになるよう180度反転させられてから、上記チップを実装ツールに受け渡す、受け渡し位置まで駆動されて待機する。   The suction nozzle is provided such that the vertical direction can be reversed. Then, after sucking the chip, the suction nozzle is inverted 180 degrees so that the suction surface is directed upward from below, and then is driven to a delivery position where the chip is delivered to the mounting tool and waits.

吸着ノズルが待機する受け渡し位置には実装ツールが駆動されてくる。そして、この実装ツールは上記吸着ノズルからチップを受け取って実装位置に戻り、そこで下降方向に駆動されて上記チップを基板に実装する。   The mounting tool is driven to the delivery position where the suction nozzle stands by. The mounting tool receives the chip from the suction nozzle, returns to the mounting position, and is driven in the downward direction to mount the chip on the substrate.

最近では各種のデジタル機器の小型化に伴ってチップの微小化が進み、小さなものでは0.5mm角程度まで微小化してきている。したがって、チップを吸着して取り出す吸着ノズルも小径化してきている。   Recently, with the miniaturization of various digital devices, the miniaturization of chips has progressed, and the smaller ones have been miniaturized to about 0.5 mm square. Therefore, the diameter of the suction nozzle that picks up and picks up the chip has also been reduced.

吸着ノズルがウエハステージからチップを取り出す場合、この吸着ノズルはチップのバンプが形成された面を吸着することになる。チップが微小化してくると、チップの吸着ノズルによって吸着されるバンプが形成された面には、上記吸着ノズルの先端面が接触するための平面を確実に確保することが難しくなる。   When the suction nozzle takes out the chip from the wafer stage, the suction nozzle sucks the surface on which the bumps of the chip are formed. When the chip is miniaturized, it is difficult to reliably secure a flat surface on which the tip surface of the suction nozzle comes into contact with the surface on which the bumps sucked by the suction nozzle of the chip are formed.

そのため、吸着ノズルは、先端面がバンプに当たった状態で、チップを強制的に吸引してウエハステージから取り出し、受け渡し位置まで移動して実装ツールに受け渡すということになる。   For this reason, the suction nozzle forcibly sucks the chip out of the wafer stage and moves it to the delivery position and delivers it to the mounting tool in a state where the tip surface is in contact with the bump.

先端面がバンプに当って吸着ノズルがチップを吸着している状態では、吸着ノズルの先端面とチップの上面との間に隙間が生じ、吸着ノズルの吸引力がチップに確実に作用しないということがある。しかも、吸着ノズルの先端面と吸引孔の内周縁とがなす稜線がバンプに対して点接触状態となるため、チップの保持状態が不安定となる。   In the state where the tip surface hits the bump and the suction nozzle sucks the chip, there is a gap between the tip surface of the suction nozzle and the top surface of the chip, and the suction force of the suction nozzle does not act reliably on the chip. There is. In addition, since the ridge line formed between the tip surface of the suction nozzle and the inner peripheral edge of the suction hole is in a point contact state with respect to the bump, the chip holding state becomes unstable.

そのため、吸着ノズルの先端面でチップが回転して位置ずれが生じ、チップを吸着ノズルから実装ツールへ確実に受け渡すことができなくなったり、カメラでの位置認識が確実に行えないため、チップを基板に精密に位置決めして実装することができなくなるなどのことがある。   As a result, the tip rotates at the tip of the suction nozzle, resulting in a positional shift that prevents the tip from being transferred from the suction nozzle to the mounting tool. In some cases, it becomes impossible to precisely position and mount the substrate.

この発明は、チップ部品を吸着ノズルによって吸着したときに、このチップ部品が吸着ノズルの先端面で回転して位置がずれるのを防止できるようにしたピックアップ装置及びそのピックアップ装置が用いられた実装装置を提供することにある。   The present invention relates to a pickup device capable of preventing the chip component from rotating due to the tip surface of the suction nozzle and shifting its position when the chip component is sucked by the suction nozzle, and a mounting device using the pickup device. Is to provide.

この発明は、チップ部品をバンプが形成された面を吸着して取り出すチップ部品のピックアップ装置であって、
吸引孔が先端面に開口して形成された吸着ノズルを有し、この吸着ノズルの先端部には、上記吸着ノズルが上記チップ部品のバンプが形成された面を吸着したときに、上記バンプに係合する係合部が形成されていることを特徴とするピックアップ装置にある。
This invention is a chip component pickup device for picking up a chip component by adsorbing a surface on which a bump is formed,
There is a suction nozzle formed by opening a suction hole on the tip surface, and the tip of the suction nozzle is attached to the bump when the suction nozzle sucks the surface on which the bump of the chip component is formed. In the pickup device, an engaging portion to be engaged is formed.

上記係合部は、上記吸引孔の内周面に形成された凹部であることが好ましい。   It is preferable that the engaging portion is a concave portion formed on the inner peripheral surface of the suction hole.

上記吸引孔の内周面には、周方向の全長にわたって上記凹部が凸部と交互に形成されていることが好ましい。   It is preferable that the concave portions are alternately formed with the convex portions on the inner peripheral surface of the suction hole over the entire length in the circumferential direction.

上記係合部は、上記吸着ノズルの先端部の外周面に形成された凹部であることが好ましい。   It is preferable that the engaging portion is a concave portion formed on the outer peripheral surface of the tip portion of the suction nozzle.

上記吸着ノズルの先端部の外周面には、周方向の全長にわたって上記凹部が凸部と交互に形成されていることが好ましい。   It is preferable that the concave portions are alternately formed with the convex portions over the entire length in the circumferential direction on the outer peripheral surface of the tip portion of the suction nozzle.

上記係合部は、上記チップ部品に設けられたバンプの数及び位置に対応して形成されていることが好ましい。   The engaging portion is preferably formed corresponding to the number and position of bumps provided on the chip component.

この発明は、チップ部品を基板に実装する実装装置であって、
部品供給部に設けられた上記チップ部品を吸着するピックアップ装置と、
このピックアップ装置によって吸着されたチップ部品を受け取って上記基板に実装する実装ツールとを具備し、
上記ピックアップ装置は、吸引孔が先端面に開口して形成された吸着ノズルを有し、この吸着ノズルの先端部には、上記吸着ノズルが上記チップ部品のバンプが形成された面を吸着したときに、上記バンプに係合する凹部が形成されていることを特徴とする実装装置にある。
The present invention is a mounting apparatus for mounting a chip component on a substrate,
A pickup device for adsorbing the chip component provided in the component supply unit;
A mounting tool for receiving a chip component adsorbed by the pickup device and mounting the chip component on the substrate;
The pickup device has a suction nozzle formed with a suction hole opened on a tip surface, and when the suction nozzle sucks a surface on which a bump of the chip component is formed on the tip of the suction nozzle In the mounting apparatus, a recess is formed to engage with the bump.

この発明によれば、吸着ノズルによってチップ部品のバンプが形成された面を吸着すると、この吸着ノズルの先端部に形成された凹部にチップ部品のバンプが係合するするから、チップ部品が吸着ノズルの先端面で回転して位置がずれるのを防止することができる。   According to the present invention, when the surface on which the bump of the chip component is formed is sucked by the suction nozzle, the chip component bump is engaged with the recess formed at the tip of the suction nozzle. It is possible to prevent the position from being shifted due to rotation on the front end surface.

以下、この発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図1と図2はこの発明の第1の実施の形態を示す。図1はフリップチップ方式の実装装置の概略的構成図であって、この実装装置はリードフレームなどの基板1を所定方向に沿って搬送する搬送装置2を備えている。この搬送装置2は所定間隔で平行に配置された一対のガイドレール3を有し、これらのガイドレール3に沿って上記基板1が間欠的にピッチ送りされるようになっている。上記基板1はピッチ送りされるごとに、図示せぬクランパによって上記ガイドレール3に位置決め保持されるようになっている。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
1 and 2 show a first embodiment of the present invention. FIG. 1 is a schematic configuration diagram of a flip-chip type mounting apparatus, which includes a transport apparatus 2 that transports a substrate 1 such as a lead frame along a predetermined direction. The transport device 2 has a pair of guide rails 3 arranged in parallel at a predetermined interval, and the substrate 1 is intermittently pitched along the guide rails 3. Each time the substrate 1 is pitch-fed, it is positioned and held on the guide rail 3 by a clamper (not shown).

上記基板1が搬送装置2によって実装位置に搬送されると、その実装位置には後述する部品供給部11から供給されたチップ部品であるチップ4が実装される。この実装位置には、上記基板1の下面を支持するステージツール5が第1の駆動機構6によって水平方向であるX、Y及び上下方向であるZ方向に駆動可能に設けられている。   When the substrate 1 is transported to a mounting position by the transport device 2, a chip 4 which is a chip component supplied from a component supply unit 11 described later is mounted at the mounting position. At this mounting position, a stage tool 5 that supports the lower surface of the substrate 1 is provided so as to be driven by the first drive mechanism 6 in the horizontal X and Y directions and the vertical Z direction.

上記ステージツール5の上方には、上記基板1の上面に上記チップ4を実装するための実装ツール7が第2の駆動機構8によってX、Y及びZ方向に駆動可能に設けられている。   A mounting tool 7 for mounting the chip 4 on the upper surface of the substrate 1 is provided above the stage tool 5 so as to be driven in the X, Y, and Z directions by the second driving mechanism 8.

上記部品供給部11は図示せぬ駆動源によってX、Y方向に駆動されるウエハステージ12を有する。このウエハステージ12には多数のチップ4に分割された半導体ウエハ13がウエハシート14に保持されている。チップ4はその一方の面に上記基板1に形成された図示しないリードに電気的に接続される複数のバンプ27(図2(a)に示す)が形成されていて、このバンプ27が形成された面を上にしてウエハシート14に保持されている。   The component supply unit 11 has a wafer stage 12 driven in the X and Y directions by a drive source (not shown). On the wafer stage 12, a semiconductor wafer 13 divided into a large number of chips 4 is held on a wafer sheet 14. The chip 4 is formed with a plurality of bumps 27 (shown in FIG. 2A) electrically connected to leads (not shown) formed on the substrate 1 on one surface thereof. It is held on the wafer sheet 14 with its surface facing up.

上記ウエハシート14に保持されたチップ4のうち、所定の位置のチップ4は図示せぬ突き上げピンによって突き上げられる。突き上げピンによって突き上げられたチップ4はピックアップ装置15を構成する吸着ノズル16によって吸着される。この吸着ノズル16は反転ユニット17に設けられた回転ヘッド18に取り付けられている。この回転ヘッド18は回転駆動される。それによって、上記吸着ノズル16は、吸着面16aが下を向いた位置と、その位置から180度回転して上方を向いた位置とに位置決めされる。   Of the chips 4 held on the wafer sheet 14, the chip 4 at a predetermined position is pushed up by a push-up pin (not shown). The chip 4 pushed up by the push-up pin is sucked by the suction nozzle 16 constituting the pickup device 15. The suction nozzle 16 is attached to a rotary head 18 provided in the reversing unit 17. The rotary head 18 is driven to rotate. Accordingly, the suction nozzle 16 is positioned at a position where the suction surface 16a faces downward and a position where the suction face 16a turns 180 degrees from the position and faces upward.

上記反転ユニット17はガイドロッド19に沿って駆動されるようになっている。このガイドロッド19は上記ウエハステージ12から上記搬送装置2の実装位置に向かって水平に架設されている。それによって、上記ウエハシート14からチップ4を吸着した吸着ノズル16は、図1に鎖線で示すようにチップ4を吸着した吸着面16aを上にして搬送装置2の側方に駆動されて位置決めされる。この位置を受け渡し位置とする。   The reversing unit 17 is driven along the guide rod 19. The guide rod 19 is installed horizontally from the wafer stage 12 toward the mounting position of the transfer device 2. As a result, the suction nozzle 16 that sucks the chips 4 from the wafer sheet 14 is driven and positioned to the side of the transfer device 2 with the suction surface 16a that sucks the chips 4 upward as shown by the chain line in FIG. The This position is the delivery position.

吸着ノズル16が受け渡し位置に位置決めされると、同図に鎖線で示すように実装ツール7が駆動され、上記吸着ノズル16の吸着面16aに吸着されたチップ4を受け取る。ついで、この実装ツール7が実線で示すように基板1の上方の実装位置に位置決めされる。   When the suction nozzle 16 is positioned at the delivery position, the mounting tool 7 is driven as indicated by a chain line in the drawing to receive the chip 4 sucked on the suction surface 16a of the suction nozzle 16. Next, the mounting tool 7 is positioned at a mounting position above the substrate 1 as indicated by a solid line.

それと同時に、上記ステージツール5が上昇方向に駆動されて基板1の下面を支持する。そして、上記実装ツール7が下降方向に駆動されることで、上記基板1の上記ステージツール5によって支持された部分に、上記実装ツール7に保持されたチップ4が実装されることになる。   At the same time, the stage tool 5 is driven in the upward direction to support the lower surface of the substrate 1. When the mounting tool 7 is driven in the downward direction, the chip 4 held by the mounting tool 7 is mounted on the portion of the substrate 1 supported by the stage tool 5.

なお、上記ステージツール5と実装ツール7とには、それぞれ図示しないヒータが設けられている。それによって、上記チップ4や基板1のチップ4が実装される部分を加熱し、上記チップ4を基板1に熱圧着するようになっている。   The stage tool 5 and the mounting tool 7 are each provided with a heater (not shown). Accordingly, the chip 4 or the portion of the substrate 1 where the chip 4 is mounted is heated, and the chip 4 is thermocompression bonded to the substrate 1.

基板1にチップ4を実装する実装位置の上方には基板1を撮像してチップ4の実装位置を認識する第1のカメラ21が配置されている。上記実装ツール7が上記吸着ノズル16からチップ4を受け取る受け渡し位置の上方には、吸着ノズル16に保持されたチップ4の位置を認識する第2のカメラ22が配置されている。チップ4を受けた上記実装ツール7が通過する位置の下方には、この実装ツール7に保持されたチップ4の位置を認識する第3のカメラ23が配置されている。   A first camera 21 that images the substrate 1 and recognizes the mounting position of the chip 4 is disposed above the mounting position where the chip 4 is mounted on the substrate 1. A second camera 22 for recognizing the position of the chip 4 held by the suction nozzle 16 is disposed above the delivery position where the mounting tool 7 receives the chip 4 from the suction nozzle 16. A third camera 23 for recognizing the position of the chip 4 held by the mounting tool 7 is disposed below the position where the mounting tool 7 that has received the chip 4 passes.

第1乃至第3のカメラ21〜23の撮像信号は図示しない制御装置に設けられた画像処理部に入力される。そして、制御装置は上記画像処理部で処理されたチップ4と基板の座標信号に基づいて上記実装ツール7を基板1に対して位置決めし、この基板1に上記チップ4を精密に位置決めして実装させるようになっている。   The imaging signals of the first to third cameras 21 to 23 are input to an image processing unit provided in a control device (not shown). Then, the control device positions the mounting tool 7 with respect to the substrate 1 based on the coordinate signal of the chip 4 and the substrate processed by the image processing unit, and precisely positions and mounts the chip 4 on the substrate 1. It is supposed to let you.

図2(a)〜(c)に示すように、上記吸着ノズル16には吸引孔25が軸方向に貫通して形成されている。つまり、吸着ノズル16は筒状になっている。吸引孔25の先端は上記吸着ノズル16の先端面に開口し、後端は吸引チューブを介して真空ポンプ(ともに図示せず)に接続されている。それによって、吸引孔25には吸引力が生じるようになっている。   As shown in FIGS. 2A to 2C, the suction nozzle 16 is formed with a suction hole 25 penetrating in the axial direction. That is, the suction nozzle 16 is cylindrical. The front end of the suction hole 25 opens at the front end surface of the suction nozzle 16, and the rear end is connected to a vacuum pump (both not shown) through a suction tube. As a result, a suction force is generated in the suction hole 25.

上記吸引孔25の先端部の内周面には、複数の矩形状の凹部26、この実施の形態では3つの凹部26が周方向に120度間隔で、しかも吸着ノズル16の下端面に開放して形成されている。凹部26の数と周方向の間隔は、上記ウエハステージ12から取り出すチップ4の上記吸着ノズル16によって吸着される面に設けられたバンプ27の数及び配置状態によって決定されている。この実施の形態では、上記凹部26は周方向に120度間隔で形成されている。   On the inner peripheral surface of the tip of the suction hole 25, a plurality of rectangular recesses 26, in this embodiment, three recesses 26 are opened at 120 ° intervals in the circumferential direction and open to the lower end surface of the suction nozzle 16. Is formed. The number of the recesses 26 and the interval in the circumferential direction are determined by the number and arrangement state of the bumps 27 provided on the surface of the chip 4 taken out from the wafer stage 12 that is sucked by the suction nozzle 16. In this embodiment, the recesses 26 are formed at intervals of 120 degrees in the circumferential direction.

したがって、上記吸着ノズル16を上記回転ヘッド18に取り付ける際、吸引孔25の内周面に形成された3つの凹部26の回転方向の位置を、ウエハステージ12に保持されたチップ4に合わせれば、ウエハステージ12からチップ4を吸着して取り出すときに、図2(c)に示すように各凹部26にバンプ27が係合することになる。   Therefore, when the suction nozzle 16 is attached to the rotary head 18, the rotational position of the three recesses 26 formed on the inner peripheral surface of the suction hole 25 is matched with the chip 4 held on the wafer stage 12. When the chip 4 is sucked and taken out from the wafer stage 12, the bumps 27 are engaged with the respective recesses 26 as shown in FIG.

なお、チップ4に設けられるバンプ27の数と配置状態は、同一の製品を製造する場合には同じであり、しかもウエハステージ12に保持された状態において、同じ方向になっている。また、凹部26は吸引孔25の軸方向全長にわたって形成してもよいが、少なくとも先端部に形成すればよい。   Note that the number and arrangement of bumps 27 provided on the chip 4 are the same when the same product is manufactured, and are in the same direction when held on the wafer stage 12. Moreover, although the recessed part 26 may be formed over the axial direction full length of the suction hole 25, it should just be formed in the front-end | tip part at least.

このような構成の実装装置によれば、基板1にチップ4を実装する際、まず、チップ4は吸着ノズル16によってウエハステージ12から吸着されて取り出される。吸着ノズル16がチップ4を吸着する際、チップ4のバンプ27が形成された面を吸着する。   According to the mounting apparatus having such a configuration, when the chip 4 is mounted on the substrate 1, the chip 4 is first sucked from the wafer stage 12 by the suction nozzle 16 and taken out. When the suction nozzle 16 sucks the chip 4, the surface of the chip 4 on which the bumps 27 are formed is sucked.

吸着ノズル16がチップ4のバンプ27が形成された面を吸着すると、図2(b)に示すように、上記バンプ27の大部分は吸引孔25内に入り込むが、各バンプ27の吸引孔25の径方向外方に対応する外周部分は吸着ノズル16の下端面に開放した凹部26に入り込んで係合する。   When the suction nozzle 16 sucks the surface of the chip 4 on which the bumps 27 are formed, most of the bumps 27 enter the suction holes 25 as shown in FIG. The outer peripheral portion corresponding to the outer side in the radial direction enters and engages with the recessed portion 26 opened at the lower end surface of the suction nozzle 16.

それによって、図2(b)にgで示すようにチップ4のバンプ27が形成された面と、吸着ノズル16の下端面との間に隙間が生じるが、その隙間gは、吸着ノズル16に凹部26が形成されていない場合に比べて小さくなる。それによって、上記隙間gが小さくなった分だけ、チップ4に作用する吸引力が大きくなり、チップ4の保持状態が確実となるばかりか、凹部26にバンプ27が係合することで、チップ4が吸着ノズル16の下端面で回転方向に位置ずれするのが防止される。   As a result, a gap is formed between the surface of the chip 4 on which the bumps 27 are formed and the lower end surface of the suction nozzle 16 as indicated by g in FIG. This is smaller than the case where the recess 26 is not formed. As a result, the suction force acting on the chip 4 is increased by the amount of the gap g being reduced, and the holding state of the chip 4 is ensured. Is prevented from being displaced in the rotational direction at the lower end surface of the suction nozzle 16.

これらのことによって、チップ4は、ピックアップ装置15の吸着ノズル16によって吸着されて取り出されてから実装ツール7に受け渡されるまでの間に上記吸着ノズル16に対して回転して位置がずれたり、吸着ノズル16から脱落するなどのことが防止される。   As a result, the chip 4 rotates with respect to the suction nozzle 16 and is displaced from the time it is sucked and taken out by the suction nozzle 16 of the pickup device 15 until it is delivered to the mounting tool 7. It is prevented from dropping off from the suction nozzle 16.

その結果、上記チップ4は、第2のカメラ22の位置認識に基づいて実装ツール7に確実に受け渡されることになるから、この実装ツール7による基板1への実装も高い位置決め精度で確実に行われることになる。   As a result, the chip 4 is surely delivered to the mounting tool 7 based on the position recognition of the second camera 22, so that the mounting tool 7 can be mounted on the substrate 1 with high positioning accuracy. Will be done.

図3(a)〜(c)はそれぞれこの発明の第2乃至第4の実施の形態で、吸着ノズル16の吸引孔25の内周面に形成される凹部の変形例を示す。図3(a)の第2の実施の形態は第1の実施の形態に示された矩形状の凹部26に代わり、円弧状の凹部26aとしたものであり、図3(b)の第3の実施の形態は円弧状の凹部26bと、隣り合う凹部26bの円弧による山形状の凸部29aとを交互に形成するようにした。   FIGS. 3A to 3C show second to fourth embodiments of the present invention, respectively, and show modifications of the recesses formed on the inner peripheral surface of the suction hole 25 of the suction nozzle 16. In the second embodiment of FIG. 3A, an arcuate recess 26a is used instead of the rectangular recess 26 shown in the first embodiment, and the third embodiment of FIG. In this embodiment, arc-shaped concave portions 26b and mountain-shaped convex portions 29a formed by arcs of adjacent concave portions 26b are alternately formed.

図3(c)の第4の実施の形態は、円弧状の凹部26aに代わり、山形状の凹部26cと凸部29bとを吸引孔25の内周面全長にわたって交互に形成するようにした。   In the fourth embodiment shown in FIG. 3C, instead of the arc-shaped concave portion 26a, the mountain-shaped concave portion 26c and the convex portion 29b are alternately formed over the entire inner peripheral surface of the suction hole 25.

吸引孔25の内周面に形成される凹部が図3(a)〜(c)の各実施の形態に示す形状であっても、第1の実施の形態と同様、吸着ノズル16によってチップ4を位置ずれが生じることなく、確実に吸着保持することができる。   Even if the recess formed in the inner peripheral surface of the suction hole 25 has the shape shown in each embodiment of FIGS. 3A to 3C, the chip 4 is formed by the suction nozzle 16 as in the first embodiment. Can be reliably adsorbed and held without any positional deviation.

とくに、図3(b)、(c)に示すように、吸引孔25の内周面全長にわたって凹部と凸部とを交互に形成すれば、内周面の凹部にバンプ27が係合する位置にあれば、その範囲でチップ4に設けられるバンプ27の数や位置に制限を受けることなく、吸着ノズル16Aによってチップ4を位置ずれが生じないよう吸着保持することが可能となる。   In particular, as shown in FIGS. 3B and 3C, if the concave portions and the convex portions are alternately formed over the entire inner peripheral surface of the suction hole 25, the position where the bumps 27 engage with the concave portions on the inner peripheral surface. If there is, the chip 4 can be sucked and held by the suction nozzle 16A without any restriction on the number and position of the bumps 27 provided on the chip 4 within that range.

図4(a)〜(c)はこの発明の第5の実施の形態を示す。この実施の形態は、吸着ノズル16Aの先端部が四角錐状のテーパ部31を介して他の部分よりも細径な角柱状の吸着部32に形成されている。吸着部32の先端面32aには吸引孔33が開口している。さらに、上記吸着部32の外周面の四隅部にはそれぞれ円弧状の凹部34が形成されている。
上記吸着ノズル16Aによって吸着されるチップ4Aには、図4(c)に示すようにその一方の面の四隅部にそれぞれバンプ27が形成されている。
4A to 4C show a fifth embodiment of the present invention. In this embodiment, the tip of the suction nozzle 16A is formed in a square columnar suction part 32 having a smaller diameter than other parts via a quadrangular pyramid taper part 31. A suction hole 33 is opened in the distal end surface 32 a of the suction portion 32. Further, arc-shaped concave portions 34 are formed at the four corners of the outer peripheral surface of the suction portion 32, respectively.
As shown in FIG. 4C, bumps 27 are formed on the four corners of one surface of the chip 4A sucked by the suction nozzle 16A.

このような構成によれば、吸引孔33に吸引力を生じさせ、上記ノズル16Aの吸着部32の先端面32aでチップ4Aのバンプ27が形成された面を吸着すると、上記バンプ27が上記凹部34に係合する。   According to such a configuration, when a suction force is generated in the suction hole 33 and the surface on which the bump 27 of the chip 4A is formed is sucked by the tip surface 32a of the suction portion 32 of the nozzle 16A, the bump 27 becomes the concave portion. 34 is engaged.

したがって、この第5の実施の形態の場合も、吸着部32に吸着保持されたチップ4Aが回転したり、位置ずれするのを防止できるから、実装ツール7に確実に受け渡すことができる。   Therefore, in the case of the fifth embodiment as well, it is possible to prevent the chip 4A sucked and held by the sucking portion 32 from rotating or being displaced, so that it can be reliably transferred to the mounting tool 7.

図5(a)〜(d)は吸着部32の外周面に形成される凹部の変形例を示す第6乃至第9の実施の形態を示す。図5(a)に示す第6の実施の形態は、吸着部32の外周面の全長にわたって円弧状の凹部34aと、隣り合う凹部34aの円弧によって山形状の凸部35aを交互に形成するようにした。   FIGS. 5A to 5D show sixth to ninth embodiments showing modifications of the recesses formed on the outer peripheral surface of the suction portion 32. In the sixth embodiment shown in FIG. 5A, the arc-shaped concave portions 34a and the mountain-shaped convex portions 35a are alternately formed by the arcs of the adjacent concave portions 34a over the entire length of the outer peripheral surface of the adsorption portion 32. I made it.

図5(b)に示す第7の実施の形態は、吸着部32の外周面の全長にわたって山形状の凹部34bと山形状の凸部35bを交互に形成するようにした。
図5(c)に示す第8の実施の形態は、第1の実施の形態のように3つのバンプ27が形成されたチップ4を吸着する場合のノズル16Aの吸着部32Aを示し、この吸着部32Aは円柱状であって、その外周面にはU字状の3つの凹部34cが周方向に120度間隔で形成されている。
In the seventh embodiment shown in FIG. 5B, the mountain-shaped concave portions 34 b and the mountain-shaped convex portions 35 b are alternately formed over the entire length of the outer peripheral surface of the suction portion 32.
The eighth embodiment shown in FIG. 5C shows the suction part 32A of the nozzle 16A when sucking the chip 4 on which the three bumps 27 are formed as in the first embodiment. The portion 32A has a cylindrical shape, and three U-shaped concave portions 34c are formed on the outer peripheral surface thereof at intervals of 120 degrees in the circumferential direction.

図5(d)に示す第9の実施の形態は、図4に示す第5の実施の形態のように4つのバンプ27を有するチップ4Aを吸着する場合の吸着部32Bを示し、この吸着部32Bは円柱状であって、その外周面にはU字状の4つの凹部34cが周方向に90度間隔で形成されている。   The ninth embodiment shown in FIG. 5D shows an adsorption portion 32B in the case of adsorbing a chip 4A having four bumps 27 as in the fifth embodiment shown in FIG. 32B has a cylindrical shape, and four U-shaped concave portions 34c are formed on the outer peripheral surface thereof at intervals of 90 degrees in the circumferential direction.

図5(a)〜(d)に示すいずれの実施の形態であっても、チップ4,4Aを吸着したとき、そのバンプ27が凹部34a、34b、34cに係合するから、吸着部32,32A,32Bに吸着保持されたチップ4,4Aを位置ずれが生じることなく確実に吸着保持することができる。   In any of the embodiments shown in FIGS. 5A to 5D, when the chips 4 and 4A are sucked, the bumps 27 engage with the recesses 34a, 34b, and 34c. The chips 4 and 4A sucked and held by the 32A and 32B can be surely sucked and held without any positional deviation.

とくに、図5(a),(b)に示すように、吸着部32の外周面の全長にわたって凹部34a,34bと凸部35a,35bを交互に形成すれば、外周面の凹部34a,34bにバンプ27が係合する位置にあればよいから、その範囲でチップ4,4Aに設けられるバンプ27の数や位置に制限を受けることなく、吸着部32,32A,32Bにチップ4,4Aを位置ずれが生じることなく吸着保持することが可能となる。   In particular, as shown in FIGS. 5A and 5B, if the concave portions 34a and 34b and the convex portions 35a and 35b are alternately formed over the entire length of the outer peripheral surface of the suction portion 32, the concave portions 34a and 34b on the outer peripheral surface are formed. Since the bumps 27 need only be located at the positions where the bumps 27 are engaged, the chips 4, 4A are positioned on the suction portions 32, 32A, 32B without being limited by the number and positions of the bumps 27 provided on the chips 4, 4A within that range. It is possible to hold by suction without causing a shift.

図5(c),(d)に示す実施の形態において、凹部をU字状としたが、U字状に代わり円弧状や山形状であってもよい。   In the embodiment shown in FIGS. 5C and 5D, the concave portion is U-shaped, but it may be arc-shaped or mountain-shaped instead of U-shaped.

この発明は上記各実施の形態に限定されず、たとえば吸着ノズルの先端部の外周面に形成される係合部は凹部でなく、吸着ノズルの先端部の断面形状を多角形状とし、その角部をバンプに係合させることで、吸着ノズルの先端部に吸着されたチップが位置ずれするのを防止するようにしてもよい。   The present invention is not limited to the above-described embodiments. For example, the engaging portion formed on the outer peripheral surface of the tip portion of the suction nozzle is not a recess, and the cross-sectional shape of the tip portion of the suction nozzle is a polygonal shape, By engaging with the bump, the chip adsorbed on the tip of the adsorption nozzle may be prevented from being displaced.

この発明の第1の実施の形態を示すフリップチップ方式の実装装置の概略的構成図。1 is a schematic configuration diagram of a flip chip type mounting apparatus showing a first embodiment of the present invention; FIG. (a)は吸着ノズルの先端部とチップを示す斜視図、(b)は吸着ノズルがチップを吸着した状態の断面図、(c)は吸着ノズルがチップを吸着した状態の平面図。(A) is a perspective view which shows the front-end | tip part and chip | tip of an adsorption nozzle, (b) is sectional drawing of the state in which the adsorption nozzle adsorb | sucked the chip | tip, (c) is a top view in the state in which the adsorption nozzle adsorb | sucked the chip | tip. (a)〜(c)はそれぞれこの発明の第2乃至第4の実施の形態の吸着ノズルの吸引孔の内周面に形成された凹部を示す図。(A)-(c) is a figure which shows the recessed part formed in the internal peripheral surface of the suction hole of the suction nozzle of 2nd thru | or 4th Embodiment of this invention, respectively. この発明の第5の実施の形態を示し、(a)は吸着ノズルの先端部分の斜視図、(b)は吸着ノズルの先端面を示す平面図、(c)は鎖線で示す吸着ノズルによってチップを吸着したときの説明図。FIG. 10 shows a fifth embodiment of the present invention, where (a) is a perspective view of the tip portion of the suction nozzle, (b) is a plan view showing the tip surface of the suction nozzle, and (c) is a chip formed by the suction nozzle indicated by a chain line. Explanatory drawing when adsorb | sucking. (a)〜(d)はそれぞれこの発明の第6乃至第9の実施の形態の吸着ノズルの先端部の外周面に形成された凹部を示す図。(A)-(d) is a figure which shows the recessed part formed in the outer peripheral surface of the front-end | tip part of the suction nozzle of 6th thru | or 9th embodiment of this invention, respectively.

符号の説明Explanation of symbols

1…基板、4,4A…チップ(チップ部品)、15…ピックアップ装置、16,16A…吸着ノズル、25,33…吸引孔、26,26a〜26c,34,34a,34b,34c…凹部。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Board | substrate, 4 and 4A ... Chip | tip (chip components), 15 ... Pick-up apparatus, 16, 16A ... Adsorption nozzle, 25, 33 ... Suction hole, 26, 26a-26c, 34, 34a, 34b, 34c ... Recessed part.

Claims (7)

チップ部品をバンプが形成された面を吸着して取り出すチップ部品のピックアップ装置であって、
吸引孔が先端面に開口して形成された吸着ノズルを有し、この吸着ノズルの先端部には、上記吸着ノズルが上記チップ部品のバンプが形成された面を吸着したときに、上記バンプに係合する係合部が形成されていることを特徴とするピックアップ装置。
A chip component pick-up device that picks up the chip component by sucking the surface on which the bump is formed,
There is a suction nozzle formed by opening a suction hole on the tip surface, and the tip of the suction nozzle is attached to the bump when the suction nozzle sucks the surface on which the bump of the chip component is formed. A pickup device characterized in that an engaging portion to be engaged is formed.
上記係合部は、上記吸引孔の内周面に形成された凹部であることを特徴とする請求項1記載のピックアップ装置。   The pickup device according to claim 1, wherein the engaging portion is a recess formed in an inner peripheral surface of the suction hole. 上記吸引孔の内周面には、周方向の全長にわたって上記凹部が凸部と交互に形成されていることを特徴とする請求項2記載のピックアップ装置。   3. The pickup device according to claim 2, wherein the recesses are alternately formed with the projections on the inner peripheral surface of the suction hole over the entire length in the circumferential direction. 上記係合部は、上記吸着ノズルの先端部の外周面に形成された凹部であることを特徴とする請求項1記載のピックアップ装置。   The pickup device according to claim 1, wherein the engaging portion is a concave portion formed on an outer peripheral surface of a tip portion of the suction nozzle. 上記吸着ノズルの先端部の外周面には、周方向の全長にわたって上記凹部が凸部と交互に形成されていることを特徴とする請求項4記載のピックアップ装置。   5. The pickup device according to claim 4, wherein the concave portion is formed alternately with the convex portion over the entire length in the circumferential direction on the outer peripheral surface of the tip portion of the suction nozzle. 上記係合部は、上記チップ部品に設けられたバンプの数及び位置に対応して形成されていることを特徴とする請求項1記載のピックアップ装置。   2. The pickup device according to claim 1, wherein the engaging portion is formed corresponding to the number and position of bumps provided on the chip component. チップ部品を基板に実装する実装装置であって、
部品供給部に設けられた上記チップ部品を吸着するピックアップ装置と、
このピックアップ装置によって吸着されたチップ部品を受け取って上記基板に実装する実装ツールとを具備し、
上記ピックアップ装置は、吸引孔が先端面に開口して形成された吸着ノズルを有し、この吸着ノズルの先端部には、上記吸着ノズルが上記チップ部品のバンプが形成された面を吸着したときに、上記バンプに係合する凹部が形成されていることを特徴とする実装装置。
A mounting device for mounting chip components on a substrate,
A pickup device for adsorbing the chip component provided in the component supply unit;
A mounting tool for receiving a chip component adsorbed by the pickup device and mounting the chip component on the substrate;
The pickup device has a suction nozzle formed with a suction hole opened on a tip surface, and when the suction nozzle sucks a surface on which a bump of the chip component is formed on the tip of the suction nozzle And a recess for engaging with the bump.
JP2005238885A 2004-09-06 2005-08-19 Chip component pickup device and mounting device Expired - Fee Related JP4629532B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005238885A JP4629532B2 (en) 2004-09-06 2005-08-19 Chip component pickup device and mounting device

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004258535 2004-09-06
JP2005238885A JP4629532B2 (en) 2004-09-06 2005-08-19 Chip component pickup device and mounting device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006100800A true JP2006100800A (en) 2006-04-13
JP4629532B2 JP4629532B2 (en) 2011-02-09

Family

ID=36240262

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005238885A Expired - Fee Related JP4629532B2 (en) 2004-09-06 2005-08-19 Chip component pickup device and mounting device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4629532B2 (en)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011071159A (en) * 2009-09-24 2011-04-07 Kyocera Corp Vacuum suction nozzle
US8617923B2 (en) 2011-04-04 2013-12-31 Elpida Memory, Inc. Semiconductor device manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device
JP2016039316A (en) * 2014-08-08 2016-03-22 三菱電機株式会社 Conveyance method of electronic component, electronic component, manufacturing method of electronic component, and manufacturing method of electronic device
US11892128B2 (en) * 2018-10-16 2024-02-06 Ledvance Gmbh Illumination device with leadframe

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0888239A (en) * 1994-09-19 1996-04-02 Oki Electric Ind Co Ltd Die bonding collet, and adsorbing method of semiconductor device using thereof
JP2003168892A (en) * 2001-12-03 2003-06-13 Ricoh Microelectronics Co Ltd Verification method for mounting accuracy, method and device for mounting, and fixture for verifying mounting accuracy
JP2007005336A (en) * 2005-06-21 2007-01-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic component mounting device, electronic component mounting method, and holding tool

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0888239A (en) * 1994-09-19 1996-04-02 Oki Electric Ind Co Ltd Die bonding collet, and adsorbing method of semiconductor device using thereof
JP2003168892A (en) * 2001-12-03 2003-06-13 Ricoh Microelectronics Co Ltd Verification method for mounting accuracy, method and device for mounting, and fixture for verifying mounting accuracy
JP2007005336A (en) * 2005-06-21 2007-01-11 Matsushita Electric Ind Co Ltd Electronic component mounting device, electronic component mounting method, and holding tool

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011071159A (en) * 2009-09-24 2011-04-07 Kyocera Corp Vacuum suction nozzle
US8617923B2 (en) 2011-04-04 2013-12-31 Elpida Memory, Inc. Semiconductor device manufacturing apparatus and method for manufacturing semiconductor device
JP2016039316A (en) * 2014-08-08 2016-03-22 三菱電機株式会社 Conveyance method of electronic component, electronic component, manufacturing method of electronic component, and manufacturing method of electronic device
US11892128B2 (en) * 2018-10-16 2024-02-06 Ledvance Gmbh Illumination device with leadframe

Also Published As

Publication number Publication date
JP4629532B2 (en) 2011-02-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7669317B2 (en) Method for reversing a chip vertically
US6467158B1 (en) Component feeder with load position alignment recognition
TWI716570B (en) Transfer system for flipping and multiple checking of electronic devices
TWI677947B (en) Assembly device for electronic parts
TW201735203A (en) Electronic component mounting apparatus
JP4629532B2 (en) Chip component pickup device and mounting device
TW201730993A (en) Electronic component handling unit
CN104801496A (en) Test handler that picks up electronic devices for testing and an orientation-changing apparatus for use in a test handler
JP2004103923A (en) Device for mounting electronic part and method for mounting the same
KR101082827B1 (en) Flip chip mounting device having a pickup unit integrated with a vision camera
JP2009194046A (en) Substrate conveyor and method of correcting eccentricity of substrate
JPH11102936A (en) Method and equipment for supplying part
KR100309942B1 (en) Arranging apparatus of electronic equipment and the method of arranging thereof
JP3832460B2 (en) Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method
KR100889040B1 (en) Flipper of semiconductor die bonding apparatus
JP4504308B2 (en) DIE PICKUP METHOD AND DIE PICKUP DEVICE
KR101442350B1 (en) Solderball repair apparatus
TWI703668B (en) Large size wafer bonding apparatus
JP3672906B2 (en) Bonding equipment
JP4296826B2 (en) Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method
JP5060273B2 (en) Electronic component peeling device
KR940002759B1 (en) Inner lead bonding apparatus
KR20190118359A (en) Dual Head Flip Chip Bonging Apparatus
WO2022137363A1 (en) Component mounting apparatus and component mounting method
JP2006319281A (en) Arm driving mechanism, packaging apparatus, method for driving arm, and method for packaging

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080526

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20101001

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20101005

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101018

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101109

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131119

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees