JP2006099900A - 光ディスク装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】システムコントローラ32は、光ディスク10のテストエリアに記録パワーを変化させてテストデータを記録し、γ値や変調度に基づき記録パワーPoを選択し、Pw=ρ・Poにより最適記録パワーPwを仮設定する。システムコントローラ32は、その後、仮設定された最適記録パワーでランダムデータを2〜3ECCブロック分記録し、再生信号の変調度やエラーレートに応じて係数ρを増減変更し最適記録パワーPwを微調整する。
【選択図】図1
Description
なお、I14は14Tの振幅(I14H−I14L)である。3Tの振幅中心と14Tの振幅中心がずれていない場合にはアシンメトリ=0%となり、これは再生RF信号をAC結合した中心レベルと基準電圧Refレベルとが一致することを意味する。
Claims (7)
- 光ディスクに対してデータの記録を行う光ディスク装置であって、
光ピックアップと、
前記光ピックアップから射出されるレーザ光の記録パワーを複数段に変化させて前記光ディスクのテストエリアにテストデータを記録し、該テストデータを再生して得られる第1再生信号品質から仮最適記録パワーを選択する仮選択手段と、
前記仮最適記録パワーで前記テストエリアに任意の有効なデータを記録し、該データを再生して得られる第2再生信号品質から前記仮最適記録パワーを調整することで最適記録パワーを設定する設定手段と、
前記最適記録パワーで前記光ディスクのデータエリアにデータを記録する記録手段と、
を有することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項1記載の装置において、
前記第2再生信号品質は、前記光ピックアップの前記光ディスクに対するチルト角を変化させたときのジッタ量変化を含み、
前記設定手段は、前記ジッタ量が最小となるチルト角に前記光ピックアップを制御し、さらに前記最適記録パワーを設定することを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項1、2のいずれかに記載の装置において、
前記第1再生信号品質は、β値、γ値、変調度、アシンメトリのいずれかを含み、
前記第2再生信号品質は、β値、γ値、変調度、アシンメトリ、エラーレートのいずれかを含み、
前記仮選択手段は、前記第1再生信号品質が所定値となるように選択された記録パワーPoに対して係数ρ(ρ≧1.0)を乗じることで前記仮最適記録パワーPw=ρ・Poを選択し、
前記設定手段は、前記第2再生信号品質が所定値となるように前記係数ρを変更することで前記最適記録パワーを設定する
ことを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項1、2のいずれかに記載の装置において、
前記光ディスクは書き換え可能な光ディスクであり、
前記光ピックアップは、記録時に消去パワー及び記録パワーのレーザ光を順次照射し、
前記第1再生信号品質はβ値、γ値、変調度、アシンメトリのいずれかを含み、
前記第2再生信号品質は、β値、γ値、変調度、エラーレートのいずれか、及びアシンメトリを含み、
前記仮選択手段は、前記第1再生信号品質が所定値となるように選択された記録パワーPoに対して係数ρ(ρ≧1.0)を乗じることで前記仮最適記録パワーPw=ρ・Poを選択し、
前記設定手段は、前記第2再生信号品質のうちの前記β値、γ値、変調度、エラーレートのいずれかが所定値となるように前記係数ρを変更し、かつ、前記アシンメトリが所定値となるように前記記録パワーに対する前記消去パワーの比率ε(ε<1.0)を変更することで前記最適記録パワーを設定する
ことを特徴とする光ディスク装置。 - 書き換え可能な光ディスクに対してデータを記録する光ディスク装置であって、
消去パワー及び記録パワーのレーザ光を順次照射する光ピックアップと、
前記データを再生する信号処理回路と、
前記信号処理回路で得られた信号に基づき前記光ピックアップの前記記録パワーを制御するコントローラと、
を有し、
前記コントローラは、データ記録に先立ち、
前記記録パワーを複数段に変化させつつ前記光ディスクのテストエリアにテストデータを記録し、
前記信号処理回路で前記テストデータを再生して得られるγ値、変調度、アシンメトリのいずれかが所望の値となる記録パワーPoに対して係数ρ(ρ≧1.0)を乗じて得られる記録パワーPw=ρ・Poを仮設定し、
前記記録パワーを仮設定した記録パワーPwに設定して前記光ディスクのテストエリアに任意の有効なデータを記録し、
前記信号処理回路で前記データを再生して得られるγ値、変調度、エラーレートのいずれかが所望の値となるまで前記係数ρを変化させつつ前記ランダムデータの記録を繰り返すことで前記記録パワーPwを最適化する
ことを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項5記載の装置において、
前記コントローラは、
前記信号処理回路で前記データを再生して得られるγ値、変調度、エラーレートのいずれかが所望の値となるまで前記係数ρを変化させつつ前記データの記録を繰り返し、かつ前記アシンメトリが所望の値となるまで前記消去パワーの前記記録パワーに対する比率ε(ε<1.0)を変化させつつ前記データの記録を繰り返すことで前記記録パワーPwを最適化する
ことを特徴とする光ディスク装置。 - 請求項5、6のいずれかに記載の装置において、
前記コントローラは、
前記光ピックアップの前記光ディスクに対するチルト角を変化させたときに前記信号処理回路で前記ランダムデータを再生して得られるジッタ量が最小となるチルト角において前記係数ρを変化させる
ことを特徴とする光ディスク装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004287103A JP2006099900A (ja) | 2004-09-30 | 2004-09-30 | 光ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2004287103A JP2006099900A (ja) | 2004-09-30 | 2004-09-30 | 光ディスク装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2006099900A true JP2006099900A (ja) | 2006-04-13 |
Family
ID=36239529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2004287103A Pending JP2006099900A (ja) | 2004-09-30 | 2004-09-30 | 光ディスク装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2006099900A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007323764A (ja) * | 2006-06-02 | 2007-12-13 | Teac Corp | 光ディスク装置 |
KR101067800B1 (ko) * | 2009-08-06 | 2011-09-27 | 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 | 광디스크 디바이스의 최적 기록 광파워 조정 장치 및 방법 |
-
2004
- 2004-09-30 JP JP2004287103A patent/JP2006099900A/ja active Pending
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JP2007323764A (ja) * | 2006-06-02 | 2007-12-13 | Teac Corp | 光ディスク装置 |
KR101067800B1 (ko) * | 2009-08-06 | 2011-09-27 | 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 | 광디스크 디바이스의 최적 기록 광파워 조정 장치 및 방법 |
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