JP2006098419A - 照射サンプルの特性寸法の光学的取得方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】スペクトル分解能は個別チャネルの数によって測定される。検出器の個別チャネルがすべて同時に読取られるとは限らない場合、個別チャネルの一連の読取りが多重化により従来技術に従って実行される。多重化が試料のスキャンの間の画素滞留時間中に実行される。これには信号が検出される間の個別チャネル当たりの積分時間が多重位置の数だけ低減されるという欠点がある。さらに、広域蛍光スペクトルが測定される場合、信号が読取られない個別チャネルで失われる。別の多重化方法では、個別チャネルの信号が緩和される。次に、個別記憶装置が交互に読取られる。ただし、新しいデータは読取り中記録されない。従って、ライン検出器の読取り速度がこの形式の多重化で低減されることになる。
【選択図】図5
Description
LSMは基本的に4つのモジュール、即ち、光源、走査モジュール、検出ユニット、および顕微鏡から構成される。これらのモジュールは以下に十分に説明する。さらに、ドイツ特許第19702753A1号を参照する。
上記光学装置では、スペクトル分解能は個別チャネルの数によって測定される。検出器の個別チャネルがすべて同時に読取られるとは限らない場合、個別チャネルの一連の読取りが多重化により従来技術に従って実行される。多重化が試料のスキャンの間の画素滞留時間中に実行される。これには信号が検出される間の個別チャネル当たりの積分時間が多重位置の数だけ低減されるという欠点がある。さらに、広域蛍光スペクトルが測定される場合、信号が読取られない個別チャネルで失われる。別の多重化方法では、個別チャネルの信号が緩和される。次に、個別記憶装置が交互に読取られる。ただし、新しいデータは読取り中記録されない。従って、ライン検出器の読取り速度がこの形式の多重化で低減されることになる。
1.試料のスペクトルにより分析される信号全体が種々の個別チャネル全体にわたる調整可能な加算によって常に検出される。
2.高い信号レベルのため加算チャネルの単純デジタル化が個別チャネル全体にわたる加算によって可能になる。
共焦点検出器では、試料からの光Lは、結像光学系POによって絞り(ピンホール)PHを通して焦束され、その結果、焦点外で生ずる蛍光が遮断される。ノンデスキャン検出では、絞りは省略される。ここでは、光が角分散素子DIによってそのスペクトル成分に分割される。
構造は基本的にチェルニーターナー(CzernyTurner)構造である。共焦点検出では、試料の光Lはピンホール光学系POによって共焦点絞りPHを通して焦束される。多光子吸収の場合のノンデスキャン検出では、この絞りは省略される。第1結像ミラーM2は蛍光を平行にする。続いて、光は線形格子G、例えば、1mm当たり651ラインのライン数を有する格子に当たる。回折格子はその波長に対応して様々な方向に光を曲げる。第2結像ミラーM1により個別にスペクトル分光された波長成分がライン検出器DEの対応チャネルに焦束される。浜松製作所のH7260による第2電子増倍管アレイが特に有益である。検出器には32チャネルがありかつ高感度を有する。
例えば、8チャネルを同時に読取り可能な場合、ここでは前記32チャネル検出器が使用されているが、どの場合にも、加算は4チャネル以上実行される。次に、合計N=32チャネルをn=4ステップで読取られ、加算ウインドが個別チャネル((L/n)=4/4=1)づつどの場合にもずらされる。
個別チャネルの測定された信号はCk、j(図6にブロックとして示した)によって指示される。ここで、k=1...Nはチャネル番号およびj=1...n−1はシフトL/nの倍数である。信号が検出器のエッジに当たらない場合は、図6の斜線で示した検出器の最終個別チャネルはL/nの幅だけが測定のため使用可能であるような方法で補われる(除外される)。これは計算時に人為的な影響を防止する必要がある。
種々の個別チャネルおよび、従ってCk、jの測定値全体にわたる加算を図7に示す。個別チャネルの信号は増幅器Aによって電圧信号に変換される。続いて、個別電圧信号は画素滞留時間中積分器Iで積分される。積分器は積分された信号を基準信号と比較する比較器Kに続く。
制御線V1による加算パターンの変更は記録後、または像点、画像ラインまたは画像縦列の走査中、画像に関して実行される。
EF ダイクロイックブロックフィルタ
PMT 点検出器
ATOF 音響光学フィルタ
PO 結像光学系
PH 絞り(ピンホール)
DI 角分散素子
DE ライン検出器
M 結像ミラー
S スペクトル値
A 増幅器
I 積分器
K 比較器
Reg レジスタ
MPX デマルチプレクサ
SP 加算点
SV 加算増幅器
ADC アナログ−デジタル変換器
Claims (12)
- 試料から後方散乱され、反射されおよび/または蛍光が発せられ、および/または伝導される信号が、試料からの放射がスペクトルにより分離されるように検出器に結像される状態で複数チャネルの空間分解検出器によって検出され、検出チャネルの結合が、読取られてさらに処理される測定値数が検出チャネル数より少ないように行われることを特徴とする照射試料の特性量の光学的取得方法。
- 結合が加算であることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 結合測定値のシフトが実行され、および/または結合検出器チャネルの数が変更されることを特徴とする請求項1または2に記載の方法。
- 結合測定値のシフトが少なくともひとつの検出器チャネルによって行われることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 結合測定値のシフトの大きさが可変であることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 中間値が、検出器ラインの効率的な読取り目的のためのアルゴリズムによって読取り測定値から測定されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- ライン検出器に沿った加算パターンのシフトが、マルチプレクサによって実行されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- スペクトル、スペクトルにより分析される測定が、前記検出器の前の分散素子によって実行されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- スペクトルにより分離される放射が前記検出器を基準としてシフトされることを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記分散素子が少なくともひとつの軸の周りに旋回可能であることを特徴とする前記請求項の8項に記載の方法。
- 前記分散素子がその旋回軸の少なくともひとつで静止したままの状態で、この軸における旋回の空間変化効果が走査ユニットによっておよび/または前記検出器の変位によって達成されることを特徴とする請求項8に記載の方法。
- 検出された波長分布(λ−スタック)が格納時それぞれの像点座標X、YまたはZと画像に関して相互に関連付けられおよび/または追加時間相関が測定された時間−可変シーケンスで実行されることを特徴とする請求項1に記載の方法。
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