JP2006073143A - 光ディスク記録装置、および光ディスク記録方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 形成されるピット部/非ピット部のピット長/非ピット長が一定となるように記録レーザ光の照射時間幅が調整され、記録中の光ディスクに物理特性のばらつきがあっても、記録位置によるピット部、非ピット部の長さのばらつきを抑えることができる光ディスク記録装置を提供する。
【解決手段】 記録パルス生成回路11には基準デジタル信号のハイレベルの3Tないし11Tの時間幅毎に記録パルス信号のパルス長が予め設定されおり、記録中に、光ディスク1に形成されたピット長をパルス長測定回路8により測定し、演算回路10により、この測定されたピット長を記憶回路9に予め記憶されている最適ピット長と比較し、この比較結果を基にして、測定されたピット長と最適ピット長とが一致するように、記録パルス生成回路11に予め設定されている記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新する。
【選択図】図1
【解決手段】 記録パルス生成回路11には基準デジタル信号のハイレベルの3Tないし11Tの時間幅毎に記録パルス信号のパルス長が予め設定されおり、記録中に、光ディスク1に形成されたピット長をパルス長測定回路8により測定し、演算回路10により、この測定されたピット長を記憶回路9に予め記憶されている最適ピット長と比較し、この比較結果を基にして、測定されたピット長と最適ピット長とが一致するように、記録パルス生成回路11に予め設定されている記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新する。
【選択図】図1
Description
本発明は、CD−R(Compact Disc−Recordable)ディスクなどの記録可能な光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置、および光ディスク記録方法に関する。
近年、CD−Rディスクなどの記録可能な光ディスクに大容量の情報を記録する技術が普及してきた。光ディスクに情報を記録する場合、再生時に正しく情報を読み出せるように、デジタル化された情報に対してCIRC(Cross Interleaved Reed−Solomon Code)という誤り訂正のためのパリティを付加し、さらにEFM(Eight to Fourteen Modulation)方式により変調を行った後に、記録を行う。
デジタル化され、CIRCを付加された情報は、EFM変調により、所定の基準時間幅Tの3ないし11倍の9通りの時間幅となるハイレベルとローレベルからなる基準デジタル信号に変換される。
光ディスク記録装置は、この基準デジタル信号のハイレベルの3Tないし11Tの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し該記録パルス信号に基づく記録レーザ光を光ディスクの記録面に照射する。
記録レーザ光は、光ディスクの記録面にピット部を形成できる第1のレーザ光と非ピット部を形成する第2のレーザ光からなる。光ディスク記録装置は、記録パルス信号に基づき、基準デジタル信号のハイレベルあるいはローレベルの3Tないし11Tの時間幅に対応する照射時間幅の第1と第2のレーザ光を光ディスクの記録面に照射して、基準デジタル信号のハイレベルあるいはローレベルの3Tないし11Tの時間幅に対応する長さのピット部と非ピット部を形成することで、基準デジタル信号を光ディスクに記録する。
一方、従来より、光ディスクの特性が光ディスクベンダごとに異なるために、基準デジタル信号のハイレベルあるいはローレベルの3Tないし11Tの時間幅が一定であっても、光ディスクに形成されるピット部または非ピット部の長さがばらつくという問題があった。そのため、光ディスク記録装置には、記録レーザ光の照射時間幅を調整する手段が設けられている。
例えば、記録前に予め記録対象の光ディスクに対して、基準デジタル信号のハイレベルあるいはローレベルの3Tないし11Tの時間幅それぞれに対応する最適な記録レーザ光(第1と第2のレーザ光)の照射時間幅を求めて光ディスク記録装置に記憶しておき、実際に該記録対象の光ディスクへ情報を記録するときには、この記憶してある最適な記録レーザ光の照射時間幅を用いるようにしていた。
しかしながら、上記した従来の記録レーザ光の照射時間幅の調整方法では、記録レーザ光の照射時間幅が記録中に調整されないため、記録中の光ディスクに色素の塗りむらや反りなどのあると、記録レーザ光を同じ照射時間幅で照射してもピット部と非ピット部の長さが記録位置によってばらつくという問題があった。
一方、実際の記録中に、光ディスクからの反射光のうちのピット部の後端部に対応する箇所の反射光量と非ピット部の中央部に対応する箇所の反射光量の差が常に基準値と一致するように記録レーザ光の照射時間幅を調整することにより、基準デジタル信号のハイレベルあるいはローレベルの3Tないし11Tの時間幅に対応する記録レーザ光の照射時間幅を一定にする光ディスク記録装置が提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
しかしながら、この従来の光ディスク記録装置は、光ピックアップ、レーザ駆動回路などのばらつきや、温度変動によって、記録パルス信号のパルス長が一定であっても記録レーザ光の照射時間幅がばらつき、光ディスクに形成されるピット部または非ピット部の長さがばらつくという問題には対処できても、光ディスクに色素の塗りむらや反りなどの物理特性のばらつきがあった場合に、記録位置によってピット部、非ピット部の長さがばらつくという問題には対処できなかった。つまり、この従来の光ディスク記録装置では、記録レーザ光の照射時間幅を一定にする調整が行われるので、光ディスクに物理特性のばらつきがあると、記録位置によってピット部、非ピット部の長さがばらつくことになる。
情報の再生時には、ピット部はマークとして認識され、非ピット部(ピットのない部分)はスペースとして認識されるため、形成されたピット部のピット長と非ピット部の非ピット長がばらつくと、情報を再生する際にマーク長、スペース長がばらつくことになり、ジッタやデビエーションが悪化し、再生信号のエラーが増加してしまうという問題があった。
特開平5−282673号公報
本発明は、上記問題点に鑑み、記録中に、光ディスクからの反射光を基にピット長/非ピット長を測定して、予め記憶されている最適ピット長/最適非ピット長と比較し、この比較結果を基にして、測定されたピット長/非ピット長と最適ピット長/最適非ピット長とが一致するように、基準デジタル信号のハイレベルの3Tないし11Tの時間幅毎に予め設定されている記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新することにより、形成されるピット部/非ピット部のピット長/非ピット長が一定となるように記録レーザ光の照射時間幅が調整され、記録中の光ディスクに物理特性のばらつきがあっても、記録位置によるピット部、非ピット部の長さのばらつきを抑えることができる光ディスク記録装置、および光ディスク記録方法を提供することを目的とする。
本発明の請求項1記載の光ディスク記録装置は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射する光ピックアップと、光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定するピット長測定手段と、前記ピット長測定手段により測定されたピット長と予め記憶されている最適ピット長とを比較する比較手段と、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記ピット長測定手段により測定されたピット長と前記最適ピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、を備えることを特徴とする。
本発明の請求項2記載の光ディスク記録装置は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射する光ピックアップと、光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定する非ピット長測定手段と、前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と予め記憶されている最適非ピット長とを比較する比較手段と、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と前記最適非ピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、を備えることを特徴とする。
本発明の請求項3記載の光ディスク記録装置は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射する光ピックアップと、光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定するピット長測定手段と、光ディスクに記録した情報を読み出すのに最適なピット長を前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅ごとに記憶する記憶手段と、入力される前記基準デジタル信号を監視し、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応する最適なピット長を前記記憶手段から読み出す基準デジタル信号監視手段と、前記ピット長測定手段により測定されたピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長とを比較する比較手段と、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記ピット長測定手段により測定されたピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、を備えることを特徴とする。
本発明の請求項4記載の光ディスク記録装置は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射する光ピックアップと、光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定する非ピット長測定手段と、光ディスクに記録した情報を読み出すのに最適な非ピット長を前記基準デジタル信号の前記第2のレベルの各時間幅ごとに記憶する記憶手段と、入力される前記基準デジタル信号を監視し、前記基準デジタル信号の前記第2のレベルの時間幅に対応する最適な非ピット長を前記記憶手段から読み出す基準デジタル信号監視手段と、前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適な非ピット長とを比較する比較手段と、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適な非ピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、を備えることを特徴とする。
本発明の請求項5記載の光ディスク記録装置は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射する光ピックアップと、光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定するピット長測定手段と、光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定する非ピット長測定手段と、光ディスクに記録した情報を読み出すのに最適なピット長および非ピット長を前記基準デジタル信号の前記第1および第2のレベルの各時間幅ごとに記憶する記憶手段と、入力される前記基準デジタル信号を監視し、前記基準デジタル信号が前記第1のレベルのときにはその時間幅に対応する最適なピット長を前記記憶手段から読み出し、前記第2のレベルのときにはその時間幅に対応する最適な非ピット長を前記記憶手段から読み出す基準デジタル信号監視手段と、前記ピット長測定手段および前記非ピット長測定手段により測定されたピット長および非ピット長を前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長および最適な非ピット長と比較する比較手段と、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして、前記ピット長測定手段および前記非ピット長測定手段により測定されたピット長および非ピット長が前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長および最適な非ピット長と一致するように、前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、を備えることを特徴とする。
本発明の請求項6記載の光ディスク記録方法は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録方法であって、情報の記録中に、入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅毎に設定されているパルス長から決定して前記記録パルス信号を生成し、前記生成した前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定し、前記測定したピット長と予め記憶されている最適ピット長とを比較し、前記比較した結果を基にして前記測定したピット長と前記最適ピット長とが一致するように前記設定されている前記記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新することを特徴とする。
本発明の請求項7記載の光ディスク記録方法は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録方法であって、情報の記録中に、入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅毎に設定されているパルス長から決定して前記記録パルス信号を生成し、前記生成した前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定し、前記測定した非ピット長と予め記憶されている最適非ピット長とを比較し、前記比較した結果を基にして前記測定した非ピット長と前記最適非ピット長とが一致するように前記設定されている前記記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新することを特徴とする。
本発明の請求項8記載の光ディスク記録方法は、所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録方法であって、情報の記録中に、入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅毎に設定されているパルス長から決定して前記記録パルス信号を生成し、前記生成した前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射し、光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長と非ピット部の非ピット長を測定し、前記測定したピット長および非ピット長を予め記憶されている最適ピット長および最適非ピット長と比較し、前記比較した結果を基にして、前記測定したピット長および非ピット長が前記最適ピット長および前記最適非ピット長と一致するように、前記設定されている前記記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新することを特徴とする。
本発明によれば、形成されるピット部/非ピット部のピット長/非ピット長が一定となるように記録レーザ光の照射時間幅が調整されるので、記録中の光ディスクに物理特性のばらつきがあっても、記録位置によるピット部、非ピット部の長さのばらつきを抑えることができ、さらに、光ピックアップ、レーザ駆動回路などのばらつきや、温度変動によるピット部、非ピット部の長さのばらつきを抑えることもできる。よって、情報を再生する際のマーク長、スペース長のばらつきも抑えられるので、ジッタやデビエーションを良好なものにでき、再生信号のエラーを抑制することができる。
以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。
図1は、本実施の形態における光ディスク記録装置の構成を表すブロック図である。
図1において、基準デジタル信号aは、周知のEFM変調が施された信号であり、所定の基準時間幅Tの整数倍となる等差級数をなす時間幅3Tないし11Tのハイレベル(第1のレベル)とローレベル(第2のレベル)からなるデジタル信号である。光ディスク1には、この基準デジタル信号aのハイレベルの時間幅に対応する長さのピット部とローレベルの時間幅に対応する長さの非ピット部が形成される。このように光ディスク1にピット部と非ピット部を形成することで、基準デジタル信号aが光ディスク1に記録される。
図1は、本実施の形態における光ディスク記録装置の構成を表すブロック図である。
図1において、基準デジタル信号aは、周知のEFM変調が施された信号であり、所定の基準時間幅Tの整数倍となる等差級数をなす時間幅3Tないし11Tのハイレベル(第1のレベル)とローレベル(第2のレベル)からなるデジタル信号である。光ディスク1には、この基準デジタル信号aのハイレベルの時間幅に対応する長さのピット部とローレベルの時間幅に対応する長さの非ピット部が形成される。このように光ディスク1にピット部と非ピット部を形成することで、基準デジタル信号aが光ディスク1に記録される。
光ディスク1は、CD−Rなどの記録可能な記録媒体であり、情報の再生時や記録時には、周知のように、図示しないスピンドルモータなどによって回転される。
光ピックアップ2は、記録時には、光ディスク1にピット部を形成できる光強度(ピット部形成レベル)の第1のレーザ光と非ピット部を形成する光強度(非ピット部形成レベル)の第2のレーザ光をレーザ駆動回路3から入力される駆動電流に応じて光ディスク1へ照射するとともに、光ディスク1からの反射光をその光量に応じた電圧値となる電圧信号RLに変換して、該電圧信号RLをRFアンプ回路4へ出力する。
光ピックアップ2は、記録時には、光ディスク1にピット部を形成できる光強度(ピット部形成レベル)の第1のレーザ光と非ピット部を形成する光強度(非ピット部形成レベル)の第2のレーザ光をレーザ駆動回路3から入力される駆動電流に応じて光ディスク1へ照射するとともに、光ディスク1からの反射光をその光量に応じた電圧値となる電圧信号RLに変換して、該電圧信号RLをRFアンプ回路4へ出力する。
レーザ駆動回路3は、記録パルス生成回路11から入力される記録パルス信号に応じた駆動電流を光ピックアップ2へ出力する。ここでは、記録パルス信号レベルがハイレベルのときに第1のレーザ光を出力するための駆動電流を出力し、ローレベルのときに第2のレーザ光を出力するための駆動電流を出力する。このようにレーザ駆動回路3は、記録パルス信号に応じて光ピックアップ2を駆動する。
RFアンプ回路4は、光ピックアップ2から入力される電圧信号RLを増幅し、この増幅電圧信号ARLをサンプルホールド回路6と二値化回路7へ出力する。
タイミングパルス発生回路5は、記録パルス生成回路11から入力される記録パルス信号の立ち上がりの直前、すなわち第1のレーザ光が照射される直前のタイミングを検出してタイミングパルス信号TPを生成し、サンプルホールド回路6へ出力する。ここでは、タイミングパルス発生回路5は記録パルス信号の立ち上がりの直前にのみハイレベルとなるタイミングパルス信号TPを生成する。
タイミングパルス発生回路5は、記録パルス生成回路11から入力される記録パルス信号の立ち上がりの直前、すなわち第1のレーザ光が照射される直前のタイミングを検出してタイミングパルス信号TPを生成し、サンプルホールド回路6へ出力する。ここでは、タイミングパルス発生回路5は記録パルス信号の立ち上がりの直前にのみハイレベルとなるタイミングパルス信号TPを生成する。
サンプルホールド回路6は、タイミングパルス発生回路5から入力されるタイミングパルス信号TPに応じてRFアンプ回路4からの増幅電圧信号ARLをサンプリングする。すなわち、サンプルホールド回路6は、タイミングパルス信号TPがハイレベルのとき、RFアンプ回路4からの増幅電圧信号ARLをサンプリングしてその電圧値を検知し、ローレベルのときにはサンプリング時に検知した電圧値を保持する。そして、検知した、又は保持している電圧値を二値化回路7へ出力する。したがって、サンプルホールド回路6は、増幅電圧信号ARLの立ち上がりの直前の電圧値、すなわち第1のレーザ光が照射される直前の第2のレーザ光の反射光量に応じた増幅電圧信号ARLの電圧値を検知する。
二値化回路7は、サンプルホールド回路6から入力される電圧値をしきい値SLとしてRFアンプ回路4から入力される増幅電圧信号ARLを二値化し、光ディスクにピット部が形成される間ハイレベルとなり非ピット部が形成される間ローレベルとなるパルス信号PPを生成してパルス長測定回路8へ出力する。具体的には、二値化回路7は、サンプルホールド回路6から入力される電圧値(しきい値SL)よりもRFアンプ回路4から入力される増幅電圧信号ARLが高い場合及び低い場合と等しい場合で信号レベルが反転するパルス信号PP(ここでは、しきい値SLよりも増幅電圧信号ARLが高い場合及び低い場合にハイレベルとなり、等しい場合にローレベルとなるパルス信号)を生成する。
パルス長測定回路8は、二値化回路7から入力されるパルス信号PPがハイレベルとなる期間とローレベルとなる期間の長さを測定し、この測定長を測定ピット長、測定非ピット長として演算回路10へ出力する。この測定は、例えば、記録パルス生成回路11で生成することができる記録パルス信号の分解能と同等かそれ以上の高い周波数(例えば所定の基準時間幅Tの32倍の周波数)のカウントパルス信号CPの立ち上がりあるいは立下りをカウントすることで行う。
以上のように、本実施の形態では、タイミングパルス発生回路5、サンプルホールド回路6、二値化回路7、パルス長測定回路8によりピット長測定手段および非ピット長測定手段が構成され、光ディスク1へ照射した第1および第2のレーザ光の反射光に基づいて測定ピット長と測定非ピット長が測定される。
記憶回路(記憶手段)9は、光ディスクに記録した情報を読み出すのに最適なピット長および非ピット長を基準デジタル信号aのハイレベルおよびローレベルの3Tないし11Tの時間幅ごとに記憶する。なお、この最適ピット長と最適非ピット長は、測定ピット長と測定非ピット長の初期値としても用いられる。
演算回路10は、基準デジタル信号aを監視して、ハイレベル・ローレベルの判定及び時間幅の判定を行い、その判定結果に対応する最適ピット長と最適非ピット長を記憶回路9から読み出す(基準デジタル信号監視手段)。
また、演算回路10は、測定ピット長および測定非ピット長を保持する。つまり、演算回路10には、基準デジタル信号aのハイレベルおよびローレベルの3Tないし11Tの時間幅それぞれに対応する測定ピット長および測定非ピット長の初期値として記憶回路9に予め記憶されている最適ピット長および最適非ピット長が設定され、パルス長測定回路8から入力される測定ピット長および測定非ピット長によって測定ピット長および測定非ピット長が更新される。
演算回路10は、入力される基準デジタル信号aのハイレベルおよびローレベルの3Tないし11Tの時間幅に対応する最適ピット長および最適非ピット長を記憶回路9から読み出し、保持する測定ピット長および測定非ピット長との差を演算し、この演算結果を記録パルス生成回路11へ出力する。このようにして、演算回路10は、測定ピット長および測定非ピット長と最適ピット長および最適非ピット長の比較を行う(比較手段)。
記録パルス生成回路11には、基準デジタル信号aのハイレベルの3Tないし11Tの時間幅それぞれに対応する記録パルス長(記録パルス信号のハイレベルの時間幅)の初期値として、予め最適な値に調整された時間幅が設定されており、入力される基準デジタル信号aのハイレベルの時間幅に応じて記録パルス長を決定することで記録パルス信号を生成する。
また、記録パルス生成回路11は、演算回路10から与えられる演算結果(比較結果)に基づいて、最適ピット長および最適非ピット長と測定ピット長および測定非ピット長とが一致するように記録パルス長を調整し且つ更新する。
このように、当該光ディスク記録装置では、記録中に、最適ピット長および最適非ピット長と測定ピット長および測定非ピット長とが一致するように記録パルス信号の記録パルス長を調整し且つ更新することで、記録レーザ光(第1と第2のレーザ光)の照射時間幅を最適値に調整して、再生するのに適したピット長および非ピット長となるピット部および非ピット部が光ディスク1に形成されるようにしている。
当該光ディスク記録装置によれば、情報の記録中に記録パルス信号の記録パルス長を調整し且つ更新するので、更新した後のピット部と非ピット部の長さが最適となり、ジッタやデビエーションの悪化を防止でき、再生エラー信号のエラーの増加を防止することができる。
次に、当該光ディスク記録装置による記録中のリアルタイムな記録レーザ光の照射時間幅調整処理の流れ(光ディスク記録方法)について、まず、図1のブロック図と、図2−1、図2−2のフローチャートを表す図と、図3のパルス信号を表す図を用いて、光ディスク1に生成されるピット部のピット長のみを測定して記録レーザ光の照射時間幅を調整する場合について説明する。
図2−1において、ステップSP1では、演算回路10が、基準デジタル信号aのハイレベルの3Tないし11Tの時間幅それぞれに対応する測定ピット長の初期値として、記憶回路9に記憶されている最適ピット長を、変数3Tpit〜11Tpitに設定し(測定ピット長の初期化)、ステップSP2へ進む。
ステップSP2では、記録パルス生成回路11が、基準デジタル信号aのハイレベルの3Tないし11Tの時間幅それぞれに対応する記録パルス長の初期値として、予め調整された最適な値を変数3Tws〜11Twsに設定し(記録パルス長の初期化)、ステップSP3へ進む。
ステップSP3では、当該光ディスク記録装置は、基準デジタル信号aが更新されていなければ更新されるまで待ち、更新された場合はステップSP4へ進む。基準デジタル信号aは、記録が開始されるか、または既に記録が開始されている状態にあるときに更新されたと判定される。
ステップSP4では、演算回路10が基準デジタル信号aを監視し、基準デジタル信号aのハイレベルの時間幅を判別し、その時間幅が3Tの場合はステップSP31へ進み、4Tの場合はステップSP41へ進み、5Tの場合はステップSP51へ進み、6Tの場合はステップSP61へ進み、7Tの場合はステップSP71へ進み、8Tの場合はステップSP81へ進み、9Tの場合はステップSP91へ進み、10Tの場合はステップSP101へ進み、11Tの場合はステップSP111へ進む。
ステップSP31では、演算回路10が記憶回路9から基準デジタル信号aの時間幅3Tのハイレベルに対応する最適ピット長を読み出し、変数OPTとして保持して、ステップSP32へ進む。
ステップSP32では、演算回路10が基準デジタル信号aの時間幅3Tのハイレベルに対応する測定ピット長3Tpit(測定値)と最適ピット長OPT(最適値)との差を求め、補正値DIFとして保持し、ステップSP33へ進む。
ステップSP33では、記録パルス生成回路11が、基準デジタル信号aの時間幅3Tのハイレベルに対応する記録パルス長3Twsに補正値DIFを加算した値を調整後の新たな記録パルス長3Twsとして保持し、Aへ進む。なお、ステップSP41〜ステップSP43、ステップSP51〜ステップSP53、ステップSP61〜ステップSP63、ステップSP71〜ステップSP73、ステップSP81〜ステップSP83、ステップSP91〜ステップSP93、ステップSP101〜ステップSP103、ステップSP111〜ステップSP113については、基準デジタル信号aのハイレベルの時間幅が4Tから11Tの場合であり、時間幅3Tの場合と同様の処理が行われて、Aへ進む。
図2−1におけるAは、図2−2におけるAに接続する。図2−2において、AからはステップSP5へ進む。ステップSP5では、記録パルス生成回路11が、基準デジタル信号aに基づいて記録パルス長を決定することで記録パルス信号を生成して、レーザ駆動回路3へ出力し、ステップSP6へ進む。
ステップSP6では、レーザ駆動回路3と光ピックアップ2によって光ディスク1に対して記録パルス信号に基づいた記録レーザ光WPが照射され、ステップSP7へ進む。
ステップSP7では、光ピックアップ2によって反射光量に応じた電圧値となる電圧信号RLが生成され、ステップSP8へ進む。なお、電圧信号RLの波形は、例えば図3に示すようになる。また、記録レーザ光WPの光強度がピット部形成レベルとなる時間幅(第1のレーザ光の照射時間幅)は、記録パルス信号レベルがハイレベルとなる時間幅に対応し、記録レーザ光WPの光強度が非ピット部形成レベルとなる時間幅(第2のレーザ光の照射時間幅)は、記録パルス信号レベルがローレベルとなる時間幅に対応する。
ステップSP7では、光ピックアップ2によって反射光量に応じた電圧値となる電圧信号RLが生成され、ステップSP8へ進む。なお、電圧信号RLの波形は、例えば図3に示すようになる。また、記録レーザ光WPの光強度がピット部形成レベルとなる時間幅(第1のレーザ光の照射時間幅)は、記録パルス信号レベルがハイレベルとなる時間幅に対応し、記録レーザ光WPの光強度が非ピット部形成レベルとなる時間幅(第2のレーザ光の照射時間幅)は、記録パルス信号レベルがローレベルとなる時間幅に対応する。
ステップSP8では、タイミングパルス発生回路5で発生したタイミングパルス信号TPをイネーブル信号として動作するサンプルホールド回路6によって、RFアンプ回路4から出力される増幅電圧信号ARLから記録レーザ光WPがピット部形成レベルになる直前の電圧値を取得し、二値化回路7にてこの電圧値をしきい値SLとして、RFアンプ回路4から出力される増幅電圧信号ARLがしきい値SLより高い場合にハイレベルとなる信号(図3に示すUL)としきい値SLより低い場合にハイレベルとなる信号(図3に示すLL)を加算して、光ディスクにピット部が形成される間ハイレベルとなり非ピット部が形成される間ローレベルとなるパルス信号PPを生成し、ステップSP9へ進む。
ステップSP9では、パルス長測定回路8が、パルス信号PPがハイレベルとなる期間だけカウントパルス信号CPの立ち上がりあるいは立下りをカウントしていき、該カウント数とカウントパルス信号CPの周期を乗算してパルス信号PPのハイレベルの時間幅を測定することでピット部のピット長に相当する値(測定ピット長)を得て、ステップSP10へ進む。
ステップSP10では、演算回路10が、入力される基準デジタル信号aのハイレベルの時間幅を判別し、3Tの場合はステップSP34へ進み、4Tの場合はステップSP44へ進み、5Tの場合はステップSP54へ進み、6Tの場合はステップSP64へ進み、7Tの場合はステップSP74へ進み、8Tの場合はステップSP84へ進み、9Tの場合はステップSP94へ進み、10Tの場合はステップSP104へ進み、11Tの場合はステップSP114へ進む。
ステップSP34では、演算回路10が、図2−2におけるステップSP9でパルス長測定回路8により測定された測定ピット長の値を変数3Tpitへ設定し、測定ピット長3Tpitの値を更新して、ステップSP11へ進む。なお、ステップSP44〜ステップSP114については、基準デジタル信号aのハイレベルの時間幅が4Tから11Tの場合であり、時間幅3Tの場合と同様の処理が行われて、ステップSP11へ進む。
ステップSP11では、記録終了か否かを判別し、記録が終了するときは処理を終了し、記録が終了しないときはBへ進む。なお、図2−2におけるBは図2−1におけるBに接続する。以降、図2−1におけるBから図2−1におけるステップSP3へ進み、上述した処理を繰り返す。
次に、図1のブロック図と、図4−1、図4−2のフローチャートを表す図と、図3のパルス信号を表す図を用いて、光ディスク1に生成される非ピット部の非ピット長のみを測定して記録レーザ光の照射時間幅を調整する場合について説明する。
図4−1において、ステップSPs1では、演算回路10が、基準デジタル信号aのローレベルの3Tないし11Tの時間幅それぞれに対応する測定非ピット長の初期値として、記憶回路9に記憶されている最適非ピット長を、変数3Tspc〜11Tspcに設定し(測定非ピット長の初期化)、ステップSPs2へ進む。
ステップSPs2では、記録パルス生成回路11が、基準デジタル信号aの時間幅3Tないし11Tのローレベルの直後に現れる時間幅3Tないし11Tのハイレベルに対応する記録パルス長の初期値として、予め調整された最適な値を変数3Tb3ws〜11Tb3ws、3Tb4ws〜11Tb4ws、3Tb5ws〜11Tb5ws、3Tb6ws〜11Tb6ws、3Tb7ws〜11Tb7ws、3Tb8ws〜11Tb8ws、3Tb9ws〜11Tb9ws、3Tb10ws〜11Tb10ws、3Tb11ws〜11Tb11wsに設定し(記録パルス信号の初期化)、ステップSP3へ進む。
なお、変数3Tb3ws〜11Tb3wsは、基準デジタル信号aの時間幅3Tのローレベルの直後に現れる時間幅3Tないし11Tのハイレベルに対応する記録パルス長を保持する変数である。同様に、変数3Tb4ws〜11Tb11wsは、基準デジタル信号aの時間幅4Tないし11Tのローレベルの直後に現れる時間幅3Tないし11Tのハイレベルに対応する記録パルス長を保持する変数である。
ステップSP3では、当該光ディスク記録装置は、基準デジタル信号aが更新されていなければ更新されるまで待ち、更新された場合はステップSPs4へ進む。基準デジタル信号aは、記録が開始されるか、または既に記録が開始されている状態にあるときに更新されたと判定される。
ステップSPs4では、演算回路10が基準デジタル信号aを監視し、基準デジタル信号aのローレベルの時間幅を判別し、その時間幅が3Tの場合はステップSPs31へ進み、4Tの場合はステップSPs41へ進み、5Tの場合はステップSPs51へ進み、6Tの場合はステップSPs61へ進み、7Tの場合はステップSPs71へ進み、8Tの場合はステップSPs81へ進み、9Tの場合はステップSPs91へ進み、10Tの場合はステップSPs101へ進み、11Tの場合はステップSPs111へ進む。
ステップSPs31では、演算回路10が記憶回路9から基準デジタル信号aの時間幅3Tのローレベルに対応する最適非ピット長を読み出し、変数OPTとして保持して、ステップSPs32へ進む。
ステップSPs32では、演算回路10が基準デジタル信号aの時間幅3Tのローレベルに対応する測定非ピット長3Tspc(測定値)と最適非ピット長OPT(最適値)との差を求め、補正値DIFとして保持し、ステップSPs33へ進む。
ステップSPs33では、記録パルス生成回路11が、基準デジタル信号aの時間幅3Tのローレベルの直後に現れる時間幅3Tないし11Tのハイレベルに対応する記録パルス長3Tb3ws〜11Tb3wsから補正値DIFを減算した値を調整後の新たな記録パルス長3Tb3ws〜11Tb3wsとして保持し、Asへ進む。なお、ステップSPs41〜ステップSPs43、ステップSPs51〜ステップSPs53、ステップSPs61〜ステップSPs63、ステップSPs71〜ステップSPs73、ステップSPs81〜ステップSPs83、ステップSPs91〜ステップSPs93、ステップSPs101〜ステップSPs103、ステップSPs111〜ステップSPs113については、基準デジタル信号aのローレベルの時間幅が4Tから11Tの場合であり、時間幅3Tの場合と同様の処理が行われて、Asへ進む。
図4−1におけるAsは、図4−2におけるAsに接続する。図4−2において、AsからはステップSP5へ進む。ステップSP5では、記録パルス生成回路11が、基準デジタル信号aに基づいて記憶パルス長を決定することで記録パルス信号を生成して、レーザ駆動回路3へ出力し、ステップSP6へ進む。
なお、ステップSPs31からステップSPs113において、最適非ピット長と測定非ピット長の差を記録パルス信号に反映するために、基準デジタル信号aのローレベルの直後に現れるハイレベルに対応する記録パルス信号のハイレベルの立下り部分は固定して、立ち上がり部分の位置のみを調整する。該方法により、記録パルス信号に最適非ピット長と測定非ピット長の差を反映することができる。
ステップSP6では、レーザ駆動回路3と光ピックアップ2によって光ディスク1に対して記録パルス信号に基づいた記録レーザ光WPが照射され、ステップSP7へ進む。
ステップSP7では、光ピックアップ2によって反射光量に応じた電圧値となる電圧信号RLが生成され、ステップSP8へ進む。なお、電圧信号RLの波形は、例えば図3に示すようになる。また、記録レーザ光WPの光強度がピット部形成レベルとなる時間幅(第1のレーザ光の照射時間幅)は、記録パルス信号レベルがハイレベルとなる時間幅に対応し、記録レーザ光WPの光強度が非ピット部形成レベルとなる時間幅(第2のレーザ光の照射時間幅)は、記録パルス信号レベルがローレベルとなる時間幅に対応する。
ステップSP7では、光ピックアップ2によって反射光量に応じた電圧値となる電圧信号RLが生成され、ステップSP8へ進む。なお、電圧信号RLの波形は、例えば図3に示すようになる。また、記録レーザ光WPの光強度がピット部形成レベルとなる時間幅(第1のレーザ光の照射時間幅)は、記録パルス信号レベルがハイレベルとなる時間幅に対応し、記録レーザ光WPの光強度が非ピット部形成レベルとなる時間幅(第2のレーザ光の照射時間幅)は、記録パルス信号レベルがローレベルとなる時間幅に対応する。
ステップSP8では、タイミングパルス発生回路5で発生したタイミングパルス信号TPをイネーブル信号として動作するサンプルホールド回路6によって、RFアンプ回路4から出力される増幅電圧信号ARLから記録レーザ光WPがピット部形成レベルになる直前の電圧値を取得し、二値化回路7にてこの電圧値をしきい値SLとして、RFアンプ回路4から出力される増幅電圧信号ARLがしきい値SLより高い場合にハイレベルとなる信号(図3に示すUL)としきい値SLより低い場合にハイレベルとなる信号(図3に示すLL)を加算して、光ディスクにピット部が形成される間ハイレベルとなり非ピット部が形成される間ローレベルとなるパルス信号PPを生成し、ステップSPs9へ進む。
ステップSPs9では、パルス長測定回路8が、パルス信号PPがローレベルとなる期間だけカウントパルス信号CPの立ち上がりあるいは立下りをカウントしていき、該カウント数とカウントパルス信号CPの周期を乗算して、パルス信号PPのローレベルの時間幅を測定することで非ピット部の非ピット長に相当する値(測定非ピット長)を得て、ステップSPs10へ進む。
ステップSPs10では、演算回路10が、入力される基準デジタル信号aのローレベルの時間幅を判別し、3Tの場合はステップSPs34へ進み、4Tの場合はステップSPs44へ進み、5Tの場合はステップSPs54へ進み、6Tの場合はステップSPs64へ進み、7Tの場合はステップSPs74へ進み、8Tの場合はステップSPs84へ進み、9Tの場合はステップSPs94へ進み、10Tの場合はステップSPs104へ進み、11Tの場合はステップSPs114へ進む。
ステップSPs34では、演算回路10が、図4−2におけるステップSPs9でパルス長測定回路8により測定された測定非ピット長の値を変数3Tspcへ設定し、測定非ピット長Tspcの値の更新して、ステップSP11へ進む。なお、ステップSPs44〜ステップSPs114については、基準デジタル信号aのローレベルの時間幅が4Tから11Tの場合であり、時間幅3Tの場合と同様の処理が行われて、ステップSP11へ進む。
ステップSP11では、記録終了か否かを判別し、記録が終了するときは処理を終了し、記録が終了しないときはBsへ進む。なお、図4−2におけるBsは図4−1におけるBsに接続する。以降、図4−1におけるBsから図4−1におけるステップSP3へ進み、上述した処理を繰り返す。
なお、光ディスク1に生成されるピット部のピット長及び非ピット部の非ピット長を測定してレーザ光の照射時間幅を調整する場合は、上述したピット長のみを測定した場合の処理と非ピット長のみを測定した場合の処理を交互に繰り返すことで実施できる(図5−1、図5−2、図5−3、図5−4のフローチャートを表す図を参照。)。なお、図5−1におけるApsは図5−2におけるApsに接続する。図5−2におけるCpsは図5−3におけるCpsに接続する。図5−3におけるDpsは図5−4におけるDpsに接続する。図5−4におけるBpsは図5−1におけるBpsに接続する。
また、本実施の形態では、基準デジタル信号aがハイレベルのときにピット部が形成され、ローレベルのときに非ピット部が形成される場合について説明したが、ハイレベルのときに非ピット部が形成され、ローレベルのときにピット部が形成される場合も同様に実施することができる。
また、増幅電圧信号ARLがしきい値SLより高い場合及び低い場合にハイレベルとなり等しい場合にローレベルとなるパルス信号PPがハイレベルのときにピット部が形成され、ローレベルのときに非ピット部が形成される場合について説明したが、増幅電圧信号ARLがしきい値SLより高い場合及び低い場合にローレベルとなり等しい場合にハイレベルとなるパルス信号PPがローレベルのときにピット部が形成され、ハイレベルのときに非ピット部が形成される場合も同様に実施することができる。
また、記録パルス信号がハイレベルのときに第1のレーザ光が照射されローレベルのときに第2のレーザ光が照射される場合について説明したが、記録パルス信号がハイレベルのときに第2のレーザ光が照射されローレベルのときに第1のレーザ光が照射される場合も同様に実施することができる。
また、記録パルス信号の立ち上がりの直前にのみハイレベルとなるタイミングパルス信号TPを生成する場合について説明したが、記録パルス信号の立ち上がりの直前にのみローレベルとなるタイミングパルス信号TPを生成する場合も同様に実施することができる。
本発明にかかる光ディスク記録装置、および光ディスク記録方法は、記録対象の光ディスクの記録位置に拘わらずピット部/非ピット部の長さが一定となるように、記録レーザ光の照射時間幅を調整することができ、レーザ光を用いて光ディスクに情報を記録する装置などに有効である。
1 光ディスク
2 光ピックアップ
3 レーザ駆動回路
4 RFアンプ回路
5 タイミングパルス発生回路
6 サンプルホールド回路
7 二値化回路
8 パルス長測定回路
9 記憶回路
10 演算回路
11 記録パルス生成回路
2 光ピックアップ
3 レーザ駆動回路
4 RFアンプ回路
5 タイミングパルス発生回路
6 サンプルホールド回路
7 二値化回路
8 パルス長測定回路
9 記憶回路
10 演算回路
11 記録パルス生成回路
Claims (8)
- 所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、
前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射する光ピックアップと、
光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定するピット長測定手段と、
前記ピット長測定手段により測定されたピット長と予め記憶されている最適ピット長とを比較する比較手段と、
前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記ピット長測定手段により測定されたピット長と前記最適ピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、
を備えることを特徴とする光ディスク記録装置。 - 所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、
前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射する光ピックアップと、
光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定する非ピット長測定手段と、
前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と予め記憶されている最適非ピット長とを比較する比較手段と、
前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と前記最適非ピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、
を備えることを特徴とする光ディスク記録装置。 - 所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、
前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射する光ピックアップと、
光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定するピット長測定手段と、
光ディスクに記録した情報を読み出すのに最適なピット長を前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅ごとに記憶する記憶手段と、
入力される前記基準デジタル信号を監視し、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応する最適なピット長を前記記憶手段から読み出す基準デジタル信号監視手段と、
前記ピット長測定手段により測定されたピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長とを比較する比較手段と、
前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記ピット長測定手段により測定されたピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、
を備えることを特徴とする光ディスク記録装置。 - 所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、
前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射する光ピックアップと、
光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定する非ピット長測定手段と、
光ディスクに記録した情報を読み出すのに最適な非ピット長を前記基準デジタル信号の前記第2のレベルの各時間幅ごとに記憶する記憶手段と、
入力される前記基準デジタル信号を監視し、前記基準デジタル信号の前記第2のレベルの時間幅に対応する最適な非ピット長を前記記憶手段から読み出す基準デジタル信号監視手段と、
前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適な非ピット長とを比較する比較手段と、
前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして前記非ピット長測定手段により測定された非ピット長と前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適な非ピット長とが一致するように前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、
を備えることを特徴とする光ディスク記録装置。 - 所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録装置であって、
前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射する光ピックアップと、
光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定するピット長測定手段と、
光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定する非ピット長測定手段と、
光ディスクに記録した情報を読み出すのに最適なピット長および非ピット長を前記基準デジタル信号の前記第1および第2のレベルの各時間幅ごとに記憶する記憶手段と、
入力される前記基準デジタル信号を監視し、前記基準デジタル信号が前記第1のレベルのときにはその時間幅に対応する最適なピット長を前記記憶手段から読み出し、前記第2のレベルのときにはその時間幅に対応する最適な非ピット長を前記記憶手段から読み出す基準デジタル信号監視手段と、
前記ピット長測定手段および前記非ピット長測定手段により測定されたピット長および非ピット長を前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長および最適な非ピット長と比較する比較手段と、
前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅に対応するパルス長が予め設定されており、入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を決定して前記記録パルス信号を生成するとともに、前記比較手段の比較結果を基にして、前記ピット長測定手段および前記非ピット長測定手段により測定されたピット長および非ピット長が前記基準デジタル信号監視手段により読み出された最適なピット長および最適な非ピット長と一致するように、前記設定されているパルス長を調整し且つ更新する記録パルス生成回路と、
を備えることを特徴とする光ディスク記録装置。 - 所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録方法であって、情報の記録中に、
入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅毎に設定されているパルス長から決定して前記記録パルス信号を生成し、
前記生成した前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射し、
光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長を測定し、
前記測定したピット長と予め記憶されている最適ピット長とを比較し、
前記比較した結果を基にして前記測定したピット長と前記最適ピット長とが一致するように前記設定されている前記記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新する
ことを特徴とする光ディスク記録方法。 - 所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録方法であって、情報の記録中に、
入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅毎に設定されているパルス長から決定して前記記録パルス信号を生成し、
前記生成した前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射し、
光ディスクからの反射光を基に非ピット部の非ピット長を測定し、
前記測定した非ピット長と予め記憶されている最適非ピット長とを比較し、
前記比較した結果を基にして前記測定した非ピット長と前記最適非ピット長とが一致するように前記設定されている前記記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新する
ことを特徴とする光ディスク記録方法。 - 所定の基準時間幅の整数倍となる等差級数をなす時間幅の第1のレベルと第2のレベルをもつ基準デジタル信号を入力とし、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長となる記録パルス信号を生成し前記記録パルス信号に基づくレーザ光を照射して、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するピット部と前記第2のレベルの時間幅に対応する非ピット部を光ディスクに形成することで光ディスクに情報を記録する光ディスク記録方法であって、情報の記録中に、
入力される前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの時間幅に対応するパルス長を、前記基準デジタル信号の前記第1のレベルの各時間幅毎に設定されているパルス長から決定して前記記録パルス信号を生成し、
前記生成した前記記録パルス信号に基づいて、光ディスクにピット部を形成する第1のレーザ光と光ディスクに非ピット部を形成する第2のレーザ光を照射し、
光ディスクからの反射光を基にピット部のピット長と非ピット部の非ピット長を測定し、
前記測定したピット長および非ピット長を予め記憶されている最適ピット長および最適非ピット長と比較し、
前記比較した結果を基にして、前記測定したピット長および非ピット長が前記最適ピット長および前記最適非ピット長と一致するように、前記設定されている前記記録パルス信号のパルス長を調整し且つ更新する
ことを特徴とする光ディスク記録方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004257799A JP2006073143A (ja) | 2004-09-06 | 2004-09-06 | 光ディスク記録装置、および光ディスク記録方法 |
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JP2004257799A JP2006073143A (ja) | 2004-09-06 | 2004-09-06 | 光ディスク記録装置、および光ディスク記録方法 |
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JP2006073143A true JP2006073143A (ja) | 2006-03-16 |
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ID=36153584
Family Applications (1)
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JP2004257799A Pending JP2006073143A (ja) | 2004-09-06 | 2004-09-06 | 光ディスク記録装置、および光ディスク記録方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2006073143A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113380278A (zh) * | 2018-11-20 | 2021-09-10 | 中国科学院上海高等研究院 | 基于纳米光刻的光盘读取方法、读取装置及光盘读写装置 |
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2004
- 2004-09-06 JP JP2004257799A patent/JP2006073143A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN113380278A (zh) * | 2018-11-20 | 2021-09-10 | 中国科学院上海高等研究院 | 基于纳米光刻的光盘读取方法、读取装置及光盘读写装置 |
CN113380278B (zh) * | 2018-11-20 | 2023-03-31 | 中国科学院上海高等研究院 | 基于纳米光刻的光盘读取方法、读取装置及光盘读写装置 |
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