JP2006073014A - 製造職場の評価方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】職場評価用データベースを予め作成して記憶準備しておく職場データベース準備過程と、該準備された職場評価用データベースから、入力された製造職場における各職場条件不良影響項目についての職場水準レベルに対応する不良発生度指標を抽出し、これを所望の複数の職場条件不良影響項目に亘って総計して製造職場における基準製造作業に対する不良の起こし易さを評価推定して職場指標として製品評価用データベースに格納する職場評価過程と、製造職場における職場指標を用いて、複数の製造作業によって製造される製品としての作業不良率を示す品質を評価推定する製品評価過程とを有する。
Description
本発明に係る製造職場の評価手法を用いて定量評価することによって、不良の実績データが無くとも職場の不良の起こし易さ(不良発生度:不良発生率)を推定できることにある。即ち、本発明は、製造職場の評価手法を用いて定量評価すれば、不良の実績データとほぼ一致することを見出したことにある。
=Σf1(組付動作内容、組付数、部品の性質、職場条件、チェック工程の有
無) (数1)
=Σf2(組付動作別不良率係数、動作順補正係数、部品補正係数、職場補正
係数、チェック工程補正係数) (数2)
なお、上記f1()、f2()は関数を表す。これら関数としては、例えば、組付動作別不良率係数に、動作順補正係数、部品補正係数、職場補正係数、チェック工程補正係数を乗算する方式、または加減算する方式、または指数関数的に補正を加える等の種々の方式がある。
Claims (3)
- 製造対象を製造する職場の職場環境が原因で、出荷される製造対象に不良品が混在する程度を予測して、前記職場環境のうち不良発生の原因となる1以上の不良原因項目について、改善余地の大きい前記不良原因項目を表示する製造職場の評価方法であって、
前記各不良原因項目について、職場状態の程度に応じて複数の段階に区分して定めたレベルの範囲と、前記各不良原因項目および前記各レベル毎に不良発生度を算出するための係数と、項目間相対的重み係数とを事前に記憶する工程と、
評価対象職場における前記各不良原因項目についてのレベルを示す情報の入力を受け付ける工程と、
前記不良原因項目毎に、当該評価対象職場のレベル、前記記憶された不良発生度を算出するための係数、および項目間相対的重み係数に基づいて、当該評価対象職場項目別不良発生度を算出する工程と、
すべての不良原因項目のレベルが最も不良の起きにくいレベルである理想職場について、前記不良原因項目別不良発生度を決定する工程と、
前記当該評価対象職場項目別不良発生度と前記理想職場項目別不良発生度との差を、当該不良原因項目についての当該評価対象職場の改善余地として求め、前記改善余地の絶対値の大きい順に前記不良原因項目を表示する工程を有することを特徴とする製造職場の評価方法。 - 前記各不良原因項目および前記各レベル毎に不良発生度を算出するための係数は、不良作り込み係数と、不良摘出度係数と、不良対処時間係数とに分類されることを特徴とする請求項1に記載の製造職場の評価方法。
- 前記不良原因項目は、少なくとも、作業者に関するカテゴリと、設備に関するカテゴリと、製造方法に関するカテゴリと、作業環境に関するカテゴリと、職場管理に関するカテゴリとに分類されることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の製造職場の評価方法。
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