JP2006059515A - 光記録再生装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 透過量可変部の誤動作を判定することができる光記録再生装置を提供する。
【解決手段】 受光素子（受光検出部）９が第一のレーザ光を受光したときに、出力パワー検出部（特性検出部）３２が当該第一のレーザ光に関する微分量子効率値（特性値）を検出する。制御部（判定部）３７が、出力パワー検出部３２からの微分量子効率値を用いて、強度フィルタ（透過量可変部）３及びフィルタ駆動部（透過量可変部）３０が当該制御部３７から出力された制御信号に従って動作しているか否かを判定する。
【選択図】 図１

Description

本発明は、記録媒体に情報を記録または再生する光記録再生装置に関する。

これまで、半導体レーザを用いた光記録再生装置は多数開発されている。例えば、光ディスクを記録媒体として用いる光記録再生装置は、今後も大容量化および高速化が可能であるため、注目を集めている。つまり、このような光記録再生装置では、光ディスクの表面に照射するレーザ光のスポットをより小さくすることにより、当該光ディスクでの記録密度を向上させて大容量化を実現することができる。一例として、光ディスクとしてブルーレイディスク（Ｂｌｕ−Ｒａｙ Ｄｉｓｃ）を用い、当該光ディスクに対し、波長４０５ｎｍ近傍の青紫色レーザ光を出射する半導体レーザを光源として用いた光記録再生装置の開発が、活発に進められている。

しかし、上述のように、波長が４０５ｎｍ近傍の短波長のレーザ光を用いて光ディスクから情報を再生する場合、当該光ディスク表面上のスポットにおける照射エネルギーは、スポットが小さければ小さいほど増大する。そのため、光ディスクが温度上昇により劣化したり、記録された情報が消去されたりするなどの問題が生じる恐れがある。かかる場合に、光ディスク表面上のスポットにおける照射エネルギーを下げるために、半導体レーザの出力パワーを下げると、今度は、半導体レーザ自身の持つ量子雑音のため、信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）を悪化させる結果となる。

そこで、上記課題に対し、例えば下記特許文献１に記載されている第１の従来例の光記録再生装置では、半導体レーザと光ディスクとの間に強度フィルタを挿入することにより、半導体レーザの出力パワーを下げることなく、光ディスク表面上のレーザ光の強度（照射エネルギー）を減衰させる方法が提案されている。

しかし、上記第１の従来例の光記録再生装置では、記録層を１層有する記録媒体および記録層を複数層有する記録媒体の両方の記録媒体に対し情報の記録再生を行うことはできなかった。そこで、この課題に対処するために、強度フィルタの透過率を変更させることにより、複数の記録層を有する記録媒体に対し情報を記録再生することのできる光記録再生装置が提案されている（例えば、下記特許文献２参照。）。

ここで、特許文献２に記載されている第２の従来例の光記録再生装置について説明する。図１８は、第２の従来例の光記録再生装置の構成を示すブロック図である。

図１８に示すように、第２の従来例の光記録再生装置は、光ヘッド１２０、フィルタ駆動部１３０、レーザパワー制御部１３１、出力パワー検出部１３２、フォーカス制御部１３３、トラッキング制御部１３４、再生信号処理部１３５、媒体判別部１３６、および制御部１３７を備えている。光ヘッド１２０は、半導体レーザ１０１、コリメータレンズ１０２、強度フィルタ１０３、ビームスプリッタ１０４、１／４波長板１０５、対物レンズ１０６、検出レンズ１０８、１１０、および受光素子１０９、１１１を備えている。

第２の従来例の光記録再生装置では、フィルタ駆動部１３０が、媒体判別部１３６によって判別された光ディスク１０７が有する記録層の数に適合するように、半導体レーザ１０１から出射されるレーザ光の経路（以下、光路と称する。）に対して、強度フィルタ１０３を挿入または排出させる。すなわち、強度フィルタ１０３の光路における配置は、当該光ディスク１０７の記録層の数によって変更される。

以下、第２の従来例の光記録再生装置の動作について説明する。

まず、図２０を参照して、上記記録層について説明する。

図２０（ａ）は光ディスク１０７の一例を示す断面図である。図２０（ｂ）は光ディスク１０７の他の例を示す断面図である。

図２０（ａ）には、記録層１０７ａを１層有する単層ディスクが示されている。図２０（ｂ）には、記録層１０７ｂ、１０７ｃを２層有する２層ディスクが示されている。ここでは、一例として、単層ディスクから情報を再生するために必要なレーザ光の再生パワーが０．４ｍＷである場合について説明する。また、光ヘッド１２０の光学透過率（強度フィルタ１０３を除く、光ヘッドの光学系全体の透過率）が２５％であり、光路に対して挿入または排出される強度フィルタ１０３の光透過率が５０％である場合について説明する。

光ディスク１０７が、図２０（ａ）に示すような単層ディスクの場合、強度フィルタ１０３の状態は光路へ挿入された状態が適している。強度フィルタ１０３が光路中に挿入されると、当該レーザ光の再生パワーは５０％に減衰される。そのため、半導体レーザ１０１の出力パワーを３．２ｍＷ（０．４ｍＷ／２５％／５０％）にすることができるため、半導体レーザ１０１における量子雑音の発生を許容範囲内に抑えることができる。

一方、光ディスク１０７が、図２０（ｂ）に示すように２層ディスクの場合、強度フィルタ１０３の状態は光路から排出された状態が適している。強度フィルタ１０３が光路から排出されると、当該レーザ光は１００％透過する。２層ディスクから情報を再生するためには、単層ディスクの再生パワーに対し、約２倍の再生パワーが必要となる。２層ディスクにおいて、単層ディスクから情報を再生する場合の約２倍の再生パワーが必要になるのは、光ディスク１０７が有する記録層のうち、対物レンズ１０６に近い方の記録層（図２０（ｂ）の記録層１０７ｃ）の透過率が約５０％に設定されているためである。すなわち、２層ディスクから情報を再生するには半導体レーザ１０１の再生パワーは０．８ｍＷ（０．４ｍＷ×２）必要である。従って、半導体レーザ１０１の出力パワーは３．２ｍＷ（０．８ｍＷ／２５％）となり、半導体レーザ１０１における量子雑音の発生を許容範囲内に抑えることができる。

上記例において、単層ディスクおよび２層ディスクから情報を再生する場合における半導体レーザ１０１の出力パワーは、どちらも３．２ｍＷである。また、単層ディスクへ情報を記録する際に必要となるレーザ光の記録パワーが６ｍＷである場合、単層ディスクおよび２層ディスクへ情報を記録する場合における半導体レーザ１０１の出力パワーは、どちらも４８ｍＷ（６ｍＷ／２５％／５０％＝１２ｍＷ／２５％）である。すなわち、第２の従来例の光記録再生装置では、半導体レーザ１０１の出力パワーを変えることなく、記録層の数が異なる光ディスク１０７に対し再生または記録を行うことができる。

次に、図１９を用いて、第２の従来例の光記録再生装置の動作について説明する。

図１９は第２の従来例の光記録再生装置の起動手順の一例を示すフローチャートである。

まず、光ディスク１０７が挿入される（ステップＳ５０１）。そして、媒体判別部１３６は、光ディスク１０７の記録層の数を判別する（ステップＳ５０２）。光ディスク１０７が有する記録層の数が単層である場合、フィルタ駆動部１３０は、強度フィルタ１０３を光路に挿入する（ステップＳ５０３）。光ディスク１０７が有する記録層の数が２層である場合、フィルタ駆動部１３０は、強度フィルタ１０３を光路から排出する（ステップＳ５０４）。その後、再生信号処理部１３５は、ディスク種類に応じた各種調整を行い、光ディスク１０７に対する記録または再生を開始する（ステップＳ５０５）。
特開２０００−１９５０８６号公報 特開２００３−１１５１０９号公報

しかしながら、上記第２の従来例の光記録再生装置では、強度フィルタ１０３（透過量可変部）の状態を検出していない。このため、強度フィルタ１０３またはフィルタ駆動部１３０（透過量可変部）の動作異常によって、制御部１３７が指示した状態と異なる状態に、強度フィルタ１０３が配置されていることを検出できないという課題があった。

強度フィルタ１０３が、光路に対し、誤挿入または誤排出された場合の問題点について以下に説明する。ここでは、一例として、光ヘッド１２０の上記光学透過率（強度フィルタ１０３を除く）が２５％であるとして説明する。

例えば、光ディスク１０７が単層ディスクで、強度フィルタ１０３が光路に挿入されない場合、再生パワー０．４ｍＷを得るためには、半導体レーザ１０１の出力パワーを、１．６ｍＷ（０．４ｍＷ／２５％）にする必要がある。この場合、半導体レーザ１０１にとって、許容不可能なほどの量子雑音が発生する。従って、十分な信号対雑音比（Ｓ／Ｎ）を得られない恐れがある。

また、例えば、光ディスク１０７が２層ディスクで、強度フィルタ１０３が光路から排出されていない場合、単層ディスクに情報を記録するために必要な記録パワーが６ｍＷであるとすると、２層ディスクでは、単層ディスクに対し約２倍の記録パワーが必要となることから、１２ｍＷ（６ｍＷ×２）が必要となる。光路に残っている強度フィルタ１０３の光透過率を５０％とすると、半導体レーザ１０１は、透過率を考慮し２倍の９６ｍＷ（１２ｍＷ／２５％／５０％）で発光する必要がある。従って、半導体レーザ１０１に許容値以上の電流が供給されることにより、当該半導体レーザ１０１が劣化または破壊される恐れがある。

上記の課題を鑑み、本発明は、透過量可変部の誤動作を判定することができる光記録再生装置を提供することを目的とする。

上記の目的を達成するために、本発明にかかる光記録再生装置は、記録媒体に対して情報の記録または再生を行う光記録再生装置であって、
レーザ光源と、
前記レーザ光源から出射されるレーザ光の出力を制御する光出力制御部と、
前記レーザ光源からのレーザ光を受光可能に構成されるとともに、受光したレーザ光に応じた電気信号を出力する受光検出部と、
前記レーザ光源からのレーザ光を、前記受光検出部へ照射する第一のレーザ光と前記記録媒体へ照射する第二のレーザ光とに分光する分光部と、
前記レーザ光源からのレーザ光の透過量を調整する透過量可変部と、
前記透過量可変部を制御する透過量制御部と、
前記受光検出部が前記第一のレーザ光を受光したときに、当該第一のレーザ光に関する特性値を検出する特性検出部と、
前記特性検出部からの特性値を用いて、前記透過量可変部が前記透過量制御部から出力された制御信号に従って動作しているか否かを判定する判定部とを備えたことを特徴とする。

上記のように構成された光記録再生装置では、受光検出部が上記第一のレーザ光を受光したときに、特性検出部が当該第一のレーザ光に関する特性値を検出している。また、判定部が、特性検出部からの特性値を用いて、透過量可変部が透過量制御部から出力された制御信号に従って動作しているか否かを判定している。これにより、判定部は、透過量可変部の動作状態を把握して、当該透過量可変部が誤動作しているか否かを判断することができる。この結果、透過量可変部の誤動作に起因してレーザ光源が破壊または劣化されたり、信号品質が劣化した状態での再生動作が行われたりするのを防ぐことができる。

また好ましくは、本発明の光記録再生装置において、前記透過量可変部には、前記記録媒体の記録層の数または記録感度に応じて、前記レーザ光源からのレーザ光の透過量を調整する第一の透過量可変部と、前記記録媒体に対する再生動作または記録動作に応じて、前記レーザ光源からのレーザ光の透過量を調整する第二の透過量可変部とが設けられてもよい。

この場合、記録媒体の記録層の数または記録感度および当該記録媒体に対する再生動作または記録動作に応じて、分光部を介して記録媒体に照射される第二のレーザ光を制御することができ、記録層の数または記録感度および再生動作または記録動作に最適な第二のレーザ光によって記録媒体に対する情報の記録または再生を行うことが可能となる。

また好ましくは、本発明の光記録再生装置において、前記透過量制御部が、前記透過量可変部への制御信号を少なくとも２態様に異ならせることにより、当該透過量可変部の動作状態を少なくとも２態様に変化させてもよい。

この場合、上記判定部は透過量可変部の動作状態が少なくとも２態様に変化したときでの特性値に基づいて、透過量可変部での誤動作の有無を判断することができる。また、透過量可変部を少なくとも２態様に変化させているので、レーザ光源の経時変化の影響を受けることなく、判定部は当該透過量可変部の動作状態を判定することができる。

また好ましくは、本発明の光記録再生装置において、少なくとも２態様に異ならせた前記制御信号が前記透過量可変部に与えられた場合において、前記特性検出部が検出した前記特性値が、第一の特性値Ｅ1、第二の特性値Ｅ2のときに、
前記判定部は、前記第一の特性値Ｅ1と前記第二の特性値Ｅ2と、前記透過量可変部のレーザ光透過率ｍとの関係が、
Ｋ1×ｍ×Ｅ2＜Ｅ1＜Ｋ2×ｍ×Ｅ2
（但し、Ｋ1およびＫ2は係数）
であるか否かを判断することで、前記透過量可変部が前記透過量制御部から出力された制御信号に従って動作しているか否かを判定してもよい。

この場合、判定部は特性検出部での検出誤差を考慮して、透過量可変部の動作状態を判定することができ、透過量可変部での誤動作の有無の判断精度を高めることができる。

また好ましくは、本発明の光記録再生装置において、基準となる特性値を特性設定値としてあらかじめ記憶した記憶部を備えるとともに、
前記判定部は、前記特性検出部からの特性値と、前記記憶部からの前記特性設定値とに基づいて、前記透過量可変部が前記透過量制御部から出力された制御信号に従って動作しているか否かを判定してもよい。

この場合、判定部が上記特性設定値を用いて透過量可変部の動作状態を判定しているので、判定部は、透過量可変部の動作状態を少なくとも２態様に変化させる場合に比べて、より短時間で透過量可変部での誤動作の有無を判断することが可能となる。

また好ましくは、本発明の光記録再生装置において、前記特性検出部は、前記受光検出部から出力された電気信号から求められる前記第一のレーザ光の光出力と、前記光出力制御部から出力された出力信号から求められる前記レーザ光源に供給された電流との少なくとも一方を前記特性値として検出してもよい。

この場合、判定部は第一のレーザ光の光出力とレーザ光源に供給された電流との少なくとも一方に基づいて、透過量可変部の動作状態を容易に判定することができる。

また好ましくは、本発明の光記録再生装置において、前記特性検出部は、前記受光検出部から出力された電気信号から求められる前記第一のレーザ光の光出力と、前記光出力制御部から出力された出力信号から求められる前記レーザ光源に供給された電流とに基づいて、前記第一のレーザ光の微分量子効率値を前記特性値として検出してもよい。

この場合、判定部が第一のレーザ光の微分量子効率値を基に透過量可変部の動作状態を判定するので、判定部は透過量可変部の動作状態を高精度に判定することができる。

また好ましくは、本発明の光記録再生装置において、前記特性検出部は、前記記録媒体に対して再生動作をする場合における、前記第一のレーザ光のパワーを前記特性値として検出してもよい。

この場合、記録媒体から情報を再生しているときでも、判定部は、透過量可変部が透過量制御部からの制御信号に従って動作しているか否かを判定することができる。

また好ましくは、本発明の光記録再生装置において、前記特性検出部は、前記記録媒体に対して記録動作をする場合における、前記第一のレーザ光のパワーを前記特性値として検出してもよい。

この場合、記録媒体へ情報を記録しているときでも、判定部は、透過量可変部が透過量制御部からの制御信号に従って動作しているか否かを判定することができる。

また好ましくは、本発明の光記録再生装置において、前記記録媒体に対して前記第二のレーザ光を集光することなく、前記判定部が、前記透過量可変部が前記透過量制御部から出力された制御信号に従って動作しているか否かを判定してもよい。

この場合、判定部が透過量可変部の動作状態を判定しているときに、記録媒体に記録された情報が第二のレーザ光により消去されるのを確実に防ぐことができる。

また好ましくは、本発明の光記録再生装置において、前記分光部と前記記録媒体との間に挿入されることによって、前記第二のレーザ光が前記記録媒体へ集光されるのを防ぐ遮光部をさらに備えてもよい。

この場合、第二のレーザ光は遮光部により記録媒体へ集光されるのが防がれるので、判定部が透過量可変部の動作状態を判定しているときに、記録媒体に記録された情報が第二のレーザ光により消去されるのを確実に防ぐことができる。

また好ましくは、本発明の光記録再生装置において、前記第二のレーザ光を前記記録媒体へ集光させる対物レンズと、
前記対物レンズの前記記録媒体に対する垂直方向の位置を制御するフォーカス制御部とをさらに備え、
前記フォーカス制御部が、前記判定部による判定の際に、前記第二のレーザ光が前記記録媒体へ焦点を結ばないように前記対物レンズの位置を制御してもよい。

この場合、フォーカス制御部が対物レンズの位置を制御することにより、判定部が透過量可変部の動作状態を判定しているときに、記録媒体に記録された情報が第二のレーザ光により消去されるのを確実に防ぐことができる。

また好ましくは、本発明の光記録再生装置において、前記透過量可変部は、前記レーザ光源と前記分光部との間に対して、挿入または排出される光学フィルタを含んでもよい。

この場合、光学フィルタがレーザ光源から分光部に入射されるレーザ光の透過量を調整することにより、上記第二のレーザ光を変化させることができる。

また好ましくは、本発明の光記録再生装置において、前記透過量可変部は、液晶素子を含んでもよい。

この場合、液晶素子がレーザ光源から分光部に入射されるレーザ光の透過量を調整することにより、上記第二のレーザ光を変化させることができる。また、液晶素子は、電気信号を入力することにより、上記レーザ光の透過量を調整することができることから、レーザ光の透過量を調整するための時間を短くし、かつ、当該透過量の調整を多段階にすることができる。

本発明によれば、透過量可変部の誤動作を判定することができる光記録再生装置を提供することが可能となる。

以下、本発明の光記録再生装置の好ましい実施の形態について図面を参照しながら説明する。

（実施の形態１）
図１は、本発明の実施の形態１にかかる光記録再生装置の構成を示すブロック図である。

図１に示すように、本実施の形態にかかる光記録再生装置は、光ディスク７（記録媒体）に対してレーザ光を照射することにより、情報の記録または再生を行うものであって、光ヘッド２０、フィルタ駆動部３０（透過量可変部）、レーザパワー制御部３１（光出力制御部）、出力パワー検出部３２（特性検出部）、フォーカス制御部３３、トラッキング制御部３４、再生信号処理部３５、記録層判別部３６、および制御部３７（判定部、透過量制御部）を備えている。

まず、光ヘッド２０について説明する。光ヘッド２０は、半導体レーザ１（レーザ光源）、コリメータレンズ２、強度フィルタ３（透過量可変部）、ビームスプリッタ４（分光部）、１／４波長板５、対物レンズ６（光学レンズ）、検出レンズ８、１０、受光素子９（受光検出部）、１１、および遮光フィルタ１２（遮光部）を備えている。

半導体レーザ１は、ＧａＮ系等の青紫色レーザ等のレーザ光を出射する半導体素子である。コリメータレンズ２は、入射光を平行光に変換する。強度フィルタ３は、入射光の強度を減衰させる光学フィルタである。ビームスプリッタ４は、入射光を反射および透過することによって分光する。すなわち、ビームスプリッタ４は、半導体レーザ１からのレーザ光を、受光素子９へ照射する第一のレーザ光と光ディスク７へ照射する第二のレーザ光とに分光する。１／４波長板５は、入射光の偏光を円偏光へ変換する。対物レンズ６は、円偏光の入射光を屈折させて、集光する。検出レンズ８、１０は、入射光を屈折させて集光する。受光素子９、１１は、半導体レーザ１からのレーザ光を受光可能に構成されるとともに、受光したレーザ光に応じた電気信号を出力する。遮光フィルタ１２は、光ディスク７に照射されるレーザ光を遮断する。

半導体レーザ１、コリメータレンズ２、ビームスプリッタ４、検出レンズ８、および受光素子９は、半導体レーザ１から出射されるレーザ光の光軸に沿って、直線状に配置される。また、対物レンズ６、１／４波長板５、ビームスプリッタ４、検出レンズ１０、および受光素子１１は、光ディスク７から反射される反射光の光軸に沿って、直線状に配置される。

強度フィルタ３は、光吸収膜を含んだ光学フィルタにより構成されており、フィルタ駆動部３０とともに、半導体レーザ１からビームスプリッタ４に入射されるレーザ光の透過量を調整する透過量可変部を構成している。すなわち、強度フィルタ３は、コリメータレンズ２とビームスプリッタ４との間の光路において、フィルタ駆動部３０によって当該光路に対し垂直に挿入または排出される。なお、強度フィルタ３の配置は光路中のコリメータレンズ２とビームスプリッタ４との間に限定されず、光路に対して機械的に挿入または排出されることにより、レーザ光の光量を調整させることができれば、光路中のどこに配置してもよい。

また、遮光フィルタ１２は、対物レンズ６と光ディスク７との間において、制御部３７からの制御信号に従って、光ディスク７へ照射されるレーザ光の光軸に対して挿入または排出される。なお、遮光フィルタ１２の配置は当該光軸中の対物レンズ６と光ディスク７との間に限定されず、レーザ光が光ディスク７へ集光されなければよい。具体的には、ビームスプリッタ４と１／４波長板５との間に、遮光フィルタ１２を配置してもよい。

次に、半導体レーザ１から出射されるレーザ光について説明する。

半導体レーザ１から出射されたレーザ光は、コリメータレンズ２に入射する。その後、コリメータレンズ２から出射された出射光は、ビームスプリッタ４へ入射する。前述のとおり、強度フィルタ３は光路に対して、挿入または排出することができるため、挿入された場合のみレーザ光は強度フィルタ３を介して、ビームスプリッタ４へ入射することとなる。

ビームスプリッタ４は前述のとおり、入射光を反射および透過する。これにより、反射されたレーザ光は、１／４波長板５へ入射する。１／４波長板５から出射された出射光は、対物レンズ６へ入射する。対物レンズ６から出射されたレーザ光は、光ディスク７の表面に焦点を結ぶ。その後、光ディスク７によって、反射された反射光は、再び対物レンズ６へ入射する。対物レンズ６に入射した反射光は、１／４波長板５を介して、ビームスプリッタ４へ再び入射する。ビームスプリッタ４へ入射した反射光は、透過され検出レンズ１０へ入射する。検出レンズ１０から出射された反射光は、受光素子１１へ集光する。

一方、ビームスプリッタ４によって透過されたレーザ光は、検出レンズ８へ入射する。検出レンズ８から出射されたレーザ光は、受光素子９へ集光する。

次に、本実施の形態にかかる光記録再生装置において、光ヘッド２０以外の構成、つまり光ヘッド２０を制御する制御系について説明する。

出力パワー検出部３２は、受光素子９によって変換された電気信号を入力する。当該電気信号は、半導体レーザ１の出力パワーおよび強度フィルタ３によって変更されたレーザ光の透過量等を検出するための信号である。出力パワー検出部３２は、入力した電気信号から、受光素子９によって受光されたレーザ光（第一のレーザ光）の光出力（出力パワー）を取得する。さらに、出力パワー検出部３２は、レーザパワー制御部３１からの出力信号を入力して、この出力信号を基に半導体レーザ１へ供給された電流を取得する。そして、出力パワー検出部３２は、後述する演算により、レーザ光の微分量子効率値を求める。ここで求めた微分量子効率値は、制御部３７へ出力される。

レーザパワー制御部３１は、出力パワー検出部３２から当該出力パワー検出部３２で検出された上記出力パワーを入力する。そして、レーザパワー制御部３１は、レーザ光が所望の出力パワーで半導体レーザ１から出力されるように、フィードバック制御を実行することにより、半導体レーザ１への電流供給の調節が行われる。また、レーザパワー制御部３１は、半導体レーザ１から出射されたレーザ光の出力に応じた上記出力信号を出力パワー検出部３２及び制御部３７に出力する。

フォーカス制御部３３は、受光素子１１によって変換された電気信号を入力する。フォーカス制御部３３は、入力した電気信号からフォーカス誤差情報を取得して、このフォーカス誤差情報に基づいて、レーザ光が光ディスク７上に焦点を結ぶように、光ヘッド２０を制御する。

トラッキング制御部３４は、受光素子１１によって変換された電気信号を入力する。トラッキング制御部３４は、入力した電気信号からトラッキング誤差情報を取得して、このトラッキング誤差情報に基づいて、レーザ光が光ディスク７上のトラック上の所定位置にレーザ光が集光するように、光ヘッド２０を制御する。

再生信号処理部３５は、受光素子１１によって変換された電気信号を入力する。再生信号制御部３５は、入力した電気信号から光ディスク７に記録された記録情報を再生するための再生信号を取得する。そして、再生信号処理部３５は、取得した再生信号に対して波形等化等の処理を行い、再生データを出力する。

記録層判別部３６は、受光素子１１によって変換された電気信号を入力する。記録層判別部３６は、入力した電気信号から光ディスク７からの反射光量等の、光ディスク７に関する情報を取得する。そして、記録層判別部３６は、取得した情報に基づいて、光ディスク７が有する記録層の数を判別する。ここで判別された光ディスク７の記録層の数は、制御部３７へ出力される。

制御部３７は、記録層判別部３６から取得した光ディスク７の記録層の数に適合する強度フィルタ３の状態を、光路に対する挿入および排出のいずれか一方から判断する。そして、制御部３７は、判断した強度フィルタ３の動作状態に対応した制御信号をフィルタ駆動部３０へ送信する。また、制御部３７は、出力パワー検出部３２によって求められた微分量子効率値を用いて、強度フィルタ３の動作状態およびこれを駆動するフィルタ駆動部３０の動作状態を判定することもできる。

フィルタ駆動部３０は、制御部３７からの制御信号を受け、強度フィルタ３を光路に対して挿入または排出するよう制御する。

次に、本実施の形態にかかる光記録再生装置の動作について、図面を用いて説明する。図２は図１に示した光記録再生装置の起動手順の一例を示すフローチャートである。ここでは、光ディスク７を光記録再生装置に挿入し、当該光ディスク７への記録または再生を行うまでの記録再生前処理について説明する。

まず、光ディスク７が挿入される（ステップＳ１０１）。そして、記録層判別部３６が光ディスク７の記録層の数を判別する（ステップＳ１０２）。光ディスク７が有する記録層の数が単層である場合、ステップＳ１０３へ進む。その後、制御部３７が、遮光フィルタ１２をレーザ光の光軸に対して挿入する（ステップＳ１０３）。一方、上記ステップＳ１０２において、光ディスク７が有する記録層の数が２層である場合、ステップＳ１０４へ進む。その後、制御部３７が、遮光フィルタ１２をレーザ光の光軸に対して挿入する（ステップＳ１０４）。光ディスク７が有する記録層の数の判別には、例えば、以下の方法を用いる。

すなわち、制御部３７が、半導体レーザ１を所定の出力パワーで発光させるよう、レーザパワー制御部３１へ指示すると、所定の出力パワーで出射されたレーザ光が、コリメータレンズ２、ビームスプリッタ４、１／４波長板５、および対物レンズ６を介して、光ディスク７へ照射される。そして、光ディスク７によって反射された反射光は、対物レンズ６、１／４波長板５、ビームスプリッタ４、および検出レンズ１０を介して、受光素子１１へ入射する。記録層判別部３６は、受光素子１１が受光した反射光の光量と、所定のレベル光量と比較することにより、光ディスク７が有する記録層の数を判別することができる。例えば、所定のレベル光量が１．０であり、受光素子１１が受光した反射光の光量が０．５である場合には、光ディスク７が有する記録層の数は２層であると判断できる。

また、ここでは、１つのレベル光量を基準として単層ディスクおよび２層ディスクを判別する例を用いたが、この一例に限定されない。例えば、３層ディスクの場合には０．３３、４層ディスクの場合には０．２５等の所定のレベル光量を設定しておくことにより、記録層判別部３６は、光ディスク７が有する記録層の数が３層以上の場合でも、記録層の数を判別することができる。なお、光ディスク７が有する記録層の数を判別する際には、強度フィルタ３は光路に対して、挿入されていてもよいし、排出されていてもよい。

ステップＳ１０５では、制御部３７が、フィルタ駆動部３０に、強度フィルタ３を光路から排出するよう、制御信号を送信して指示する。光ディスク７に対し記録再生する際、単層ディスクの場合であれば、光路へ強度フィルタ３が挿入されている必要があるが、本実施の形態では、記録層判別部３６の判別結果とは逆に、強度フィルタ３を光路から排出する。従って、受光素子９は強度フィルタ３を介さないレーザ光を受光し、当該レーザ光を電気信号に変換する。

次に、出力パワー検出部３２は、受光素子９によって変換された電気信号を取得し、強度フィルタ３を排出させた状態での微分量子効率値Ｅoutを求める（ステップＳ１０７）。

ここで、微分量子効率値とは、半導体レーザ１へ供給される電流と受光素子９によって受光される光出力との関係（以下、Ｉ−Ｌ特性と称す。）により表されるレーザ光の効率を示す。図３は、半導体レーザの電流−光出力特性（Ｉ−Ｌ特性）の一例を示すグラフである。図３において、Ｘ軸が半導体レーザ１へ供給される電流の推移を示し、Ｙ軸がレーザ光の光出力の推移を示している。微分量子効率値Ｅは、電流−光出力特性の傾きにより表されることから、例えば、以下の式（１）によって求めることができる。

Ｅ＝（Ｐb−Ｐa）／（Ｉb−Ｉa） 式（１）

一方、出力パワー検出部３２は、受光素子９によって変換される電気信号から、出力パワー検出レベルを取得するとともに、レーザパワー制御部３１からの出力信号を基に半導体レーザ１へ供給された電流を取得することができる。当該出力パワー検出レベルと半導体レーザ１に供給された電流との関係が電流−出力パワー検出レベル特性（以下、Ｉ−Ｖ特性と称す。）である。図４は、図１に示した光記録再生装置の半導体レーザの電流−光出力特性（Ｉ−Ｖ特性）の一例を示すグラフである。図４において、Ｘ軸が半導体レーザ１へ供給される電流の推移を示し、Ｙ軸が出力パワー検出部３２によって検出されるレーザ光の出力パワー検出レベルの推移を示している。

そして、出力パワー検出部３２は、上記出力パワー検出レベルと、半導体レーザ１に供給された電流とを用いて、微分量子効率値を求めることができる。ここでのＩ−Ｖ特性は、光路から強度フィルタ３が排出されているため、図４の（ａ）の特性である。まず、出力パワー検出部３２は、所定の電流（Ｉa）における出力パワー検出レベル（Ｖaout）を求める。次に、レーザパワー制御部３１が、半導体レーザ１へ供給する電流を徐々に増大させ、出力パワー検出部３２が増大後の電流（Ｉb）における出力パワー検出レベル（Ｖbout）を求める。それぞれの値を用いて、例えば、以下の式（２）より、出力パワー検出部３２は微分量子効率値Ｅoutを求めることができる。

Ｅout＝（Ｖbout−Ｖaout）／（Ｉb−Ｉa） 式（２）

式（２）によって求められた微分量子効率値Ｅoutは、制御部３７へ出力される。なお、本実施の形態にかかる微分量子効率値の演算式はこの一例に限定されない。

次に、ステップＳ１０９では、制御部３７が、フィルタ駆動部３０に、強度フィルタ３を光路へ挿入するよう、制御信号を送信して指示する。ここでの光路に対する強度フィルタ３の状態は、記録層判別部３６の判別結果から得られる光路に対する強度フィルタ３の状態と一致する。従って、受光素子９は、強度フィルタ３を介したレーザ光を受光し、当該レーザ光を電気信号に変換する。

その後、出力パワー検出部３２は、受光素子９によって変換された電気信号を取得し、強度フィルタ３を挿入させた状態での微分量子効率値Ｅinを求める（ステップＳ１１１）。ここでのＩ−Ｖ特性は、光路へ強度フィルタ３が挿入されているため、図４の（ｂ）の特性となる。まず、出力パワー検出部３２は、ステップＳ１０７と同量の電流（Ｉa）における出力パワー検出レベル（Ｖain）を求める。次に、レーザパワー制御部３１が、半導体レーザ１へ供給する電流がステップＳ１０７と同量になるまで徐々に増大させ、出力パワー検出部３２が増大後の電流（Ｉb）における出力パワー検出レベル（Ｖbin）を求める。それぞれの値を用いて、例えば、以下の式（３）より、出力パワー検出部３２は微分量子効率値Ｅinを求めることができる。

Ｅin＝（Ｖbin−Ｖain）／（Ｉb−Ｉa） 式（３）

式（３）によって求められた微分量子効率値Ｅinは、制御部３７へ出力される。なお、本実施の形態にかかる微分量子効率値の演算式はこの一例に限定されない。

次に、制御部３７は、光路に対し強度フィルタ３が排出されているときの微分量子効率値Ｅoutと、光路に対し強度フィルタ３が挿入されているときの微分量子効率値Ｅinとを取得する。出力パワー検出部３２によって、検出される出力パワー検出レベルＶain、Ｖaout、Ｖbin、Ｖboutは、強度フィルタ３が制御部３７の指示どおりに光路に対して挿入および排出されていれば、強度フィルタ３のレーザ光透過率をｍとした場合、Ｖbin＝Ｖbout×ｍ、およびＶain＝Ｖaout×ｍの関係をそれぞれ満たす。これは、出力パワー検出部３２で検出されるレーザ光は、半導体レーザ１の微分量子効率、強度フィルタ３を含めた半導体レーザ１から受光素子９までの間の光学透過率、および受光素子９の光電変換効率の影響を受ける。しかしながら、ステップＳ１０５からステップＳ１１１までの処理は、極めて短時間（例えば、数秒〜数十秒程度）で行われるため、半導体レーザ１の微分量子効率、強度フィルタ３を除いた半導体レーザ１から受光素子９までの間の光学透過率、および受光素子９の光学変換効率は、ほぼ一定である。すなわち、強度フィルタ３による透過量変化以外のレーザ光に対する影響を無視することができるため、出力パワー検出部３２における微分量子効率値は、強度フィルタ３が光路に対して挿入または排出させることのみを考慮し算出されるためである。従って、ステップＳ１１３では、制御部３７が、微分量子効率値Ｅout、Ｅinと強度フィルタ３のレーザ光透過率ｍとの関係が以下の式（４）の関係を満たすか否かを判断する。

Ｅin＝Ｅout×ｍ 式（４）

一例として、光路に対して挿入または排出される強度フィルタ３の光透過率が５０％（０．５）である場合について説明する。光透過率が５０％（０．５）の場合、出力パワー検出部３２によって検出される出力パワー検出レベルの関係は、Ｖbin＝Ｖbout／２、Ｖain＝Ｖaout／２となるため、制御部３７は、微分量子効率値Ｅout、Ｅinが以下の式（５）の関係を満たすか否か判断する。

Ｅin＝Ｅout×０．５ 式（５）

また、ステップＳ１１３において判断に用いる式は、ステップＳ１０７およびステップＳ１１１にて求められる微分量子効率値Ｅout、Ｅinの検出誤差を考慮し、式（４）の代わりに以下の式（６）を用いることができる。

K１×ｍ×Ｅout＜Ｅin＜Ｋ2×ｍ×Ｅout 式（６）
（但し、Ｋ1およびＫ2は係数）

ここで、微分量子効率値Ｅinの範囲を決定する係数Ｋ1およびＫ2は、ステップＳ１０７およびステップＳ１１１における微分量子効率値の演算結果のばらつき度合いを考慮して、任意に設定することができる。一例として、係数Ｋ1を、「０．８」、係数Ｋ2を「１．２」とし、強度フィルタ３の光透過率を５０％（０．５）とした場合、式（６）は以下の式（７）へ変更することができる。

０．４×Ｅout＜Ｅin＜０．６×Ｅout 式（７）

なお、ここで使用した係数Ｋ1およびＫ2は、この一例に限定されず、微分量子効率値Ｅout、Ｅinのばらつきを吸収できればよい。また、制御部３７は、ステップＳ１１３において、微分量子効率値Ｅout、Ｅinの関係が、式（４）および式（６）のうち、いずれか一方を満たすことによって判断してもよい。

ステップＳ１１３での判断の結果、微分量子効率値Ｅout、Ｅinが式（４）の関係を満たす場合（Ｙｅｓ）、遮光フィルタ１２が光路から排出され（ステップＳ１１４）、制御部３７はディスク種類に応じた各種調整を行い、光ディスク７の記録再生を開始する（ステップＳ１１５）。

なお、微分量子効率値Ｅout、Ｅinが式（４）の関係を満たさない場合（Ｎｏ）、制御部３７は上位装置へエラーを通知する等のエラー処理を行う（ステップＳ１１６）。ここでの上位装置とは、本実施の形態にかかる光記録再生装置に対し、記録または再生を指示する装置であり、光記録再生装置内にあってもよいし、例えば、パーソナルコンピュータ等のＣＰＵのように、光記録再生装置外にあってもよい。また、エラー処理としては、制御部３７が、レーザパワー制御部３１に、半導体レーザ１への電流の供給を停止するよう指示してもよいし、再生信号処理部３５が、受光素子１１から取得した再生信号の処理を止めることにより、光ディスク７の再生を停止してもよい。さらに、制御部３７は、光ディスク７への記録を停止してもよい。また、ステップＳ１０２から再実行する等のエラー処理を行ってもよい。

一方、ステップＳ１０６では、制御部３７が、フィルタ駆動部３０に、強度フィルタ３を光路へ挿入するよう、制御信号を送信して指示する。光ディスク７を記録再生する際、２層ディスクの場合であれば、光路から強度フィルタ３が排出されている必要があるが、本実施の形態では、記録層判別部３６の判別結果とは逆に、強度フィルタ３を光路へ挿入する。

次に、出力パワー検出部３２は、受光素子９によって変換された電気信号を取得し、強度フィルタ３を挿入させた状態での微分量子効率値Ｅinを求める（ステップＳ１０８）。ここでのＩ−Ｖ特性は、光路へ強度フィルタ３が挿入されているため、図４の（ｂ）の特性となる。出力パワー検出部３２は、所定の電流（Ｉa）における出力パワー検出レベル（Ｖain）を求め、レーザパワー制御部３１の制御による電流増大後の電流（Ｉb）における出力パワー検出レベル（Ｖbin）を求める。それぞれの値を用いて、例えば、式（３）より、微分量子効率値Ｅinを求めることができる。その後、微分量子効率値Ｅinは、制御部３７へ出力される。

ステップＳ１１０では、制御部３７が、フィルタ駆動部３０に、強度フィルタ３を光路から排出するよう、制御信号を送信して指示する。ここでの光路に対する強度フィルタ３の状態は、記録層判別部３６の判別結果から得られる光路に対する強度フィルタ３の状態と一致する。

次に、出力パワー検出部３２は、受光素子９によって変換された電気信号を取得し、強度フィルタ３を排出させた状態での微分量子効率値Ｅoutを求める（ステップＳ１１２）。ここでのＩ−Ｖ特性は、光路から強度フィルタ３が排出されているため、図４の（ａ）の特性となる。出力パワー検出部３２は、ステップＳ１０８と同量の電流（Ｉa）における出力パワー検出レベル（Ｖaout）と、ステップＳ１０８と同量になるまで増大させた電流（Ｉb）における出力パワー検出レベル（Ｖbout）を求める。それぞれの値を用いて、例えば、式（２）より、微分量子効率値Ｅoutを求めることができる。その後、微分量子効率値Ｅoutは、制御部３７へ出力され、ステップＳ１１３へ進む。

以上のように、本実施の形態によれば、出力パワー検出部３２（特性検出部）が、光路に対して強度フィルタ３（透過量可変部）が挿入または排出された状態でのレーザ光（第一のレーザ光）の出力パワー検出レベル（光出力）と、半導体レーザ１（レーザ光源）に供給された電流とを取得して、それぞれの状態での微分量子効率値（特性値）を求めている。また、制御部３７（判定部）は、出力パワー検出部３２からの微分量子効率値を用いて、フィルタ駆動部３０（透過量可変部）およびこれに駆動される強度フィルタ３が当該制御部３７（透過量制御部）から出力された制御信号に従って動作しているか否かを判定している。これにより、制御部３７は、フィルタ駆動部３０および強度フィルタ３の動作状態を把握して、当該フィルタ駆動部３０および強度フィルタ３が誤動作しているか否かを判断することができる。従って、光ディスク７が単層ディスクの場合、光路から強度フィルタ３が誤って排出された状態で、再生動作が行われるのを防ぐことができるため、信号品質が劣化した状態での再生動作を防ぐことができる。また、光ディスク７が２層ディスクの場合、光路へ強度フィルタ３が誤って挿入された状態で、記録動作が行われるのを防ぐことができるため、半導体レーザ１の劣化や破壊を防ぐことができる。さらに、本実施の形態にかかる光記録再生装置によれば、これまでの光記録再生装置に構成を追加することなく、上記の効果を得ることができる。

また、本実施の形態では、強度フィルタ３が光路に対して挿入または排出された２態様の状態に変化されているので、半導体レーザ１の経時変化の影響を受けることなく、制御部３７はフィルタ駆動部３０および強度フィルタ３の動作状態を判定することができる。

なお、本実施の形態にかかる光ディスク７が単層または２層の記録層を有する場合について説明したが、この一例に限定されない。光ディスク７は、３層以上の記録層を有していてもよい。一例として、光ディスク７の有する記録層の数が３層である場合、制御部３７は、フィルタ駆動部３０に対して３態様の制御信号を送信する。フィルタ駆動部３０は、受信した制御信号に応じて強度フィルタ３を３態様に制御する。しかし、制御部３７は、強度フィルタ３が制御信号に応じて動作するか否かについて、強度フィルタ３の状態を少なくとも２態様に異ならせて判定することができる。例えば、光ディスク７がｎ層（ｎは整数）の記録層を有している場合、制御部３７は、式（４）および式（６）の代わりに、以下の式（８）および式（９）を用いて、判断することができる。

Ｅi＝強度フィルタ３を単層ディスクに応じた状態とした場合の微分量子効率値
Ｅj＝強度フィルタ３をｎ層ディスクに応じた状態とした場合の微分量子効率値
Ｅi＝Ｅj×（１／ｎ） 式（８）
（Ｋ1／ｎ）×Ｅj＜Ｅi＜（Ｋ2／ｎ）×Ｅj 式（９）
（但し、Ｋ1およびＫ2は係数）

ここで、微分量子効率値Ｅiの範囲を決定する係数Ｋ1およびＫ2は、微分量子効率値Ｅi、Ｅjの演算結果のばらつき度合いを考慮して、任意に設定することができる。

なお、本実施の形態にかかる光記録再生装置の動作順序は、図２を用いて説明した順序に限定されない。光ディスク７への記録および再生に先立ち、光路に対して強度フィルム３の挿入および排出を行い、それぞれの状態における微分量子効率値Ｅout、Ｅinの関係が、式（４）または式（６）を満たすことを、制御部３７が判断できればよい。一例として、光ディスク７が有する記録層の数が単層であろうと２層であろうと、光路に対する強度フィルタ３の挿入および排出の順序が同一であってもよい。すなわち、２層ディスクでも、光路から強度フィルタ３を排出して微分量子効率値Ｅoutを求めた後、光路に対し強度フィルタ３を挿入して微分量子効率値Ｅinを求めてもよい。但し、光ディスク７が単層の記録層を有する場合には、上記のように、強度フィルタ３を先に光路から排出した後に光路に挿入する場合の方が、制御部３７は単層の記録層に適合した強度フィルタ３の配置状態で、その判定動作を終了することができ、光ディスク７に対する記録動作または再生動作を直ちに行える点で好ましい。同様に、光ディスク７が２層の記録層を有する場合には、上記のように、強度フィルタ３を先に光路に挿入した後に光路から排出する場合の方が、制御部３７は２層の記録層に適合した強度フィルタ３の配置状態で、その判定動作を終了することができ、光ディスク７に対する記録動作または再生動作を直ちに行える点で好ましい。

なお、強度フィルタ３の代わりに液晶素子や回折格子等を用いてもよい。液晶素子は、電気（電圧信号）が与えられることにより、レーザ光の透過量を調整することができるため、光路に対して液晶素子を挿入または排出するための機構（フィルタ駆動部３０に相当）が不要である。また、階調制御が可能な液晶素子を用いれば、透過量の調整を多段階にすることができる。

また、本実施の形態にかかる光記録再生装置では、強度フィルタ３およびフィルタ駆動部３０の正常動作を判断するまでの間、光ディスク７へのレーザ光（第二のレーザ光）を遮るように遮光フィルタ１２を挿入する動作について説明した。しかし、この一例に限定されず、例えば、遮光フィルタ１２の代わりに、フォーカス制御部３３が、対物レンズ６を光ディスク７に対して垂直に移動することによって、レーザ光が光ディスク７へ集光されないようにしてもよい。これにより、半導体レーザ１から出射されたレーザ光が、光ディスク７に記録された記録信号（記録情報）を消去することを確実に防ぐことができる。

なお、本実施の形態において、記録層判別部３６は、光ディスク７の記録層の数を、ディスク保護用カートリッジ（図示せず）の形状、所定位置における開口穴の有無等によって判別してもよい。

さらに、記録層判別部３６は、フォーカス誤差信号のＳ字カーブの数によって、光ディスク７が有する記録層の数を判別してもよい。一例として、制御部３７が、半導体レーザ１を所定の出力パワーで発光させるよう、レーザパワー制御部３１へ指示し、対物レンズ６を光ディスク７から垂直方向に移動させる。その時に得られる光ディスク７からの反射光を、受光素子１１が受光し、電気信号に変換する。当該電気信号を取得することにより、記録層判別部３６は、フォーカスずれ量に対するフォーカス誤差信号におけるＳ字カーブの数が１つの場合は単層ディスクと判別し、２つの場合は２層ディスクと判別することができる。

また、記録層判別部３６は、例えば、光ディスク７のリードイン等の所定領域に記録層の数に関する情報があらかじめ記録されている場合には、当該情報を読み取ることにより、記録層の数を判別してもよい。

（実施の形態２）
本発明の実施の形態２にかかる光記録再生装置について説明する。

図５は、本発明の実施の形態２にかかる光記録再生装置の構成を示すブロック図である。なお、本実施の形態にかかる光記録再生装置について、実施の形態１において図１を用いながら説明した光記録再生装置と同様の機能を実現する構成については、図５において同様の番号を付番し、説明を省略する。

図５に示すように、本実施の形態にかかる光記録再生装置は、光ヘッド２０、フィルタ駆動部３０（透過量可変部）、レーザパワー制御部３１（光出力制御部）、出力パワー検出部３２（特性検出部）、フォーカス制御部３３、トラッキング制御部３４、再生信号処理部３５、記録感度判別部３８、および制御部３７を備えている。すなわち、本実施の形態にかかる光記録再生装置は、記録層判別部の代わりに記録感度判別部３８を有している点において、実施の形態１にかかる光記録再生装置と異なる。また、光ヘッド２０は、半導体レーザ１（レーザ光源）、コリメータレンズ２、強度フィルタ３（透過量可変部）、ビームスプリッタ４（分光部）、１／４波長板５、対物レンズ６（光学レンズ）、検出レンズ８、１０、および受光素子９（受光検出部）、１１を備えており、実施の形態１の光ヘッド２０とは、遮光フィルタ１２を備えていない点で異なる。

記録感度判別部３８は、受光素子１１によって変換された電気信号を入力する。記録感度判別部３８は、入力した電気信号から光ディスク７からの反射光量等の、光ディスク７に関する情報を取得する。そして、記録感度判別部３８は、取得した情報に基づいて、光ディスク７の記録感度を判別する。ここで判別された光ディスク７の記録感度は、制御部３７へ出力される。また、光ディスク７の記録感度には、記録層の数および当該光ディスク７に指定されている記録（パワー）感度が含まれている。

次に、本実施の形態にかかる光記録再生装置の動作について、図面を用いてその動作について説明する。図６は図５に示した光記録再生装置の起動手順の一例を示すフローチャートである。ここでは、光ディスク７を光記録再生装置に挿入し、当該光ディスク７への記録または再生を行うまでの記録再生前処理について説明する。

まず、光ディスク７が挿入されたことを検知する（ステップＳ２０１）。そして、光ディスク７が挿入されたことを検知した後、記録感度判別部３８が光ディスク７の記録感度を判別する（ステップＳ２０２）。光ディスク７の記録感度が高い場合、ステップＳ２０３へ進む。光ディスク７の記録感度が低い場合、ステップＳ２０４へ進む。また、ステップＳ２０２の判別動作を終了すると、フォーカス制御部３３が対物レンズ６を光ディスク７に対して垂直に移動することにより、半導体レーザ１からのレーザ光が光ディスク７へ集光されない状態とされる。また、光ディスク７の記録感度の判別には、例えば、以下の方法を用いる。

すなわち、光ディスク７のリードイン等の所定領域に記録感度に関する情報があらかじめ記録されている場合には、当該情報を読み取ることにより、記録感度を判別することができる。また、記録感度が低いとは、再生（または記録）するために、より強い再生パワー（または記録パワー）が必要であることを指している。なお、光ディスク７の記録感度を判別する際には、強度フィルタ３は光路に対し、挿入してもいてもよく、排出してもいてもよい。

ステップＳ２０３では、制御部３７が、フィルタ駆動部３０に、強度フィルタ３を光路から排出するよう、制御信号を送信して指示する。光ディスク７に対し記録再生する際、記録感度が高い場合であれば、光路へ強度フィルタ３が挿入されている必要があるが、本実施の形態では、記録感度判別部３８の判別結果とは逆に、強度フィルタ３を光路から排出する。従って、半導体レーザ１から出射されたレーザ光は、強度フィルタ３を介さずに、受光素子９へ入射し、電気信号に変換される。

次に、出力パワー検出部３２は、受光素子９によって変換された電気信号を取得する。そして、出力パワー検出部３２は、取得した電気信号から、所定の電流（Ｉa）における出力パワー検出レベル（Ｖaout）を求める。次に、レーザパワー制御部３１が、半導体レーザ１へ供給する電流を徐々に増大させ、出力パワー検出部３２が増大後の電流（Ｉb）における出力パワー検出レベル（Ｖbout）を求める。その後、出力パワー検出部３２は、例えば式（２）より、微分量子効率値Ｅoutを求める（ステップＳ２０５）。ステップＳ２０５で、求められた微分量子効率値Ｅoutは、制御部３７へ出力される。

そして、ステップＳ２０７では、制御部３７が、フィルタ駆動部３０に、強度フィルタ３を光路へ挿入するよう、制御信号を送信して指示する。ここでの光路に対する強度フィルタ３の状態は、記録感度判別部３８の判別結果から得られる光路に対する強度フィルタ３の状態と一致する。従って、半導体レーザ１から出射されたレーザ光は、強度フィルタ３を介して、受光素子９へ入射し、電気信号に変換される。

その後、出力パワー検出部３２は、受光素子９によって変換された電気信号を取得する。そして、出力パワー検出部３２は、取得した電気信号から、所定の電流（Ｉa）における出力パワー検出レベル（Ｖain）を求める。次に、レーザパワー制御部３１が、半導体レーザ１へ供給する電流を徐々に増大させ、出力パワー検出部３２が増大後の電流（Ｉb）における出力パワー検出レベル（Ｖbin）を求める。その後、出力パワー検出部３２は、例えば、式（３）により、微分量子効率値Ｅinを求める（ステップＳ２０９）。微分量子効率値Ｅinは、制御部３７へ出力される。

次に、制御部３７は、光路に対し強度フィルタ３が排出されているときの微分量子効率値Ｅoutと、光路に対し強度フィルタ３が挿入されているときの微分量子効率値Ｅinとを取得する。制御部３７は、微分量子効率値Ｅout、Ｅinと強度フィルタ３のレーザ光透過率ｍとの関係が式（４）の関係を満たすか否かを判断する（ステップＳ２１１）。また、判断に用いる式としては、ステップＳ２０５およびステップＳ２０９にて求められる微分量子効率値Ｅout、Ｅinの検出ばらつきを考慮し、式（６）を用いてもよい。また、制御部３７は、ステップＳ２１１において、微分量子効率値Ｅout、Ｅinの関係が、式（４）および式（６）のうち、いずれか一方を満たすことによって判断してもよい。

ステップＳ２１１での判断の結果、微分量子効率値Ｅout、Ｅinが式（４）の関係を満たす場合（Ｙｅｓ）、半導体レーザ１からのレーザ光が光ディスク７へ集光するようにフォーカス制御部３３によって対物レンズ６が移動された後、制御部３７はディスク種類に応じた各種調整を行い、光ディスク７の記録再生を開始する（ステップＳ２１２）。微分量子効率値Ｅout、Ｅinが式（４）の関係を満たさない場合（Ｎｏ）、制御部３７は上位装置へエラー通知を行う等のエラー処理を行い、光ディスク７の記録再生を行わない（ステップＳ２１３）。

一方、ステップＳ２０４では、制御部３７が、フィルタ駆動部３０に、強度フィルタ３を光路へ挿入するよう、制御信号を送信して指示する。光ディスク７を記録再生する際、記録感度が低い場合であれば、光路から強度フィルタ３が排出されている必要があるが、本実施の形態では、記録密度判別部３８の判別結果とは逆に、強度フィルタ３を光路へ挿入する。

次に、出力パワー検出部３２は、受光素子９によって変換された電気信号を取得する。そして、出力パワー検出部３２は、取得した電気信号から、所定の電流（Ｉa）における出力パワー検出レベル（Ｖain）を求める。次に、レーザパワー制御部３１が、半導体レーザ１へ供給する電流を徐々に増大させ、出力パワー検出部３２が増大後の電流（Ｉb）における出力パワー検出レベル（Ｖbin）を求める。その後、出力パワー検出部３２は、例えば、式（３）により、微分量子効率値Ｅinを求める（ステップＳ２０６）。微分量子効率値Ｅinは、制御部３７へ出力される。

ステップＳ２０８では、制御部３７が、フィルタ駆動部３０に、強度フィルタ３を光路から排出するよう、制御信号を送信して指示する。ここでの光路に対する強度フィルタ３の状態は、記録感度判別部３８の判別結果から得られる光路に対する強度フィルタ３の状態と一致する。

次に、出力パワー検出部３２は、受光素子９によって変換された電気信号を取得する。そして、出力パワー検出部３２は、取得した電気信号から、所定の電流（Ｉa）における出力パワー検出レベル（Ｖaout）を求める。次に、レーザパワー制御部３１が、半導体レーザ１へ供給する電流を徐々に増大させ、出力パワー検出部３２が増大後の電流（Ｉb）における出力パワー検出レベル（Ｖbout）を求める。その後、出力パワー検出部３２は、例えば式（２）により、微分量子効率値Ｅoutを求める（ステップＳ２１０）。その後、微分量子効率値Ｅoutは、制御部３７へ出力され、ステップＳ２１１へ進む。

以上のように、本実施の形態によれば、記録感度の異なる光ディスク７に対して、記録再生する場合であっても、制御部３７は、出力パワー検出部３２からの微分量子効率値を用いて、フィルタ駆動部３０および強度フィルタ３が当該制御部３７から出力された制御信号に従って動作しているか否かを判定している。これにより、制御部３７は、フィルタ駆動部３０および強度フィルタ３の動作状態を把握して、当該フィルタ駆動部３０および強度フィルタ３が誤動作しているか否かを判断することができる。従って、例えば記録感度が低い場合に光路から強度フィルタ３が誤挿入された状態で、記録動作または再生動作が行われるのを防ぐことができる。

なお、本実施の形態にかかる光記録再生装置の動作順序は、この図６を用いて説明した順序に限定されない。光ディスク７への記録および再生に先立ち、強度フィルム３を光路に対して挿入および排出し、それぞれの状態における微分量子効率値Ｅout、Ｅin_ｎの関係が、式（４）または式（６）を満たすことを、制御部３７が判断できればよい。一例として、光ディスク７の記録感度の高低に関係なく、光路に対する強度フィルタ３の挿入および排出の順序が同一であってもよい。すなわち、光ディスクの記録感度が低い場合でも、光路に対し強度フィルタ３を排出して微分量子効率値Ｅoutを求めた後、光路に対し強度フィルタ３を挿入して微分量子効率値Ｅinを求めてもよい。但し、光ディスク７の記録感度が高い場合には、上記のように、強度フィルタ３を先に光路から排出した後に光路に挿入する場合の方が、制御部３７は高い記録感度に適合した強度フィルタ３の配置状態で、その判定動作を終了することができ、光ディスク７に対する記録動作または再生動作を直ちに行える点で好ましい。同様に、光ディスク７の記録感度が低い場合には、上記のように、強度フィルタ３を先に光路に挿入した後に光路から排出する場合の方が、制御部３７は低い記録感度に適合した強度フィルタ３の配置状態で、その判定動作を終了することができ、光ディスク７に対する記録動作または再生動作を直ちに行える点で好ましい。

（実施の形態３）
本発明の実施の形態３にかかる光記録再生装置について説明する。

図７は、本発明の実施の形態３にかかる光記録再生装置の構成を示すブロック図である。本実施の形態にかかる光記録再生装置において、図１を用いて説明した実施の形態１の光記録再生装置と同じ機能を実現する構成については、図７において同じ番号を付番し、説明を省略する。

本実施の形態にかかる光記録再生装置は、光ヘッド２０、フィルタ駆動部３０（透過量可変部）、レーザパワー制御部３１（光出力制御部）、出力パワー検出部３２（特性検出部）、フォーカス制御部３３、トラッキング制御部３４、再生信号処理部３９、記録層判別部３６、制御部４０、および記憶部４１を備えている。また、光ヘッド２０は、半導体レーザ１（レーザ光源）、コリメータレンズ２、強度フィルタ３（透過量可変部）、ビームスプリッタ４（分光部）、１／４波長板５、対物レンズ６（光学レンズ）、検出レンズ８、１０、および受光素子９（受光検出部）、１１を備えており、実施の形態１の光ヘッド２０とは、遮光フィルタ１２を備えていない点で異なる。

再生信号処理部３９は、光ヘッド２０の受光素子１１によって変換された電気信号を入力する。再生信号制御部３９は、入力した電気信号から光ディスク７に記録された記録情報を再生するための再生信号を取得する。そして、再生信号処理部３９は、取得した再生信号に対して波形等化等の処理を行い、再生データを出力する。さらに、再生信号処理部３９は、取得した再生信号から、例えば変調度、ジッタ値、またはエラーレート等の当該再生信号の品質に関する情報を抽出して制御部４０へ出力する。

記憶部４１は、フラッシュＥＥＰＲＯＭ（Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory）等を用いることができる。記憶部４１には、強度フィルタ３が光路に対して挿入および排出された際における微分量子効率値（特性設定値）Ｅin0、Ｅout0が、工場出荷時等にあらかじめ記憶されている。

制御部４０は、記録層判別部３６から取得した光ディスク７の記録層の数に適合する強度フィルタ３の状態を、光路に対する挿入および排出のいずれか一方から判断する。そして、制御部４０は、判断した強度フィルタ３の動作状態に対応した制御信号をフィルタ駆動部３０へ送信する。さらに、制御部４０は、再生信号処理部３９から、再生信号の品質に関する情報を取得し、信号品質の判断を行うことができる。また、制御部４０は、記憶部４１にあらかじめ記憶された微分量子効率値を取得することができ、出力パワー検出部３２によって求められた微分量子効率値と比較することにより、強度フィルタ３の動作状態およびフィルタ駆動部３０の動作状態を判定することができる。

次に、本実施の形態にかかる光記録再生装置の動作について説明する。図８は、図７に示した光記録再生装置の起動手順の一例を示すフローチャートである。ここでは、光ディスク７を光記録再生装置に挿入し、当該光ディスク７への記録または再生を行うまでの記録再生前処理について説明する。

まず、光ディスク７が挿入されたことを検知する（ステップＳ３０１）。そして、光ディスク７が挿入されたことを検知した後、記録層判別部３６が光ディスク７の記録層の数を判別する（ステップＳ３０２）。光ディスク７が単層ディスクである場合、ステップＳ３０３へ進む。光ディスク７が２層ディスクである場合、ステップＳ３０４へ進む。また、ステップＳ３０２の判別動作を終了すると、フォーカス制御部３３が対物レンズ６を光ディスク７に対して垂直に移動することにより、半導体レーザ１からのレーザ光が光ディスク７へ集光されない状態とされる。

ステップＳ３０３では、制御部４０が、フィルタ駆動部３０に、強度フィルタ３を光路へ挿入するよう、制御信号を送信して指示する。従って、半導体レーザ１から出射されたレーザ光は、強度フィルタ３を介し、受光素子９へ入射し、電気信号に変換される。

次に、出力パワー検出部３２は、受光素子９によって変換された電気信号を取得する。そして、出力パワー検出部３２は、取得した電気信号から、所定の電流（Ｉa）における出力パワー検出レベル（Ｖain）を求める。次に、レーザパワー制御部３１が、半導体レーザ１へ供給する電流を徐々に増大させ、出力パワー検出部３２が増大後の電流（Ｉb）における出力パワー検出レベル（Ｖbin）を求める。出力パワー検出部３２は、例えば、式（３）により、微分量子効率値Ｅinを求める（ステップＳ３０５）。ステップＳ３０５で、求めた微分量子効率値Ｅinは、制御部４０へ出力される。

ここで、レーザ光の微分量子効率値の経時的な変化について説明する。図９は、図７に示した光記録再生装置の半導体レーザの電流−光出力特性（Ｉ−Ｖ特性）の一例を示すグラフである。図９においては、Ｘ軸が半導体レーザ１へ供給される電流の推移を示し、Ｙ軸が出力パワー検出部３２によって検出されるレーザ光の出力パワー検出レベルの推移を示している。

レーザ光の微分量子効率値は、半導体レーザ１の内部における活性層の劣化等により、時間の経過と共に低下する（例えば、「わかる半導体レーザの基礎と応用−レーザ・ダイオードの発光原理および諸特性とその展望 基礎解説シリーズ」、平田照二著、２００１年１１月発行、ＣＱ出版社、第１０５頁）。一方、レーザ光の微分量子効率値が向上する要因は少ない。従って、一定期間経過後における微分量子効率値は、例えば、−４０％〜＋１０％の範囲内であると予測することができる。図９の（ａ０）、（ｂ０）は、工場出荷当時におけるレーザ光の微分量子効率値の特性を示している。図９の（ａ１）、（ｂ１）は、レーザ光の微分量子効率値が向上すると予測した場合の特性を示している。また、図９の（ａ２）、（ｂ２）は、レーザ光の微分量子効率値が低下すると予測した場合の特性を示している。

制御部４０は、強度フィルタ３が光路に挿入された際における微分量子効率値Ｅin0を記憶部４１から取得する。そして、制御部４０は、ステップＳ３０５において求められた微分量子効率値Ｅinと記憶部４１の微分量子効率値Ｅin0との関係が、以下の式（１０）を満たすか否か判断する（ステップＳ３０７）。

０．６×Ｅin0＜Ｅin＜１．１×Ｅin0 式（１０）

ステップＳ３０７での判断の結果、微分量子効率値Ｅin0、Ｅinが式（１０）の関係を満たす場合（Ｙｅｓ）、半導体レーザ１からのレーザ光が光ディスク７へ集光するようにフォーカス制御部３３によって対物レンズ６が移動された後、制御部４０はディスク種類に応じた各種調整を行い、光ディスク７の記録再生を開始する（ステップＳ３０９）。

微分量子効率値Ｅin0、Ｅinが式（１０）の関係を満たさない場合（Ｎｏ）、制御部４０は上位装置へエラー通知を行う等のエラー処理を行い、光ディスク７の記録再生を行わない（ステップＳ３１１）。制御部４０は、レーザパワー制御部３１に対し、半導体レーザ１への電流の供給を停止するよう指示を出す。なお、微分量子効率値Ｅin0、Ｅinの関係が、Ｅin＜０．６×Ｅin0を満たす場合には、半導体レーザ１が、工場出荷当時に対して大幅に劣化していると判断できる。

一方、ステップＳ３０４では、制御部４０が、フィルタ駆動部３０に、強度フィルタ３を光路から排出するよう、制御信号を送信して指示する。従って、半導体レーザ１から出射されたレーザ光は、強度フィルタ３を介さず、受光素子９へ入射し、電気信号に変換される。

次に、出力パワー検出部３２は、受光素子９によって変換された電気信号を取得する。そして、出力パワー検出部３２は、取得した電気信号から、所定の電流（Ｉa）における出力パワー検出レベル（Ｖaout）を求める。次に、レーザパワー制御部３１が、半導体レーザ１へ供給する電流を徐々に増大させ、出力パワー検出部３２が増大後の電流（Ｉb）における出力パワー検出レベル（Ｖbout）を求める。その後、出力パワー検出部３２は、例えば、式（２）により、微分量子効率値Eoutを求める（ステップＳ３０６）。ステップＳ３０６で、求めた微分量子効率値Ｅoutは、制御部４０へ出力される。

制御部４０は、強度フィルタ３が光路から排出された際における微分量子効率値Ｅout0を記憶部４１から取得する。そして、制御部４０は、ステップＳ３０６において求められた微分量子効率値Ｅoutと記憶部４１の微分量子効率値Ｅout0との関係が、以下の式（１１）を満たすか否か判断する（ステップＳ３０８）。

０．６×Ｅout0＜Ｅout＜１．１×Ｅout0 式（１１）

ステップＳ３０８での判断の結果、微分量子効率値Ｅout0、Ｅoutが式（１１）の関係を満たす場合（Ｙｅｓ）、半導体レーザ１からのレーザ光が光ディスク７へ集光するようにフォーカス制御部３３によって対物レンズ６が移動された後、制御部４０はディスク種類に応じた各種調整を行い、光ディスク７の記録再生を開始する（ステップＳ３１０）。

微分量子効率値Ｅout0、Ｅoutが式（１１）の関係を満たさない場合（Ｎｏ）、制御部４０は上位装置へエラー通知を行う等のエラー処理を行い、光ディスク７の記録再生を行わない（ステップＳ３１１）。

以上のように、本実施の形態にかかる光記録再生装置は、制御部４０が、出力パワー検出部３２が検出した微分量子効率値（特性値）と、記憶部４１に、例えば工場出荷時にあらかじめ記憶された微分量子効率値（特性設定値）とを比較することにより、強度フィルタ３およびフィルタ駆動部３０が正常に動作しているか否かを判定できる。この結果、上記実施の形態と異なり、強度フィルタ３を配置状態を挿入または排出の２態様に変化させて、微分量子効率値の変化を検出する必要がないため、短時間での判定が可能である。また、Ｉ−Ｖ特性が温度や経時劣化などにより変化することを考慮して、（式１０）および（式１１）中の係数を決めているため、ステップＳ３０７およびステップＳ３０８における判定を正確に行うことが可能である。

なお、上記の説明以外に、ステップＳ３０７またはステップＳ３０８における判断の結果、式（１０）または式（１１）の関係を満たさないとき、光ディスク７が単層ディスクであれば、試し再生を行うことができる。この場合、ステップＳ３１２で、光ディスク７が単層ディスクであるか否かを判断し、単層ディスクであれば、ステップＳ３１３へ進む。２層ディスクであれば、ステップＳ３１５へ進む。

ステップＳ３１３では、制御部４０がレーザパワー駆動部３１へ、半導体レーザ１への電流供給を行うように指示する。従って、半導体レーザ１から出射されたレーザ光は、強度フィルタ３を介さずに、光ディスク７上に焦点を結び、光ディスク７によって反射された反射光は受光素子１１へ入射する。受光素子１１に受光された反射光は、電気信号に変換される。再生信号処理部３９は、受光素子１１から電気信号を取得し、制御部４０へ出力する。制御部４０は、当該電気信号に含まれる再生信号の品質に関する情報を参照し、再生信号の品質が良好であるか否かを判断する（ステップＳ３１４）。再生信号の品質が良好であれば（Ｙｅｓ）、制御部４０は光ディスク７の記録情報を再生する（ステップＳ３０９）。再生信号の品質が良好でなければ（Ｎｏ）、制御部４０は、光ディスク７の記録情報を再生しない（ステップＳ３１５）。

これにより、制御部４０によって、強度フィルタ３が誤って排出されたと判断された場合であっても、光ディスク７が単層ディスクであれば、レーザ光の出力パワーは半導体レーザ１を劣化させるほどの出力パワーではないため、強度フィルタ３またはフィルタ駆動部３０の動作異常に関係なく、再生を行うことができる。

また、式（１０）および式（１１）中の係数（「０．６」「１．１」）は、半導体レーザ１の一定期間経過後における微分量子効率値を、一例として、−４０％〜＋１０％の範囲内であると予測した場合における係数である。式（１０）および式（１１）中の係数は、Ｉ−Ｖ特性の変化を、温度または経時劣化等を考慮して決定すればよく、この一例に限定されるものではない。

なお、記憶部４１に記憶する微分量子効率値Ｅin0、Ｅout0を工場出荷時の値として説明したが、本実施の形態にかかる光記録再生装置における記憶部４１にあらかじめ設定する時期は、これに限るものではない。経時劣化等の劣化要因が発生する以前に記憶部４１に設定されていればよく、例えば、初めて光記録再生装置を使用した際に、自動的に記憶部４１に設定されるものでもよい。また、本実施の形態の記憶部４１を上記実施の形態１、２の光記録再生装置に設け、光路に対する強度フィルタ３の配置状態を２態様に変化させ、かつ、当該記憶部４１内に保持されている特性設定値（Ｅin0、Ｅout0）を用いて、制御部３７が上記透過量可変部での誤動作の有無を判断する構成でもよい。

（実施の形態４）
本発明の実施の形態４にかかる光記録再生装置について説明する。

図１０は、本発明の実施の形態４にかかる光記録再生装置の構成を示すブロック図である。本実施の形態にかかる光記録再生装置において、図１を用いて説明した実施の形態１の光記録再生装置と同じ機能を実現する構成については、図１０において同じ番号を付番し、説明を省略する。

本実施の形態にかかる光記録再生装置は、光ヘッド２０、フィルタ駆動部３０（透過量可変部）、レーザパワー制御部３１（光出力制御部）、出力パワー検出部３２（特性検出部）、フォーカス制御部３３、トラッキング制御部３４、再生信号処理部３５、記録層判別部３６、および制御部３７を備えている。また、光ヘッド２０は、半導体レーザ１（レーザ光源）、コリメータレンズ２、第一の強度フィルタ３ａ（第一の透過量可変部）、第二の強度フィルタ３ｂ（第二の透過量可変部）、ビームスプリッタ４（分光部）、１／４波長板５、対物レンズ６（光学レンズ）、検出レンズ８、１０、および受光素子９（受光検出部）、１１を備えており、実施の形態１の光ヘッド２０とは、遮光フィルタ１２を備えていない点で異なる。

第一の強度フィルタ３ａは、フィルタ駆動部３０とともに、第一の透過量可変部を構成するものであり、上記実施の形態の強度フィルタ３と同様に、光ディスク７の記録層の数または記録感度に応じて、半導体レーザ１からビームスプリッタ４に入射されるレーザ光の透過量を調整する。

第二の強度フィルタ３ｂは、フィルタ駆動部３０とともに、光ディスク７に対する再生動作または記録動作に応じて、半導体レーザ１からビームスプリッタ４に入射されるレーザ光の透過量を調整する第二の透過量可変部を構成している。

また、第一および第二の各強度フィルタ３ａ、３ｂでは、制御部３７からの制御信号に従ったフィルタ駆動部３０の動作により、例えば表１に示すように、光ディスク７の記録層の数および当該光ディスク７に対する記録再生動作に応じて、上記光路に対して適宜挿入または排出されるようになっている。

表１に例示されるように、第一の強度フィルタ３ａは、実施の形態１の強度フィルタ３と同様に、記録層判別部３６によって判別された光ディスク７の記録層の数に従って、挿入または排出されるようになっている。また、この第一の強度フィルタ３ａの動作状態の判定処理は、第二の強度フィルタ３ｂが光路から排出された状態で、強度フィルタ３と同様に、行われる。すなわち、図２のステップＳ１０５〜Ｓ１１６に示したように、出力パワー検出部３２が第一の強度フィルタ３ａを挿入および排出させた状態での微分量子効率値Ｅin、Ｅoutを検出し、制御部３７が式（４）または式（６）に代入することで第一の強度フィルタ３ａおよびフィルタ駆動部３０の誤動作の有無が判断される。尚、この説明以外に、第二の強度フィルタ３ｂを光路に挿入した状態でも、上記ステップＳ１０５〜Ｓ１１６の手順に従って、第一の強度フィルタ３ａの動作状態の判定処理を実施することができる。

一方、第二の強度フィルタ３ｂは、表１に示したように、再生動作に挿入され、記録動作に排出されるようになっており、記録動作が行われる前に、制御部３７は第二の強度フィルタ３ｂに対する誤動作の有無を必ず判定するようになっている（詳細は後述）。

ここで、第一および第二の強度フィルタ３ａ、３ｂによって調整される半導体レーザ１の出力パワーについて具体的に説明する。なお、以下の説明では、第一および第二の強度フィルタ３ａ、３ｂでのレーザ光の各透過率が、５０％である場合について説明する。また、光ヘッド２０の光学透過率（第一および第二の強度フィルタ３ａ、３ｂを除く、光ヘッドの光学系全体の透過率）が、２５％である場合について説明する。また、単層ディスクに情報を記録するために必要な盤面（記録層）上の記録パワーが５ｍＷであり、単層ディスクから情報を再生するために必要な記録層上の再生パワーが０．４ｍＷである場合について説明する。

まず、記録動作時では、単層ディスクの光ディスク７に対して、５ｍＷの記録パワーを得るためには、半導体レーザ１の出力パワーを、４０ｍＷ（５ｍＷ／２５％／５０％）とする必要がある。また、２層ディスクの光ディスク７に対する記録動作時では、単層ディスクの約２倍の記録パワーを得る必要があることから、４０ｍＷ（５ｍＷ×２／２５％）に半導体レーザ１の出力パワーを調整する必要がある。

一方、再生動作時では、単層ディスクの光ディスク７に対して、０．４ｍＷの再生パワーを得るためには、半導体レーザ１の出力パワーを、６．４ｍＷ（０．４ｍＷ／２５％／５０％／５０％）とする必要がある。また、２層ディスクの光ディスク７に対する再生動作時では、単層ディスクの約２倍の再生パワーを得る必要があることから、６．４ｍＷ（０．４ｍＷ×２／２５％／５０％）に半導体レーザ１の出力パワーを調整する必要がある。このように、再生動作時では、光ディスク７の記録層の数に関わらず、第二の強度フィルタ３ｂが上記光路に挿入されるので、上記各実施の形態のものに比べて、半導体レーザ１の再生パワーを高くすることができる。この結果、本実施の形態では、再生動作時での半導体レーザ１の量子雑音の低減効果をより向上させて、優れた品質の再生信号を得ることができる。

次に、本実施の形態にかかる光記録再生装置の動作について、図面を用いて説明する。なお、以下の説明では、第二の強度フィルタ３ｂの挿入または排出する動作について主に説明する。また、２層ディスクの光ディスク７に対して、再生動作および記録動作が連続的に行われる場合を例示して説明する。

図１１は、図１０に示した光記録再生装置での動作例を示すタイミングチャートである。図１２は図１０に示した光記録再生装置での再生動作から記録動作への切換時の動作例を示すフローチャートであり、図１３は図１０に示した光記録再生装置での記録動作から再生動作への切換時の動作例を示すフローチャートである。

図１１に示すように、再生動作が行われているときには、第二の強度フィルタ３ｂは上記光路に挿入されており、記録動作の開始前の時点ｔ１において、第二の強度フィルタ３ｂは排出される。このとき、フィルタ駆動部３０が正常に動作して、第二の強度フィルタ３ｂが適切に排出されていれば、レーザパワー制御部３１では、出力パワー検出部３２からの検出信号（再生パワー）を目標値に用いたフィードバック制御も正常に行われる。すなわち、第二の強度フィルタ３ｂの排出動作に伴って、半導体レーザ１への供給電流値が減少されることで半導体レーザ１の出力パワーは第二の強度フィルタ３ｂの透過率に応じて低下するが、光ディスク７上の再生パワーは目標値に合致するように制御される。それ故、第二の強度フィルタ３ｂの排出動作の判定処理は、当該第二のフィルタ３ｂの排出前後の電流変化量ΔＩeを用いて行うことができる。

つまり、再生パワーおよび第二の強度フィルタ３ｂの透過率をそれぞれＰrおよびＴ2とし、第二の強度フィルタ３ｂの排出前の微分量子効率値をＥaとすると、第二の強度フィルタ３ｂの排出前後での電流変化量ΔＩeの期待値ΔＩxeは、以下の式（１２）で表現される。

ΔＩxe＝Ｐr／（Ｅa／Ｔ2）−Ｐr／Ｅa 式（１２）

ここで、第二の強度フィルタ３ｂの透過率Ｔ2が５０％である場合には、上記式（１２）は次の式（１３）に変形される。

ΔＩxe＝−０．５×（Ｐr／Ｅa） 式（１３）

したがって、制御部３７は、検出誤差などを考慮した次の式（１４）により、第二の強度フィルタ３ｂの排出動作を判定することが可能となる。

ΔＩe＜０．８×ΔＩxe 式（１４）

詳細には、図１２のステップＳ４０１に示すように、上記時点ｔ１の前に出力パワー検出部３２が受光素子９からの電気信号およびレーザパワー制御部３１からの出力信号を基に再生パワーＰrおよび微分量子効率値Ｅaを求めて、制御部３７に出力する。続いて、制御部３７は、入力した再生パワーＰrおよび微分量子効率値Ｅaを式（１３）に代入することにより、上記期待値ΔＩxeを算出する。また、制御部３７では、レーザパワー制御部３１からの出力信号に基づいて、第二の強度フィルタ３ｂの排出前後での電流変化量ΔＩeを検出する（ステップＳ４０２）。

続いて、制御部３７は、算出した期待値ΔＩxeと検出した電流変化量ΔＩeとが上記式（１４）を満足するか否かについて判別する（ステップＳ４０３）。そして、式（１４）を満足している場合には、制御部３７は、第二の強度フィルタ３ｂが光路から排出されていると判断し、図１１に時点ｔ２にて示すように、再生動作から記録動作に切り換えて記録動作を開始する（ステップＳ４０４）。

一方、上記ステップＳ４０３において、式（１４）が満足されていないことを判別すると、制御部３７は、第二の強度フィルタ３ｂが光路から排出されていないと判断して、エラー処理を行う（ステップＳ４０５）。

また、再生動作が記録動作に連続的に行われる場合では、図１１に示すように、記録動作から再生動作に切り換えた時点ｔ３から所定時間が経過した時点ｔ４で第二の強度フィルタ３ｂは光路に挿入される。このとき、フィルタ駆動部３０が正常に動作して、第二の強度フィルタ３ｂが適切に挿入されていれば、レーザパワー制御部３１では、出力パワー検出部３２からの検出信号（再生パワー）を目標値に用いたフィードバック制御も正常に行われる。すなわち、第二の強度フィルタ３ｂの挿入動作に伴って、半導体レーザ１への供給電流値が増加されることで半導体レーザ１の出力パワーは第二の強度フィルタ３ｂの透過率に応じて上昇するが、光ディスク７上の再生パワーは目標値に合致するように制御される。それ故、第二の強度フィルタ３ｂの挿入動作の判定処理は、当該第二のフィルタ３ｂの挿入前後の電流変化量ΔＩiを用いて行うことができる。

つまり、再生パワーおよび第二の強度フィルタ３ｂの透過率をそれぞれＰrおよびＴ2とし、第二の強度フィルタ３ｂの挿入前の微分量子効率値をＥbとすると、第二の強度フィルタ３ｂの挿入前後での電流変化量ΔＩiの期待値ΔＩxiは、以下の式（１５）で表現される。

ΔＩxi＝Ｐr／（Ｅb×Ｔ2）−Ｐr／Ｅb 式（１５）

ここで、第二の強度フィルタ３ｂの透過率Ｔ2が５０％である場合には、上記式（１５）は次の式（１６）に変形される。

ΔＩxi＝（Ｐr／Ｅb） 式（１６）

したがって、制御部３７は、検出誤差などを考慮した次の式（１７）により、第二の強度フィルタ３ｂの挿入動作を判定することが可能となる。

ΔＩi＞０．８×ΔＩxi 式（１７）

詳細には、図１３のステップＳ４０６に示すように、上記時点ｔ４の前に出力パワー検出部３２が受光素子９からの電気信号およびレーザパワー制御部３１からの出力信号を基に再生パワーＰrおよび微分量子効率値Ｅbを求めて、制御部３７に出力する。続いて、制御部３７は、入力した再生パワーＰrおよび微分量子効率値Ｅbを式（１６）に代入することにより、上記期待値ΔＩxiを算出する。また、制御部３７では、レーザパワー制御部３１からの出力信号に基づいて、第二の強度フィルタ３ｂの挿入前後での電流変化量ΔＩiを検出する（ステップＳ４０７）。

続いて、制御部３７は、算出した期待値ΔＩxiと検出した電流変化量ΔＩiとが上記式（１７）を満足するか否かについて判別する（ステップＳ４０８）。そして、式（１７）を満足している場合には、制御部３７は、第二の強度フィルタ３ｂが光路に挿入されていると判断し、上記時点ｔ４から再生動作を実質的に開始する（ステップＳ４０９）。

一方、上記ステップＳ４０８において、式（１７）が満足されていないことを判別すると、制御部３７は、第二の強度フィルタ３ｂが光路に挿入されていないと判断して、エラー処理を行う（ステップＳ４１０）。

以上のように構成された本実施の形態では、光路に対して各々挿入または排出される第一および第二の強度フィルタ３ａ、３ｂが設けられているので、光ディスク７の記録層の数または記録感度および当該光ディスク７に対する再生動作または記録動作に応じて、ビームスプリッタ４を介して光ディスク７に照射されるレーザ光（第二のレーザ光）を制御することができる。この結果、本実施の形態では、記録層の数または記録感度および再生動作または記録動作に最適なレーザ光によって光ディスク７に対する情報の記録動作または再生動作を実行することができる。また、記録動作が行われる前に、第二の強度フィルタ３ｂの誤挿入の判定処理が実施されているので、当該第二の強度フィルタ３ｂの誤挿入に起因して半導体レーザ１の出力パワーが不適切に増加されるのを防ぐことができ、半導体レーザ１の劣化や破壊が生じるのを確実に回避することができる。また、再生動作が行われる前に、第二の強度フィルタ３ｂの誤排出の判定処理が実施されているので、当該第二の強度フィルタ３ｂの誤排出に起因して再生信号が劣化するのを防止することができる。

また、上記の説明以外に、光ヘッド２０を制御する上記制御系に自動パワー制御（Automatic Power Control：以下、ＡＰＣと称す。）が設定されている場合では、レーザパワー制御部３１での上記再生パワーを１／２程度に下げた後、第二の強度フィルタ３ｂの排出動作を行う構成でもよい。これにより、再生動作に引き続いて記録動作を行う際に、第二の強度フィルタ３ｂの排出動作に伴って、上記ＡＰＣでの帯域制限に起因して、半導体レーザ１の出力パワーが急激に増加するのを防ぐことができる。

具体的にいえば、図１４に示すように、第二の強度フィルタ３ｂが光路に挿入されている状態において、レーザパワー制御部３１では、同図１４の時点ｔ５で、設定された再生ＡＰＣでの目標値Ｐ0から目標値Ｐ0／２に切り換えられる。その後、レーザパワー制御部３１では、上記時点ｔ５から所定時間経過後の時点ｔ６で再生ＡＰＣがホールドされる。すなわち、レーザパワー制御部３１では、フィードバック制御での目標値がＰ0／２に固定された後、第二の強度フィルタ３ｂは記録動作の開始前の時点ｔ７で光路から排出される。このとき、時点ｔ５から時点ｔ６までの間に再生ＡＰＣでの目標値が１／２程度に低減されていないと、第二の強度フィルタ３ｂの排出動作の動作速度が上記帯域制限（例えば、１ｋHz）に比べて非常に速いため、半導体レーザ１への供給電流値が上記時点ｔ７経過後急峻に立ち上がって半導体レーザ１の出力パワーが急激に増加するのを回避できない。尚、再生ＡＰＣでの目標値の低減率は、第二の強度フィルタ３ｂの透過率を基に適宜変更することが好ましい。つまり、第二の強度フィルタ３ｂの透過率が例えば２５％である場合には、当該強度フィルタ３ｂの排出動作前に再生ＡＰＣでの目標値を１／４程度に低減することが好ましい。

また、レーザパワー制御部３１が上記再生ＡＰＣを行っている場合では、第二の強度フィルタ３ｂの排出動作の判定処理は、当該第二のフィルタ３ｂの排出前後の再生パワーの変化（増加）量ΔＰreを用いて行うことができる。

つまり、第二の強度フィルタ３ｂの透過率をＴ2とすると、第二の強度フィルタ３ｂの排出前後での再生パワーの増加量ΔＰreの期待値ΔＰxeは、以下の式（１８）で表現される。

ΔＰxe＝Ｐr−Ｔ2×Ｐr 式（１８）

したがって、制御部３７は、検出誤差などを考慮した次の式（１９）により、第二の強度フィルタ３ｂの排出動作を判定することが可能となる。

ΔＰre＜０．８×ΔＰxe 式（１９）

詳細には、図１５のステップＳ４１１に示すように、上記時点ｔ５において、レーザパワー制御部３１での再生ＡＰＣの再生パワー目標値が低減された後、出力パワー検出部３２が受光素子９からの電気信号を基に再生パワーＰrを求めて、制御部３７に出力する（ステップＳ４１２）。続いて、制御部３７は、入力した再生パワーＰrを式（１８）に代入することにより、上記期待値ΔＰxeを算出する。また、制御部３７では、出力パワー検出部３２からの出力信号に基づいて、第二の強度フィルタ３ｂの排出前後での再生パワーの増加量ΔＰreを検出する（ステップＳ４１３）。

続いて、制御部３７は、算出した期待値ΔＰxeと検出した増加量ΔＰreとが上記式（１９）を満足するか否かについて判別する（ステップＳ４１４）。そして、式（１９）を満足している場合には、制御部３７は、第二の強度フィルタ３ｂが光路から排出されていると判断し、図１４に時点ｔ８にて示すように、再生動作から記録動作に切り換えて記録動作を開始する（ステップＳ４１５）。

一方、上記ステップＳ４１４において、式（１９）が満足されていないことを判別すると、制御部３７は、第二の強度フィルタ３ｂが光路から排出されていないと判断して、エラー処理を行う（ステップＳ４１６）。

また、再生動作が記録動作に連続的に行われる場合では、図１４に示すように、記録動作から再生動作に切り換えた時点ｔ９から所定時間が経過した時点ｔ１０で再生ＡＰＣがホールドされた後、第二の強度フィルタ３ｂは時点ｔ１１で光路に挿入される。

また、第二の強度フィルタ３ｂの挿入動作の判定処理は、排出動作の場合と同様に、当該第二のフィルタ３ｂの挿入前後の再生パワーの変化（減少）量ΔＰriを用いて行うことができる。

つまり、第二の強度フィルタ３ｂの透過率をＴ2とすると、第二の強度フィルタ３ｂの挿入前後での再生パワーの減少量ΔＰriの期待値ΔＰxiは、以下の式（２０）で表現される。

ΔＰxi＝Ｔ2×Ｐr−Ｐr 式（２０）

したがって、制御部３７は、検出誤差などを考慮した次の式（２１）により、第二の強度フィルタ３ｂの挿入動作を判定することが可能となる。

ΔＰri＞０．８×ΔＰxi 式（２１）

詳細には、図１６のステップＳ４１７に示すように、出力パワー検出部３２が受光素子９からの電気信号を基に再生パワーＰrを求めて、制御部３７に出力する（ステップＳ４１７）。続いて、制御部３７は、入力した再生パワーＰrを式（２０）に代入することにより、上記期待値ΔＰxiを算出する。また、制御部３７では、出力パワー検出部３２からの出力信号に基づいて、第二の強度フィルタ３ｂの挿入前後での再生パワーの減少量ΔＰriを検出する（ステップＳ４１８）。

続いて、制御部３７は、算出した期待値ΔＰxiと検出した減少量ΔＰriとが上記式（２１）を満足するか否かについて判別する（ステップＳ４１９）。そして、式（２１）を満足している場合には、制御部３７は、第二の強度フィルタ３ｂが光路に挿入されていると判断し、図１４の時点ｔ１２から再生動作を実質的に開始する（ステップＳ４２０）。

一方、上記ステップＳ４１９において、式（２１）が満足されていないことを判別すると、制御部３７は、第二の強度フィルタ３ｂが光路に挿入されていないと判断して、エラー処理を行う（ステップＳ４２１）。

なお、上記の説明では、一つのフィルタ駆動部が第一および第二の各強度フィルタの駆動（挿入または排出）する構成について説明したが、強度フィルタ毎にフィルタ駆動部を設ける構成でもよい。また、例えば第二の強度フィルタの代わりに、光学フィルタとは異なる、回折格子や液晶素子などを用いることもできる。

また、本実施の形態の第二の透過量可変部を上記実施の形態１〜３の各光記録再生装置に組み込んだ構成でもよい。

なお、上述の各実施の形態において、強度フィルタおよびフィルタ駆動部の正常動作を判断する際、Ｉ−Ｖ特性に基づく微分量子効率値を用いた場合について説明したが、この一例に限定されるものではなく、特性検出部が受光検出部によって受光された第一のレーザ光に関する特性値を検出し、判定部が特性検出部からの特性値を用いて、透過量可変部が透過量制御部から出力された制御信号に従って動作しているか否かを判定するものであれば何等限定されない。例えば特性検出部が、受光検出部から出力された電気信号から求められる第一のレーザ光の光出力と、光出力制御部から出力された出力信号から求められるレーザ光源に供給された電流との少なくとも一方を特性値として検出してもよい。このように構成した場合には、判定部は第一のレーザ光の光出力とレーザ光源に供給された電流との少なくとも一方に基づいて、透過量可変部の動作状態を容易に判定することができる。但し、上記のように、判定部が第一のレーザ光の微分量子効率値を基に透過量可変部の動作状態を判定する場合の方が、上記光出力および電流の各々に含まれる、レーザ光源の経時変化を相殺することができ、判定部が透過量可変部の動作状態を高精度に判定することができる点で好ましい。

また、上記の説明以外に、例えば半導体レーザから出射されるレーザ光の記録パワーを特性値に用いてもよい。

この場合、レーザ光は光ディスク上の所定の試し書き領域に対して出射され、当該試し書き領域における、いわゆる試し書きによるパワー学習を行う。そのため、半導体レーザから出射されたレーザ光が、光ディスクに記録された記録信号を消去することなく、強度フィルタおよびフィルタ駆動部の正常動作を判定することができる。

ここで、Ｉ−Ｖ特性に基づく微分量子効率値の代わりに、レーザ光の記録パワーを用いる場合の光記録再生装置の動作について説明する。この動作は、例えば、光ディスクが光記録再生装置に挿入された直後、あるいは一定時間ごと等のタイミングで行われる。

まず、半導体レーザから光ディスク上の試し書き領域に向けて、レーザ光が出射される。次に、レーザパワー制御部は、光ディスク上の試し書き領域に出射されるレーザ光の記録パワーを様々に変えることにより、出力パワー検出部は所定の変調度を得ることができる記録パワーの検出を行う。制御部は、強度フィルタが光路へ挿入されているときの所定の変調度における記録パワーと、強度フィルタが光路から排出されているときの所定の変調度における記録パワーとを比較することによって、強度フィルタおよびフィルタ駆動部の正常動作を判断する。

図１７は、本発明にかかる光記録再生装置の半導体レーザの記録パワー−変調度特性の一例を示すグラフである。図１７においては、Ｘ軸が光ディスクへ照射される記録パワーの推移を示し、Ｙ軸が変調度の推移を示している。ここでは、制御部は、強度フィルタが光路へ挿入されているときに変調度Ｍxを得ることができる記録パワーＰinと、強度フィルタが光路から排出されているときに変調度Ｍxを得ることができる記録パワーＰoutとの関係が、例えば以下の式（２２）を満たす場合に、強度フィルタおよびフィルタ駆動部の正常動作を判断することができる。

０．４×Ｐin＜Ｐout＜０．６×Ｐin 式（２２）

以上のように、出力パワー検出部（特性検出部）が受光素子（受光検出部）を介して検出した記録パワーを特性値に用いて、透過量可変部（強度フィルタおよびフィルタ駆動部）の動作状態を判定することができる。また、このように記録パワーを特性値に用いた場合では、記録媒体に情報を記録しているときでも、判定部は、透過量可変部が透過量制御部からの制御信号に従って動作しているか否かを判定することができる。なお、式（２２）に用いた係数（「０．４」「０．６」）は、記録パワーＰout、Ｐinの検出ばらつきを吸収することができればよく、この一例に限定されない。

同様にして、出力パワー検出部（特性検出部）が受光素子（受光検出部）を介して検出することができる再生パワーにおいても、同様の式を用いることで、透過量可変部（強度フィルタおよびフィルタ駆動部）の動作状態を判定して、その正常動作を判断することができる。このように、特性値に再生パワーを用いた場合では、記録媒体から情報を再生しているときでも、判定部は、透過量可変部が透過量制御部からの制御信号に従って動作しているか否かを判定することができる。

さらに、上述の各実施の形態において、起動処理時に行なわれる場合について説明したが、これに限定されない。例えば、記録中に強度フィルタおよびフィルタ駆動部の動作異常を検出するのでもよい。これにより、記録中に誤って強度フィルタおよびフィルタ駆動部の動作異常が発生したときにも、半導体レーザが劣化したり、破壊されたりするのを防ぐことができる。

本発明にかかる光記録再生装置は、出射されたレーザ光によって、強度フィルタ及びフィルター駆動部の誤動作（動作異常）を判断することができるため、当該強度フィルタを用いて光ビームの強度を可変とする記録再生装置に対して有用である。

本発明の実施の形態１にかかる光記録再生装置の構成を示すブロック図である。 図１に示した光記録再生装置の起動手順の一例を示すフローチャートである。 半導体レーザの電流−光出力特性の一例を示すグラフである。 図１に示した光記録再生装置の半導体レーザの電流−光出力特性の一例を示すグラフである。 本発明の実施の形態２にかかる光記録再生装置の構成を示すブロック図である。 図５に示した光記録再生装置の起動手順の一例を示すフローチャートである。 本発明の実施の形態３にかかる光記録再生装置の構成を示すブロック図である。 図７に示した光記録再生装置の起動手順の一例を示すフローチャートである。 図７に示した光記録再生装置の半導体レーザの電流−光出力特性の一例を示すグラフである。 本発明の実施の形態４にかかる光記録再生装置の構成を示すブロック図である。 図１０に示した光記録再生装置での動作例を示すタイミングチャートである。 図１０に示した光記録再生装置での再生動作から記録動作への切換時の動作例を示すフローチャートである。 図１０に示した光記録再生装置での記録動作から再生動作への切換時の動作例を示すフローチャートである。 図１０に示した光記録再生装置の変形例での動作例を示すタイミングチャートである。 図１０に示した光記録再生装置の変形例での再生動作から記録動作への切換時の動作例を示すフローチャートである。 図１０に示した光記録再生装置の変形例での記録動作から再生動作への切換時の動作例を示すフローチャートである。 本発明にかかる光記録再生装置の半導体レーザの記録パワー−変調度特性の一例を示すグラフである。 第２の従来例の光記録再生装置の構成を示すブロック図である。 第２の従来例の光記録再生装置の起動手順の一例を示すフローチャートである。 光ディスクの構成の一例を示す断面図である。

符号の説明

１ 半導体レーザ（レーザ光源）
３、３ａ、３ｂ 強度フィルタ（透過量可変部）
４ ビームスプリッタ（分光部）
６ 対物レンズ
７ 光ディスク（記録媒体）
９ 受光素子（受光検出部）
１２ 遮光フィルタ（遮光部）
３０ フィルタ駆動部（透過量可変部）
３１ レーザパワー制御部（光出力制御部）
３２ 出力パワー検出部（特性検出部）
３３ フォーカス制御部
３７、４０ 制御部（透過量制御部、判定部）
４１ 記憶部

Claims (14)

1. 記録媒体に対して情報の記録または再生を行う光記録再生装置であって、
   レーザ光源と、
   前記レーザ光源から出射されるレーザ光の出力を制御する光出力制御部と、
   前記レーザ光源からのレーザ光を受光可能に構成されるとともに、受光したレーザ光に応じた電気信号を出力する受光検出部と、
   前記レーザ光源からのレーザ光を、前記受光検出部へ照射する第一のレーザ光と前記記録媒体へ照射する第二のレーザ光とに分光する分光部と、
   前記レーザ光源からのレーザ光の透過量を調整する透過量可変部と、
   前記透過量可変部を制御する透過量制御部と、
   前記受光検出部が前記第一のレーザ光を受光したときに、当該第一のレーザ光に関する特性値を検出する特性検出部と、
   前記特性検出部からの特性値を用いて、前記透過量可変部が前記透過量制御部から出力された制御信号に従って動作しているか否かを判定する判定部と
   を備えたことを特徴とする光記録再生装置。
2. 前記透過量可変部には、前記記録媒体の記録層の数または記録感度に応じて、前記レーザ光源からのレーザ光の透過量を調整する第一の透過量可変部と、前記記録媒体に対する再生動作または記録動作に応じて、前記レーザ光源からのレーザ光の透過量を調整する第二の透過量可変部とが設けられている、請求項１に記載の光記録再生装置。
3. 前記透過量制御部が、前記透過量可変部への制御信号を少なくとも２態様に異ならせることにより、当該透過量可変部の動作状態を少なくとも２態様に変化させる、請求項１または２に記載の光記録再生装置。
4. 少なくとも２態様に異ならせた前記制御信号が前記透過量可変部に与えられた場合において、前記特性検出部が検出した前記特性値が、第一の特性値Ｅ1、第二の特性値Ｅ2のときに、
   前記判定部は、前記第一の特性値Ｅ1と前記第二の特性値Ｅ2と、前記透過量可変部のレーザ光透過率ｍとの関係が、
   Ｋ1×ｍ×Ｅ2＜Ｅ1＜Ｋ2×ｍ×Ｅ2
   （但し、Ｋ1およびＫ2は係数）
   であるか否かを判断することで、前記透過量可変部が前記透過量制御部から出力された制御信号に従って動作しているか否かを判定する、請求項３に記載の光記録再生装置。
5. 基準となる特性値を特性設定値としてあらかじめ記憶した記憶部を備えるとともに、
   前記判定部は、前記特性検出部からの特性値と、前記記憶部からの前記特性設定値とに基づいて、前記透過量可変部が前記透過量制御部から出力された制御信号に従って動作しているか否かを判定する、請求項１〜３のいずれかに記載の光記録再生装置。
6. 前記特性検出部は、前記受光検出部から出力された電気信号から求められる前記第一のレーザ光の光出力と、前記光出力制御部から出力された出力信号から求められる前記レーザ光源に供給された電流との少なくとも一方を前記特性値として検出する、請求項１〜５のいずれかに記載の光記録再生装置。
7. 前記特性検出部は、前記受光検出部から出力された電気信号から求められる前記第一のレーザ光の光出力と、前記光出力制御部から出力された出力信号から求められる前記レーザ光源に供給された電流とに基づいて、前記第一のレーザ光の微分量子効率値を前記特性値として検出する、請求項１〜５のいずれかに記載の光記録再生装置。
8. 前記特性検出部は、前記記録媒体に対して再生動作をする場合における、前記第一のレーザ光のパワーを前記特性値として検出する、請求項１〜５のいずれかに記載の光記録再生装置。
9. 前記特性検出部は、前記記録媒体に対して記録動作をする場合における、前記第一のレーザ光のパワーを前記特性値として検出する、請求項１〜５のいずれかに記載の光記録再生装置。
10. 前記記録媒体に対して前記第二のレーザ光を集光することなく、前記判定部が、前記透過量可変部が前記透過量制御部から出力された制御信号に従って動作しているか否かを判定する、請求項１〜９のいずれかに記載の光記録再生装置。
11. 前記分光部と前記記録媒体との間に挿入されることによって、前記第二のレーザ光が前記記録媒体へ集光されるのを防ぐ遮光部をさらに備える、請求項１０に記載の光記録再生装置。
12. 前記第二のレーザ光を前記記録媒体へ集光させる対物レンズと、
    前記対物レンズの前記記録媒体に対する垂直方向の位置を制御するフォーカス制御部とをさらに備え、
    前記フォーカス制御部が、前記判定部による判定の際に、前記第二のレーザ光が前記記録媒体へ焦点を結ばないように前記対物レンズの位置を制御する、請求項１０に記載の光記録再生装置。
13. 前記透過量可変部は、前記レーザ光源と前記分光部との間に対して、挿入または排出される光学フィルタを含んでいる、請求項１〜１２のいずれかに記載の光記録再生装置。
14. 前記透過量可変部は、液晶素子を含んでいる、請求項１〜１２のいずれかに記載の光記録再生装置。

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