JP2006058077A - バーンイン装置およびバーンイン試験方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 被評価物の良否判定が容易であり、汎用性があり、構成が簡単なバーンイン装置10を提供する。
【解決手段】 被評価物を良否判定するためのバーンイン装置10には、LD15を収納可能な複数のバーンイン槽11を備え、測定部13によってバーンイン槽11に収納されるLDの特性を測定し、測定部13によって得られる測定結果に基づいて、判定手段14がLD15の良否を判定し、判定結果を求め、この判定結果をバーンイン槽11に対して相対変位可能な報知部20によってLD15と対応付けて報知する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、被評価物の良否判定を行うバーンイン装置およびバーンイン試験方法に関する。
半導体レーザ素子などの半導体の動作不良を判定するバーンイン試験を実施可能なバーンイン装置が実用に供されている。図17は、第1の従来の技術のバーンイン装置1の構成を概略示すブロック図である。バーンイン装置1は、基板搬送機2によって、複数の半導体が実装される基板3を搬送する。搬送される基板3は、セット機4によって恒温槽であるバーンイン槽5にセットされる。バーンイン槽5とサーバ6とを協働させて、前記基板3に実装される半導体に対してバーンイン試験をする。このバーンイン試験によって、サーバ6は、半導体が良品であるか不良品であるかを判定する。この判定は、サーバ6の図示しない表示部によって半導体の実装位置と対応させて表示される。前記判定に基づいて、リセット機7は、基板3から不良品の半導体を選別し除去する(たとえば特許文献1参照)。
第2の従来の技術のバーンイン装置には、基板に実装される半導体の判定結果を表示する発光ダイオード(Light Emitting Diode:略称LED)などの表示部材が設けられる。これによって利用者は、バーンイン試験の判定結果を視認することができる(たとえば特許文献2参照)。
第1の従来の技術のバーンイン装置1では、基板搬送機2、セット機4によって基板3を搬送してバーンイン槽5にセットし、リセット機7によって不良品の半導体を選別し除去しなければならない。したがって基板搬送機2、セット機4およびリセット機7などの構成部品が多くるだけでなく、特に基板搬送機4が必要となる分、バーンイン装置1自体が大形化する。これによって生産設備の費用が高くなる。換言すれば、生産コストが高くなる。このような搬送、基板3の取付および取外しが自動化されると、多品種少量の半導体を試験する場合、各種の基板3に対応する基板搬送機2、セット機4およびリセット機7を構成する必要がある。これによってバーンイン装置1の構成が複雑になり、装置の大形化および生産コストの増加につながる。サーバ6は、判定結果を被試験対象の半導体の実装位置に対応付けて表示させるけれども、実際に基板3に実装される半導体と判定結果を並べて表示させることができない。これによって多品種少量の半導体素子を選別するなど使用者自らが判定結果に基づいて半導体の選別除去をすることが必要な場合、記憶している半導体および判定結果との位置関係に基づいて不良品と良品とを選別するので、半導体と判定結果との対応付けを間違えて、不良品の半導体を良品の部類に選別する場合がある。このように使用者の記憶に頼るので、選別する際の確実性が使用者によってばらつきが生じる。このように第1の従来の技術のバーンイン装置1では、多品種少量の半導体をバーンイン試験するには適しておらず、汎用性に乏しい。
第2の従来の技術のバーンイン装置は、基板に表示部材が設けられているので、いずれの半導体が不良品であるかを目視によって容易に判断することができるけれども、基板自体に表示部材を設けなければならず、汎用性が低い。また全ての基板において、実装される半導体毎に表示部材を1つずつ設ける必要がある。このため大量の表示部材を必要とする。したがってバーンイン装置の構成部品が多くなり、構成が複雑になる。これによってバーンイン装置の生産コストが高くなる。
本発明の目的は、被評価物の良否判定が容易であり、汎用性があり、構成が簡単なバーンイン装置を提供することである。
本発明は、被評価物を良否判定するためのバーンイン装置であって、
被評価物を収納可能な複数のバーンイン槽と、
被評価物の特性を測定可能な測定手段と、
測定手段の測定結果に基づいて被評価物の良否を判定し、判定結果を求める判定手段と、
被評価物と判定結果とを対応付けて報知し、かつ各バーンイン槽に対して相対変位可能な報知手段とを有することを特徴とするバーンイン装置である。
被評価物を収納可能な複数のバーンイン槽と、
被評価物の特性を測定可能な測定手段と、
測定手段の測定結果に基づいて被評価物の良否を判定し、判定結果を求める判定手段と、
被評価物と判定結果とを対応付けて報知し、かつ各バーンイン槽に対して相対変位可能な報知手段とを有することを特徴とするバーンイン装置である。
本発明に従えば、被評価物を良否判定するためのバーンイン装置には、被評価物を収納可能な複数のバーンイン槽を備える。このバーンイン槽に収納される被評価物の特性を測定手段によって測定する。測定手段によって得られる測定結果に基づいて、判定手段が被評価物の良否を判定し、判定結果を求める。求められる判定結果は、バーンイン槽に対して相対変位可能な報知手段によって被評価物と対応付けて報知される。
また本発明は、被評価物を良否判定するためのバーンイン装置であって、
被評価物を実装可能な複数の基板と
複数の基板を収納可能であり、各基板を着脱可能な少なくとも1つのバーンイン槽と、
被評価物の特性を測定可能な測定手段と、
測定手段の測定結果に基づいて被評価物の良否を判定し、判定結果を求める判定手段と、
被評価物と判定結果とを対応付けて報知可能な報知手段とを有することを特徴とするバーンイン装置である。
被評価物を実装可能な複数の基板と
複数の基板を収納可能であり、各基板を着脱可能な少なくとも1つのバーンイン槽と、
被評価物の特性を測定可能な測定手段と、
測定手段の測定結果に基づいて被評価物の良否を判定し、判定結果を求める判定手段と、
被評価物と判定結果とを対応付けて報知可能な報知手段とを有することを特徴とするバーンイン装置である。
本発明に従えば、バーンイン装置は、被評価物の良否判定をすることができ、少なくとも1つのバーンイン槽を備える。バーンイン槽は、被評価物を実装可能な複数の基板を収納可能であり、各基板を着脱可能に構成される。測定手段は、この基板に実装される被評価物の特性を測定し、測定結果を得ることができる。判定手段は、測定結果に基づいて被評価物の良否を判定し、判定結果を求める。求められる判定結果は、報知手段によって被評価物と対応付けて報知される。
また本発明は、前記判定手段は、測定結果および判定結果と、被評価物が実装される基板とを対応付けて記憶することを特徴とする。
本発明に従えば、判定手段は、測定結果および判定結果と、被評価物が実装される基板とを対応付けて記憶することができる。
また本発明は、前記判定手段は、測定結果および判定結果と、被評価物が収納されるバーンイン槽とを対応付けて記憶することを特徴とする。
本発明に従えば、判定手段は、測定結果および判定結果と、被評価物が収納されるバーンイン槽とを対応付けて記憶することができる。
また本発明は、前記判定手段は、測定手段に着脱可能であって、かつ電気的に接続可能であることを特徴とする。
本発明に従えば、判定手段は、測定手段に着脱することでき、かつ電気的に接続することができる。
また本発明は、判定手段は、報知手段の作動可能性を判定する機能を有することを特徴とする。
本発明に従えば、判定手段は、報知手段の作動可能性を判定する機能を有する。したがって判定手段は、報知手段の作動可能性を判定することができる。
また本発明は、バーンイン装置を用いて被評価物の良否を判定するバーンイン試験方法であって、
被評価物の特性を測定する測定工程と、
被評価物が収納されるバーンイン槽および実装される基板のうち少なくともいずれか一方を示す識別情報を取得し、識別情報と測定工程の測定結果とを対応付けて記憶する特性記憶工程と、
記憶される測定結果に基づいて被評価物の良否を判定し、判定結果を求める判定工程と、
前記識別情報と判定結果とを対応付けて記憶する判定結果記憶工程と、
前記識別情報を取得し、取得する識別情報に基づいて被評価物の判定結果を被評価物近傍に対応付けて報知する報知工程とを含むことを特徴とするバーンイン試験方法である。
被評価物の特性を測定する測定工程と、
被評価物が収納されるバーンイン槽および実装される基板のうち少なくともいずれか一方を示す識別情報を取得し、識別情報と測定工程の測定結果とを対応付けて記憶する特性記憶工程と、
記憶される測定結果に基づいて被評価物の良否を判定し、判定結果を求める判定工程と、
前記識別情報と判定結果とを対応付けて記憶する判定結果記憶工程と、
前記識別情報を取得し、取得する識別情報に基づいて被評価物の判定結果を被評価物近傍に対応付けて報知する報知工程とを含むことを特徴とするバーンイン試験方法である。
本発明に従えば、測定工程で被評価物の特性を測定する。特性記憶工程では、被評価物が収納されるバーンイン槽および実装される基板のうち少なくともいずれか一方を示す識別情報を取得し、この識別情報と測定工程で得られる測定結果とを対応付けて記憶する。さらに記憶される測定結果に基づいて、判定工程で被評価物の良否を判定し、判定結果が求められる。この判定結果は、判定結果記憶工程で、識別情報と対応付けて記憶される。報知工程では、識別情報を取得すると、この識別情報に基づいて被評価物の判定結果を被評価物に隣接し、かつ対応付けて報知する。このようなバーンイン試験方法を用いて被評価物の良否を判定することができる。
本発明によれば、測定手段がバーンイン槽に収納される被評価物の特性を測定する。この測定結果に基づいて、判定手段が被評価物の良否を判定し、判定結果を求める。報知手段は、この判定結果を被評価物に対応付けて報知する。特に、報知手段は、バーンイン槽に対して相対変位可能に構成されているので、使用者は、報知手段をバーンイン槽に収納される被評価物の近傍に並べて配置することができる。このように報知手段が被評価物と判定結果とを対応付けて報知するうえ、報知手段をバーンイン槽に収納される被評価物の近傍に並べて配置できるので、被評価物と判定結果との対応付けを目視で確認することができる。これによって使用者は、前記対応付けを記憶して被評価物の良否を判断する場合に比べて、誤認識が少なく被評価物の良否を確実に判断することができる。したがって被評価物の良品および不良品を選別する際、誤選別を未然に防止することができるとともに、被評価物を容易かつ確実に良否選別することができる。それ故、本発明のような複数のバーンイン槽を備えるバーンイン装置であっても、被評価物の良否を確実に判断でき、被評価物の良品および不良品の誤選別を未然に防止することができる。このように誤選別を未然に防止することができると、被評価物が搭載される製品の不良品化を抑制することができ、前記製品の歩留まりをよくすることができる。さらにこのように使用者が被評価物と判定結果の対応付けを目視で確認して被評価物の良否選別が容易にできるので次のような効果を奏する。被評価物と判定結果の対応付けに基づいて被評価物の良否選別するための装置を新たに設ける必要がなく、バーンイン装置の構成を従来技術のものより簡単化することができ、これによってバーンイン装置の小形化を図ることができるうえ、生産設備費用、つまり生産コストを低減することができる。
また複数のバーンイン槽を備えるので、各バーンイン槽をそれぞれ異なる種類の被評価物を収納可能、すなわち多品種の被評価物を収納可能に構成することができる。このように多品種の被評価物が収納される場合であっても、被評価物毎に被評価物の特性を測定および測定結果に基づく良否判定が行われ、被評価物と判定結果とを対応付けて報知する。したがって多品種の被評価物が収納される場合であっても、判定結果の報知ができ、さらに使用者が被評価物の良否を確実に判断でき、被評価物の不良品の誤選別を未然に防止することができる。使用者が被評価物と判定結果の対応付けを目視で確認して被評価物の良否選別ができるので、各品種に対応する被評価物の良否選別するための装置を設けることなく、多品種の被評価物の良否選別ができる。それ故、バーンイン装置の構造を簡単化できるとともに、各品種の被評価物の良否選別に対応すべく良否選別装置を増設することが必要なく、生産コストを低減することができる。このように多品種の被評価物に対して使用することができるので、汎用性が高く、使用者の判定結果の誤認識および良品および不良品の誤選別を防止することができる。
本発明によれば、測定手段が基板に実装される被評価物の特性を測定する。この測定結果に基づいて、判定手段が被評価物の良否を判定し、判定結果を求める。報知手段は、この判定結果を被評価物に対応付けて報知する。特に基板がバーンイン槽に着脱可能であるので、基板を報知手段の近傍に配置することができる。このように報知手段が被評価物と判定結果とを対応付けて報知するうえ、報知手段を基板に実装される被評価物の近傍に並べて配置できるので、使用者は、被評価物と判定結果との対応付けを目視で確認することができる。これによって使用者は、前記対応付けを記憶して被評価物の良否を判断する場合に比べて、被評価物と判定結果との対応付けの誤認識が少なく被評価物の良否を確実に判断をすることができる。したがって被評価物の良品および不良品を選別する際、誤選別を未然に防止することができるとともに、被評価物を容易かつ確実に良否選別することができる。それ故、本発明のような複数の基板を備えるバーンイン装置であっても、被評価物の良否を確実に判断でき、被評価物の良品および不良品の誤選別を未然に防止することができる。このように誤選別を未然に防止することができると、被評価物が搭載される製品の不良品化を抑制することができ、前記製品の歩留まりをよくすることができる。さらにこのように使用者が被評価物と判定結果の対応付けを目視で確認して被評価物の良否選別を容易にできるので、次のような効果を奏する。被評価物と判定結果の対応付けに基づいて被評価物の良否選別するための装置を新たに設ける必要がなく、バーンイン装置の構成を従来技術より簡単化することができる。これによってバーンイン装置の小形化を図ることができるうえ、生産コストを低減することができる。
また複数の基板がバーンイン槽に収納されているので、各基板にそれぞれ異なる種類の被評価物を実装可能、すなわち多品種の被評価物を実装可能に構成することができる。このように各基板を各種の被評価物を実装可能に構成することによって、簡単な構造で多品種の被評価物を良否判定可能に構成できる。これによって多品種の被評価物の良否判定可能なバーンイン装置の生産コストを低減することができる。また多品種の被評価物を実装可能に構成することによって、被評価物が多品種であっても、被評価物の特性を測定および測定結果に基づく良否判定を行うことができ、被評価物と判定結果とを対応付けて報知することができる。それ故、使用者は、多品種であっても被評価物の良否を確実に判断でき、被評価物の良品および不良品の誤選別を未然に防止することができる。さらに使用者が被評価物と判定結果の対応付けを目視で確認して被評価物の良否選別ができるので、各品種に対応する被評価物の良否選別するための装置を設けることなく、多品種の被評価物の良否選別ができる。それ故、バーンイン装置の構造を簡単化できるとともに、各品種の被評価物の良否選別に対応すべく良否選別装置を増設する必要がなく、生産コストを低減することができる。このように多品種の被評価物に対して使用することができるので、汎用性が高く、使用者の判定結果の誤認識および良品および不良品の誤選別を防止することができ。さらに複数の基板を備えるので、一度に測定および判定可能な被評価物の数量が多く、従来のバーンイン装置より作業効率が高い。
本発明によれば、判定手段は、測定結果および判定結果と被評価物が実装される基板とが対応付けて記憶される。これによって判定手段は、基板毎に実装される被評価物の判定結果を報知手段によって報知させることができる。これによって複数の被評価物が基板に実装されるバーンイン装置において、一度に複数の被評価物の判定結果を報知することができ、1つ1つ被評価物の判定結果を報知するバーンイン装置に比べて、良否選別する際の作業効率を向上させることができる。また測定結果と判定結果とが基板に対応付けて記憶されるので、測定結果および判定結果に基づいて、これらに対応付けられる基板の良否を判定させることができる。これによって被評価物の良否を確実に判定することができ、判定結果の誤認識および良品および不良品の誤選別を未然に防止することができる。これによって被評価物の良品を確実に選別することができ、被評価物が搭載される製品の歩留まりをよくすることができる。
本発明によれば、判定手段は、測定結果および判定結果と被評価物が収納されるバーンイン槽とが対応付けて記憶される。これによって判定手段は、バーンイン槽毎に実装される被評価物の判定結果を報知手段によって報知させることができる。これによって複数の被評価物がバーンイン槽に収納されるバーンイン装置において、一度に複数の被評価物の判定結果を報知することができ、1つ1つ被評価物の判定結果を報知するバーンイン装置に比べて、良否選別する際の作業効率を向上させることができる。また測定結果と判定結果とがバーンイン槽に対応付けて記憶されるので、測定結果および判定結果に基づいて、これらに対応付けられるバーンイン槽の良否を判定させることができる。これによって被評価物の良否を確実に判定することができ、判定結果の誤認識および良品および不良品の誤選別を未然に防止することができる。これによって被評価物の良品を確実に選別することができ、被評価物が搭載される製品の歩留まりをよくすることができる。
本発明によれば、判定手段は、測定手段に着脱可能であり、電気的に接続可能に構成される。これによって判定手段は、測定手段に装着される状態で測定結果に基づいて被評価物の判定結果を求めることができ、測定手段から離脱する状態で搬送できる。また判定手段が被評価物の良否を判定するための手段であり、バーンイン槽より小形化が可能であるので、従来のように基板を基板搬送機で搬送する場合に比べて、判定手段を搬送する方が容易である。これによって複数のバーンイン槽の被評価物を良否判定する際、バーンイン槽を搬送する必要がなく、判定手段を着脱するだけの容易な操作で被評価物の良否判定ができ、良否判定が容易となり、使用者の労力を軽減することができる。基板搬送機を備える必要がないので、バーンイン装置の構成を従来技術より簡略化することができる。バーンイン装置の小形化を図ることができるうえ、生産設備費用、つまり生産コストを低減することができる。
本発明によれば、判定手段は、報知手段の作動可能性を判定することができるので、報知手段が不所望な状態で報知手段が被評価物の判定結果を報知することを防止する。これによって被評価物の判定結果を、報知手段によって正確に報知することができ、報知手段の不所望な状態に基づく、使用者の判定結果の誤認識および良品および不良品の誤選別を未然に防止することができる。これによって被評価物が搭載される製品の不良品化を抑制し、歩留まりをよくすることができる。
本発明によれば、被評価物の測定結果に基づいて判定される判定結果を、被評価物近傍に対応付けて報知する。これによって使用者は、被評価物と判定結果との対応付けを目視で確認することができ、前記対応付けを記憶して被評価物の良否判定をする場合に比べて、誤認識が少なく被評価物の良否を確実に判定をすることができる。被評価物の良否が確実に判定できるので、被評価物の良否および不良品を選別する際、誤選別を未然に防止することができ、被評価物の良否選別が容易かつ確実にできる。このように誤選別を未然に防止することができると、被評価物が搭載される製品の不良品化を抑制することができ、前記製品の歩留まりをよくすることができる。
図1は、本発明の実施の第1の形態であるバーンイン装置10の電気的構成を示すブロック図である。図2は、バーンイン装置10を簡略化して示す図である。図3は、バーンイン装置10を用いて被評価物の不良品を選別する際の状態を簡略化して示す図である。図4は、判定手段に備えられる表示部に表示される情報を示す図である。図5は、LDの特性の時間変化を示すをグラフである。図5は、縦軸がLDの特性であるLD電流を示し、横軸が最初のLD電流測定からの経過時間を示し、時間軸に示す数字は、LD電流の測定回数を示す。バーンイン装置10は、恒温下における被評価物の特性を測定し、被評価物が不良品であるか否かを判定するバーンイン試験を実施可能な装置である。バーンイン装置10は、複数の被評価物のうち不良品を選別する際に用いられる。バーンイン装置10には、複数のバーンイン槽11と、モニタ部12と、測定部13と、判定手段14と、報知部20とが含まれる(本実施の形態では、9つのバーンイン槽11、モニタ部12および測定部13が含まれる)。9つのバーンイン槽11は、それぞれ第1、第2、第3、第4、第5、第6、第7、第8および第9バーンイン槽11と称する場合がある。第1〜第9バーンイン槽11の構成は、同一である。したがってバーンイン槽11の1つの構成を説明し、第1〜第9バーンイン槽11の構成ついては、同一の符号を付して説明を省略する。モニタ部12および測定部13も、それぞれ9つとも構成が同一である。これについてもモニタ部12および測定部13の構成について説明し、第1〜第9バーンイン槽11に備えられるモニタ部12および測定部13は、同一の符号を付して説明を省略する。本実施の形態では、9つのバーンイン槽11が設けられているけれども、9つに限定されるものでない。バーンイン槽11の個数は、1つ以上8つ以下であってもよく、また10以上であってもよい。
バーンイン槽11は、被評価物の半導体素子(Device under test:略称DUT)を、複数収納可能(本実施の形態では、5つのDUTを収納可能)であって、恒温維持可能に構成される恒温槽である。具体的には、バーンイン槽11には、図示しないバーンインラックが形成される。バーンインラックは、複数のDUTを実装可能に構成され、測定部13と電気的に接続される。本実施の形態では、バーンインラックに実装されるDUTは、半導体レーザ素子14(Laser Diode:略称LD)であり、バーンインラックは、5つのLD15が実装可能に構成される。ただし半導体レーザ素子に限定するものではなく、フォトダイオードなどであってもよく半導体素子であればよい。またバーンインラックに実装可能なLDも5つに限定されず、1つ以上4つ以下および6つ以上であってもよい。バーンイン槽11には、モニタ部12が設けられる。モニタ部12は、バーンイン槽11の温度を計測し、バーンイン槽11の異常を検出可能に構成される。モニタ部12は、測定部13に電気的に接続される。バーンイン槽11は、モニタ部12によって取得する情報に基づいて、制御部18によってバーンイン槽11内の温度が制御され、恒温維持可能に構成される。バーンイン槽11は、バーンインラックに実装されるLD15を発光可能に構成される。前記LD15の発光および発光停止は、バーンイン槽11に備えられるスイッチによって切替可能に構成される。
測定部13は、バーンイン槽11に設けられ、バーンインラックを介して、バーンイン槽11内に収納されるLD15と電気的に接続可能に構成される。測定部13は、LD15を発光可能に構成され、この発光の際のLDの特性を測定可能に構成される。LDの特性とは、発光時のLD15の電流値、すなわちLD電流と同義である。具体的には、測定部13は、図示しないフォトダイオードが設けられ、フォトダイオードの出力電圧を検出する。測定部13は、LD15を発光させ、フォトダイオードが検出する電圧が所定の電圧になるまでLD15の電流値を増加させる。測定部13は、フォトダイオードが所定の電圧を検出すると、その際にLD15に流れるLD電流を測定する。このように測定されるLD電流が、LDの特性として測定される。測定部13は、さらに第1接続部16を備える。第1接続部16は、判定手段14を着脱可能、かつ電気的に接続可能に構成される。測定部13は、第1接続部16を備えることによって判定手段14と電気的に接続可能に構成される。測定部13は、測定されるLDの特性を測定結果として、前記LD15のアドレスとともに測定部13から判定手段14へ伝送する。アドレスは、LD15がバーンインラックのLD15が実装可能な位置(以下では、単に「実装位置」と称する場合がある。)のうちいずれの実装位置に実装されているかを示す位置情報である。また測定部13は、第1バーンイン槽11の槽識別情報を前記測定結果とアドレスとともに判定手段14に伝送可能に構成される。槽識別情報とは、各バーンイン槽11を識別するための情報であり、各バーンイン槽11固有の識別情報である。本実施の形態では、測定部13が各バーンイン槽11に割り振られるID(Identity)番号を判定手段14に伝送可能に構成される。
判定手段14は、LD15のLDの特性に基づいてLD15の良否を判定し、判定結果を求めることができるように構成される。判定手段14は、信号変換部17と制御部18と図示しない表示部とを含んで構成され、報知部20に電気的に接続される。信号変換部17は、アナログ信号をディジタル信号に変換およびディジタル信号をアナログ信号に変換可能に構成される。信号変換部17は、たとえばアナログ/ディジタル変換器およびディジタル/アナログ変換器によって構成される。信号変換部17は、第2接続部19を備える。第2接続部19は、第1接続部16に着脱可能、かつ電気的に接続可能に構成される。これによって、測定部13と信号変換部17との電気的かつ機械的な接続状態を切換え可能に構成される。第1および第2接続部16,19は、たとえばコネクタであり、いずれか一方が雄型のコネクタであり、他方が雌型のコネクタである。第1および第2接続部16,19は、雄型および雌型のコネクタを互いに結合させて機械的かつ電気的に接続状態にし、互いに離脱させることによって機械的かつ電気的に非接続状態にする。このようにして第1および第2接続部16,19が互いに着脱可能に構成されるので、判定手段14が第1〜第9バーンイン槽11にそれぞれ設けられる測定部13に着脱可能に構成される。これによって判定手段14は、各バーンイン槽11に対して相対変位可能に構成される。信号変換部17は、制御部18と電気的に接続可能に構成される。表示部は、制御部で演算される演算結果を表示可能に構成される。
報知部20は、制御部18と電気的に接続可能に構成される。報知部20は、制御部18から伝送される情報を、LD15毎に利用者に報知可能に構成される。本実施の形態では、報知部20は、たとえば図2および3に示すように、複数の発光ダイオード21
(Light Emitting Diode:略称LED)によって構成される。各LED21は、バーンインラックに形成される実装位置1つに対して1つのLED21が対応するように配設される。具体的に説明すると、バーンインラックには、実装位置が5つあり、これらの実装位置が略直列に配置されている。報知部20は、図に示すように、実装位置に対応するように5つのLED21を略直列に配置して構成される。さらに詳細に説明すると、5つのLED21は、一番左の第1実装位置に対応する第1LED21aを報知部20の一番左に配置し、左から2番目の第2実装位置に対応する第2LED21bを左から2番目に配置し、左から3番目の第3実装位置に対応する第3LED21cを左から3番目に配置し、左から4番目の第4実装位置に対応する第4LED21dを左から4番目に配置し、左から5番目の第5実装位置に対応する第5LED21eを左から5番目に配置する。ここで左とは、紙面に向かって左と同義である。このように各LED21は配置され、対応する実装位置に実装されるLD15の情報を1対1で示して、いずれの半導体の情報であるかを目視で確認できるように構成される。また報知部20は、制御部18および各バーンイン槽11に対して相対的に変位可能に構成される。換言すると、報知部20は、バーンイン装置10に実装される被評価物のLD15に対して相対的に変位可能に構成され、図3に示すように、前記LD15と並べて表示させることができる。報知部20と制御部18とは、たとえばコードを介して電気的に接続され、制御部18に対して報知部20が変位可能に構成される。ただし判定手段14を測定部13から離脱させることによって、バーンイン槽11に相対変位できるので、制御部18に対して報知部20が変位可能な構成に必ずしも限定されない。本実施の形態では、報知部20は、LED21によって構成されているけれども、必ずしもこのような構成に限定されない。たとえば報知部20は、液晶ディスプレイによって情報を報知可能に構成されてもよく、使用者に情報を報知可能であれば、どのような構成であってもよい。
(Light Emitting Diode:略称LED)によって構成される。各LED21は、バーンインラックに形成される実装位置1つに対して1つのLED21が対応するように配設される。具体的に説明すると、バーンインラックには、実装位置が5つあり、これらの実装位置が略直列に配置されている。報知部20は、図に示すように、実装位置に対応するように5つのLED21を略直列に配置して構成される。さらに詳細に説明すると、5つのLED21は、一番左の第1実装位置に対応する第1LED21aを報知部20の一番左に配置し、左から2番目の第2実装位置に対応する第2LED21bを左から2番目に配置し、左から3番目の第3実装位置に対応する第3LED21cを左から3番目に配置し、左から4番目の第4実装位置に対応する第4LED21dを左から4番目に配置し、左から5番目の第5実装位置に対応する第5LED21eを左から5番目に配置する。ここで左とは、紙面に向かって左と同義である。このように各LED21は配置され、対応する実装位置に実装されるLD15の情報を1対1で示して、いずれの半導体の情報であるかを目視で確認できるように構成される。また報知部20は、制御部18および各バーンイン槽11に対して相対的に変位可能に構成される。換言すると、報知部20は、バーンイン装置10に実装される被評価物のLD15に対して相対的に変位可能に構成され、図3に示すように、前記LD15と並べて表示させることができる。報知部20と制御部18とは、たとえばコードを介して電気的に接続され、制御部18に対して報知部20が変位可能に構成される。ただし判定手段14を測定部13から離脱させることによって、バーンイン槽11に相対変位できるので、制御部18に対して報知部20が変位可能な構成に必ずしも限定されない。本実施の形態では、報知部20は、LED21によって構成されているけれども、必ずしもこのような構成に限定されない。たとえば報知部20は、液晶ディスプレイによって情報を報知可能に構成されてもよく、使用者に情報を報知可能であれば、どのような構成であってもよい。
制御部18には、バス22、入出力インターフェイス23(Input/Output Interface:略称I/O)、中央演算処理部24(Central Processing Unit:略称CPU)、リードオンリーメモリー25(Read Only Memory:略称ROM)、ランダムアクセスメモリ26(Random Access Memory:略称RAM)および駆動部27とが含まれる。バス22は、I/O23、CPU24、ROM25およびRAM26と電気的に接続されている。I/O23は、信号変換部17、駆動部27と電気的に接続されている。I/O23は、各構成部から伝送される信号を、バス22を介してCPU24およびRAM26に伝送するための入出力インターフェイスである。CPU24は、ROM25に記憶されるプログラムおよび各構成部から伝送される信号に基づいて演算処理し、各構成部を制御可能に構成される。ROM25は、CPU24が演算処理および各構成部を制御のうち少なくとも一方を行う際に実行すべきプログラムを記憶可能に構成される。RAM26は、CPU24の演算結果および伝送される信号を記憶可能に構成される。駆動部27は、CPU24から伝送される信号に基づいて報知部20を駆動可能に構成される。
具体的に説明すると、CPU24は、測定部13から伝送されるLD15毎の測定結果を、前記LD15が収納されるバーンイン槽11の槽識別情報および前記LD15のアドレスに対応付けてRAM26に記憶させる。RAM26は、複数の測定結果を前記槽識別番号およびアドレスに対応付けて記憶することができる。換言すると、複数回測定が行われても、全ての測定結果を前記槽識別番号およびアドレスに対応付けて記憶可能に構成される。これら対応付けて記憶される少なくとも1つ以上の測定結果、槽識別情報およびアドレスを含む情報をLD測定情報と称する。RAM26は、LD電流を測定すべきバーンイン槽11の個数を記憶可能に構成される。またRAM26は、測定部13でLD15を測定した測定回数を記憶可能に構成される。測定回数は、LD電流の測定を開始してからRAM26に記憶される槽識別番号に対応付けられる測定結果が伝送される回数に基づいてCPU24が求める。ただし、このような求め方に限定されるものではない。さらにRAM26は、図示しない判定手段に備えられる操作部によって入力される指定測定回数および測定時間間隔を記憶可能に構成される。指定測定回数とは、各バーンイン槽において、発光試験LD電流を測定すべき回数と同義であり、本実施の形態では、9回である。測定時間間隔とは、各バーンイン槽において、LD電流を複数回測定する際、次の測定までにあけるべき時間間隔と同義である。RAM26は、図示しない判定手段に備えられる操作部によって入力されるLD電流下限値、LD電流上限値およびLD電流変化量上限値を記憶可能に構成される。LD電流下限値は、LD電流が満たすべき下限値であり、この値以下のLD電流である場合、LDが不良品であると判定される。LD電流上限値は、LD電流が満たすべき上限値であり、この値以上のLD電流である場合、LDが不良であると判定される。LD電流変化量上限値は、単位時間あたりのLD電流の変化量であり、前記変化量がこの上限値以上である場合、LDが不良であると判定される。RAM26は、LD電流下限値、LD電流上限値、LD電流変化量上限値、バーンイン時間およびLD電流の変化量を測定するための時間などのパラメータをファイル名に対応付けてパラメータファイルとして記憶する。バーンイン時間は、第1回目のLD電流の測定開始から指定測定回数(本実施では、9回目)の測定が終了するまでの時間である。ただし指定測定回数は、9回に限定されない。LD電流の変化量を測定するための時間は、いずれの時刻からどの時刻までの変化量を計算すべきかを示す情報である。このようなパラメータファイルは、RAM26に複数記憶される。CPU24は、指定測定回数の測定が実行されているか否かを判定可能に構成される。
CPU24は、測定部13にLDの特性を測定するように命令可能に構成され、測定部13からLD15の測定結果を取得すると、RAM26に記憶される測定時間間隔に基づいて、次にLD15を測定すべき時刻である測定実施時刻を演算可能に構成される。CPU24は、この測定実施時刻経過後に判定手段14と前記LD15を収納するバーンイン槽11に設けられる測定部13とが接続されていると、測定部13を駆動させて前記LD15のLD電流の測定を行わせる。「測定実施時刻経過後」は、測定実施時刻も含む。CPU24は、表示部によってバーンイン槽の識別番号(図4では、バーンイン槽IDと称する)と、この識別番号に対応付けてロット番号とパラメータと測定回数(図4では、回数と称する)と測定実施時刻とが、図4に示すように表示させて、使用者に報知する。パラメータは、前記パラメータファイルのファイル名を示す情報であり、このパラメータファイルに対応付けられるLD電流上限値などに基づいて良否判定などを行う。CPU24は、測定すべき時刻が経過している場合および測定回数が0である場合のうち少なくともどちらか一方である場合、「測定実施時刻」で「測定してください」と表示し、使用者に測定すべきことを促すように構成される。
CPU24は、RAM26からLD測定情報を取得し、前記測定結果に基づいてLD15の良否を判定し、判定結果を求めることができるように構成される。具体的には、CPU24は、複数個の測定結果に基づいて、前記測定結果が所定の範囲内であるか否かによってLDの良否を判定する。つまりCPU24は、LD15の測定結果である測定されるLD15の電流値全てが、図5に示すような指定されるパラメータファイルに基づくLD電流下限値以上LD電流上限値以上であるか否かを判定する。さらにCPU24は、複数回測定されたLD15の電流値のうち、2つの指定される回数目のLD15の電流値の変化量を、パラメータファイルに含まれる情報および測定結果に基づいて数値計算する。たとえば、図5に示すように3回目の電流値から9回目の電流値への電流値の変化量に基づいて単位時間あたりの電流値の変化量を演算する。電流値のCPU24は、この演算結果がパラメータファイルに含まれるLD変化量上限値以下であるか否かを判定する。これら2つの条件を充足する場合、「良」と判定し、少なくとも1つの条件を充足しない場合、「不良」と判定する。このようにCPU24は、LD15の良否を判定する。この判定されるLD15の良否を示す情報を判定結果と称する。本実施の形態では、判定結果が「良」の場合、LD15が正常に駆動可能であることを示し、判定結果が「不良」の場合、LD15が異常であることを示す。LD15が正常とは、所定の電流を印加すると、所望の光出力が得られることと同義であり、LD15が異常とは、正常な状態をのぞく状態である。ただし、判定結果は、このような判定に限定されず、LD15の出力に応じて段階的に評価するものであってもよく、判定方法は限定されない。具体的には、判定結果について、「A」、「B」および「C」などの評価を設けて、第1基準値以上の出力であれば「A」、第1基準値以下第2基準値以上の出力であれば「B」、第2基準値以下の出力であれば「C」とする判定方法に基づいて決定してもよい。CPU24は、判定結果を求めると、LD測定情報とともに判定結果をRAM26に伝送する。RAM26は、判定結果をLD15が実装されるバーンイン槽11の槽識別情報およびアドレスに対応付けて記憶する。RAM26は、LD測定情報にさらに判定結果を加えるLD情報をLD15毎に記憶する。またRAM26は、CPU24の命令に応じて、記憶されるLD情報を各構成部に伝送可能に構成される。
CPU24は、LDの良否判定後、測定部13から槽識別情報を取得すると、この槽識別情報に対応付けて記憶される全ての判定結果を、この判定結果に対応付けられるアドレスとともにRAM26から、バス22およびI/O23を介して駆動部27に伝送可能に構成される。駆動部27は、取得する判定結果とアドレスとに基づいて報知部20を駆動させる。詳細に説明すると、駆動部27は、LD15のアドレスに対応するLED21を、その判定結果に基づいて駆動させる。LED21は、対応するアドレスに実装されるLD15の判定結果が「良」の場合、発光してLD15が正常であることを報知する。LED21は、対応するアドレスに実装されるLD15の判定結果が「不良」の場合、発光せずLD15が異常であることを報知する。このように駆動部27は、CPU24によって制御されて報知部20を駆動させて利用者に被評価物のLD15の判定結果を報知可能に構成される。
さらにCPU24は、報知部20によってLD15の判定結果を報知させる前に、駆動部27を制御して報知部20の作動可能性を報知可能に構成される。作動可能性とは、報知部20のLED21が正常に作動可能か否かを示す情報と同義である。正常に作動可能とは、LED21が発光可能であることと同義である。詳細に説明すると、報知部20は、CPU24によって駆動部27を介して報知部20の全てのLED21の点灯試験可能に構成される。点灯試験とは、報知部20に電流を流し、LED21を発光させる試験である。点灯試験において、LED21が点灯することによってLED21が正常に作動することを報知する、すなわちLED21の作動可能性が「作動可能」であることを報知することができる。また点灯試験において、LED21が点灯しないことによってLED21が故障などして作動不可能であることを報知する、すなわちLED21の作動可能性が「作動不可能」であることを報知することができる。このようにCPU24は、駆動部27および報知部20を制御して、報知部20の作動可能性を報知可能に構成される。このようにして構成されるバーンイン装置10を用いて行うバーンイン試験方法について説明する。
図6は、バーンイン装置10を用いてバーンイン試験方法を行い、LD15の良品および不良品を選別する手順を概略示すフローチャートである。図7は、LD収納工程の具体的な手順を示すフローチャートである。図8は、良否判定工程の具体的な手順を示すフローチャートである。図9は、良否選別工程の具体的な手順を示すフローチャートである。良品および不良品を選別する方法には、LD収納工程と、良否判定工程と、良否選別工程とが含まれる。良品および不良品を選別する方法では、良否選別すべき複数のLD15が準備されると、ステップa0からステップa1ヘ移行する。
LD収納工程であるステップa1では、良否判定をすべき全てのLD15を、複数のバーンイン槽11のうちいずれかのバーンイン槽11のバーンインラックの実装位置に実装する。全てのLD15がいずれかのバーンイン槽11に収納される、またはバーンインラックの全ての実装位置にLD15が実装されると、ステップa1からステップa2へ移行する。良否判定工程であるステップa2では、バーンイン槽11に収納されるLD15にLD電流の測定を行う、すなわちLDの特性を測定する。CPU24は、測定部13からLD15毎の測定結果を取得し、LD測定情報をRAM26に記憶させる。CPU24は、記憶されるLD測定情報に基づいて、各LD15の良否判定をし、LD情報をRAM26に記憶させる。このようにしてLD情報が記憶されると、ステップa2からステップa3へ移行する。良否選別工程であるステップa3では、CPU24が、判定結果を報知すべきLD15が収納されるバーンイン槽11の槽識別情報を取得すると、前記槽識別情報が含まれるLD情報をRAM26から取得する。CPU24は、取得するLD情報に基づいて、駆動部27を介して報知部20を駆動させて、前記LD15の判定結果を報知する。このとき報知部20がバーンイン槽11に対して変位可能に構成されるので、判定結果を報知すべきLD15の近傍に報知部20を並べて配置する。使用者は、このようにして並べて配置されるLD15と報知部20とを対比させて、LD15の判定結果を目視確認する。この判定結果に基づいて、使用者は、実装されるLD15が良品であるか不良品であるかを選別する。LD15の良否選別が終了すると、ステップa3からステップa4ヘ移行し手順が終了する。
良品および不良品を選別する方法について、具体的に説明すると、良否選別すべきLD15が準備されると、ステップa0からステップa1ヘ移行する。ステップa1ヘ移行すると、図7に示すLD収納工程のフローチャートが開始する。本フローチャートが開始すると、ステップb0からステップb1ヘ移行する。LD実装工程であるステップb1では、使用者が良否選別すべきLD15を所望のバーンイン槽11に形成されるバーンインラックのLD15が実装されていない実装位置(以下「空実装位置」と称する場合がある)に実装する。LD15を所望バーンイン槽11に実装すると、ステップb1からステップb2ヘ移行する。ステップb2では、使用者が、良否選別すべきLD15全てがバーンインラックに実装されているか判定する。全てのLD15が実装されている判定すると、ステップb2からステップb3ヘ移行してLD収納工程の手順が終了し、ステップa1からステップa2ヘ移行する。ステップb2で、全てのLD15が実装されていないと判定すると、ステップb2からステップb4ヘ移行する。
ステップb4では、使用者が前記所望のバーンイン槽11に形成されるバーンインラックに空実装位置がある否かを判定する。空実装位置がない場合、ステップb4からステップb5ヘ移行し、空実装位置がある場合、ステップb4からステップb1へ戻る。ステップb5では、使用者がステップb1でLD15を収納したバーンイン槽11と異なるバーンイン槽11に空実装位置があるか否かを判別する。ステップb1でLD15を収納したバーンイン槽11と異なるバーンイン槽11に空実装位置がないと判定すると、ステップb5からステップb3ヘ移行してLD収納工程の手順が終了し、ステップa1からステップa2ヘ移行する。ステップb1でLD15を収納したバーンイン槽11と異なるバーンイン槽11に空実装位置があると判定すると、ステップb5からステップb6ヘ移行する。ステップb6では、残りのLD15を実装するバーンイン槽11を、バーンインラックに空実装位置があるバーンイン槽11に移行する。残りのLD15を実装するバーンイン槽11を移行すると、ステップb6からステップb1へ戻る。
このようにしてLD収納工程で全てのLD15を実装する、または全てのバーンイン槽11の空実装位置がなくなる状態までLD15の実装を行い、バーンイン槽11にLD15を収納すると、ステップa1からステップa2ヘ移行する。ステップa2ヘ移行すると、図8に示す良否判定工程のフローチャートが開始する。本フローチャートが開始すると、ステップc0からステップc1ヘ移行する。ステップc1では、使用者が判定手段14に備えられる第2接続部19を、良否判定すべきLD15が収納されるバーンイン槽11に設けられる測定部13の第1接続部16に機械的かつ電気的に接続する。以下では、第1接続部16に第2接続部19が接続される測定部13を「被接続測定部13」と称する場合があり、被接続測定部13が設けられるバーンイン槽11を「被接続バーンイン槽11」と称する場合がある。第2接続部19が第1接続部16に接続されると、ステップc1からステップc2ヘ移行する。槽識別情報取得工程であるステップc2では、CPU24が被接続測定部13から被接続バーンイン槽11の槽識別情報を取得する。CPU24が被接続バーンイン槽11の槽識別情報を取得すると、ステップc2からステップc3へ移行する。
測定工程であるステップc3では、バーンイン槽11に備えられるスイッチを操作することによって、LD15を発光させる。CPU24は、被接続測定部13にLD電流の測定を行わせる。被接続測定部13は、被接続バーンイン槽11に収納されるLD15の測定結果およびアドレスを取得する。具体的には、CPU24が被接続測定部13にLD電流の測定を行わせると、被接続測定部13は、被接続バーンイン槽11に収納されるLD15に電流を流しLD電流の測定、すなわちLDの特性の測定を行う。さらに接続測定部13は、このLDの特性とともに、測定されるLD15のアドレスを取得する。このようにして接続測定部13は、LDの特性およびアドレスを取得する、すなわち測定結果およびアドレスを取得すると、ステップc3からステップc4ヘ移行する。
測定結果記憶工程であるステップc4では、接続測定部13はステップc3で取得した測定結果およびアドレスをCPU24へ伝送する。CPU24は、取得する測定結果とアドレスとを対応付けてRAM26に記憶させ、さらにステップc2で取得した被接続バーンイン槽11の槽識別情報と前記測定結果とを対応付けてRAM26に記憶させる、すなわちLD測定情報をRAM26に記憶させる。このときCPU24は、測定部13から測定結果が伝送される回数を判定し、その測定回数をRAM26に記憶する。さらに被接続バーンイン槽11の槽識別情報に他の測定結果が対応付けて記憶されている場合、新たに対応付けて記憶させる測定結果を前記他の測定結果とともに槽識別情報に対応付けて記憶させる、すなわち複数の測定結果を含むLD測定情報をRAM26に記憶させる。これによって槽識別情報に複数の測定結果が対応付けて記憶される。ステップc2の槽識別情報記憶工程およびステップc4の測定結果記憶工程を含んで、特性記憶工程を構成する。RAM26に槽識別情報と測定結果とが対応付けて記憶されると、ステップc4からステップc5ヘ移行する。ステップc5では、使用者が接続測定部13の第1接続部16に装着される第2接続部19を離脱させる。第2接続部19を第1接続部16から離脱させると、ステップc5からステップc6ヘ移行する。
ステップc6では、CPU24が全てのバーンイン槽11において、LD電流の測定が一通り行われたか否かを判断する。CPU24が測定回数に基づいて、記憶されている全てのバーンイン槽で測定が完了しているかを判断する。具体的には、CPU24は、測定回数が0であるバーンイン槽があるか否かを判定する。ただしこのような判定に限定されず、記憶されるバーンイン槽の識別情報の個数と予め記憶されるバーンイン槽の個数とが一致するか否によって判定してもよい。全てのバーンイン槽11において、LD15の測定が一通り行われたと判断する場合、すなわち全てのバーンイン槽11において測定回数が1以上である場合、ステップc6からステップc7ヘ移行する。ステップc7では、CPU24が全てのバーンイン槽11において指定測定回数の測定が行われているかを判断する。CPU24は、RAM24に記憶される全てのLD測定情報の測定回数が指定測定回数以上であるかを判断する。CPU24が指定測定回数の測定が完了していると判定すると、CPU24が表示部によって指定測定回数の測定が完了していること報知し、バーンイン槽11に備えられるスイッチを操作して、発光するLD15に流れる電流を止めて発光を停止し、ステップc7からステップc8ヘ移行する。
判定工程であるステップc8は、使用者が、判定手段14に設けられる操作部を操作することによって、CPU24に良否判定を行わせる。操作部が操作されると、CPU24は、RAM26に記憶されるLD測定情報を取得し、このLD測定情報に含まれる測定結果に基づいてLD15の良否を判定し、判定結果を求める。判定結果が求められると、ステップc8からステップc9へ移行する。判定結果記憶工程であるステップc9では、CPU24がステップc8で求められた判定結果とLD測定情報とをRAM26に伝送し記憶させる。このときCPU24は、判定結果をLD測定情報に含まれる槽識別情報およびアドレスに対応付けてRAM26に記憶させる、すなわちLD情報をRAM26に記憶させる。CPU24は、LD測定情報に基づいて、RAM26に記憶される全てのLD15の判定結果を求め、LD情報としてRAM26に記憶させる。これによって各バーンイン槽11に実装される全てのLD15のLD情報がLD15毎にRAM26に記憶される。RAM26に全てのLD15のLD情報が記憶されると、ステップc9からステップc10ヘ移行して良否判定工程の手順が終了し、ステップa2からステップa3ヘ移行する。
ステップc6において、CPU24が全てのバーンイン槽11の測定が一通り完了してないと判断すると、ステップc6からステップc11ヘ移行する。ステップc11では、測定が終了していないバーンイン槽11に移行し、すなわち判定手段14を前記測定が終了していないバーンイン槽11まで搬送し、ステップc1へ戻る。ステップc7において指定測定回数の測定が完了していないと判定すると、CPU24が表示部によってステップc7からステップ12へ移行する。ステップc12では、CPU24が表示部によって報知する測定実施時刻が経過するのを待ってから、測定回数が指定測定回数に到達していないバーンイン槽11に移行し、すなわち判定手段14を前記バーンイン槽11まで搬送し、ステップc1へ戻る。
良否判定工程では、バーンイン槽11に収納される全てのLD15について良否判定し、判定結果を含むLD情報をRAMに記憶させると、ステップa2からステップa3ヘ移行する。ステップa3ヘ移行すると、図9に示す良否選別工程のフローチャートが開始する。本フローチャートが開始すると、ステップd0からステップd1ヘ移行する。ステップd1では、使用者が、判定手段14の第2接続部19を、良否選別すべきLD15が収納される接続バーンイン槽11に設けられる接続測定部13の第1接続部16に接続する。第1および第2接続部16,19が接続されると、ステップd1からステップd2ヘ移行する。槽識別情報取得工程であるステップd2では、CPU24が被接続測定部13から被接続バーンイン槽11の槽識別情報を取得する。CPU24が被接続バーンイン槽11の槽識別情報を取得すると、ステップd2からステップd3へ移行する。
判定結果検索工程であるステップd3では、CPU24が、ステップd2で取得した接続バーンイン槽11の槽識別情報に対応付けられる判定結果をRAM26から検出する。CPU24は、検出される判定結果を含むLD情報から、判定結果およびアドレスを取得する。CPU24が判定結果およびアドレスを取得すると、ステップd3からステップd4へ移行する。報知部作動確認工程であるステップd4では、CPU24が、駆動部27を介して報知部20の全てのLED21の点灯試験を行い、報知部20を構成するLED21の作動可能性を報知させる。報知部20の全てのLED21の作動可能性を確認した後、ステップd4からステップd5へ移行する。
報知工程であるステップd5では、CPU24がステップd3で取得した判定結果およびアドレスに基づいて、駆動部27によって報知部20を駆動させて、接続バーンイン槽11に収納されるLD15の判定結果を前記LD15に対応付けて報知する。具体的には、アドレスが第1実装位置であり、これに対応付けられる判定結果が「良」である場合、CPU24は、図3に示すように、駆動部27によって第1LED21aを発光させて、第1実装位置に実装されるLD15が良品であることを使用者に報知する。同様にアドレスが第2実装位置であり、これに対応付けられる判定結果が「不良」である場合、CPU24は、図3に示すように、駆動部27が第2LED21bを非発光させ、第2実装位置に実装されるLD15が不良品であることを使用者に報知する。同様にして、CPU24は、第3、第4および第5実装位置に実装されるLD15の判定結果を、駆動部27によって第3、第4および第5LED21c,21d,21eを駆動させて報知する。報知部20がバーンイン槽11に対して相対変位可能であるので、使用者は、報知部20を良否選別すべきLD15の近傍に並べて配置することができる。これによってバーンイン槽11に収納されるLD15と前記LD15の判定結果とをLD15の近傍に対応付けて報知することができる。このようにして報知すると、ステップd5からステップd6ヘ移行する。
選別工程であるステップd6は、使用者が、LD15の近傍に対応付けて報知する各LD15の判定結果に基づいて、LD15の良品および不良品を選別する。使用者は、非発光のLED21に対応する実装位置に実装されるLD15を、不良品として選別し除去する。また使用者は、発光するLED21に対応する実装位置に実装されるLD15を、良品として選別する。このようにして使用者が良品および不良品を選別すると、ステップd6からステップd7ヘ移行する。ステップd7では、使用者が接続測定部13の第1接続部16に装着される第2接続部19を離脱させる。第2接続部19を第1接続部16から離脱させると、ステップd7からステップd8ヘ移行する。ステップd8では、使用者が全てのバーンイン槽11において選別が終了したか否かを判断する。使用者が終了したと判断すると、ステップd8からステップd9ヘ移行し良否選別工程が終了し、ステップa3からステップa4へ移行して手順が終了する。
ステップd8において、使用者が終了していないと判断すると、ステップd10ヘ移行する。ステップ10では、選別が終了していないバーンイン槽11に移行し、すなわち判定手段14を前記バーンイン槽11まで搬送し、ステップd10からステップd1へ戻る。
本実施の形態において、特性記憶工程と判定工程と判定結果記憶工程と報知工程とを含んでバーンイン試験方法を構成する。
本実施の形態のバーンイン装置10によれば、測定部13がバーンイン槽11に収納されるLDの特性を測定する。この測定結果に基づいて、判定手段14がLD15の良否を判定し、判定結果を求める。報知部20は、この判定結果をLD15に対応付けて報知する。特に、報知部20は、バーンイン槽11に対して相対変位可能に構成されているので、使用者は、報知部20をバーンイン槽11に収納されるLD15の近傍に並べて配置することができる。このように報知部20がLD15と判定結果とを対応付けて報知するうえ、報知部20をバーンイン槽11に収納されるLD15の近傍に並べて配置できるので、LD15と判定結果との対応付けを目視で確認することができる。これによって使用者は、前記対応付けを記憶してLD15の良否を判断する場合に比べて、誤認識が少なくLD15の良否を確実に判断することができる。したがってLD15の良品および不良品を選別する際、誤選別を未然に防止することができるとともに、LD15を容易かつ確実に良否選別することができる。それ故、本発明のような複数のバーンイン槽11を備えるバーンイン装置10であっても、LD15の良否を確実に判断でき、LD15の良品および不良品の誤選別を未然に防止することができる。このように誤選別を未然に防止することができると、LD15が搭載される製品の不良品化を抑制することができ、前記製品の歩留まりをよくすることができる。さらにこのように使用者がLD15と判定結果の対応付けを目視で確認してLD15の良否選別が容易にできるので次のような効果を奏する。LD15と判定結果の対応付けに基づいてLD15の良否選別するための装置を新たに設ける必要がなく、バーンイン装置10の構成を従来技術のものより簡単化することができ、これによってバーンイン装置10の小形化を図ることができるうえ、生産設備費用、つまり生産コストを低減することができる。
本実施の形態のバーンイン装置10によれば、判定手段14は、測定結果および判定結果とLD15が収納されるバーンイン槽11とが対応付けて記憶される。これによって判定手段14は、バーンイン槽11毎に実装されるLD15の判定結果を報知部20によって報知させることができる。これによって複数のLD15がバーンイン槽11に収納されるバーンイン装置10において、一度に複数のLD15の判定結果を報知することができ、1つ1つLD15の判定結果を報知するバーンイン装置に比べて、良否選別する際の作業効率を向上させることができる。
本実施の形態のバーンイン装置10によれば、判定手段14は、測定部13に着脱可能であり、電気的に接続可能に構成される。これによって判定手段14は、測定部13に装着される状態で測定結果に基づいてLD15の判定結果を求めることができ、測定部13から離脱する状態で搬送、すなわち他のバーンイン槽11に移行することができる。また判定手段14がLD15の良否を判定するための手段であり、バーンイン槽11より小形化が可能であるので、従来のようにバーンイン槽11を搬送機で搬送する場合に比べて、判定手段14を搬送する方が容易である。これによって複数のバーンイン槽11のLD15を良否判定する際、バーンイン槽11を搬送する必要がなく、判定手段14を着脱するだけの容易な操作でLD15の良否判定ができ、良否判定が容易となり、使用者の労力を軽減することができる。搬送機を備える必要がないので、バーンイン装置10の構成を従来技術より簡略化することができる。さらにバーンイン槽11毎に判定手段14を設ける必要がなく、構成を少なくすることもできる。このようにバーンイン装置10の小形化を図ることができるうえ、生産設備費用、つまり生産コストを低減することができる。
本発明によれば、判定手段14は、報知部20の作動可能性を判定し報知することができるので、報知部20が不所望な状態で報知部20がLD15の判定結果を報知することを防止する。これによってLD15の判定結果を、報知部20によって正確に報知することができ、報知部20の不所望な状態に基づく、使用者の判定結果の誤認識および良品および不良品の誤選別を未然に防止することができる。これによってLD15が搭載される製品の不良品化を抑制し、歩留まりをよくすることができる。
本実施のバーンイン試験方法によれば、LD15の測定結果に基づいて判定される判定結果を、LD15近傍に対応付けて報知する。これによって使用者は、LD15と判定結果との対応付けを目視で確認することができ、前記対応付けを記憶してLD15の良否判定をする場合に比べて、誤認識が少なくLD15の良否を確実に判定をすることができる。LD15の良否が確実に判定できるので、LD15の良否および不良品を選別する際、誤選別を未然に防止することができ、LD15の良否選別が容易かつ確実にできる。このように誤選別を未然に防止することができると、LD15が搭載される製品の不良品化を抑制することができ、前記製品の歩留まりをよくすることができる。
図10は、本発明の実施の第2の形態であるバーンイン装置10Aの電気的構成を示すブロック図である。図11は、バーンイン装置10Aを簡略化して示す図である。図12は、バーンイン装置10Aを用いて不良品を選別する際の状態を簡略化して示す図である。バーンイン装置10Aは、実施の第1の形態のバーンイン装置10と構成が類似しており、異なる点についてだけ説明し、同様の構成については同位置の符号を付して説明を省略する。バーンイン槽11Aは、複数のバーンインボード28(本実施の形態では、10個のバーンインボード28)が着脱可能に収納するように構成され、モニタ部12によってバーンイン槽11Aの温度を計測し、バーンイン槽11Aの異常を検出可能に構成される。10個のバーンインボード28は、それぞれ第1、第2、第3、第4、第5、第6、第7、第8、第9および第10バーンインボード28と称する。基板である各バーンインボード28は、複数の実装位置が形成され、前記実装位置にLD15(本実施の形態では、5つのLD15)を実装可能に構成され、バーンイン槽11Aに収納される状態で測定部13Aに電気的に接続される。本実施の形態において、バーンインボード28の実装位置は、バーンインラックと同様に、紙面左から順に第1、第2、第3、第4、および第5実装位置とする。各バーンインボード28には、基板識別情報が記憶される。基板識別情報とは、各バーンインボード28を識別するための情報であり、各バーンインボード28固有の識別情報である。本実施の形態では、バーインボードが各バーンインボード28に割り振られるID番号を記憶可能に構成される。測定部13Aは、各バーンインボード28に実装されるLD15についてLD電流を測定可能に構成され、LDの特性をCPU24に伝送可能に構成される。測定部13Aおよび信号変換部17Aは、着脱不可能に構成される。換言すれば、測定部13Aと判定手段14とが常時接続されて構成される。制御部18は、測定結果を基板識別情報およびアドレスと対応付けてRAM26に記憶する。本実施の形態においてアドレスは、LD15がバーンインボード28の実装位置のうちいずれの実装位置に実装されているかを示す位置情報である。本実施の形態では、対応付けられる記憶される測定結果、基板識別情報とアドレスとを含んでLD測定情報と称する場合がある。制御部18は、CPU24によってLD測定情報に基づいてLD情報を作成し、RAM26に記憶可能に構成される。本実施の形態では、LD情報は、測定結果と判定結果とが基板識別情報とアドレスとに対応付けて記憶される情報である。バーンイン装置10Aには、さらに基板識別情報取得部29が設けられる。基板識別情報取得部29は、バーンインボード28を着脱可能および電気的に接続可能に構成される。基板識別情報取得部29は、図12に示すようにバーンインボード28が装着されると、バーンインボード28に記憶される基板識別情報を取得し、前記基板識別情報を制御部18へ伝送する。制御部18は、基板識別情報を取得すると、CPU24によってRAM26から基板識別情報を含むLD情報を検出する。制御部18は、検出されるLD情報に基づいて、報知部20を駆動させて判定結果を使用者に報知可能に構成される。報知部20は、図10に示すように、基板識別情報取得部29の近傍に配置可能に構成される。具体的には、報知部20が制御部18に対して相対変位に可能に構成されるので、報知部20を変位させることによって基板識別情報取得部29の近傍に配置する。CPU24は、バーンイン槽11Aに収納される全てのLD15を発光可能に構成される。CPU24は、LD電流の測定回数が指定測定回数未満である場合、LD15を発光させ、LD電流の測定が指定測定回数以上であると、発光するLD15の発光停止するように構成される。本実施の形態では、CPU24は、LD電流の測定開始時(第1回目の測定時)にLD15を発光させ、指定回数(第9回目の測定時)にLD15の発光を停止する。以下では、このような構成を有するバーンイン装置10Aを用いるバーンイン試験方法について説明する。
図13は、バーンイン装置10Aを用いてバーンイン試験方法を行い、LD15の良品および不良品を選別する手順を概略示すフローチャートである。図14は、LD収納工程の具体的な手順を示すフローチャートである。図15は、良否判定工程の具体的な手順を示すフローチャートである。図16は、良否選別工程の具体的な手順を示すフローチャートである。良品および不良品を選別する方法には、LD収納工程と、良否判定工程と、良否選別工程とが含まれる。良品および不良品を選別する方法では、良否選別すべき複数のLD15が準備されると、ステップe0からステップe1ヘ移行する。
LD収納工程であるステップe1では、良否判定をすべき全てのLD15を、複数のバーンインボード28のうちいずれかバーンインボード28に実装位置に実装する。全てのLD15がいずれかのバーンインボード28に収納される状態、または各バーンインボード28の全ての実装位置にLD15が実装される状態になると、ステップe1からステップe2へ移行する。良否判定工程であるステップe2では、バーンインボード28に実装されるLD15のLD電流の測定を行い、LDの特性を測定する。CPU24は、測定部13AからLD15毎の測定結果を取得し、LD測定情報をRAM26に記憶させる。CPU24は、記憶されるLD情報に基づいて、各LD15を良否判定し、測定結果の判定結果を含むLD情報をRAM26に記憶させる。このようにしてLD情報が記憶されると、ステップe2からステップe3へ移行する。良否選別工程であるステップe3では、バーンインボード28をバーンイン槽11Aから離脱させて基板識別情報取得部29に装着する。バーンインボード28を基板識別情報取得部29に装着すると、CPU24は、判定結果を報知すべきLD15が実装されるバーンインボード28の基板識別情報を取得するとともに、前記基板識別情報が含まれるLD情報をRAM26から取得する。CPU24は、取得するLD情報に基づいて、駆動部27を介して報知部20を駆動させて、前記LD15の判定結果を報知部によって報知する。このとき報知部20が基板識別情報取得部29の近傍に配置可能に構成されるので、判定結果を報知すべきLD15の近傍に報知部20を並べて配置することができる。使用者は、このようにして並べて配置されるLD15と報知部20とを対比させて、LD15の判定結果を目視確認する。この判定結果に基づいて、使用者は、実装されるLD15が良品であるか不良品であるかを選別する。LD15の良否選別が終了すると、ステップe3からステップe4ヘ移行し手順が終了する。
良品および不良品を選別する方法について、具体的に説明すると、良否選別すべきLD15が準備されると、ステップe0からステップe1ヘ移行する。ステップe1ヘ移行すると、図14に示すLD収納工程のフローチャートが開始する。本フローチャートが開始すると、ステップf0からステップf1ヘ移行する。LD実装工程であるステップf1では、使用者が良否選別すべきLD15を所望のバーンインボード28の空実装位置に実装する。LD15を所望のバーンインボード28に実装すると、ステップf1からステップf2ヘ移行する。ステップf2では、使用者が良否選別すべきLD15が全てバーンインラックに実装されているか判定する。全てのLD15が実装されている判定すると、ステップf2からステップf3ヘ移行する。ステップf3では、LD15が実装される全てのバーンインボード28をバーンイン槽11Aに装着して収納する。前記バーンインボード28をバーンイン槽11Aに収納すると、ステップf3からステップf4ヘ移行してLD収納工程の手順が終了し、ステップe1からステップe2ヘ移行する。
ステップf2で、全てのLD15が実装されていないと判定すると、ステップf2からステップf4ヘ移行する。ステップf4では、使用者が前記所望のバーンインボード28に空実装位置がある否かを判定する。空実装位置がない場合、ステップf4からステップf5ヘ移行する。ステップf5では、使用者がステップf1でLD15を収納したバーンインボード28と異なるバーンインボード28に空実装位置があるか否かを判別する。前記バーンインラックに空実装位置がないと判定すると、ステップf5からステップf3ヘ移行する。
ステップf4において空実装位置があると判断した場合、ステップb4からステップb1へ戻る。ステップf5において、ステップf1でLD15を収納したバーンインボード28と異なるバーンインボード28に空実装位置があると判定すると、ステップf5からステップf6ヘ移行する。ステップf6では、残りのLD15を実装するバーンインボード28を、空実装位置があるバーンインボード28うち所望のバーンインボード28に移行する。残りのLD15を実装するバーンインボード28を移行すると、ステップf6からステップf1へ戻る。
このようにしてLD収納工程で全てのLD15が実装される、または全てのバーンインボード28の空実装位置がなくなるまでLD15の実装を行い、バーンインボード28にLD15を実装し前記バーンインボード28をバーンイン槽11Aに収納するとステップe1からステップe2ヘ移行する。ステップe2ヘ移行すると、図15に示す良否判定工程のフローチャートが開始する。本フローチャートが開始すると、ステップg0からステップg1ヘ移行する。測定工程であるステップg1では、制御部18によってLD15を発光させ、CPU24が測定部13AにLD電流の測定を行わせ、測定部13Aが各基板に実装されるLD15のLDの特性、すなわち測定結果を取得する。測定部13Aは、各LD15のLDの特性を取得するとともに、実装される各LD15の基板識別情報およびアドレスを取得する。測定部13Aは、測定結果、基板識別情報およびアドレスが取得すると、ステップg1からステップg2ヘ移行する。
特性記憶工程であり、測定結果記憶工程であるステップg2では、CPU24が測定部13Aからステップg1で取得する測定結果、基板識別情報およびアドレスを取得する。CPU24は、取得する測定結果と基板識別情報とアドレスとを対応付けてRAM26に記憶させる、すなわちLD測定情報を記憶させる。このとき基板識別情報に他の測定結果が対応付けて記憶されている場合、新たに対応付けて記憶させる測定結果を他の測定結果とともに基板識別情報に対応付けて記憶させる、すなわち複数の測定結果を含むLD測定情報を記憶させる。これによって基板識別情報に複数の測定結果が対応付けて記憶される。RAM26に槽識別情報と測定結果とが対応付けて記憶されると、ステップg2からステップg3ヘ移行する。ステップg3では、CPU24が全てのバーンインボード28において、指定測定回数の測定が行われたか否かを判断する。CPU24は、RAM24に記憶される全てのLD測定情報の測定回数が指定測定回数以上であるかを判断する。CPU24が指定測定回数の測定が完了していると判定すると、発光するLD15に流れる電流を止めて発光を停止し、ステップg3からステップg4ヘ移行する。
判定工程であるステップg4は、CPU24が、RAM26に記憶されるLD測定情報を取得し、このLD測定情報に含まれる測定結果に基づいてLD15の良否を判定し、判定結果を求める。判定結果が求められると、ステップg4からステップg5へ移行する。判定結果記憶工程であるステップg5では、CPU24がステップg4で求められた判定結果とLD測定情報とをRAM26に伝送し記憶させる。このときCPU24は、判定結果をLD測定情報に含まれる基板識別情報およびアドレスに対応付けてRAM26に記憶させる、すなわちLD情報をRAM26に記憶させる。CPU24は、RAM26に記憶される全てのLD15について、LD測定情報に基づいて判定結果を求め、LD情報をRAM26に記憶させる。これによって各バーンインボード28に実装される全てのLD15のLD情報がLD15毎にRAM26に記憶される。RAM26に全てのLD15のLD情報が記憶されると、ステップg5からステップg6ヘ移行して良否判定工程の手順が終了し、ステップe2からステップe3ヘ移行する。
ステップg3において、CPU24が指定測定回数の測定が行われていないと判断すると、ステップg3からステップg7ヘ移行する。ステップg7では、CPU24が測定実施時刻が経過しているかを判断し、経過したと判断すると、ステップc1へ戻る。CPU24は、ステップc1に戻ると、測定回数が指定測定回数に到達していないバーンインボード28に実装されるLD15のLD電流の測定を開始する。
良否判定工程では、バーンインボード28に実装される全てのLD15について良否判定し、判定結果を含むLD情報を記憶させると、ステップe2からステップe3ヘ移行する。ステップe3ヘ移行すると、図16に示す良否選別工程のフローチャートが開始する。本フローチャートが開始すると、ステップh0からステップh1ヘ移行する。ステップh1では、使用者が、基板識別情報取得部29に、良否選別すべきLD15が実装されるバーンインボード28(以下「装着バーンインボード28」と称する場合がある)を装着する。たとえば図12に示すように、第10バーンインボード28が基板識別取得部に装着される。装着バーンインボード28が装着されると、ステップh1からステップh2ヘ移行する。基板識別情報取得工程であるステップh2では、CPU24が基板識別情報取得部29から装着バーンインボード28の基板識別情報を取得する。CPU24が装着バーンインボード28の基板識別情報を取得すると、ステップh2からステップh3へ移行する。
判定結果検索工程であるステップh3では、CPU24が、ステップh2で取得した装着バーンインボード28の基板識別情報に対応付けられる判定結果をRAM26から検出する。CPU24は、RAM26から検出される判定結果を含むLD情報から判定結果およびアドレスを取得する。CPU24が判定結果およびアドレスを取得すると、ステップh3からステップh4へ移行する。報知部作動確認工程であるステップh4では、CPU24が、駆動部27を介して報知部20の全てのLED21の点灯試験を行い、報知部20を構成するLED21の作動可能性を報知させる。報知部20の全てのLED21の作動可能性を確認した後、ステップh4からステップh5へ移行する。
報知工程であるステップh5では、CPU24がステップh3で取得した判定結果およびアドレスに基づいて、駆動部27によって報知部20を駆動させて、装着バーンインボード28に実装されるLD15の判定結果を前記LD15に対応付けて報知する。具体的には、アドレスが第1実装位置であり、これに対応付けられる判定結果が「良」である場合、CPU24は、図3に示すように、駆動部27によって第1LED21aを発光させて、第1実装位置に実装されるLD15が良品であることを使用者に報知する。同様にアドレスが第5実装位置であり、これに対応付けられる判定結果が「不良」である場合、CPU24は、図12に示すように、駆動部27が第5LED21eを発光を禁止させ(以下、発光を禁止することを「非発光」と称する場合がある)、第2実装位置に実装されるLD15が不良品であることを使用者に報知する。同様にして、CPU24は、第2、第3および第4実装位置に実装されるLD15の判定結果を、駆動部27によって第2、第3および第4LED21b,21c,21dを駆動させて報知する。報知部20が基板識別情報取得部29近傍に配置可能であるので、装着バーンインボード28の近傍に配置することができる。したがって使用者は、報知部20を良否選別すべきLD15の近傍に並べて配置することができる。これによって装着バーンインボード28に実装されるLD15と各LD15の判定結果とをLD15近傍で対応付けて報知することができる。このようにして報知すると、ステップh5からステップh6ヘ移行する。
選別工程であるステップh6は、使用者が、LD15の近傍に対応付けて報知する各LD15の判定結果に基づいて、LD15の良品および不良品を選別する。使用者は、非発光のLED21に対応する実装位置に実装されるLD15を、不良品として選別し除去する。また使用者は、発光するLED21に対応する実装位置に実装されるLD15を、良品として選別する。このようにして使用者が良品および不良品を選別すると、ステップh6からステップh7ヘ移行する。ステップh7では、使用者が装着バーンインボード28を基板情報識別取得部から離脱させる。装着バーンインボード28を基板識別情報取得部29から離脱させると、ステップh7からステップh8ヘ移行する。ステップh8では、使用者が全てのバーンインボード28において選別が終了したか否かを判断する。使用者が終了したと判断すると、ステップh8からステップh9ヘ移行し良否選別工程が終了し、ステップe3からステップe4へ移行して手順が終了する。ステップh8において、使用者が終了していないと判断すると、ステップh10ヘ移行する。ステップh10では、選別が終了していないバーンインボード28に移行し、ステップh10からステップh1へ戻る。
本実施の形態において、測定結果記憶工程と判定工程と判定結果記憶工程と報知工程とを含んでバーンイン試験方法を構成する。
本実施のバーンイン装置10Aによれば、測定部13Aがバーンインボード28に実装されるLDの特性を測定する。この測定結果に基づいて、判定手段14がLD15の良否を判定し、判定結果を求める。報知部20は、この判定結果をLD15に対応付けて報知する。特にバーンインボード28がバーンイン槽11Aに着脱可能であるので、バーンインボード28を報知部20の近傍に配置することができる。このように報知部20がLD15と判定結果とを対応付けて報知するうえ、報知部20をバーンインボード28に実装されるLD15の近傍に並べて配置できるので、使用者は、LD15と判定結果との対応付けを目視で確認することができる。これによって使用者は、前記対応付けを記憶してLD15の良否を判断する場合に比べて、LD15と判定結果との対応付けの誤認識が少なくLD15の良否を確実に判断をすることができる。したがってLD15の良品および不良品を選別する際、誤選別を未然に防止することができるとともに、LD15を容易かつ確実に良否選別することができる。それ故、本発明のような複数のバーンインボード28を備えるバーンイン装置10Aであっても、LD15の良否を確実に判断でき、LD15の良品および不良品の誤選別を未然に防止することができる。このように誤選別を未然に防止することができると、LD15が搭載される製品の不良品化を抑制することができ、前記製品の歩留まりをよくすることができる。さらにこのように使用者がLD15と判定結果の対応付けを目視で確認してLD15の良否選別を容易にできるので、次のような効果を奏する。LD15と判定結果の対応付けに基づいてLD15の良否選別するための装置を新たに設ける必要がなく、バーンイン装置10Aの構成を従来技術より簡単化することができる。これによってバーンイン装置10Aの小形化を図ることができるうえ、生産コストを低減することができる。さらに複数のバーンインボード28を備えるので、一度に測定および判定可能なLD15の数量が多く、従来のバーンイン装置より作業効率が高い。
本実施のバーンイン装置10Aによれば、判定手段14は、測定結果および判定結果とLD15が実装されるバーンインボード28とが対応付けて記憶する。これによって判定手段14は、バーンインボード28毎に実装されるLD15の判定結果を報知部20によって報知させることができる。これによって複数のLD15がバーンインボード28に実装されるバーンイン装置10Aにおいて、一度に複数のLD15の判定結果を報知することができ、1つ1つLD15の判定結果を報知するバーンイン装置に比べて、良否選別する際の作業効率を向上させることができる。
実施の第2の形態では、1つのバーンイン槽11Aだけが設けられているけれども、複数のバーンイン槽11Aが設けられてもいい。これによってバーンイン装置10Aより多くのバーンインボード28を設けることができ、作業時間の低減を図ることができる。またこのとき測定部13Aと信号変換部17Aとが着脱可能に構成し、制御部18が槽識別情報を所得し記憶可能に構成することによって、実施の第1の形態のバーンイン装置10と同様の効果を奏するバーンイン装置10Aを構成することができる。
本実施の形態では、単品種大量のLD15のバーンイン装置10であるけれども、複数のバーンイン槽11を備えるので、各バーンイン槽11をそれぞれ異なる種類のLD15を収納可能、すなわち多品種のLD15を収納可能に構成してもよい。このように多品種のLD15が収納される場合、LD15毎にLDの特性を測定および測定結果に基づく良否判定が行われ、LD15と判定結果とを対応付けて報知する。したがって各LD15の判定結果の報知ができるので、使用者がLD15の良否を確実に判断でき、LD15の不良品の誤選別を未然に防止することができる。使用者がLD15と各判定結果の対応付けを目視で確認してLD15の良否選別ができるので、各品種に対応するLD15の良否選別するための装置を設けることなく、多品種のLD15の良否選別ができる。それ故、バーンイン装置10の構造を簡単化できるとともに、各品種のLD15の良否選別に対応すべく良否選別装置を増設することが必要なく、生産コストを低減することができる。このように多品種のLD15に対して使用することができるので、汎用性が高く、使用者の判定結果の誤認識および良品および不良品の誤選別を防止することができる。
同様に、複数のバーンインボード28を備えるので、各バーンインボード28をそれぞれ異なる種類のLD15を実装可能、すなわち多品種のLD15を実装可能に構成してもよい。このように多品種のLD15が実装される場合、LD15毎にLDの特性を測定および測定結果に基づく良否判定が行われ、LD15と判定結果とを対応付けて報知する。したがって各LD15の判定結果の報知ができるので、使用者がLD15の良否を確実に判断でき、LD15の不良品の誤選別を未然に防止することができる。使用者がLD15と各判定結果の対応付けを目視で確認してLD15の良否選別ができるので、各品種に対応するLD15の良否選別するための装置を設けることなく、多品種のLD15の良否選別ができる。それ故、バーンイン装置10Aの構造を簡単化できるとともに、各品種のLD15の良否選別に対応すべく良否選別装置を増設することが必要なく、生産コストを低減することができる。このように多品種のLD15に対して使用することができるので、汎用性が高く、使用者の判定結果の誤認識および良品および不良品の誤選別を防止することができる。
本実施の形態では、測定結果と判定結果とがバーンイン槽11またはバーンインボード28に対応付けて記憶されるので、CPU24は、測定結果および判定結果に基づいて、これらに対応付けられた槽識別情報を有するバーンイン槽11または基板識別情報を有するバーンインボード28の良否を判定可能に構成してもよい。具体的には、CPU24が、槽識別情報または基板識別情報およびこれらに対応付けられる判定結果に基づいて、各バーンイン槽11または各バーンインボード28毎に収納されるLD15の判定結果を集計し、その集計に基づいて判定結果の発生頻度、すなわち不良品発生率を求める。判定手段14は、この不良発生率を表示部で報知可能に構成され、さらにこの不良品発生率に基づいて、CPU24は、各バーンイン槽11または各基板に異常がないか否かの良否判定をする。詳細に説明すると、CPU24は、求められる不良品発生率に基づいて、所定の発生率以上であると、「異常」であると判定し、所定の発生率未満であると、「良好」と判定する。このようにして良否判定に基づいて、CPU24は、各バーンイン槽11または各バーンインボード28が良品であるか不良品であるかを報知する。このようにCPU24を構成することによって以下のような効果を奏する。これによって各バーンイン槽11または各基板が不所望な状態でLD15の良否判定が行われることを防止できる。したがってLD15の良否を確実に判定することができ、各バーンイン槽11または各バーンインボードが不所望な状態であることに伴う、判定結果の誤認識および良品および不良品の誤選別を未然に防止することができる。これによってLD15の良品を確実に選別することができ、LD15が搭載される製品の歩留まりをよくすることができる。さらに実装位置毎に不良品発生率を求めることによって、いずれの実装位置が異常であるかを判定することも可能である。これによって実装位置単位で不所望な状態での判定か否かを判断することができる。これによって不所望な状態であることに伴う、判定結果の誤認識および良品および不良品の誤選別を未然に防止することができる。これによってLD15の良品を確実に選別することができ、LD15が搭載される製品の歩留まりをよくすることができる。
10 バーンイン装置
11 バーンイン槽
13 測定部
14 判定手段
20 報知部
28 バーンインボード
11 バーンイン槽
13 測定部
14 判定手段
20 報知部
28 バーンインボード
Claims (7)
- 被評価物を良否判定するためのバーンイン装置であって、
被評価物を収納可能な複数のバーンイン槽と、
被評価物の特性を測定可能な測定手段と、
測定手段の測定結果に基づいて被評価物の良否を判定し、判定結果を求める判定手段と、
被評価物と判定結果とを対応付けて報知し、かつ各バーンイン槽に対して相対変位可能な報知手段とを有することを特徴とするバーンイン装置。 - 被評価物を良否判定するためのバーンイン装置であって、
被評価物を実装可能な複数の基板と
複数の基板を収納可能であり、各基板を着脱可能な少なくとも1つのバーンイン槽と、
被評価物の特性を測定可能な測定手段と、
測定手段の測定結果に基づいて被評価物の良否を判定し、判定結果を求める判定手段と、
被評価物と判定結果とを対応付けて報知可能な報知手段とを有することを特徴とするバーンイン装置。 - 前記判定手段は、測定結果および判定結果と、被評価物が実装される基板とを対応付けて記憶することを特徴とする請求項2に記載のバーンイン装置。
- 前記判定手段は、測定結果および判定結果と、被評価物が収納されるバーンイン槽とを対応付けて記憶することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載のバーンイン装置。
- 前記判定手段は、測定手段に着脱可能であって、かつ電気的に接続可能であることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1つに記載のバーンイン装置。
- 判定手段は、報知手段の作動可能性を判定する機能を有することを特徴とする請求項1〜5のいずれか1つに記載のバーンイン装置。
- バーンイン装置を用いて被評価物の良否を判定するバーンイン試験方法であって、
被評価物の特性を測定する測定工程と、
被評価物が収納されるバーンイン槽および実装される基板のうち少なくともいずれか一方を示す識別情報を取得し、識別情報と測定工程の測定結果とを対応付けて記憶する特性記憶工程と、
記憶される測定結果に基づいて被評価物の良否を判定し、判定結果を求める判定工程と、
前記識別情報と判定結果とを対応付けて記憶する判定結果記憶工程と、
前記識別情報を取得し、取得する識別情報に基づいて被評価物の判定結果を被評価物近傍に対応付けて報知する報知工程とを含むことを特徴とするバーンイン試験方法。
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