JP2006056060A - インクジェット記録装置及びインクジェット記録装置の検査方法 - Google Patents
インクジェット記録装置及びインクジェット記録装置の検査方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2006056060A JP2006056060A JP2004238223A JP2004238223A JP2006056060A JP 2006056060 A JP2006056060 A JP 2006056060A JP 2004238223 A JP2004238223 A JP 2004238223A JP 2004238223 A JP2004238223 A JP 2004238223A JP 2006056060 A JP2006056060 A JP 2006056060A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- head
- capacitance
- circuit
- capacitor
- voltage
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Landscapes
- Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
Abstract
【課題】圧電ヘッドの静電容量を測定することが可能なインクジェット記録装置の検査方法を提供する。
【解決手段】ヘッド(スイッチSWnのオン抵抗Rdと静電容量Cd)と、ヘッドに直列に接続された電流検出抵抗Rsと、オン抵抗Rdと同一のヘッド外部に設けた抵抗Rd及び抵抗Rdに直列に接続されヘッドの外部に設けたコンデンサCと、コンデンサCに直列に接続された電流検出抵抗Rsとでブリッジ回路を構成し、抵抗Rdとヘッド間に電圧VSを印加し、2つの電流検出抵抗Rs間を接地する。ヘッドと電流検出抵抗Rs間、及びコンデンサCと電流検出抵抗Rs間に差動増幅器を接続し、ブリッジ回路のコンデンサCの可変容量ダイオードδCを調節する静電容量自動調整回路に差動増幅器の出力を接続し、差動増幅器の出力が0(最小)となるように調節したときの可変容量ダイオードδCに印加される電圧に基づいて圧電素子の静電容量を求める。
【選択図】図2
【解決手段】ヘッド(スイッチSWnのオン抵抗Rdと静電容量Cd)と、ヘッドに直列に接続された電流検出抵抗Rsと、オン抵抗Rdと同一のヘッド外部に設けた抵抗Rd及び抵抗Rdに直列に接続されヘッドの外部に設けたコンデンサCと、コンデンサCに直列に接続された電流検出抵抗Rsとでブリッジ回路を構成し、抵抗Rdとヘッド間に電圧VSを印加し、2つの電流検出抵抗Rs間を接地する。ヘッドと電流検出抵抗Rs間、及びコンデンサCと電流検出抵抗Rs間に差動増幅器を接続し、ブリッジ回路のコンデンサCの可変容量ダイオードδCを調節する静電容量自動調整回路に差動増幅器の出力を接続し、差動増幅器の出力が0(最小)となるように調節したときの可変容量ダイオードδCに印加される電圧に基づいて圧電素子の静電容量を求める。
【選択図】図2
Description
本発明は、インクジェット記録装置及びインクジェット記録装置の検査方法にかかり、特に、圧電素子を用いてインクを吐出するインクジェット記録装置及び当該インクジェット記録装置の検査方法に関する。
近年、インク吐出口からインクを吐出する、いわゆるインクジェット記録装置は、小型で、安価である等の特徴から、多くのプリンターに用いられている。これらインクジェット方式の中でも、圧電素子の変形を利用してインクを吐出させるピエゾインクジェット方式等が高解像度、高速印字性などの観点から多く利用されている。
ピエゾ素子等の圧電素子の振動エネルギーを利用するインクジェット記録装置は、インク流路に設けられた圧電素子を画像情報に応じて振動させ、この圧電素子の歪みによってインク滴を形成する。圧電素子にかかる電圧の波形を制御することで、インク吐出口のメニスカスや吐出後のインクの再供給を制御することが可能であるため、高い周波数での駆動(インク吐出)と、インク滴の量を変化させた階調記録が可能となる。
このようなインクジェット記録装置における記録ヘッドの不具合の判定としては、各ノズルから正常にインクが吐出されるかを検出するものがある。例えば、特許文献1や特許文献2に記載の技術では、圧電素子の共振点の変化から不吐出ノズルを検出することが提案されている。詳細には、周波数を徐々に変化させて圧電素子の共振点を検出している。
また、この他に、圧電素子をインク吐出の駆動源としていない場合の記録ヘッドの不具合判定としては、特許文献3に記載の技術などが提案されている。
特開2000−355100号公報
特開2000−318183号公報
特開2003−118093号公報
しかしながら、従来の特許文献1や特許文献2に記載の技術では、周波数を徐々に変化させて圧電素子の共振周波数を検出しているため、共振点の検出に時間が掛かってしまう、という問題がある。
一方、このようなインクジェット記録装置における記録ヘッドの製造不良の原因には、圧電素子の割れ、欠け、振動板を接着する接着剤の厚さのばらつき、圧電素子と振動板とのずれなどがあるが、これらは何れも1ノズルの圧電素子とそれに対向する振動板によって構成される圧電ヘッドの静電容量の差異として検出することができる。
そこで、本発明は、上記事実を考慮して成されたもので、圧電ヘッドの静電容量を測定することが可能なインクジェット記録装置及び該インクジェット記録装置の検査方法を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために請求項1に記載のインクジェット記録装置は、圧電素子を有する圧電ヘッド、前記圧電ヘッドに直列に接続した第1抵抗と、前記圧電ヘッド外部に設けたコンデンサと、前記コンデンサに直列に接続した第2抵抗と、を含むブリッジ回路と、前記ブリッジ回路における前記圧電ヘッドと前記第1抵抗間、及び前記コンデンサと前記第2抵抗間に発生する差動電圧を増幅する差動増幅回路と、前記差動増幅回路によって増幅された前記差動電圧に基づいて前記圧電ヘッドの静電容量を測定する静電容量測定回路と、を含むことを特徴としている。
請求項1に記載の発明によれば、ブリッジ回路は、圧電ヘッド、圧電ヘッドに直列に接続した第1抵抗、圧電ヘッド外部に設けたコンデンサ、コンデンサに直列に接続した第2抵抗、を含んで構成されており、該ブリッジ回路における圧電ヘッドと第1抵抗間、及びコンデンサと第2抵抗間に発生する差動電圧が差動増幅回路によって増幅される。そして、静電容量測定回路では、差動増幅回路によって増幅された差動電圧に基づいて圧電ヘッドの静電容量が測定される。例えば、静電容量検出回路が、差動電圧が最小となるようにコンデンサの容量を調節することで、コンデンサと圧電ヘッドの容量が等価となるので、差動電圧が最小となるコンデンサの容量から圧電ヘッドの静電容量を測定することが可能となる。
なお、請求項2に記載の発明のように、コンデンサとして電気的に容量が可変可能な可変素子を適用し、静電容量測定回路が、差動増幅回路によって増幅された差動電圧が最小となるように可変素子の容量を調節する調節回路を含むようにしてもよい。このように、可変素子を用いることで容易に差動電圧が最小となるように調節ができる。また、調節回路を用いることで、可変素子の容量を自動的に調節することが可能となり、短時間で高速に圧電ヘッドの静電容量を測定することができる。
この時、請求項3に記載の発明のように、静電容量測定回路が、調節回路によって差動電圧が最小となるように調節された時の可変素子に印加される電圧を検出する電圧検出回路を更に含むようにしてもよい。このように電圧検出回路を含むことで、電圧検出回路によって検出された可変素子に印加される電圧から可変素子の容量を求めることができる。すなわち、圧電ヘッドが可変素子と等価の容量であるので、可変素子の容量を求めることで圧電ヘッドの容量を測定することができる。
請求項4に記載のインクジェット記録装置の検査方法は、圧電素子を有する圧電ヘッドによってインクを吐出するインクジェット記録装置の検査方法であって、前記圧電ヘッド、前記圧電ヘッドに直列に接続した第1抵抗、前記圧電ヘッド外部に設けたコンデンサ、及び前記コンデンサに直列に接続した第2抵抗を含むブリッジ回路を構成し、前記ブリッジ回路における前記圧電ヘッドと前記第1抵抗間、及び前記コンデンサと前記第2抵抗間に発生する差動電圧を増幅して、増幅した前記差動電圧に基づいて前記圧電ヘッドの静電容量を測定することを特徴としている。
請求項4に記載の発明によれば、圧電ヘッド、圧電ヘッドに直列に接続した第1抵抗、圧電ヘッド外部に設けたコンデンサ、及びコンデンサに直列に接続した第2抵抗を含むブリッジ回路を構成して、ブリッジ回路における圧電ヘッドと第1抵抗間、及びコンデンサと第2抵抗間に発生する差動電圧を増幅して、増幅した差動電圧に基づいて圧電ヘッドの静電容量を測定する。例えば、差動電圧が最小となるようにコンデンサの容量を調節することで、コンデンサと圧電ヘッドの容量が等価となるので、差動電圧が最小となるコンデンサの容量から圧電ヘッドの静電容量を測定することが可能となる。
なお、請求項5に記載の発明のように、コンデンサとして電気的に容量が可変可能な可変素子を適用し、差動電圧が最小となるように可変素子の容量を調節して、調節後の可変素子に基づいて圧電ヘッドの静電容量を求めるようにしてもよい。このように可変素子を用いることで容易に差動電圧が最小となるように調節ができると共に、自動的に差動電圧が最小となるように調節が可能となる。
この時、請求項6に記載の発明のように、圧電ヘッドの静電容量は、差動電圧が最小となるように調節した後の可変素子に印加される電圧を検出して、検出した電圧に基づいて求めるようにしてもよい。このようにすることで、差動電圧が最小となるように調節した後の可変素子に印加される電圧から可変素子の容量を求めることができる。すなわち、圧電ヘッドとが可変素子と等価の容量であるので、可変素子の容量を求めることで圧電ヘッドの容量を測定することができる。
以上説明したように本発明によれば、圧電素子からなる圧電ヘッドと、圧電ヘッドに直列に接続された第1抵抗と、該圧電ヘッド外部に設けたコンデンサと、コンデンサに直列に接続した第2抵抗と、を少なくとも含むブリッジ回路における圧電ヘッドと第1抵抗間、及びコンデンサと第2抵抗間に発生する差動電圧を増幅し、増幅した差動電圧に基づいて圧電ヘッドの静電容量を測定することで、圧電ヘッドの静電容量の測定が可能となる、いう効果がある。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態の一例を詳細に説明する。
図1は、本発明の実施の形態に係わるインクジェット記録装置の1ノズルあたりのヘッド構造を示す図である。
ヘッド10は、本発明の圧電ヘッドに対応し、インクタンク12、供給路14、圧力室16、ノズル18、及び圧電素子20を有している。
インクタンク12には、インクが蓄えられ、インクタンク12に蓄えられたインクは、供給路14を介して圧力室16に供給され、圧力室16を介してノズル18にインクが供給される。
圧力室の16の壁面は振動板16Aからなり、該振動板16Aに圧電素子20が設けられており、圧電素子20によって振動板16Aを振動させることで、圧力波が発生する。すなわち、圧電素子20の振動によって発生する圧力波によって、インクタンク12に蓄えられたインクが供給路14、圧力室16を介してノズル18から吐出されるようになっている。
図2は、本発明の実施の形態に係わるヘッド10の静電容量を測定する回路を示す図である。なお、図2に示すヘッド10の静電容量を測定する回路は、インクジェット記録装置に搭載するようにしてもよいし、インクジェット記録装置の製造工程における検査工程等に組み込むようにしてもよいし、一部をインクジェット記録装置に組み込むようにしてもよい。
図2に示すように、ヘッド10の静電容量を測定する回路は、交流電源22が接続された駆動回路24がヘッド10を含むブリッジ回路26に接続されている。ヘッド10は、ノズル選択用のオン抵抗Rdを含むアナログマルチプレクサからなるスイッチSWnと、ヘッド等価回路(本実施形態ではヘッド10の静電容量Cdとする)が直列接続されて構成され、それぞれがノズル数分並列に接続されている。
ブリッジ回路26は、ヘッド10(スイッチSWnのオン抵抗Rdとヘッド10の静電容量Cd)と、ヘッド10に直列に接続された電流検出抵抗Rsと、上記オン抵抗Rdと同一のヘッド10外部に設けた抵抗Rd及び該抵抗Rdに直列に接続されヘッド10の外部に設けたコンデンサCと、該コンデンサCに直列に接続された電流検出抵抗Rsとで構成されており、抵抗Rdとヘッド10間に駆動回路24が接続されると共に2つの電流検出抵抗Rs間が接地されて、駆動回路24から駆動電圧VSがブリッジ回路26に印加されるようになっている。
上記コンデンサCは、可変容量ダイオードδCと、該可変容量ダイオードδCと直列に接続された静電容量C1と、可変容量ダイオードδCの直列接続に対して並列に接続された静電容量C0で構成されている。なお、静電容量C1は、可変容量ダイオードδCに印加する直流電圧をブリッジ回路26に流入させないためのカップリングコンデンサである。
また、ヘッド10と電流検出抵抗Rs間、及びコンデンサCと電流検出抵抗Rs間に差動増幅器28が接続されており、ヘッド10と電流検出抵抗Rs間から差動増幅器28に電圧V1が印加され、コンデンサCと電流検出抵抗Rs間から差動増幅器28に電圧V2が印加される。
差動増幅器28の出力端には、静電容量自動調節回路30が接続されており、静電容量自動調節回路30の出力端に、抵抗R0を介して上記コンデンサCにおける静電容量C1と可変容量ダイオードδC間に接続されている。
静電容量自動調節回路30は、詳細には、同期検波回路32、平滑回路34、誤差増幅回路36、印加電圧検出手段38、及び0[V]検出手段40を含んで構成され、差動増幅器28の出力端に、同期検波回路32(詳細は後述)、平滑回路34、及び誤差増幅回路36が接続されている。また、誤差増幅回路36の出力端が、抵抗R0を介して上記コンデンサCにおける静電容量C1と可変容量ダイオードδC間に接続されていると共に印加電圧検出手段38が接続されている。なお、抵抗R0は、可変容量ダイオードδCに直流電圧を印加するための高抵抗であり、例えば、100kΩ程度を適用する。
誤差増幅回路36は、詳細には演算増幅器42を含んで構成されており、演算増幅器42のマイナス入力端子は抵抗R1を介して平滑回路34に接続され、プラス入力端子は一端が接地された抵抗R4を接続されていると共に、抵抗R3とこれに直列に接続され一端が接地されている直流電源VBが接続されている。また、演算増幅器42のマイナス入力端子と出力端子間には抵抗R2が接続されている。なお、直流電源VBは、可変容量ダイオードδCに印加する基準電圧を示す。
さらに、差動増幅器28の出力端には、差動増幅器28の出力電位が0となったことを検出する0[V]検出手段40が接続されている。
続いて、同期検波回路32の詳細について説明する。図3は、同期検波回路32の構成を示す図である。
同期検波回路32は、2つのアナログスイッチSW1、SW2、反転増幅器44、減算器46、及びコンパレータ48で構成されている。
差動増幅器28の出力端子にアナログスイッチSW1が接続されると共に、反転増幅器44を介してアナログスイッチSW2が接続されており、2つのアナログスイッチSW1、SW2は、それぞれ減算器46に接続されている。
また、各アナログスイッチSW1、SW2は、それぞれコンパレータ48に接続されており、コンパレータ48に入力される電位VIに応じてスイッチのオンオフが制御されることで方形波信号SWを生成し、減算器46によって各アナログスイッチSW1、SW2の出力を減算して後段に接続された平滑回路34に出力するようになっている。
次に上述のように構成されたヘッド10の静電容量Cdを測定する回路においてヘッド10の静電容量を測定する際の動作について説明する。なお、ヘッド10の静電容量を測定する際には、測定対象のノズルのスイッチSWnをオンして1つずつ測定するものとする。
交流電源から電圧VIが駆動回路24に入力されると、駆動回路24から電圧VSがブリッジ回路26に入力される。これによって、差動増幅回路28には、電圧V2と電圧V1が入力され、差動増幅回路28の出力V0は、V0=V1−V2となる。
この時、差動増幅器28の出力電圧V0は、以下の(1)に示すようになる。
すなわち、差動増幅器28の出力電圧V0は、(C0+δC)>Cdならば駆動回路24の入力電圧VIと同相となり、(C0+δC)<Cdならば駆動回路28の入力電圧VIと逆相となる。
次に、差動増幅器28の出力電圧V0は同期検波回路32に入力される。また、同期検波回路32のコンパレータ48には、駆動回路24の入力と同様に電圧VIが印加される。
同期検波回路32では、コンパレータ48に入力される電圧VIが正の時にハイ(H)、負の時にロー(L)となる方形波信号SWが生成され、アナログスイッチSW1、SW2に出力される。なお、図4(A)に電圧VI、図4(B)に電圧V0、及び図4(C)に方形波信号SWを示す。
アナログスイッチSW1、SW2では、方形波信号SWがHの時V0及び−V0信号を通過させる。これによって、図4(D)、(E)に示すような方形波信号が減算器46に出力される。
減算器46では、アナログスイッチSW1、SW2のそれぞれの出力が減算され、(C0+δC)>Cdならば負の半波整流波、(C0+δC)<Cdならば正の半波整流波が出力される。なお、図4(F)に半波整流波を示す。
そして、減算器46の出力が後段に接続された平滑回路34に出力され、平滑回路34によって半波整流波を平滑した直流電圧V3が誤差増幅回路36に出力される。
誤差増幅回路36では、R1×R2=R3×R4とすると、誤差増幅回路36の出力V4は、V4=VB−(R3/R1)V3となる。
すなわち、(C0+δC)<Cdの場合には、平滑回路34の出力V3は正となり、誤差増幅回路36の出力V4は可変容量ダイオードδCに印加する基準電圧VBより小さくなる。従って、可変容量ダイオードδCへの印加電圧は下がり、可変容量ダイオードδCが増加し、C0+δCはヘッド10の静電容量Cdに近づく。
また、(CO+δC)>Cdの場合には、平滑回路34の出力V3は負となり、誤差増幅回路36の出力V4は可変容量ダイオードδCに印加する基準電圧VBより大きくなる。従って、可変容量ダイオードδCへの印加電圧は上がり、可変容量ダイオードδCが減少し、C0+δCはヘッド10の静電容量Cdに近づく。
なお、係数(R3/R1)は、C0+δCがCdに収束する速さを決定するための係数である。
このように、C0+δCがヘッド10の静電容量Cdに収束すると、差動増幅器28の出力電圧V0は最小となり、0[V]に収束する。
ここで、0[V]検出手段40によって、差動増幅器28の出力電圧V0が0となったことが検出される。
この時、可変容量ダイオードδCへの印加電圧が印加電圧検出手段38によって検出され、検出された印加電圧から可変容量ダイオードδCを算出することができる。そして、(C0+δC)=Cdの関係、すなわち、可変容量ダイオードと予め定められた静電容量C0の和とヘッド10の静電容量が等価となっていることからヘッド10の静電容量Cdを求めることができる。
このように、ヘッド10の静電容量Cdを求めることにより、求められたヘッド10の静電容量Cdからヘッド10の各ノズルの良否を判定することが可能となる。
従って、本実施の形態では、可変容量ダイオードδCの静電容量が自動調節され、その時の可変容量ダイオードδCに印加される電圧からヘッド10の静電容量を求めることができるので、短時間で高速に1ノズル毎の静電容量を測定することが可能となる。
なお、可変容量ダイオードδCへの印加電圧から静電容量δCを算出する際には、(C0+δC)=Cdの関係を表すテーブルを予め記憶しておいて、テーブルからヘッド10の静電容量Cdを求めるようにしてもよい。
次に、上記の実施の形態のヘッドの静電容量を測定する回路におけるブリッジ回路26の変形例について説明する。図5は、ブリッジ回路26の変形例を示す図である。なお、上記の実施の形態と同一構成については同一符号を付して説明する。
図5に示すように、変形例のブリッジ回路27は、上記の実施の形態と同様に、駆動回路24に接続されている。ヘッド10の各ノズルは、上記の実施の形態と同様にノズル選択用のアナログマルチプレクサとオン抵抗Rdを含むスイッチSWnと、ヘッド等価回路(本実施の形態ではヘッド10の静電容量Cdとする)が直列に接続されて構成され、各ノズル毎に並列に接続されている。
上記の実施の形態では、ブリッジ回路26は、ヘッド10(スイッチSWnのオン抵抗Rdとヘッド10の静電容量Cd)と、ヘッド10に直列に接続された電流検出抵抗Rsと、上記オン抵抗Rdと同一のヘッド10外部に設けた抵抗Rd及び該抵抗Rdに直列に接続されヘッド10の外部に設けたコンデンサCと、該コンデンサCに直列に接続された電流検出抵抗Rsとで構成していたが、変形例では、ヘッド10の静電容量Cdと、ヘッド10のスイッチSWnのオン抵抗Rdと、上記オン抵抗Rdと同一のヘッド10外部に設けた抵抗Rdと、抵抗Rdに直列に接続されたヘッド10の外部に設けたコンデンサCと、で構成されている。
変形例では、ブリッジ回路27のスイッチSWnと抵抗Rd間に駆動回路24が接続されると共にヘッド10とコンデンサC間が接地されている。
コンデンサCは、上記の実施の形態と同様に、静電容量C1と直列に接続された可変容量ダイオードδCと、静電容量C1、可変容量ダイオードδCの直列接続に対して並列に接続された静電容量C0で構成されている。なお、静電容量C1は、可変容量ダイオードδCに印加する直流電圧をブリッジ回路27に流入させないためのカップリングコンデンサである。
また、スイッチSWnとヘッド10間、及び抵抗RdとコンデンサC間に差動増幅器28が接続されている。この時、変形例では、ブリッジ回路27の端子電圧が上記の実施の形態に比べて高くなってしまうので(30V程度)、分圧回路が挿入されている。詳細には、ブリッジ回路27と差動増幅器28間に抵抗Rxが接続されると共に、抵抗Rxと差動増幅器28間に接地された抵抗Ryが接続されている。これによって、上記の実施の形態と同様に差動増幅器28を動作させることができる。
差動増幅器28の出力は、上記の実施の形態と同様に、静電容量自動調節手段30に入力され、静電容量自動調節手段30の出力は、抵抗R0を介して抵抗R0を介して上記コンデンサCの静電容量C1と可変容量ダイオードδC間に接続されている。なお、静電容量自動調節回路30については、上記の実施の形態と同一構成とされているので説明を省略する。
このようにブリッジ回路27を構成しても、上記の実施の形態と同様に動作させることができる。すなわち、C0+δCがヘッド10の静電容量Cdに収束し、差動増幅器28の出力電圧V0がO[V]に収束する。ここで、0[V]検出手段40によって、差動増幅器28の出力電圧V0が0となったことが検出される。
この時、可変容量ダイオードδCへの印加電圧が印加電圧検出手段38によって検出され、検出された印加電圧から可変容量ダイオードδCを算出することができ、(C0+δC)=Cdの関係からヘッド10の静電容量Cdを求めることができる。
10 ヘッド
20 圧電素子
26、27 ブリッジ回路
28 差動増幅器
30 静電容量自動調節回路
32 同期検波回路
34 平滑回路
36 誤差増幅回路
38 印加電圧検出手段
40 0[V]検出手段
SWn スイッチ
Rd オン抵抗
Cd 静電容量
C コンデンサ
δC 可変容量ダイオード
Rs 電流検出抵抗
20 圧電素子
26、27 ブリッジ回路
28 差動増幅器
30 静電容量自動調節回路
32 同期検波回路
34 平滑回路
36 誤差増幅回路
38 印加電圧検出手段
40 0[V]検出手段
SWn スイッチ
Rd オン抵抗
Cd 静電容量
C コンデンサ
δC 可変容量ダイオード
Rs 電流検出抵抗
Claims (6)
- 圧電素子を有する圧電ヘッド、前記圧電ヘッドに直列に接続した第1抵抗と、前記圧電ヘッド外部に設けたコンデンサと、前記コンデンサに直列に接続した第2抵抗と、を含むブリッジ回路と、
前記ブリッジ回路における前記圧電ヘッドと前記第1抵抗間、及び前記コンデンサと前記第2抵抗間に発生する差動電圧を増幅する差動増幅回路と、
前記差動増幅回路によって増幅された前記差動電圧に基づいて前記圧電ヘッドの静電容量を測定する静電容量測定回路と、
を含むことを特徴とするインクジェット記録装置。 - 前記コンデンサは、電気的に容量が可変な可変素子からなり、前記静電容量測定回路が、前記差動増幅回路によって増幅された前記差動電圧が最小となるように前記可変素子の容量を調節する調節回路を含むことを特徴とする請求項1に記載のインクジェット記録装置。
- 前記静電容量測定回路は、前記調節回路によって前記差動電圧が最小となるように調節された時の前記可変素子に印加される電圧を検出する電圧検出回路を更に含むことを特徴とする請求項2に記載のインクジェット記録装置。
- 圧電素子を有する圧電ヘッドによってインクを吐出するインクジェット記録装置の検査方法であって、
前記圧電ヘッド、前記圧電ヘッドに直列に接続した第1抵抗、前記圧電ヘッド外部に設けたコンデンサ、及び前記コンデンサに直列に接続した第2抵抗を含むブリッジ回路を構成し、
前記ブリッジ回路における前記圧電ヘッドと前記第1抵抗間、及び前記コンデンサと前記第2抵抗間に発生する差動電圧を増幅して、
増幅した前記差動電圧に基づいて前記圧電ヘッドの静電容量を測定することを特徴とするインクジェット記録装置の検査方法。 - 前記コンデンサとして、電気的に容量が可変可能な可変素子を用いて、前記差動電圧が最小となるように前記可変素子の容量を調節し、調節後の前記可変素子に基づいて前記圧電ヘッドの静電容量を求めることを特徴とする請求項4に記載のインクジェット記録装置の検査方法。
- 前記圧電ヘッドの静電容量は、前記調節後の前記可変素子に印加される電圧を検出し、検出した電圧に基づいて求めることを特徴とする請求項5に記載のインクジェット記録装置の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004238223A JP2006056060A (ja) | 2004-08-18 | 2004-08-18 | インクジェット記録装置及びインクジェット記録装置の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004238223A JP2006056060A (ja) | 2004-08-18 | 2004-08-18 | インクジェット記録装置及びインクジェット記録装置の検査方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006056060A true JP2006056060A (ja) | 2006-03-02 |
Family
ID=36103945
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004238223A Pending JP2006056060A (ja) | 2004-08-18 | 2004-08-18 | インクジェット記録装置及びインクジェット記録装置の検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2006056060A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1978435A1 (en) * | 2007-04-02 | 2008-10-08 | Sony Corporation | Control unit |
US7997675B2 (en) * | 2006-06-06 | 2011-08-16 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Piezoelectric head inspection device and droplet jetting device |
JP2012016941A (ja) * | 2010-07-08 | 2012-01-26 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | インクジェットヘッド検査装置 |
-
2004
- 2004-08-18 JP JP2004238223A patent/JP2006056060A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7997675B2 (en) * | 2006-06-06 | 2011-08-16 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Piezoelectric head inspection device and droplet jetting device |
EP1978435A1 (en) * | 2007-04-02 | 2008-10-08 | Sony Corporation | Control unit |
US7808767B2 (en) | 2007-04-02 | 2010-10-05 | Sony Corporation | Control unit |
JP2012016941A (ja) * | 2010-07-08 | 2012-01-26 | Samsung Electro-Mechanics Co Ltd | インクジェットヘッド検査装置 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101170855B1 (ko) | 피에조 잉크젯 헤드의 동작 검출장치 및 방법 | |
US8596738B2 (en) | Monitoring apparatus for inkjet head | |
US7452049B2 (en) | Inkjet recording apparatus | |
US8894178B2 (en) | Error detection apparatus of inkjet printer head and error detection method thereof | |
JP5474136B2 (ja) | 記録ヘッド | |
JP4114638B2 (ja) | 液滴吐出装置およびその吐出異常検出方法 | |
JP2008023987A (ja) | 記録ヘッド及び当該記録ヘッドを用いた記録装置 | |
US20140267488A1 (en) | Method and apparatus for measuring response to actuation of electro-mechanical transducer in print head assembly for inkjet printing system | |
WO2018002634A1 (en) | Droplet deposition apparatus and test circuit therefor | |
Kwon | Methods for detecting air bubble in piezo inkjet dispensers | |
JP2008044304A (ja) | 容量性素子の電流測定回路及び圧電ヘッドの故障検出装置 | |
JP2013146979A (ja) | 液滴吐出装置 | |
US7571975B2 (en) | Defect detection device of a print head and method of detecting defect of a print head | |
JP2006056060A (ja) | インクジェット記録装置及びインクジェット記録装置の検査方法 | |
JP4561232B2 (ja) | インクジェット記録装置の不吐出検出回路、インクジェット記録装置の検査方法、及びインクジェット記録装置 | |
JP2006088577A (ja) | インクジェットヘッド検査装置 | |
JP4561233B2 (ja) | インクジェット記録装置の不吐出検出回路、インクジェット記録装置の検査方法、及びインクジェット記録装置 | |
JP4561229B2 (ja) | インクジェット記録装置及びインクジェット記録方法 | |
JP2007301741A (ja) | 液滴吐出装置 | |
US8974026B2 (en) | Liquid droplet ejection head, control device, control method, and manufacturing method of the same, and recording medium of the same methods | |
JP5834827B2 (ja) | 液体吐出検査装置、液体吐出検査方法、印刷装置、及びプログラム | |
JP2007331192A (ja) | 温度検知装置及び該装置の制御方法 | |
KR20090065179A (ko) | 압전형 잉크젯 헤드의 모니터링 장치 및 방법 | |
JP2005047170A (ja) | 建築板印刷装置 | |
JP4935155B2 (ja) | 駆動素子の状態判定装置 |