JP2006024847A - Ledアレイヘッド評価方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】
LEDアレイヘッド1の個々LEDの特性の測定において、高精度に測定を可能とする。
【解決方法】
発光制御ドライバーによって、LEDアレイヘッドの指定した番号nの隣接する2個のLED(n)、(n+1)を同時に発光させ、LED(n)、(n+1)の発光部の画像解析する工程1と、前記制御部11から1個の信号を入力したときに、LED(n)を消灯する工程2と、画像入力部をLEDアレイの1ピッチ分移動し、n=n+1とする工程3からなり、前記工程1、2、3を指定した番号のLEDに達するまで繰り返し測定し、各LEDの画像解析をすることを特徴とする。
【選択図】図1
LEDアレイヘッド1の個々LEDの特性の測定において、高精度に測定を可能とする。
【解決方法】
発光制御ドライバーによって、LEDアレイヘッドの指定した番号nの隣接する2個のLED(n)、(n+1)を同時に発光させ、LED(n)、(n+1)の発光部の画像解析する工程1と、前記制御部11から1個の信号を入力したときに、LED(n)を消灯する工程2と、画像入力部をLEDアレイの1ピッチ分移動し、n=n+1とする工程3からなり、前記工程1、2、3を指定した番号のLEDに達するまで繰り返し測定し、各LEDの画像解析をすることを特徴とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、LEDプリンタに使用されるLEDアレイヘッドの評価方法に関するものである。
図1、9を用いて従来技術を説明する。
図1は、LEDアレイヘッドの評価装置の構成図である。LEDアレイヘッド1には、LED2が数千個、アレイ状に配列されている。LEDアレイヘッド1の発光制御は、制御部11と発光制御ドライバー8によって行なう。移動ステージ6は、画像入力部であるカメラ3が設けられた移動ステージ4をLEDアレイヘッド1に対して平行移動する。移動ステージ4は、カメラ3の焦点位置を調整するものである。夫々の移動ステージ4、6はステッピングモータ5、7の回転によって動作する。移動ステージ4に関しては、手動の移動ステージを使用する場合がある。移動ステージ4、6の制御は、コントローラ10と制御部11によって行なう。カメラ3によって、セルフォックレンズ17を通過したLED発光部の画像を入力し、画像処理器9を介して制御部11に画像データを送信する。それを制御部11の画像解析部(図示せず)にて解析する。測定項目は、LED2の位置精度に関わるピッチ、配列の直線性、発光部の大きさ及び形状である。
LEDアレイヘッド1の評価装置を使用してLEDアレイヘッド1の、個々のLED2の特性を評価する方法として、LEDアレイを全数発光させて、カメラ3が設けられた移動ステージ4を移動ステージ6によってLEDアレイのピッチ毎に移動させ、移動毎に各LED発光部の画像をカメラ3によって入力し、それを画像解析する方法と、図9に示した、発光制御ドライバー8によって指定した番号nのLED2(n)にLED21個の発光パターンを形成し、セルフォックレンズ17通過後のLED発光部12の画像をカメラ3によって入力し、それを画像解析する。次に、制御部11から発光制御ドライバー8にクロック信号を1個送信したならn=n+1とする。次に、カメラ3が設けられた移動ステージ4をLEDアレイのピッチ分移動させる。この工程を繰り返して、各LEDの画像解析をする。
しかし、LEDアレイを全数発光させて画像解析する方法の場合、LED2の1番目の測定から最後の画像解析までには時間を要する。そのため、最後のLED2は温度上昇する。温度上昇によってLED2の輝度は低下し、LED発光部の特性が変化する。そのため、LED2の1番目と最後の値が正確性に欠け、好ましい評価方法ではない。温度の影響が生じない方法として、発光制御ドライバー8にてLED2を1個のみ発光させ、画像解析したなら発光LED2を1個隣へ移動する測定方法がある。この場合、LED2のピッチを測定するためには、移動ステージ6の移動距離と、制御部11の画面上における収録画像の位置の両方を計算する。そのため、移動ステージ6の位置精度と画像上の位置精度の両方が影響する。そのため最良の評価方法ではない。
本発明は、発光制御ドライバーによって、LEDアレイヘッドの指定した番号nの隣接する2個のLED(n)、(n+1)を同時に発光させ、LED(n)、(n+1)の発光部の画像解析する工程1と、前記制御部11から1個の信号を入力したときに、LED(n)を消灯する工程2と、画像入力部をLEDアレイの1ピッチ分移動し、n=n+1とする工程3からなり、前記工程1、2、3を指定した番号のLEDに達するまで繰り返し測定、または、発光制御ドライバーによって、LEDアレイヘッド1の指定した番号nのLED(n)を1個を発光させ、画像解析する工程4と、LED(n)を消灯し、LED(n+1)を発光させて画像解析する工程5と、画像入力部を移動し、n=n+1とする工程6からなり、前記工程4、5、6を指定した番号のLEDに達するまで繰り返し測定し各LEDの画像解析をすることを特徴とする。
本発明のLEDアレイヘッド評価方法によれば、LEDアレイヘッド1のピッチ測定において、測定移動ステージが静止している状態で、2個のLED発光部の画像解析を行なうため、制御部の同一画面に個々のLED発光部の静止画像が入力可能であり、その画像情報からLEDの相対位置を測定することにより、移動ステージの送り精度の影響を受けない、精度の高いピッチ測定が可能となり、LEDアレイヘッド評価装置の信頼性を高めることができる。
精度の高いピッチ測定を可能とし、LEDアレイヘッド評価装置の信頼性を高めるという目的を、LED発光パターンである隣接LED2個を同時または交互に発光させて、制御部の同一画面に個々のLED発光部の静止画像を入力し、それを画像解析することにより実現した。
以下、図1、2、4、5を用いて本発明の実施例1を説明する。なお、図1の評価装置の構成は前述したので、説明を省略する。
図2は、LEDアレイヘッド1の指定した番号nの、隣接するLED2(n)(n+1)を同時に発光させ、それらの発光部を画像解析し、カメラ3を移動ステージ6にて移動する、LEDアレイピッチ測定法のフローチャートを示したものである。図4は、前記工程のLED発光部とカメラ3の動作を図示したものである。黒円は、発光LED12を示す。白円は、消灯LED13を示す。図5は、制御部11の画面16上に写し出された2個のLED発光部画像14、15を示している。
LEDアレイヘッド1のピッチ測定について説明する。まず、LEDアレイヘッド1の指定した番号nのLED(n)と隣接するLED(n+1)を同時発光させる。次に、カメラ3によってセルフォックレンズ17を通過したLED発光部の画像情報を入力し、図5のLED発光部画像14、15を、制御部11の画像解析部(図示せず)にて解析する。次に、制御部11から1個の信号(クロック)を入力したときに、LED(n)を消灯する。次に、カメラ3が設けられた移動ステージ4を、移動ステージ6にてLEDピッチ分移動し、n=n+1とする。これらの工程を、指定した番号のLEDに達するまで繰り返す。これによって、制御部11の画面16上にて、2個のLED(n)(n+1)のLED発光部画像14、15の位置情報が得られ、LED(n)とLED(n+1)の相対距離(ピッチ)が計算できる。
本実施例の前記LEDアレイヘッド1のピッチ測定法によると、移動ステージ6が静止している状態で、制御部11の同一画面に2個のLED発光部の静止画像を入力することが可能であり、その画像を解析することにより、2個のLED発光部の位置情報が得られ、移動ステージ6の送り精度の影響を受けない、精度の高いピッチ測定が可能となる。
以下、図1、3、6、7、8を用いて本発明の実施例2を説明する。なお、図1の評価装置の構成の説明は実施例1と同様に省略する。
図3は、LEDアレイヘッド1の指定した番号nの、隣接する2個のLED2(n)、(n+1)を交互に発光させ、それらの発光部を画像解析し、カメラ3を移動ステージ6にて移動する、LEDアレイピッチ測定法のフローチャートを示したものである。図6は、前記工程のLED発光部とカメラ3の動作を図示したものである。黒円は、発光LED12を示す。白円は、消灯LED13を示す。図7は、制御部11の画面16上の、LED2(n)のLED発光部画像14を示している。図8は、制御部11の画面16上のLED2(n+1)のLED発光部画像15を示している。
LEDアレイヘッド1のピッチ測定について説明する。まず、図6のようにLEDアレイヘッド1の指定した番号nのLED(n)を1個発光させる。次に、カメラ3によってセルフォックレンズ17を通過したLED発光部の画像情報を入力し、図7のLED発光部画像14を制御部11の画像解析部(図示せず)にて解析する。次に、LED(n)を消灯し、LED(n+1)を発光させる。次に、カメラ3によって画像情報を入力し、図8のLED発光部画像15を制御部11の画像解析部(図示せず)にて解析する。次に、制御部11から1個の信号(クロック)を入力したとき、次に、カメラ3の設けられた移動ステージ4を、移動ステージ6にて、LEDピッチ分移動し、また、n=n+1とする。図7、8に示したように、制御部11の画面16上には、LED発光部画像14、15が交互に現れ、個々のLED発光部の位置情報が得られ、LED(n)とLED(n+1)の相対距離(ピッチ)が計算できる。
前記LEDアレイヘッド1のピッチ測定によると、移動ステージ6が静止している状態で、制御部11の同一画面に2個のLED発光部の静止画像を入力することが可能であり、その画像を解析することにより、2個のLED発光部の位置情報が得られ、移動ステージ6の送り精度の影響を受けない、精度の高いピッチ測定が可能となる。
プリンタの小型化により、LEDプリントヘッドを光学系に使用した、LEDプリンタが多く市場に流通する。それに伴い、LEDプリントヘッドの評価が必要である。そのため、本発明のLEDプリントヘッドの評価方法はプリンタ業界において利用の可能性は大きい。
1 LEDアレイヘッド
2 LED
3 カメラ
4 移動ステージ
5 ステッピングモータ
6 移動ステージ
7 ステッピングモータ
8 発光制御ドライバー
9 画像処理器
10 コントローラ
11 制御部
12 発光LED
13 消灯LED
14 LED発光部画像
15 LED発光部画像
16 制御部画面
17 セルフォックレンズ
2 LED
3 カメラ
4 移動ステージ
5 ステッピングモータ
6 移動ステージ
7 ステッピングモータ
8 発光制御ドライバー
9 画像処理器
10 コントローラ
11 制御部
12 発光LED
13 消灯LED
14 LED発光部画像
15 LED発光部画像
16 制御部画面
17 セルフォックレンズ
Claims (2)
- LEDアレイヘッド、移動ステージ、該移動ステージに設けた画像入力部、前記LEDアレイヘッド、移動ステージ、及び画像入力部を制御し画像解析する制御部からなり、前記LEDアレイヘッドのLEDを順に発光させ、前記移動ステージにて前記画像入力部を移動させながら各LEDの特性を測定するLEDアレイヘッドの評価装置において、前記LEDアレイヘッドの指定した番号nの隣接する2個のLED(n)、(n+1)を同時に発光させ、LED(n)、(n+1)の発光部の画像解析する工程1と、前記制御部から1個の信号を入力したときに、LED(n)を消灯する工程2と、前記画像入力部を移動し、n=n+1とする工程3とからなり、前記工程1、2、3を指定した番号のLEDに達するまで繰り返し測定すること特徴とするLEDアレイヘッド評価方法。
- LEDアレイヘッド、移動ステージ、該移動ステージに設けた画像入力部、前記LEDアレイヘッド、移動ステージ、及び画像入力部を制御し画像解析する制御部からなり、前記LEDアレイヘッドのLEDを順に発光させ、前記移動ステージにて前記画像入力部を移動させながら各LEDの特性を測定するLEDアレイヘッドの評価装置において、前記LEDアレイヘッドの指定した番号nのLED(n)を1個発光させ、画像解析する工程4と、LED(n)を消灯し、LED(n+1)を発光させ画像解析する工程5と、LED(n+1)を消灯し、画像入力部を移動し、n=n+1とする工程6からなり、前記工程4、5、6を指定した番号のLEDに達するまで繰り返し測定すること特徴とするLEDアレイヘッド評価方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004203342A JP2006024847A (ja) | 2004-07-09 | 2004-07-09 | Ledアレイヘッド評価方法 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP (1) | JP2006024847A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102169926A (zh) * | 2009-12-01 | 2011-08-31 | 三星Led株式会社 | 用于检测发光二极管封装件的设备及使用其的检测方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08187891A (ja) * | 1995-01-11 | 1996-07-23 | Oki Data:Kk | Ledヘッド検査装置 |
JP2000229445A (ja) * | 1999-02-12 | 2000-08-22 | Ricoh Co Ltd | Ledアレイプリンタ |
-
2004
- 2004-07-09 JP JP2004203342A patent/JP2006024847A/ja active Pending
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US8890533B2 (en) | 2009-12-01 | 2014-11-18 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Apparatus for inspecting light emitting diode package and inspecting method using the same |
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