JP2006023203A - 平面ディスプレイパネルの異音測定方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 異なる気圧条件下において平面ディスプレイパネルから発生する異音を測定する際の問題点を解決する。
【解決手段】
平地の気圧条件下と高地の気圧条件下において、それぞれ、PDP10が駆動される際に放電空間から発生する異音の測定を行い、この測定された平地の気圧条件下における異音の音圧レベルと高地の気圧条件下における異音の音圧レベルとの相関関係をあらかじめ求め、この求められた相関関係に基づいて、平地の気圧条件下において測定されたPDP10の放電空間から発生する異音の音圧レベルから、高地の気圧条件下においてPDP10の放電空間から発生する異音の音圧レベルを算出する。
【選択図】 図6
【解決手段】
平地の気圧条件下と高地の気圧条件下において、それぞれ、PDP10が駆動される際に放電空間から発生する異音の測定を行い、この測定された平地の気圧条件下における異音の音圧レベルと高地の気圧条件下における異音の音圧レベルとの相関関係をあらかじめ求め、この求められた相関関係に基づいて、平地の気圧条件下において測定されたPDP10の放電空間から発生する異音の音圧レベルから、高地の気圧条件下においてPDP10の放電空間から発生する異音の音圧レベルを算出する。
【選択図】 図6
Description
この発明は、平面ディスプレイパネルから発生する異音の測定方法に関する。
図1は、平面ディスプレイパネルの一つである面放電方式交流型プラズマディスプレイパネル(以下、PDPという)の構成を示す斜視図である。
この図1のPDPは、表示面となる前面ガラス基板1の背面に、行方向に延びるとともに列方向に並設された複数の行電極対(X,Y)が形成されている。
この行電極対(X,Y)を構成する各行電極XとYは、それぞれ、行方向に帯状に延びるバス電極Xa,Yaと、このバス電極Xa,Yaの等間隔位置から対になっている他方の行電極側に突出して放電ギャップを介して互いに対向される透明電極Xb,Ybとから構成されている。
この行電極対(X,Y)は、誘電体層2によって被覆されており、さらに、誘電体層2の背面はMgOからなる保護層3によって被覆されている。
前面ガラス基板1と放電空間を介して対向する背面ガラス基板4の表示側の面上には、それぞれ、前面ガラス基板1側の行電極X,Yの透明電極Xb,Ybに対向する位置において列方向に延びるとともに行方向に並設された複数の列電極Dと、この列電極Dを被覆する列電極保護層5と、略格子形状に形成された隔壁6が形成され、この隔壁6によって、前面ガラス基板1と背面ガラス基板4の間の放電空間が放電ギャップを介して対になっている透明電極Xb,Ybに対向する部分毎に区画されて、それぞれ放電セルCが形成されている。
そして、隔壁6の間の各放電セルC内に、それぞれ赤,緑,青に色分けされた蛍光体層7が、行方向に順に並ぶように形成されている。
上記のような構成のPDPは、以下のようにして製造される。
すなわち、行電極対(X,Y)等の構造物が形成された前面ガラス基板1と列電極D等の構造物が形成された背面ガラス基板4が、互いに所定の位置合わせが行われた状態で放電空間を介して重ね合わされ、この前面ガラス基板1と背面ガラス基板4の間の周縁部に形成された封着層によって放電空間が封止され、この後、放電空間内に放電ガスが封入される。
この放電空間を封止する封着層は、背面ガラス基板4の周縁部に低融点フリットガラスからなる封着材が塗布されて仮焼成されることにより形成され、背面ガラス基板4と前面ガラス基板1が重ね合わされた後、熱処理によって軟化されて前面ガラス基板1に融着される。
このような方法によって製造されるPDPには、図2に示されるように、前面ガラス基板1と背面ガラス基板4の周縁部が互いに接近する方向に湾曲し、パネルの中央部と周縁部とで前面ガラス基板1と背面ガラス基板4の間の間隔が異なってしまうという現象が生じ、これが、PDPの駆動時に異音を発生させる原因になっている。
すなわち、図2のPDPの製造は、上述したように封着層8が熱処理によって前面ガラス基板1に融着されることにより放電空間が封止され、その直後に、放電空間からの真空排気とその後の放電空間への放電ガスの導入が行われるために、封着層8には真空排気によって放電空間内が一旦負圧にされることによる圧縮と温度低下による収縮が生じるのに対し、前面ガラス基板1および背面ガラス基板4には、放電空間への放電ガスの導入によって外向きの圧力が作用して、前面ガラス基板1と背面ガラス基板4の中央部が膨らんだ状態となり、パネルの周縁部と中央部とで互いの間隔が異なってしまう。
このため、前面ガラス基板1と背面ガラス基板4の間の間隔をパネルの全面に亘って設定された所定の間隔に維持するのが非常に難しく、例えば、前面ガラス基板1の背面側に形成された保護層3と隔壁6とが接触されて、隣接する放電セルC間が閉じられるPDPにおいては、パネルの中央部において保護層3と隔壁6とが離間してその間に隙間(例えば図2の隙間s)が形成されたり、保護層3と隔壁6との間に、隣接する放電セルC間を連通させるための所定の大きさの隙間が形成されるPDPにおいては、パネルの周縁部において隙間の大きさが設定された寸法よりも小さくなり、このような部分において、PDPの駆動時に振動が発生して、10kHz前後の異音が発生する。
PDPにおける上記のような異音の発生は、気圧が低い高地になればなるほどその発生レベルが高くなる。
これは、平地で保たれていた外気圧(約750torr)とパネル内の圧力(約500torr)との関係が、高地になるほど外気の圧力が下がることによって変化して、前面ガラス基板1および4が平地の場合に比べて膨らむ状態になってしまうことによる。
このため、平地では許容範囲であったPDPの異音の発生レベルが、高地においては、その許容範囲を越えてしまう場合がある。
従来は、このようなPDPからの異音発生の状態を調べるために、PDPを実際に気圧が低い高地まで運んで、PDPから発生する異音を測定するという方法が行われている。
そして、この測定は、マイクロフォンによって集音されたPDPからの異音の電気信号のうち、人間の可聴領域である20Hz〜20kHzの間の周波数に対して、人間が一番敏感に反応する3kHz〜4kHzの音を強調するA特性聴感補正(La)によって周波数重み付けを行うという方法(例えば、特許文献1参照)で行われている。
なお、この場合、強調されなかった可聴領域外の帯域は、逆に、ほとんど利用されなくなっている。
しかしながら、PDPの製品全てを高地まで運んで、PDPから発生する異音の測定を行うのは、効率的ではなく、実際的ではない。
このようなPDPから発生する異音の測定の問題は、例えばFED(フィールド・エミッション・ディスプレイ)等のようなパネル内部が負圧になっているような平面ディスプレイパネルにおいても同様に発生する。
この発明は、上記のような従来の平面ディスプレイパネルから発生する異音の測定における問題点を解決することをその課題の一つとしている。
この発明(請求項1に記載の発明)による平面ディスプレイパネルの異音測定方法は、上記目的を達成するために、平面ディスプレイパネルの互いに対向する一対の基板の間の封止空間からパネルの駆動時に発生する異音を測定する異音測定方法であって、第1の気圧条件下と第2の気圧条件下において、それぞれ、平面ディスプレイパネルが駆動される際に一対の基板の間の封止空間から発生する異音の測定を行い、この測定された第1の気圧条件下における異音の音圧レベルと第2の気圧条件下における異音の音圧レベルとの相関関係をあらかじめ求め、この求められた相関関係に基づいて、第1の気圧条件下において測定された平面ディスプレイパネルの封止空間から発生する異音の音圧レベルから、第2の気圧条件下において平面ディスプレイパネルの封止空間から発生する異音の音圧レベルを算出することを特徴としている。
この発明は、PDPの放電空間からパネルの駆動時に発生する異音を、各機種毎に、平地等の第1の気圧条件下と高地などの第2の気圧条件下においてそれぞれ測定し、この測定された第1の気圧条件下における異音の音圧レベルと第2の気圧条件下における異音の音圧レベルとの相関関係を示す近似式をPDPの機種毎にあらかじめ求めておき、新しく製造されたPDPについては、第1の気圧条件下において平面ディスプレイパネルの封止空間から発生する異音の音圧レベルを実際に測定し、この測定された第1の気圧条件下における音圧レベルの値に基づいて、あらかじめ求められているそのPDPの機種に対応した近似式から、第2の気圧条件下において平面ディスプレイパネルの封止空間から発生する異音の音圧レベルを算出する異音測定方法をその最良の実施形態としている。
この実施形態による平面ディスプレイパネルの異音測定方法によれば、例えば高地における気圧条件下においてPDPの放電空間から発生する異音の音圧レベルを、平地等のPDPの製造地における気圧条件下においてPDPの放電空間から発生する異音の音圧レベルを実際に測定するだけで、その製造製品を高地に運んで測定することなく、容易に求めることが出来るようになる。
図3は、この発明による平面ディスプレイパネルの異音測定方法の実施形態における第1の実施例を示す説明図である。
なお、以下においては、異音測定対象の平面ディスプレイパネルとしてPDPを例に挙げて説明を行うが、この発明による異音測定方法は、パネル内部が正圧または負圧になっている例えばFEDのような他の平面ディスプレイパネルについても、同様に適用することが出来る。
また、以下の異音測定は、外気圧が約750torrの平地において行われる。
図3において、異音測定は、PDP10のパネル面から前方に約1メートル離れた位置に、広帯域精密騒音計(例えば、(株)小野測器製LV−5111)11を設置して行う。
この広帯域精密騒音計11をPDP10から約1メートル離した位置に設置するのは、音波は、壁や床,天井等にぶつかるなどして距離減衰(逆2乗則)のような単純な法則には従わず、また、PDP10のパネル面内には異音発生の音源が複数存在しているために、測定位置がPDP10に近すぎても遠すぎても正確な測定が出来ないためである。
この状態で、PDP10の画面を「全白表示」にして、PDP10から発生する音の音圧レベルを広帯域精密騒音計11によって測定する。
さらに、PDP10の画面を図4(a)のように「全黒表示」にした状態、または、図4(b)のように「4パーセント・ウィンドウ表示」にした状態において、同様の測定を行う。
なお、このとき、PDP10の音響出力はオフにされている。
この広帯域精密騒音計11による測定は、PDP10から発生する音の可聴領域外を含む帯域(例えば、〜40kHz)を、A特性聴感補正(La)を行わないフラット(Lp)で音圧レベルを検出することにより行う。
そして、広帯域精密騒音計11によって測定された音圧レベル・データをFFT処理(高速フーリエ変換処理)し、その結果に基づいて、以下のようにして、PDP10から発生している異音を周波数毎に検出する。
すなわち、図5は、FFT処理された広帯域精密騒音計11による測定結果(スペクトル)を周波数毎に示している。
ここで、PDP10から発生する異音の測定には、測定場所に存在する暗騒音を考慮する必要があり、暗騒音帯域では、暗騒音とパネルから発生する異音とが混在するため、以下の異音の音圧レベル検出において暗騒音帯域まで考慮に入れると、正確な異音検出が出来なくなる。
このため、例えば、測定場所における暗騒音が20Hz〜7.5kHzに集中しているような場合には、この暗騒音帯域(7.5kHz以下)を除いた部分(図5において枠fによって囲まれた部分)が、異音の検出対象とされる。
平地におけるPDP10から発生する異音(以下、平地異音という)の音圧レベルは、上記のようにして求められた測定データに基づいて、図5の7.5kHz〜40kHzの範囲(枠fの範囲)の値を2乗平均したPOA値(7.5kHz〜40kHzの範囲の総エネルギ値)として求められる。
PDPの複数の機種毎に、以上のような方法によって平地異音の音圧レベルの検出を行う。
次に、この平地異音の音圧レベルの検出を行った同じ機種のPDPを高地に運んで、高地において、従来のA特性聴感補正(La)により周波数重み付けを行う方法によって各機種のPDPから発生する異音(20Hz〜40kHz)の音圧レベルを測定する。
図6は、平地異音と高地異音の相関関係を調べるために、縦軸を平地異音の音圧レベルとし、横軸を高地異音(高地においてPDPから発生する異音)の音圧レベルとしたグラフである。
この図6中、プロットaは、PDP10の画面を「全白表示」(図3参照)にした場合の異音の音圧レベルを示しており、プロットbは、PDP10の画面を「全黒表示」(図4(a)参照)にした場合の異音の音圧レベルを示している。
なお、図6の例においては、「全白表示」および「全黒表示」の場合の測定結果が各4個(4機種)ずつ示されており、異音測定の対象となったPDPの機種毎の平地異音と高地異音のそれぞれの音圧レベルがプロットされている。
この図6から、上記の方法によって測定した平地異音の測定結果と、高地において従来の方法によって実際に測定を行った高地異音の測定結果との間には、一次関数的な相関関係(すなわち、図6の例では、何れの機種においても、高地異音の音圧レベルが平地異音の音圧レベルよりも数dB高い)があることが分かる。
この図6の結果から、PDPの各機種毎に、平地異音と高地異音の音圧レベル相関関係を示す近似式:Y=mX+n(Yは高地異音の音圧レベル、Xは平地異音の音圧レベル)を求める。
このようにして、平地異音と高地異音の音圧レベルの近似式が求められると、以後、製造されたPDPに対して、上述したような図3ないし5に示される方法によって平地異音の音圧レベルの測定を行い、この測定結果と各機種毎にあらかじめ求められている近似式:Y=mX+nに基づいて、高地における異音の音圧レベルを算出する。
以上のように、上記の異音測定方法によれば、PDPについて平地と高地で実際に異音の測定を行って、あらかじめ各機種毎に平地異音と高地異音の音圧レベルの近似式を求めておくことによって、製造されてくるPDPに対して平地異音の測定を行うだけで、そのPDPを高地に運ぶことなく高地異音の音圧レベルを検出することが出来るようになる。
そして、上記の異音測定方法によれば、平地異音を、可聴領域外である高周波数領域を含んだ測定データから検出し、この検出データに基づいて高地異音の音圧レベルを算出するので、従来の測定方法のように、測定データに対してA特性聴感補正(La)により周波数重み付けを行うことによってFFTの測定結果について3kHz〜4kHzの周波数帯域が強調されたり、逆に、可聴領域外の高周波領域の部分が弱められた測定結果が得られてしまうといった虞が無くなる。
図7は、この発明による平面ディスプレイパネルの異音測定方法の実施形態における第2の実施例を説明するためのグラフである。
この第2実施例における平面ディスプレイパネルの異音測定方法は、第1の実施例の測定方法に加えて、さらに、平地異音の測定を、実際に異音測定が行われる環境を考慮して行うようにしたものである。
すなわち、通常、PDPの検査工程は製造ラインやその周辺で行われることが多く、このような測定環境では、低周波数帯域における暗騒音の他に、上記第1実施例の場合の測定環境に対して、この暗騒音よりも周波数が高い領域で製造装置のモータ音等による定常音が存在することが多いため、この第2実施例における測定方法は、平地異音の測定において、例えば製造ライン等の測定環境における騒音(以下、バックグランド音という)の音圧レベルを予めフラット(Lp)で測定しておいて、図5に示されるような暗騒音の周波数帯域を除いた異音の測定結果から、さらにバックグランド音の測定結果を差し引いたデータを、平地異音の測定データとして用いるものである。
高地異音データの測定方法については、第1実施例の場合と同様である。
図7は、PDPの製造ラインで発生するバックグランド音を差し引いた測定データを平地異音データとして、この平地異音と高地異音の音圧レベルの相関関係を示したものである。
そして、この図7から、第1実施例の場合と同様にして、平地異音と高地異音の音圧レベルの相関関係を示す近似式が求められる。
この図7と、第1実施例の方法によって測定した平地異音(暗騒音の周波数帯域のみを除いた測定データ)と高地異音の音圧レベルの相関関係を示した図8(図6と同様のグラフ)とを比較すると、図7のグラフの方がグラフ直線の傾きが緩やかになるので、この図7に基づいて製造ラインまたはその周辺で測定した平地異音測定データから高地異音の音圧レベルを算出することによって、より精密な信頼性の高い高地異音データを求めることができるようになる。
さらに、図8の場合には相関係数(R2)が0.92であったのに対し、図7の場合には相関係数(R2)が0.94になり、このことからも、バックグラウンド音を差し引いた測定データを用いた方が、より信頼性の高い高地異音データを求めることが出来るようになることが分かる。
10 …PDP(平面ディスプレイパネル)
11 …広帯域精密騒音計(測定機)
11 …広帯域精密騒音計(測定機)
Claims (13)
- 平面ディスプレイパネルの互いに対向する一対の基板の間の封止空間からパネルの駆動時に発生する異音を測定する異音測定方法であって、
第1の気圧条件下と第2の気圧条件下において、それぞれ、平面ディスプレイパネルが駆動される際に一対の基板の間の封止空間から発生する異音の測定を行い、
この測定された第1の気圧条件下における異音の音圧レベルと第2の気圧条件下における異音の音圧レベルとの相関関係をあらかじめ求め、
この求められた相関関係に基づいて、第1の気圧条件下において測定された平面ディスプレイパネルの封止空間から発生する異音の音圧レベルから、第2の気圧条件下において平面ディスプレイパネルの封止空間から発生する異音の音圧レベルを算出する、
ことを特徴とする平面ディスプレイパネルの異音測定方法。 - 前記第1の気圧条件下において平面ディスプレイパネルの封止空間から発生する異音の測定を、測定値に周波数重み付けを行うA特性聴感補正を行わないで行う請求項1に記載の平面ディスプレイパネルの異音測定方法。
- 前記第1の気圧条件下において平面ディスプレイパネルの封止空間から発生する異音の音圧レベルを、測定機によって異音の周波数毎の音レベルを測定し、この測定データのうちの所定の周波数帯域における総エネルギ値を算出することによって求める請求項1に記載の平面ディスプレイパネルの異音測定方法。
- 前記所定の周波数帯域が、暗騒音の周波数帯域を除いた周波数帯域である請求項3に記載の平面ディスプレイパネルの異音測定方法。
- 前記所定の周波数帯域が、可聴領域外の周波数帯域を含んでいる請求項3に記載の平面ディスプレイパネルの異音測定方法。
- 前記所定の周波数帯域が、7.5〜40kHzの周波数帯域である請求項3に記載の平面ディスプレイパネルの異音測定方法。
- 前記第1の気圧条件下において平面ディスプレイパネルの封止空間から発生する異音の測定を、平面ディスプレイパネルを全白表示にした状態で行う請求項1に記載の平面ディスプレイパネルの異音測定方法。
- 前記第1の気圧条件下において平面ディスプレイパネルの封止空間から発生する異音の測定を、平面ディスプレイパネルを全黒表示にした状態で行う請求項1に記載の平面ディスプレイパネルの異音測定方法。
- 前記第1の気圧条件下において平面ディスプレイパネルの封止空間から発生する異音の測定を、測定機を平面ディスプレイパネルのパネル面から所定の距離だけ離れた前方位置に設置して行う請求項1に記載の平面ディスプレイパネルの異音測定方法。
- 前記所定の距離が、ほぼ1mである請求項9に記載の平面ディスプレイパネルの異音測定方法。
- 前記平面ディスプレイパネルが、封止空間内の圧力が大気圧よりも低い圧力に保たれたディスプレイパネルである請求項1に記載の平面ディスプレイパネルの異音測定方法。
- 前記平面ディスプレイパネルが、プラズマディスプレイパネルである請求項1に記載の平面ディスプレイパネルの異音測定方法。
- 前記暗騒音の周波数帯域を除いた周波数帯域において、第1の気圧条件下において測定された平面ディスプレイパネルの封止空間から発生する異音の音圧レベルからこの第1の気圧条件下における測定位置において発生している騒音の音圧レベルを差し引いたデータを用いて、第2の気圧条件下において平面ディスプレイパネルの封止空間から発生する異音の音圧レベルを算出する請求項4に記載の平面ディスプレイパネルの異音測定方法。
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---|---|---|---|---|
JP2006292669A (ja) * | 2005-04-14 | 2006-10-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プラズマディスプレイパネルの検査装置および検査方法 |
JP2021128180A (ja) * | 2020-02-10 | 2021-09-02 | 沖電気工業株式会社 | 収音装置、収音プログラム、及び収音方法 |
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