JP2006019714A - Manufacturing method of electronic component - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method superior in moldability in hollow portion capable of reducing the generation of voids, even in the case of a chip coming-off substrate or the like, if the hollow mold of SAW device or the like is sealed with resin in a batch, using a gelatinous thermosetting resin sheet. <P>SOLUTION: In the manufacturing process having the following processes (a) to (d), functional devices loaded on a wiring substrate are covered with the gelatinous thermosetting resin sheet and are cured, by heating to seal a hollow between the substrate and the devices with the resin in batch. (a) The resin sheet is disposed so as to cover a plurality of the aligned functional devices that face the substrate by providing the air-gap between the devices and the substrate on the wiring substrate. (b) Vacuum is created in a closed spatial region, surrounded by the resin sheet enclosing the functional devices and the substrate. (c) With the closed spatial region being kept in vacuum, the sealing resin surface is formed flat, while the resin sheet is heated and fluidized at a temperature lower than the curing temperature with a hot roll. (d) The resin sheet is cured by heating to the curing temperature. <P>COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI

Description

本発明は、配線基板上に、配線基板との間に空隙を設けて対面載置した複数の配列された機能素子を、これら機能素子を覆うように配線基板上に配置されたゲル状硬化性樹脂シートを用いて、高い歩留りで、配線基板と機能素子との間を中空に保ちつつ一括樹脂封止する電子部品の製造方法に関する。   In the present invention, a plurality of arranged functional elements placed facing each other with a space between the wiring board and the wiring board are placed on the wiring board so as to cover these functional elements. The present invention relates to a method for manufacturing an electronic component that uses a resin sheet and performs resin sealing at once with a high yield while keeping a space between a wiring board and a functional element hollow.

近年、機能素子が配線基板上に中空モールドされた電子部品が、携帯電話をはじめとする各種電子機器に多数使用されている。このようなものとして典型的には、例えば、弾性表面波デバイス、水晶振動子、圧電振動子等がある。このような電子部品は、機能素子の活性面が樹脂で封止されないようにしなければならず、例えば、弾性表面波デバイスにおいては、弾性表面波チップ上に弾性表面波電極が形成されており、配線基板上に樹脂封止する際に封止樹脂や基板面と弾性表面波電極とが接触しては性能を発揮できないので、電極面上を中空に保ったまま樹脂封止しなければならない。一方、このような電子部品は小型化が進み、その製造も、基板上に多数の小さな機能素子チップ、例えば、弾性表面波チップ、をフリップチップ接合して配列した所謂MAP(モールドアレイパッケージ)形状において、基板上の多数の機能素子チップを一度に一括樹脂封止する方式が主流となりつつある。なお、本明細書では、配線基板と機能素子との間を中空に保ちつつ樹脂封止することを中空モールドという。また、基板上に配列した多数の素子を一度に樹脂封止することを一括樹脂封止という。なお、真空というときは、通常の大気圧より低い圧力の気体で満たされた空間の状態をいう。   In recent years, a large number of electronic components in which functional elements are hollow-molded on a wiring board are used in various electronic devices such as mobile phones. Typical examples of such a device include a surface acoustic wave device, a crystal resonator, and a piezoelectric resonator. Such an electronic component must prevent the active surface of the functional element from being sealed with a resin. For example, in a surface acoustic wave device, a surface acoustic wave electrode is formed on a surface acoustic wave chip. Since the performance cannot be exhibited if the sealing resin or the substrate surface and the surface acoustic wave electrode come into contact with each other when the resin sealing is performed on the wiring substrate, the resin sealing must be performed while the electrode surface is kept hollow. On the other hand, such electronic components have been miniaturized, and their manufacture is also a so-called MAP (mold array package) shape in which a large number of small functional element chips, for example, surface acoustic wave chips, are arranged by flip chip bonding. However, a system in which a large number of functional element chips on a substrate are encapsulated at once is becoming mainstream. In this specification, the resin sealing while keeping the space between the wiring board and the functional element hollow is called a hollow mold. Also, collectively sealing a large number of elements arranged on a substrate at once is called collective resin sealing. Note that a vacuum means a state of a space filled with a gas having a pressure lower than the normal atmospheric pressure.

従来、このような中空モールド電子部品の一括樹脂封止技術としては、例えば、加熱溶融型部材を用いて空隙部を封止する方法(例えば、特許文献1参照。)、弾性表面波チップをフィルムで覆った後、樹脂で封止する弾性表面波デバイスの実装方法(例えば、特許文献2参照。)、基板に設けた穴から吸気して変形プラスチックフィルムラミネートを行う弾性表面波フィルタのパッケージ方法(例えば、特許文献3参照。)、大気中でゲル状硬化性樹脂シートを用いて基板上の弾性表面波チップを被覆した後、大気中でヒートプレスする方法(例えば、特許文献4参照。)等が知られている。しかしながら、これらの方法では、中空モールドを高精度で生産性よく成形することは困難であった。すなわち、基板上のチップ配列は、製造工程での不良品を除くためにチップ抜けが存在したり、製品によってチップ配列やチップサイズが異なるので、従来の熱プレスや熱ロールでは、モールド成形の精度を維持することが容易でなく、例えば、チップ下に封止樹脂が流入し過ぎたり、封止シートが基板面に到達しなかったり、チップエッジ部にボイドが発生したりすることが避けられなかった。また、変形プラスチックフィルムで封止する方法は、保護層の表面が平坦にならず、パッケージの積層実装等に不向きであった。従って、中空モールドの高い歩留りを可能とする一括樹脂封止技術による製造方法は、従来、知られていない。   Conventionally, as a collective resin sealing technique for such a hollow mold electronic component, for example, a method of sealing a void using a heat-melt type member (see, for example, Patent Document 1), a surface acoustic wave chip and a film A surface acoustic wave device packaging method (see, for example, Patent Document 2) that is covered with resin and then sealed with a resin, and a surface acoustic wave filter packaging method in which a deformed plastic film is laminated by sucking air from a hole provided in the substrate ( For example, refer to Patent Document 3), a method in which a surface acoustic wave chip on a substrate is coated with a gel-like curable resin sheet in the air, and then heat-pressed in the air (for example, refer to Patent Document 4). It has been known. However, with these methods, it has been difficult to form a hollow mold with high accuracy and high productivity. In other words, the chip arrangement on the substrate has chip missing in order to eliminate defective products in the manufacturing process, and the chip arrangement and chip size differ depending on the product. For example, it is inevitable that the sealing resin flows too much under the chip, the sealing sheet does not reach the substrate surface, or a void is generated at the chip edge portion. It was. In addition, the method of sealing with a deformed plastic film is not suitable for stacking and mounting of packages because the surface of the protective layer is not flat. Therefore, a manufacturing method based on a collective resin sealing technique that enables a high yield of the hollow mold has not been known.

国際公開第WO97/02596号パンフレットInternational Publication No. WO97 / 02596 Pamphlet 特開平11−17490号公報Japanese Patent Laid-Open No. 11-17490 特開2001−176995号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2001-176955 特開2003−17979号公報JP 2003-17979 A

上述の現状に鑑みて、本発明は、弾性表面波デバイス等の中空モールドをゲル状硬化性樹脂シートを用いて基板上で一括樹脂封止する際に、中空部の成形性に優れ、チップ抜け基板等の場合にもボイドの発生を低減でき、上述の問題を解決できる、信頼性と生産性に優れた製造方法を提供することを目的とする。   In view of the above-mentioned present situation, the present invention is excellent in moldability of the hollow portion when the hollow mold such as the surface acoustic wave device is encapsulated on the substrate using the gel-like curable resin sheet, and the chip is removed. An object of the present invention is to provide a manufacturing method excellent in reliability and productivity that can reduce the generation of voids in the case of a substrate or the like and can solve the above-described problems.

本発明者は上記課題を解決するべく鋭意検討した結果、意外にも、真空下でゲル状硬化性樹脂シートを配置した後、熱ロールによる成形を組み合わせることにより、上記不良の発生を大幅に低減できることを見いだし、この知見に基づいて本発明を完成した。
すなわち、本発明は、配線基板上に、上記配線基板との間に空隙を設けて対面載置した複数の配列された機能素子を、上記複数の配列された機能素子を覆うように上記配線基板上に配置されたゲル状硬化性樹脂シートを加熱硬化させて、上記配線基板と上記機能素子との間を中空に保ちつつ、一括樹脂封止する電子部品の製造方法であって、少なくとも、以下の工程(a)、(b)、(c)及び(d)を有する電子部品の製造方法である:
(a)配線基板上に上記配線基板との間に空隙を設けて対面載置した複数の配列された機能素子を覆うように、上記配線基板上にゲル状硬化性樹脂シートを配置する工程、
(b)上記複数の配列された機能素子がその内部に含まれている上記ゲル状硬化性樹脂シートと上記配線基板とで囲まれた閉空間領域を、真空にする工程、
(c)上記閉空間領域を真空に維持しつつ、熱ロールで上記ゲル状硬化性樹脂シートを硬化温度未満に加熱し流動させながら封止樹脂表面を平坦に成形する工程、及び、
(d)上記ゲル状硬化性樹脂シートを硬化温度に加熱して硬化させる工程。
As a result of intensive studies to solve the above problems, the present inventor surprisingly significantly reduced the occurrence of the above-mentioned defects by combining gel-curing resin sheets under vacuum and then molding with a hot roll. Based on this finding, the present invention has been completed.
That is, according to the present invention, a plurality of arranged functional elements placed facing each other with a space between the wiring board and the wiring board are arranged on the wiring board so as to cover the plurality of arranged functional elements. A method for producing an electronic component in which a gel-like curable resin sheet disposed thereon is heat-cured to encapsulate resin while keeping a space between the wiring board and the functional element, and at least the following: A method for manufacturing an electronic component comprising the steps (a), (b), (c) and (d) of:
(A) a step of disposing a gel-like curable resin sheet on the wiring board so as to cover the plurality of arranged functional elements placed facing each other with a gap provided between the wiring board and the wiring board;
(B) a step of evacuating a closed space region surrounded by the gel-like curable resin sheet and the wiring board in which the plurality of arranged functional elements are included;
(C) The step of forming the sealing resin surface flat while heating and flowing the gel-like curable resin sheet below the curing temperature with a hot roll while maintaining the closed space region in a vacuum, and
(D) A step of curing the gel-like curable resin sheet by heating to a curing temperature.

本発明は上述の構成により、中空モールド電子部品、例えば、弾性表面波デバイス等を配線基板上で一括樹脂封止する際に、チップ抜けが有っても、中空モールドを精度よく形成することができる。
本発明はまた、上述の構成により、弾性表面波デバイス等を配線基板上で一括樹脂封止する際に、チップ下に樹脂侵入が少なく、チップ外周部においてはボイドがない良品を製造することができる。
本発明はさらに、上述の構成により、容易に、製品厚みを有し保護樹脂表面が平坦な一括樹脂封止されたMAP状の電子部品を高い歩留りで製造することができる。
以下、本発明を詳細に説明する。
According to the present invention, when a hollow mold electronic component, for example, a surface acoustic wave device or the like is collectively resin-sealed on a wiring board, the hollow mold can be accurately formed even if there is a chip loss. it can.
According to the present invention, when the surface acoustic wave device or the like is collectively resin-sealed on the wiring substrate, a good product with less resin penetration under the chip and no void in the outer periphery of the chip can be manufactured. it can.
Further, according to the present invention, the above-described configuration can easily manufacture a MAP-shaped electronic component having a product thickness and having a flat protective resin surface and encapsulated in a batch with a high yield.
Hereinafter, the present invention will be described in detail.

本発明の製造方法においては、配線基板上に機能素子チップの活性面を配線パターンと対面させて載置したものを、配線パターンと活性面とを接触しないようにするために、空隙を設けて、保護樹脂で封止されてなる電子部品が製造される。このような機能素子としては、例えば、弾性表面波チップ、圧電振動子チップ、水晶振動子チップ、センサーチップ等が挙げられる。活性面とは、上記機能素子において、例えば、それぞれ、弾性表面波電極、圧電振動子、水晶振動子、センサーが形成されている面である。このような面は、樹脂等で密封されたり、基板面と接触したりすると、電極や振動子の物理的振動が妨げられ、機能を果たさなくなる。センサーでは検知物質との接触が妨げられ、やはり機能を果たさなくなる。従って、保護樹脂で封止する場合に、このような活性面の上部を中空に明けておく必要がある。一方、これら電子部品の小型化に伴い、例えば、弾性表面波デバイスでは、2ミリ角やそれ以下のサイズのチップが用いられており、製造方法としては、表面に微細な配線パターンを形成した基板上に、多数のチップをフリップチップ接合で配列し、多数のチップを一度に一括して樹脂封止し、その後に個別デバイスにダイシングする方法が用いられている。
本発明の製造方法は、上記製造方法における一括樹脂封止工程に好適に適用されるものであって、上述の(a)〜(d)の4工程を必須の工程とする。以下、これらの各工程を説明する。
In the manufacturing method of the present invention, in order to prevent the wiring pattern and the active surface from coming into contact with each other, the active surface of the functional element chip placed on the wiring substrate facing the wiring pattern is provided with a gap. An electronic component sealed with a protective resin is manufactured. Examples of such functional elements include surface acoustic wave chips, piezoelectric vibrator chips, crystal vibrator chips, sensor chips, and the like. The active surface is a surface on which, for example, a surface acoustic wave electrode, a piezoelectric vibrator, a crystal vibrator, and a sensor are formed in the functional element. If such a surface is sealed with a resin or the like or comes into contact with the substrate surface, physical vibrations of the electrodes and the vibrator are hindered and the function is not performed. In the sensor, the contact with the detection substance is hindered and the function is not performed. Therefore, when sealing with a protective resin, it is necessary to leave the upper part of such an active surface hollow. On the other hand, along with the miniaturization of these electronic components, for example, in a surface acoustic wave device, a chip having a size of 2 mm square or less is used, and as a manufacturing method, a substrate on which a fine wiring pattern is formed on the surface In addition, a method is used in which a large number of chips are arranged by flip chip bonding, a large number of chips are collectively sealed with resin, and then dicing into individual devices.
The manufacturing method of the present invention is suitably applied to the collective resin sealing step in the above manufacturing method, and the above four steps (a) to (d) are essential steps. Hereinafter, each of these steps will be described.

工程(a)
本工程では配線基板上に上記配線基板との間に空隙を設けて対面載置した複数の配列された機能素子を覆うように、上記配線基板上にゲル状硬化性樹脂シートを配置する。機能素子と配線基板との間の上記空隙は、例えば、粒子状、平面状等のスペーサーを挿入したり、フリップチップ接合のためのフリップチップバンプの高さで確保する等の方法を採用することができる。機能素子は基板上に、通常は複数がアレイ状に配列されているが、任意の配列でよく、必ずしも規則配列である必要はない。また、基板上を幾つかの領域に分けてその各領域に一定数のチップを配列した一群のチップ群を配置し、基板上にはそのようなチップ群が複数配列されていてもよい。なお、単独のチップへの本発明の適用を排除するものではない。上記ゲル状硬化性樹脂シートは、上記複数の配列された機能素子をその内部に含むように、上記配線基板とで囲まれた閉空間領域を形成するように、例えば、配列された一群のチップ群全体を覆いつつ、しかも、その1群のチップ群全体の周囲の基板部分もまた覆うように、配置する。
Step (a)
In this step, a gel-like curable resin sheet is disposed on the wiring board so as to cover the plurality of arranged functional elements placed facing each other with a space between the wiring board and the wiring board. For the above-mentioned gap between the functional element and the wiring board, for example, a method of inserting a spacer such as a particle shape or a planar shape or securing the gap at the height of the flip chip bump for flip chip bonding should be adopted. Can do. A plurality of functional elements are usually arranged in an array on the substrate. However, the functional elements may be in an arbitrary arrangement and are not necessarily in a regular arrangement. In addition, a group of chip groups in which a certain number of chips are arranged in each region divided on the substrate may be arranged, and a plurality of such chip groups may be arranged on the substrate. Note that application of the present invention to a single chip is not excluded. The gel-like curable resin sheet includes, for example, a group of chips arranged so as to form a closed space region surrounded by the wiring board so as to include the plurality of arranged functional elements therein. It is arranged so as to cover the entire group and also cover the substrate portion around the entire chip group.

上記ゲル状硬化性樹脂シートは、たとえば液状または固状の硬化性組成物とゲル化剤として作用する熱可塑性樹脂パウダーとの混合物をシート化することにより製造することができる。なお、固状の硬化性組成物に対するゲル化剤というのは、加熱し、溶融する条件にした場合にもゲル状にすることができるようにするためのものである。   The gel-like curable resin sheet can be produced, for example, by sheeting a mixture of a liquid or solid curable composition and a thermoplastic resin powder that acts as a gelling agent. Note that the gelling agent for the solid curable composition is intended to enable gelation even when heated and melted.

上記液状または固状の硬化性組成物の具体例としては、たとえばエポキシ樹脂、フェノキシ樹脂、フェノール樹脂、不飽和ポリエステル樹脂、アルキド樹脂、ウレタン樹脂、メラミン樹脂、尿素樹脂、グアナミン樹脂、ポリイミド樹脂、ビニルエステル樹脂、ジアリルフタレート樹脂、キシレン樹脂、ケイ素樹脂などの熱硬化性樹脂を樹脂成分として含有する硬化性組成物などがあげられる。これらは1種で使用してもよく、2種以上を組み合わせて使用してもよい。これらのうちでは、エポキシ樹脂組成物が、低粘度で、フィラー充填など他の機能を付与するのに適する点から好ましい。   Specific examples of the liquid or solid curable composition include, for example, epoxy resins, phenoxy resins, phenol resins, unsaturated polyester resins, alkyd resins, urethane resins, melamine resins, urea resins, guanamine resins, polyimide resins, vinyls. Examples thereof include a curable composition containing a thermosetting resin such as an ester resin, diallyl phthalate resin, xylene resin, or silicon resin as a resin component. These may be used alone or in combination of two or more. Among these, the epoxy resin composition is preferable because it has a low viscosity and is suitable for imparting other functions such as filler filling.

上記エポキシ樹脂組成物は、一般に、エポキシ樹脂、硬化剤および(または)潜在性硬化促進剤、必要により使用されるシリカ、アルミナなどのフィラー、その他の添加剤(ゲル化剤を除く)などを含有する組成物である。   The above-mentioned epoxy resin composition generally contains an epoxy resin, a curing agent and / or a latent curing accelerator, a filler used as necessary, such as silica and alumina, and other additives (excluding a gelling agent). Composition.

上記エポキシ樹脂にはとくに制限はなく、一般にエポキシ樹脂として各種用途に使用されているものであれば使用することができる。   There is no restriction | limiting in particular in the said epoxy resin, If it is generally used for various uses as an epoxy resin, it can be used.

上記エポキシ樹脂の具体例としては、たとえばビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールAD型エポキシ樹脂、水添ビスフェノールA型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、脂環式脂肪族エポキシ樹脂、有機カルボン酸類のグリシジルエーテル、上記エポキシ樹脂のプレポリマーや、ポリエーテル変性エポキシ樹脂、シリコーン変性エポキシ樹脂のような上記エポキシ樹脂と他のポリマーとの共重合体などがあげられる。これらは単独で使用してもよく2種以上を組み合わせて用いてもよい。これらのうちではビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂が、耐熱性や耐水性がよく、安価で経済的であるなどの点から好ましい。   Specific examples of the epoxy resin include, for example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol AD type epoxy resin, hydrogenated bisphenol A type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, alicyclic aliphatic epoxy resin, Examples thereof include glycidyl ethers of organic carboxylic acids, prepolymers of the above epoxy resins, copolymers of the above epoxy resins such as polyether modified epoxy resins and silicone modified epoxy resins and other polymers. These may be used alone or in combination of two or more. Among these, bisphenol A type epoxy resin and bisphenol F type epoxy resin are preferable from the viewpoints of good heat resistance and water resistance, low cost and economical.

上記硬化剤としては、従来から使用されているものが使用可能であり、その具体例としては、たとえばフェノール系硬化剤、ジシアンジアミド系硬化剤、尿素系硬化剤、有機酸ヒドラジド系硬化剤、ポリアミン塩系硬化剤、アミンアダクト系硬化剤などがあげられる。これらは単独で使用してもよく2種以上を組み合わせて用いてもよい。これらのうちではフェノール系硬化剤が、硬化時の低アウトガス性、耐湿性、耐ヒートサイクル性などの点から好ましい。また、ジシアンジアミド系硬化剤、尿素系硬化剤、有機酸ヒドラジド系硬化剤、ポリアミン塩系硬化剤、アミンアダクト系硬化剤が、潜在性硬化剤であり、保存安定性の点から好ましい。   As the curing agent, those conventionally used can be used. Specific examples thereof include phenolic curing agents, dicyandiamide curing agents, urea curing agents, organic acid hydrazide curing agents, and polyamine salts. Type curing agent, amine adduct type curing agent and the like. These may be used alone or in combination of two or more. Of these, phenol-based curing agents are preferred from the standpoints of low outgassing during curing, moisture resistance, heat cycle resistance, and the like. A dicyandiamide curing agent, a urea curing agent, an organic acid hydrazide curing agent, a polyamine salt curing agent, and an amine adduct curing agent are latent curing agents, and are preferable from the viewpoint of storage stability.

上記潜在性硬化剤としては、活性温度が60℃以上、さらには80℃以上であるのが好ましい。活性温度の上限としては、250℃以下、さらには180℃以下であるのが、活性温度以上で速硬化性で、生産性を向上させることができるなどの点から好ましい。   The latent curing agent preferably has an activation temperature of 60 ° C. or higher, more preferably 80 ° C. or higher. The upper limit of the activation temperature is preferably 250 ° C. or less, and more preferably 180 ° C. or less from the viewpoint of being able to improve productivity at high temperature and above, fast curability.

上記硬化剤を使用する場合の使用量は、硬化剤の種類によって異なるため一概に規定することはできないが、通常、エポキシ基1当量あたり、硬化剤の官能基の当量数が0.5〜1.5当量、さらには0.7〜1当量、ことには0.8〜1当量であるのが好ましい。   The amount of the curing agent to be used varies depending on the type of the curing agent, and thus cannot be specified unconditionally. Usually, the number of functional group equivalents of the curing agent is 0.5 to 1 per equivalent of epoxy group. 0.5 equivalents, more preferably 0.7-1 equivalents, especially 0.8-1 equivalents.

上記潜在性硬化促進剤としては、従来から使用されているものが使用可能であるが、保存安定性の点から、活性温度が60℃以上、さらには80℃以上のものが好ましい。活性温度の上限としては、250℃以下、さらには180℃以下であるのが、活性温度以上での硬化促進性が高く、生産性を向上させることができるなどの点から好ましい。   As the latent curing accelerator, those conventionally used can be used, but those having an active temperature of 60 ° C. or higher, more preferably 80 ° C. or higher are preferable from the viewpoint of storage stability. The upper limit of the activation temperature is preferably 250 ° C. or less, and more preferably 180 ° C. or less from the viewpoints of high curing acceleration at the activation temperature and higher, and productivity can be improved.

上記潜在性硬化促進剤の具体例としては、たとえば変性イミダゾール系硬化促進剤、変性脂肪族ポリアミン系促進剤、変性ポリアミン系促進剤などがあげられる。これらは単独で使用してもよく2種以上を組み合わせて用いてもよい。これらのうちでは変性イミダゾール系硬化促進剤が、活性温度が高く、反応性がよく、純度の高いものが得られやすいなどの点から好ましい。   Specific examples of the latent curing accelerator include a modified imidazole curing accelerator, a modified aliphatic polyamine accelerator, and a modified polyamine accelerator. These may be used alone or in combination of two or more. Of these, modified imidazole-based curing accelerators are preferable from the viewpoints of high activity temperature, good reactivity, and high purity.

上記潜在性硬化促進剤を使用する場合の使用量は、潜在性硬化促進剤の種類によって異なるため一概に規定することはできないが、通常、エポキシ樹脂100部あたり、1〜80部、さらには5〜50部であるのが好ましい。   The amount used in the case of using the latent curing accelerator varies depending on the type of the latent curing accelerator, and thus cannot be defined unconditionally, but is usually 1 to 80 parts per 100 parts of epoxy resin, and further 5 It is preferably ~ 50 parts.

上記ゲル化剤として作用する熱可塑性樹脂パウダーとしては、上記液状の硬化性組成物を吸収・膨潤してゲル状になる、または上記液状の硬化性組成物と相溶してゲル状になるなどするものであればよい。   The thermoplastic resin powder that acts as the gelling agent absorbs and swells the liquid curable composition to become a gel, or becomes compatible with the liquid curable composition to become a gel. Anything to do.

上記熱可塑性樹脂の具体例としては、たとえばポリ塩化ビニル、ポリエチレン、ポリプロピレン、ポリスチレン、合成ゴム(ポリブタジエン、ブタジエン−スチレン共重合体、ポリイソプレン、ポリクロロプレン、エチレン−プロピレン共重合体)、ポリ酢酸ビニル、ポリ(メタ)アクリル酸エステル、ポリアクリル酸アミド、ポリオキシメチレン、ポリフェニレンオキシド、ポリエステル、ポリアミド、ポリカーボネート、セルロース系樹脂、ポリアクリロニトリル、熱可塑性ポリイミド、ポリビニルアルコール、ポリビニルピロリドンなどがあげられる。これらは単独で使用してもよく、2種以上組み合わせて使用してもよい。これらのうちではポリメタクリル酸メチルなどのポリメタクリル酸エステルが、シート化性の点から好ましい。   Specific examples of the thermoplastic resin include, for example, polyvinyl chloride, polyethylene, polypropylene, polystyrene, synthetic rubber (polybutadiene, butadiene-styrene copolymer, polyisoprene, polychloroprene, ethylene-propylene copolymer), polyvinyl acetate. Poly (meth) acrylic acid ester, polyacrylic acid amide, polyoxymethylene, polyphenylene oxide, polyester, polyamide, polycarbonate, cellulose resin, polyacrylonitrile, thermoplastic polyimide, polyvinyl alcohol, polyvinylpyrrolidone and the like. These may be used alone or in combination of two or more. Among these, polymethacrylic acid esters such as polymethyl methacrylate are preferable from the viewpoint of sheet formability.

上記熱可塑性樹脂の軟化温度、分子量などについては、一概に規定することはできないが、一般的に、シート化温度とエポキシ樹脂の反応性の点から、軟化温度は、50〜150℃であるのが好ましく、また、分子量は、300万以下、さらには100万以下であるのが好ましい。   The softening temperature, molecular weight, etc. of the thermoplastic resin cannot be generally defined, but in general, the softening temperature is 50 to 150 ° C. in terms of the sheeting temperature and the reactivity of the epoxy resin. The molecular weight is preferably 3 million or less, more preferably 1 million or less.

上記熱可塑性樹脂パウダーの平均粒子径としては、0.01〜200μm、さらには0.01〜100μmであるのが、シートの厚さ制御の点から好ましい。   The average particle diameter of the thermoplastic resin powder is preferably 0.01 to 200 μm, more preferably 0.01 to 100 μm, from the viewpoint of controlling the thickness of the sheet.

上記ゲル状硬化性樹脂シートを製造する際の液状または固状の硬化性組成物と熱可塑性樹脂パウダーとの使用割合は、使用する硬化性組成物の種類と熱可塑性樹脂パウダーの種類とによりかわるため一義的に規定することはできないが、一般にエポキシ樹脂100部に対して、熱可塑性樹脂パウダー10〜100部、さらには20〜70部であるのが好ましい。上記熱可塑性樹脂パウダーの量が少なすぎる場合には、シート作成時にシート強度が低下しやすくなり、多すぎる場合には、流動性が低くなり、熱ロール時に高圧力が必要となり、チップ破損がおこりやすくなる。   The ratio of the liquid or solid curable composition and the thermoplastic resin powder used in producing the gel curable resin sheet varies depending on the type of the curable composition used and the type of the thermoplastic resin powder. Therefore, although it cannot be defined uniquely, generally it is preferably 10 to 100 parts, more preferably 20 to 70 parts of thermoplastic resin powder with respect to 100 parts of epoxy resin. If the amount of the thermoplastic resin powder is too small, the sheet strength tends to decrease when the sheet is formed, and if it is too large, the fluidity is low, high pressure is required during hot roll, and chip breakage occurs. It becomes easy.

上記のごとき液状または固状の硬化性組成物および熱可塑性樹脂パウダーを配合・保持し、硬化性組成物を熱可塑性樹脂パウダーに吸収させる、または硬化性組成物と熱可塑性樹脂パウダーとを相溶させることにより、ゲル状硬化性組成物を得ることができる。   A liquid or solid curable composition and thermoplastic resin powder as described above are blended and held, and the curable composition is absorbed into the thermoplastic resin powder, or the curable composition and the thermoplastic resin powder are compatible. By making it, a gel-like curable composition can be obtained.

上記配合・保持は、常温または加熱下で均一に混合したのち、撹拌下または非撹拌下で行なえばよい。たとえば、25℃程度でニーダーなどで混合することにより行なわれる。   The above blending and holding may be performed with stirring or non-stirring after uniformly mixing at room temperature or under heating. For example, it is performed by mixing at about 25 ° C. with a kneader.

硬化性組成物の熱可塑性樹脂パウダーへの吸収または硬化性組成物と熱可塑性樹脂パウダーとの相溶を促進させるために、加熱するのが好ましい。このとき、硬化性組成物を、たとえばロールコーターにより塗工し、そののちゲル化させるために加熱するのが好ましい。この場合の加熱温度は、熱可塑性樹脂パウダーのガラス転移温度以上、好ましくは軟化温度以上で、熱可塑性樹脂パウダーの溶融開始温度未満、使用する硬化剤および(または)潜在性硬化促進剤の活性温度以下の温度であるのが好ましい。通常は、熱可塑性樹脂パウダーの軟化温度よりも5〜50℃、さらには10〜30℃高い温度が好ましく、使用する硬化剤および(または)潜在性硬化促進剤の活性温度以下の温度であるのが好ましい。加熱時間は、硬化性組成物が熱可塑性樹脂パウダーに吸収、または硬化性組成物と熱可塑性樹脂パウダーとが相溶し、ゲル化した硬化性組成物が得られるのに充分な時間であればよい。上記加熱温度は、通常、60〜150℃、さらには80〜120℃であり、加熱時間は、0.5〜30分、さらには1〜10分であるのが、硬化性組成物が実質的に硬化しない(そののち行なわれる熱ロールによりゲル状硬化性樹脂シートから形成された保護層で弾性表面波チップを保護することができる)点から好ましい。   In order to promote absorption of the curable composition into the thermoplastic resin powder or compatibility between the curable composition and the thermoplastic resin powder, heating is preferably performed. At this time, it is preferable that the curable composition is applied by, for example, a roll coater, and then heated for gelation. In this case, the heating temperature is equal to or higher than the glass transition temperature of the thermoplastic resin powder, preferably higher than the softening temperature, lower than the melting start temperature of the thermoplastic resin powder, the active temperature of the curing agent and / or latent curing accelerator used. The following temperature is preferred. Usually, the temperature is preferably 5 to 50 ° C., more preferably 10 to 30 ° C. higher than the softening temperature of the thermoplastic resin powder, and the temperature is lower than the active temperature of the curing agent and / or the latent curing accelerator used. Is preferred. The heating time is sufficient if the curable composition is absorbed in the thermoplastic resin powder or the curable composition and the thermoplastic resin powder are compatible and a gelled curable composition is obtained. Good. The heating temperature is usually 60 to 150 ° C., more preferably 80 to 120 ° C., and the heating time is 0.5 to 30 minutes, further 1 to 10 minutes. (The surface acoustic wave chip can be protected by a protective layer formed from a gel-like curable resin sheet by a subsequent heat roll).

このようにして得られたゲル状硬化性組成物は、たとえば加熱成形のような通常の方法により、シート状にすることができる。また、ゲル状硬化性組成物になる前の液状または固状の硬化性組成物および熱可塑性樹脂パウダーを配合し、必要により加熱して液状にしたものを、ロールコーターなどにより膜厚を制御した塗工物とし、60〜150℃で0.5〜30分、さらには80〜120℃で1〜10分乾燥させることによりシート状にすることができる。これらの方法でシートを形成すると、無溶剤系のためたとえば50μm程度の厚さから1000μmという厚いシートまで製造することができる。溶剤系のものを使用すると、100μm程度の厚さのものまでしか製造することができない。   The gel-like curable composition thus obtained can be formed into a sheet by a usual method such as thermoforming. In addition, the liquid or solid curable composition and the thermoplastic resin powder before becoming a gel-like curable composition were blended, and the film thickness was controlled by a roll coater or the like when heated to be a liquid. It can be made into a sheet by drying it at 60 to 150 ° C. for 0.5 to 30 minutes, and further at 80 to 120 ° C. for 1 to 10 minutes. When a sheet is formed by these methods, a sheet having a thickness of about 50 μm to a thickness of 1000 μm can be manufactured because of the solventless system. If a solvent-based material is used, only a material having a thickness of about 100 μm can be produced.

形成された本発明に使用する上記ゲル状硬化性樹脂シートの厚さは、配線基板上にバンプで接続された機能素子、例えば、弾性表面波チップを覆い、熱ロールすることにより封止樹脂層を形成することができ、好ましくは該封止樹脂表面を平坦になるようにできる点から、上記配線基板と上記機能素子との間の間隔と上記機能素子の厚みとの和の1倍以上2倍以下の厚さ、さらには1.5倍以下であるのが、好ましい。実際の上記ゲル状硬化性樹脂シートの厚さとしては、弾性表面波チップの厚さが一般に200〜400μm、バンプの高さが一般に20〜80μmであるから、220〜960μm、さらには220〜720μmであるのが好ましい。   The thickness of the formed gel-like curable resin sheet used in the present invention is such that a sealing resin layer is formed by covering a functional element connected by a bump on the wiring board, for example, a surface acoustic wave chip, and performing heat rolling. In view of the fact that the surface of the sealing resin can be made flat, preferably at least twice the sum of the distance between the wiring board and the functional element and the thickness of the functional element. It is preferable that the thickness is not more than twice, more preferably not more than 1.5 times. As the actual thickness of the gel-like curable resin sheet, since the thickness of the surface acoustic wave chip is generally 200 to 400 μm and the height of the bump is generally 20 to 80 μm, 220 to 960 μm, and further 220 to 720 μm. Is preferred.

上記説明においては、ゲル状硬化性樹脂シートとして、液状または固状の硬化性組成物とゲル化剤として作用する熱可塑性樹脂パウダーとの混合物をシート化したものを使用したが、液状または固状の硬化性組成物とゲル化剤として作用する光重合性化合物およびラジカル発生剤との混合物を用いてシート化したものを使用してもよい。この場合には、まず、液状または固状の硬化性組成物と光重合性化合物およびラジカル発生剤との混合物を調製し、得られた混合物をシート状にしたのち光を照射し、光重合性化合物を重合させたものが、ゲル状硬化性樹脂シートとして使用される。   In the above description, as the gel-like curable resin sheet, a sheet of a mixture of a liquid or solid curable composition and a thermoplastic resin powder that acts as a gelling agent is used. You may use what was made into a sheet | seat using the mixture of the photopolymerizable compound which acts as a gelatinizer, and a radical generating agent. In this case, first, a mixture of a liquid or solid curable composition, a photopolymerizable compound and a radical generator is prepared, and the resulting mixture is made into a sheet and then irradiated with light to produce photopolymerizable. A polymerized compound is used as a gel-like curable resin sheet.

上記光重合性化合物としては、たとえば分子内に1個以上の(メタ)アクリロイル基含有化合物、たとえば(メタ)アクリル酸とアルキルアルコール、アルキレンジオール、多価アルコールなどとのエステルなど、特開平11−12543号公報の[0009]〜[0012]に記載の化合物があげられる。   Examples of the photopolymerizable compound include one or more (meth) acryloyl group-containing compounds in the molecule, for example, esters of (meth) acrylic acid with alkyl alcohols, alkylene diols, polyhydric alcohols, and the like. Examples thereof include compounds described in [0009] to [0012] of Japanese Patent No. 12543.

また、上記ラジカル発生剤としては、たとえば紫外線、電子線などの活性線の照射を受けてラジカルを発生する化合物であり、従来から使用されている各種のもの、たとえば2−ヒドロキシ−2−メチル−1−フェニルプロパン−1−オン、ベンゾイン、アセトフェノンなどを使用することができる。   Examples of the radical generator include compounds that generate radicals upon irradiation with active rays such as ultraviolet rays and electron beams. For example, 2-hydroxy-2-methyl- 1-phenylpropan-1-one, benzoin, acetophenone, and the like can be used.

上記ラジカル発生剤の使用量としては、上記光重合性化合物100部あたり0.01〜10部、さらには0.05〜5部であるのが好ましい。   The amount of the radical generator used is preferably 0.01 to 10 parts, more preferably 0.05 to 5 parts, per 100 parts of the photopolymerizable compound.

上記液状または固状の硬化性組成物とゲル化剤として作用する光重合性化合物およびラジカル発生剤との使用割合としては、上記硬化性組成物100部あたり上記光重合性化合物およびラジカル発生剤の合計5〜100部、さらには10〜30部であるのが好ましい。   The usage ratio of the liquid or solid curable composition and the photopolymerizable compound and radical generator acting as a gelling agent is as follows: 100 parts of the curable composition are the photopolymerizable compound and radical generator. The total amount is preferably 5 to 100 parts, more preferably 10 to 30 parts.

上記光重合性化合物およびラジカル発生剤を使用して形成された本発明に使用するゲル状硬化性樹脂シートの厚さは、上記熱可塑性樹脂パウダーを使用して形成された上記ゲル状硬化性樹脂シートの厚さと同じでよい。   The thickness of the gel-like curable resin sheet used in the present invention formed using the photopolymerizable compound and the radical generator is the gel-like curable resin formed using the thermoplastic resin powder. It may be the same as the thickness of the sheet.

上記ゲル状硬化性樹脂シートは、低ガラス転移温度、低線膨張率であることが、硬化物を低応力化(低ソリ化)することができるので好ましく、さらに、原料を高純度化したものであることが、不純物イオンが少なく、弾性表面波チップ表面の汚染を防ぐことができるので好ましく、さらに、ゲル状硬化性樹脂シートの弾性率(25℃)が10〜10Pa、さらには10〜10Paで、硬化時の溶融粘度が10〜10Pa・s、さらには10〜10Pa・sであることが、熱ロールすることにより、封止樹脂層形成前のデバイスに弾性表面波電極面と配線パターンが形成された面とがバンプの高さのぶん隔てられた部分が中空構造を保つように封止樹脂層を形成するうえで好ましい。また、軟化温度は、50℃以上、好ましくは60℃以上、より好ましくは80℃以上である。 The gel-like curable resin sheet preferably has a low glass transition temperature and a low coefficient of linear expansion because the cured product can be reduced in stress (lowered in warpage), and further purified from a raw material. It is preferable that the number of impurity ions is small and contamination of the surface acoustic wave chip surface can be prevented. Further, the elastic modulus (25 ° C.) of the gel-like curable resin sheet is 10 3 to 10 9 Pa, It is 10 4 to 10 8 Pa, and the melt viscosity at the time of curing is 10 to 10 5 Pa · s, more preferably 10 3 to 10 4 Pa · s, so that it can be heated and rolled before the sealing resin layer is formed. It is preferable for forming a sealing resin layer so that a portion where the surface of the surface acoustic wave electrode and the surface on which the wiring pattern is formed is separated from the device by the height of the bump maintains a hollow structure. The softening temperature is 50 ° C. or higher, preferably 60 ° C. or higher, more preferably 80 ° C. or higher.

上述のように、上記ゲル状硬化性樹脂シートにおいては、低ガラス転移温度であるか、及び/又は、低線膨張率であることが、硬化物を低応力化(低ソリ化)するうえで好ましい。低ガラス転移温度としては、ゲル状硬化性樹脂シートの硬化物のTgが100℃以下が好ましく、さらには60℃以下であることがより好ましい。また低ソリ化・流動性調整・電子部品の高信頼化等のために低熱膨張率を得るためには、ゲル状硬化性樹脂シートは無機フィラー(例えば溶融シリカなど)を好ましくは50重量%以上、より好ましくは75重量%以上、さらに好ましくは80重量%以上含有している。フィラーを高充填したシートの場合は、熱膨張率が低くなり低ソリ化できるので、信頼性を考慮するとTgは高い方が好ましく、例えば100℃以上が好ましく、より好ましくは150℃以上であるが、これに限定されるものではなく、用途に応じて調整可能である。   As described above, the gel-like curable resin sheet has a low glass transition temperature and / or a low coefficient of linear expansion in reducing the stress of the cured product (lowering warpage). preferable. As low glass transition temperature, Tg of the hardened | cured material of a gel-like curable resin sheet is 100 degrees C or less, More preferably, it is 60 degrees C or less. In order to obtain a low coefficient of thermal expansion in order to reduce warpage, adjust fluidity, increase the reliability of electronic components, etc., the gel-like curable resin sheet preferably contains 50% by weight or more of an inorganic filler (for example, fused silica). More preferably, it is 75% by weight or more, and more preferably 80% by weight or more. In the case of a sheet highly filled with a filler, the coefficient of thermal expansion becomes low and the warpage can be reduced. Therefore, considering the reliability, a higher Tg is preferable, for example, preferably 100 ° C. or higher, more preferably 150 ° C. or higher. However, the present invention is not limited to this, and can be adjusted according to the application.

上述の説明ではゲル状硬化性樹脂シートを1枚使用することを前提にしたのであるが、本発明においては、上記ゲル状硬化性樹脂シートを複数枚、例えば、2〜20枚、使用してもよい。2枚以上積層したものを使用する場合、異なる厚さのチップに対しても、少ない種類のゲル状硬化性シートで対応することができる。また、チップに直接接する最内層のシートの軟化温度を他のシートより高くしておくと、熱ロールをかけたときに、チップ下に樹脂が入り込むのを防ぐ効果を高めることができる。複数枚使用するときのゲル状硬化性樹脂シートとしては、上記配線基板と上記機能素子との間の間隔と上記機能素子の厚みとの和の1/20倍以上1倍以下の厚さのシートを、上記和の2倍以下の厚みとなる複数枚を積層して使用することが好ましい。   In the above description, it is assumed that one gel-like curable resin sheet is used. However, in the present invention, a plurality of the gel-like curable resin sheets, for example, 2 to 20 sheets are used. Also good. In the case of using a laminate of two or more sheets, it is possible to cope with chips having different thicknesses with a small number of gel-like curable sheets. Further, if the softening temperature of the innermost layer sheet that is in direct contact with the chip is set higher than that of the other sheets, the effect of preventing the resin from entering under the chip when a hot roll is applied can be enhanced. As a gel-like curable resin sheet when using a plurality of sheets, a sheet having a thickness of 1/20 times or more and 1 time or less of the sum of the distance between the wiring board and the functional element and the thickness of the functional element Is preferably used by laminating a plurality of sheets having a thickness not more than twice the above sum.

なお、最内層のシートの軟化温度を他のシートより高くする場合、軟化温度は、最内層の軟化温度が5℃以上高いことが好ましく、より好ましくは10℃以上高いことが、製造方法上好ましい。ここで、軟化温度とは、シートを加熱軟化させながら電子部品を封止するという観点から、封止性を損なうことのない温度、すなわちシートの粘度が十分下がった温度を軟化点と定義し、例えば、弾性率G′の温度変化のグラフから外挿線の交点を求める方法で測定することができ、例えば、グラフにおいて、温度上昇とともにG′が下降する曲線の勾配が最大になる点で引いた接線とG′が充分低下した領域において引いた接線との交点の温度とすることができる。また上記ゲル状硬化性樹脂シートを複数枚積層する方法としては、ラミネート方法が好ましい。例えば、2枚以上積層する方法としては、加熱することが可能な2本のローラーを備えたラミネーターを用いて行うことができる。ラミネートする温度は、25〜120℃が、シートの軟化点及び粘度の変化なく確実にラミネートできるので好ましい。   In the case where the softening temperature of the innermost layer sheet is higher than that of other sheets, the softening temperature is preferably higher by 5 ° C or more, more preferably higher by 10 ° C or more, because of the manufacturing method. . Here, the softening temperature is defined as a temperature at which the sealing property is not impaired, that is, a temperature at which the viscosity of the sheet is sufficiently lowered, from the viewpoint of sealing the electronic component while softening the sheet by heating, For example, it can be measured by a method for obtaining the intersection of extrapolated lines from a graph of the temperature change of the elastic modulus G ′. The temperature at the intersection of the tangent line and the tangent line drawn in the region where G ′ is sufficiently lowered can be obtained. Moreover, as a method of laminating a plurality of the gel-like curable resin sheets, a laminating method is preferable. For example, as a method of laminating two or more sheets, a laminator provided with two rollers that can be heated can be used. The laminating temperature is preferably 25 to 120 ° C. because the sheet can be reliably laminated without change in the softening point and viscosity of the sheet.

また、本発明においては、上記1枚又は複数枚のゲル状硬化性樹脂シートに加えて、上記ゲル状硬化性樹脂シート以外の追加の他の樹脂シートを、必要に応じて、積層することができる。上記他の樹脂シートは、例えば、低透湿性の熱可塑性樹脂系シート(例えば、ポリエステル系、ポリオレフィン系シート)、無機フィラーを配合して透湿性・流動性を抑えた硬化性樹脂シート(例えば、エポキシ樹脂系硬化性シート)、ポリイミド系樹脂シート等のように、所望の特別の機能を持つものを適用することができる。上記追加の他の樹脂シートは、熱ロールで硬化性樹脂を流動させるときに支障が生じないために、硬化性樹脂シートの下に積層することが好ましいが、必ずしもこれに限定されることはない。   In the present invention, in addition to the one or more gel-like curable resin sheets, an additional resin sheet other than the gel-like curable resin sheet may be laminated as necessary. it can. The other resin sheet is, for example, a low moisture-permeable thermoplastic resin-based sheet (for example, a polyester-based or polyolefin-based sheet), a curable resin sheet (for example, a moisture-permeable and fluidity-suppressed material by blending an inorganic filler) A material having a desired special function such as an epoxy resin-based curable sheet or a polyimide-based resin sheet can be used. The additional resin sheet is preferably laminated under the curable resin sheet in order not to cause trouble when the curable resin is flowed with a hot roll, but is not necessarily limited thereto. .

工程(b)
本工程では、上記複数の配列された機能素子がその内部に含まれている上記ゲル状硬化性樹脂シートと上記配線基板とで囲まれた閉空間領域を真空にする。上記閉空間領域を真空にするためには、例えば、上記工程(a)を真空中で行って上記閉空間領域の真空を達成すればよい。上記工程(a)を真空中で行うには、例えば、真空プレス等の真空隔室を形成することができる装置を利用して真空下で予め樹脂シートを、タックが生じる程度の温度、例えば、50℃程度で、低圧プレスして樹脂シートを基板と素子に密着させる。なお、真空の程度は、通常、真空プレス等で達成される程度の真空度であってよく、例えば、1.0〜0.01Toor、であってよい。真空隔室を形成するには、例えば、真空チェンバー、可動式真空枠等を利用することができる。
Step (b)
In this step, a closed space region surrounded by the gel-like curable resin sheet containing the plurality of arranged functional elements and the wiring board is evacuated. In order to make the closed space region into a vacuum, for example, the step (a) may be performed in a vacuum to achieve the vacuum in the closed space region. In order to perform the step (a) in a vacuum, for example, a temperature at which the resin sheet is tacked in advance by using a device capable of forming a vacuum compartment such as a vacuum press, for example, a tackiness, At about 50 ° C., the resin sheet is brought into close contact with the substrate by low-pressure pressing. In addition, the degree of vacuum may be a degree of vacuum normally achieved by a vacuum press or the like, and may be, for example, 1.0 to 0.01 Toor. In order to form the vacuum compartment, for example, a vacuum chamber, a movable vacuum frame, or the like can be used.

さらには、上記工程(a)を大気圧下で行った後であって上記工程(c)の前に、又は、上記工程(a)を大気圧下で行いつつ、上記ゲル状硬化性樹脂シートと上記配線基板とで囲われた上記閉空間領域から吸気することにより、真空ラミネートを行い、上記閉空間領域の真空を達成してもよい。上記真空ラミネートを行うには、例えば、ラミネーターを用いて隔壁ラバーシートを介して大気圧で均一加圧しつつ排気を行ってもよく、また、該当する場合は基板に設けた孔から排気して行ってもよい。
なお、本発明においては、上記閉空間領域の真空を達成する方法にはなんら限定はなく、いかなる可能を方法を採用することも可能であり、ここに記載した方法は例示に過ぎない。また、上記工程(a)と工程(b)は、上述のように、一体的に操作してもよく、または、個別的に操作してもよい。
Furthermore, after performing the said process (a) under atmospheric pressure, before the said process (c), or performing the said process (a) under atmospheric pressure, the said gel-like curable resin sheet And vacuum lamination may be performed by sucking air from the closed space region surrounded by the wiring board and the wiring board to achieve a vacuum in the closed space region. In order to perform the above vacuum lamination, for example, a laminator may be used to exhaust air while uniformly pressurizing at atmospheric pressure through a partition rubber sheet, and if applicable, it is exhausted from a hole provided in the substrate. May be.
In the present invention, the method for achieving the vacuum in the closed space region is not limited at all, and any possible method can be adopted, and the method described here is merely an example. Moreover, the said process (a) and the process (b) may be operated integrally as mentioned above, or may be operated individually.

工程(c)
本工程では上記閉空間領域を真空に維持しつつ、熱ロールで上記ゲル状硬化性樹脂シートを硬化温度未満に加熱し流動させながら封止樹脂表面を平坦に成形する。これを実行するには、例えば、上記工程(a)を真空中で行った場合には、上記閉空間領域の真空を達成することにより上記工程(b)をも一体的に操作し、そして、そのまま、真空中で工程(c)を行うか、又は、上記工程(b)をも一体的に操作した後、一旦、系を真空から解放し、しかしながら、上記閉空間領域の真空を維持しつつ、工程(c)を行ってもよい。後者の場合、上記ゲル状硬化性樹脂シートのタック性を利用して閉空間領域の密閉を維持することができる。または、上記工程(a)と工程(b)とを別個に操作した後、本工程を行う。一般には、本工程を大気圧中で行う方法が、熱ロールをかける操作が容易であるので好ましい。
Step (c)
In this step, the surface of the sealing resin is formed flat while heating and flowing the gel-like curable resin sheet below the curing temperature with a hot roll while maintaining the closed space region in a vacuum. To perform this, for example, if the step (a) is performed in a vacuum, the step (b) is also integrally operated by achieving a vacuum in the closed space region, and As it is, the process (c) is performed in a vacuum, or the process (b) is also integrally operated, and then the system is once released from the vacuum, but the vacuum in the closed space region is maintained. Step (c) may be performed. In the latter case, it is possible to maintain the closed space region by utilizing the tackiness of the gel-like curable resin sheet. Alternatively, this step is performed after the step (a) and the step (b) are separately operated. In general, a method in which this step is performed at atmospheric pressure is preferable because an operation of applying a hot roll is easy.

上記熱ロールは、ゲル状硬化性樹脂シートの軟化点以上、硬化温度未満の範囲で、好ましくは60〜250℃、さらには60〜180℃の温度で行なわれるのがより好ましく、80〜120℃がさらに好ましい。熱ロール温度がゲル状硬化性樹脂シートの軟化点未満の場合、流動性が不足し、封止樹脂の未充填をおこしたり、チップが破損したりしやすくなり、250℃をこえる場合、封止樹脂が硬化の際に発泡をおこしやすくなる。   The heat roll is preferably performed at a temperature of not less than the softening point of the gel-like curable resin sheet and less than the curing temperature, preferably 60 to 250 ° C, more preferably 60 to 180 ° C, and more preferably 80 to 120 ° C. Is more preferable. If the heat roll temperature is lower than the softening point of the gel-like curable resin sheet, the fluidity is insufficient, the sealing resin is not filled, and the chip is easily damaged. It becomes easy to cause foaming when the resin is cured.

上記熱ロールとして上下2本ロールを使用する場合は、熱ロールは、樹脂に接する高温の第一のロールと、配線基板に接する低温の第二のロールとから構成されることが好ましい。上記高温の熱ロールは、封止樹脂の軟化点以上で硬化温度未満に設定し、上記低温のロールは、封止樹脂の軟化点未満、例えば、室温(25℃)に設定する。こうすると、封止樹脂の表面側がより高温になり、流動性が高まり成形性が向上するとともに、配線基板側で低温になり、樹脂の流動性が低くなりチップ下への流入を一層抑えることができる。また、上記熱ロールとして1本ロール構成とすることもできる。この場合、成形は、封止すべき上記配線基板を支持台に載置したうえで上記ゲル状硬化性樹脂シートの上から熱ロールをかけて行う。この場合も、支持台は室温であるので、やはり配線基板側で低温になり、樹脂の流動性が低くなりチップ下への流入を一層抑えることができる。   When two upper and lower rolls are used as the heat roll, the heat roll is preferably composed of a high temperature first roll in contact with the resin and a low temperature second roll in contact with the wiring board. The high-temperature hot roll is set to be higher than the softening point of the sealing resin and lower than the curing temperature, and the low-temperature roll is set to be lower than the softening point of the sealing resin, for example, room temperature (25 ° C.). As a result, the surface side of the sealing resin becomes higher temperature, the fluidity is increased and the moldability is improved, the temperature is lowered on the wiring board side, the resin fluidity is lowered, and the inflow under the chip can be further suppressed. it can. Moreover, it can also be set as 1 roll structure as said heat roll. In this case, the molding is performed by placing a hot roll on the gel-like curable resin sheet after placing the wiring board to be sealed on a support base. Also in this case, since the support base is at room temperature, the temperature becomes low on the wiring board side, and the fluidity of the resin is lowered, so that the inflow under the chip can be further suppressed.

ロールのギャップは、一定に維持することが、封止樹脂表面を平坦に成形するために好ましく、特に、製品厚み、例えば、1.2ミリ又はそれ以下、に維持することが好ましい。また、封止樹脂側のロールにゴムロールを使用することが、樹脂シートに凹凸があっても均一に加圧できるので好ましい。ロールをかける速度は、0.1〜0.3m/分程度を例示することができる。   It is preferable to keep the gap of the roll constant in order to form the sealing resin surface flatly, and in particular, it is preferable to maintain the product thickness, for example, 1.2 mm or less. Further, it is preferable to use a rubber roll as the roll on the sealing resin side, because even if the resin sheet has irregularities, it can be pressurized uniformly. The speed at which the roll is applied can be about 0.1 to 0.3 m / min.

工程(d)
本工程では上記ゲル状硬化性樹脂シートを硬化温度に加熱して硬化させる。上記加熱硬化方法としては特に限定されず、例えば、オーブン等で加熱して行うことができる。
Step (d)
In this step, the gel-like curable resin sheet is heated to the curing temperature and cured. The heat curing method is not particularly limited, and can be performed by heating in an oven or the like, for example.

配線パターンが形成された基板上に弾性表面波チップが実装され、上記基板の配線パターンが形成された面と上記弾性表面波チップの弾性表面波電極が形成された電極面とが対面して配置され、上記弾性表面波電極と上記配線パターンとがバンプで接続されており、かつ、弾性表面波電極面と配線パターンが形成された面とがバンプの高さのぶん隔てられており、上記弾性表面波チップの電極面と反対側の面から上記基板表面にかけてゲル状硬化性樹脂シートから形成された保護層で、弾性表面波電極面と配線パターンが形成された面とがバンプの高さのぶん隔てられた部分が中空構造を保つように覆われている弾性表面波デバイスを製造する場合は、本発明に従い、例えば、以下のように行うことができる。すなわち、まず、ゲル状硬化性樹脂シートを、上記弾性表面波チップが実装された基板に真空下にてゲル状硬化性樹脂シートで覆われた部分が真空を保つように貼付け、その後に、弾性表面波チップと基板の間を中空構造を保つように熱ロールを用いて樹脂を流動させることにより、保護層の表面が実質的にフラットになるように成形する。   A surface acoustic wave chip is mounted on a substrate on which a wiring pattern is formed, and the surface of the substrate on which the wiring pattern is formed and the electrode surface on which the surface acoustic wave electrode of the surface acoustic wave chip is formed face each other The surface acoustic wave electrode and the wiring pattern are connected by a bump, and the surface of the surface acoustic wave electrode and the surface on which the wiring pattern is formed are separated from each other by the height of the bump. A protective layer formed from a gel-like curable resin sheet from the surface opposite to the electrode surface of the surface wave chip to the surface of the substrate. The surface where the surface acoustic wave electrode surface and the wiring pattern are formed has a bump height. In the case of manufacturing a surface acoustic wave device in which the separated portions are covered so as to maintain a hollow structure, it can be performed, for example, as follows according to the present invention. That is, first, the gel-like curable resin sheet is attached to the substrate on which the surface acoustic wave chip is mounted so that the portion covered with the gel-like curable resin sheet is kept under vacuum, and then the elastic The surface of the protective layer is shaped to be substantially flat by flowing the resin using a hot roll so as to maintain a hollow structure between the surface wave chip and the substrate.

以下に実施例を示して、本発明をさらに詳細に説明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。   The present invention will be described in more detail with reference to examples below, but the present invention is not limited to these examples.

実施例1〜5及び比較例1〜2
表1の配合でワニスを作成し、このワニスを、離型処理された75μm厚さのPETフィルムの離型処理された面に塗布して乾燥後、樹脂層が300μm厚になるように調整し、PETフィルム上にゲル状エポキシ樹脂シート(軟化点50℃)を形成した。
Examples 1-5 and Comparative Examples 1-2
A varnish was prepared with the composition shown in Table 1, and this varnish was applied to a release-treated surface of a 75 μm-thick PET film that had been subjected to a release treatment, and after drying, the resin layer was adjusted to a thickness of 300 μm. A gel-like epoxy resin sheet (softening point 50 ° C.) was formed on the PET film.

得られたシートの軟化温度(℃)、軟化時の弾性率(Pa)、軟化時の動的複素粘度(Pa・s)を測定した。また、硬化物(150℃、3時間、オーブン硬化)のTg(℃)、線膨張係数(ppm)、曲げ弾性率(25℃、150℃;GPa)を測定した。
測定方法:
軟化温度、弾性率、粘度:ARES粘弾性測定装置(TA)、動的粘弾性測定(Temp Ramp、周波数1HZ、Ramp Rate2.5℃/min)
曲げ弾性率:DMA6100(SEIKO)、動的粘弾性測定(Temp Ramp、周波数1Hz、Ramp Rate2℃/min)
線膨張係数:TMA120C(SEIKO)、(Ramp Rate2.5℃/min)
The obtained sheet was measured for softening temperature (° C.), elastic modulus at the time of softening (Pa), and dynamic complex viscosity at the time of softening (Pa · s). Moreover, Tg (degreeC) of the hardened | cured material (150 degreeC, 3 hours, oven hardening), a linear expansion coefficient (ppm), and a bending elastic modulus (25 degreeC, 150 degreeC; GPa) were measured.
Measuring method:
Softening temperature, elastic modulus, viscosity: ARES viscoelasticity measuring device (TA), dynamic viscoelasticity measurement (Temp Ramp, frequency 1HZ, Ramp Rate 2.5 ° C / min)
Flexural modulus: DMA6100 (SEIKO), dynamic viscoelasticity measurement (Temp Ramp, frequency 1 Hz, Ramp Rate 2 ° C./min)
Linear expansion coefficient: TMA120C (SEIKO), (Ramp Rate 2.5 ° C./min)

得られたシートを適当な大きさに切断したものを、200μm×30mm×50mmのガラエポ基板上に、高さ50μmのバンプで接続された400μm×2mm×2mmのダミーチップを7行7列に2mm間隔で49個形成した保護層形成前のデバイスの上に、一番外側配列のチップから2mm外側までをカバーするようにのせた。このものを、実施例及び比較例に供した。   The obtained sheet was cut into an appropriate size, and a dummy chip of 400 μm × 2 mm × 2 mm connected to a 200 μm × 30 mm × 50 mm glass epoxy substrate by a bump of 50 μm in height is 2 mm in 7 rows and 7 columns. On the device before forming the protective layer formed at 49 intervals, the device was placed so as to cover the outermost array of chips up to 2 mm. This was used for Examples and Comparative Examples.

実施例1では、配合1で得られたシートをデバイスに真空ラミネーター(25℃、5秒間、シートタックを利用してシート外周部を基板に貼付け)で真空ラミネートした。実施例2では、配合1で得られたシートをのたせデバイスを、50℃、10秒間、0.1MPaで真空プレスしてプリフォームした。比較例では、いずれも、配合1で得られたシートをデバイスにのせたものをそのまま熱プレス又は熱ロールにかけた。実施例、比較例とも、熱ロールは、上ロール(100℃、ゴムロール)、下ロール(25℃、金属ロール)の間を0.77mmに設定し、0.3m/分の速度で行った。この後、それぞれのサンプルを、150℃、3時間、オーブン硬化した。また、比較例の熱プレスは、150℃で5分間、0.1MPaで行い、硬化させた。   In Example 1, the sheet obtained by Formulation 1 was vacuum-laminated on the device with a vacuum laminator (25 ° C., 5 seconds, sheet outer periphery attached to substrate using sheet tack). In Example 2, the device obtained by placing the sheet obtained in Formulation 1 was preformed by vacuum pressing at 0.1 MPa at 50 ° C. for 10 seconds. In each of the comparative examples, the sheet obtained by blending 1 was placed on a device and directly subjected to a hot press or a hot roll. In both Examples and Comparative Examples, the heat roll was set at 0.77 mm between the upper roll (100 ° C., rubber roll) and the lower roll (25 ° C., metal roll), and was performed at a speed of 0.3 m / min. Thereafter, each sample was oven cured at 150 ° C. for 3 hours. Moreover, the hot press of the comparative example was cured at 150 ° C. for 5 minutes at 0.1 MPa.

実施例3〜5では、配合2及び配合3(実施例3)、配合2及び配合4(実施例4)又は配合3及び配合4(実施例5)を、それぞれ、1枚ずつ2枚をラミネートした。上記実施例3〜5でシートを2枚積層する方法としては、加熱することが可能な2本のローラーを備えたラミネーター(自社製)を用いて行った。ラミネートする温度は100℃で行った。   In Examples 3 to 5, Formulation 2 and Formulation 3 (Example 3), Formulation 2 and Formulation 4 (Example 4), or Formulation 3 and Formulation 4 (Example 5) are laminated one by one. did. As a method of laminating two sheets in Examples 3 to 5, a laminator (manufactured in-house) equipped with two heatable rollers was used. The laminating temperature was 100 ° C.

なお、表1中の略号は以下のとおりである。
LSAC6006:旭化成エポキシ(株)製、変性(プロピレンオキサイド付加)エポキシ樹脂、エポキシ当量250g/eq
DAL−BPFD:本州化学工業(株)製、ジアリルビスフェノールF
HX3088:旭化成エポキシ(株)製、変性イミダゾール、活性温度約80℃
F301:日本ゼオン(株)製、アクリルパウダー、粒径2μm、軟化温度80〜100℃のポリメチルメタクリレート
FB201S:電気化学工業(株)製、充填用シリカ
A187:日本ユニカー(株)製、エポキシシラン
IXE600:東亞合成(株)製、ビスマスアンチモン、イオンキャッチャー
RY200:日本アエロジル(株)製、微粉シリカ、揺変性発現剤
RE304S:日本化薬(株)製、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、エポキシ当量170g/eq
ELM100:住友化学(株)製、アミノエポキシ樹脂、エポキシ当量105g/eq
EPPN-502H:日本化薬(株)、多官能エポキシ樹脂、エポキシ当量170g/eq
MEH7500:明和化成(株)、多官能フェノール、フェノール当量105g/eq
2P4MHZ:四国化成工業(株)、変性イミダゾール
The abbreviations in Table 1 are as follows.
LSAC6006: manufactured by Asahi Kasei Epoxy Corporation, modified (propylene oxide addition) epoxy resin, epoxy equivalent 250 g / eq
DAL-BPFD: Honshu Chemical Industry Co., Ltd., diallyl bisphenol F
HX3088: manufactured by Asahi Kasei Epoxy Co., Ltd., modified imidazole, active temperature about 80 ° C.
F301: manufactured by Nippon Zeon Co., Ltd., acrylic powder, particle size 2 μm, softening temperature 80-100 ° C. polymethyl methacrylate FB201S: manufactured by Denki Kagaku Kogyo Co., Ltd., filling silica A187: manufactured by Nippon Unicar Co., Ltd., epoxy silane IXE600: manufactured by Toagosei Co., Ltd., bismuth antimony, ion catcher RY200: manufactured by Nippon Aerosil Co., Ltd., fine silica, thixotropic agent RE304S: manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., bisphenol F type epoxy resin, epoxy equivalent 170 g / eq
ELM100: manufactured by Sumitomo Chemical Co., Ltd., amino epoxy resin, epoxy equivalent of 105 g / eq
EPPN-502H: Nippon Kayaku Co., Ltd., polyfunctional epoxy resin, epoxy equivalent 170 g / eq
MEH7500: Meiwa Kasei Co., Ltd., polyfunctional phenol, phenol equivalent 105g / eq
2P4MHZ: Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., modified imidazole

Figure 2006019714
Figure 2006019714

評価方法
チップ下樹脂侵入:熱ロール工程後の(製造した)樹脂封止デバイス(ダミーデバイス)の基板とチップとを強制的に剥離させ、チップ下部への樹脂侵入の有無を顕微鏡で観察し、下記基準で評価した。
◎:チップ端部からの樹脂侵入が10μm以下
○:チップ端部からの樹脂侵入が20μm以下
×:チップ端部からの樹脂侵入が20μmをこえる。
ボイド:熱ロール工程後の(製造した)樹脂封止デバイス(ダミーデバイス)の基板とチップとを強制的に剥離させ、チップ端部のボイドの有無を顕微鏡で観察し、下記基準で評価した。
ボイド少ない:チップ端部からのボイドが50μm以下
外周部にボイド:チップ端部からのボイドが50μmをこえる。
硬化後の状態:熱ロール工程後の樹脂封止デバイスをオーブン中で硬化し、基板とチップとを強制的に剥離させ、チップ下部への樹脂侵入の有無とボイドを顕微鏡で観察し、下記基準で評価した。
良好:熱ロール後と比較し侵入及びボイドの変化が小さかった
ボイド:チップ下のエアーが膨張しボイドが発生した。
結果を表2に示した。
Evaluation method Intrusion of resin under the chip: The substrate of the resin-encapsulated device (dummy device) (dummy device) after the hot roll process and the chip are forcibly separated, and the presence or absence of the resin intrusion into the lower part of the chip is observed with a microscope. Evaluation was made according to the following criteria.
A: The resin penetration from the chip end is 10 μm or less. ○: The resin penetration from the chip end is 20 μm or less. X: The resin penetration from the chip end exceeds 20 μm.
Void: The substrate and chip of the resin-encapsulated device (dummy device) (manufactured) after the hot roll process were forcibly peeled, and the presence or absence of voids at the end of the chip was observed with a microscope and evaluated according to the following criteria.
Little void: Void from tip end is 50 μm or less Void on outer periphery: Void from tip end exceeds 50 μm.
State after curing: The resin-encapsulated device after the hot roll process is cured in an oven, the substrate and chip are forcibly separated, and the presence or absence of resin intrusion into the lower part of the chip and voids are observed with a microscope. It was evaluated with.
Good: Intrusion and void change were small compared to after hot roll. Void: Air under the chip expanded and voids were generated.
The results are shown in Table 2.

Figure 2006019714
Figure 2006019714

上記実施例1〜2から、本発明の製造方法によると、チップ下樹脂侵入がなく、ボイドも少ない封止が達成されており、実施例3〜5から、複数枚のラミネートにより、チップ下樹脂侵入が一層良好であり、従来方法に相当する比較例1及び2の欠点を克服できたことが示された。なお、比較例2の硬化後の状態は、熱プレス(比較例1)の場合に比べるとエアー膨張は大きかった。   From the above Examples 1-2, according to the manufacturing method of the present invention, sealing under the resin under the chip does not enter and the voids are reduced, and from Example 3-5, the resin under the chip is obtained by laminating a plurality of sheets. It was shown that the penetration was better and the drawbacks of Comparative Examples 1 and 2 corresponding to the conventional method could be overcome. In addition, the air expansion | swelling was large compared with the case of the hot press (comparative example 1) in the state after hardening of the comparative example 2.

本発明は、従来の中空モールド電子部品製造方法の欠点を克服し、より高い歩留りで製造が可能となり、ゲル状硬化性樹脂シートを利用した電子部品の製造方法として極めて有用である。
INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention overcomes the disadvantages of the conventional hollow mold electronic component manufacturing method, enables manufacturing with a higher yield, and is extremely useful as a method for manufacturing an electronic component using a gel-like curable resin sheet.

Claims (15)

配線基板上に、前記配線基板との間に空隙を設けて対面載置した複数の配列された機能素子を、前記複数の配列された機能素子を覆うように前記配線基板上に配置されたゲル状硬化性樹脂シートを加熱硬化させて、前記配線基板と前記機能素子との間を中空に保ちつつ、一括樹脂封止する電子部品の製造方法であって、少なくとも、以下の工程(a)、(b)、(c)及び(d)を有することを特徴とする電子部品の製造方法:
(a)配線基板上に前記配線基板との間に空隙を設けて対面載置した複数の配列された機能素子を覆うように、前記配線基板上にゲル状硬化性樹脂シートを配置する工程、
(b)前記複数の配列された機能素子がその内部に含まれている前記ゲル状硬化性樹脂シートと前記配線基板とで囲まれた閉空間領域を、真空にする工程、
(c)前記閉空間領域を真空に維持しつつ、熱ロールで前記ゲル状硬化性樹脂シートを硬化温度未満に加熱し流動させながら封止樹脂表面を平坦に成形する工程、及び、
(d)前記ゲル状硬化性樹脂シートを硬化温度に加熱して硬化させる工程。
A plurality of arrayed functional elements placed facing each other with a space between the wiring board and the wiring board are arranged on the wiring board so as to cover the plurality of arrayed functional elements. A method of manufacturing an electronic component that heat-cures a state-curable resin sheet and keeps a space between the wiring board and the functional element while encapsulating the resin together, and includes at least the following step (a), An electronic component manufacturing method comprising (b), (c) and (d):
(A) a step of disposing a gel-like curable resin sheet on the wiring board so as to cover the plurality of arranged functional elements placed facing each other with a gap provided between the wiring board and the wiring board;
(B) a step of evacuating a closed space region surrounded by the gel-like curable resin sheet and the wiring board in which the plurality of arranged functional elements are included;
(C) The step of forming the sealing resin surface flat while heating and flowing the gel-like curable resin sheet below the curing temperature with a hot roll while maintaining the closed space region in a vacuum, and
(D) A step of curing the gel-like curable resin sheet by heating to a curing temperature.
真空中で前記工程(a)を行うことにより前記工程(b)を達成した後、前記真空中から解放し、その後に前記工程(c)を行う請求項1記載の製造方法。 The manufacturing method according to claim 1, wherein after the step (b) is achieved by performing the step (a) in a vacuum, the step (c) is performed after releasing the vacuum. 真空中で前記工程(a)を行うことにより前記工程(b)を達成し、前記真空中から解放することなく、前記真空中で前記工程(c)を行う請求項1記載の製造方法。 The manufacturing method according to claim 1, wherein the step (b) is achieved by performing the step (a) in a vacuum, and the step (c) is performed in the vacuum without being released from the vacuum. 前記工程(a)を真空プレスにより行い、真空中でゲル状硬化性樹脂シートを前記配線基板上に配置することにより前記工程(b)を達成する請求項2又は3記載の方法。 The method according to claim 2 or 3, wherein the step (a) is performed by a vacuum press, and the step (b) is achieved by disposing a gel-like curable resin sheet on the wiring board in a vacuum. 前記工程(a)を大気圧下で行った後であって前記工程(c)の前に、又は、前記工程(a)を大気圧下で行いつつ、前記ゲル状硬化性樹脂シートと前記配線基板とで囲まれた閉空間領域から吸気することにより前記工程(b)を達成する請求項1記載の製造方法。 After performing the step (a) under atmospheric pressure and before the step (c), or while performing the step (a) under atmospheric pressure, the gel-like curable resin sheet and the wiring The manufacturing method according to claim 1, wherein the step (b) is achieved by sucking air from a closed space region surrounded by the substrate. 熱ロールは、樹脂に接する高温の第一のロールと、配線基板に接する低温の第二のロールとから構成される請求項1〜5のいずれか記載の製造方法。 The manufacturing method according to any one of claims 1 to 5, wherein the heat roll includes a high-temperature first roll in contact with the resin and a low-temperature second roll in contact with the wiring board. 成形は、封止すべき前記配線基板を支持台に載置したうえで前記ゲル状硬化性樹脂シートの上から熱ロールをかけて行う請求項1〜5のいずれか記載の製造方法。 The method according to any one of claims 1 to 5, wherein the forming is performed by placing a heat roll on the gel-like curable resin sheet after placing the wiring substrate to be sealed on a support base. 前記ゲル状硬化性樹脂シートは、ゲル状エポキシ樹脂シートである請求項1〜7のいずれか記載の製造方法。 The said gel-like curable resin sheet is a gel-like epoxy resin sheet, The manufacturing method in any one of Claims 1-7. 前記ゲル状硬化性樹脂シートとして、前記配線基板と前記機能素子との間の間隔と前記機能素子の厚みとの和の1倍以上2倍以下の厚さのシートを1枚使用する請求項1〜8のいずれか記載の製造方法。 2. The gel-like curable resin sheet is a single sheet having a thickness of 1 to 2 times the sum of the distance between the wiring board and the functional element and the thickness of the functional element. The manufacturing method in any one of -8. 前記ゲル状硬化性樹脂シートとして、前記配線基板と前記機能素子との間の間隔と前記機能素子の厚みとの和の1/20倍以上1倍以下の厚さのシートを、前記和の2倍以下の厚みとなる複数枚を積層して使用する請求項1〜8のいずれか記載の製造方法。 As the gel-like curable resin sheet, a sheet having a thickness of 1/20 times or more and 1 time or less of the sum of the distance between the wiring board and the functional element and the thickness of the functional element is 2 of the sum. The manufacturing method according to claim 1, wherein a plurality of sheets having a thickness of twice or less are laminated and used. 前記複数枚のシートのうち、最内層のシートは軟化温度が他のシートより高いものである請求項10記載の製造方法。 The manufacturing method according to claim 10, wherein the innermost layer of the plurality of sheets has a softening temperature higher than that of the other sheets. 前記1枚又は複数枚のゲル状硬化性樹脂シートに加えて、前記ゲル状硬化性樹脂シート以外の追加の他の樹脂シートを積層する請求項8〜11のいずれか記載の製造方法。 The manufacturing method according to any one of claims 8 to 11, wherein in addition to the one or more gel-like curable resin sheets, an additional resin sheet other than the gel-like curable resin sheet is laminated. 前記他の樹脂シートは、低透湿性の熱可塑性樹脂シートである請求項12記載の製造方法。 The manufacturing method according to claim 12, wherein the other resin sheet is a low moisture permeability thermoplastic resin sheet. 前記機能素子は、弾性表面波デバイスである請求項1〜13のいずれか記載の製造方法。 The manufacturing method according to claim 1, wherein the functional element is a surface acoustic wave device. 前記弾性表面波デバイスは、弾性表面波チップの弾性表面波電極が形成された電極面と、前記配線基板とが対面して配置され、前記電極と前記配線基板上の配線パターンとがバンプで接続されており、かつ、前記チップと前記配線基板とが前記バンプの高さの分だけ隔てられたものであり、前記電極面と前記配線基板との間が中空に樹脂封止される請求項14記載の製造方法。
In the surface acoustic wave device, an electrode surface on which a surface acoustic wave electrode of a surface acoustic wave chip is formed and the wiring substrate are arranged facing each other, and the electrode and a wiring pattern on the wiring substrate are connected by a bump. The chip and the wiring board are separated by the height of the bump, and the electrode surface and the wiring board are sealed with resin in a hollow state. The manufacturing method as described.
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