JP2006012594A - 表示装置の検査装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】安価な装置構成により、適切な検査基準を与えることができ、製品の歩留まりを高めることができる表示装置の検査装置を提供する。
【解決手段】検査装置1は、CCDカメラ3および表示部6を有している。CCDカメラ3は、表示装置の電子放出素子18から放出された電子により励起された蛍光体層16を撮影する。表示部6は、撮影した蛍光体層16の画像を表示するとともに、蛍光体層に対するビームスポットを検査するための検査基準を与えるガイドを表示する。
【選択図】 図3
【解決手段】検査装置1は、CCDカメラ3および表示部6を有している。CCDカメラ3は、表示装置の電子放出素子18から放出された電子により励起された蛍光体層16を撮影する。表示部6は、撮影した蛍光体層16の画像を表示するとともに、蛍光体層に対するビームスポットを検査するための検査基準を与えるガイドを表示する。
【選択図】 図3
Description
この発明は、表示装置の検査装置に関する。
近年、表示装置として、電子放出素子を多数並べ、蛍光面と対向配置させた平面型表示装置の開発が進められている。薄型の表示装置としては、電界放出型の電子放出素子から放出された電子ビームにより蛍光体を発光させるフィールドエミッションディスプレイ(以下、FEDと称する)や表面伝導型電子放出素子の電子ビームにより蛍光体を発光させる表面伝導電子放出ディスプレイ(以下、SEDと称する)等が知られている(例えば、特許文献1参照)。
SEDは、一般に、所定の隙間を置いて対向配置された前面基板および背面基板を有し、これらの基板は、矩形枠状の側壁を介して周縁部同士を互いに接合することにより真空外囲器を構成している。真空外囲器の内部は、真空度が10−4Pa程度以下の高真空に維持されている。また、背面基板および前面基板に加わる大気圧荷重を支えるために、これらの基板の間には複数の支持部材が配設されている。
前面基板の内面には、赤、緑、青の複数の蛍光体層を含む蛍光面が形成され、背面基板の内側には、これらの蛍光体層を励起して発光させる電子を放出する多数の電子放出素子が設けられている。このため、電子放出素子および蛍光体層はそれぞれ一対一で対応して設けられ、画素を構成している。また、多数の走査線および信号線がマトリクス状に形成され、各電子放出素子に接続されている。
蛍光面にはアノード電圧が印加され、電子放出素子から出た電子ビームがアノード電圧により加速されて蛍光面に衝突することにより、蛍光体層が発光し映像が表示される。このようなSEDでは、前面基板と背面基板との隙間を数mm以下に設定することができ、現在のテレビやコンピュータのディスプレイとして使用されている陰極線管(CRT)と比較して、軽量化、薄型化を達成することができる。
上記したSEDを形成する際、前面基板および背面基板にパターンを良好に形成できない場合や、前面基板および背面基板を良好に貼り合せることができない場合がある。この場合、対応する電子放出素子と蛍光体層の位置がずれるため、電子放出素子から放出される電子ビームが蛍光体層に衝突するビームスポットの位置にもずれが生じる。ビームスポットは対応する蛍光体層の周縁部や隣りの蛍光体層に位置することになる。これにより、表示画像の色ずれや輝度ムラが生じてしまうため、色ずれや輝度ムラを生じた画素は欠陥の画素となる。欠陥の画素が検出された場合、その製品は分解されて破棄される。
上記したことから、ビームスポットの位置のずれを定量的に把握し、画素の欠陥の有無を検査する必要がある。このような画素の欠陥の有無を検査する方法として、蛍光体層に対するビームスポットの中心座標を計算し、蛍光体層の中心とビームスポットの中心とのずれ量を計算して検査する方法がある。蛍光体層の中心とビームスポットの中心とのずれ量が多い画素は、欠陥画素と判定できる。上記した検査は、検査装置を用いて自動的に行うことができるため、全ての画素の欠陥の有無を検査することができる。
特開2002−319346号公報
しかし、上記した従来の検査装置には、以下の点で問題がある。
すなわち、この検査装置は、一連の検査を自動的に行うため、複雑な演算処理が必要で、装置構成が高価となり、ひいては製品価格の高騰につながる。その他、検査の信頼性に欠ける問題もある。すなわち、蛍光体層に対するビームスポットが楕円状または円弧状の場合であれば、ビームスポットの中心を容易に演算で求めることができるが、蛍光体層に対するビームスポットの形状がいびつな場合、ビームスポットの中心を演算で求めることは困難である。
この発明は以上の点に鑑みなされたもので、その目的は、安価な装置構成により、適切な検査基準を与えることができ、製品の歩留まりを高めることができる表示装置の検査装置を提供することにある。
すなわち、この検査装置は、一連の検査を自動的に行うため、複雑な演算処理が必要で、装置構成が高価となり、ひいては製品価格の高騰につながる。その他、検査の信頼性に欠ける問題もある。すなわち、蛍光体層に対するビームスポットが楕円状または円弧状の場合であれば、ビームスポットの中心を容易に演算で求めることができるが、蛍光体層に対するビームスポットの形状がいびつな場合、ビームスポットの中心を演算で求めることは困難である。
この発明は以上の点に鑑みなされたもので、その目的は、安価な装置構成により、適切な検査基準を与えることができ、製品の歩留まりを高めることができる表示装置の検査装置を提供することにある。
上記課題を解決するため、本発明の態様に係る表示装置の検査装置は、複数の蛍光体層を含む蛍光面を有した前面基板と、前記前面基板と対向して配置され、前記各蛍光体層に対応した複数の電子放出素子が配置された背面基板と、を備えた表示装置の検査装置において、前記電子放出素子から放出された電子により励起された蛍光体層を撮影する撮影部と、前記撮影した蛍光体層の画像を表示するとともに、前記蛍光体層に対するビームスポットを検査するための検査基準を与えるガイドを表示する表示部と、を有していることを特徴としている。
この発明によれば、安価な装置構成により、適切な検査基準を与えることができ、製品の歩留まりを高めることができる表示装置の検査装置を提供することができる。
以下、図面を参照しながらこの発明に係る表示装置の検査装置をSEDの検査装置に適用した実施の形態について詳細に説明する。始めに、この検査装置によって検査されるSEDの構成を説明する。
図1および図2に示すように、このSEDは、絶縁基板としてそれぞれ矩形状のガラス板からなる前面基板11、および背面基板12を備え、これらの基板は所定の隙間を置いて対向配置されている。そして、前面基板11および背面基板12は、矩形枠状の側壁13を介して周縁部同士が接合され、内部が真空状態に維持された扁平な矩形状の真空外囲器10を構成している。
図1および図2に示すように、このSEDは、絶縁基板としてそれぞれ矩形状のガラス板からなる前面基板11、および背面基板12を備え、これらの基板は所定の隙間を置いて対向配置されている。そして、前面基板11および背面基板12は、矩形枠状の側壁13を介して周縁部同士が接合され、内部が真空状態に維持された扁平な矩形状の真空外囲器10を構成している。
真空外囲器10の内部には、前面基板11および背面基板12に加わる大気圧荷重を支えるため、複数のスペーサ14が設けられている。スペーサ14としては、板状あるいは柱状のスペーサ等を用いることができる。
前面基板11の内面上には、画像表示面として、赤、緑、青の蛍光体層16とマトリクス状の黒色遮光層17とを有した蛍光面15が形成されている。これらの蛍光体層16はストライプ状あるいはドット状に形成してもよい。この蛍光面15上には、アルミニウム膜等からなるメタルバック層20が形成され、更に、メタルバック層に重ねてゲッター膜22が形成されている。
背面基板12の内面上には、蛍光面15の蛍光体層16を励起する電子源として、それぞれ電子ビームを放出する多数の表面伝導型の電子放出素子18が設けられている。これらの電子放出素子18は、画素毎に対応して複数列および複数行に配列されている。このため、各画素は、一対一で対応する電子放出素子18および蛍光体層16を有している。
各電子放出素子18は、図示しない電子放出部、この電子放出部に電圧を印加する一対の素子電極等で構成されている。また、背面基板12の内面には、電子放出素子18に電位を供給する多数本の走査線21aおよび信号線21bがマトリック状に設けられ、その端部は真空外囲器10の外部に引出されている。
このようなSEDでは、画像を表示する場合、蛍光面15およびメタルバック層20にアノード電圧を印加し、電子放出素子18から放出された電子をアノード電圧により加速して蛍光面へ衝突させる。これにより、蛍光面15の蛍光体層16が励起されて発光し、カラー画像を表示する。
次に、上記したように構成されたSEDの検査装置およびこの検査装置を用いた検査方法について説明する。
図3に示すように、SEDを検査する検査装置1は、図示しない移動機構により上下方向に移動可能なステージ2を有している。このステージには、撮影部としてのCCDカメラ3が設けられている。ステージ2はCCDカメラ3を移動させる移動手段として機能する。CCDカメラ3はステージ2に沿って水平方向に移動でき、SEDの任意の蛍光体層16を撮影することができる。また、検査装置1は、制御部4、画像処理部5、表示部6、演算部8、および操作部9を有している。
図3に示すように、SEDを検査する検査装置1は、図示しない移動機構により上下方向に移動可能なステージ2を有している。このステージには、撮影部としてのCCDカメラ3が設けられている。ステージ2はCCDカメラ3を移動させる移動手段として機能する。CCDカメラ3はステージ2に沿って水平方向に移動でき、SEDの任意の蛍光体層16を撮影することができる。また、検査装置1は、制御部4、画像処理部5、表示部6、演算部8、および操作部9を有している。
制御部4は、CCDカメラ3によって撮影された画像を処理および格納する。また、制御部4は、処理された画像信号を画像処理部5および演算部8に伝送する。画像処理部5は、制御部4から伝送された画像信号を画像処理し、表示部6に伝送する。また、画像処理部5は、オペレータによる各種入力操作を受け付ける操作部9の操作により、表示画面7に表示された蛍光体層16の画像を移動させることが可能である。
表示部6は、表示画面7を有し、画像処理された画像信号により、蛍光体層16の画像を表示画面に表示する。また、表示画面7には、蛍光体層16の画像の他、後述するガイド等も表示可能である。演算部8は、表示画面7に表示された蛍光体層16のずれ量を計算(演算)する。演算部8で計算されたずれ量は、制御部4、および画像処理部5を介して表示部6に伝送され、表示画面7に表示可能である。
次に、上記のように構成された検査装置1によって検査されるSEDの検査方法について説明する。
図4および図5に示すように、ステップS1において、検査がスタートすると、まず、表示画面7を介して本発明のガイドとして、アライメントマーク31およびガイド枠32を表示する。また、蛍光面15に電子を衝突させ、蛍光体層16を発光させる。
図4および図5に示すように、ステップS1において、検査がスタートすると、まず、表示画面7を介して本発明のガイドとして、アライメントマーク31およびガイド枠32を表示する。また、蛍光面15に電子を衝突させ、蛍光体層16を発光させる。
ここで、アライメントマーク31は、表示画面7に表示される蛍光体層16の画像の位置合わせに用いられる。ガイド枠32は、蛍光体層16に対するビームスポット40を検査するための検査基準を与えるものである。より詳しくは、ガイド枠32は、表示画面7の4隅に表示されたアライメントマーク31の中央部に位置している。このため、ガイド枠32は、アライメントマーク31に隅を重ねた蛍光体層16の画像の略中央に位置するように表示される。
この実施の形態において、蛍光体層16に対するビームスポット40の形状は概ね楕円状であり、SED特有の形状である。すなわち、スリット状の電子放出部から放出される電子ビームの断面形状が細長いため、ビームスポットの形状も細長い楕円形状となる。このため、ガイド枠32の形状は、ビームスポット40の形状と略一致した楕円状に設定されている。より詳しくは、ビームスポット40は蛍光体層16(画素)に対して相対的に小さい。
続いて、ステップS2において、CCDカメラ3を用いて発光した蛍光体層16を撮影する。次いで、図4および図6に示すように、ステップS3において、撮影した蛍光体層16の画像を、表示部6の表示画面7に表示する。
その後、ステップS4において、蛍光体層16がアライメントマーク31に合っているか判断する。すなわち、蛍光体層16の画像の隅がアライメントマーク31に重なっているか判断する。蛍光体層16がアライメントマーク31に合っている場合、図5に示すステップS6に移行する。
蛍光体層16がアライメントマーク31に合っていない場合(図6)、図7に示すように、ステップS5において、表示画面7に表示された蛍光体層16の画像をアライメントマーク31に合わせる。より詳しくは、蛍光体層16の画像の隅がアライメントマーク31に重なるよう処理する。この場合、オペレータが操作部9を用いて操作することにより、表示画面7に表示される蛍光体層16の画像が画像処理部5で処理されて、アライメントマーク31に対して移動される。その後、ステップS6に移行する。
続いて、ステップS6において、蛍光体層16に対するビームスポット40がガイド枠32内に入っているか判断する。ビームスポット40がガイド枠32内に入っている場合(図7)は、その画素は良好であると判断され、ステップS9において、検査を終了する。
図8に示すように、ビームスポット40がガイド枠32内に入っていない場合は、ステップS7において、ビームスポットをガイドに合わせる。この場合、オペレータが操作部9を用いて操作することにより、表示画面7に表示される蛍光体層16の画像が画像処理部5で処理されて、ガイド枠32に対して移動される。すなわち、画像処理部5は、表示画面7に表示された蛍光体層16の画像およびガイド枠32を相対的に移動させる。これにより、図9に示すように、ビームスポット40はガイド枠32内に入った状態となる。その後、ステップS8に移行する。
ステップS8において、演算部8は、ステップS7でのビームスポット40のずれ量
を計算する。すなわち、ビームスポット40が表示された画像を図8に示した位置から図9に示した位置まで移動したときの移動量を計算する。そして、演算部8によって計算されたずれ量の計算結果は、制御部4および画像処理部5を介して表示部6に伝送され、表示画面7の判断基準表示領域Rに判断基準として表示される。
を計算する。すなわち、ビームスポット40が表示された画像を図8に示した位置から図9に示した位置まで移動したときの移動量を計算する。そして、演算部8によって計算されたずれ量の計算結果は、制御部4および画像処理部5を介して表示部6に伝送され、表示画面7の判断基準表示領域Rに判断基準として表示される。
上記したように、判断基準としてずれ量を表示することにより、オペレータの目視による判断のみに頼るのではなく、正確な判断基準を提供できる。例えば、ビームスポット40がガイド枠32内に入っていない場合(図8)であっても、ずれ量が僅かであり、規定値の範囲内であれば、その画素は良好であると判断することができる。ずれ量が規定値を超えている場合であれば、その画素は不良であると判断され、検査対象のSEDを分解して破棄し、検査を終了する(ステップS9)。
上記した検査は任意の1つの蛍光体層16を検査する検査方法について説明したが、複数の蛍光体層を検査する方が望ましい。このため、SEDを検査する際は、ステージ2によってCCDカメラ3を移動させ、上記した検査方法を用いて、複数の蛍光体層16を検査すれば良い。
以上のように構成された、SEDの検査装置によれば、表示画面7には、ビームスポット40、蛍光体層16、およびそのビームスポットの位置を検査するための検査基準を与えるガイド枠32を表示することができる。このため、電子放出素子18から放出された電子が対応する蛍光体層16に良好に照射されているか検査(判断)することができる。検査する際は、表示部6の表示画面7を目視すればよい。このため、従来の検査で行われていたビームスポット40についての複雑な計算を省くことができるため、検査時間を抑制することができる。
また、検査装置1の画像処理部5は表示されたビームスポット40の表示位置をずらすよう画像を処理している。より詳しくは、操作部9を用いて操作することにより、画像処理部5は画像をずらす。このため、検査を円滑に行うことができる。
上記したことから、安価な装置構成により、適切な検査基準を与えることができ、製品の歩留まりを高めることができる表示装置の検査装置を提供することができる。
上記したことから、安価な装置構成により、適切な検査基準を与えることができ、製品の歩留まりを高めることができる表示装置の検査装置を提供することができる。
なお、この発明は、上述した実施の形態に限定されることなく、この発明の範囲内で種々変形可能である。例えば、ガイド枠32の形状は、円弧状であっても良い。各画素は、二対一で対応する2つの電子放出素子18および蛍光体層16で構成されても良い。この場合、図10に示すように、1つの蛍光体層16に2つのビームスポット40が形成されることになる。そして、ガイド枠32の形状は、2つのビームスポット40を包含する楕円状または円弧状であれば良い。
図11に示すように、ビームスポット40の形状が勾玉状の場合、ガイド枠32の形状は、そのビームスポットと略一致した勾玉状であれば良い。この場合、ビームスポット40の中心41は、このビームスポットの外側に位置する場合もある。このため、ビームスポット40の形状がいびつであり、かつ、ビームスポットの中心41がこのビームスポットの外側に位置している場合であっても、精度良く画素の良否を判断することができる。
図12に示すように、ビームスポット40がガイド枠32内に入っていない場合であって、このビームスポットの中心41と蛍光体層16の中心とのずれ量が僅かな場合も想定される。しかしながら、この場合、ビームスポット40の中心41と蛍光体層16の中心とのずれ量から画素の良否を判断するのではなく、オペレータの目視による判断を採用する。これにより、従来の検査方法では不良と判断されていた製品であっても、良品として出荷できる場合も有り、製品歩留まりを向上させることが可能となる。
この発明は、SEDの検査装置およびこの検査装置を用いた検査方法に限定されることなく、表示装置の検査装置および表示装置の検査装置を用いた表示装置の検査方法として、FEDの検査装置およびFEDの検査装置を用いたFEDの検査方法にも適用することができる。
1…検査装置、2…ステージ、3…CCDカメラ、4…制御部、5…画像処理部、6…表示部、7…表示画面、8…演算部、9…操作部、10…真空外囲器、11…前面基板、12…背面基板、15…蛍光面、16…蛍光体層、17…遮光層、18…電子放出素子、31…アライメントマーク、32…ガイド枠、40…ビームスポット、R…判断基準表示領域。
Claims (6)
- 複数の蛍光体層を含む蛍光面を有した前面基板と、前記前面基板と対向して配置され、前記各蛍光体層に対応した複数の電子放出素子が配置された背面基板と、を備えた表示装置の検査装置において、
前記電子放出素子から放出された電子により励起された蛍光体層を撮影する撮影部と、前記撮影した蛍光体層の画像を表示するとともに、前記蛍光体層に対するビームスポットを検査するための検査基準を与えるガイドを表示する表示部と、を有していることを特徴とする表示装置の検査装置。 - 前記ガイドは、前記撮影部で撮影した蛍光体層の画像を検査位置に位置合わせするためのアライメントマーク、および前記ビームスポットを前記検査位置に位置合わせされた画像の略中央に位置合わせするためのガイド枠を含むことを特徴とする請求項1に記載の表示装置の検査装置。
- オペレータによる各種入力操作を受け付ける操作部と、
この操作部を用いた入力操作に応じて、前記表示部を介して表示した前記画像およびガイドを相対的に移動する画像処理部と、
をさらに有していることを特徴とする請求項1または2に記載の表示装置の検査装置。 - 前記表示部は、前記ガイドを表示画面上の所定位置に予め表示し、
前記画像処理部は、前記撮影部で撮影した画像を前記予め表示したガイドに合わせるように移動させることを特徴とする請求項3に記載の表示装置の検査装置。 - 前記画像処理部における画像の移動量に基づいて前記ビームスポットのずれ量を演算する演算部をさらに有していることを特徴とする請求項3に記載の表示装置の検査装置。
- 前記表示部は、オペレータに対して判断基準を与えるため、前記演算部における演算結果を表示することを特徴とする請求項5に記載の表示装置の検査装置。
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JP2008292599A (ja) * | 2007-05-22 | 2008-12-04 | Panasonic Corp | 表示パネル生産装置およびその方法 |
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2004
- 2004-06-25 JP JP2004187928A patent/JP2006012594A/ja active Pending
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