JP2006011744A - 不良再発防止装置、不良再発防止方法、プログラムおよび記録媒体 - Google Patents

Abstract

【課題】 対策を実施する際に不具合の解消方法を実施状況と併せて蓄積して解消方法の見直しや改善を行なうことによって、評価項目やチェックポイントの追加や改善を短期間で行なうことができる不良再発防止装置を提供する。
【解決手段】 抽出機能部１２は、データベース群３０に保存されている情報を取得して品質情報ＤＢ１１に保存し、保存した情報から不良が発生する可能性が高い部品または原因を特定する。表示機能部１３は、抽出機能部１２で特定された部品または原因と、その部品または原因に対応する解消方法とを端末装置２０に送信して表示する。確認機能部１４は、端末装置２０から送信された確認結果、たとえば、特定された部品または原因に対応する解消方法の実施状況などの確認結果を品質情報ＤＢ１１に保存し、更新機能部１５は、端末装置２０から送信された解消方法の追加情報を品質情報ＤＢ１１に保存する。
【選択図】 図１

Description

本発明は、製品の企画・開発から生産および市場における不具合や故障の情報に基づいて、製品の企画から開発段階における開発課題・設計課題を明確にして、課題への対応を確実に行えるようにすることによって、製品の品質を高めることができる不良再発防止装置、不良再発防止方法、プログラムおよび記録媒体に関する。

製品開発においては、性能向上やコストダウンを図るべく開発が進められている。しかしながら、市場に提供した製品に不具合が発生すると、その不具合を対策するために多くのコストと人員が必要となり、また、製品の生産においては、対策品への切り替えやソフトウェアのバージョンアップの実施などが必要となり、生産に大きな支障をきたすことになる。さらに、市場においては、製品のイメージダウンのみならず、不具合が発生する製品を供給した企業の信用を大きく損なうことになり、企業の存続自体が危機的な状況になることもあり得る。万が一、市場で製品に不具合が発生した場合は、何よりも迅速な対応を実施することで、企業の信用損失を最小限に抑えることが重要である。さらに、発生した不具合とその不具合への対応結果を、製品開発にフィードバックし、市場で発生する不具合を未然に防止することで、製品や企業のイメージを回復させることが必要不可欠である。

市場で製品に不具合が発生した場合の対応を支援する第１の従来技術として、製品の故障に関する情報を蓄積し、蓄積した故障に関する情報を用いて、故障の現象もしくは故障原因の発生頻度もしくは発生確率を算出し、算出した結果に基づいて、端末装置から送信された故障に関する情報に対して、製品の故障個所を推定し、推定した故障個所に関する情報を、故障の発生頻度もしくは発生確率の情報と共に、製品の故障に関する情報が入力された端末装置の画面に表示する品質情報収集診断システムがある（たとえば、特許文献１参照）。

また、発生した製品の不具合とその不具合への対応結果を製品開発にフィードバックする第２の従来技術として、製品設計仕様案と、既に試作された製品の試作仕様と、試作仕様毎の不良情報を含む試作デ−タを管理し、製品設計仕様案を評価する評価項目のそれぞれに対して、解析を行なうためのシミュレ−ションプログラムを備えておき、また、製品設計仕様案から製品の特徴量を抽出し、類似する特徴量を有する試作デ−タから、評価項目と不良現象との関係、および、設計諸元と評価項目との関係を求め、それらの関係から不良現象、評価項目及び設計諸元の３要素間の関係である不良因果関係を生成する。さらに、生成された不良因果関係から不良発生率の大小、設計制約の強弱、諸元修正の難易のうち少なくとも１つを考慮して、解析すべき評価項目の順序を生成し、生成された順序に従って、シミュレ−ションプログラムを用いて評価項目の解析を行ない、この解析結果に基づいて入力された製品設計仕様案の設計諸元の値の修正の要否を判定することによって設計案の評価を行なう製品設計仕様評価システムがある（たとえば、特許文献２参照）。

また、市場で発生した製品の不具合を解析し、製品開発にまで反映させることを支援する第３の従来技術として、生産現場や市場を複数の工程または場面に区分しておき、区分毎に発生する不具合から共通項目を抽出し、各不具合を共通項目に対応して設定される問題単位に分類して集約し、問題単位毎に品質問題を解析して、対策および歯止めを担当者に指示する品質問題フォロー方法を提案している（たとえば、特許文献３参照）。

特許第２９８５５０５号公報 特許第２９８７０３２号公報 特開２００３−１８７０６９号公報

さらに、製品開発のスピードが速くなり、かつ、製品の機能構成や構造が大きく変化しており、製品の不具合への対応を確実に製品開発に反映する必要性が高まっている。その要求に応えるためには、製品の不具合をより短期間で解析して製品開発にフィードバックすると共に、製品開発にフィードバックするためには、設定された評価項目やチェックポイントの追加や改善も短期間で行なう必要がある。

しかしながら、第１の従来技術は、機器の修理実績などの品質に関する情報を収集しておき、収集した品質に関する情報に基づいて、機器の故障診断を行い、迅速な修理の実施を可能にしたものであり、第２の従来技術は、過去のデータから導かれた評価項目に基づいて検討中の設計仕様を判定することを可能としたものであり、また、第３の従来技術は、発生した製品の不具合の対策についての経験を、設計のための事前不具合チェック項目データベースに反映し、製品開発のプロセスでチェックしたことを確実にフォローするものであり、従来技術により不具合の情報から設計者に改善すべき新たな課題を提示することは可能であるが、不具合の解消方法の見直しや改善を短期間で行なうことができるものではないという課題がある。

本発明の目的は、不具合の情報から設計者に改善すべき新たな課題を提示するとともに確実に対策が実施されていることを確認することに加えて、対策を実施する際に不具合の解消方法を実施状況と併せて蓄積して解消方法の見直しや改善を行なうことによって、評価項目やチェックポイントの追加や改善を短期間で行なうことができる不良再発防止装置、不良再発防止方法、プログラムおよび記録媒体を提供することである。

本発明は、過去に設計した製品で発生した不良の内容を示す不良情報と、前記不良を解析して得られた不良要因と、前記不良要因を解消することができる情報を示す第１の解消情報とを含む品質情報を記憶する記憶手段と、
前記記憶手段で記憶された品質情報に基づいて、不良が発生する可能性が高い不良要因を不良の発生頻度によって特定する特定手段と、
前記特定手段で特定された不良要因と、前記特定された不良要因に対応する第１の解消情報とを、データの入出力が行なわれる端末装置に表示する表示手段と、
前記表示手段によって表示された不良要因および第１の解消情報に対して、製品設計の段階で実施される解消情報として入力された第２の解消情報を、前記端末装置から受領して前記記憶手段で記憶された品質情報に追加する追加更新手段と、
製品設計の所定の段階で、前記第２の解消情報について前記端末装置から入力された確認結果を受領することによって、前記第２の解消情報が前記第２の解消情報に対応する不良要因を解消していることを確認する確認手段とを含んで構成されることを特徴とする不良再発防止装置である。

本発明に従えば、まず、記憶手段によって、過去に設計した製品で発生した不良の内容を示す不良情報と、前記不良を解析して得られた不良要因と、前記不良要因を解消することができる情報を示す第１の解消情報とを含む品質情報が記憶され、特定手段によって、前記記憶手段で記憶された品質情報に基づいて、不良が発生する可能性が高い不良要因が不良の発生頻度によって特定され、表示手段によって、前記特定手段で特定された不良要因と、前記特定された不良要因に対応する第１の解消情報とが、データの入出力が行なわれる端末装置に表示される。

次に、追加更新手段によって、前記表示手段によって表示された不良要因および第１の解消情報に対して、製品設計の段階で実施される解消情報として入力された第２の解消情報が、前記端末装置から受領されて前記記憶手段で記憶された品質情報に追加され、確認手段によって、製品設計の所定の段階で、前記第２の解消情報について前記端末装置から入力された確認結果を受領することによって、前記第２の解消情報が前記第２の解消情報に対応する不良要因を解消していることが確認される。

このように、特定された不良が発生する可能性の高い不良要因となった部品、基板、またはユニット、あるいは原因と、併せて不良の解消方法とを提示することで、不良の発生を予測して、対策を行なうことができる。さらに、対策の実施状況を製品設計の各段階で確認することができるので、対策の実施を確実に行なうことができる。つまり、不具合の情報から設計者に改善すべき新たな課題を提示するとともに確実に対策が実施されていることを確認することができるので、製品の品質を高め、不良の再発を防止することができる。

また本発明は、前記不良再発防止装置は、過去に設計した製品の構成を示す構成情報と設計を行っている製品の構成を示す構成情報とを比較して、同じ構成部分を抽出する構成抽出手段を含み、
前記表示手段は、前記特定手段で特定された不良要因のうちで、前記構成抽出手段で抽出された同じ構成部分に含まれる不良要因と、前記同じ構成部分に含まれる不良要因に対応する第１の解消情報とを優先して表示することを特徴とする。

本発明に従えば、過去に設計した製品の構成を表す構成情報と設計を行っている製品の構成を表す構成情報とを比較して、同じ構成部分を抽出しているので、設計を行っている機種の構成に関連する既知の不具合事例のみを表示することができる。

また本発明は、前記追加更新手段は、追加された第２の解消情報、および／または更新された第２の解消情報を前記端末装置から受領したとき、前記記憶手段に記憶された第２の解消情報に前記受領した第２の解消情報を追加、および／または更新することを特徴とする。

本発明に従えば、製品設計を行なっている製品での実施状況を入力するほかに、新たな解消方法と実施状況を追加入力できるようにしたので、新たな製品設計を行なう際に、解消方法の見直しや改善を製品設計のプロセス中に行なうことができ、つまり、不良に対する解消方法を常に最新の内容に維持することができ、不良を未然に防ぐことができる。また、対策を実施する際に不具合の解消方法を実施状況と併せて蓄積して解消方法の見直しや改善を行なうことによって、評価項目やチェックポイントの追加や改善を短期間で行なうことができるので、製品の品質を高め、不良の再発を防止することができる。

また本発明は、過去に設計した製品で発生した不良の内容を示す不良情報と、前記不良を解析して得られた不良要因と、前記不良要因を解消することができる情報を示す第１の解消情報とを含む品質情報を記憶する記憶工程と、
前記記憶工程で記憶された品質情報に基づいて、不良が発生する可能性が高い不良要因を不良の発生頻度によって特定する特定工程と、
前記特定工程で特定された不良要因と、前記特定された不良要因に対応する第１の解消情報とを、データの入出力が行なわれる端末装置に表示する表示工程と、
前記表示工程によって表示された不良要因および第１の解消情報に対して、製品設計の段階で実施される解消情報として入力された第２の解消情報を、前記端末装置から受領して前記記憶工程で記憶された品質情報に追加する追加更新工程と、
製品設計の所定の段階で、前記第２の解消情報について前記端末装置から入力された確認結果を受領することによって、前記第２の解消情報が前記第２の解消情報に対応する不良要因を解消していることを確認する確認工程とを含んで構成されることを特徴とする不良再発防止方法である。

本発明に従えば、まず、記憶工程で、過去に設計した製品で発生した不良の内容を示す不良情報と、前記不良を解析して得られた不良要因と、前記不良要因を解消することができる情報を示す第１の解消情報とを含む品質情報を記憶し、特定工程で、前記記憶工程で記憶された品質情報に基づいて、不良が発生する可能性が高い不良要因を不良の発生頻度によって特定し、表示工程で、前記特定工程で特定された不良要因と、前記特定された不良要因に対応する第１の解消情報とを、データの入出力が行なわれる端末装置に表示する。

次に、追加更新工程で、前記表示工程によって表示された不良要因および第１の解消情報に対して、製品設計の段階で実施される解消情報として入力された第２の解消情報を、前記端末装置から受領して前記記憶工程で記憶された品質情報に追加し、確認工程で、製品設計の所定の段階で、前記第２の解消情報について前記端末装置から入力された確認結果を受領することによって、前記第２の解消情報が前記第２の解消情報に対応する不良要因を解消していることを確認する。

このように、特定された不良が発生する可能性の高い不良要因となった部品、基板、またはユニット、あるいは原因と、併せて不良の解消方法とを提示することで、不良の発生を予測して、対策を行なうことができる。さらに、対策の実施状況を製品設計の各段階で確認することができるので、対策の実施を確実に行なうことができる。つまり、不具合の情報から設計者に改善すべき新たな課題を提示するとともに確実に対策が実施されていることを確認することができるので、製品の品質を高め、不良の再発を防止することができる。

また本発明は、コンピュータを前記不良再発防止装置として機能させるためのプログラムである。

本発明に従えば、前記不良再発防止装置としての機能を、コンピュータに実行させるためのプログラムとして実現することができる。

また本発明は、前記プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体である。
本発明に従えば、前記不良再発防止装置としての機能を、コンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体として実現することができる。

本発明によれば、不具合の情報から設計者に改善すべき新たな課題を提示するとともに確実に対策が実施されていることを確認することができ、加えて、対策を実施する際に不具合の解消方法を実施状況と併せて蓄積して解消方法の見直しや改善を行なうことによって、評価項目やチェックポイントの追加や改善を短期間で行なうことができるので、製品の品質を高め、不良の再発を防止することができる。

また本発明によれば、過去に設計した製品の不良である不良情報と、不良を発生させる可能性の高い不良要因、たとえば、部品や原因を特定した情報を含む解析情報と、不良の解消方法を表す対策情報とに基づいて、既知の不具合事例を抽出して表示することが可能となり、抽出された不具合事例を製品の開発着手時より利用することで不良の解消方法を考慮した設計が行なえるようになり、不良の再発を防止するだけでなく、開発過程における不良を解消するために発生する手戻りを減少させることができる。

また本発明によれば、製品の開発過程で不具合事例を確認することによって不良の再発を防止するだけでなく、不具合事例を確認した際に、新たな設計留意点を追加して蓄積することよって、解消方法が見直されると同時に設計の知恵も併せて蓄積されるので、設計の知恵を伝えることができる。

図１は、本発明の実施の一形態である不良再発防止装置１０の概略の構成を示す図である。不良再発防止装置１０は、コンピュータによって実現され、ユーザが不良防止再発装置１０に指示するデータなどを入力するキーボードやマウスなどを含む入力部と、不良防止再発装置１０からのデータを表示するディスプレイなどの出力部とを含んで構成されるパーソナルコンピュータで実現される端末装置２０、および、図示しない記憶装置、たとえばディスク装置などの記録装置によって構成されるデータベース群３０と、専用のインタフェースやインターネットなどのネットワークを介して接続されている。

データベース群３０は、過去に設計した製品で発生した不良の内容を示す不良情報を記憶する不良情報ＤＢ（Database）３１と、不良を解析して得られた不良要因を含む解析情報を記憶する解析情報ＤＢ３２と、不良要因を解消することができる情報を示す第１の解消情報、つまり、不良要因を解消した解消方法を含む対策情報を記憶する対策情報ＤＢ３３とを含んで構成される。

また、不良再発防止装置１０は、品質情報ＤＢ１１、抽出機能部１２、表示機能部１３、確認機能部１４、および更新機能部１５を含んで構成される。品質情報ＤＢ１１は、不良再発防止装置１０を構成する図示しない記憶装置、たとえばディスク装置などの記録装置に記録されたデータベースであり、データベース群３０から取得した情報を保存する。

抽出機能部１２は、データベース群３０に保存されている不良情報、解析情報、および対策情報などの情報を取得して品質情報ＤＢ１１に保存し、保存した情報から不良が発生する可能性が高い不良要因、たとえば、部品または原因を特定する。表示機能部１３は、抽出機能部１２で特定された部品または原因と、その部品または原因に対応する解消方法とを端末装置２０に送信して画面２１に表示する。更新機能部１５は、表示された部品または原因と、その部品または原因に対応する解消方法に対して、技術者が端末装置２０から入力した第２の解消方法、つまり、製品設計の段階で実施される解消方法を品質情報ＤＢ１１に保存する。

製品設計の所定の段階で、たとえば、複数の段階の各段階で、技術者が、製品設計の段階で実施される解消方法について実施している実施内容を、たとえば、特定された部品または原因に対応する解消方法についての設計値または実施状況などの実施内容を確認結果として端末装置２０から入力すると、確認機能部１４は、製品設計の段階で実施される解消方法について対策が実施されたことの確認が完了したことを示す情報を品質情報ＤＢ１１に保存するとともに、確認が完了したことを示す情報を端末装置２０に表示する。

不良情報ＤＢ３１に含まれる不良情報は、生産または市場において発生した製品の不良を表す故障情報、または製品の開発における試作品の不具合を表す試作問題の情報を少なくとも１つ含んでいる。故障情報は、管理用ＩＤ番号と、機種名と、製造番号または管理番号と、不良の発生した日時を表す受付日または発生日時と、不良の内容を表す不良内容とを含んでいる。試作問題の情報は、機種名と、管理番号と、不良の発生した日時を表す受付日または発生日時と、試作問題の内容を表す不良内容とを含んでいる。また、不良情報は、予め設定された不良の特徴を分類したテーブルを参照して、不良の特徴を表す分類項目またはキーワードが付与されている。

解析情報ＤＢ３２に含まれる解析情報は、管理用ＩＤ番号と、原因となった部品、基板、またはユニットの情報を含んでおり、さらに原因の特徴を表す分類項目またはキーワードを含んでいる。

対策情報ＤＢ３３に含まれる対策情報は、解析情報の管理用ＩＤ番号と、原因の解消方法を含んでいる。

抽出機能部１２は、解析情報に含まれている原因となった部品、基板、またはユニットと付与された不良の原因の特徴を表す分類項目またはキーワードを利用して集計することで、多数の不良情報を集約し、集計した結果を一覧表として表示、あるいは出力する。このように、分類項目またはキーワードを利用して集計することによって、発生頻度の高い、つまり、不良が発生する可能性の高い原因となった部品、基板、またはユニット、あるいは原因といった不良要因を特定することができる。

以下、市場において発生した製品の不良情報を例に説明する。過去に設計し、市場に販売した製品に、故障や動作の不具合などの不良が発生すると、お客様は、不良が発生した製品を、販売店やサービスセンターに持ち込まれる。持ち込まれた製品は、販売店やサービスセンターの修理受付担当者によって、故障や動作の不具合の確認作業が実施される。修理受付担当者は、不良を確認した製品について、不良が発生しているとして修理の受付けを行ない、確認した不良の内容を修理伝票に記録する。この修理伝票に記録される情報としては、製品を特定する機種名、製造番号、受付日時、および不良を表す不良内容が少なくとも含まれている。修理受付担当者は、不良が発生した製品と修理伝票とをセットにして、サービスセンターの修理担当者に送る。

サービスセンターの修理担当者は、修理伝票に記載されている不良が、送られてきた製品で発生するか否かの確認を行ない、修理伝票に記載されている不良現象と修理担当者の所見としての不良内容とを修理管理票に記録する。引き続き、修理担当者は、不良箇所の調査を行ない、不良を発生させている原因となる部品、基板、またはユニットを特定する。修理担当者は、特定した部品、基板、またはユニットの交換や修理を行なった後、不良が解消されたことを確認する。修理担当者は、不良が解消されたことを確認すると、不良を発生させている原因となった部品、基板、またはユニットと、推定される原因とを修理管理票に記録する。

この修理管理票に記録される情報としては、修理伝票に記載されている製品を特定する機種名、製造番号、受付日時、不良を表す不良内容、修理担当者が確認した不良内容、不良を発生させる原因となった部品、基板、またはユニットを特定する部品名称、部品番号、または参照番号のいずか１つ以上、修理担当者が推定した原因、および修理を完了した完了日時が少なくとも含まれている。

修理が完了した製品は、修理担当者から、修理明細票が追加された修理伝票とともに、受け付けられた販売店やサービスセンターを通じて、お客様に届けられる。

修理が完了した製品の修理管理票は、毎日、修理管理者によって収集され、修理管理者は、ネットワークで接続された端末装置を利用して、修理管理票の記載内容を修理実績としてデータベースである不良情報ＤＢ３１に入力する。修理管理者が入力を行なう際に、不良内容と推定した原因とは、予め設定されたコードを用いて簡便に入力が行なえるようになっている。修理実績として入力された情報は、データベース不良情報ＤＢ３１に蓄積されると共に、不良情報として公開される。

製品の不良を発生させる基となった部品、基板、またはユニットは、部品、基板、またはユニットの不良発生原因を究明するために、製品を開発した開発事業部へ送付される。また、不良を発生した製品が品質を特別に監視する品質監視対象製品に該当する場合は、不良を発生した製品は、新しい製品と交換させていただくことによって修理を完了し、不良が発生した製品は、受付けされた修理伝票が付けられて、不良の原因究明のため、開発した開発事業部へ送付される。

不良の原因究明のために、開発事業部に送付された不良の基となった部品、基板、またはユニット、あるいは不良を発生した製品は、開発事業部の技術者によって解析が行なわれる。解析を行なった技術者は、解析した結果を端末装置２０からデータベースである解析情報ＤＢ３２に入力する。入力された解析結果などの情報は、解析情報ＤＢ３２に蓄積されると共に、解析情報として公開される。

この解析情報は、少なくとも、上述した不良情報と、特定された不良発生箇所を表す部品、基板、またはユニットを特定する部品名称、部品番号、または参照番号のいずれか１つ以上と、発生原因と、解析内容とを含んでいる。

開発事業部の技術者は、解析情報によって、製品に不良が発生する原因もしくは製品に不良が発生する可能性が高い原因を発見した場合は、不良の発生原因を解消する解消方法について検討を行ない、解消方法を策定する。開発事業部の技術者は、策定した解消方法を対策情報として端末装置からデータベースである対策情報ＤＢ３３に入力する。入力された対策情報は、対策情報ＤＢ３３に蓄積されると共に公開される。この対策情報は、少なくとも、上述した解析情報と不良を解消するための解消方法とを含んでいる。

上述した実施の形態では、不良情報、解析情報、および対策情報の管理担当部門が異なるために、不良情報、解析情報、および対策情報を個別のデータベースとして管理しているが、相互に重複する情報が含まれており、各データベースを統合して１つのデータベースで不良情報、解析情報、および対策情報が蓄積されてもよい。

不良情報ＤＢ３１から取得された不良情報の一例を表１に示す。表１の各項目の内容を以下に示す。

１）ＩＤ（Identification）番号・・・不良情報を一意に識別するために付けられた管理用識別番号
２）受付日・・・修理を受け付けた日時
３）機種名・・・製品の種類を表す名称
４）製造番号・・・製品１つ１つを識別するため、製造時に付けられた固有の番号
５）現象・・・製品の不良の特徴を表したコード
６）現象内容・・・お客様が製品の不良について説明された内容の詳細
７）修理内容・・・修理担当者が行なった修理の内容の詳細
８）原因・・・修理担当者が推定した原因の特徴を表したコード
９）原因内容・・・修理担当者が推定した原因の内容の詳細
１０）部品・・・修理・交換した部品またはユニットを示す部品コード
１１）修理完了日・・・修理が完了した日時

この例では、製品の不良の特徴を表したコードは「１１０１」であり、内容としては「電源が入らない」を表している。不良の特徴を表したコードに対して、予め設定された現象分類項目の例を表２に示す。各項目の内容を以下に示す。

１）現象大分類・・・不良の特徴を大まかにまとめる項目
２）現象中分類・・・不良の特徴を表した項目
３）現象コード・・・表１「５）現象」に相当し、製品の不良の特徴を表したコード

この例では、推定された原因の特徴を表したコードは「Ｚ０３」であり、内容としては「接触不良」を表している。原因の特徴を表したコードに対して、予め設定された原因分類項目の例を表３に示す。各項目の内容を以下に示す。

１）原因大分類・・・原因の特徴を大まかにまとめる項目
２）原因中分類・・・原因の特徴を表した項目
３）原因コード・・・表１「８）原因」に相当し、原因の特徴を表したコード

不良情報ＤＢ３１から取得された情報のコードに対応した分類項目が設定される。
次に、解析情報ＤＢ３２から取得された解析情報の一例を表４に示す。各項目の内容を以下に示す。

１）ＩＤ番号・・・解析情報を一意に識別するためにつけられた管理用識別番号
２）機種・・・製品の種類を表す名称
３）処理票番号・・・修理を受け付けた際に作成される帳票の番号
４）販売店地域・・・修理を受け付けた販売店の地域を表す
５）受付現象コード・・・受付時に付けられた製品の不良の特徴を表したコード
６）受付現象大分類・・・５）を基に表２より設定される項目
７）受付現象中分類・・・５）を基に表２より設定される項目
８）受付現象小分類・・・修理受付担当者が製品の不良について補足説明する項目
９）申告所見＿受入者・・・お客様が製品の不良について説明された内容の詳細
１０）申告所見＿解析者・・・解析担当者が製品の不良について説明した内容の詳細
１１）製造番号・・・製品１つ１つを識別するため、製造時に付けられた固有の番号
１２）実機受入日・・・修理を受け付けた日時
１３）現象大分類・・・解析担当者が表２より設定する項目
１４）現象中分類・・・解析担当者が表２より設定する項目
１５）現象小分類・・・解析担当者が製品の不良について補足説明する項目
１６）現象補足・・・解析担当者が製品の不良について補足説明した内容
１７）部品大分類・・・部品を種類別に分ける大項目
１８）部品中分類・・・部品を種類別に分ける中項目
１９）部品小分類・・・部品を種類別に分ける小項目
２０）部品補足・・・部品を種類別に分ける際に補足説明する項目
２１）Ｒｅｆ． Ｎｏ．（Reference Number）・・・各部品やユニットに付けられた製品単位での管理用番号
２２）部品コード・・・部品に対して付けられた固有の社内管理用のコード
２３）原因大分類・・・解析担当者が表３より設定する項目
２４）原因中分類・・・解析担当者が表３より設定する項目
２５）原因小分類・・・解析担当者が追加する原因の特徴を表す項目
２６）原因補足・・・解析担当者が追加する原因について詳細に説明した内容
２７）解析内容・・・解析担当者が解析の経過及び結果について詳細に説明した内容
２８）原因特定・・・解析担当者が解析の結果、原因が特定できたか否かを表す項目
２９）再現性・・・解析担当者が現象を再現できたか否かを表す項目
３０）ユーザ責任・・・解析の結果、不良発生の原因がお客様にあると推定されることを表す項目
３１）ソフトＶｅｒ．（Version）・・・製品が使用しているソフトウェアのバージョン番号
３２）解析依頼日・・・解析者に解析を依頼した日時
３３）解析完了日・・・解析者が解析を完了した日時

不良情報と同様に解析情報についても、現象分類項目と原因分類項目が設定されている。

さらに、対策情報ＤＢ３３から取得された対策情報の特徴部分の一例を表５に示す。各項目の内容を以下に示す。

１）ＩＤ番号・・・対策情報を一意に識別するためにつけられた管理用識別番号
２）対策大分類・・・担当者が追加する原因の特徴を大まかにまとめる項目
３）対策中分類・・・担当者が追加する原因の特徴をまとめる項目（任意）
４）対策小分類・・・担当者が追加する原因の特徴の詳細を表す項目（任意）
５）対策補足・・・対策内容の詳細についての説明

不良情報ＤＢ３１から取得された不良情報や解析情報ＤＢ３２から取得された解析情報と同様に、対策情報ＤＢ３３から取得された対策情報についても現象分類項目と原因分類項目が設定される。取得された解析情報に設定された分類項目を利用し、まず大分類項目で同じ分類項目毎にグループ分けを行なう。続いて大分類項目で分けられたグループ内で同じ中分類項目毎にグループ分けを行なう。さらに中分類項目で分けられたグループ内で小分類項目毎にグループ分けを行なう。

グループ分けを行なう分類項目は任意に設定することが可能であるが、本実施の形態では、現象の大分類項目と中分類項目、原因の大分類項目と中分類項目を利用してグループ分けを行なった例を表６に示す。各項目の内容を以下に示す。

１）件数・・・グループ分けしたときのそのグループに属する解析情報の件数
２）現象大分類・・・解析担当者が表２より設定する項目
３）現象中分類・・・解析担当者が表２より設定する項目
４）現象小分類・・・解析担当者が製品の不良について補足説明する項目
５）Ｒｅｆ． Ｎｏ．・・・各部品やユニットに付けられた製品単位での管理用番号
６）原因大分類・・・解析担当者が表３より設定する項目
７）原因中分類・・・解析担当者が表３より設定する項目
８）原因小分類・・・解析担当者が追加する原因の特徴を表す項目
９）対策内容・・・開発事業部の技術者が設定する解消方法

グループを作成する際に、各グループに分けられた解析情報の件数を多い順に表示することで、発生頻度が高い、つまり、不良を発生する可能性が高い部品や原因を特定している。また、解析情報の件数を多い順に表示させるに際しては、作成されたグループに含まれる解析情報の件数が予め設定された件数ｎ以下の場合は、発生する可能性が低いとして表示させない手段を設けており、提示される解析情報を必要以上に増加させないようにできる。なお、本実施の形態では、件数ｎ＝１に設定している。

解析情報から不良を発生する可能性が高い部品や原因を特定する際に、不良を発生する可能性が高いと特定された部品や原因について、解析情報に関連した対策情報は、管理用識別番号（ＩＤ番号）を使用して、対策情報ＤＢ３３から取得した対策情報から解消方法を取得する。

解析情報から不良を発生する可能性が高いとして特定された部品や原因については、既知の不具合事例として不良を発生する可能性が高い部品や原因を含む解析情報と、部品や原因によって発生した製品の不良の内容を表す不良情報と、不良を発生する可能性が高い部品や原因の解消方法を表す対策情報とをデータベースである品質情報ＤＢ１１に蓄積する。

品質情報ＤＢ１１に蓄積された不良を発生する可能性が高い部品や原因の解消方法は、応急的な解消方法（第１の解消情報）である。品質情報ＤＢ１１に蓄積された既知の不具合事例について、開発事業部の技術者は、恒久的な解消方法（第２の解消情報）の検討を行ない、製品不良を防止するための検査基準、製品開発における設計の目安としての設計ガイドライン、設計ポイント、あるいは設計留意点、製品開発において遵守しなければならない設計基準のうちのいずか１つ以上を設け、不具合事例の解消方法に検査基準や設計留意点や設計基準を追加して品質情報ＤＢ１１に蓄積する。

品質情報ＤＢ１１に蓄積された不良を発生する可能性が高い部品や原因の解消方法と、その部品や原因によって発生した製品の不良を表す不良情報と、解消方法に検査基準や設計留意点や設計基準を追加した不具合事例の一例を表７に示す。各項目の内容を以下に示す。

１）Ｎｏ．（Number）・・・不具合事例の表示Ｎｏ．
２）区分１・・・不具合事例の分類を表す項目（必須）
３）区分２・・・不具合事例の特徴を表す項目（任意）
４）区分３・・・不具合事例の特徴を表す項目（任意）
５）事故事例（問題点）・・・過去に発生した製品における不良の内容
６）チェックポイント・・・解消方法の要点
７）試験基準値・・・製品に不良が発生するかを評価するための基準
８）設計基準値・・・設計において製品の不良を防止するための基準
９）発生機種・・・過去に不良を発生した製品の形式・型番

次に既知の不具合事例を利用する一例について説明する。製品開発を行なう設計者は、製品設計を行なう際に、過去に設計した製品について市場で発生した不良の再発を防止するため、既知の不具合事例の確認を行ない、対策が行なわれていることを確認しなければならない。本実施の形態では、製品設計着手時と、製品設計完了時と、製品開発が完了し出荷前の確認時との３度確認が行なわれる。

品質情報ＤＢ１１に蓄積され、設計者が確認を行なう際に表示される既知の不具合事例の一例を表８に示す。各項目の内容を以下に示す。

１）Ｎｏ．・・・不具合事例の表示Ｎｏ．
２）区分１・・・不具合事例の分類を表す項目（必須）
３）事故事例（問題点）・・・過去に発生した製品における不良の内容
４）チェックポイント・・・解消方法の要点
５）試験基準値・・・製品に不良が発生するかを評価するための基準
６）設計基準値・・・設計において製品の不良を防止するための基準
７）判定・・・製品開発の各確認時において、設計者が不具合事例の解消状況
８）設計留意点・・・設計者が解消方法を実施する際の要点
９）状況・・・製品設計における設計留意点の実施内容

図２は、本発明の実施の一形態である不良再発防止装置１０が端末装置２０の画面２１に表示する既知の不具合事例の一例を示す図である。この既知の不具合事例は、不良再発防止装置１０とネットワークを介して接続された端末装置２０を通じて設計者に提示される。

画面２１には、画面の題名４０ａ、副題４０ｂ、選択バー４０ｃ、および不具合事例の項目蘭４０ｄ〜４０ｌとそれぞれの項目に対するＮｏ．１の不良事例の内容が示されており、４０ｄは、「Ｎｏ．」、４０ｅは、「区分１」、４０ｆは、「事故事例（問題点）」、４０ｇは、「チェックポイント」、４０ｈは、「試験基準値」、４０ｉは、「設計基準値」、４０ｊは、「判定」、４０ｋは、「設計留意点」、および４０ｌは、「状況」である。この例では、Ｎｏ．１の不具合事例が示されており、たとえば、４０ｅの「区分１」蘭については、「回路」と記載され、４０ｌの「状況」蘭については、「クリアランス０で設定中」、「検討中」、「現在０．５ｍｍにて設計中」といった製品設計の段階で実施される解消方法に対して入力された実施状況が記載されており、他の項目についてもそれぞれ対応する内容が記載されている。

図３は、本発明の実施の一形態である不良再発防止装置１０が端末装置２０の画面２１に表示する既知の不具合事例の詳細の一例を示す図である。設計者は、端末装置２０の画面２１に表示された図２に示した既知の不具合事例について、１つの行を選択することによって、選択した既知の不具合事例の詳細を表示することができる。この既知の不具合事例の詳細には、発生した製品の不良を表す不良情報と、発生した不良を解析した結果を表す解析情報と、発生した不良原因の解消方法を表す対策情報が含まれる。

具体的には、画面２１には、画面の題名４１ａ、選択バー４１ｂ、および項目蘭４１ｃ〜４１ｎとそれぞれの項目に対するＮｏ．１の不良事例の詳細の内容が示されている。４１ｃは、「バージョン」、４１ｄは、「Ｎｏ．」、４１ｅは、「改定日」、４１ｆは、「修正日」、４１ｇは、「区分１」、４１ｈは、「区分２」、４１ｉは、「区分３」、４１ｊは、「事故事例（問題点）」、４１ｋは、「チェックポイント」、４１ｌは、「参考資料」、４１ｍは、「試験基準」、および４１ｎは、「設計基準」であり、試験基準４１ｍは、「基準値」、「内容（判定方法）」、および「参考資料」、設計基準４１ｎは、「基準値」、「内容」、および「参考資料」から構成される。

たとえば、この例では、バージョン４１ｃには、「７」、Ｎｏ．４１ｄには、「１」と記載され、他の項目についてもそれぞれ対応する内容が記載されている。

設計者は、表示された既知の不具合事例について、開発を行っている製品の設計において、不良の発生を防止するための考慮が成されているか否かを確認し、確認結果を端末装置２０から入力し、品質情報ＤＢ１１に記憶する。確認結果の入力情報には、既知の不具合事例で表示される設計留意点について、開発を行っている製品の設計における設計値または実施状況を少なくとも有している。たとえば、図２の状況４０ｌの蘭には、「クリアランス０で設定中」、あるいは「検討中」といった設計値または実施状況が表示されている。

既知の不具合事例の確認において、事例すべてに確認結果の入力が行われると、確認が完了したことを示す情報、たとえば、一覧表の確認表示欄の色を変えることで確認が完了したことを明確に表示するとともに、確認途中では既知の不具合事例の総件数と確認が行なわれていない件数とを表示してもよい。また、確認が行なわれていない件数を表示する際に、表示された件数を選択することによって確認されていない既知の不具合事例を表示してもよい。このように、確認されていない既知の不具合事例を特定して表示することによって、対策漏れを防ぐことができる。

図４は、本発明の実施の一形態の不良再発防止装置１０の機能の構成を示す図である。制御部５０は、不良再発防止装置１０全体を制御する部位であり、不良情報抽出機能部５１および不良対策確認機能部５２を直接制御する。

不良情報抽出機能部５１は、データベース群３０に保存されている情報を取得して品質情報ＤＢ１１に保存する情報取得部５３、および保存した情報から不良が発生する可能性が高い不良要因、たとえば部品または原因を特定する要因特定部５４を制御する。

不良対策確認機能部５２は、要因特定部５４で特定された部品または原因と、その部品または原因に対応する解消方法とを端末装置２０に送信して表示する表示機能部５５、ユーザが端末装置２０から入力した製品設計の段階で実施する解消方法を品質情報ＤＢ１１に保存する更新機能部５６、および製品設計の所定の段階で、ユーザが端末装置２０から入力した確認結果、つまり、製品設計の段階で実施される解消方法を実施していることを確認した確認結果を品質情報ＤＢ１１に保存する確認機能部５７を制御する。

図５は、本発明の実施の一形態である不良再発防止装置１０が行なう処理手順を示すフローチャートである。新たな製品開発が開始されると本処理が開始される。

ステップＳ１では、不良情報、解析情報、および対策情報をそれぞれ不良情報ＤＢ３１、解析情報ＤＢ３２、および対策情報ＤＢ３３から取得し、品質情報ＤＢ１１に保存する。ステップＳ２では、品質情報ＤＢ１１に保存した不良情報、解析情報、および対策情報報に基づいて、不良が発生する可能性が高い不良要因、たとえば部品または原因を不良の発生頻度などによって特定する。

ステップＳ３では、不良が発生する可能性が高いと特定された部品または原因と、その部品または原因に対応する解消方法とを端末装置２０に送信して表示する。ステップＳ４では、表示した部品または原因とその部品または原因に対応する解消方法に対して入力された製品設計の段階で実施される解消方法を品質情報ＤＢ１１に保存する。

ステップＳ５では、製品設計の段階で実施される解消方法に対して入力された実施状況を確認結果として品質情報ＤＢ１１に保存するとともに、確認完了を示す情報を表示する。ステップＳ６では、製品設計の段階で実施される解消方法に対する追加または更新要求があるか否かを確認する。要求がないときは、ステップＳ８に進み、要求があるときは、ステップＳ７に進む。ステップＳ７では、入力された解消方法に基づいて品質情報ＤＢ１１の解消方法を追加または更新する。

なお、既知の不具合事例の解消方法に対する実施状況が入力される際は、既知の不具合事例で表示される設計留意点あるいは設計ポイントに対する設計値または実施状況であって、開発を行っている製品の設計における設計値または実施状況のうち少なくともどちらかが入力されるが、設計者が表示されている設計留意点あるいは設計ポイント以外にも不良を解消する方法を考案した場合や、表示されている設計留意点あるいは設計ポイントでは十分な解消が行なえず新たな設計留意点あるいは設計ポイントと設計値の組合せによって解消する場合には、設計留意点あるいは設計ポイントの追加が行なわれ、追加された設計留意点あるいは設計ポイントは、品質情報ＤＢ１１に保存される。

設計者が新たな設計留意点あるいは設計ポイントの追加を行なうには、端末装置２０から既知の不具合事例の解消方法に対する実施状況を入力する際に、設計留意点を追加する選択ボタンを画面に表示しておき、その選択ボタンを選択することで入力欄を表示し、入力欄に入力された情報をデータベース品質情報ＤＢ１１に保存するようにしてもよい。

ステップＳ８では、次に確認を行う製品設計の段階になったか否かを判定する。次に確認を行う製品設計の段階でないときは、ステップＳ６に戻り、次に確認を行う製品設計の段階になったときは、ステップＳ９に進む。ステップＳ９では、製品設計の段階のうちで確認を行うすべての段階について実施状況が確認されたか否かを確認する。すべての段階について確認されていないときは、ステップＳ５に戻り、すべての段階について確認されたときは、終了する。

図６は、本発明の実施の他の形態の不良再発防止装置１０の機能の構成を示す図である。既知の不具合事例を利用する際に、既知の不具合事例がデータベースに多数蓄積されると、設計者に表示される不具合事例の数が多くなり、表示される既知の不具合事例を確認する設計者への負担が増大することを抑えるために、過去に設計した製品の構成を表す構成情報と設計を行っている製品の構成を表す構成情報を比較し、同じ構成部分の既知の不具合事例を表示させる機能を備えた構成である。

制御部５０は、不良再発防止装置１０全体を制御する部位であり、不良情報抽出機能部５１および不良対策確認機能部５２を直接制御する。

不良情報抽出機能部５１は、データベース群３０に保存されている情報を取得して品質情報ＤＢ１１に保存する情報取得部５３、保存した情報から不良が発生する可能性が高い不良要因、たとえば部品または原因を特定する要因特定部５４、過去に設計した製品の構成を表す構成情報と設計を行っている製品の構成を表す構成情報とを取得する構成取得部５８、および過去に設計した製品の構成を表す構成情報と設計を行っている製品の構成を表す構成情報とを比較して、同じ構成部分を抽出する構成抽出部５９を制御する。

不良対策確認機能部５２は、要因特定部５４で特定された部品または原因のうちで、構成抽出部５９が抽出した構成部分に含まれる部品または原因と、その部品または原因に対応する解消方法とを端末装置２０に送信して表示する表示機能部５５、ユーザが端末装置２０から入力した製品設計の段階で実施する解消方法を品質情報ＤＢ１１に保存する確認機能部５６、および製品設計の所定の段階の各段階で、ユーザが端末装置２０から入力した確認結果、つまり、製品設計の段階で実施される解消方法を実施していることを確認した確認結果を品質情報ＤＢ１１に保存する更新機能部５７を制御する。

製品の構成を表す構成情報は、部品、基板、または複数の部品が組み合わされたユニット、実現する機能、またはユニットを動作させるためのソフトウェアを特定する情報を少なくとも１つ含んでいる。「実現する機能」とは、ユニット単位では、要求仕様を実現するために必要となる「働き」や「役割」を表し、部品では、ユニットの機能を継承すると共に、個々に要求仕様を実現する「働き」や「役割」を表す。

製品の構成を表す構成情報の例を表９に示す。各項目の内容を以下に示す。
１）Ｎｏ．・・・番号
２）セクション・・・メイン基板等、製品の構成単位
３）参照番号・・・各部品やユニットに付けられた製品単位での管理用番号
４）部品名・・・部品固有の名称
５）数量・・・セクション単位での必要数量

図７は、本発明の実施の他の形態である不良再発防止装置１０が行なう処理手順を示すフローチャートである。新たな製品開発が開始されると本処理が開始される。

ステップＳ１０では、不良情報、解析情報、および対策情報をそれぞれ不良情報ＤＢ３１、解析情報ＤＢ３２、および対策情報ＤＢ３３から取得し、品質情報ＤＢ１１に保存する。ステップＳ１１では、品質情報ＤＢ１１に保存した不良情報、解析情報、および対策情報報に基づいて、不良が発生する可能性が高い不良要因、たとえば部品または原因を不良の発生頻度などによって特定する。

ステップＳ１２では、過去に設計した製品の構成を表す構成情報と設計を行っている製品の構成を表す構成情報とを取得する。過去に設計した製品の構成を表す構成情報は、設計者が設計を開始するに際して、端末装置２０から不良再発防止装置１０に参考とする過去に設計した機種名を入力すると、不良再発防止装置１０は、入力された機種名に対応する機種の構成情報を、過去に設計した機種の構成情報を管理するデータベース、たとえば、データベース群３０内のデータベースから取得する。

また、設計を行っている製品の構成を表す構成情報は、設計者が設計を行っている機種の構成情報を作成し、端末装置２０から不良再発防止装置１０に入力したものである。本実施の形態では、設計者が不良再発防止装置１０に設計を行っている製品の構成情報を入力しているが、構成情報を管理する装置のデータベース、たとえば、データベース群３０内のデータベースから構成情報を取得するようにしてもよい。

この構成情報には、部品、基板、複数の部品が組み合わされたユニット、実現する機能、またはユニットを動作させるためのソフトウェアを特定する情報が少なくとも１つ含まれている。なお、「実現する機能」とは、ユニット単位では、要求仕様を実現するために必要となる「働き」や「役割」を表し、部品単位では、ユニットの機能を継承すると共に個々に要求仕様を実現する「働き」や「役割」を表す。

ステップＳ１３では、設計者によって入力された構成情報、つまり、設計を行っている製品の構成情報と、設計者が入力した機種、つまり、過去に設計した機種の構成情報とを比較し、同じ構成の部分を抽出する。同じ構成の部分が抽出されると、品質情報ＤＢ１１に蓄積された既知の不具合事例に含まれる不良を発生する可能性が高い部品や原因の情報を用いて、設計者が設計を行っている機種の構成情報に既知の不具合事例が関連付けられ、設計を行っている機種の構成に関連する既知の不具合事例のみを選択してあるいは優先して表示することができる。

ステップＳ１４では、抽出された同じ構成部分に含まれる不良が発生する可能性が高い部位または原因とその解消方法とを、選択してあるいは優先して表示する。なお、設計を行っている機種の構成に関係する既知の不具合事例を表示する際に、表示される既知の不具合事例に、既知の不具合事例が蓄積されたデータベース品質情報ＤＢ１１から、設計者が必要と判断する不具合事例を選択して追加することができるようにしてもよい。

ステップＳ１５では、表示した部品または原因とその部品または原因に対応する解消方法に対して入力された製品設計の段階で実施される解消方法を品質情報ＤＢ１１に保存する。ステップＳ１６では、製品設計の段階で実施される解消方法に対して入力された実施状況を確認結果として品質情報ＤＢ１１に保存するとともに、確認完了を示す情報を表示する。

ステップＳ１７では、製品設計の段階で実施される解消方法に対する追加または更新の要求があるか否かを確認する。要求がないときは、ステップＳ１９に進み、要求があるときは、ステップＳ１８に進む。ステップＳ１８では、入力された解消方法に基づいて品質情報ＤＢ１１の解消方法を追加または更新する。

なお、既知の不具合事例の解消方法に対する実施状況が入力される際は、既知の不具合事例で表示される設計留意点あるいは設計ポイントに対する設計値または実施状況であって、開発を行っている製品の設計における設計値または実施状況のうち少なくともどちらかが入力されるが、設計者が表示されている設計留意点あるいは設計ポイント以外にも不良を解消する方法を考案した場合や、表示されている設計留意点あるいは設計ポイントでは十分な解消が行なえず新たな設計留意点あるいは設計ポイントと設計値の組合せによって解消する場合には、設計留意点あるいは設計ポイントの追加が行なわれ、追加された設計留意点あるいは設計ポイントは、品質情報ＤＢ１１に保存される。

設計者が新たな設計留意点あるいは設計ポイントの追加を行なうには、端末装置２０から既知の不具合事例の解消方法に対する実施状況を入力する際に、設計留意点を追加する選択ボタンを画面に表示しておき、その選択ボタンを選択することで入力欄を表示し、入力欄に入力された情報をデータベース品質情報ＤＢ１１に保存するようにしてもよい。

ステップＳ１９では、次に確認を行う製品設計の段階になったか否かを判定する。次に確認を行う製品設計の段階でないときは、ステップＳ１７に戻り、次に確認を行う製品設計の段階になったときは、ステップＳ２０に進む。ステップＳ２０では、製品設計の段階のうちで確認を行うすべての段階について実施状況が確認されたか否かを確認する。すべての段階について確認されていないときは、ステップＳ１６に戻り、すべての段階について確認されたときは、終了する。

図８は、本発明の実施の他の形態で用いられる過去に設計された製品の構成の一例を示す図である。既知の不具合事例が製品のユニット、基板、または部品などのどの部位に関連しているかを示している。

機種６０は、製品の種類を表す名称であり、この例では、「Ｍｏｄｅｌ−１」と示されている。「Ｍｏｄｅｌ−１」は、ユニット６１〜６４の４つのユニットから構成されており、ユニット６１〜６４は、それぞれ、「ＵＮＩＴ−１」、「ＵＮＩＴ−２」、「ＵＮＩＴ−３」、および「ＵＮＩＴ−４」である。「ＵＮＩＴ−１」は、サブユニット６５〜６７の３つのサブユニットから構成され、サブユニット６５〜６７は、それぞれ、「Ｓｕｂ−ＵＮＩＴ−１」、「Ｓｕｂ−ＵＮＩＴ−２」、および「Ｓｕｂ−ＵＮＩＴ−３」である。

また、「Ｓｕｂ−ＵＮＩＴ−１」は、部品６８と６９から構成され、それぞれ、「ＰＡＲＴＳ１−１」と「ＰＡＲＴＳ１−２」である。同様に「Ｓｕｂ−ＵＮＩＴ−２」は、「ＰＡＲＴＳ２−１」、「ＰＡＲＴＳ２−２」、および「ＰＡＲＴＳ２−３」の３つの部品７０〜７２から構成され、「Ｓｕｂ−ＵＮＩＴ−３」は、「ＰＡＲＴＳ３−１」および「ＰＡＲＴＳ３−２」の２つの部品７３と７４から構成される。

この例では、既知の不具合事例１が、サブユニット６５「Ｓｕｂ−ＵＮＩＴ−１」に関連し、既知の不具合事例２が、部品６９「ＰＡＲＴＳ１−２」に関連していることを示している。既知の不具合事例は、不良情報、解析情報、および対策情報を含んでおり、その解析情報には、不良の原因となった部品やユニットなどの情報があり、この情報に基づいて関連付けられる。

図９は、本発明の実施の他の形態で用いられる過去に設計された製品および設計を行っている製品の構成と不具合事例リストとの対応の一例を示す図である。図９の左側に示した機種６０「Ｍｏｄｅｌ−１」は、図８に示した過去に設計された製品であり、右側に示した機種８０「Ｍｏｄｅｌ−２」は、設計を行っている製品である。機種８０「Ｍｏｄｅｌ−２」は、機種６０「Ｍｏｄｅｌ−１」に基づいて変更が加えられた機種であり、サブユニット６５「Ｓｕｂ−ＵＮＩＴ−１」の構成部品が変更になり、かつ、ユニット６４「ＵＮＩＴ−４」が削除されている。

サブユニット６５「Ｓｕｂ−ＵＮＩＴ−１」の構成部品であった部品６９「ＰＡＲＴＳ１−２」が部品８１「ＮｅｗＰＡＲＴＳ１−２」に変更され、かつ、部品８２「ＡｄｄＰＡＲＴＳ１−３」が追加されている。

機種８０「Ｍｏｄｅｌ−２」については、既知の不具合事例１が、サブユニット６５「Ｓｕｂ−ＵＮＩＴ−１」に関連し、既知の不具合事例３が、部品８１「ＮｅｗＰＡＲＴＳ１−２」に関連し、また既知の不具合事例４が、部品８２「ＡｄｄＰＡＲＴＳ１−３」に関連していることを示している。

部品６９「ＰＡＲＴＳ１−２」固有の情報として関連付けられていた既知の不具合事例２は、部品８１「ＮｅｗＰＡＲＴＳ１−２」においては該当しないため、設計者が既知の不具合事例を確認する際には表示されない。また、サブユニット６５「Ｓｕｂ−ＵＮＩＴ−１」に関連付けられた既知の不具合事例１は、サブユニット６５「Ｓｕｂ−ＵＮＩＴ−１」全体として不良が解消されていることを確認する必要があり、サブユニット６５「Ｓｕｂ−ＵＮＩＴ−１」を構成する部品が変更されても、設計者には確認が必要な既知の不具合事例として表示される。

不具合事例リスト９０は、機種６０「Ｍｏｄｅｌ−１」に対する不具合事例リストであり、不具合事例１と２がリストアップされており、また、不具合事例リスト９１は、機種８０「Ｍｏｄｅｌ−２」に対する不具合事例リストであり、不具合事例１、３、および４がリストアップされている。

上述したいずれの実施の形態においても、データベース品質情報ＤＢ１１に保存された設計留意点あるいは設計ポイントと設計値あるいは設計の実施状況は、随時表示できるようにしておいてもよい。製品の開発が完了した時点で、既知の不具合事例の解消方法に対する実施状況を確認すると共に、設計者を含む開発担当者によって設計留意点あるいは設計ポイントを検証することができ、逐次設計留意点あるいは設計ポイントを更新することができる。また、設計者によって追加された設計留意点あるいは設計ポイントと設計値あるいは設計の実施状況は、データベース品質情報ＤＢ１１に保存され、参考情報として即時に他の設計者に対しても公開することができる。

不良再発防止装置１０は、コンピュータを不良再発防止装置１０として機能させるプログラムを実行させることで実現される。不良再発防止装置１０は、種々の制御を行う図示していないＣＰＵ（Central Processing Unit）と、ＣＰＵで処理が行われるために用いられる図示していないメモリ、たとえば、ＲＯＭ（Read Only Memory）やＲＡＭ（Random Access Memory）とを含んで構成され、プログラムは、このメモリに格納される。

コンピュータを不良再発防止装置１０として機能させるプログラムは、コンピュータで読取り可能な記録媒体に格納されており、上述した実施の形態では、記録媒体として、メモリを用いたが、外部記憶装置としてプログラム読取装置が設けられ、そこに記録媒体を挿入することによって読取り可能となるような記録媒体であってもよい。

記録媒体に格納されているプログラムは、ＣＰＵがアクセスして実行可能な構成であればよい。あるいは、プログラムを読出し、読出したプログラムを図示されていないプログラム記録エリアにダウンロードして、プログラムを実行する構成であればよい。なお、このダウンロード用のプログラムは、予めＲＯＭなどに格納しておく。

記録媒体が不良再発防止装置１０と分離可能に構成される場合、記録媒体は、磁気テープやカセットテープなどのテープ系、フレキシブルディスクやハードディスクなどの磁気ディスクやＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disk-Read Only Memory）／ＭＯ（Magneto Optical
Disk）／ＭＤ（Mini Disk）／ＤＶＤ（Digital Versatile Disk）などの光ディスクのディスク系、ＩＣ（Integrated Circuit）カード（メモリカードを含む）／光カードなどのカード系、あるいは、マスクＲＯＭ、ＥＰＲＯＭ（Erasable Programmable Read Only
Memory）、フラッシュＲＯＭなどによる半導体メモリを含め、固定的にプログラムを記録する記録媒体であればよい。

本発明の実施の一形態である不良再発防止装置１０の概略の構成を示す図である。 本発明の実施の一形態である不良再発防止装置１０が端末装置２０の画面２１に表示する既知の不具合事例の一例を示す図である。 本発明の実施の一形態である不良再発防止装置１０が端末装置２０の画面２１に表示する既知の不具合事例の詳細の一例を示す図である。 本発明の実施の一形態の不良再発防止装置１０の機能の構成を示す図である。 本発明の実施の一形態である不良再発防止装置１０が行なう処理手順を示すフローチャートである。 本発明の実施の他の形態の不良再発防止装置１０の機能の構成を示す図である。 本発明の実施の他の形態である不良再発防止装置１０が行なう処理手順を示すフローチャートである。 本発明の実施の他の形態で用いられる過去に設計された製品の構成の一例を示す図である。 本発明の実施の他の形態で用いられる過去に設計された製品および設計を行っている製品の構成と不具合事例リストとの対応の一例を示す図である。

符号の説明

１０ 不良再発防止装置
１１ 品質情報ＤＢ
１２ 抽出機能部
１３ 表示機能部
１４ 確認機能部
１５ 更新機能部
２０ 端末装置
２１ 画面
３０ データベース群
３１ 不良情報ＤＢ
３２ 解析情報ＤＢ
３３ 対策情報ＤＢ
５０ 制御部
５１ 不良情報抽出機能部
５２ 不良対策確認機能部
５３ 情報取得部
５４ 要因特定部
５５ 表示機能部
５６ 更新機能部
５７ 確認機能部
５８ 構成取得部
５９ 構成抽出部

Claims (6)

1. 過去に設計した製品で発生した不良の内容を示す不良情報と、前記不良を解析して得られた不良要因と、前記不良要因を解消することができる情報を示す第１の解消情報とを含む品質情報を記憶する記憶手段と、
   前記記憶手段で記憶された品質情報に基づいて、不良が発生する可能性が高い不良要因を不良の発生頻度によって特定する特定手段と、
   前記特定手段で特定された不良要因と、前記特定された不良要因に対応する第１の解消情報とを、データの入出力が行なわれる端末装置に表示する表示手段と、
   前記表示手段によって表示された不良要因および第１の解消情報に対して、製品設計の段階で実施される解消情報として入力された第２の解消情報を、前記端末装置から受領して前記記憶手段で記憶された品質情報に追加する追加更新手段と、
   製品設計の所定の段階で、前記第２の解消情報について前記端末装置から入力された確認結果を受領することによって、前記第２の解消情報が前記第２の解消情報に対応する不良要因を解消していることを確認する確認手段とを含んで構成されることを特徴とする不良再発防止装置。
2. 前記不良再発防止装置は、過去に設計した製品の構成を示す構成情報と設計を行っている製品の構成を示す構成情報とを比較して、同じ構成部分を抽出する構成抽出手段を含み、
   前記表示手段は、前記特定手段で特定された不良要因のうちで、前記構成抽出手段で抽出された同じ構成部分に含まれる不良要因と、前記同じ構成部分に含まれる不良要因に対応する第１の解消情報とを優先して表示することを特徴とする請求項１に記載の不良再発防止装置。
3. 前記追加更新手段は、追加された第２の解消情報、および／または更新された第２の解消情報を前記端末装置から受領したとき、前記記憶手段に記憶された第２の解消情報に前記受領した第２の解消情報を追加、および／または更新することを特徴とする請求項１または２記載の不良再発防止装置。
4. 過去に設計した製品で発生した不良の内容を示す不良情報と、前記不良を解析して得られた不良要因と、前記不良要因を解消することができる情報を示す第１の解消情報とを含む品質情報を記憶する記憶工程と、
   前記記憶工程で記憶された品質情報に基づいて、不良が発生する可能性が高い不良要因を不良の発生頻度によって特定する特定工程と、
   前記特定工程で特定された不良要因と、前記特定された不良要因に対応する第１の解消情報とを、データの入出力が行なわれる端末装置に表示する表示工程と、
   前記表示工程によって表示された不良要因および第１の解消情報に対して、製品設計の段階で実施される解消情報として入力された第２の解消情報を、前記端末装置から受領して前記記憶工程で記憶された品質情報に追加する追加更新工程と、
   製品設計の所定の段階で、前記第２の解消情報について前記端末装置から入力された確認結果を受領することによって、前記第２の解消情報が前記第２の解消情報に対応する不良要因を解消していることを確認する確認工程とを含んで構成されることを特徴とする不良再発防止方法。
5. コンピュータを請求項１〜３のいずれかに記載の不良再発防止装置として機能させるためのプログラム。
6. 請求項５に記載のプログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体。

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