JP2005526959A - マイクロ加工されたジャイロスコープ - Google Patents

マイクロ加工されたジャイロスコープ Download PDF

Info

Publication number
JP2005526959A
JP2005526959A JP2003566496A JP2003566496A JP2005526959A JP 2005526959 A JP2005526959 A JP 2005526959A JP 2003566496 A JP2003566496 A JP 2003566496A JP 2003566496 A JP2003566496 A JP 2003566496A JP 2005526959 A JP2005526959 A JP 2005526959A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frame
mass
flexure
substrate
lever
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2003566496A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4392246B2 (ja
JP2005526959A5 (ja
Inventor
ジーン、ジョン・エイ
Original Assignee
アナログ・デバイスズ・インク
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by アナログ・デバイスズ・インク filed Critical アナログ・デバイスズ・インク
Publication of JP2005526959A publication Critical patent/JP2005526959A/ja
Publication of JP2005526959A5 publication Critical patent/JP2005526959A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4392246B2 publication Critical patent/JP4392246B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
    • G01C19/5719Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using planar vibrating masses driven in a translation vibration along an axis
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T74/00Machine element or mechanism
    • Y10T74/12Gyroscopes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Gyroscopes (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)
  • Steroid Compounds (AREA)

Abstract

マイクロ加工されたジャイロスコープは基板の表面に垂直な軸に関する回転速度を検出し測定するコリオリ加速度の使用を可能にする。とりわけ、様々な共振構造がフレームの中に吊される。これらの共振構造は、全体の共振システムのために単一の共振周波数を生成するために機械的に結合される位相マスと逆位相マスを含んでいる。軸周りのマイクロ加工されたなジャイロスコープの回転はフレームに回転力を発生させる。フレームはその運動が回転方向を除くすべてにおいて厳しく制限される方法で吊される。フレームの四方に設けられたセンサは、方向変化を測定するためにフレームの回転たわみを検出する。

Description

本発明は、一般に、マイクロ加工されたジャイロスコープに関し、特に、回転運動を検出するためにコリオリ加速度を使用するマイクロ加工されたジャイロスコープに関する。
発明の1局面によると、複数の共振構造の機械的結合は、結合運動を共直線運動から並列運動に変えるために使用される複数のレバーを備える「二重フォーク」構成に基づく。レバーは、取付点において形成される枢軸を有し、取付点がレバーに関して移動されることがないことを確実にする。
発明の別の局面によると、ジャイロスコープフレームは線運動よりむしろ回転運動を検出するに適合している。コリオリ検出フィンガはフレームの全ての辺(四方)に置かれる。
発明の別の局面によると、共振器マスフレクシュア内の長軸方向の引張は共振器マス自体(応力低減レバーとしての駆動機構を含む)を使用して減少させられる。2対のマスが位相マス及び逆位相マスとしてそれぞれ使用される。各対のマスは短いフレクシュアを介して結合される。このことは、両マスを前記フレクシュア回りに僅かに旋回させ、そのため、斜めに対向する角が次に同時に主共振器フレクシュアと連結レバーの両方の投影長さを短縮するように働く。
発明の別の局面によると、駆動又は検出フィンガが連結レバーに組み込まれる。
発明の別の局面によると、電気直角位相の抑制は指間フィンガを使用するよりもむしろ共振器マスの縁に沿って形成されたノッチを使用することで達成される。
発明のさらに別の局面によると、固定駆動フィンガの逆位相アレイの対のアンカーは横方向に共直線になるように配列され、これらのアンカーは基板から離れた上端において互いに組になって連結されて置かれるので、該上端は基板端部において個々にねじれることに抵抗し、フィンガブスバーは可撓性の折り重ねられたフィンガによって前記上端に取り付けられる。
発明の実施するための最良の形態
マイクロ加工されたジャイロスコープは、速度計及び加速度計手段と共に振動し該速度計の回転効果から生じる直交コリオリ加速度を測定する共振器を含んでいる。これらの構造を互いに、かつ、その下に位置する基板に取り付ける普通の方法は、しばしば「テザー(tether)」(つなぎ材)又は「フレクシュア(flexure)」と呼ばれるマイクロ加工された素材のフィラメントを使用する。
このように、マイクロ加工されたジャイロスコープはコリオリ加速度を用いて基板の表面に垂直な軸に関する回転速度を検出し測定する。特に、様々な共振構造がフレームの中に吊される。これらの共振構造は全体の共振システムのために単一の共振周波数を生成するために、レバー、枢軸フレクシュア、及びフォークを介して機械的に連結される位相マスと逆位相マスを含んでいる。この機械系は、共振器の運動を1つの線軸に厳しく制限し、いかなる正味の回転をさせない。マイクロ加工されたジャイロスコープの面回りの回転は回転力をフレームに発生させる。フレームはその運動が回転方向を除くすべてにおいて厳しく制限されるように吊される。フレームの四方(4側)のセンサは、方向変化を測定するためにフレームの回転たわみを検出する。
マイクロ加工されたジャイロスコープの従来技術において、バランスのとれた(対称の)構造はかなり良い性能を与えること、及び機械的に結合した対の共振器がかなり望ましいことが認められた。例えば、米国特許5,392,650と、5,635,638を参照。複数の共振構造を機械的に結合することは多くの長所を持っており、これらの共振構造の運動を増加させ、これらの共振構造によって生成されるコリオリ加速度(信号)の量を増加させることを含み、そして、混沌(カオティック)運動を避け、共振構造と同じ方向のフレームの運動を防ぎ、より良い位相を決定し、外部加速度をより良く排除し、かつ、角運動量が局部的に取り消されることで品質係数Qを改良する。
対の共振器が電気手段のみによって結合されるならば、満足できるジャイロスコープを製造することが可能であることが判明している。1例は、「単一チップ表面のマイクロ加工された統合ジャイロスコープ」(IEEE JESSICA vol.37, No.12, 2002年12月)と、米国特許6,122,961に説明されている。製造許容誤差は、2個の機械的に別個の共振器を同じ振動数を備えるように作ることはできないが、「Q」値が十分低いならば、それらの共振曲線はその対に関して十分に重なり単一電気オシレータとしてスムーズに機能するようなものである。
1枚のシリコンウエハからより多くのディバイスを作ることができれば、ディバイス1つずつのコストを低くすることができるので、より小さい構造を作ることに長所がある。より小さい構造から低ノイズの適切な信号を得るために、より高い「Q」値を持ったそれらの構造の共振を設計することが必要である。そうすれば、共振曲線はもはや必要条件を満たすようには重ならず、振動の振幅が小さなり、かつ、周波数が不十分に形成される。極端な場合は、運動は低周波数ノイズに及ぼす有害な影響を持つ混沌状態(すなわち、ジャイロスコープの主用途の1つである正確なナビゲーションを妨げる短期間の出力不安定状態)となる。
本発明のいくつかの実施の形態では、共振器の回転のために米国特許5,635,640で説明される「2重フォーク」に基づく非常に効果的な機械的結合を提供することによって、より小さい構造を使用することを可能にする。共直線の共振器対をこのように直接的に結合することができず、そのため、1セットのレバーを使用して結合運動を共直線運動から並列運動に変える。レバーは加速度計フレームと共振器マスに取り付けられる取付点において定められる枢軸を有する。それぞれの枢軸点は少なくとも2つの直交するフレクシュア軸の交点によって定められる。このことは、取付点がレバーに関して移動されることがなく、単に回転することを確実にする。移動によるコンプライアンスは、後で説明されるように、望まれない運動の抑制を達成するであろう。ネッツァ(Netzer)は米国特許5,763,781の図8〜11に同様の考えを表示する。しかしながら、それらの構造のいずれも、本願に開示されるタイプの実用的なマイクロ加工されたジャイロスコープにおいて動作しないであろう。なぜならば、第1に、枢軸が容認できない直交方向の運動を許容する単一のフレクシュアによって定められており、第2に、デザインの同じ欠陥が結合したマスの同相運動にあまりに多くのコンプライアンスを許容し、第3番目に、後で説明するように応力硬さを解放することが不可欠であるが、それらの構造はそういった解放をしない。
また、共振器と加速度計の軸の直交が不完全なことから生じる、いわゆる「直角位相」(quadrature)信号を抑制することは非常に有利であることが知られている。抑制手段は、米国特許6,067,858と、6,250,156においてハウ他によって説明されるように電気的であってもよく、米国特許6,122,961においてジーンによって説明されるように機械的であってもよい。後者の特許は望まれない運動を禁止するためレバーとフレクシュアのシステムと共に別個の共振器フレームと加速度計フレームを使用し、実際に非常に効果的である。しかしながら、その構成は共振器の直接的な機械的結合に幾何学的に適合しない。まず第1に、半分の加速度計フィンガ(共振器間のフィンガ)が失われて信号を実質的に減らすであろう。第2に、共振器対からの線形コリオリ力はそれらの共振器対に取り付けられた加速度計フレームにおいて相殺されるであろう。
本発明のいくつかの実施の形態は、直角位相が抑制された分離したフレームからの加速度計信号を損失させることなく、共振器の機械的結合を可能にする。このことは、結合されている逆位相の共振器マスがそれらの中心の離間距離に比例するコリオリトルク(この線形コリオリ力は相殺される)を発生させることを認識することによって達成される。その結果、周囲加速度計フレームは線運動よりむしろ回転を検出することに適合している。次に、機械的な直角位相抑制は共直線形共振器対のいかなる正味回転運動の問題になり、加速度計の線形運動を抑制する。また、長方形の加速度計フレームの4つのすべての辺は、加速度計フレームが回転するとき、その動きを検出するためにフィンガに対して一列に並べられ、その結果、2個の線加速度計の運動に対する合計感度を復元させるが、従来技術の米国特許6,122,961と比較して半分の総面積である。
行きあたる別の問題は、大きいコリオリ信号のために、共振器は大きな運行を行なわなければならない。共振器の主要なフレクシュアはこれらの情況において「応力硬さ」状態となるであろう。すなわち、フレクシュアは、撓んだときに、さらに延びなければならないし、その結果の延びは、フレクシュアに横方向硬さが著しく増加した縦方向の引張を引き起こす。硬さ(剛性)の相対的な増加は、テザーの横撓み対幅比の二乗として変化することがよく知られている。したがって、10ミクロン撓む通常の1.7ミクロン幅のテザーは係数が36硬くなり、このことは容認できない非線形性を与え、より大きな駆動力を必要とし、大きな係数により不十分に形成された共振周波数を作る。この縦応力は米国特許5,392,650において説明されているような単純な横フレクシュアによって解放されうるが、これはテザーの縦方向に全体的な共振器運動を許容し、機械的な直角位相抑制を妨げる。
本発明のいくつかの実施の形態は、従来技術の米国特許6,122,961で使用された余分なレバーのためのスペースをとることなく、テザーの縦方向引張を解放する手段を提供する。これは、応力減少レバーとして駆動機構を含む共振器マス自体を使用することによって達成される。テザーで吊した余分のレバーをなくすことは、面積を節約するだけでなく、ジャイロスコープの全体的な面外剛性を高める。このことは装置をより頑丈にし、かつ、大きな衝撃又は振動を受ける車のエンジン・ルームの中などの乗物位置での使用に適するようにする。
発明のいくつかの実施の形態では、共振器マスは、それを分割して非常に短いフレクシュアで再ジョイントすることにより、引張を軽減するように変更される。これは、斜めに対向する角が次に、同時に主共振器フレクシュアと連結レバーの両方の投影長さが短かくなることに対応可能となるようにフレクシュアに関してマスをわずかに旋回させる。短いフレクシュアの位置決めが重要であるようにフレクシュアとレバーの両方を有効に解放するために、枢軸からフレクシュアまでの距離と枢軸からレバーまでの距離は適当な比でなければならないが、これは、幾何学的には難しい計算ではない。
本発明の例示的実施の形態では、マイクロ加工されたジャイロスコープは2つの位相(同相)マスと、レバー、枢軸フレクシュア、及びフォークを介して機械的に結合される2つの逆位相(逆相)マスとを含む。これは、理想的に、単一共振周波数を与える。単一共振周波数はより高いQ値を与え、それ故、より多くの信号を供給する。結合構成は、コリオリ加速度として誤読されるフレームに作用する異質な力(共振構造のアンバランスな運動によって引き起こされる移動及び回転力など)を減少させる。
本発明のある実施の形態において、面積を節約するために駆動又は検出フィンガが連結レバーに組み込まれる。共振器マスの速度からコリオリトルクを発生させることにおける共振器マスの有効性はセンタラインからのその距離に比例する。その結果、電気機械オシレータを完成する目的のための共振器駆動装置、または速度検出装置はできるだけセンタライン近くに置かれることが望ましい。これにより、利用可能域を最も効果的に利用できる。したがって、マスから連結レバーまでの装置の一部を取り除くことは特に有利である。
レバーが弧状に運動するため、レバー上に置かれた指間フィンガは、レバーの枢軸点から半径に依存してレバーの長さに沿って異なる角度でかみ合う。したがって、運動しているフィンガフィンガが固定された指間くしに関して過度に横運動することを防ぐために、レバーの幾何学形状によって決まる異なった角度でフィンガをかき戻すことができる。これは図14で示される。
加速度計フレームとその周囲に置かれた検出フィンガに関して同様の問題が存在する。それは加速度計フレームが回転するように構成されているからである。故に、検出フィンガは同様に異なった角度でかき戻される。しかしながら、通常、加速度計フレームの回転はレバーの回転よりもはるかに少なく(恐らく100,000分の1であり)、したがって、そのようなかきは、通常、検出フィンガに使用されない。
本発明のある実施の形態は、直角位相信号をそれがほぼヌルとなるように細かくトリミングすることができる。サスペンションフレクシュアとレバーの構成による直角位相の抑制にもかかわらず、フレクシュアから吊された共振器の反力による加速度計フレームのひずみから生じる残りの直角位相要素が存在する。スペース節約し、かつ、コリオリ力に対するこのフレームの応答を最大にするために、できるだけフレームを軽く保つことが望ましい。あいにく、軽量フレームは歪が大きいので、何らかの残余の直角位相を許容するデザインには妥協を要する。フィンガの係合に伴い変化する横力を提供するために異なった電圧で3つのグループに配置されるフィンガアレイを使用する米国特許5,992,233においてクラークによって説明される一般原理を使用することで前記残余の直角位相をゼロに近いものまでトリミングできる。本発明の実施の形態は、代わりに、共振器マスのエッジから切り欠いたノッチを使用する。これは、上記フィンガアレイより小さいスペースを使用し、かつ、それ自体を使用不能な領域に適用させるという長所がある。
駆動フィンガは、何らかの可動型でありかつ基板に取り付けられた指間くしを使用することで縦方向に動作する。その原則は、米国特許5,025,346においてタング(Tang)とハウ(Howe)によって説明されている原則である。ジャイロスコープのために縦型静電くし駆動機構を使用する最も厄介な副作用の1つは、フィンガ間の小さい不均衡が必要な縦成分と同様に横運動を引き起こすということである。この横運動は、はるかに大きい直角位相の信号と異なり、位相感知整流器によって運動が排除されないようにコリオリ信号と同期する不幸な特性を備える成分を有する。この同期信号のいかなる不安定性も直接的にジャイロスコープの誤差になる。ギャップが不均衡になる最も重要な方法の1つは、固定フィンガと可動構造の基板アンカー点の相対運動である。もう1つは、外部加速度計からの可動構造の変位である。幸い、これらの大部分は構造と駆動装置の対称性に十分に注意を払うことによって打ち消される。しかしながら、基板の表面剪断ひずみにこのように適応することは特に難しい。基板の表面剪断ひずみは使用の間に引き起こされるパッケージ応力の変化によって容易に引き起こされ、そしてそのひずみは固定フィンガのアレイの相対変位と、個々のフィンガアンカーの回転の両方を生成する。
本発明のある実施の形態では、固定された駆動フィンガの逆位相アレイのいずれの対のためのアンカーも横方向に共直線になるように配列される。このように、基板のいかなる表面剪断もそれらを互いに横に動かすことはないであろう。また、アンカーは通常対にされて下に置かれて基板から離れたそれらの上端で互いに連結されるので、該上端は基板端部における個々のねじれに抵抗する。その上、フィンガブスバーは、通常、可撓性の折り重ねられたフィンガによって上端に付けられる。これらのフィンガは、アンカー対から伝達されるいかなるひずみと、マイクロ加工された材料の収縮応力による変位からブスバーを絶縁する。これらはまた駆動装置として働き、絶縁措置から生じた駆動損失を最小にする。
図1は、本発明の実施の形態に従って、例示的なマイクロ加工されたジャイロスコープ構造100を示す。マイクロ加工されたジャイロスコープ構造100は、典型的に、単一シリコンウエハからマイクロ加工された多くのもののうちの1つである。マイクロ加工されたジャイロスコープ構造100は通常基板にマウントされる。マイクロ加工されたジャイロスコープ構造100は、x軸に沿って上から下へ、かつ、y軸に沿って横から横へ実質的に対称である。
図2はマイクロ加工されたジャイロスコープ構造100の様々な部品を識別する。特に、マイクロ加工されたジャイロスコープ構造100はその4つのコーナにおいて加速度計サスペンションフレクシュア202、204、206、及び208によって吊される実質的に正方形のフレーム210を含んでいる。図3は、強調表示したフレーム210を示す。フレーム210の4つの外縁上にフィンガ212、213、214、215、216、217、218、及び219がある。様々な共振構造はフレーム210の中に吊される。これらの共振構造は4つの可動マス220、222、224及び226と、4つのレバー228、230、232及び234と、2つのフォーク236及び238を含んでいる。図4は、強調表示したマス220を示す。マス222、224及び226はマス220と実質的に同じ形状、サイズ及び質量であり、マス220のx及び/又はy軸に関する鏡像となるように向けられていることに注意すべきである。図5は、強調表示したレバー228を示す。レバー230、232及び234はレバー228と実質的に同じ形状、サイズ及び質量であり、レバー228のx及び/又はy軸に関する鏡像となるように向けられていることに注意すべきである。4つの可動マス202、222、224及び226はフレクシュア240、242、244及び246によってフレーム210からそれぞれ吊されている。4つの可動マス220、222、224及び226の運動は静電ドライバ248、250、252、254、256、258、260及び262を使用することで静電気的に制御される。マイクロ加工されたジャイロスコープ構造100のこれらの特徴と他の特徴は以下により詳細に説明される。
4つの加速度計サスペンションフレクシュア202、204、206及び208は、基板に対するフレーム210の運動を制御することを助ける。4つの加速度計サスペンションフレクシュア202、204、206及び208はフレーム210のx軸及びy軸方向の運動(すなわち、並進運動)を実質的に制限するが、フレーム210が自由にどちらの方向にも回転すること(すなわち、回転運動)を許容する。フレーム210のそのような回転運動は共振構造の基準であるフレームの運動によるコリオリ効果から主として引き起こされる。
図6は加速度計サスペンションフレクシュア202をより詳細に示す。加速度計サスペンションフレクシュア202は位置630及び640において基板に据えつけられる。加速度計サスペンションフレクシュア202は実質的にフレーム210の並進運動を制限するが、フレーム210の回転運動は許容する。構造650と660は他のフレクシュア構造の正確な構成を確実にするために使用されるエッチイコライザである。この原則は米国特許6,282,960で教えられている。加速度計サスペンションフレクシュア204、206及び208は加速度計サスペンションフレクシュア202と実質的に同じであることが注意されるべきである。
フィンガ212、213、214、215、216、217、218及び219はフレーム210の4側から延伸する。2つのコリオリ検出装置がフィンガ212、213、214、215、216、217、218、219の間に置かれる。
図6はフィンガ212と2つのコリオリ検出装置610,620との関係を示す。2セットのコリオリ検出装置610と620は機械的に基板と結合され、基板に対して移動しない。フレーム210の運動は、以下で説明されるように、コリオリ検出装置に対するフィンガ212、213、214、215、216、217、218及び219の運動をもたらす。コリオリ検出装置に対するフィンガ212、213、214、215、216、217、218及び219の運動は電子サーキットリ(図示省略)によって測定されうるキャパシタンス変化を発生させる。さまざまな方法でこれを行うことができる。
2セットのコリオリ検出装置610と620は、図10で示されるように、4個の切替え1010、1020、1030及び1040を介して二重の特異な態様で結合される。切替え1010、1020、1030及び1040は周囲回路から電気的に引き起こされる信号と、フレーム210の並進運動によって作り出される信号を実質的に打ち消すが、フレーム210の回転運動によって作り出される信号を実質的に増幅する。特に、フレーム210の並進運動があるとき、コリオリ検出装置のおよそ半分が1つの信号を作り出し、他の半分は実質的にそれに等しくかつ反対の信号を作り出す。すなわち、ゼロの正味信号をもたらす。したがって、フレーム210の並進運動は実質的に電子的に相殺される。しかしながら、フレーム210の回転運動があるときは、すべてのコリオリ検出装置は、相補的信号であって、結合され増幅されると回転運動の大きさを表す相補的信号を作り出す。フレーム210の四辺にフィンガとコリオリ検出装置を置くことによって、フィンガとコリオリ検出装置がフレーム210の二辺だけに置かれる解決法と対照的に、より大きい信号が作り出される。
マス220、222、224及び226と、フレクシュア240、242、244及び246と、レバー228、230、232及び234と、フォーク236及び238を含む共振構造は機械的に結合される。再び図2を参照し、マス220と222は枢軸フレクシュア264を介して機械的に結合される、そして、マス224と226は枢軸フレクシュア266を介して機械的に結合される。マス220と224はレバー228、230とフォーク236を介して機械的に結合され、マス222と226はレバー232、234とフォーク238を介して機械的に結合される。枢軸フレクシュア264、266と、レバー228、230、232及び234と、フォーク236、238はマス220、222、224及び226を一緒に動かす。
マス220はフレクシュア240によりフレーム210から、枢軸フレクシュア264によってマス222から、そして、枢軸フレクシュア268によってレバー228から吊設されている。マス222はフレクシュア242によってフレーム210から、枢軸フレクシュア264によってマス220から、そして、枢軸フレクシュア272によってレバー232から吊設されている。マス224はフレクシュア244によってフレーム210から、枢軸フレクシュア266によってマス226から、そして、枢軸フレクシュア276によってレバー230から吊設されている。マス226はフレクシュア246によってフレーム210から、枢軸フレクシュア266によってマス224から、そして枢軸フレクシュア280によってレバー234から吊される。
レバー228は枢軸フレクシュア270よってフレーム210から、枢軸フレクシュア268によってマス220から、そして、フォーク236によってレバー230から吊設されている。レバー230は枢軸フレクシュア278によってフレーム210から、枢軸フレクシュア276によってマス224から、そしてフォーク236によってレバー228から吊設されている。レバー232は枢軸フレクシュア274によってフレーム210から、枢軸フレクシュア272によってマス222から、そして、フォーク238によってレバー234から吊設されている。レバー234は枢軸フレクシュア282によってフレーム210から、枢軸フレクシュア280によってマス226から、そして、フォーク238によってレバー232から吊設されている。
図7は、マス222と、それに関連する構成要素をより詳細に示す。マス220はフレクシュア240によってフレーム210から、枢軸フレクシュア264によってマス222から、そして、枢軸フレクシュア268によってレバー228から吊される。フレクシュア240は、望ましくは、3つの並列エッチから形成され、中央エッチは破断しておらず、外側の2つのエッチは2箇所において破断されている。外側エッチは、中央エッチの正確な形成を確実にするのに使用されるエッチイコライザである。マス222、224、及び226とそれらの関連要素はマス220とその関連要素と実質的に同じであることに留意されたい。
図8はレバー228、230とそれらの関連要素をより詳細に示す。レバー228は枢軸フレクシュア270によってフレーム210から、枢軸フレクシュア268によってマス220と、そして、枢軸フレクシュア820によってフォーク236から吊設されている。レバー230は枢軸フレクシュア278によってフレーム210から、枢軸フレクシュア276によってマス224から、そして、枢軸フレクシュア830によってフォーク236から吊設されている。フォーク236は枢軸フレクシュア820によってレバー228から、そして枢軸フレクシュア830によってレバー230から吊設されている。レバー232、234とそれらの関連要素はレバー228、230とそれらの関連要素と実質的に同じであることに注意すべきである。
フレクシュア240、242、244及び246はマス220、222、224及び226のy軸方向の運動をそれぞれ実質的に制限するが、マス220、222、224及び226のx軸方向の運動をそれぞれ許容する。また、フレクシュア240、242、244及び246は、マス220、222、224及び226移動するときにそれらのマスがそれぞれわずかに旋回することを許容する。
枢軸フレクシュア264は、マス220と222が一緒に動くようにそれらのマスを本質的にロックする。同様に枢軸フレクシュア266はマス224と226を本質的にロックして、それらが一緒に動く(但し、マス220、222と反対方向に動く)ようにする。
レバー228、230と、フォーク236と、枢軸フレクシュア268、270、820、830、276及び278は、マス220と224を本質的にしっかりくっつかせ、それらが実質的に等しく、しかし、反対方向に移動できるようにする。レバー232、234と、フォーク238と、枢軸フレクシュア272、274、280及び282と、レバー232と234をフォーク238(図示省略)に結合する枢軸フレクシュアはマス222と226を本質的にはしっかりくっつかせ、それらのマスを実質的に等しい、しかし、反対方向に移動できるようにする。
レバー228と230は、マス220と224の実質的に等しいが横方向に反対方向の運動をy軸方向のフォーク236の実質的に線形運動に変換する。特に、マス220枢軸フレクシュア268を介してレバー228に移されるとともに、マス224の横から横への運動が枢軸フレクシュア276を介してレバー230に移される。レバー228と230は枢軸フレクシュア270と278においてそれぞれ、かつ、枢軸フレクシュア820と830においてそれぞれ旋回し、y軸方向のフォーク236の線運動を引き起こす。これらの遷移は、マス220と224横から横へと動くときに、それらのマスを僅かに旋回させる。特に、マス220は、それが左側に移動するとき、マス222の方へわずかに旋回し、右側に移動するとき、マス222からわずかに遠ざかり、一方、マス224は、それが右側に動くとき、マス226の方に僅かに旋回し、左側に動くとき、わずかにマス226から遠ざかる。
同様に、レバー232と234は、マス222と226の実質的に等しいが、反対方向の運動をy軸方向のフォーク238の実質的に線形の運動に本質的に変換する。特に、マス222の横から横への運動が枢軸フレクシュア272を介してレバー232に伝達されるとともに、マス226の横から横への運動が枢軸フレクシュア280を介してレバー234に伝達される。レバー232と234は枢軸フレクシュア274と282において、かつ、レバー232、234をフォーク238(図示省略)に結合する枢軸フレクシュアにおいてそれぞれ回転し、y軸方向のフォーク238の線運動を生じさせる。これら遷移は、マス222と226を、それらが横から横へと動くときに、わずかに旋回させる。特に、マス222は、それが左側に動くとき、マス220の方へわずかに旋回し、右に動くとき、マス220からわずかに遠ざかり、一方、マス226は、それが右に動くとき、マス224の方へわずかに旋回し、左に動くとき、マス224からわずかに遠ざかる。
逆位相運動の精度に加えて共振器が対称であることが旋回運動からの角運動量を打ち消して加速度計フレームの回転を引き起こさないことに注意すべきである。
図9はマス220、222、224及び226と、フォーク236及び238の相対的運動を示す。これら及び他の共振器は、実際は非常にわずかな距離動くものであり、図中の矢印は、マス220、222、224及び226が横から横へ動き、また旋回することを示すためにかなり誇張して描かれていることに注意すべきである。
上で議論したように、マスは静電ドライバを使用して静電的に移動され制御される。図11は1つの静電ドライバ、特にマス220のための静電ドライバ250の詳細図を示す。静電ドライバ250はマス220内に空洞を形成するようにマイクロ加工されている。マス220は、それに一体化された2セットの駆動フィンガ1110、1120と、前記空洞内に配設され基板に結合された2セットの電極フィンガ1130、1140を含む。電極フィンガ1140は駆動フィンガ1110の周り及びそれらの間にフィットし、電極フィンガ1130はの駆動フィンガ1120の周り及びそれらの間にフィットする。電極フィンガ1140に電圧が印加されるとき、駆動フィンガ1110は電極フィンガ1140に向かって引かれ、マス220を右に向かって動かす力をマス220に発生させる。電圧が電極フィンガ1130に印加されるとき、駆動フィンガ1120は電極フィンガ1130に向かって引かれ、ス220を左に向かって動かす力をマス220に発生させる。電圧を電極フィンガ1130と電極フィンガ1140に交互にかけると、マス220を前後に動かすことができる。マス220にトルクを発生させうる基板の表面剪断により発生するトルクを減少させるために、2セットの電極フィンガ1130,1140を直線的に基板に据えつけられることが望ましい。静電ドライバ248、252、254、256、258、260及び262は静電ドライバ250と実質的に同じであることに留意されたい。
静電ドライバ248、252、254、256、258、260及び262は、マスのほとんどのものが中心から離れるように、マイクロ加工されたジャイロスコープ構造100の中央近くに置かれることに注意すべきである。このことは、マイクロ加工されたジャイロスコープ構造100のコリオリ加速度に対する感度を増加させる。
レバー228、230、232及び234のための静電ドライバもまた存在する。図8はレバー228、230、232及び234のための静電ドライバ810の一部を示す。静電ドライバ810は、各レバー上に駆動フィンガを形成しかつ基板と結合される1セットの電極フィンガを形成するようにマイクロ加工されている。電極フィンガは駆動フィンガの周りにフィットし、かつ、駆動フィンガの間でフィットする。電圧が電極フィンガにかけられるとき、駆動フィンガは電極フィンガに向かって引かれ、各レバーが電極フィンガに向かって移動するように各レバーに作用する力を作り出す。静電ドライバ810は共振構造の運動を補強することに使用される。これらの代替的用途は共振器の速度を検出することである。共振を起こさせる電気機械オシレータループを閉じるためにその速度信号を使用することができる。
共振構造は、それらの運動範囲を高めるために、それらの固有共振周波数又はその付近において駆動されることが望ましいことに留意すべきである。これはジャイロスコープの感度を増加させることになる。
様々なジャイロスコープ構造は、理論上、それらが実質的に同じ周波数と位相で動くように、完全にバランスをとっていることに注意すべきである。しかしながら、実際には、様々なジャイロスコープ構造は完全にはバランスをとっていない。例えば、マス220、222、224、及び226は理論的に同じ(但し、x軸及び/又はy軸での鏡像)であるが、少なくとも、素材における部分的な変化及びマスを形成する方法により、通常同じものでない。同様の不均衡は様々なレバー、枢軸及びフレクシュアなどの他のジャイロスコープ構造に起こりうる。これらの不均衡はマスの異相横運動(以下「直角位相」(quadrature)と呼ぶ)として現れ、装置によって異なる。構造の機械的な剛さは実質的にこれらの運動を抑制するが、何らかの直角位相が残る。
したがって、電気直角位相の抑制構造は、直角位相量を減少させるのに通常使用される。一般原理は米国特許5,992,233においてクラークによって教えられている。本発明の実施の形態では、直角位相抑制構造は、マスの運動の方向上のマスの部分に近接して位置される少なくとも1つの電極を通常含む。電圧が電極にかけられるとき、結果として起こる静電力はマスを電極側に引き付ける横力を生じさせる。単一電極は通常各マスと協働するが、通常すべての電極が活性化されるわけではない。むしろ、特定の装置の直角位相挙動は、通常、直角位相を減少させるためにどの電極(もしあるならば)を活性化するかを決定するように特徴付けられる。
マスの運動に従って直角位相量が異なるので、電極によって与えられる横力を同様にマスの運動に従って異なるようにすることが望ましい。電極によってマスに適用される横力を変える1つの方法はマスの位置に基づいて電極にかける電圧を変えることである。特に、マスがフレームに向かって外側に移動するに従って電圧を増加し、マスがフレームから遠ざかるように内側に移動するのに従って減少させてやることであろう。そのような問題解決策は実際には非常に難しいだろう。
電極によってマスに作用させる横力を変える別の方法は、マスの位置に基づいて電極に隣接しているマスの量を変えることである。本発明の実施の形態に従って、図12は直角位相の抑制構造1200の詳細図を示す。2つの電極1210と1220は2つの隣接するマス220と222の間、特に、これらの2つのマス220と222によってそれらの中に形成された空洞に置かれる。電極1210はマス220に隣接していて、横力をマス220に下向き方向に与えることができる。電極1220はマス222に隣接していて、横力をマス222に上向き方向に与えることができる。電極によって与えられる横力量を変えるために、各マスにノッチが形成される。ノッチは電極の一部に隣接してフレームに近い電極の端部に向かって形成される。マスがフレームの方へ外側に移動するに従って、直接電極に隣接しているマスの長さは増加し、マスに作用するより大きな横力をもたらす。マスがフレームから遠ざかるように内側に移動するのに従い、直接電極に隣接するマスの長さは減少し、マスに作用するより小さい横力をもたらす。
本発明の典型的な実施の形態では、電圧は両方の電極1210と1220に印加されるのではなく、そのいずれか1つに印加される。電圧が印加される電極は、直角位相を特徴付け、その直角位相を最も減少させる電極(もしあるならば)を決定することによって、通常選択される。
同様の直角位相抑制構造がマス224と226の間で形成されることに注意するべきである。静的力を相殺するために、マス220と222の間の1つの電極と、マス224と226の間の1つの電極とを活性化することは共通である。
直角位相抑制電極の位置は2つのマス間の接合部における空洞に制限されないのに注意すべきである。電極を他の位置に置くことができる。様々な電極の位置はバランスをとるべきである。一般に、電極はある量のトルクをマスに発生させ、そのトルク量は少なくともある程度電極の位置に依存する。一般に、少量のトルクは問題でない。
発明の典型的な実施の形態では、定電圧が電極に適用される。一般に、これは好結果を生じる。代わりに、電極にかけられる電圧を変えることができる。これは、適切にされると、改良された直角位相の抑制となるが、複雑さが増加し、そのための費用が生じる。
図1と2は、フレームの4コーナに置いた加速度計サスペンションフレクシュア202、204、206及び208を示すが、本発明は加速度計サスペンションフレクシュアのそのような位置決めに制限されないことに注意されるべきである。むしろ、フレームに沿った様々な点に加速度計サスペンションフレクシュアを置くことができる。加速度計サスペンションフレクシュアはフレームの並進運動を制限するとともに、マスの中心に関してフレームの回転運動を許容することが望ましい。これは、それぞれ対の対向する加速度計サスペンションフレクシュアの間の線軸がジャイロスコープのマスの有効中心を通るように加速度計サスペンションフレクシュアを置くことによって達成されうる。
本発明の様々な局面は、上述の参照文献によって取り入れた仮出願の付属ページA−lないしA−9において詳細に説明される。
本発明の代替実施の形態では、加速度計サスペンションフレクシュアはフレームの4つのコーナよりむしろフレームの4辺の中間部に置かれる。図13は、本発明の実施の形態に従って、代替フレームサスペンション構成を示す。この実施の形態では、4つの加速度計サスペンションフレクシュア1304、1306、1308、及び1310はフレーム1302の4側の中央に置かれる。加速度計サスペンションフレクシュアのそのような位置決めにはある製造上の長所がある。特に、あるエッチング装置は直線格子に基づいてエッチを生成するので、格子に対して角度をなすように設定された形状(コーナに置かれフレクシュアがそうである)と比較すると、格子に直線的に並べられる形状(側部に置かれるフレクシュアがそうである)を生成することはより簡単である。コーナで置かれたフレクシュアはまた、特にスペース効率がよくない。
ジャイロスコープは、通常、基板(およそ600ミクロン厚)の上に酸化膜層(およそ2ミクロン厚さ)を堆積し、その酸化膜層上にフォトリソグラフィを使用して必要な位置(及び、特に、マイクロ加工されたジャイロスコープ構造100が基板と結合される位置)に孔を設け、ポリシリコンレイヤ(およそ4ミクロン厚)を酸化膜層の上に堆積させ、前記酸化膜層の孔を介して基板に接着される薄膜を形成するポリシリコン層(約4ミクロン厚)を前記酸化膜層に堆積させ、そのポリシリコン層上でフォトリソグラフィを使用してマイクロ加工されたジャイロスコープ構造100の複合体を作り、かつ、フッ化水素酸を使用して前記酸化膜層を取り除くことで生成される。したがって、結果としてのマイクロ加工されたジャイロスコープ構造100は基板のおよそ2ミクロン上方の位置に支持される。様々なドローイングからわかるように、マイクロ加工されたジャイロスコープ構造100には多くの孔があり、特にマス220、222、224、226、レバー228、230、232、234、及びフレーム210に存在することに注意すべきである。これらの孔は、フッ化水素酸が十分に酸化膜層を通過して流れるようにするためにマイクロ加工されたジャイロスコープ構造100に形成される。そのようなマイクロ加工されたジャイロスコープ構造100が真空中に置かれるならば、マイクロ加工されたジャイロスコープ構造100は、通常、非常にこわれやすいだろうし、また、通常、鳴り出すような高い共振周波数を持つであろう。マイクロ加工されたジャイロスコープ構造100を空気中において操作することによって、空気はマイクロ加工されたジャイロスコープ構造100にクッション作用を及ぼして鳴ることを減少させる。
本発明のマイクロ加工されたジャイロスコープは、通常、真空よりむしろ空気中で動作することに注意すべきである。空気中における運転は多くの長所と短所を有する。空気は粘性減衰により動いている構成要素の運動を妨害し、その結果、出力信号をより小さくする傾向があり、同期整流を損なう位相ずれを与える傾向があり、また、空気分子の衝撃(ブラウンモーション)によるノイズを引き起こし、その結果、SN比を減少する傾向がある。
しかしながら、他方では、空気中で運転することはマイクロ加工されたジャイロスコープを薄膜構造とすることを可能にし、薄膜構造を安全にするエアクッションを提供し、ジャイロスコープパッケージのハーメチックシールの必要性をなくし、その結果、最終製品の総合費用を低く抑えることができる。
発明の真の範囲から逸脱することなく、本発明は他の特定の形態をとることもできる。上に説明した実施の形態はあらゆる点で説明的なものであって、制限的なものでないことを考慮するものである。
したがって、本発明は、フレームの形状とサイズ、共振構造(マス、レバー、フォーク、フレクシュア及び枢軸フレクシュアを含む)の形状とサイズ、可動マスの数、共振構造の機械的結合方法、コリオリ加速度を検出するために使用するフィンガの数、コリオリ検出装置の電気的結合方法、共振構造の駆動方法、ジャイロスコープを製造するための材料と方法等に決して制限されない。
本発明の実施の形態に従って、模範的マイクロ加工されたジャイロスコープ構造を示す図である。 本発明の実施の形態に従って、マイクロ加工されたジャイロスコープ構造の様々な部品の識別を示す図である。 本発明の実施の形態に従って、マイクロ加工されたジャイロスコープ構造のフレームの強調表示を示す図である。 本発明の実施の形態に従って、マイクロ加工されたジャイロスコープ構造の可動マスの強調表示を示す図である。 本発明の実施の形態に従って、マイクロ加工されたジャイロスコープ構造のレバーの強調表示を示す図である。 本発明の実施の形態に従って、加速度計サスペンションフレクシュアの詳細表示を示す図である。 本発明の実施の形態に従って、可動マスとその関連するフレクシュア、及び枢軸フレクシュアを示す詳細図である。 本発明の実施の形態に従って、2つのレバーと1つのフォーク及びこれらに関連する枢軸フレクシュアと静電ドライバーを示す詳細図である。 本発明の実施の形態に従って、マイクロ加工されたジャイロスコープ構造の様々な共振構造の運動を示す図である。 本発明の実施の形態に従って、二重作動構成のためのコリオリ検出装置切替えを示す図である。 本発明の実施の形態に従って、可動マスのために静電ドライバを示す詳細図である。 本発明の実施の形態に従って、直角位相抑制構造を示す詳細図である。 本発明の実施の形態に従って、代替フレームサスペンション構成を示す図である。 本発明の実施の形態に従って、連結レバーに組み込まれる駆動又は検出フィンガであって、連結レバーにおいて異なる角度でかき戻されて連結レバーの正確な運動に適応するフィンガの構成を示す図である。

Claims (7)

  1. マイクロ加工されたジャイロスコープ装置であって、
    実質的に全ての側部が複数のフィンガによって囲まれたフレームと、
    前記フィンガ間に置かれた複数のコリオリ検出装置と、
    基板から前記フレームを吊すために前記フレームに結合された複数の加速度計サスペンションフレクチュアであって、前記基板の面における前記フレームの並進運動を制限しかつ前記基板の前記面における前記フレームの回転運動を許容するように設計された加速度計サスペンションフレクチュアと、
    前記フレームの中に吊された複数の共振構造であって、単一の共振周波数を生成するように機械的に連結され、かつ、慣性力が前記複数の共振構造から前記フレームに伝達することを制限し、前記基板の前記面における前記マイクロ加工されたなジャイロスコープ装置の回転運動が前記基板の前記面における前記基板に対する前記フレームの回転と、前記コリオリ検出装置に対する前記フィンガの対応する運動とを引き起こす複数の共振構造とを、
    含んでなるマイクロ加工されたジャイロスコープ装置。
  2. 前記共振構造は、前記共振構造の前記結合運動を共直線運動から並列運動に変えるために用いる複数のレバーを含んでなる請求項1の装置。
  3. 前記レバーはその取付点において形成される枢軸を有し、前記取付点が前記レバーに関して移動することがないように構成された請求項2の装置。
  4. 前記共振構造は、第1フレクチュアを介して結合した対の位相マスと、第2フレクチュアを介して結合した対の逆位相マスを含んでなる請求項1の装置。
  5. 前記共振構造は、前記複数のレバーに組み込まれた駆動又は検知フィンガを含んでなる請求項2の装置。
  6. 前記各マスは電子直角位相の抑圧のために少なくとも1つのノッチを含んでなる請求項4の装置。
  7. 前記共振構造は横方向に共直線に配列された固定駆動フィンガアレイを含み、前記アンカーが基板から離れた上端において互いに組となるように連結されて前記上端が前記基板端部において個々にねじれることに抵抗し、かつ、フィンガブスバーが可撓性の折り重ねられたフィンガによって前記上端に取り付けられている請求項1の装置。
JP2003566496A 2002-02-06 2003-02-06 マイクロ加工されたジャイロスコープ Expired - Lifetime JP4392246B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US35461002P 2002-02-06 2002-02-06
US36432202P 2002-03-14 2002-03-14
PCT/US2003/003615 WO2003067190A1 (en) 2002-02-06 2003-02-06 Micromachined gyroscope

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2005526959A true JP2005526959A (ja) 2005-09-08
JP2005526959A5 JP2005526959A5 (ja) 2006-03-23
JP4392246B2 JP4392246B2 (ja) 2009-12-24

Family

ID=27737467

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003566496A Expired - Lifetime JP4392246B2 (ja) 2002-02-06 2003-02-06 マイクロ加工されたジャイロスコープ

Country Status (8)

Country Link
US (5) US6877374B2 (ja)
EP (3) EP1472507B1 (ja)
JP (1) JP4392246B2 (ja)
CN (1) CN1628238B (ja)
AT (1) ATE509254T1 (ja)
AU (1) AU2003209031A1 (ja)
DE (1) DE03707756T1 (ja)
WO (1) WO2003067190A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5617921B2 (ja) * 2010-06-16 2014-11-05 トヨタ自動車株式会社 複合センサ

Families Citing this family (91)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1472507B1 (en) * 2002-02-06 2011-05-11 Analog Devices, Inc. Micromachined gyroscope
FR2859528B1 (fr) * 2003-09-09 2006-01-06 Thales Sa Gyrometre micro-usine a double diapason et a detection dans le plan de la plaque usinee
JP4433747B2 (ja) * 2003-09-29 2010-03-17 株式会社村田製作所 角速度検出装置
DE102004018623A1 (de) * 2004-04-16 2005-11-03 Wabco Gmbh & Co.Ohg Verfahren zum Betrieb eines Sensors
US7478557B2 (en) * 2004-10-01 2009-01-20 Analog Devices, Inc. Common centroid micromachine driver
US7155976B2 (en) * 2005-01-05 2007-01-02 Industrial Technology Research Institute Rotation sensing apparatus and method for manufacturing the same
US7231824B2 (en) * 2005-03-22 2007-06-19 Honeywell International Inc. Use of electrodes to cancel lift effects in inertial sensors
US7213458B2 (en) * 2005-03-22 2007-05-08 Honeywell International Inc. Quadrature reduction in MEMS gyro devices using quad steering voltages
US7421897B2 (en) * 2005-04-14 2008-09-09 Analog Devices, Inc. Cross-quad and vertically coupled inertial sensors
FI121539B (fi) * 2005-06-03 2010-12-31 Valtion Teknillinen Menetelmä mikromekaanisten komponenttien valmistamiseksi sekä tällaisella menetelmällä valmistettu piimikromekaaninen rakenne ja sen käyttö
FR2895501B1 (fr) * 2005-12-23 2008-02-29 Commissariat Energie Atomique Microsysteme, plus particulierement microgyrometre, avec au moins deux massesm oscillantes couplees mecaniquement
DE102007057044B4 (de) 2007-09-10 2021-08-05 Continental Teves Ag & Co. Ohg Mikromechanische Feder
US8215151B2 (en) * 2008-06-26 2012-07-10 Analog Devices, Inc. MEMS stiction testing apparatus and method
US8371167B2 (en) * 2008-07-29 2013-02-12 Pixart Imaging Inc. In-plane sensor, out-of-plane sensor, and method for making same
US20100058861A1 (en) 2008-09-11 2010-03-11 Analog Devices, Inc. Piezoelectric Transducers and Inertial Sensors using Piezoelectric Transducers
US8151641B2 (en) * 2009-05-21 2012-04-10 Analog Devices, Inc. Mode-matching apparatus and method for micromachined inertial sensors
JP2012528335A (ja) * 2009-05-27 2012-11-12 キング アブドゥーラ ユニバーシティ オブ サイエンス アンド テクノロジー 面外サスペンション方式を使用するmems質量−バネ−ダンパシステム
US8418555B2 (en) * 2009-06-26 2013-04-16 Honeywell International Inc. Bidirectional, out-of-plane, comb drive accelerometer
US8266961B2 (en) 2009-08-04 2012-09-18 Analog Devices, Inc. Inertial sensors with reduced sensitivity to quadrature errors and micromachining inaccuracies
US8710599B2 (en) * 2009-08-04 2014-04-29 Fairchild Semiconductor Corporation Micromachined devices and fabricating the same
US8593155B2 (en) 2009-08-13 2013-11-26 Analog Devices, Inc. MEMS in-plane resonators
US8783103B2 (en) 2009-08-21 2014-07-22 Analog Devices, Inc. Offset detection and compensation for micromachined inertial sensors
US9097524B2 (en) 2009-09-11 2015-08-04 Invensense, Inc. MEMS device with improved spring system
US8534127B2 (en) 2009-09-11 2013-09-17 Invensense, Inc. Extension-mode angular velocity sensor
US8701459B2 (en) * 2009-10-20 2014-04-22 Analog Devices, Inc. Apparatus and method for calibrating MEMS inertial sensors
US8424383B2 (en) * 2010-01-05 2013-04-23 Pixart Imaging Incorporation Mass for use in a micro-electro-mechanical-system sensor and 3-dimensional micro-electro-mechanical-system sensor using same
US8453504B1 (en) 2010-01-23 2013-06-04 Minyao Mao Angular rate sensor with suppressed linear acceleration response
US8459111B1 (en) 2010-01-23 2013-06-11 Minyao Mao Angular rate sensor with suppressed linear acceleration response
US8616057B1 (en) * 2010-01-23 2013-12-31 Minyao Mao Angular rate sensor with suppressed linear acceleration response
DE112011103124T5 (de) 2010-09-18 2013-12-19 Fairchild Semiconductor Corporation Biegelager zum Verringern von Quadratur für mitschwingende mikromechanische Vorrichtungen
US9278845B2 (en) 2010-09-18 2016-03-08 Fairchild Semiconductor Corporation MEMS multi-axis gyroscope Z-axis electrode structure
WO2012037538A2 (en) 2010-09-18 2012-03-22 Fairchild Semiconductor Corporation Micromachined monolithic 6-axis inertial sensor
CN103221333B (zh) 2010-09-18 2017-05-31 快捷半导体公司 多晶片mems封装
US9156673B2 (en) 2010-09-18 2015-10-13 Fairchild Semiconductor Corporation Packaging to reduce stress on microelectromechanical systems
US9455354B2 (en) 2010-09-18 2016-09-27 Fairchild Semiconductor Corporation Micromachined 3-axis accelerometer with a single proof-mass
WO2012040245A2 (en) 2010-09-20 2012-03-29 Fairchild Semiconductor Corporation Through silicon via with reduced shunt capacitance
KR101332701B1 (ko) 2010-09-20 2013-11-25 페어차일드 세미컨덕터 코포레이션 기준 커패시터를 포함하는 미소 전자기계 압력 센서
US20120103909A1 (en) * 2010-09-23 2012-05-03 Molycorp Minerals, Llc Particulate cerium dioxide and an in situ method for making and using the same
US8616056B2 (en) 2010-11-05 2013-12-31 Analog Devices, Inc. BAW gyroscope with bottom electrode
US8919199B2 (en) 2010-12-01 2014-12-30 Analog Devices, Inc. Apparatus and method for anchoring electrodes in MEMS devices
US9091544B2 (en) 2010-11-05 2015-07-28 Analog Devices, Inc. XY-axis shell-type gyroscopes with reduced cross-talk sensitivity and/or mode matching
US8631700B2 (en) 2010-11-05 2014-01-21 Analog Devices, Inc. Resonating sensor with mechanical constraints
US9039976B2 (en) 2011-01-31 2015-05-26 Analog Devices, Inc. MEMS sensors with closed nodal anchors for operation in an in-plane contour mode
ITTO20110782A1 (it) * 2011-08-31 2013-03-01 Milano Politecnico Struttura di rilevamento perfezionata per un accelerometro risonante ad asse z
TWI467179B (zh) 2011-12-02 2015-01-01 Pixart Imaging Inc 三維微機電感測器
US9062972B2 (en) 2012-01-31 2015-06-23 Fairchild Semiconductor Corporation MEMS multi-axis accelerometer electrode structure
US8978475B2 (en) 2012-02-01 2015-03-17 Fairchild Semiconductor Corporation MEMS proof mass with split z-axis portions
US9157928B2 (en) 2012-03-19 2015-10-13 Analog Devices, Inc. Microelectronic device testing apparatus and method
US8754694B2 (en) 2012-04-03 2014-06-17 Fairchild Semiconductor Corporation Accurate ninety-degree phase shifter
US8742964B2 (en) 2012-04-04 2014-06-03 Fairchild Semiconductor Corporation Noise reduction method with chopping for a merged MEMS accelerometer sensor
US9488693B2 (en) 2012-04-04 2016-11-08 Fairchild Semiconductor Corporation Self test of MEMS accelerometer with ASICS integrated capacitors
US9027403B2 (en) * 2012-04-04 2015-05-12 Analog Devices, Inc. Wide G range accelerometer
KR102058489B1 (ko) 2012-04-05 2019-12-23 페어차일드 세미컨덕터 코포레이션 멤스 장치 프론트 엔드 전하 증폭기
EP2647952B1 (en) 2012-04-05 2017-11-15 Fairchild Semiconductor Corporation Mems device automatic-gain control loop for mechanical amplitude drive
EP2647955B8 (en) 2012-04-05 2018-12-19 Fairchild Semiconductor Corporation MEMS device quadrature phase shift cancellation
US9069006B2 (en) 2012-04-05 2015-06-30 Fairchild Semiconductor Corporation Self test of MEMS gyroscope with ASICs integrated capacitors
KR101999745B1 (ko) 2012-04-12 2019-10-01 페어차일드 세미컨덕터 코포레이션 미세 전자 기계 시스템 구동기
US9625272B2 (en) 2012-04-12 2017-04-18 Fairchild Semiconductor Corporation MEMS quadrature cancellation and signal demodulation
US9212908B2 (en) 2012-04-26 2015-12-15 Analog Devices, Inc. MEMS gyroscopes with reduced errors
DE102013014881B4 (de) 2012-09-12 2023-05-04 Fairchild Semiconductor Corporation Verbesserte Silizium-Durchkontaktierung mit einer Füllung aus mehreren Materialien
US9709595B2 (en) 2013-11-14 2017-07-18 Analog Devices, Inc. Method and apparatus for detecting linear and rotational movement
US9599471B2 (en) 2013-11-14 2017-03-21 Analog Devices, Inc. Dual use of a ring structure as gyroscope and accelerometer
JP6398348B2 (ja) * 2014-06-12 2018-10-03 セイコーエプソン株式会社 機能素子、機能素子の製造方法、電子機器、および移動体
US9917243B2 (en) 2014-10-16 2018-03-13 Analog Devices, Inc. Method of fabricating piezoelectric MEMS devices
US10746548B2 (en) 2014-11-04 2020-08-18 Analog Devices, Inc. Ring gyroscope structural features
US9869552B2 (en) * 2015-03-20 2018-01-16 Analog Devices, Inc. Gyroscope that compensates for fluctuations in sensitivity
CN104897144B (zh) * 2015-05-29 2019-05-24 上海交通大学 多驱动电极模态耦合微固体模态陀螺
US10696541B2 (en) 2016-05-26 2020-06-30 Honeywell International Inc. Systems and methods for bias suppression in a non-degenerate MEMS sensor
US10371521B2 (en) 2016-05-26 2019-08-06 Honeywell International Inc. Systems and methods for a four-mass vibrating MEMS structure
US10514259B2 (en) 2016-08-31 2019-12-24 Analog Devices, Inc. Quad proof mass MEMS gyroscope with outer couplers and related methods
EP3336485B1 (en) 2016-12-15 2020-09-23 Safran Landing Systems UK Limited Aircraft assembly including deflection sensor
US10697774B2 (en) 2016-12-19 2020-06-30 Analog Devices, Inc. Balanced runners synchronizing motion of masses in micromachined devices
US10627235B2 (en) 2016-12-19 2020-04-21 Analog Devices, Inc. Flexural couplers for microelectromechanical systems (MEMS) devices
US10415968B2 (en) 2016-12-19 2019-09-17 Analog Devices, Inc. Synchronized mass gyroscope
US10551191B2 (en) 2017-02-17 2020-02-04 Invensense, Inc. Deformation rejection mechanism for offset minimization of out-of-plane sensing MEMS device
US10655963B2 (en) 2017-02-17 2020-05-19 Invensense, Inc. Anchoring structure for a sensor insensitive to anchor movement
US10697994B2 (en) 2017-02-22 2020-06-30 Semiconductor Components Industries, Llc Accelerometer techniques to compensate package stress
US10948294B2 (en) 2018-04-05 2021-03-16 Analog Devices, Inc. MEMS gyroscopes with in-line springs and related systems and methods
US10760909B2 (en) 2018-06-18 2020-09-01 Nxp Usa, Inc. Angular rate sensor with in-phase drive and sense motion suppression
US10482423B1 (en) * 2018-08-02 2019-11-19 Logiquip Llc Automated inventory control system
US10648998B2 (en) * 2018-08-02 2020-05-12 Logiquip Llc Automated inventory control system using pivotable divider
US11320448B2 (en) 2018-08-02 2022-05-03 Logiquip Llc Pivoting stock divider with motion detector
US20200141732A1 (en) * 2018-11-02 2020-05-07 Semiconductor Components Industries, Llc Multi-axis gyroscope with reduced bias drift
JP7225817B2 (ja) * 2019-01-17 2023-02-21 セイコーエプソン株式会社 角速度センサー、慣性計測装置、電子機器および移動体
US11656077B2 (en) 2019-01-31 2023-05-23 Analog Devices, Inc. Pseudo-extensional mode MEMS ring gyroscope
FR3102240B1 (fr) * 2019-10-18 2021-10-01 Safran Electronics & Defense Capteur à compensation mécanique de l’anisotropie de fréquence
US11193771B1 (en) 2020-06-05 2021-12-07 Analog Devices, Inc. 3-axis gyroscope with rotational vibration rejection
US11686581B2 (en) 2020-06-08 2023-06-27 Analog Devices, Inc. Stress-relief MEMS gyroscope
WO2021252398A1 (en) 2020-06-08 2021-12-16 Analog Devices, Inc. Drive and sense stress relief apparatus
US11519726B2 (en) 2020-06-19 2022-12-06 Analog Devices, Inc. Mechanism for selective coupling in microelectromechanical systems inertial sensors
US11698257B2 (en) 2020-08-24 2023-07-11 Analog Devices, Inc. Isotropic attenuated motion gyroscope

Family Cites Families (100)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US519371A (en) * 1894-05-08 Fruit-picker
US2309853A (en) * 1941-04-10 1943-02-02 Sperry Gyroscope Co Inc Rate and attitude indicating instrument
US4381672A (en) * 1981-03-04 1983-05-03 The Bendix Corporation Vibrating beam rotation sensor
US4654663A (en) * 1981-11-16 1987-03-31 Piezoelectric Technology Investors, Ltd. Angular rate sensor system
US4510802A (en) * 1983-09-02 1985-04-16 Sundstrand Data Control, Inc. Angular rate sensor utilizing two vibrating accelerometers secured to a parallelogram linkage
US4524619A (en) * 1984-01-23 1985-06-25 Piezoelectric Technology Investors, Limited Vibratory angular rate sensor system
US4598585A (en) * 1984-03-19 1986-07-08 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Planar inertial sensor
US4744248A (en) * 1985-07-25 1988-05-17 Litton Systems, Inc. Vibrating accelerometer-multisensor
US4744249A (en) * 1985-07-25 1988-05-17 Litton Systems, Inc. Vibrating accelerometer-multisensor
US4884446A (en) * 1987-03-12 1989-12-05 Ljung Per B Solid state vibrating gyro
US5016072A (en) * 1988-01-13 1991-05-14 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Semiconductor chip gyroscopic transducer
US5195371A (en) * 1988-01-13 1993-03-23 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Semiconductor chip transducer
US5111693A (en) * 1988-01-13 1992-05-12 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Motion restraints for micromechanical devices
US5216490A (en) * 1988-01-13 1993-06-01 Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Bridge electrodes for microelectromechanical devices
US5025346A (en) 1989-02-17 1991-06-18 Regents Of The University Of California Laterally driven resonant microstructures
US5056366A (en) * 1989-12-26 1991-10-15 Litton Systems, Inc. Piezoelectric vibratory rate sensor
US5144184A (en) * 1990-01-26 1992-09-01 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical device with a trimmable resonant frequency structure and method of trimming same
US5016076A (en) * 1990-02-28 1991-05-14 At&T Bell Laboratories Lateral MOS controlled thyristor
US5537144A (en) * 1990-06-11 1996-07-16 Revfo, Inc. Electro-optical display system for visually displaying polarized spatially multiplexed images of 3-D objects for use in stereoscopically viewing the same with high image quality and resolution
US6155115A (en) 1991-01-02 2000-12-05 Ljung; Per Vibratory angular rate sensor
US5205171A (en) 1991-01-11 1993-04-27 Northrop Corporation Miniature silicon accelerometer and method
US5241861A (en) * 1991-02-08 1993-09-07 Sundstrand Corporation Micromachined rate and acceleration sensor
US6295870B1 (en) * 1991-02-08 2001-10-02 Alliedsignal Inc. Triaxial angular rate and acceleration sensor
DE4106288C2 (de) * 1991-02-28 2001-05-31 Bosch Gmbh Robert Sensor zur Messung von Drücken oder Beschleunigungen
DE4107658A1 (de) * 1991-03-09 1992-09-17 Bosch Gmbh Robert Montageverfahren fuer mikromechanische sensoren
DE69213976T2 (de) * 1991-03-12 1997-04-03 New Sd Inc Stimmgabelinertialsensor mit einem Ende und Verfahren
US5203208A (en) * 1991-04-29 1993-04-20 The Charles Stark Draper Laboratory Symmetrical micromechanical gyroscope
US5635639A (en) * 1991-09-11 1997-06-03 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical tuning fork angular rate sensor
US5331852A (en) * 1991-09-11 1994-07-26 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Electromagnetic rebalanced micromechanical transducer
US5359893A (en) * 1991-12-19 1994-11-01 Motorola, Inc. Multi-axes gyroscope
US5377544A (en) * 1991-12-19 1995-01-03 Motorola, Inc. Rotational vibration gyroscope
US5313835A (en) * 1991-12-19 1994-05-24 Motorola, Inc. Integrated monolithic gyroscopes/accelerometers with logic circuits
US5329815A (en) * 1991-12-19 1994-07-19 Motorola, Inc. Vibration monolithic gyroscope
US5408877A (en) * 1992-03-16 1995-04-25 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical gyroscopic transducer with improved drive and sense capabilities
US5767405A (en) * 1992-04-07 1998-06-16 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Comb-drive micromechanical tuning fork gyroscope with piezoelectric readout
US5349855A (en) * 1992-04-07 1994-09-27 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Comb drive micromechanical tuning fork gyro
GB9212099D0 (en) * 1992-06-06 1992-07-22 Lucas Ind Plc Angular rate sensor and method of production thereof
US5734105A (en) * 1992-10-13 1998-03-31 Nippondenso Co., Ltd. Dynamic quantity sensor
US5367217A (en) * 1992-11-18 1994-11-22 Alliedsignal Inc. Four bar resonating force transducer
US5650568A (en) * 1993-02-10 1997-07-22 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Gimballed vibrating wheel gyroscope having strain relief features
US5555765A (en) * 1993-02-10 1996-09-17 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Gimballed vibrating wheel gyroscope
US5492596A (en) * 1994-02-04 1996-02-20 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Method of making a micromechanical silicon-on-glass tuning fork gyroscope
US5481914A (en) * 1994-03-28 1996-01-09 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Electronics for coriolis force and other sensors
DE4414237A1 (de) * 1994-04-23 1995-10-26 Bosch Gmbh Robert Mikromechanischer Schwinger eines Schwingungsgyrometers
US5987986A (en) * 1994-07-29 1999-11-23 Litton Systems, Inc. Navigation grade micromachined rotation sensor system
US5646348A (en) * 1994-08-29 1997-07-08 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical sensor with a guard band electrode and fabrication technique therefor
US5581035A (en) 1994-08-29 1996-12-03 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical sensor with a guard band electrode
DE4431338C2 (de) * 1994-09-02 2003-07-31 Bosch Gmbh Robert Beschleunigungssensor
US5530342A (en) * 1994-09-30 1996-06-25 Rockwell International Corporation Micromachined rate sensor comb drive device and method
JP3412293B2 (ja) * 1994-11-17 2003-06-03 株式会社デンソー 半導体ヨーレートセンサおよびその製造方法
DE4442033C2 (de) * 1994-11-25 1997-12-18 Bosch Gmbh Robert Drehratensensor
DE4447005A1 (de) * 1994-12-29 1996-07-04 Bosch Gmbh Robert Vorrichtung zur Ermittlung einer Drehrate
US5763781A (en) * 1995-02-23 1998-06-09 Netzer; Yishay Coupled resonator vibratory rate sensor
GB2301671B (en) * 1995-05-30 1999-10-13 Allied Signal Inc Angular rate sensor electronic balance
US5635638A (en) 1995-06-06 1997-06-03 Analog Devices, Inc. Coupling for multiple masses in a micromachined device
US5635640A (en) * 1995-06-06 1997-06-03 Analog Devices, Inc. Micromachined device with rotationally vibrated masses
US5747961A (en) * 1995-10-11 1998-05-05 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Beat frequency motor position detection scheme for tuning fork gyroscope and other sensors
US6064169A (en) * 1995-10-11 2000-05-16 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Motor amplitude control circuit in conductor-on-insulator tuning fork gyroscope
US5600065A (en) * 1995-10-25 1997-02-04 Motorola, Inc. Angular velocity sensor
JPH09196682A (ja) * 1996-01-19 1997-07-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 角速度センサと加速度センサ
JP3039364B2 (ja) * 1996-03-11 2000-05-08 株式会社村田製作所 角速度センサ
US5880369A (en) 1996-03-15 1999-03-09 Analog Devices, Inc. Micromachined device with enhanced dimensional control
US5992233A (en) 1996-05-31 1999-11-30 The Regents Of The University Of California Micromachined Z-axis vibratory rate gyroscope
US6250156B1 (en) * 1996-05-31 2001-06-26 The Regents Of The University Of California Dual-mass micromachined vibratory rate gyroscope
US5696323A (en) 1996-06-25 1997-12-09 Alliedsignal, Inc. Two bar resonant beam Coriolis rate sensor
US5795988A (en) * 1996-07-01 1998-08-18 Alliedsignal Inc. Gyroscope noise reduction and drift compensation
JP3702412B2 (ja) * 1996-07-29 2005-10-05 アイシン精機株式会社 角速度検出装置
JPH1047966A (ja) * 1996-07-31 1998-02-20 Aisin Seiki Co Ltd 角速度センサ
DE19641284C1 (de) * 1996-10-07 1998-05-20 Inst Mikro Und Informationstec Drehratensensor mit entkoppelten orthogonalen Primär- und Sekundärschwingungen
US5892153A (en) * 1996-11-21 1999-04-06 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Guard bands which control out-of-plane sensitivities in tuning fork gyroscopes and other sensors
GB2320571B (en) * 1996-12-20 2000-09-27 Aisin Seiki Semiconductor micromachine and manufacturing method thereof
US5955668A (en) * 1997-01-28 1999-09-21 Irvine Sensors Corporation Multi-element micro gyro
US5911156A (en) * 1997-02-24 1999-06-08 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Split electrode to minimize charge transients, motor amplitude mismatch errors, and sensitivity to vertical translation in tuning fork gyros and other devices
US5783973A (en) * 1997-02-24 1998-07-21 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Temperature insensitive silicon oscillator and precision voltage reference formed therefrom
US6044707A (en) * 1997-06-20 2000-04-04 Aisin Seiki Kabushiki Kaisha Angular rate sensor
US6032531A (en) * 1997-08-04 2000-03-07 Kearfott Guidance & Navigation Corporation Micromachined acceleration and coriolis sensor
US6122961A (en) * 1997-09-02 2000-09-26 Analog Devices, Inc. Micromachined gyros
US6070464A (en) * 1997-09-05 2000-06-06 Motorola, Inc. Sensing structure comprising a movable mass and a self-test structure
EP1023607A2 (en) * 1997-10-14 2000-08-02 Irvine Sensors Corporation Multi-element micro gyro
US6230563B1 (en) * 1998-06-09 2001-05-15 Integrated Micro Instruments, Inc. Dual-mass vibratory rate gyroscope with suppressed translational acceleration response and quadrature-error correction capability
US5920012A (en) * 1998-06-16 1999-07-06 Boeing North American Micromechanical inertial sensor
JP3882973B2 (ja) * 1998-06-22 2007-02-21 アイシン精機株式会社 角速度センサ
US6009751A (en) * 1998-10-27 2000-01-04 Ljung; Bo Hans Gunnar Coriolis gyro sensor
US6164134A (en) 1999-01-29 2000-12-26 Hughes Electronics Corporation Balanced vibratory gyroscope and amplitude control for same
JP4126833B2 (ja) * 1999-03-12 2008-07-30 株式会社デンソー 角速度センサ装置
JP3407689B2 (ja) * 1999-04-22 2003-05-19 株式会社村田製作所 振動ジャイロ
US6189381B1 (en) * 1999-04-26 2001-02-20 Sitek, Inc. Angular rate sensor made from a structural wafer of single crystal silicon
US6289733B1 (en) * 1999-05-12 2001-09-18 Hughes Electronics Corporation Planar vibratory gyroscopes
US6257059B1 (en) * 1999-09-24 2001-07-10 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Microfabricated tuning fork gyroscope and associated three-axis inertial measurement system to sense out-of-plane rotation
US6311555B1 (en) * 1999-11-17 2001-11-06 American Gnc Corporation Angular rate producer with microelectromechanical system technology
US6370937B2 (en) * 2000-03-17 2002-04-16 Microsensors, Inc. Method of canceling quadrature error in an angular rate sensor
WO2001079862A1 (en) 2000-04-14 2001-10-25 Microsensors, Inc. Z-axis micro-gyro
DE10029317A1 (de) * 2000-06-20 2002-01-10 Hasse & Wrede Gmbh Verfahren zur Herstellung eines Drehschwingungsdämfergehäuses, insbesondere eines Gehäuses für einen Viskositätsdrehschwingungsdämpfer
KR100493151B1 (ko) * 2000-07-19 2005-06-02 삼성전자주식회사 멀티폴디스 스프링을 이용한 다축 구동을 위한싱글스테이지 마이크로 구동기
US6516666B1 (en) * 2000-09-19 2003-02-11 Motorola, Inc. Yaw rate motion sensor
JP2003185482A (ja) * 2001-12-17 2003-07-03 Yokogawa Electric Corp コリオリ質量流量計
JP3870895B2 (ja) * 2002-01-10 2007-01-24 株式会社村田製作所 角速度センサ
EP1472507B1 (en) * 2002-02-06 2011-05-11 Analog Devices, Inc. Micromachined gyroscope
US6860151B2 (en) * 2003-02-07 2005-03-01 Honeywell International Inc. Methods and systems for controlling movement within MEMS structures
US6767758B1 (en) * 2003-04-28 2004-07-27 Analog Devices, Inc. Micro-machined device structures having on and off-axis orientations

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5617921B2 (ja) * 2010-06-16 2014-11-05 トヨタ自動車株式会社 複合センサ

Also Published As

Publication number Publication date
EP1472507A1 (en) 2004-11-03
EP2325604B1 (en) 2013-04-24
DE03707756T1 (de) 2005-05-04
US20050139005A1 (en) 2005-06-30
EP2327959B1 (en) 2012-09-12
US7216539B2 (en) 2007-05-15
JP4392246B2 (ja) 2009-12-24
ATE509254T1 (de) 2011-05-15
US7357025B2 (en) 2008-04-15
EP1472507B1 (en) 2011-05-11
CN1628238A (zh) 2005-06-15
AU2003209031A1 (en) 2003-09-02
US20030172753A1 (en) 2003-09-18
US7032451B2 (en) 2006-04-25
CN1628238B (zh) 2012-05-23
US20060191340A1 (en) 2006-08-31
US20060191339A1 (en) 2006-08-31
US7204144B2 (en) 2007-04-17
WO2003067190A8 (en) 2005-08-18
EP2327959A1 (en) 2011-06-01
EP2325604A1 (en) 2011-05-25
WO2003067190A1 (en) 2003-08-14
AU2003209031A8 (en) 2003-09-02
US20060179945A1 (en) 2006-08-17
US6877374B2 (en) 2005-04-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4392246B2 (ja) マイクロ加工されたジャイロスコープ
JP5615967B2 (ja) 水平に向けられた駆動電極を有するmemsジャイロスコープ
US6513380B2 (en) MEMS sensor with single central anchor and motion-limiting connection geometry
EP3428576B1 (en) Angular rate sensor with in-phase motion suppression structure
US6860151B2 (en) Methods and systems for controlling movement within MEMS structures
US7210347B2 (en) Micromachined inertial sensor for measuring rotational movements
JP2006053152A (ja) 振動数検出を用いたマイクロジャイロメーター
US8997568B2 (en) Micromachined gyroscope with detection in the plane of the machined wafer
US7089792B2 (en) Micromachined apparatus utilizing box suspensions
JPH11337345A (ja) 振動するマイクロジャイロメータ
CN101876547A (zh) 一种采用静电平衡梳齿驱动器的水平轴微机械音叉陀螺
JPH0743262B2 (ja) 振動ジャイロ
JP2001174265A (ja) 角速度センサ
JP2002013931A (ja) 角速度・加速度センサの梁構造
CN102679969B (zh) 包括多个谐振结构的装置和带有正交抑制的显微加工的陀螺仪
KR100319920B1 (ko) 비대칭 내부 비틀림 짐벌을 가진 측면 구동 방식의 짐벌형 자이로스코프
WO2009119470A1 (ja) 角速度センサ

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20060131

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060131

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080131

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080212

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20080502

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20080513

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20080812

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090519

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090817

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090915

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091009

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121016

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4392246

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131016

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term