JP2005510445A - 多孔質結晶性物質(itq−21)およびフッ化物イオンの不存在下でのその製法 - Google Patents

多孔質結晶性物質(itq−21)およびフッ化物イオンの不存在下でのその製法 Download PDF

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Abstract

本発明は多孔質結晶性物質(ITQ−21)に関する。該多孔質結晶性物質は、か焼処理された形態においては次式で表される化学組成を有する:
:nYO:mZO
(式中、n+mは少なくとも5の数であり、Xは3価元素を示し、ZはGeを示し、YはGeとは異なる少なくとも1種の4価元素を示し、Y/Z比は少なくとも1である。)該多孔質結晶性物質のX線回折値を表1に示す。本発明は、フッ化物イオンの不存在下において、構造規定剤としてN(16)−メチルスパルテインを使用して該多孔質結晶性物質を製造する方法にも関する。本発明による該多孔質結晶性物質は芳香族化合物のアルキル化、水素化分解および接触分解法において酸性形態および2官能性触媒の形態で使用することができる。

Description

本発明は多孔質結晶性物質、特にゼオライト系物質の分野に属する。より詳細には、本発明は、酸性形態および/または適当なカチオンで交換した形態で、有機化合物によって構成される供給原料の転化プロセス(例えば、炭化水素の接触分解法、炭化水素の接触水添分解法、芳香族オレフィンのアルキル化とエステル化プロセス、芳香族化合物のオレフィンを用いるアルキル化とエステル化プロセス、アシル化プロセスおよびアニリンとホルムアルデヒドとの反応等)における触媒または触媒成分として有用なゼオライト系物質の部門に属する。
ゼオライトは、触媒、吸着剤およびイオン交換体等としての重要な用途が見出されている多孔質の結晶性アルミノシリケートである。このようなゼオライト系物質の多くは十分に解明された構造を有している。該構造中には、特定の分子は吸着させるが、細孔を通過するには大きすぎる分子の結晶内部への進入を妨げるような均一なサイズと形態を有する溝や空洞が形成されている。このような特徴に起因して、これらの物質にはモレキュラーシーブ(molecular shieve)としての特性が付与される。この種のモレキュラーシーブは格子中に周期表IIIA族のSiやその他の元素を含むことができ、これらの元素は四面体状に配位される。これらの四面体は、3次元格子を形成する酸素原子を介して、該四面体の頂点において結合している。格子の位置に四面体状に配位されたIIIA族の元素に起因する負電荷は、結晶中に存在するカチオン(例えば、アルカリ金属カチオン、アルカリ土類金属カチオン等)によって補償される。カチオンの種類はイオン交換法によって全体的もしくは部分的に別の種類のカチオンによって交換してもよい。従って、所望のカチオンを選択することによって所定のシリケートの特性を変化させることが可能となる。
多くのゼオライトは、構造規定剤(structure directing agent;SDA)として作用する有機分子の存在下で合成されている。SDAとして作用する有機分子は、一般にその組成中に窒素原子を含んでいるので、反応媒体中で安定な有機カチオンを発生させる。
シリカの移動化(mobilization)はOH基と塩基性媒体の存在下でおこなうことができるが、ゼオライトZSM−5の場合には、このような条件はSDA自体の水酸化物、例えば、テトラプロピルアンモニウムヒドロキシド等の導入によって実現することができる。フッ化物イオンも、ゼオライトの合成におけるシリカの移動化剤として作用する。この点に関しては、例えば、ヨーロッパ特許出願EP−A−337479号明細書に記載されている。この場合、ZSM−5を合成するためのシリカの移動化剤としては、低いpH条件下において、HFが水中で使用されている。しかしながら、フッ化物イオンが存在する場合には、合成装置の材質として特殊な材料を使用しなければならないだけでなく、廃水や廃ガスの特殊な処理が必要となることを考えるならば、工業的観点からは、この合成におけるフッ化物イオンの使用はOHの使用に比べて望ましくない。
本発明は、微細な多孔質の結晶性物質(以下、ITQ−21という)および塩基性媒体中においてフッ化物の不存在下で該結晶性物質を製造する方法を提供するためになされたものである。
本発明による新規な結晶性物質は、か焼形態および合成後の未か焼形態において、その他の既知のゼオライト系物質の場合とは異なるX線回折図形を示す。この新規物質のか焼状態における最も重要な回折線は次の表1に示すものである。
Figure 2005510445
本発明による結晶性物質(ITQ−21)は、か焼処理に付された無水状態においては次式で表されるモル組成を有する:
xX:yYO:zZO
式中、Xは3価元素、例えばAl、B、Fe、In、Ga、Crまたはこれらの混合元素を示し、Yは4価元素、例えばSi、Ti、Snまたはこれらの混合元素を示すが、Siが好ましく、ZはGeを示し、(y+z)/xは5未満の値を示すが、7〜∞の間の値であってもよく、また、y/zは少なくとも1の値を示す。
上記の値から明らかなように、結晶性物質ITQ−21は付加的な3価元素の不存在下で合成することができる。
該結晶性物質が未か焼状態で示す最も重要な回折線は、以下の表2に示すものである。
Figure 2005510445
上記の回折図形は、グラファイトモノクロメーターおよび銅のKα放射線を用いる自動発散スロットを備えたX’Pert回折計(フィリップ社製)を用いて得られた。回折データは、2θの値(θはブラッグ角を示す)を0.01°でパスさせることによって記録した(パスあたりのカウント時間は10秒間とした)。回折線の相対強度は最強ピークに対する百分率として計算した。
80〜100%のピークは非常に強いピーク(VS)とし、60〜80%のピークは強いピーク(S)とし、40〜60%のピークは中間のピーク(M)とし、20〜40%のピークは弱いピーク(W)とし、0〜20%のピークは非常に弱いピーク(VW)とした。
未か焼状態の結晶性物質または熱処理に付した後の結晶性物質に補償カチオンが含まれている場合には、該カチオンは他の金属イオン、HまたはHの前駆体(例えば、NH )を用いて交換することができる。イオン交換によって導入することができるカチオンのなかでも、触媒としての該結晶性物質の活性において明確な役割を果たすものが好ましく、特に、次に例示するカチオンが好ましい:H、周期表の希土類カチオン、VIII族の金属カチオン、IIA族、IIIA族、IVA族、Va族、IB族、IIB族、IIIB族、IVB族、VB族およびVIIB族の元素のカチオン。
触媒を調製するためには、本発明による結晶性物質は水素化−脱水素化剤、例えば白金、パラジウム、ニッケル、レニウム、コバルト、タングステン、モリブデン、バナジウム、クロム、マンガンおよび鉄等と組み合せることができる。これらの元素の導入は、結晶化工程において、適当な場合における交換法および/または含浸法あるは物理的混合法によっておこなうことができる。これらの元素はカチオン形態および/または分解によって適当な触媒形態の酸化物もしくは金属成分を生成する塩もしくは他の化合物として導入することができる。
結晶性物質(ITQ−21)は、次の成分を含有する反応混合物を原料とし、塩基性触媒中において付加的なフッ化物イオンの不存在下で調製する:HO、所望による3価元素(X、例えばAlおよび/またはB)源もしくは該元素の酸化物、1種もしくは複数種の4価元素(Y、例えばSi)源もしくは該元素の酸化物、Ge源(例えばGeO)および有機構造規定剤(R)(一般的にはN(16)−メチルスパルテイニウムの塩であるが、水酸化物が好ましい)。
反応混合物は、下記の酸化物のモル比で表される組成を有する:
試薬 有用な範囲 好ましい範囲
(YO+ZO)/Z 5< 7<
O/(YO+ZO) 1〜50 2〜30
R/(YO+ZO) 0.1〜3.0 0.1〜1.0
OH/(YO+ZO) 0.1〜3.0 0.1〜1.0
YO+ZO 1< 2<
ITQ−21の結晶化は、80〜200℃のオートクレーブ内において、結晶化に達するのに十分な時間にわたって(例えば12時間〜30日間)、静的な条件下または撹拌条件下でおこなうことができる。
結晶化工程が終了した後、ITQ−21の結晶を母液から分離させて回収する。合成混合物の成分は異なる原料源に由来すること、およびこれに応じて結晶化の時間と条件を変化させることができることに留意すべきである。合成を促進させるためには、種結晶としてITQ−21の結晶を、全酸化物に対して15重量%までの量で合成混合物に添加することができる。この種結晶は、ITQ−21の結晶化工程の前または該工程の間で添加することができる。
有機試薬は、例えば抽出処理および/または250℃よりも高温で2分間〜25時間にわたる熱処理によって除去することができる。
本発明による結晶性物質は、既知の方法に従ってペレット状に成形した後、酸性形態および/または適当なカチオン交換した形態で次の反応に用いられる触媒の成分として使用することができる。
本発明を実施の観点からいくつかの実施例によって説明する。
(実施例1)
N(16)−メチルスパルテイニウムヒドロキシドの調製
(−)−スパルテイン(20.25g)をアセトン(100ml)と混合した。ヨウ化メチル(17.58g)をこの混合物中へ撹拌下で滴下した。24時間後、クリーム色の沈殿物が析出した。ジエチルエーテル(200ml)を反応混合物へ添加し、これを濾過処理に付し、得られた固体を真空乾燥させた。95%よりも高い収率でN(16)−メチルスパルテイニウムヨウ化物が得られた。
このヨウ化物を、イオン交換樹脂を用いる以下の手順に従って、水酸化物によって交換した。N(16)−メチルスパルテイニウムヨウ化物(31.50g)を水(92.38g)に溶解させた。この水溶液を「ダウエス(Dowes)BR」樹脂(85g)を添加し、この混合物を撹拌状態で翌日まで保持した。次いで、混合物を濾過処理に付し、蒸留水で洗浄することによってN(16)−メチルスパルテイニウムヒドロキシド溶液(0.65mol/kg)を124.36g得た。
(実施例2)
GeO(2.08g)をN−メチルスパルテイニウムヒドロキシド溶液(濃度:0.59mol/1000g)25.43gに溶解させた。GeOが溶解した後、この溶液中にテトラエチルオルトシリケート(4.16g)を加えて加水分解させ、生成したエタノールが蒸発するまで撹拌下で蒸発処理をおこなった。水(1.86g)にITQ−21の結晶(0.15g)を懸濁させた懸濁液を添加した。合成混合物の最終組成は次の通りである:
0.67SiO:0.33GeO:0.50C1629NOH:4H
この合成混合物を、テフロン(登録商標)で内張りしたステンレススチール製のオートクレーブ中において、175℃で12日間加熱した。得られた固体を濾取し、洗浄後、100℃で乾燥させることによってITQ−21を得た。この生成物のX線回折図形の最も重要な回折線を以下の表3に示す。
Figure 2005510445
表3において、「VS」は、最強ピークの80〜100%に相当する非常に強い相対強度を示し、「S」は、最強ピークの60〜80%に相当する強い相対強度を示し、「M」は、最強ピークの40〜60%に相当する中間の相対強度を示し、「W」は、最強ピークの20〜40%に相当する弱い相対強度を示し、「VW」は、最強ピークの0〜20%に相当する非常に弱い相対強度を示す。
この生成物を540℃で3時間のか焼処理に付して得られた物質の最も重要な回折線を以下の表4に示す。
Figure 2005510445
(実施例3)
GeO(0.54g)を予め溶解させたN−メチルスパルテイニウムヒドロキシド溶液(濃度:0.59mol/1000g)25.43gにおいてテトラエチルオルトシリケート(5.21g)を加水分解させた。この混合物を、生成したエタノールが除去されるまで撹拌下での蒸発処理に付した。水(2.05g)にITQ−21の結晶(0.10g)を懸濁させた懸濁液を添加した。混合物の最終組成は次の通りである:
0.83SiO:0.17GeO:0.50C1629NOH:4H
この混合物を、テフロン(登録商標)で内張りしたステンレススチール製のオートクレーブ中において175℃で13日間加熱した。得られた固体を濾取し、洗浄後、100℃で乾燥させることによってITQ−21を非晶質物質として得た。
(実施例4)
GeO(0.33g)をN−メチルスパルテイニウムヒドロキシド溶液(濃度:0.59mol/1000g)27.95gに溶解させた。GeOが溶解した後、該溶液中においてテトラエチルオルトシリケート(6.25g)を加水分解させ、生成したエタノールが蒸発するまで撹拌下での蒸発処理をおこなった。水(1.86g)にITQ−21の結晶(0.15g)を懸濁させた懸濁液を添加した。混合物の最終組成は次の通りである:
0.91SiO:0.09GeO:0.50C1629NOH:4H
この混合物を、テフロン(登録商標)で内張りしたステンレススチール製のオートクレーブ中において175℃で24日間加熱することによってITQ−21を非晶質生成物として得た。
(実施例5)
GeO(0.528g)を予め溶解させたN−メチルスパルテイニウムヒドロキシド溶液(濃度:0.564mol/1000g)26.576g中において、アルミニウムイソプロポキシド(0.245g)とテトラエチルオルトシリケート(5.213g)を加水分解させた。この混合物を、加水分解中に生成したエタノールとイソプロパノールが除去されるまで、撹拌下での蒸発処理に付した。水(2.05g)にITQ−21の結晶(0.10g)を懸濁させ、この懸濁液を添加した。混合物の最終組成は次の通りである:
0.83SiO2:0.17GeO2:0.02Al2O3:0.50C16H29NOH:6H2O
この混合物を、テフロン(登録商標)で内張りしたステンレススチール製のオートクレーブ中において175℃で13日間加熱した。生成物を濾取し、洗浄後、100℃で乾燥させることによってAl−ITQ−21を非晶質物質として得た。

Claims (11)

  1. か焼された状態において次式で表される化学組成を有する多孔質結晶性物質において、該化学組成中のn+mが少なくとも5の数を示し、Y/Z比が少なくとも1であると共に、下記の表1に示すデータと実質上一致するX線回折図形を示すことを特徴とする該多孔質結晶性物質:
    :nYO:mZO
    (式中、Xは3価元素を示し、ZはGeを示し、YはGe以外の少なくとも1種の4価元素を示す。)
    Figure 2005510445
    (表1において、「VS」は最強ピークの80〜100%に相当する非常に強い相対強度を示し、「M」は最強ピークの40〜60%に相当する中間の相対強度を示し、「W」は最強ピークの20〜40%に相当する弱い相対強度を示す。)
  2. 合成後の未か焼状態において、下記の表2に示すデータと実質上一致するX線回折図形を示す請求項1記載の多孔質結晶性物質:
    Figure 2005510445
    (表2において、「VS」は最強ピークの80〜100%に相当する非常に強い相対強度を示し、「S」は最強ピークの60〜80%に相当する強い強度を示し、「M」は最強ピークの40〜60%に相当する中間の相対強度を示し、「W」は最強ピークの20〜40%に相当する弱い相対強度を示す。)
  3. XがAl、B、In、GaおよびFeから選択される少なくとも1種の3価元素を示し、YがSi、Sn、TiおよびVから選択される少なくとも1種の4価元素を示す請求項1または2記載の多孔質結晶性物質。
  4. XがB、AlまたはB+Alを示し、YがSiを示す請求項1から3いずれかに記載の多孔質結晶性物質。
  5. 下記の工程(i)〜(iii)を含む請求項1または2記載の多孔質結晶性物質の合成方法:
    (i)3価元素(X)源、HO、4価元素(Y)源、4価元素(Z)源および構造規定剤(R)を含有する合成混合物であって、下記の酸化物モル比で表される組成を有する合成混合物を、合成物の結晶が得られるまで80〜200℃の温度で反応させる:
    (YO+ZO)/X 5<
    O/(YO+ZO) 1〜50
    R/(YO+ZO) 0.1〜3.0
    OH/(YO+ZO) 0.1〜3.0
    YO/ZO 1<
    (ii)合成物の結晶を回収する。
    (iii)回収された合成物の結晶をか焼処理に付す。
  6. 合成物の内部に吸蔵された有機物を、抽出法、250℃よりも高温での2分間〜25時間の熱処理法およびこれらの併用によって除去する請求項5記載の方法。
  7. 合成混合物が下記のモル比で表される組成を有する請求項5または6記載の方法:
    (YO+ZO)/X 7<
    O/(YO+ZO) 2〜30
    R/(YO+ZO) 0.1〜1.0
    OH/(YO+ZO) 0.1〜1.0
    YO+ZO 2<
  8. RがN(16)−メチルスパルテイニウムの塩である請求項5から7いずれかに記載の方法。
  9. RがN(16)−メチルスパルテイニウムの塩である請求項5から8いずれかに記載の方法。
  10. Yが4価元素の酸化物である請求項5から7いずれかに記載の方法。
  11. Zが4価元素の酸化物である請求項5から7いずれかに記載の方法。

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