JP2005505372A5

JP2005505372A5 -

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Publication number: JP2005505372A5
Application number: JP2003535633A
Authority: JP
Filing date: 2002-10-01
Publication date: 2006-01-05

Claims

プラシド・リング像を角膜（１１）上に投影して、反射プラシド・リング像を生成するように配置されたプラシド・リング照明器（２０）を有する角膜の診断機器（１００）であって；上記角膜の診断機器（１００）は、
スリット光束を前記角膜（１１）上に投影して、スリット光束（３４ｉ）の像を生成するように配置された複数のスリット・ランプ投影機（３１ｉ）と、
前記反射プラシド・リング像と前記スリット光束の像を検出するために光学的に配置されたカメラ・システム（４０）と、
前記スリット・ランプ投影機（３１ｉ）、前記プラシド・リング照明器（２０）および、前記カメラ・システム（４０）に結合されて、前記スリット光束の像と反射プラシド・リング像が、所定のシーケンスで生成され検出されるようにする制御装置（５０）とを備え、
前記制御装置（５０）は、前記検出した反射プラシド・リング像と前記検出したスリット光束の像に応じて、前記角膜の厚さプロファイルを決定する角膜の診断機器（１００）。
前記複数のスリット・ランプ投影機の少なくとも１つがフラッシュ・ランプを備える請求項１に記載の角膜の診断機器。
前記複数のスリット・ランプ投影機（３１ｉ）の少なくとも１つが光ファイバ（３２ｉ）を備える請求項１又は２に記載の角膜の診断機器。
前記複数のスリット・ランプ投影機（３１ｉ）の少なくとも１つがＣＷ光源を備える請求項１〜３のいづれかに記載の角膜の診断機器。
前記複数のスリット・ランプ投影機（３１ｉ）の少なくとも１つが発光ダイオードを備える請求項１〜４のいづれかに記載の角膜の診断機器。
それぞれ前記複数のスリット・ランプ投影機（３１ｉ）が所定の軸に対して実質的に所定の一定の角度でスリット光束（３４ｉ）を投影する請求項１〜５のいづれかに記載の角膜の診断機器。
それぞれ前記複数のスリット・ランプ投影機（３１ｉ）が、互いに分離した均一なクロッキング角度でスリット光束（３４ｉ）を投影する請求項１〜６のいづれかに記載の角膜の診断機器。
前記複数のスリット・ランプ投影機（３１ｉ）の少なくとも１つが白色光のスペクトルを有するスリット光束（３４ｉ）を投影する請求項１〜７のいづれかに記載の角膜の診断機器。
前記複数のスリット・ランプ投影機（３１ｉ）の少なくとも１つが青色光のスペクトルを有するスリット光束（３４ｉ）を投影する請求項１〜８のいづれかに記載の角膜の診断機器。
前記複数のスリット・ランプ投影機（３１ｉ）の少なくとも１つが赤外スペクトルを有するスリット光束（３４ｉ）を投影する請求項１〜９のいづれかに記載の角膜の診断機器。
前記複数のスリット・ランプ投影機（３１ｉ）が４〜８つの投影機を備える請求項１〜１０のいづれかに記載の角膜の診断機器。
前記制御装置（５０）が、前記スリット光束の像と前記反射プラシド・リング像を所定のシーケンスで生成し、検出させるシンクロナイザー（３５）を備える請求項１〜１１のいづれかに記載の角膜の診断機器。
前記スリット光束の像が生成され検出される前に、前記所定のシーケンスが前記反射プラシド・リング像を生成させ検出させる請求項１〜１２のいづれかに記載の角膜の診断機器。
前記所定のシーケンスで前記スリット光束の像を生成し、検出した後に、前記プラシド・リング像を生成し検出する請求項１〜１３のいづれかに記載の角膜の診断機器。
前記プラシド・リング照明器（２０）が第１の波長を有する放射線を投射し、前記スリット光束（３４ｉ）が前記第１の波長とは異なる第２の波長を有する放射線を含み、
前記カメラ・システム（４０）が、前記第１の波長を有する放射線を検出する第１のカメラ、前記第２の波長を有する放射線を検出する第２のカメラを備える請求項１〜１４のいづれかに記載の角膜の診断機器。
前記スリット光束の像を生成し、前記第２のカメラで検出する間の少なくとも一部で、前記反射プラシド・リング像を生成させ、それを前記第１のカメラで検出する所定のシーケンスを前記制御装置（５０）が提供する請求項１５に記載の角膜の診断機器。
前記カメラ・システム（４０）が可動レンズを備える請求項１に記載の角膜の診断機器。
前記プラシド・リング照明器（２０）の局所の接平面の外側に配置された参照放射源をさらに備え、前記カメラ・システム（４０）が、前記角膜（１１）からの参照放射の反射像を検出し、前記制御装置（５０）が、前記検出された反射参照像、前記検出された反射プラシド・リング像、前記検出されたスリット光束の像に応じて、角膜の厚さプロファイルを決定する請求項１に記載の角膜の診断機器。
所定のシーケンスで、プラシド・リング照明器（２０）からのプラシド・リング像と、複数のスリット光束（３４ｉ）を角膜（１１）上に投影して、反射プラシド・リング像（１４）とスリット光束（３４ｉ）の像を生成し、前記反射プラシド・リング像と前記スリット光束の像を検出するために光学的に配置されたカメラ・システム（４０）を使用するステップと、
前記検出された反射プラシド・リング像と前記検出されたスリット光束の像を解析して、角膜の厚さプロファイルを決定するステップとを含む、角膜の厚さ測定方法。
複数のスリット光束（３４ｉ）を投影する前記ステップが、少なくとも１つのフラッシュ・ランプを使用してスリット光束を生成するステップを含む請求項１９に記載の方法。
複数のスリット光束（３４ｉ）を投影する前記ステップが、少なくとも１つの光ファイバ（３２ｉ）を使用してスリット光束を生成するステップを含む請求項１９〜２０のいづれかに記載の方法。
複数のスリット光束（３４ｉ）を投影する前記ステップが、少なくとも１つのＣＷ光源を使用してスリット光束を生成するステップを含む請求項１９〜２１のいづれかに記載の方法。
複数のスリット光束（３４ｉ）を投影する前記ステップが、少なくとも１つの発光ダイオードを使用してスリット光束を生成するステップを含む請求項１９〜２２のいづれかに記載の方法。
複数のスリット光束（３４ｉ）を投影する前記ステップが、所定の軸に対して実質的に所定の一定の角度で前記スリット光束を投影するステップを含む請求項１９〜２３のいづれかに記載の方法。
複数のスリット光束（３４ｉ）を投影する前記ステップが、互いに分離した均一なクロッキング角度で前記スリット光束を投影するステップを含む請求項１９〜２４のいづれかに記載の方法。
複数のスリット光束（３４ｉ）を投影する前記ステップが、白色光のスペクトルを有する少なくとも１つのスリット光束を投影するステップを含む請求項１９〜２５のいづれかに記載の方法。
複数のスリット光束（３４ｉ）を投影する前記ステップが、青色光のスペクトルを有する少なくとも１つのスリット光束を投影するステップを含む請求項１９〜２６のいづれかに記載の方法。
複数のスリット光束（３４ｉ）を投影する前記ステップが、赤外光のスペクトルを有する少なくとも１つのスリット光束を投影するステップを含む請求項１９〜２７のいづれかに記載の方法。
複数のスリット光束（３４ｉ）を投影する前記ステップが、４〜８つのスリット光束を投影するステップを含む請求項１９〜２８のいづれかに記載の方法。
放射線を前記プラシド・リング照明器（２０）の局所の接平面の外側に配置された参照放射源（２５）から前記角膜（１１）に投射して、反射参照像を生成し、前記反射参照像を検出し、前記検出された反射参照像、前記検出された反射プラシド・リング像、前記検出されたスリット光束の像を解析して、前記角膜の厚さプロファイルを決定するステップをさらに含む請求項２９に記載の方法。