JP2005504303A - コンピュータ制御式awa - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
本発明は概略的に自動配線解析器(AWA)に関し、より詳細には、携帯可能であると共に自給式であり且つ燃料充満環境において配線もしくはハーネスを試験し得るコンピュータ制御式(smart)の自動配線解析器に関する。
【背景技術】
【0002】
ケーブルまたはハーネスに関する試験または解析を実施する間、従来の配線解析器は通常的に、試験対象のケーブルもしくはハーネスとインタフェースすべく設計されたコネクタを含む専用のハーネス・ボードなどのインタフェース固定取付具に接続される。上記ハーネス・ボードのコネクタが配線解析器に対してどのように接続され、または取付けられるかを決定するプロセスは、ソフトウェアにより導かれ乍らハーネス・ボードのコネクタの各ピンをプローブ検査することで行われる。代替的に、ハーネス・ボードのピンと配線解析器のピンとの間の接続を決定すべく、一回につき一個のピンに対するキーボード入力も利用され得る。この様にすると、512接点のハーネスに対しては512回の手動操作段階(プローブ検査もしくはキー入力)が必要とされる。
【発明の開示】
【発明が解決しようとする課題】
【0003】
従って上記配線解析器は通常、ベンチ操作に対してのみ適用可能な大きな体積および高重量を有する。この種の配線解析器は典型的に架台に取付けられると共に、非常に長寸のケーブルと共に車両もしくは飛行機まで運ばれねばならない。更に上記配線解析器は通常は60Hz電源で作動され、燃料充満環境では使用され得ない。
【課題を解決するための手段】
【0004】
相互に積層された少なくとも2台のモジュール式配線解析器ボックスを備えたコンピュータ制御式自動配線解析器が提供される。上記モジュール式配線解析器ボックスは、上記コンピュータ制御式自動配線解析器内に組み込まれた少なくとも一個のコネクタの複数本のインタフェース・ピンに接続された複数本の試験ピンを有する。これにより、外部インタフェース固定取付具を導入することなく、試験対象のケーブルに対する直接的接続が確立され得る。上記各試験ピンと上記各インタフェース・ピンとの間の接続の配線リストは、基準ファイル内に予め記憶される。ケーブルが試験されるべきとき、該ケーブルの配線パターンに従い試験プログラムを生成すべく上記基準ファイルが呼び出される。従って、上記ケーブルは試験され得る。
【0005】
本発明において提供される上記コンピュータ制御式自動配線解析器は、60Hzまたは400Hzのいずれかで動作し得る変圧器を更に備える。これに加え、上記システムを収納すべく軍用運搬ケースが使用され得ることから、それは軍事用途で使用され得る。付加的なインタフェース固定取付具が排除されるので、約28,300cm3 (1立方フィート)未満の体積および約10.9kg(約24ポンド)の重量が実現され得る。請求項1に係るコンピュータ制御式自動配線解析器は、軍用運搬ケースを更に備える。更に上記コンピュータ制御式自動配線解析器は、MIL−STD−461DのEMI/EMC要件を満足するフィルタおよびEMIガスケット材を採用し得る。
【0006】
本発明の一実施例においては、ケーブル/ハーネスの短絡状態を試験する方法が提供される。少なくとも一個の組込式コネクタを備えた配線解析器が提供される。該配線解析器は、上記組込式コネクタの複数本のインタフェース・ピンに接続された複数本の試験ピンを有する。上記試験ピンと上記インタフェース・ピンとの間の配線リストを含む基準ファイルが呼び出される。試験対象のケーブルと同一種類の公知の良好ケーブルが配備されると共に、該公知の良好ケーブルは上記コネクタに連結されることで、試験対象のケーブルの配線パターンが生成されて試験プログラムとして保存される。試験対象のケーブルは次に上記コネクタに連結されて上記試験プログラムにより試験される。この方法においては、上記試験対象のケーブルの一端のみが上記コネクタに連結される。ケーブルの各配線間にまたは配線とアースとの間に何らかの異常経路が存在する場合、それは上記試験プログラムにおける配線パターンと異なるので、短絡エラーが表示される。
【0007】
本発明のこれらのならびに他の特徴は、図面を参照すれば更に明らかとなろう。
【発明を実施するための最良の形態】
【0008】
図1は、RS−232インタフェース(図3の201を参照)などのインタフェースを介してコンピュータにより制御され得るコンピュータ制御式自動配線解析器のブロック図である。図2を参照すると上記コンピュータ制御式自動配線解析器は、好適には軍事規格運搬ケースである運搬ケース30内に収納される。ケース上には、携帯性を提供すべくハンドル201が取付けられ得る。ケース内にコンピュータ制御式自動配線解析器10を固定して保護すべく、該ケース上には種々の施錠部202および203が設置され得る。
【0009】
図1を参照すると、コンピュータ制御式自動配線解析器10は、デージーチェーンで相互に接続されたベース・ユニット12および付属ユニット14を含む。ベース・ユニット12および付属ユニット14は両者ともに、たとえばシリス社の配線解析器(Cirris Wiring Analyzer)などの典型的なモジュール式配線解析器ボックスから選択される。ベース・ユニット12および付属ユニット14の各々は、256接点を試験する試験機能を有する。すなわちコンピュータ制御式自動配線解析器10は、512接点を試験する試験機能を有する。コンピュータ制御式自動配線解析器10の試験ピンの本数は特定の要件に従い改変して設計され得ることは理解される。すなわち、モジュール式配線解析器ボックスの台数および種類は、シリス社の2台の配線解析器に限定されない。これに代えて、異なる試験接点数を有する別種のハーネス試験器もまたコンピュータ制御式自動配線解析器10に対して適用され得る。
【0010】
ハーネス・ボードを取入れるに代えて、図1に示すように、コンピュータ制御式自動配線解析器10の制御パネル(図3を参照)上に複数のI/Oコネクタ16が設置される。ベース・ユニット12および付属ユニット14はI/Oコネクタ16に接続され、試験対象のケーブルまたはハーネスとコンピュータ制御式自動配線解析器10との間の直接的接続が提供される。すなわち試験対象のケーブルまたはハーネスは、接続インタフェースとしてのハーネス・ボードを使用することなくコンピュータ制御式自動配線解析器10に対して直接的に接続、または取付けられる。各I/Oコネクタ16の各ピンがベース・ユニット12および付属分析器14に対してどのように接続、または取付けられるかの配線リストは、ソフトウェア・ファイルのデータベース内に予め記憶される。この実施例においては、試験対象の種々のケーブルまたはハーネスに接続され得る軍用I/Oコネクタから選択された4個のコネクタ16がコンピュータ制御式自動配線解析器10のパネルに取付けられる。好適には、コネクタ16の各々は128本のインタフェース・ピンを有する。
【0011】
ハーネスまたはケーブルを試験する前に、上記I/Oコネクタの各インタフェース・ピンが上記モジュール式配線解析器のピンに対してどのように接続されるかの配線リストが確立されねばならない。さもなければ、試験器(上記配線解析器)により表示される結果は、実際のワイヤ・ハーネス箇所の代わりに該試験器の試験接点に対するものである。図4は試験対象の一切のハーネスまたはケーブルを自己学習するためのフローチャートを示しており、ベース・ユニット12または付属ユニット14に対してI/Oコネクタ16のインタフェース・ピンをマッピングすべく(AWARefと称される)基準ファイルが生成される。試験対象のハーネスまたはケーブルの自己学習プログラムを導入する前に、図5においては基準ファイルAWARefを生成するプロセスが導入される。
【0012】
図5を参照すると、ステップ500においては各コネクタ16の内のひとつのコネクタの形式が入力される。コネクタ形式は、試験されるべきハーネスの形態に従い選択され得る。ステップ502においては、上記コネクタの名称が入力される。たとえば軍事用途に対しては、図1および図3に示された如き4個のコネクタ16に対して品番DB38999が入力される。ステップ504においては、たとえばコネクタのインタフェース・ピンに対する行および列などのコネクタのグリッド・パターンが入力される。ステップ506においては、インタフェース・ピンの各々に特定番号が付けられる。ステップ508においては、上記コネクタの上記情報がデータベース・ライブラリに記憶される。ステップ510において、上記I/Oコネクタは上記モジュール式配線解析器ボックスに取付けられる。ステップ512においては、配線リスト、すなわち上記I/Oコネクタの各インタフェース・ピンが上記モジュール式配線解析器ボックスのどのピンに接続されるかのリストが獲得される。ステップ500〜512は、全てのI/Oコネクタが設置されるまで反復される。この実施例において4個のI/Oコネクタは、J1、J2、J3およびJ4などの参照用名称を以て設置される。上記プロセスにおいては、上記モジュール式配線解析器ボックスに接続されるべくコネクタが選択されたなら、選択されたコネクタのインタフェース・ピン番号が画面上に表示される。上記I/Oコネクタのインタフェース・ピンに結線された上記モジュール式配線解析器ボックスのピン番号は、キーボード入力で入力される。これにより、表示された選択済コネクタのインタフェース・ピンに結線された上記モジュール式配線解析器ボックスのピン番号が獲得されて表示される。
【0013】
上述された如く、試験されるべきケーブルもしくはハーネスが一個以上のコネクタ16に接続されたとき、上記ソフトウェア・ファイルは自己学習ステップを実施する。I/Oコネクタ16の各ピンがベース・ユニット12および付属ユニット14に対してどのように接続されまたは取付けられるかの配線リストから成るソフトウェア・ファイル“AWARef”が実行される。新たなハーネスまたはケーブルが試験されるべき場合、この新たなハーネスと同一形式である公知の良好な(known−good)ハーネスが一個以上のコネクタに連結される。上記AWARefプログラムが呼び出され、公知の良好ハーネスの配線パターンが自動的に学習され、表示され、且つ、上記ハーネスと関係付けられたファイル名を備えた試験プログラムとして記憶される。
【0014】
図4を参照すると、新たなハーネスを試験するプロセスフローが示される。ステップ400においては、新たなハーネスが試験されるべき場合、この新たなハーネスの公知の良好のものが上記I/Oコネクタの内の少なくともひとつに連結される。ステップ402においては、上記ベース・ユニットおよび/または付属ユニットに取付けられたI/Oコネクタのリストと、各I/Oコネクタの各インタフェース・ピンが上記システム(上記ベース・ユニットまたは付属ユニット)にどのように接続されるかの配線リストとを含むAWARefファイルが呼び出される。段階404においては、公知の良好ハーネスの配線パターンを獲得するために“配線パターン学習”制御が呼び出される如く、編集モードが選択される。従って、試験されるべき新たなハーネスの配線パターンが獲得される。この制御により、上記AWARefファイルで定義されたI/Oコネクタに対して試験対象の新たなケーブルまたはハーネスがどのように接続されるかが学習される。ステップ406においては、試験されるべき新たなハーネスに対する試験プログラムが上記配線パターンに従い自動的に生成される。ステップ408においては、上記I/Oコネクタの内の少なくともひとつに対して試験対象のハーネスが直接的に取付けられ得ると共に、上記試験が自動的に実行される。
【0015】
従って本発明は、複数のI/Oコネクタと自己プログラミング試験デバイスとを含む自動配線解析器を提供する。上記試験デバイスは、上記各I/Oコネクタの配線リストを、すなわち、各I/Oコネクタの各インタフェース・ピンが上記自己プログラミング試験デバイスに対してどのように接続されるかを識別すべく動作する。より詳細には上記配線リストは、上記各I/Oコネクタの各インタフェース・ピンが上記自己プログラミング試験デバイスのどのピンに接続されるべきかの情報を含んでいる。上記試験デバイスはまた、上記各I/Oコネクタのいずれが試験対象のハーネスに接続されているかを識別すると共に、この試験対象のハーネスの配線パターンを獲得する様にも作用する。試験対象のハーネスの試験シーケンスは、各I/Oコネクタの上記配線リストと試験対象のハーネスの上記配線パターンとに従い、上記自己プログラミング試験デバイスのイニシャライザすなわち上記試験プログラムにより自動的に生成される。
【0016】
先行技術においては、ケーブルに関して短絡試験を実施する場合、そのケーブルの両端がコネクタに接続されねばならない。本発明の一実施例は、この種の試験に対して更に容易な手法を提供する。図6に示された如く、複数本の配線61、62、63、64を備えたケーブル60が試験されるとき、ケーブル60の一端のみが上記各コネクタに連結される。上記ケーブルを試験する方法は、以下の各段階を含む。上記コンピュータ制御式自動配線解析器に対しては、試験されるべきケーブルと同一の形式もしくは品番の公知の良好の基準ケーブルが接続される。その編集モードにおいては、上記AWARefファイルが呼び出される。該AWARefファイルは、公知の良好ケーブルにおいては全開放回路(all open circuit)が存在することを学習する。この全開放回路の情報は、全開放回路を定義する試験プログラムとして記憶される。次に試験されるべきケーブルがその一端にて上記コネクタに連結されると共に、もしたとえば配線63と64との間における何らかの異常接続などの何らかの短絡が生ずると、ケーブル60における配線間に経路が生成される。この予測外の経路は、短絡エラーとして表示される。
【0017】
上記システム内に各コネクタを組み込むことで、試験対象の各ハーネスもしくはケーブルに対して個々のピンをプローブ検査する段階は排除される。また外部ハーネス・ボードが排除されるので、上記コンピュータ制御式自動配線解析器は下位システムのケーブルおよびハーネスの配線を試験してトラブルシュートを行うべく航空機に搭載され得る。上記コンピュータ制御式AWAは、たとえば約28,300cm3 (1立方フィート)未満の小体積かつ約10.9kg(約24ポンド)の軽量を以て構築され得る。更に、シールされた軍用運搬ケース内に上記システムを収納すると共に緩衝器を配備することで、上記コンピュータ制御式AWAの耐久性は高められる。従ってそれは、砂地、塵埃、塩霧および燃料充満環境などの苛酷な環境において作動され得る。また、燃料充満環境において兵器を点火したり火花放電を生成し得る放射線を排除すべく、フィルタおよびEMIガスケット材が採用される。更に、60Hzまたは400Hzで動作し得るべく特に設計された変圧器が設置されることから、上記コンピュータ制御式AWAは400Hz電力を必要とする軍用機で使用され得る。
【0018】
実際、本明細書中に記述された特徴および実施例の各々は、それ自体で、または、他のひとつ以上の特徴および実施例と組み合わせて使用され得る。従って本発明は図示実施例により限定されるのではなく、各請求項の有効性を保護すべく最も広範囲で合理的な様式で解釈されたときに添付の各請求項により定義されるものとする。
【図面の簡単な説明】
【0019】
【図1】本発明に係るコンピュータ制御式自動配線解析器の回路を示すブロック図。
【図2】上記自動配線解析器の斜視図。
【図3】コンピュータ制御式自動配線の制御パネルを示す側面図。
【図4】試験対象のケーブル/ハーネスを試験または解析するフローチャート。
【図5】インタフェース・コネクタと配線解析器との間における配線リストを含む基準ファイルを生成するフローチャート。
【図6】ケーブルの一端のみを連結することで短絡を試験する機構を示す説明図。
Claims (11)
- 複数のI/Oコネクタであって、該I/Oコネクタの内の少なくともひとつは試験対象のハーネスに対して係合可能である複数のI/Oコネクタと、
上記I/Oコネクタの各々に対して択一的に接続可能な自己プログラミング試験デバイスであって、当該試験デバイスに接続された上記I/Oコネクタを識別すべく且つ上記識別されたI/Oコネクタおよび試験対象の上記ハーネスと関係付けられたハーネス試験シーケンスを生成すべく動作する自己プログラミング試験デバイスとを備える自動配線解析器。 - 前記試験デバイスは複数のハーネス試験シーケンスを記憶し、各試験シーケンスは特定のI/Oコネクタに対応すると共に該特定のI/Oコネクタの識別に応じて実施される請求項1に記載の自動配線解析器。
- 前記試験デバイスは試験シーケンス・イニシャライザを更に備え、該イニシャライザは吟味対象の各I/Oコネクタの配線リストと試験対象のハーネスの配線パターンとを識別すべく作用し、該イニシャライザは更に上記配線リストおよび配線パターンに対応するワイヤ・ハーネス試験シーケンスを生成して記憶すべく作用する請求項1に記載の自動配線解析器。
- 40Hzまたは400Hzで動作し得る変圧器を更に備えて成る請求項1に記載の自動配線解析器。
- 当該自動配線解析器の体積は約28,300cm3 (約1立方フィート)である請求項1に記載の自動配線解析器。
- 当該自動配線解析器の重量は約10.9kg(約24ポンド)である請求項1に記載の自動配線解析器。
- 前記自己試験デバイスを囲繞する軍用運搬ケースを更に備えて成る請求項1に記載の自動配線解析器。
- フィルタおよびEMIガスケット材を更に備えて成る請求項1に記載の自動配線解析器。
- ハーネスの一端のみを配線解析器に接続する段階を備え、
各配線はそれらの間に経路が確立されると短絡される、
ハーネスにおける短絡配線を試験する方法。 - 試験されるべき前記ハーネスを前記配線解析器に接続する前に該配線解析器に対して公知の良好ハーネスを取付ける段階と、
上記公知の良好ハーネスの配線パターンに従い試験プログラムを生成する段階とを更に備えて成る請求項10に記載の方法。 - 前記配線解析器は、複数のI/Oコネクタと、該I/Oコネクタの配線リストおよび複数の試験プログラムを記憶する自己プログラミング試験デバイスとを備える請求項10に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/964,248 US6661237B2 (en) | 2001-09-26 | 2001-09-26 | Smart AWA |
PCT/US2002/028746 WO2003028057A1 (en) | 2001-09-26 | 2002-09-10 | Smart awa |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005504303A true JP2005504303A (ja) | 2005-02-10 |
JP2005504303A5 JP2005504303A5 (ja) | 2005-12-22 |
JP4188833B2 JP4188833B2 (ja) | 2008-12-03 |
Family
ID=25508316
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003531491A Expired - Lifetime JP4188833B2 (ja) | 2001-09-26 | 2002-09-10 | コンピュータ制御式awa |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6661237B2 (ja) |
EP (1) | EP1436822A4 (ja) |
JP (1) | JP4188833B2 (ja) |
BR (1) | BR0212819A (ja) |
CA (1) | CA2461449C (ja) |
IL (2) | IL161042A0 (ja) |
TW (1) | TW589458B (ja) |
WO (1) | WO2003028057A1 (ja) |
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US6442498B1 (en) * | 1999-06-15 | 2002-08-27 | Henrick Youval Krigel | Apparatus and method for determining the integrity of cables and wiring harnesses |
-
2001
- 2001-09-26 US US09/964,248 patent/US6661237B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2002
- 2002-09-10 WO PCT/US2002/028746 patent/WO2003028057A1/en active Application Filing
- 2002-09-10 CA CA002461449A patent/CA2461449C/en not_active Expired - Fee Related
- 2002-09-10 EP EP02766267A patent/EP1436822A4/en not_active Withdrawn
- 2002-09-10 IL IL16104202A patent/IL161042A0/xx unknown
- 2002-09-10 BR BR0212819-5A patent/BR0212819A/pt not_active IP Right Cessation
- 2002-09-10 JP JP2003531491A patent/JP4188833B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-09-11 TW TW091120709A patent/TW589458B/zh not_active IP Right Cessation
-
2004
- 2004-03-24 IL IL161042A patent/IL161042A/en not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20030057959A1 (en) | 2003-03-27 |
TW589458B (en) | 2004-06-01 |
CA2461449C (en) | 2007-02-20 |
IL161042A (en) | 2009-09-01 |
WO2003028057A1 (en) | 2003-04-03 |
IL161042A0 (en) | 2004-08-31 |
EP1436822A4 (en) | 2005-08-31 |
BR0212819A (pt) | 2004-10-13 |
CA2461449A1 (en) | 2003-04-03 |
EP1436822A1 (en) | 2004-07-14 |
US6661237B2 (en) | 2003-12-09 |
JP4188833B2 (ja) | 2008-12-03 |
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Date | Code | Title | Description |
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|
A601 | Written request for extension of time |
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A602 | Written permission of extension of time |
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|
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110919 Year of fee payment: 3 |
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S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
R250 | Receipt of annual fees |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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