JP2005352623A - パターン照合装置、画像品質検証方法及び画像品質検証プログラム - Google Patents
パターン照合装置、画像品質検証方法及び画像品質検証プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2005352623A JP2005352623A JP2004170742A JP2004170742A JP2005352623A JP 2005352623 A JP2005352623 A JP 2005352623A JP 2004170742 A JP2004170742 A JP 2004170742A JP 2004170742 A JP2004170742 A JP 2004170742A JP 2005352623 A JP2005352623 A JP 2005352623A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- quality
- region
- core
- quality verification
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Collating Specific Patterns (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
【解決手段】 芯線画像について品質検証を行い、前記芯線画像の各領域毎に品質の度合いを設定する品質検証部131を備え、品質検証部131は、芯線画像の芯線について曲線近似式の係数を算出し、算出した前記係数の分散値を求め、分散値に基づいて品質の度合いを領域毎に設定する。
【選択図】 図1
Description
求められた曲線近似式の一次係数のC1と二次係数のC2を、トレースして求めた点列における係数として係数格納部132に格納する。
100:指紋画像入力部
110:芯線画像作成部
120:特徴点作成部
130:データ処理部
131:芯線品質検証部
132:係数格納部
133:指紋照合部
134:照合特徴点格納部
140:出力部
150:芯線画像品質検証プログラム
500:ラスタスキャンした芯線画像
510:注目画素
520:トレースした点列
530:端点
610:指紋画像
620:芯線画像
621:高品質領域
622:中品質領域
623:低品質領域
710:端点のある芯線画像
711:端点
720:分岐点のある芯線画像
721:分岐点
Claims (25)
- 線状図形を含むパターン画像を二値化処理して作成した芯線画像から特徴点を抽出し、抽出した特徴点に基づいて前記パターン画像相互の照合を行うパターン照合装置であって、
前記芯線画像について品質検証を行い、前記芯線画像の各領域毎に品質の度合いを設定する品質検証部を備えることを特徴とするパターン照合装置。 - 前記品質検証部は、
前記芯線画像の芯線について曲線近似式の係数を算出し、算出した前記係数の分散値を求め、
前記分散値に基づいて前記品質の度合いを領域毎に設定することを特徴とする請求項1に記載のパターン照合装置。 - 前記品質検証部は、
前記芯線画像の局所領域毎に、前記曲線近似式の係数及び前記係数の分散値の算出を行い、前記分散値に基づいて品質の度合いを設定することを特徴とする請求項2に記載のパターン照合装置。 - 前記品質検証部は、
前記芯線について最小二乗法により曲線近似式の一次、二次係数を求めることを特徴とする請求項2又は請求項3に記載のパターン照合装置。 - 前記品質検証部は、
前記分散値の値が低い領域を品質の高い領域と設定し、前記分散値の値が高い領域を品質の低い領域と設定することを特徴とする請求項2から請求項4の何れか1項に記載のパターン照合装置。 - 前記品質検証部は、
前記局所領域の芯線を構成する画素が少ない場合、前記分散値を強制的に品質の低い領域に相当する分散値とすることを特徴とする請求項3から請求項5の何れか1項に記載のパターン照合装置。 - 前記品質検証部は、
前記局所領域について算出した前記分散値を合算した値を不安定度として算出し、前記不安定度を予め設定した閾値と比較することで、前記品質の度合いを設定することを特徴とする請求項3から請求項6の何れか1項に記載のパターン照合装置。 - 前記品質検証部は、
前記不安定度を、前記局所領域毎の芯線の画素数で補正することを特徴とする請求項7に記載のパターン照合装置。 - 前記品質検証部は、
隣接する前記局所領域との整合性を取るために各局所領域について算出された前記不安定度を平滑化することを特徴とする請求項7又は請求項8に記載のパターン照合装置。 - 前記芯線画像の前記局所領域毎に、前記芯線の注目画素を中心として端点又は分岐点にぶつかるまでトレースし、前記トレースした画素の列について前記曲線近似式の係数を求めることを特徴とする請求項3から請求項9の何れか1項に記載のパターン照合装置。
- 線状図形を含むパターン画像を二値化処理して作成した芯線画像から特徴点を抽出し、抽出した特徴点に基づいて前記パターン画像相互の照合を行うパターン照合装置における画像品質検証方法であって、
前記芯線画像の芯線について曲線近似式の係数を算出し、算出した前記係数の分散値を求め、
前記分散値に基づいて前記品質の度合いを領域毎に設定することを特徴とする画像品質検証方法。 - 前記芯線画像の局所領域毎に、前記曲線近似式の係数及び前記係数の分散値の算出を行い、前記分散値に基づいて品質の度合いを設定することを特徴とする請求項11に記載の画像品質検証方法。
- 前記芯線について最小二乗法により曲線近似式の一次、二次係数を求めることを特徴とする請求項11又は請求項12に記載の画像品質検証方法。
- 前記分散値の値が低い領域を品質の高い領域と設定し、前記分散値の値が高い領域を品質の低い領域と設定することを特徴とする請求項11から請求項13の何れか1項に記載の画像品質検証方法。
- 前記局所領域の芯線を構成する画素が少ない場合、前記分散値を強制的に品質の低い領域に相当する分散値とすることを特徴とする請求項12から請求項14の何れか1項に記載の画像品質検証方法。
- 前記局所領域について算出した前記分散値を合算した値を不安定度として算出し、前記不安定度を予め設定した閾値と比較することで、前記品質の度合いを設定することを特徴とする請求項12から請求項15の何れか1項に記載の画像品質検証方法。
- 前記不安定度を、前記局所領域毎の芯線の画素数で補正することを特徴とする請求項16に記載の画像品質検証方法。
- 隣接する前記局所領域との整合性を取るために各局所領域について算出された前記不安定度を平滑化することを特徴とする請求項16又は請求項17に記載の画像品質検証方法。
- 前記芯線画像の前記局所領域毎に、前記芯線の注目画素を中心として端点又は分岐点にぶつかるまでトレースし、前記トレースした画素の列について前記曲線近似式の係数を求めることを特徴とする請求項12から請求項18の何れか1項に記載の画像品質検証方法。
- コンピュータ上で実行され、線状図形を含むパターン画像を二値化処理して作成した芯線画像から特徴点を抽出し、抽出した特徴点に基づいて前記パターン画像相互の照合を行うパターン照合装置における画像品質検証プログラムであって、
前記芯線画像の芯線について曲線近似式の係数を算出し、算出した前記係数の分散値を求める機能と、
前記分散値に基づいて前記品質の度合いを領域毎に設定する機能を実行することを特徴とする画像品質検証プログラム。 - 前記芯線画像の局所領域毎に、前記曲線近似式の係数及び前記係数の分散値の算出を行い、前記分散値に基づいて品質の度合いを設定する機能を実行することを特徴とする請求項20に記載の画像品質検証プログラム。
- 前記芯線について最小二乗法により曲線近似式の一次、二次係数を求めることを特徴とする請求項20又は請求項21に記載の画像品質検証プログラム。
- 前記分散値の値が低い領域を品質の高い領域と設定し、前記分散値の値が高い領域を品質の低い領域と設定することを特徴とする請求項20から請求項22の何れか1項に記載の画像品質検証プログラム。
- 前記局所領域について算出した前記分散値を合算した値を不安定度として算出し、前記不安定度を予め設定した閾値と比較することで、前記品質の度合いを設定することを特徴とする請求項21から請求項23の何れか1項に記載の画像品質検証プログラム。
- 前記芯線画像の前記局所領域毎に、前記芯線の注目画素を中心として端点又は分岐点にぶつかるまでトレースし、前記トレースした画素の列について前記曲線近似式の係数を求めることを特徴とする請求項21から請求項24の何れか1項に記載の画像品質検証プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004170742A JP4257264B2 (ja) | 2004-06-09 | 2004-06-09 | パターン照合装置、画像品質検証方法及び画像品質検証プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004170742A JP4257264B2 (ja) | 2004-06-09 | 2004-06-09 | パターン照合装置、画像品質検証方法及び画像品質検証プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005352623A true JP2005352623A (ja) | 2005-12-22 |
JP4257264B2 JP4257264B2 (ja) | 2009-04-22 |
Family
ID=35587080
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004170742A Expired - Fee Related JP4257264B2 (ja) | 2004-06-09 | 2004-06-09 | パターン照合装置、画像品質検証方法及び画像品質検証プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4257264B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010146442A (ja) * | 2008-12-22 | 2010-07-01 | Nec Corp | 指掌紋画像処理装置、指掌紋画像処理方法及び指掌紋画像処理プログラム |
WO2011092827A1 (ja) * | 2010-01-28 | 2011-08-04 | 富士通株式会社 | 生体情報処理装置、生体情報処理方法及び生体情報処理プログラム |
WO2021117877A1 (ja) * | 2019-12-12 | 2021-06-17 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 指紋登録方法およびユーザ端末装置 |
WO2021192315A1 (ja) * | 2020-03-27 | 2021-09-30 | 日本電気株式会社 | 縞模様画像照合装置、縞模様照合方法、及び、そのプログラムが格納されたコンピュータ可読媒体 |
US12033427B2 (en) | 2020-03-27 | 2024-07-09 | Nec Corporation | Stripe pattern image collating device, stripe pattern collating method, and computer-readable medium storing program thereof |
-
2004
- 2004-06-09 JP JP2004170742A patent/JP4257264B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010146442A (ja) * | 2008-12-22 | 2010-07-01 | Nec Corp | 指掌紋画像処理装置、指掌紋画像処理方法及び指掌紋画像処理プログラム |
WO2010074096A1 (ja) * | 2008-12-22 | 2010-07-01 | 日本電気株式会社 | 指掌紋画像処理装置、指掌紋画像処理方法及び指掌紋画像処理プログラムを記録した記録媒体 |
US8457369B2 (en) | 2008-12-22 | 2013-06-04 | Nec Corporation | Finger/palm-print image processing apparatus, finger/palm-print image processing method, and recording medium in which finger/palm-print image processing program has been recorded |
WO2011092827A1 (ja) * | 2010-01-28 | 2011-08-04 | 富士通株式会社 | 生体情報処理装置、生体情報処理方法及び生体情報処理プログラム |
JP5482803B2 (ja) * | 2010-01-28 | 2014-05-07 | 富士通株式会社 | 生体情報処理装置、生体情報処理方法及び生体情報処理プログラム |
US9607204B2 (en) | 2010-01-28 | 2017-03-28 | Fujitsu Limited | Biometric information processing apparatus, method, and recording medium |
WO2021117877A1 (ja) * | 2019-12-12 | 2021-06-17 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 指紋登録方法およびユーザ端末装置 |
JPWO2021117877A1 (ja) * | 2019-12-12 | 2021-06-17 | ||
WO2021192315A1 (ja) * | 2020-03-27 | 2021-09-30 | 日本電気株式会社 | 縞模様画像照合装置、縞模様照合方法、及び、そのプログラムが格納されたコンピュータ可読媒体 |
JPWO2021192315A1 (ja) * | 2020-03-27 | 2021-09-30 | ||
JP7290198B2 (ja) | 2020-03-27 | 2023-06-13 | 日本電気株式会社 | 縞模様画像照合装置、縞模様照合方法、及び、そのプログラム |
US12033427B2 (en) | 2020-03-27 | 2024-07-09 | Nec Corporation | Stripe pattern image collating device, stripe pattern collating method, and computer-readable medium storing program thereof |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4257264B2 (ja) | 2009-04-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9785819B1 (en) | Systems and methods for biometric image alignment | |
US8331670B2 (en) | Method of detection document alteration by comparing characters using shape features of characters | |
JP2002133426A (ja) | 多値画像から罫線を抽出する罫線抽出装置 | |
TW201437925A (zh) | 物體識別裝置、方法及電腦程式產品 | |
JP6177541B2 (ja) | 文字認識装置、文字認識方法及びプログラム | |
JP5534411B2 (ja) | 画像処理装置 | |
CN110569845A (zh) | 一种试卷图像的校正方法及相关装置 | |
JP6375775B2 (ja) | 特徴点入力支援装置、特徴点入力支援方法及びプログラム | |
US20100226558A1 (en) | Registering Device, Checking Device, Program, and Data Structure | |
JP4257264B2 (ja) | パターン照合装置、画像品質検証方法及び画像品質検証プログラム | |
CN115410191B (zh) | 文本图像识别方法、装置、设备和存储介质 | |
US8483449B2 (en) | Registration device, checking device, program, and data structure | |
JP5761353B2 (ja) | 隆線方向抽出装置、隆線方向抽出方法、隆線方向抽出プログラム | |
JP2871601B2 (ja) | 文字列検出装置及び方法 | |
JP4910635B2 (ja) | 画像処理装置及び画像処理プログラム | |
JP3130869B2 (ja) | 指紋画像処理装置、指紋画像処理方法、および記録媒体 | |
JP7290198B2 (ja) | 縞模様画像照合装置、縞模様照合方法、及び、そのプログラム | |
JP2008269131A (ja) | 画像処理装置及び画像処理プログラム | |
JP7297720B2 (ja) | カメラキャリブレーション方法、装置およびプログラム | |
JP2004038530A (ja) | 画像処理方法、同方法の実行に用いるプログラム及び画像処理装置 | |
JP3883993B2 (ja) | 画像処理装置、方法およびプログラム | |
JP3948283B2 (ja) | 画像データ照合方法、画像データ照合装置、及びプログラム | |
CN113421278B (zh) | 基于边缘检测的范围检测方法、装置、设备及存储介质 | |
JP6935832B2 (ja) | 画像処理システム | |
JP2003271897A (ja) | 文字認識装置、画像処理装置、画像処理方法及び同方法の実行に用いるプログラム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080806 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081006 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090119 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090202 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120206 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130206 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |