JP4257264B2 - パターン照合装置、画像品質検証方法及び画像品質検証プログラム - Google Patents
パターン照合装置、画像品質検証方法及び画像品質検証プログラム Download PDFInfo
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Description
求められた曲線近似式の一次係数のC1と二次係数のC2を、トレースして求めた点列における係数として係数格納部132に格納する。
100:指紋画像入力部
110:芯線画像作成部
120:特徴点作成部
130:データ処理部
131:芯線品質検証部
132:係数格納部
133:指紋照合部
134:照合特徴点格納部
140:出力部
150:芯線画像品質検証プログラム
500:ラスタスキャンした芯線画像
510:注目画素
520:トレースした点列
530:端点
610:指紋画像
620:芯線画像
621:高品質領域
622:中品質領域
623:低品質領域
710:端点のある芯線画像
711:端点
720:分岐点のある芯線画像
721:分岐点
Claims (18)
- 線状図形を含むパターン画像を二値化処理して作成した芯線画像から特徴点を抽出し、抽出した特徴点に基づいて前記パターン画像相互の照合を行うパターン照合装置であって、
前記芯線画像を格子状に分割して得られる局所領域ごとに、前記芯線画像の芯線について曲線近似式の係数を算出し、算出した前記係数の分散値を求め、
前記分散値の値が低い場合に品質の高い局所領域とし、前記分散値の値が高い場合に品質の低い局所領域とすることで、前記芯線画像の各局所領域ごとに品質の度合いを設定する品質検証部を備えることを特徴とするパターン照合装置。 - 前記品質検証部は、
前記芯線について最小二乗法により曲線近似式の一次、二次係数を求めることを特徴とする請求項1に記載のパターン照合装置。 - 前記品質検証部は、
前記局所領域の芯線を構成する画素が少ない場合、前記分散値を強制的に品質の低い局所領域に相当する分散値とすることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のパターン照合装置。 - 前記品質検証部は、
前記局所領域について算出した前記分散値を合算した値を不安定度として算出し、前記不安定度を予め設定した閾値と比較することで、前記品質の度合いを設定することを特徴とする請求項1から請求項3の何れか1項に記載のパターン照合装置。 - 前記品質検証部は、
前記分散値の低い前記局所領域の前記芯線の画素数の平均を求め、求めた画素数の平均と前記不安定度を算出した各局所領域ごとの芯線の画素数の差を算出し、前記不安定度に、求めた芯線の画素数の差を加算することにより、前記局所領域ごとに前記不安定度を補正することを特徴とする請求項4に記載のパターン照合装置。 - 前記品質検証部は、
隣接する前記局所領域との整合性を取るために各局所領域について算出された前記不安定度を平滑化することを特徴とする請求項4又は請求項5に記載のパターン照合装置。 - 前記芯線画像の前記局所領域ごとに、前記芯線の注目画素を中心として端点又は分岐点にぶつかるまでトレースし、前記トレースした画素の列について前記曲線近似式の係数を求めることを特徴とする請求項1から請求項6の何れか1項に記載のパターン照合装置。
- 線状図形を含むパターン画像を二値化処理して作成した芯線画像から特徴点を抽出し、抽出した特徴点に基づいて前記パターン画像相互の照合を行うパターン照合装置における画像品質検証方法であって、
前記芯線画像を格子状に分割して得られる局所領域ごとに、前記芯線画像の芯線について曲線近似式の係数を算出し、算出した前記係数の分散値を求め、
前記分散値の値が低い場合に品質の高い局所領域とし、前記分散値の値が高い場合に品質の低い局所領域とすることで、前記芯線画像の各局所領域ごとに品質の度合いを設定することを特徴とする画像品質検証方法。 - 前記芯線について最小二乗法により曲線近似式の一次、二次係数を求めることを特徴とする請求項8に記載の画像品質検証方法。
- 前記局所領域の芯線を構成する画素が少ない場合、前記分散値を強制的に品質の低い領域に相当する分散値とすることを特徴とする請求項8又は請求項9に記載の画像品質検証方法。
- 前記局所領域について算出した前記分散値を合算した値を不安定度として算出し、前記不安定度を予め設定した閾値と比較することで、前記品質の度合いを設定することを特徴とする請求項8から請求項10の何れか1項に記載の画像品質検証方法。
- 前記分散値の低い前記局所領域の前記芯線の画素数の平均を求め、求めた画素数の平均と前記不安定度を算出した各局所領域ごとの芯線の画素数の差を算出し、前記不安定度に、求めた芯線の画素数の差を加算することにより、前記局所領域ごとに前記不安定度を補正することを特徴とする請求項11に記載の画像品質検証方法。
- 隣接する前記局所領域との整合性を取るために各局所領域について算出された前記不安定度を平滑化することを特徴とする請求項10又は請求項11に記載の画像品質検証方法。
- 前記芯線画像の前記局所領域ごとに、前記芯線の注目画素を中心として端点又は分岐点にぶつかるまでトレースし、前記トレースした画素の列について前記曲線近似式の係数を求めることを特徴とする請求項8から請求項13の何れか1項に記載の画像品質検証方法。
- コンピュータ上で実行され、線状図形を含むパターン画像を二値化処理して作成した芯線画像から特徴点を抽出し、抽出した特徴点に基づいて前記パターン画像相互の照合を行うパターン照合装置における画像品質検証プログラムであって、
前記芯線画像を格子状に分割して得られる局所領域ごとに、前記芯線画像の芯線について曲線近似式の係数を算出し、算出した前記係数の分散値を求める機能と、
前記分散値の値が低い場合に品質の高い局所領域とし、前記分散値の値が高い場合に品質の低い局所領域とすることで、前記芯線画像の各局所領域ごとに品質の度合いを設定する機能を実行することを特徴とする画像品質検証プログラム。 - 前記芯線について最小二乗法により曲線近似式の一次、二次係数を求めることを特徴とする請求項15に記載の画像品質検証プログラム。
- 前記局所領域について算出した前記分散値を合算した値を不安定度として算出し、前記不安定度を予め設定した閾値と比較することで、前記品質の度合いを設定することを特徴とする請求項15又は請求項16に記載の画像品質検証プログラム。
- 前記芯線画像の前記局所領域ごとに、前記芯線の注目画素を中心として端点又は分岐点にぶつかるまでトレースし、前記トレースした画素の列について前記曲線近似式の係数を求めることを特徴とする請求項15から請求項17の何れか1項に記載の画像品質検証プログラム。
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